JP2001057100A5 - - Google Patents
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US7417449B1 (en) * | 2005-11-15 | 2008-08-26 | Advanced Micro Devices, Inc. | Wafer stage storage structure speed testing |
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Family Cites Families (7)
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KR970010656B1 (ko) * | 1992-09-01 | 1997-06-30 | 마쯔시다 덴기 산교 가부시끼가이샤 | 반도체 테스트 장치, 반도체 테스트 회로칩 및 프로브 카드 |
US5617531A (en) * | 1993-11-02 | 1997-04-01 | Motorola, Inc. | Data Processor having a built-in internal self test controller for testing a plurality of memories internal to the data processor |
JP2616712B2 (ja) * | 1994-09-22 | 1997-06-04 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP2751857B2 (ja) * | 1995-02-28 | 1998-05-18 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
JPH10172298A (ja) * | 1996-12-05 | 1998-06-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
JPH11260924A (ja) * | 1998-03-10 | 1999-09-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置のテスト方法 |
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