JP2001126975A - 基板塗布装置 - Google Patents

基板塗布装置

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JP2001126975A
JP2001126975A JP30413199A JP30413199A JP2001126975A JP 2001126975 A JP2001126975 A JP 2001126975A JP 30413199 A JP30413199 A JP 30413199A JP 30413199 A JP30413199 A JP 30413199A JP 2001126975 A JP2001126975 A JP 2001126975A
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JP
Japan
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time
supply
substrate
estimated
stop
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JP30413199A
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English (en)
Inventor
Kazuhiro Takahashi
和浩 高橋
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 供給時間を計時するタイミングを工夫するこ
とにより、塗布液の無駄な供給を防止するとともに供給
手段が異なることによる膜厚のバラツキを防止すること
ができる。 【解決手段】 塗布処理を施す際に供給開始命令の実行
後に基板に塗布液が実際に供給されたのを検出手段で検
出したことに基づきそれ以後の命令を実行する基板塗布
装置において、塗布液の供給を開始する供給開始命令が
実行された時点から供給時間の計時を開始する第1/第
2タイマ60と、塗布液が検出された時点から加速開始
時間が経過した時点で回転を加速させ、第1/第2タイ
マ60が供給時間の計時を完了した時点で供給停止命令
を実行する制御部20とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ、フ
ォトマスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基
板、光ディスク用の基板など(以下、単に基板と称す
る)に対して、SOG(Spin On Glass,シリカ系被膜形成材
とも呼ばれる) 液、フォトレジスト液、ポリイミド樹脂
などの塗布液を塗布する基板塗布装置に係り、特に、で
きるだけ少ない塗布液の量で塗布被膜を形成する技術に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の基板塗布装置として、例
えば、特開平9−267067号公報に示すようなもの
がある。
【0003】すなわち、この装置は、基板を回転自在に
支持する回転支持部と、その上方から基板の回転中心付
近に塗布液を供給する供給部と、供給開始命令の実行後
に供給部から塗布液が実際に吐出されたことを検出する
検出部と、以下に詳述するように供給開始命令および供
給停止命令を含む処理プログラムを実行し、供給開始命
令の実行後に検出部が塗布液を検出した時点から供給開
始命令より後の各命令を順次に実行する制御部とを備え
ている。
【0004】この装置では、図8のタイムチャートに示
すように、まず、回転支持部により基板を低速回転さ
せ、TS 時点で供給開始命令を実行して供給部から塗布
液を基板に供給する。しかし、実際には、供給開始命令
の実行時点から即座に塗布液が吐出されることはなく、
ポンプの応答速度やエアシリンダの動作速度、サックバ
ックバルブの動作解除に要する時間などの種々の要因に
よりTS 時点から開始遅れ時間TDSだけ遅れたtS 時点
で塗布液の吐出が開始される。このtS 時点の吐出は検
出部により検出され、予め設定されている回転上昇命令
が実行されるまでの加速開始時間Ta と、供給停止命令
が実行されるまでの供給時間TSUが計時され始める。な
お、加速開始時間Ta は、基板に供給された塗布液が遠
心力により拡がって基板の表面全体を覆う前までの時間
に予め設定されている。
【0005】そして、吐出が検出されたtS 時点から加
速開始時間Ta が経過すると、t1時点で回転支持部の
回転数が急激に高められ、基板の中心にある円形状の塗
布液(以下、コアと称する)から周縁部に向かう塗布液
の細長い流れ(以下、ヒゲと称する)に対して慣性力が
与えられる。したがって、コアの径が拡がるとともにヒ
ゲの幅が拡がって基板の表面が短時間で覆われ、その結
果、所望膜厚の被膜を形成するために必要な塗布液の消
費量を抑制できるようになっている。
【0006】その後、吐出が検出されたtS 時点から供
給時間TSUが経過したTE 時点で供給停止命令を実行
し、塗布液の供給を停止する。これも上述した塗布液の
供給開始と同様に停止遅れ時間TDEが介在し、例えば、
供給停止命令の実行時TE から停止遅れ時間TDEが経過
し、高速回転から膜厚を均一にレベリングするための回
転数にまで下げた時点t2(tE )で塗布液の吐出が実
際に停止するようになっている。
【0007】この装置では、塗布液の実際の吐出が検出
された時点を基準にして、それ以後の命令を実行してい
るので、開始遅れ時間TDSが変動してもヒゲに慣性力を
与えるための加速までの加速開始時間Ta が一定化さ
れ、塗布液の形状が同一の状態で加速することができ
る。したがって、塗布液の少量化を図った塗布処理を長
期間にわたって安定的に施すことができるという利点が
ある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、供給停止命令は停止遅れ時間TDEの存
在に関係なく、塗布液の吐出が検出された時点tS を基
準にして予め設定された供給時間TSUが経過したTE
点で実行されるようになっている。したがって、実際に
塗布液が吐出されていた時間である実供給時間TSUR
は、停止遅れ時間TDEの間に吐出される塗布液が含まれ
ることになるが、これは処理プログラムで考慮されてい
ない無駄なものとなるという問題がある。
【0009】また、複数個の供給部を備えた装置では、
異なる供給部から塗布液を供給すると配管が異なること
を主要因として停止遅れ時間TDEが異なり、余分に吐出
される塗布液の量が相違することになる。そのため処理
に用いた供給部が異なる塗布処理間では、基板の表面に
形成される被膜の膜厚にバラツキが生じるという問題が
ある。
【0010】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、供給時間を計時するタイミングを工夫
することにより、塗布液の無駄な供給を防止するととも
に供給手段が異なることによる膜厚のバラツキを防止す
ることができる基板塗布装置を提供することを目的とす
る。
【0011】また、本発明は、開始遅れ時間と停止遅れ
時間との相関に着目し、測定された開始遅れ時間に応じ
た停止遅れ時間を推定して供給停止命令の実行を早める
ことにより、塗布液の無駄な供給を防止するとともに供
給手段が異なることによる膜厚のバラツキを防止するこ
とができる基板塗布装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、請求項1に記載の基板塗布装置は、供給開始命令お
よび供給停止命令を含む複数個の命令からなる処理プロ
グラムを実行して、回転支持手段に支持された基板の中
心付近に供給手段から塗布液を供給して塗布処理を施す
際に、供給開始命令の実行後に基板に塗布液が実際に供
給されたのを検出手段で検出したことに基づきそれ以後
の命令を実行する基板塗布装置において、塗布液の供給
を開始する供給開始命令が実行された時点から供給時間
の計時を開始する供給時間タイマと、前記検出手段によ
り塗布液が検出された時点から加速開始時間が経過した
時点で回転上昇命令を実行して回転支持手段による回転
を加速させるとともに、前記供給時間タイマが供給時間
の計時を完了した時点で供給停止命令を実行する制御手
段と、を備えていることを特徴とするものである。
【0013】また、請求項2に記載の基板塗布装置は、
請求項1に記載の基板塗布装置において、前記加速開始
時間は、前記検出手段により塗布液が検出された時点か
ら、塗布液が基板の表面全体を覆う前までの時間に予め
設定されていることを特徴とするものである。
【0014】また、請求項3に記載の基板塗布装置は、
供給開始命令および供給停止命令を含む複数個の命令か
らなる処理プログラムを実行して、回転支持手段に支持
された基板の中心付近に供給手段から塗布液を供給して
塗布処理を施す際に、供給開始命令の実行後に基板に塗
布液が実際に供給されたのを検出手段で検出したことに
基づきそれ以後の命令を実行する基板塗布装置におい
て、塗布液の供給を開始する供給開始命令が実行されて
から前記検出手段により塗布液が検出されるまでの開始
遅れ時間を計測する遅れ時間計測手段と、塗布液の供給
を停止する供給停止命令が実行されてから実際に塗布液
の供給が停止されるまでの停止遅れ時間を推定停止遅れ
時間として前記開始遅れ時間に基づいて求める推定停止
遅れ時間算出手段と、予め設定されている塗布液の供給
時間から前記推定停止遅れ時間を引いた時間を推定供給
時間として求める推定供給時間算出手段と、前記検出手
段により塗布液が検出された時点から前記推定供給時間
の計時を開始する推定供給時間タイマと、前記検出手段
により塗布液が検出された時点から加速開始時間が経過
した時点で回転上昇命令を実行して回転支持手段による
回転を加速させるとともに、前記推定供給時間タイマが
推定供給時間の計時を完了した時点で供給停止命令を実
行する制御手段と、を備えていることを特徴とするもの
である。
【0015】また、請求項4に記載の基板塗布装置は、
請求項3に記載の基板塗布装置において、前記加速開始
時間は、前記検出手段により塗布液が検出された時点か
ら、塗布液が基板の表面全体を覆う前までの時間に予め
設定されていることを特徴とするものである。
【0016】また、請求項5に記載の基板塗布装置は、
請求項3ないし4に記載の基板塗布装置において、前記
推定停止遅れ時間算出手段は、処理前に予め実験により
求められた塗布液の供給速度と開始遅れ時間との関係に
基づいて推定停止遅れ時間を求めることを特徴とするも
のである。
【0017】
【作用】請求項1に記載の発明の作用は次のとおりであ
る。制御手段は、塗布液の供給が検出された時点から加
速開始時間が経過した時点で回転を加速するので、塗布
液が同一形状の状態で加速することができる。また、供
給開始命令の実行時点から計時を開始している供給時間
タイマが供給時間の計時を完了した時点で供給停止命令
を実行して塗布液の供給を停止するので、供給停止は塗
布液の検出時点に依存しない。
【0018】しかも、種々の実験を行った結果、開始遅
れ時間と停止遅れ時間とがほぼ同じになる、あるいは処
理上では同じとして扱っても問題ないということが判っ
ており、このことからタイミング的にずれていても供給
開始命令と供給停止命令の実行時点の時間間隔がほぼ実
際に塗布液が吐出されている実供給時間になる。したが
って、供給時間の計時開始時点を、塗布液の実際の供給
時点ではなく供給開始命令の実行時点とすれば、供給時
間には実際の供給開始時点までの空供給となる未供給分
が含まれることになるが、これは実際の供給停止時点ま
での供給分により相殺される。そのため処理プログラム
で意図した供給開始命令と供給停止命令との時間間隔で
ある供給時間がほぼ実供給時間に等しくなる。
【0019】また、異なる供給手段を用いた場合には開
始/停止遅れ時間が異なることになるが、供給時間の計
時開始時点を、塗布液の実際の供給時点ではなく供給開
始命令の実行時点とすることにより、供給時間に含まれ
る開始遅れ時間中の未供給分が停止遅れ時間中の供給分
により相殺される。
【0020】また、請求項2に記載の発明によれば、塗
布液が基板の表面全体を覆う前までの時間に加速開始時
間を設定しておくと、回転中心付近のコアの径を拡大さ
せ、かつ、コアから周縁に延びるヒゲの幅を拡げて塗布
液が基板の表面全体を覆う時間を短縮することができ
る。
【0021】また、請求項3に記載の発明の作用は次の
とおりである。制御手段は、塗布液の供給が検出された
時点から加速開始時間が経過した時点で回転を加速する
ので、塗布液が同一形状の状態で加速することができ
る。推定停止遅れ時間算出手段は、遅れ時間計測手段に
より測定された開始遅れ時間に基づいて推定停止遅れ時
間を求める。そして、推定供給時間算出手段により推定
停止遅れ時間を考慮した推定供給時間を算出する。制御
手段は、推定供給時間タイマがタイムアップした時点で
供給停止命令を実行するので、処理プログラムで意図し
た供給停止命令の実行タイミングが実際の停止遅れ時間
に相当する推定停止遅れ時間だけ早められる。
【0022】また、異なる供給手段を用いた場合には開
始/停止遅れ時間が異なることになるが、測定された開
始遅れ時間に基づいて推定停止遅れ時間を求めて推定供
給時間を算出し、推定供給時間タイマがタイムアップし
た時点で供給停止命令を実行するので、処理プログラム
で意図した供給停止命令の実行タイミングが実際の停止
遅れ時間に相当する推定停止遅れ時間だけ早められる。
【0023】また、請求項4に記載の発明によれば、塗
布液が基板の表面全体を覆う前までの時間に加速開始時
間を設定しておくと、回転中心付近のコアの径を拡大さ
せ、かつ、コアから周縁に延びるヒゲの幅を拡げて塗布
液が基板の表面全体を覆う時間を短縮することができ
る。
【0024】また、請求項5に記載の発明によれば、塗
布液の供給速度を変えると開始遅れ時間が変動し、この
変動に伴って停止遅れ時間も変動することが種々の実験
によって判っているので、予めそれらの関係を求めてお
いて記憶しておく。したがって、推定停止遅れ時間算出
手段は、遅れ時間計測手段により計測された開始遅れ時
間と、記憶しておいた関係とに基づいて実際の停止遅れ
時間に相当する推定停止遅れ時間を求めることができ
る。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施例を説明する。 <第1実施例>図1は、本実施例に係る基板塗布装置の
概略構成を示すブロック図である。
【0026】基板Wは、吸引式スピンチャック1により
水平姿勢で吸着保持され、回転軸2を介して電動モータ
3により回転中心P周りに回転駆動される。基板Wの周
囲には、塗布液の一例であるフォトレジスト液の飛散を
防止するための飛散防止カップ4aが配設されている。
また、この飛散防止カップ4aの上部開口には、上部蓋
部材4bが装置のフレームに固定されて位置固定の状態
で配設されている。また、図示しない搬送機構が未処理
の基板Wを吸引式スピンチャック1に載置したり、処理
済みの基板Wを受け取る際には、図示しない昇降機構が
飛散防止カップ4aのみを下降させることによって、飛
散防止カップ4aと上部蓋部材4bとを離間させ、吸引
式スピンチャック1を飛散防止カップ4aの上部開口か
ら上方に突出させる。
【0027】なお、上述した吸引式スピンチャック1
と、回転軸2と、電動モータ3とが本発明の回転支持手
段に相当する。
【0028】飛散防止カップ4aの側方には、搬入され
た基板Wの回転中心Pの上方に相当する供給位置(図中
の実線)と、基板W上から側方に離れた退避位置(図中
の点線)との間で移動可能に構成された供給ノズル5が
配設されている。供給ノズル5には供給配管12が接続
されており、サックバックバルブ13と、ベローズポン
プ14と、逆止弁15とを介して、フォトレジスト液を
貯留している貯留タンク16に連通接続されている。サ
ックバックバルブ13は、供給ノズル5の吐出孔5aか
ら露出しているフォトレジスト液を僅かに引き戻して乾
燥・固化を防止したり、いわゆる「ぼた落ち」を防止す
るためのものである。
【0029】なお、供給ノズル5が本発明における供給
手段に相当する。
【0030】ベローズポンプ14は、図示しない複動式
エアシリンダに連動して動作し、貯留タンク16内のフ
ォトレジスト液を供給管12に送り込む。逆止弁15
は、送り込み動作に伴って生じるフォトレジスト液の貯
留タンク16側への逆流を防止するものである。図示し
ない複動式エアシリンダは、パルスモータ(図示省略)
によって駆動されており、パルスモータへのパルス数を
可変することによってベローズポンプ14からのフォト
レジスト液の吐出速度が調節できるように構成されてい
る。
【0031】また、ノズル移動機構17は、本発明の制
御手段に相当する制御部20により制御されるようにな
っており、供給ノズル5を退避位置から供給位置に移動
したり、逆に供給位置から退避位置に移動する。なお、
図では、1本の供給ノズル5しか描かれていないが、本
実施例装置には複数本の供給ノズル5が配備されている
ものとする。
【0032】上部蓋部材4bの上部内周面には、その左
側にCCDカメラ25が、その右側にストロボ27が配
設されている。本発明の検出手段に相当するCCDカメ
ラ25は、固体撮像素子であるCCDと、高速度に対応
した電子シャッターと、レンズなどから構成されてお
り、その撮影視野が基板Wの回転中心を含む範囲に設定
されている。
【0033】ストロボ27は、撮影時の照明として用い
るためのものであり、例えば、キセノンランプと、50
0nm以上の波長を透過するバンドパスフィルタとを組
み合わせて構成されている。これらのCCDカメラ25
およびストロボ27は、共に供給検出部50に接続され
ている。なお、本実施例では、撮影視野が供給ノズル5
の吐出孔5a付近を含むように設定されている。
【0034】図2を参照して供給検出部50について説
明する。ストロボ27は、ストロボ電源51から所要の
電力を供給されて連続的に点灯されている。CCDカメ
ラ25は、その動作制御、例えば、撮影タイミングや電
子シャッターの動作速度などの制御がカメラ制御部52
によって制御される。カメラ制御部52への撮影開始指
示は、制御部20が供給開始命令を実行する時点よりも
一定時間前とその実行と同時にI/O制御部53へトリ
ガ信号が入力されて行われる。I/O制御部53へ供給
開始命令の実行前にトリガ信号が入力された場合には、
撮影視野を一度だけ撮影する一方、供給開始命令の実行
とともにトリガ信号が入力された場合には、その時点よ
り、吐出口5aからフォトレジスト液が吐出されるまで
所定の周期で繰り返し撮影を行う。なお、CCDカメラ
25による基板表面の撮影時を含む適宜の範囲において
のみストロボ27を間欠的に点灯させるようにしてもよ
い。
【0035】CCDカメラ27を介して撮影された、供
給開始命令の実行前のトリガ信号に基づく基板表面の画
像信号は、カメラ制御部52およびI/O制御部53を
介して画像処理部54に伝送される。画像処理部54
は、予め設定されている『検出領域』(吐出口5aを含
む領域)に対応する部分のみを2値化処理して静止画像
(基準静止画像)として格納する。また、供給開始命令
と同時のトリガ信号に基づき順次に得られた基板表面の
画像信号は、同様にして画像処理部54に伝送される。
この場合も『検出領域』に対応する部分のみを2値化処
理して静止画像として格納する。制御部20は、これら
の基準静止画像と静止画像とを順次に比較して画像の濃
淡変化に基づきフォトレジスト液が吐出されたか否かを
判断する。
【0036】I/O制御部53に接続されているモニタ
59は、上述した検出領域を設定する際に、CCDカメ
ラ27の撮影視野を確認することなどに利用される。
【0037】また、図1に示す制御部20に接続されて
いる第1/第2タイマ60は、各々独立して計時するこ
とが可能なタイマであり、制御部20の指示により計時
を開始する。具体的には、制御部20が供給開始命令を
実行した時点から供給時間を計時し始めるとともに、供
給検出部50がフォトレジスト液の吐出を検出した時点
から加速開始時間を計時し始める。この第1/第2タイ
マ60は、タイムアップした時点で制御部20に対して
それぞれ独自に信号を出力するようになっている。
【0038】なお、第1/第2タイマ60が本発明にお
ける供給時間タイマに相当する。
【0039】次に、図3のタイムチャートを参照して、
上述したように構成された基板塗布装置による基板Wへ
のフォトレジスト液の塗布処理の一例について説明す
る。なお、このタイムチャートの原点『0』では、供給
ノズル5がノズル移動機構17によって供給位置(図1
に実線で示す位置)に既に移動されているものとする。
【0040】まず、ノズル移動機構17によって供給ノ
ズル5が供給位置に移動したことを確認した後、回転開
始命令の実行によりt1 時点において基板Wが回転数R
1(例えば、1,000rpm)に達するような加速度
で回転駆動される。基板Wの回転が回転数R1で安定し
た後であって、供給開始命令の実行時点TS よりも前に
は、制御部20から供給検出部50にトリガ信号が出力
されて、検出領域の基準静止画像が格納される。TS
点では、供給開始命令が実行されてフォトレジスト液が
一定の流量で供給開始されるとともに、第1/第2タイ
マ60が予め設定されている供給時間TSUの計時を開始
する。
【0041】供給開始命令の実行時点TS から遅れ時間
DS経過後にフォトレジスト液が供給ノズル5の吐出孔
5aから吐出したとする。これを検出した時点tS
て、この時点tS を基準として予め設定された加速開始
時間Ta を計数する第1/第2タイマ60が計時を開始
する。
【0042】加速開始時間Ta は、図4の模式図に示す
ように、基板Wの中心付近に供給されたフォトレジスト
液RのコアRa の周囲からヒゲRb が伸長し、コアRa
の径が拡大するとともにヒゲRb が伸長して幅が拡がっ
て基板Wの表面全体を覆ってしまう前の時間に設定され
ている。例えば、加速開始時間Ta がフォトレジスト液
Rの吐出時点tS から図4の拡がり状態に設定されてい
る場合には、第1/第2タイマ60による加速開始時間
a がタイムアップすると、これを受けて制御部20が
3 時点で回転上昇命令を実行する。これによりt4
点までに高速の回転数R2(例えば、3,000rp
m)となるように加速され、コアRa の径が拡大すると
ともに伸長途中であったヒゲRb に対して周方向への急
激な加速が加えられて、その幅が急激に拡げられる。そ
の結果、基板Wの表面全体がフォトレジスト液で覆われ
るまでの被覆時間が短縮される。
【0043】このようにフォトレジスト液の実際の吐出
が検出された時点tS を基準にして、それ以後の命令を
実行しているので、開始遅れ時間TDSが変動したとして
もヒゲに慣性力を与えるための加速までの加速開始時間
a は一定化され、フォトレジスト液の形状が同一の状
態で加速することができる。したがって、フォトレジス
ト液の少量化を図った処理を長期間にわたって安定的に
施すことができるようになっている。
【0044】そして、第1/第2タイマ60の計時が供
給時間TSUとなった時点TE において、制御部20が供
給停止命令を実行することによりフォトレジスト液の吐
出が停止され始める。しかし実際には、停止遅れ時間T
DEだけ遅れてt7 の時点でフォトレジスト液の吐出が停
止することになるが、種々の実験を行った結果、開始遅
れ時間TDSと停止遅れ時間TDEとがほぼ同じになる、あ
るいは塗布処理上では両者が同じであるものとして取り
扱っても支障ないということが判っている。このことか
らタイミング的にずれていても供給開始命令と供給停止
命令の実行時点TS,E の時間間隔TSUがほぼ実際にフ
ォトレジスト液が吐出されている実供給時間TSUR にな
る。
【0045】したがって、供給時間TSUの計時開始時点
を、フォトレジスト液の実際の吐出時点tS ではなく供
給開始命令の実行時点TS とすれば、供給時間TSUには
実際の供給開始時点tS までの空供給となる未供給分が
含まれることになるが、これは実際の供給停止時点t7
までの供給分により相殺される。そのため処理プログラ
ムで意図した供給開始命令と供給停止命令との時間間隔
である供給時間TSUがほぼ実供給時間TSUR に等しくな
り、フォトレジスト液の無駄な供給を防止することがで
きる。
【0046】t6 時点では回転下降命令が実行され、時
間t7 の時点で基板Wが回転数R3(例えば、1,50
0rpm)となるように減速される。そして、この回転
数R3がt10時点まで維持されて、フォトレジスト液が
振り切られるとともにレベリングが行われた後、t10
点で回転停止命令が実行されて時間t11にて塗布処理が
終了する。
【0047】また、上述した供給ノズル5とは相違する
供給ノズル5を用いてフォトレジスト液を供給した場合
には、例えば、上述した開始遅れ時間TDSと停止遅れ時
間T DEとは異なる開始遅れ時間(TDS)と停止遅れ時間
(TDE)となる。しかし、供給停止命令の実行時点は変
わらないので、上述したように実際の供給開始時点t S
までの空供給となる未供給分が、実際の供給停止時点t
9 までの供給分により相殺される。そのため供給開始命
令と供給停止命令との時間間隔である供給時間TSUがほ
ぼ実供給時間TSUR に等しくなり、フォトレジスト液の
無駄な供給を防止することができるようになっている。
【0048】<第2実施例>次に、図5を参照して本実
施例に係る基板塗布装置について説明する。なお、上述
した第1実施例と同じ構成については、同符号を付すこ
とで詳細な説明については省略する。
【0049】第1/第2タイマ60aは、各々に独立し
て計時することが可能であって制御部20の指示により
計時を開始するように構成されている。具体的には、制
御部20が供給検出部50を介してフォトレジスト液の
吐出を検出した時点から加速開始時間を計時し始めると
ともに、後述するようにして算出された『推定供給時
間』を計時するようになっている。
【0050】なお、この第1/第2タイマ60aが本発
明の推定供給時間タイマに相当する。
【0051】記憶部71には、予め図6の模式図に示す
ようなデータが格納されている。これはポンプ14の吐
出速度と開始遅れ時間とを可変した場合に測定された停
止遅れ時間のデータであり、供給ノズル5ごとにデータ
を収集してある。吐出速度は、制御部20が図示しない
パルスモータへ与えるパルス数を可変することによって
調節可能である。また、開始遅れ時間は、サックバック
バルブ13の解除時間やエア圧などを可変することによ
り調節してある。このデータから開始遅れ時間が長くな
ると、それに伴って停止遅れ時間も長くなるという傾向
が生じることが判る。なお、記憶部71には、供給ノズ
ル5ごとのデータの他に、フォトレジスト液の種類や温
調保持される温度などに応じて複数のデータを予め記憶
しておき、処理プログラムに設定されている条件に応じ
て制御部20が自動的に適切なデータを選択するように
してもよい。
【0052】遅れ時間計測部73は、処理時に制御部2
0が供給開始命令を実行してから供給検出部50がフォ
トレジスト液の実際の吐出を検出した時点までの時間を
計測する機能を有する。
【0053】なお、この遅れ時間計測部73が本発明の
遅れ時間計測手段に相当する。
【0054】本発明の推定停止遅れ時間算出手段と推定
供給時間算出手段に相当する算出部75は、実際の停止
遅れ時間を『推定遅れ時間』として遅れ時間計測部73
で計測した開始遅れ時間に基づいて求める。具体的に
は、記憶部71に予め格納されているデータ(図6参
照)を利用し、処理プログラムに設定されている吐出速
度(パルスモータに与えられるパルス数)と、計測され
た開始遅れ時間とから『推定遅れ時間』を求める。ま
た、このようにして求められた推定遅れ時間を、予め処
理プログラムで設定されている供給時間から差し引いて
『推定供給時間』として算出する。
【0055】次に、図7のタイムチャートを参照して塗
布処理について説明する。
【0056】本実施例装置では、まず、TS 時点で供給
開始命令を実行するとともに、供給検出部50と遅れ時
間計測部73を用いて実際にフォトレジスト液が吐出さ
れるまでの開始遅れ時間TDSを計測する。
【0057】その計測の結果、tS 時点でフォトレジス
ト液の実際の吐出が検出されて開始遅れ時間TDSが測定
されたとすると、この時点tS から第1/第2タイマ6
0aにより加速開始時間Ta の計時を開始するととも
に、算出部75はその開始遅れ時間TDSと記憶部71の
データに基づいて『推定停止遅れ時間』TDE’を算出す
る。さらに、この推定停止遅れ時間TDE’を、予め処理
プログラムに設定されている供給時間TSUから引いて
『推定供給時間』TSU’を算出する。
【0058】このようにして推定供給時間TSU’を求め
る算出処理の完了とともに、第1/第2タイマ60aに
よる推定供給時間TSU’の計時を開始する。なお、上述
したような算出処理に要する時間を推定供給時間TSU
から引いて新たな推定供給時間としてもよい。
【0059】第1/第2タイマ60aが推定供給時間T
SU’を計時すると(t5 時点)、制御部20は供給停止
命令(図7中では実供給停止命令と示す)を実行する。
この命令の実行時点で即座にフォトレジスト液の吐出が
停止するのではなく、実際に吐出が停止するのは推定停
止遅れ時間TDE’後のTE 時点付近となる。この時点T
E は、予め処理プログラムに設定されていた供給停止命
令の実行時点である。つまり、この命令が推定停止遅れ
時間TDE’だけ早められて実行された形となっている。
したがって、推定停止遅れ時間TDE’は実測に基づく実
際の停止遅れ時間TDEにほぼ等しい値であるので、元々
の処理プログラムに供給停止命令を記載していたTE
点でフォトレジスト液の吐出が実際に停止することにな
る。
【0060】本実施例装置によれば、推定停止遅れ時間
DE’を考慮した推定供給時間TSU’を算出し、この推
定供給時間TSU’を計時してタイムアップした時点で供
給停止命令を実行し、処理プログラムで意図した供給停
止命令の実行タイミングを実際の停止遅れ時間TDEに相
当する推定停止遅れ時間TDE’だけ早めるので、停止遅
れ時間TDEに伴うフォトレジスト液の無駄な供給を防止
することができるようになっている。
【0061】また、異なる供給ノズル5を用いてフォト
レジスト液を供給して、例えば、上述した開始遅れ時間
DSがこれより長い開始遅れ時間(TDS)になったとす
る。しかしながら、推定供給時間(TSU’)が計時され
た時点t5 で実供給停止命令を実行することにより、供
給停止命令の実行タイミングが供給ノズル5に応じた推
定停止遅れ時間(TDE’)だけ早められて余分なフォト
レジスト液の供給が防止できる。したがって、異なる供
給ノズル5を用いることにより生じるフォトレジスト被
膜の膜厚のバラツキを防止することができる。
【0062】本発明は、上述した実施例だけに限定され
るものではなく、次のように変形実施が可能である。
【0063】(1)上述した実施例装置では、供給ノズ
ル5からのフォトレジスト液の吐出を検出するようにな
っているが、供給ノズル5の吐出口5aから吐出された
フォトレジスト液が基板Wの表面に到達した時点を検出
するような構成としてもよい。
【0064】(2)検出手段としては、上記のCCDカ
メラ27、ストロボ25、供給検出部50に代えて、供
給ノズル5の吐出口5a付近に光センサを配設した構成
を採用してもよい。
【0065】(3)塗布液の少量化の観点から上述した
加速開始時間Ta は、コアから伸長してゆくヒゲがb
板Wの周縁部に達する前であることが好適である。
【0066】(4)上記の処理プログラムでは、基板W
を回転させた状態でフォトレジスト液を供給する方法
(いわゆるダイナミック法)を採用しているが、本発明
は基板Wを静止させた状態でフォトレジスト液の供給を
開始するとともにその状態で供給を完了する方法(いわ
ゆるスタティック法)や、静止した状態でフォトレジス
ト液の供給を開始し、基板Wを回転させ始めた後に供給
を完了する方法を採用してもよい。
【0067】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1に記載の発明によれば、供給時間の計時開始時点を、
塗布液の実際の供給時点ではなく供給開始命令の実行時
点とし、供給時間に含まれる開始遅れ時間中に生じる未
供給分が、実際の供給停止時点までの停止遅れ時間中に
生じる供給によって相殺される。そのため処理プログラ
ムで意図した供給開始命令と供給停止命令との時間間隔
である供給時間がほぼ実供給時間に等しくなり、塗布液
の無駄な供給を防止することができる。
【0068】また、異なる供給手段を用いた場合でも、
供給時間の計時開始時点を、塗布液の実際の供給時点で
はなく供給開始命令の実行時点とすることにより、供給
時間に含まれる開始遅れ時間による未供給分が実際の供
給停止時点までの停止遅れ時間に生じる供給により相殺
される。したがって、異なる供給手段を用いることによ
り生じる膜厚のバラツキを防止することができる。
【0069】また、請求項2に記載の発明によれば、塗
布液が基板の表面全体を覆う前までの時間に加速開始時
間を設定しておくと、塗布液が基板の表面全体を覆う時
間を短縮することができ、塗布液の少量化を図ることが
できる。
【0070】また、請求項3に記載の発明によれば、推
定供給時間算出手段により推定停止遅れ時間を考慮した
推定供給時間を算出し、推定供給時間タイマがタイムア
ップした時点で供給停止命令を実行して処理プログラム
で意図した供給停止命令の実行タイミングを実際の停止
遅れ時間に相当する推定停止遅れ時間だけ早めるので、
塗布液の無駄な供給を防止することができる。
【0071】また、開始/停止遅れ時間が異なる供給手
段を用いた場合でも、推定供給時間タイマがタイムアッ
プした時点で供給停止命令を実行することにより、供給
停止命令の実行タイミングが供給手段に応じた推定停止
遅れ時間だけ早められ余分な供給が防止できる。したが
って、異なる供給手段を用いることにより生じる膜厚の
バラツキを防止することができる。
【0072】また、請求項4に記載の発明によれば、請
求項2に記載の発明と同様の効果を奏する。
【0073】また、請求項5に記載の発明によれば、遅
れ時間計測手段により計測された開始遅れ時間と、予め
記憶しておいた関係とに基づいて推定停止遅れ時間を求
めることができ、比較的に簡単にしかも正確に推定停止
時間を求めることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1実施例に係る基板塗布装置の概略構成を示
すブロック図である。
【図2】供給検出部の構成を示すブロック図である。
【図3】塗布処理を示すタイムチャートである。
【図4】塗布過程における塗布液の挙動を示した模式図
である。
【図5】第2実施例に係る基板塗布装置の概略構成を示
すブロック図である。
【図6】記憶部に格納されているデータの模式図であ
る。
【図7】塗布処理を示すタイムチャートである。
【図8】従来の基板塗布装置による塗布処理を示したタ
イムチャートである。
【符号の説明】
W … 基板 1 … 吸引式スピンチャック 3 … 電動モータ 5 … 供給ノズル(供給手段) 13 … サックバックバルブ 14 … ベローズポンプ 15 … 逆止弁 20 … 制御部(制御手段) 25 … CCDカメラ(検出手段) 27 … ストロボ 50 … 供給検出部 60 … 第1/第2タイマ(供給時間タイマ) 60a … 第1/第2タイマ(推定供給時間タイマ) 71 … 記憶部 73 … 遅れ時間計測部(遅れ時間計測手段) 75 … 算出部(推定遅れ時間算出手段,推定供給時
間算出手段) TDS … 開始遅れ時間 TDE … 停止遅れ時間 Ta … 加速開始時間 TSU … 供給時間
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H025 AB08 AB16 AB17 EA05 4D075 AC64 AC84 AC91 AC94 DA06 DC21 DC22 4F042 AA07 BA00 BA05 BA25 CB00 EB00 5F046 JA02 JA03 JA13 JA21

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 供給開始命令および供給停止命令を含む
    複数個の命令からなる処理プログラムを実行して、回転
    支持手段に支持された基板の中心付近に供給手段から塗
    布液を供給して塗布処理を施す際に、供給開始命令の実
    行後に基板に塗布液が実際に供給されたのを検出手段で
    検出したことに基づきそれ以後の命令を実行する基板塗
    布装置において、 塗布液の供給を開始する供給開始命令が実行された時点
    から供給時間の計時を開始する供給時間タイマと、 前記検出手段により塗布液が検出された時点から加速開
    始時間が経過した時点で回転上昇命令を実行して回転支
    持手段による回転を加速させるとともに、前記供給時間
    タイマが供給時間の計時を完了した時点で供給停止命令
    を実行する制御手段と、を備えていることを特徴とする
    基板塗布装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の基板塗布装置におい
    て、 前記加速開始時間は、前記検出手段により塗布液が検出
    された時点から、塗布液が基板の表面全体を覆う前まで
    の時間に予め設定されていることを特徴とする基板塗布
    装置。
  3. 【請求項3】 供給開始命令および供給停止命令を含む
    複数個の命令からなる処理プログラムを実行して、回転
    支持手段に支持された基板の中心付近に供給手段から塗
    布液を供給して塗布処理を施す際に、供給開始命令の実
    行後に基板に塗布液が実際に供給されたのを検出手段で
    検出したことに基づきそれ以後の命令を実行する基板塗
    布装置において、 塗布液の供給を開始する供給開始命令が実行されてから
    前記検出手段により塗布液が検出されるまでの開始遅れ
    時間を計測する遅れ時間計測手段と、 塗布液の供給を停止する供給停止命令が実行されてから
    実際に塗布液の供給が停止されるまでの停止遅れ時間を
    推定停止遅れ時間として前記開始遅れ時間に基づいて求
    める推定停止遅れ時間算出手段と、 予め設定されている塗布液の供給時間から前記推定停止
    遅れ時間を引いた時間を推定供給時間として求める推定
    供給時間算出手段と、 前記検出手段により塗布液が検出された時点から前記推
    定供給時間の計時を開始する推定供給時間タイマと、 前記検出手段により塗布液が検出された時点から加速開
    始時間が経過した時点で回転上昇命令を実行して回転支
    持手段による回転を加速させるとともに、前記推定供給
    時間タイマが推定供給時間の計時を完了した時点で供給
    停止命令を実行する制御手段と、 を備えていることを特徴とする基板塗布装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の基板塗布装置におい
    て、 前記加速開始時間は、前記検出手段により塗布液が検出
    された時点から、塗布液が基板の表面全体を覆う前まで
    の時間に予め設定されていることを特徴とする基板塗布
    装置。
  5. 【請求項5】 請求項3ないし4に記載の基板塗布装置
    において、 前記推定停止遅れ時間算出手段は、処理前に予め実験に
    より求められた塗布液の供給速度と開始遅れ時間との関
    係に基づいて推定停止遅れ時間を求めることを特徴とす
    る基板塗布装置。
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