JP2001126235A - 記録媒体用基板およびその製造方法ならびに記録媒体および情報記録装置 - Google Patents

記録媒体用基板およびその製造方法ならびに記録媒体および情報記録装置

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JP2001126235A
JP2001126235A JP29952699A JP29952699A JP2001126235A JP 2001126235 A JP2001126235 A JP 2001126235A JP 29952699 A JP29952699 A JP 29952699A JP 29952699 A JP29952699 A JP 29952699A JP 2001126235 A JP2001126235 A JP 2001126235A
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substrate
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Takeshi Kuriwada
健 栗和田
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Mitsubishi Chemical Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】研磨工程の短縮化を図ることが可能な樹脂塗布
法によって表面平滑性が付与され且つ非塗布部における
耐蝕性などの問題が解決された記録媒体用基板を提供す
る。 【解決手段】基板の全面に第1耐熱性樹脂層を設け、当
該第1耐熱性樹脂層の少なくとも片面に表面粗さRaが
第1耐熱性樹脂層より小さい第2耐熱性樹脂層を設けて
成る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録媒体用基板お
よびその製造方法ならびに記録媒体および情報記録装置
に関し、詳しくは、平滑性に優れて高密度記録媒体に適
した記録媒体用基板およびその製造方法ならびに当該基
板を使用した記録媒体および当該記録媒体を搭載した情
報記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】記録媒体は基板上に記録層を形成して構
成され、記録層の構成により種々の記録媒体がある。そ
して、何れの記録媒体の場合においても、記録密度の向
上に伴い、一層高い表面平滑性を有する基板が求められ
ている。
【0003】基板に表面平滑性を付与する方法の一つと
して、基板上にポリイミド樹脂の前駆体溶液などを塗布
し、溶液の表面張力による自己レベリング効果によって
平滑な表面(熱硬化後の樹脂表面)を形成する方法があ
る(特開昭56−94521号公報)。斯かる樹脂被覆
方法は、中仕上げ状態の基板にも適用することが出来
(特開平9−161258号公報)、その場合は、機械
研磨を中心とする従来の研磨工程の大幅な短縮化が可能
であり、基板のコストダウンを達成することが出来る。
そして、樹脂の塗布方法としては、通常、平滑な樹脂表
面が得られ易いスピンコート法が採用される。
【0004】ところで、基板にスピンコート法によって
樹脂を塗布せんとした場合、スピンコート時に固定機構
によって基板を保持する関係から非塗布部が存在する。
特にドーナツ状基板の場合は、センターホールの周囲や
その周縁部は塗布することが出来ない。そのため、基板
の非塗布部においては、耐蝕性などが問題となる。斯か
る問題は、基板の片面のみに樹脂層と記録層を形成した
片面型記録媒体の場合に顕著である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記実情に
鑑みなされたものであり、その目的は、研磨工程の短縮
化を図ることが可能な樹脂塗布法によって表面平滑性が
付与され且つ非塗布部における耐蝕性などの問題が解決
された記録媒体用基板およびその製造方法を提供するこ
とにある。また、本発明の他の目的は、上記の基板を使
用した記録媒体なおよび当該記録媒体を搭載した情報記
録装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明の第1
の要旨は、基板の全面に第1耐熱性樹脂層を設け、当該
第1耐熱性樹脂層の少なくとも片面に表面粗さRaが第
1耐熱性樹脂層より小さい第2耐熱性樹脂層を設けて成
ることを特徴とする記録媒体用基板に存する。
【0007】本発明の第2の要旨は、基板の全面にディ
ップコート法にて第1耐熱性樹脂層を形成した後、当該
第1耐熱性樹脂層の少なくとも片面にディップコート法
にて第2耐熱性樹脂層を形成することを特徴とする記録
媒体用基板の製造方法に存する。
【0008】本発明の第3の要旨は、上記の記録媒体用
基板の第2耐熱性樹脂層の上に記録層を設けて成ること
を特徴とする記録媒体に存する。
【0009】そして、本発明の第4の要旨は、記録媒体
と、記録媒体を記録/再生方向に駆動させる駆動部と、
記録部と再生部を含む情報記録/再生ヘッドと、当該ヘ
ッドを記録媒体に対して相対運動させる手段と、当該ヘ
ッドへの記録信号入力と当該ヘッドからの再生信号出力
を行うための記録再生信号処理手段を有する情報記録装
置において、記録媒体が上記の記録媒体であることを特
徴とする情報記録装置に存する。
【0010】
【発明の実施の形態】先ず、本発明の記録媒体用基板お
よびその製造方法について説明する。本発明の記録媒体
用基板は、基板の全面に第1耐熱性樹脂層を設け、当該
第1耐熱性樹脂層の少なくとも片面に表面粗さRaが第
1耐熱性樹脂層より小さい第2耐熱性樹脂層を設けて成
る。
【0011】基板としては、磁性基板および非磁性基板
の何れをも使用することが出来る。一般には非磁性基板
が好適である。非磁性基板としては、例えば、Al基
板、Al合金基板、Mg合金基板、NiPメッキAl合
金基板、強化ガラス基板、結晶化ガラス基板、セラミッ
クス基板、Si合金基板、Ti基板、Ti合金基板、プ
ラスチック基板、カーボン基板、これらの複合材料から
成る基板などが使用できる。特に、カーボン基板、就中
ガラス状カーボン基板は、小径/薄板化に有利であり、
しかも、導電性も有している。更に、ガラス状カーボン
基板は、耐熱性に優れているので、耐熱性樹脂層の形成
時(焼成時)にダメージを受け難い。
【0012】基板は、表面粗さRaが1〜20nm且つ
Rmax が100nm以下のものを使用するのが好まし
い。更には、表面うねりWaが1〜4nm且つWmax が
30nm以下のものを使用するのが一層好ましい。すな
わち、本発明においては、仕上げ研磨(最終研磨)を施
していない段階の基板を使用するのが基板のコストダウ
ンが図られる点において推奨される。そして、上記の様
な表面特性は、片面型記録媒体の場合には、耐熱性樹脂
層を設けられる片面のみについて要求される。代表的な
基板であるドーナツ状基板の寸法の一例を示せば次の表
1の通りである。斯かるドーナツ状基板の場合、表面う
ねりWaおよびWmax は、記録方向とラジアル方向の両
者について存在するが、上記の各値は、この両者につい
て満足するのが好ましい。
【0013】
【表1】
【0014】第1及び第2耐熱性樹脂層の構成樹脂とし
ては、例えば、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹
脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、シリコン樹脂、
シリコンポリエステル樹脂、フッ素樹脂などが挙げられ
る。これらの中では、少なくとも第2耐熱性樹脂層の構
成樹脂としてポリイミド樹脂が好適に使用される。
【0015】本発明で使用する好ましいポリイミド樹脂
は、次の(a)及び(b)の条件を満足する反応生成物
の熱硬化反応で得られる。
【0016】(a)ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物とジアミノジフェニルエーテルとを反応させて得ら
れ、ビフェニルテトラカルボン酸二無水物−ジアミノジ
フェニルエーテルポリアミド酸を含有し、(b)芳香環
に直結したHに対するアミド基のHのモル比が0.5以
下である反応生成物。
【0017】上記のジアミノジフェニルエーテルには、
P,P’−ジアミノジフェニルエーテル、P,m’−ジ
アミノジフェニルエーテル等の異性体があるが、その何
れであってもよい。
【0018】下記の一般式(I)は、上記の反応生成物
に主成分として含有されるビフェニルテトラカルボン酸
二無水物−ジアミノジフェニルエーテルポリアミド酸
(ポリイミド樹脂の前駆体)の繰返し構造を表す。そし
て、(a)〜(e)は芳香環に直結したH、(f)アミ
ド基のHを表す。
【0019】
【化1】
【0020】上記のHモル比は、1H−NMRの測定結
果に基づいて算出した値であり、好ましくは0.25以
下、更に好ましくは0.1以下である。上記のHモル比
の下限は通常0.01である。
【0021】本発明においては、上記の様な特定の反応
生成物(ポリイミド樹脂の前駆体)を使用することによ
り、表面に泡などが存在しない鏡面状の塗膜が得られ、
表面平滑性に一層優れるポリイミド樹脂層が形成され
る。
【0022】ポリイミド樹脂層は次の様にして形成され
る。先ず、触媒の存在下、必要に応じ、ジメチルアセト
アミド、ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン
等の極性溶媒中、室温で上記の出発物質を反応させてポ
リイミド樹脂の前駆体を形成する。この前駆体を含む反
応生成物をそのままワニスとして使用しするか、また
は、前述の極性溶媒と更に混合してワニスを調製する。
次いで、基板の表面に上記のワニスを塗布した後に熱硬
化させる。
【0023】第1耐熱性樹脂層は好ましくはディップコ
ート法にて形成され、第2耐熱性樹脂層は好ましくはス
ピンコート法にて形成される。すなわち、第1耐熱性樹
脂層は、基板の全面に設ける必要があることから、好ま
しくはディップコート法にて形成される。ディップコー
ト法の場合、比較的低粘度に調製されたワニスが使用さ
れ、塗布厚さも薄くなる。従って、ディップコート法に
て形成された第1耐熱性樹脂層のみでは基板に表面平滑
性を付与することが困難となる。
【0024】ディップコート法においてワニスにドーナ
ツ状基板を浸漬する際に使用する保持具としては、例え
ば、「ディッピング法により磁気ディスクの表面を処理
する際に使用する磁気ディスクの保持具」として本出願
人によって提案された次の様な保持具を使用することが
出来る。
【0025】(1)昇降ポールより水平方向に突出した
左右1対のアームから成り、各アームは、その上部が片
刃状に形成され且つ刃面同士を対向させて同一高さで平
行に配置され、刃線に沿った左右のアームの同一位置に
複数のV型溝を備え、そして、上記片刃の刃先角度は3
0°未満になされ、しかも、上記V型溝の底部には当該
V型溝に連なる凹状のスリットを備えている磁気ディス
クの保持具(特開平8−281189号公報)。
【0026】(2)昇降ポールより水平方向に突出した
左右1対の1組のアームの複数組みから成り、各アーム
は、その上部が片刃状に形成され且つ同一高さで平行に
配置され、刃線に沿った各アームの同一位置に複数のV
型溝を備え、そして、左右1対の各アームの間隔は、デ
ィッピング処理液から引き上げる際に毛管現象によりデ
ィッピング処理液を吸引除去し得るに十分な距離になさ
れている磁気ディスクの保持具(特開平8−28119
0号公報)。
【0027】スピンコート法に使用されるスピンコータ
ー(回転式塗布装置)は、原理的には、アウターカッ
プ、その内側に配置され且つ回転軸に支承されたインナ
ーカップ、その中央部に配置されたドーナツ状基板の固
定機構、上記ドーナツ状基板の表面部の中央部にワニス
を供給する手段から構成され、ドーナツ状基板の表面部
の中央部に供給されたワニスはインナーカップの回転
(ドーナツ状基板の回転)による遠心力によって流延さ
れる。
【0028】ポリイミド樹脂の前駆体のワニス中の濃度
(溶液中の濃度)は、ディップコート法の場合、通常1
〜30重量%、好ましくは5〜35重量%とされ、スピ
ンコート法の場合、通常5〜60重量%、好ましくは1
0〜50重量%とされる。特に、スピンコート法に使用
するワニスの粘度(25℃における値)は、通常5〜5
00cp、好ましくは150〜200cpとされる。
【0029】ワニスを塗布した後の熱硬化は、通常、次
の様に行われる。先ず、塗膜を例えば60〜200℃で
乾燥した後、不活性ガス(窒素)雰囲気中、例えば20
0〜600℃で焼成して硬化させる。焼成はワニスの塗
布毎に行うのが好ましいが、スピンコート法による塗膜
の焼成は省略してもよい。
【0030】ポリイミド樹脂以外の耐熱性樹脂の場合も
上記と同様にワニスを調製して塗布した後に熱硬化させ
て耐熱性樹脂層が形成される。ワニスを調製時の溶媒や
熱硬化などの条件は、使用する樹脂によって適宜選択さ
れる。更に、本発明においては、UV硬化型耐熱性樹脂
も使用することが出来る。
【0031】第1耐熱性樹脂層の厚さは、通常0.1〜
10μm、好ましくは0.3〜3μm、第2耐熱性樹脂
層の厚さは、通常0.1〜10μm、好ましくは0.5
〜5μmとされる。第1耐熱性樹脂層の厚さが0.1μ
m未満の場合は、樹脂非塗布部の耐蝕性を十分に高める
ことが困難であり、10μmを超える場合は第1耐熱性
樹脂層全体の平坦化が困難である。第2耐熱性樹脂層の
厚さが0.1μm未満の場合は、基板表面に十分に平滑
な表面を形成することが困難であり、10μmを超える
場合は第2耐熱性樹脂層全体の平坦化が困難である。そ
して、この様にして形成された第2耐熱性樹脂層の表面
粗さRaは、通常1nm以下、好ましくは0.5nm以
下である。
【0032】次に、本発明の記録媒体について説明す
る。本発明の記録媒体は、上記の記録媒体用基板の第2
耐熱性樹脂層の上に記録層を設けて成る。記録層の種類
により種々の記録媒体を構成することが出来る。以下、
磁気記録媒体を例に挙げて説明する。
【0033】記録媒体、特に磁気記録媒体の場合は、第
2耐熱性樹脂層上にNiP、NiAl等の非磁性合金層
を形成することが好ましい。非磁性合金層の形成手段は
任意である。例えば、無電解メッキ法、スパッタリング
法、真空蒸着法、CVD法などの公知の薄膜形成手段を
利用することが出来る。非磁性合金層の厚さは、通常1
0〜200nm、好ましくは20〜100nmとされ
る。
【0034】第2耐熱性樹脂層または非磁性合金層の上
には、例えばCrを主成分とする種子層等の下地層を形
成した後、Co合金磁性層を形成するのが好ましい。
【0035】Crを主成分とする種子層の材料として
は、純Crや酸化Crの他、Co層との結晶マッチング
等の目的により、V、Ti、Mo、Zr、Hf、Ta、
W、Ge、Nb、Si、Cu、B等の元素が添加された
Cr等が使用される。これらの中では純Crが好まし
い。また、Ti、Mo、W、V、Ta、Si、Nb、Z
r及びHfの群から選択される1種または2以上の元素
が添加されたCrも好ましい。添加元素の含有量は、通
常1〜50原子%、好ましくは5〜30原子%、更に好
ましくは5〜20原子%の範囲である。
【0036】Crを主成分とする種子層の厚さは、その
異方性を発現させ得るに十分な厚さであればよく、通常
0.1〜50nm、好ましくは0.3〜30nm、更に
好ましくは0.5〜10nmである。Crを主成分とす
る種子層の成膜時は基板加熱を行っても行わなくてもよ
い。
【0037】Co合金磁性層としては、通常、純Coの
他、CoNi、CoSm、CoCrTa、CoNiC
r、CoCrPt等のCo合金磁性材料が使用される。
これらのCo合金に更にNi、Cr、Pt、Ta、W、
B等の元素やSiO2 等の化合物を添加したCo合金で
あってもよい。斯かるCo合金としては、例えば、Co
CrPtTa、CoCrPtB、CoNiPt、CoN
iCrPtB等が挙げられる。Co合金磁性層の膜厚
は、通常5〜50nm、好ましくは10〜30nmであ
る。
【0038】本発明においては、前記の下地層(第1下
地層)とCo合金磁性層との間に、Crを主成分とする
第2下地層を設けてもよい。この第2下地層の材料に
は、Crを主成分とする種子層と同様の材料を使用する
ことが出来、両者の元素組成は同一であっても異ってい
てもよい。第2下地層の厚さは、目的とする磁気記録媒
体の諸特性にあわせて任意に設定できるが、通常1〜1
00nm、好ましくは5〜50nmである。
【0039】通常、磁性層の上には、任意の保護層を形
成し、次いで潤滑層を形成する。保護層としては、炭素
(C)、水素化C、窒素化C、アルモファスC、SiC
等の炭素質層、SiO2、Zr23 、TiN等が使用
される。また、保護層は、2層以上の層から構成されて
いてもよい。保護層の厚さは、通常1〜50nm、好ま
しくは5〜30nmである。潤滑層に使用する潤滑剤と
しては、フッ素系潤滑剤、炭化水素系潤滑剤およびびこ
れらの混合物などが挙げられ、通常1〜4nmの厚さで
潤滑層を形成する。
【0040】また、本発明の磁気記録媒体においては、
磁性層が2種以上の積層構造であってもよい。更に、C
rを主成分とする第2下地層と磁性層との間に非磁性C
oCr等の中間層を設けてもよい。
【0041】磁気記録媒体の各層を形成する成膜方法と
しては、例えば、直流(マグネトロン)スパッタリング
法、高周波(マグネトロン)スパッタリング法、ECR
スパッタリング法、真空蒸着法などの物理的蒸着法が挙
げられる。
【0042】成膜時の条件は、特に制限されず、到達真
空度、基板加熱の方式と基板温度、スパッタリングガス
圧、バイアス電圧などは、成膜装置により適宜決定すれ
ばよい。例えば、通常のスパッタリング成膜の場合、到
達真空度は1×10-6Torr以下、必要に応じて加熱
される基板の温度は、通常〜400℃、好ましくは10
0〜300℃、更に好ましくは150〜250℃である
が、耐熱性樹脂層のガラス転移温度以下で行う。スパッ
タリングガス圧は1×10-3〜20×10-3Torr、
バイアス電圧は一般的には0〜−500Vである。成膜
の際、磁性層のCrの偏析を促進するため、基板を10
0〜350℃程度に加熱することが好ましい。基板の加
熱は下地層の形成前に行ってもよい。
【0043】本発明の記録媒体は、前記の記録媒体用基
板の第2耐熱性樹脂層の上に記録層を設けて構成される
ため、片面のみに第2耐熱性樹脂層が設けられている記
録媒体用基板を使用した場合は片面型記録媒体が構成さ
れる。従来、Al又はAl合金製基板の片面のみに記録
層を含む各種の機能層を形成した片面型記録媒体は変形
(反り)が起こる問題があると言われている。しかしな
がら、本発明の片面型記録媒体の場合は、意外にも、基
板の表面に設けられる耐熱性樹脂層の樹脂としての性質
が作用し、上記の様な変形は皆無である。
【0044】次に、本発明の情報記録装置について説明
する。本発明の情報記録装置は、前記の本発明に係る記
録媒体を使用する点を除き、従来の情報記録装置と同様
であり、記録媒体と、記録媒体を記録/再生方向に駆動
させる駆動部と、記録部と再生部を含む情報記録/再生
ヘッドと、当該ヘッドを記録媒体に対して相対運動させ
る手段と、当該ヘッドへの記録信号入力と当該ヘッドか
らの再生信号出力を行うための記録再生信号処理手段を
有する。
【0045】そして、磁気ヘッドの再生部をMRヘッド
で構成することにより、高記録密度においても十分な信
号強度を得ることが出来、1平方インチ当たり2ガビッ
ト以上の高記録密度を持った磁気記憶装置を実現するこ
とが出来る。また、従来より低い高さで上記の磁気ヘッ
ド浮上させた場合(浮上量:0.01μm 以上0.05
μm 未満)は、出力が向上して高い装置S/Nが得ら
れ、大容量で高信頼性の磁気記憶装置を実現することが
出来る。また、最尤復号法による信号処理回路を組み合
わせた場合は、更に記録密度が向上し、例えば、トラッ
ク密度10kTPI以上、線記録密度200KFCI以
上、1平方インチ当たり2G ビット以上の記録密度の条
件下で記録・再生する場合にも十分なS/Nが得られ
る。
【0046】更に、相互の磁化方向が外部磁界によって
相対的に変化することによって大きな抵抗変化を生じる
複数の導電性磁性層およびその導電性磁性層の間に配置
された導電性非磁性層から成るGMR ヘッド、また
は、スピン・バルブ効果を利用したGMR ヘッドによ
って磁気ヘッドの再生部を構成した場合は、信号強度を
更に高めることが出来、1平方インチ当たり3ギガビッ
ト以上、240KFCI以上の線記録密度を持った信頼
性の高い磁気記憶装置の実現が可能となる。
【0047】
【実施例】以下、実施例により本発明を更に詳細に説明
するが、本発明は、その要旨を超えない限り以下の実施
例に限定されるものではない。なお、表面粗さRaの測
定は、テンコール社製の「P−12」を使用し、測定
長:240μm、針押し付け力:3mg、走査速度:1
0μm/s、サンプリング周期:200Hz、カットオ
フ値:1.4〜80μmの条件で行った。また、表面う
ねりWaの測定は、テンコール社製の「P−12」を使
用し、測定長:5000μm、針押し付け力:3mg、
走査速度:100μm/s、サンプリング周期:100
Hz、カットオフ値:80〜450μmの条件で行っ
た。
【0048】実施例1 基板として、仕上げ研磨工程前のAl合金製3.5イン
チディスク(外径:95mm、内径:25mm、厚さ:
0.8mm、表面粗さRa:11.0nm、Rmax:
68nm、記録方向およびラジアル方向の表面うねりW
a:2.3nm、Wmax:18.0nm)を使用し
た。
【0049】耐熱性樹脂層形成用のワニスは、ビフェニ
ルテトラカルボン酸二無水物とジアミノジフェニルエー
テルとをN−メチルピロリドン中にて反応させてビフェ
ニルテトラカルボン酸二無水物−p,m’−ジアミノジ
フェニルエーテルポリアミド酸(ポリイミド樹脂の前駆
体)を含有する反応生成物を調製した。ポリイミド樹脂
の前駆体の、芳香環に直結したH(本文中の一般式
(I)におけるa〜e)に対するアミド基のH(本文中
の一般式(I)におけるf)のモル比(1H−NMRの
測定値から算出)は0.03であった。なお、1H−N
MRの測定条件は次の通りである。
【0050】<1H−NMRの測定条件>試料5.0m
gを重水素化ジメチルスルホキシド0.6mlに溶解
し、バリアン社製の核磁気共鳴装置「Inova50
0」を使用して行なった。
【0051】(1)第1ポリイミド樹脂層の形成:次の
要領で前記の基板の全面に第1耐熱性樹脂層を設けた。
先ず、脱脂剤(キザイ(株)製「NG−#30」)の3
0g/l水溶液中、60℃で5分間脱脂洗浄を行なった
後、ディップコート法で低濃度ワニス(N−メチルピロ
リドン対するポリイミド樹脂の前駆体の割合:5重量
%)を塗布した。次いで、窒素雰囲気中、徐々に昇温し
約80℃で30分乾燥した後、更に、徐々に昇温し30
0℃で30分間焼成して硬化させ、平均厚さ0.1μm
の第1ポリイミド樹脂層を形成した。第1ポリイミド樹
脂層の平均表面粗さRaは9nmであった。
【0052】上記のディップコートは、特開平8−28
1189号公報の図1〜4に示されたのと同様の保持
具、すなわち、昇降ポールより水平方向に突出した左右
1対のアームから成り、各アームは、その上部が片刃状
に形成され且つ刃面同士を対向させて同一高さで平行に
配置され、刃線に沿った左右のアームの同一位置に複数
のV型溝を備え、そして、上記片刃の刃先角度は30°
未満になされ、しかも、上記V型溝の底部には当該V型
溝に連なる凹状のスリットを備えている保持具を使用
し、左右1対のアームの複数のV字型溝に複数の基板の
各センターホールの周縁部を係止させることにより、複
数の基板を互いに接触させることなく垂直に保持して行
った。基板の係止部における液溜まりは殆ど無く、従っ
て、基板の全面に亘って第1ポリイミド樹脂層が形成さ
れた。
【0053】(2)第2ポリイミド樹脂層の形成:次の
要領で第1ポリイミド樹脂層が設けられた前記の基板の
片面(第1ポリイミド樹脂層面)に高濃度のワニス(N
−メチルピロリドン対するポリイミド樹脂の前駆体の割
合:45重量%、25℃の粘度:160cp)を塗布し
た。塗布は、スピンコーターのインナーカップの中央部
に配置された固定機構で基板を保持し、2000rp
m、10secの条件下でスピンコートした。得られた
塗膜は、表面に泡などが存在しない鏡面状の塗膜であっ
た。次いで、窒素雰囲気中、徐々に昇温し約80℃で3
0分乾燥した後、更に、徐々に昇温し300℃で30分
間焼成して硬化させ、平均厚さ2.0μmの第2ポリイ
ミド樹脂層を形成した。第2ポリイミド樹脂層の平均表
面粗さRaは0.5nmであった。
【0054】(3)磁気記録媒体の製造および磁気記録
装置の組み立て:上記で得られた記録媒体用基板を使用
し、次の要領で磁気記録媒体を製造した。先ず、スパッ
タリングにより、記録媒体用基板の片面の第2ポリイミ
ド樹脂層の表面に、順次、NiP層(100nm)、C
r層(20nm)、CoCrTa層(15nm)、C層
(10nm)を成膜した。次いで、C層の表面に潤滑層
を塗布し、片面型磁気記録媒体を得た。そして、得られ
た片面型磁気記録媒体と、記録媒体を記録/再生方向に
駆動させる駆動部と、記録部と再生部を含む情報記録/
再生ヘッドと、当該ヘッドを記録媒体に対して相対運動
させる手段と、当該ヘッドへの記録信号入力と当該ヘッ
ドからの再生信号出力を行うための記録再生信号処理手
段を有する磁気記録装置を組み立てた。
【0055】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、研磨工程
の短縮化を図ることが可能な樹脂塗布法によって表面平
滑性が付与され且つ非塗布部における耐蝕性などの問題
が解決された記録媒体用基板が提供され、本発明の工業
的価値は大きい。

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板の全面に第1耐熱性樹脂層を設け、
    当該第1耐熱性樹脂層の少なくとも片面に表面粗さRa
    が第1耐熱性樹脂層より小さい第2耐熱性樹脂層を設け
    て成ることを特徴とする記録媒体用基板。
  2. 【請求項2】 第1耐熱性樹脂層がディップコート法に
    て形成され、第2耐熱性樹脂層がスピンコート法にて形
    成される請求項1に記載の記録媒体用基板。
  3. 【請求項3】 少なくとも第2耐熱性樹脂層がポリイミ
    ド樹脂である請求項1又は2に記載の記録媒体用基板。
  4. 【請求項4】 ポリイミド樹脂が次の(a)及び(b)
    の条件を満足する反応生成物の熱硬化反応で得られたも
    のである請求項3に記載の記録媒体用基板。(a)ビフ
    ェニルテトラカルボン酸二無水物とジアミノジフェニル
    エーテルとを反応させて得られ、ビフェニルテトラカル
    ボン酸二無水物−ジアミノジフェニルエーテルポリアミ
    ド酸を含有し、(b)芳香環に直結したHに対するアミ
    ド基のHのモル比が0.5以下である反応生成物。
  5. 【請求項5】 基板の表面粗さRaが1〜20nm且つ
    Rmax が100nm以下、第1耐熱性樹脂層厚さが0.
    1〜10μm、第2耐熱性樹脂層の厚さが0.1〜10
    μm、第2耐熱性樹脂層の表面粗さRaが1nm以下で
    ある請求項1〜4の何れかに記載の記録媒体用基板。
  6. 【請求項6】 基板の表面うねりWaが1〜4nm且つ
    Wmax が30nm以下である請求項5に記載の記録媒体
    用基板。
  7. 【請求項7】 基板の全面にディップコート法にて第1
    耐熱性樹脂層を形成した後、当該第1耐熱性樹脂層の少
    なくとも片面にディップコート法にて第2耐熱性樹脂層
    を形成することを特徴とする記録媒体用基板の製造方
    法。
  8. 【請求項8】 請求項1〜6の何れかに記載の記録媒体
    用基板の第2耐熱性樹脂層の上に記録層を設けて成るこ
    とを特徴とする記録媒体。
  9. 【請求項9】 第2耐熱性樹脂層と記録層との間に非磁
    性合金層を有する請求項8に記載の記録媒体。
  10. 【請求項10】 記録層が磁気記録層である請求項8又
    は9に記載の記録媒体。
  11. 【請求項11】記録媒体と、記録媒体を記録/再生方向
    に駆動させる駆動部と、記録部と再生部を含む情報記録
    /再生ヘッドと、当該ヘッドを記録媒体に対して相対運
    動させる手段と、当該ヘッドへの記録信号入力と当該ヘ
    ッドからの再生信号出力を行うための記録再生信号処理
    手段を有する情報記録装置において、記録媒体が請求項
    8〜10の何れかに記載の記録媒体であることを特徴と
    する情報記録装置。
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