JP2001051023A - エンジン制御装置 - Google Patents
エンジン制御装置Info
- Publication number
- JP2001051023A JP2001051023A JP11228444A JP22844499A JP2001051023A JP 2001051023 A JP2001051023 A JP 2001051023A JP 11228444 A JP11228444 A JP 11228444A JP 22844499 A JP22844499 A JP 22844499A JP 2001051023 A JP2001051023 A JP 2001051023A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- control device
- engine control
- circuit
- resistor
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2818—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] using test structures on, or modifications of, the card under test, made for the purpose of testing, e.g. additional components or connectors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Combined Controls Of Internal Combustion Engines (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
体集積回路のスクリーニングを行い、実装サイズの縮小
化、電気特性の向上のほか、より簡単な構成によって製
造コストの低減等を図ることができる出力電圧調整回路
を備えたエンジン制御装置を提供する。 【解決手段】 制御プログラムを演算する演算処理装置
等の集積回路の制御装置を備えたエンジン制御装置であ
って、前記エンジン制御装置は、前記集積回路をスクリ
ーニングするための定格電圧を切替える出力電圧調整回
路を備え、該出力電圧調整回路は、前記定格電圧の出力
側電源線とグランド側との間に複数の抵抗器を設けてな
る。
Description
に係り、特に、集積回路を回路基板に実装した状態でス
クリーニングをするエンジン制御装置に関する。
る半導体集積回路は、ウェーハから切り出されたチップ
をパッケージによって保護した後にスクリーニングを
し、潜在的欠陥である初期不良が生ずる集積回路の除去
を行ってから回路基板に実装しているが、近年の半導体
集積回路は、実装サイズの縮小化、電気特性の向上、製
造コストの低減等を達成するため、前記パッケージを用
いずにベアチップ状態で回路基板に実装することが行わ
れている。
チップ状態の集積回路を個々にスクリーニングを行うこ
とは、多くの時間を要するために効率的ではなく、実装
後の集積回路をスクリーニングすることが望まれてお
り、回路基板上でベアチップ状態の集積回路をスクリー
ニングする従来の装置には、回路基板に電圧レギュレー
タを備え、該電圧レギュレータは、外部通信手段からの
通信信号により電圧切替え信号が出力されると、抵抗器
に生ずる電圧がアンプ回路によって高電圧(バーンイン
電圧)に増幅され、該高電圧を前記集積回路に印加する
ことによってスクリーニングをする技術がある(例え
ば、特開平09−304481号公報、特開平10−0
09041号公報参照)。
09−304481号公報の技術は、実装後の集積回路
にバーンイン電圧を印加してスクリーニングできるもの
であるが、前記装置は、抵抗器、増幅器等からなる電圧
レギュレータのほか、電圧監視回路、及び外部からの通
信手段をも必要とするので、その構成が複雑であり、上
記したベアチップ状態で回路基板に実装させる場合の特
徴である材料点数及び工程数の削減による製造コストの
低減には、格別の配慮がなされていない。また、前記特
開平10−009041号公報の技術においても、外部
からの通信手段を必要としないものの、前記電圧レギュ
レータ及び前記電圧監視回路の構成は同じであり、製造
コストの低減については前記特開平09−304481
号公報の技術と同様に特別な考慮がなされていない。
であり、その目的とするところは、回路基板にベアチッ
プ状態で実装された半導体集積回路のスクリーニングを
行い、実装サイズの縮小化、電気特性の向上のほか、よ
り簡素な構成によって製造コストの低減等を図ることが
できる出力電圧調整回路を備えたエンジン制御装置を提
供することにある。
本発明に係るエンジン制御装置は、基本的には、制御プ
ログラムを演算する演算処理装置等の集積回路を備え、
前記集積回路をスクリーニングするための定格電圧を切
替える出力電圧調整回路を備え、該出力電圧調整回路
は、前記定格電圧の出力側電源線とグランド側との間に
複数の抵抗器を設けていることを特徴としている。
回路をスクリーニングする場合には、通常動作時よりも
高い電圧値を前記集積回路に印加すること、前記出力電
圧調整回路は、前記グランド側に接続される他の抵抗器
と接続し、前記複数の抵抗器間の接点が、前記他の抵抗
器と接続するとともに、前記集積回路に定格電圧を出力
する定電圧電源回路と接続することを特徴としている。
御装置は、集積回路をスクリーニングするための定格電
圧を切替える出力電圧調整回路を備え、該出力電圧調整
回路は、少なくとも三つの抵抗器で構成できるので、複
雑な回路を構成することなく、安価な構成にて実装後の
すべての集積回路のスクリーニングを行い、製造コスト
の低減及びスクリーニングの時間の短縮化を図ることが
できる。
具体的態様は、前記他の抵抗器が、オン/オフの切替え
により前記グランド側と接続することを特徴としてい
る。さらにまた、前記他の抵抗器は、前記エンジン制御
装置の外部に設けられていること、又は前記エンジン制
御装置の空き端子を介して、前記複数の抵抗器間の接点
と接続することを特徴としている。
の具体的態様は、前記他の抵抗器は、前記エンジン制御
装置の内部に設けられていること、又はシリアル通信信
号により前記オン/オフの切替えをしていることを特徴
としている。さらに、前記演算処理装置は、前記制御プ
ログラムを書換え可能な記憶装置を有し、前記シリアル
通信信号で前記制御プログラムを書換えることにより、
前記オン/オフの切替えをしていること、又は前記定格
電圧を切替える制御プログラムを有し、前記シリアル通
信信号で該制御プログラムに切替えることにより、前記
オン/オフの切替えをしていることを特徴としている。
御装置は、シリアル通信信号でプログラムが書換え、又
は切替わる構成とされるので、空き端子を有しない場合
にも実装後のすべての集積回路のスクリーニングを行う
ことができる。さらに、本発明に係る制御装置は、制御
プログラムを演算する演算処理装置等の集積回路を備
え、前記集積回路をスクリーニングするための定格電圧
を切替える出力電圧調整手段を備えるとともに、前記演
算処理装置及び前記集積回路の特性を調べる検査手段を
備えていることを特徴としている。
ンジン制御装置の一実施形態について詳細に説明する。
図1は、該エンジン制御装置の第一の実施形態を示した
ブロック図である。該エンジン制御装置107は、定電
圧電源回路100と、演算処理装置(CPU)111
と、該CPU等の集積回路(IC)112、113等か
らなり、CPU111、集積回路112、113は、回
路基板にベアチップ状態で実装されたものである。
ク角センサ(図示省略)からの信号、その他各種センサ
(図示省略)からの検出信号を取り込み、該取り込み検
出信号に基づき演算して、燃料噴射弁等(図示省略)に
駆動信号を出力するとともに、点火プラグ(図示省略)
にも点火駆動信号を出力するものであり、入力回路(図
示省略)、A/D変換部(図示省略)、記憶装置ROM
(図示省略)、記憶装置RAM(図示省略)、及び出力
回路(図示省略)とを含んだ構成とされている。前記入
力回路は、入力信号(例えば、冷却水温センサ、クラン
ク角センサ、空燃比センサ等からの信号)を受けて、該
入力信号からノイズ成分の除去等を行って、当該信号を
A/D変換部に出力するためのものである。前記A/D
変換部は、該信号をA/D変換し、CPU111に出力
する。CPU111は、該A/D変換結果を取り込み、
前記ROMに記憶された所定の制御プログラムを実行す
ることによって、制御等を実行する機能を備えている。
なお、演算結果、及び、前記A/D変換結果は、前記R
AMに一時保管されるとともに、該演算結果は、前記出
力回路を通じて制御出力信号として出力され、前記燃料
噴射弁等の制御に用いられる。
記CPU111、前記集積回路112、113をスクリ
ーニング等するために、コネクタを介して検査機(スク
リーニング装置)108と接続しており、前記集積回路
112、113をスクリーニングした後、CPU111
及び集積回路112、113の特性を検査して良否を判
別し、前記検査機108と切り離してから合格した製品
のみをエンジン制御装置107として実機に採用してい
る。
介して、バッテリ電圧304をエンジン制御装置107
の定電圧電源回路100に印加でき、該定電圧電源回路
100が出力電圧調整回路150と接続し、該出力電圧
調整回路150が、前記集積回路112,113をスク
リーニングするための定格電圧を切替えている。前記定
電圧電源回路100は、電流源114と、基準電圧源1
04と、スタートアップ回路115と、誤差増幅器11
6と、トランジスタ117とからなる可変出力タイプの
ものであり、出力側電源線110を介して、前記CPU
111、前記集積回路112,113に一定の定格電圧
(例えば、5V)を出力している。
うに、前記CPU111、前記集積回路112,113
をスクリーニングするために前記定格電圧を切替えるも
のであり、抵抗器101,102,106と、スイッチ
105とから構成され、抵抗器101及び抵抗器102
は、前記定格電圧の出力側電源線110とグランド側と
の間に直列に接続されている。一方、前記抵抗器10
1,102とは別の抵抗器106は、検査機108内の
他の出力電圧調整回路150aに設けられており、一端
がスイッチ105を介してグランド側に接続され、他端
が前記抵抗器101,102間の接点103に接続され
ており、スイッチ105をオンにすることにより、前記
抵抗器102と並列に接続されるものである。
ジン制御装置107の空き端子Aを介して、前記抵抗器
101,102間の接点103と接続するとともに、定
電圧電源回路100の端子ADJを介して、前記定電圧
電源回路100の基準電圧源104とも接続されてい
る。前記CPU111、前記集積回路112,113の
スクリーニングは、以下のようにして行われる。
304が入力側電源線109を介してエンジン制御装置
107に印可されると、定電圧電源回路100が、出力
側電源線110を介してCPU111、集積回路11
2,113に通常時の一定の定格電圧(例えば、5V)
の電源電圧を印加し、CPU111、集積回路112,
113等が動作を開始する。
(中間電圧値)は、直列に接続されている抵抗器101
と抵抗器102との比で決定され、該中間電圧値と基準
電圧源104の電圧値とを誤差増幅器116で比較する
ことにより、一定の定格電圧を維持している。一方、ス
クリーニング時には、出力電圧調整回路150のスイッ
チ105をオンにすることにより、前記接点103の電
圧値(中間電圧値)は、並列に接続されている抵抗器1
02及び抵抗器106と、これらと直列に接続されてい
る抵抗器101との比で決定されて切替わり、通常時よ
りも高い電圧値を出力側電源線110を介してCPU1
11、集積回路112,113に印加して、スクリーニ
ングをする。
ッチ105をオフにし、一定時間経過後に、検査機10
8にて特性試験をし、エンジン制御装置107の機能を
検査してCPU111、集積回路112,113の潜在
的欠陥である初期不良を除去する。図2は、前記エンジ
ン制御装置の第二の実施形態を示したブロック図であ
り、CPU200、出力電圧調整回路250以外は図1
と同様の構成であるので、該CPU200、該出力電圧
調整回路250について詳述する。
換え可能なROM(フラッシュロム)を内蔵するもので
あり、書換えられた制御プログラムによって、接点10
3の中間電圧を制御する。 前記出力電圧調整回路25
0は、前記集積回路112,113をスクリーニングす
るために前記定格電圧を切替えるものであり、抵抗器1
01,102,201と、トランジスタ204とから構
成され、抵抗器101及び抵抗器102は、前記定格電
圧の出力側電源線110とグランド側との間に直列に接
続されている。一方、前記抵抗器101,102とは別
の抵抗器201は、エンジン制御装置107内に設けら
れており、一端がトランジスタ204を介してグランド
側に接続され、他端が前記抵抗器101,102間の接
点103に接続されており、トランジスタ204をオン
にすることにより、前記抵抗器102と並列に接続され
るものである。
は、シリアル通信手段203が設けられ、CPU200
に出力信号及び制御プログラムを送信することにより、
CPU200を書き込み用モードに切替えるとともに、
CPU200内の前記フラッシュロムの制御プログラム
を書換えている。通常時は、シリアル通信手段203に
よって、CPU200のポート202の出力をローレベ
ルで固定するプログラムが前記フラッシュロムに書き込
まれ、トランジスタ204をオフにし、直列に接続され
ている抵抗器101と抵抗器102との比で中間電圧値
が決定される。
手段203によって、CPU200のポート202の出
力をハイレベルで固定するプログラムが前記フラッシュ
ロムに書き込まれて書換えられ、トランジスタ204を
オンにし、並列に接続されている抵抗器102及び抵抗
器106と、これらと直列に接続されている抵抗器10
1との比で前記接点103の電圧値(中間電圧値)が決
定されて切替わり、通常時よりも高い電圧値を出力側電
源線110を介してCPU200、集積回路112,1
13に印加してスクリーニングをする。
通信203により、再びポート202の出力をローレベ
ルで固定するプログラムが前記フラッシュロムに書換え
られ、前記トランジスタ204をオフにし、一定時間経
過後、検査機108にて特性試験をし、エンジン制御装
置107の機能を検査してCPU200、集積回路11
2,113の潜在的欠陥である初期不良を除去する。
施形態を示したブロック図であり、CPU300以外は
図2と同様の構成であるので、該CPU300等につい
て詳述する。前記CPU300は、外部からの出力信号
によって、ポート309の出力をローレベルで固定する
プログラムと、ポート309の出力をハイレベルで固定
するプログラムとを相互に切替える制御プログラムを内
蔵し、接点103の中間電圧を制御するものである。
圧調整回路250と同様に構成され、抵抗器101,1
02,201と、トランジスタ204とからなり、前記
集積回路112,113をスクリーニングするために前
記定格電圧を切替えるものである。抵抗器101及び抵
抗器102は、前記定格電圧の出力側電源線109bと
グランド側との間に直列に接続されている。一方、別の
抵抗器201は、一端をトランジスタ204を介してグ
ランド側に接続され、他端を前記抵抗器101,102
間の接点103に接続されており、トランジスタ204
をオンにすることにより、前記抵抗器102と並列に接
続されるものである。
3によって、CPU300のポート309の出力をロー
レベルで固定するプログラムが指定され、トランジスタ
204をオフにされるが、スクリーニング時は、シリア
ル通信手段203によって、CPU300のポート30
9の出力をハイレベルで固定するプログラムが指定さ
れ、トランジスタ204をオンにされて、通常時よりも
高い電圧値を出力側電源線110を介してCPU30
0、集積回路112,113に印加してスクリーニング
をする。また、スクリーニング完了後には、再びポート
309の出力をローレベルで固定するプログラムが指定
され、前記トランジスタ204をオフにし、一定時間経
過後、検査機108にて特性試験をし、エンジン制御装
置107の機能を検査して集積回路112,113の潜
在的欠陥である初期不良を除去する。
タイミングチャートである。まず、検査機(スクリーニ
ング試験装置)108により、バッテリ電圧304が入
力側電源線109aを介してエンジン制御装置107に
印可されると、定電圧電源回路100が、出力側電源線
109bを介してCPU300、集積回路112,11
3に通常時の一定の定格電圧(例えば、5V)の電源電
圧が印加され、CPU300、集積回路112,113
等が動作を開始する。
03から通信線301aに高電圧切替指示を送信する
と、CPU300は、シリアル受信回路301を介して
高電圧切替指示信号305を受信し、該高電圧切替信号
305が出力電圧調整回路303に出力され、トランジ
スタ204をオンにし、定電圧電源回路100の出力電
圧値がスクリーニング用の高電圧値(例えば7V)に切
替えられる。
302を介して通信線302aに切替え完了信号307
を送信し、該信号307を検査機108に返信する。そ
して、スクリーニングに必要な所定時間の高電圧印可を
した後、検査機108のシリアル通信回路203から通
信線301aに定格電圧切替え指示を送信すると、CP
U300は、シリアル受信回路301を介して定格電圧
切替え指示信号306を受信し、該定格電圧切替え信号
306が出力電圧調整回路303に出力され、トランジ
スタ204をオフにし、定電圧電源回路100の出力電
圧値が定格電圧(例えば5V)に切替えられる。
302を介して通信線302aに切替え完了信号308
を送信し、該信号308を検査機108に返信する。そ
して、スクリーニング完了を確認して一定時間経過後、
検査機108にて特性試験をし、エンジン制御装置10
7の機能を検査して集積回路112,113の潜在的欠
陥である初期不良を判断する。
上記の構成によって次の機能を奏するものである。第一
の実施形態のエンジン制御装置107は、プログラムを
演算するCPU111と、集積回路112,113と、
前記プログラムを格納するROMと、前記集積回路11
2,113に定格電圧を出力する定電圧電源回路100
等からなり、回路基板に実装した集積回路112,11
3をスクリーニングするための前記定格電圧を切替える
出力電圧調整回路150を備えており、該出力電圧調整
回路150は、他の出力電圧調整回路150aと接続す
ることにより、抵抗器101,102,106と、スイ
ッチ105とが接続し、抵抗器101及び抵抗器102
は、前記定格電圧の出力側電源線110とグランド側と
の間に直列に接続され、他の抵抗器106は、一端がグ
ランド側に接続され、他端が前記抵抗器101,102
間の接点103に接続されており、スイッチ105をオ
ンにすることにより、前記抵抗器102と並列に接続さ
れるとともに、前記定電圧電源回路100の基準電圧源
104が、前記エンジン制御装置107の空き端子Aを
介して、前記抵抗器101,102間の接点103と接
続されているので、複雑な回路及び外部出力信号手段を
特別に構成することなく、接点103の中間電圧を変え
て、実装後のすべての集積回路112,113のスクリ
ーニングを一度に行うことができ、製造コストの低減及
びスクリーニングの時間の短縮化を図ることができる。
ニングのために電圧値を変えているが、この電圧値の変
化をエンジン制御にも用いることによって、消費電力の
削減を図ることができる。 また、第二の実施形態のエ
ンジン制御装置107は、CPU200が、プログラム
を書換え可能なROM(フラッシュロム)を内蔵するも
のであるとともに、シリアル通信手段203によってC
PU200のプログラムが書き込まれ、これに伴って、
出力電圧調整回路250のトランジスタ204がオン又
はオフになり、接点103の中間電圧を変えることがで
きるので、空き端子Aを有しない端子制限があるエンジ
ン制御装置の場合にも実装後の集積回路112,113
のスクリーニングを行うことができる。
置107は、CPU300が、シリアル通信手段203
からの出力信号によって、CPU300のポート309
の出力をローレベルで固定するプログラムと、該ポート
309の出力をハイレベルで固定するプログラムとを相
互に切替える制御プログラムを内蔵するものであり、シ
リアル通信手段203によってCPU300のプログラ
ムが切替わり、これに伴って、出力電圧調整回路303
のトランジスタ204がオン又はオフになり、接点10
3の中間電圧を変えることができるので、空き端子Aを
有しないエンジン制御装置であって、フラッシュロムを
有しないCPUの場合にも実装後の集積回路112,1
13のスクリーニングを行うことができる。
が、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、
特許請求の範囲に記載された本発明の精神を逸脱するこ
となく設計において種々の変更ができるものである。例
えば、第一の実施形態では、出力電圧調整回路がエンジ
ン制御装置と検査機とに分割されているが、この回路は
エンジン制御装置内に設けられた一体のものであっても
よい。
のみ使用されるものではなく、ベアチップ状態で実装さ
れた集積回路の制御装置として、出力電圧調整回路及び
特性検査回路を設けることにより、集積回路のスクリー
ニング及び機能検査を行うことができる。
明のエンジン制御装置は、出力電圧調整回路を設けたこ
とによって、回路基板にベアチップ状態で実装された半
導体集積回路のスクリーニングを行うことができ、実装
サイズの縮小化、電気特性の向上のほか、より簡単な構
成によって製造コストの低減等を図ることができる。
ロック図。
ロック図。
ロック図。
Claims (11)
- 【請求項1】 制御プログラムを演算する演算処理装置
等の集積回路を備えたエンジン制御装置において、 前記エンジン制御装置は、前記集積回路をスクリーニン
グするための定格電圧を切替える出力電圧調整回路を備
え、該出力電圧調整回路は、前記定格電圧の出力側電源
線とグランド側との間に複数の抵抗器を設けていること
を特徴とするエンジン制御装置。 - 【請求項2】 前記出力電圧調整回路は、前記グランド
側に接続される他の抵抗器と接続し、前記複数の抵抗器
間の接点が、前記他の抵抗器と接続するとともに、前記
集積回路に定格電圧を出力する定電圧電源回路と接続す
ることを特徴とする請求項1記載のエンジン制御装置。 - 【請求項3】 前記他の抵抗器は、オン/オフの切替え
により前記グランド側と接続することを特徴とする請求
項2記載のエンジン制御装置。 - 【請求項4】 前記他の抵抗器は、前記エンジン制御装
置の外部に設けられていることを特徴とする請求項2又
は3記載のエンジン制御装置。 - 【請求項5】 前記他の抵抗器は、前記エンジン制御装
置の空き端子を介して、前記複数の抵抗器間の接点と接
続することを特徴とする請求項4記載のエンジン制御装
置。 - 【請求項6】 前記他の抵抗器は、前記エンジン制御装
置の内部に設けられていることを特徴とする請求項2又
は3記載のエンジン制御装置。 - 【請求項7】 前記他の抵抗器は、シリアル通信信号に
よりオン/オフの切替えをしていることを特徴とする請
求項6記載のエンジン制御装置。 - 【請求項8】 前記演算処理装置は、前記制御プログラ
ムを書換え可能な記憶装置を有し、前記シリアル通信信
号で前記制御プログラムを書換えることにより、前記オ
ン/オフの切替えをしていることを特徴とする請求項7
記載のエンジン制御装置。 - 【請求項9】 前記演算処理装置は、前記定格電圧を切
替える制御プログラムを有し、前記シリアル通信信号で
該制御プログラムに切替えることにより、前記オン/オ
フの切替えをしていることを特徴とする請求項7記載の
エンジン制御装置。 - 【請求項10】 前記エンジン制御装置は、前記集積回
路をスクリーニングする場合には、通常動作時よりも高
い電圧値を前記集積回路に印加することを特徴とする請
求項1乃至9のいずれか一項に記載のエンジン制御装
置。 - 【請求項11】 制御プログラムを演算する演算処理装
置等の集積回路を備えた制御装置において、 前記制御装置は、前記集積回路をスクリーニングするた
めの定格電圧を切替える出力電圧調整手段を備えるとと
もに、前記演算処理装置及び前記集積回路の特性を調べ
る検査手段を備えていることを特徴とする制御装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22844499A JP3585401B2 (ja) | 1999-08-12 | 1999-08-12 | エンジン制御装置 |
DE60024369T DE60024369T2 (de) | 1999-08-12 | 2000-08-11 | Steuereinrichtung für eine Brennkraftmaschine |
US09/636,029 US6781362B1 (en) | 1999-08-12 | 2000-08-11 | Engine control device having voltage adjustment circuitry |
EP00117231A EP1076241B1 (en) | 1999-08-12 | 2000-08-11 | Engine control device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22844499A JP3585401B2 (ja) | 1999-08-12 | 1999-08-12 | エンジン制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001051023A true JP2001051023A (ja) | 2001-02-23 |
JP3585401B2 JP3585401B2 (ja) | 2004-11-04 |
Family
ID=16876598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22844499A Expired - Fee Related JP3585401B2 (ja) | 1999-08-12 | 1999-08-12 | エンジン制御装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6781362B1 (ja) |
EP (1) | EP1076241B1 (ja) |
JP (1) | JP3585401B2 (ja) |
DE (1) | DE60024369T2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006019663A (ja) * | 2004-07-05 | 2006-01-19 | Denso Corp | ベアチップセット、ベアチップ検査方法、ベアチップ、およびベアチップ搭載回路基板 |
JP2010002194A (ja) * | 2008-06-18 | 2010-01-07 | Shibasoku:Kk | 試験装置及び試験方法 |
CN103105571A (zh) * | 2013-01-24 | 2013-05-15 | 东南大学 | 一种基于仿真的绝缘栅双极型晶体管的电流特性测定方法 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7802141B2 (en) * | 2004-03-05 | 2010-09-21 | Denso Corporation | Semiconductor device having one-chip microcomputer and over-voltage application testing method |
KR100800489B1 (ko) * | 2006-12-21 | 2008-02-04 | 삼성전자주식회사 | 반도체 집적 회로의 기준 전압 제공 장치 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5146172A (en) * | 1990-08-15 | 1992-09-08 | Sundstrand Corp. | Engine identification system |
US5200696A (en) * | 1990-09-10 | 1993-04-06 | Ltx Corporation | Test system apparatus with Schottky diodes with programmable voltages |
US5339028A (en) * | 1992-07-23 | 1994-08-16 | Texas Instruments Incorporated | Test circuit for screening parts |
JP2922733B2 (ja) * | 1992-10-14 | 1999-07-26 | 三菱電機株式会社 | 混成集積回路装置 |
JPH07287603A (ja) | 1994-04-19 | 1995-10-31 | Hitachi Ltd | エンジン制御装置 |
JP3301874B2 (ja) * | 1994-12-19 | 2002-07-15 | 松下電器産業株式会社 | 半導体装置及びその検査方法 |
US5731707A (en) * | 1996-04-17 | 1998-03-24 | Mitutoyo Corporation | Method and apparatus for synthesizing spatial waveforms in an electronic position encoder |
JPH09304481A (ja) * | 1996-05-17 | 1997-11-28 | Nissan Motor Co Ltd | オンボードスクリーニング装置 |
JPH109041A (ja) | 1996-06-24 | 1998-01-13 | Nissan Motor Co Ltd | 車載電子ユニット |
JPH1136974A (ja) * | 1997-07-24 | 1999-02-09 | Mitsubishi Electric Corp | 車両用制御装置 |
JP3392029B2 (ja) * | 1997-12-12 | 2003-03-31 | 株式会社アドバンテスト | Icテスタの電圧印加電流測定回路 |
-
1999
- 1999-08-12 JP JP22844499A patent/JP3585401B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-08-11 US US09/636,029 patent/US6781362B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-08-11 DE DE60024369T patent/DE60024369T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-08-11 EP EP00117231A patent/EP1076241B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006019663A (ja) * | 2004-07-05 | 2006-01-19 | Denso Corp | ベアチップセット、ベアチップ検査方法、ベアチップ、およびベアチップ搭載回路基板 |
JP2010002194A (ja) * | 2008-06-18 | 2010-01-07 | Shibasoku:Kk | 試験装置及び試験方法 |
CN103105571A (zh) * | 2013-01-24 | 2013-05-15 | 东南大学 | 一种基于仿真的绝缘栅双极型晶体管的电流特性测定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6781362B1 (en) | 2004-08-24 |
DE60024369D1 (de) | 2006-01-05 |
EP1076241A2 (en) | 2001-02-14 |
EP1076241B1 (en) | 2005-11-30 |
EP1076241A3 (en) | 2003-10-29 |
DE60024369T2 (de) | 2006-08-03 |
JP3585401B2 (ja) | 2004-11-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2827229B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
WO2006025140A1 (ja) | 半導体集積回路装置およびその検査方法、半導体ウエハ、およびバーンイン検査装置 | |
TW374929B (en) | Integrated circuit having a function of testing memory using stress voltage and method of testing memory of the same | |
JP2001051023A (ja) | エンジン制御装置 | |
US7679394B2 (en) | Power supply noise resistance testing circuit and power supply noise resistance testing method | |
JP3200565B2 (ja) | マイクロプロセッサおよびその検査方法 | |
JP2002005999A (ja) | 半導体試験装置 | |
EP0481487A2 (en) | Stand-by control circuit | |
US6738940B1 (en) | Integrated circuit including a test signal generator | |
CN114443391B (zh) | 一种接地弹跳的测试方法及系统 | |
JP3783865B2 (ja) | 半導体装置及びそのバーンインテスト方法、製造方法並びにバーンインテスト制御回路 | |
JP2000040014A (ja) | Ecu機能検査装置の評価システム | |
JP2002131380A (ja) | 半導体試験装置、半導体試験システム、及び半導体装置の試験方法 | |
JPH11344542A (ja) | デバイス検査方法およびデバイス検査装置 | |
JP2003084038A (ja) | 電子ユニットの検査方法 | |
JPH0637350Y2 (ja) | デイジタル回路試験装置 | |
JP2002277517A (ja) | 電源ノイズ耐性評価方法およびそれに用いるプローブ並びに半導体素子 | |
JP2007019735A (ja) | 電子制御装置及び通信システム並びにサージ吸収素子の検査方法 | |
JPH03282270A (ja) | 半導体集積回路の試験装置 | |
JP2003075508A (ja) | 制御ユニット及びその検査方法 | |
JPH05341014A (ja) | 半導体モジュール装置、半導体モジュール単体及び試験方法 | |
JP2001051865A (ja) | 電子制御装置の検査方法 | |
JPH06289106A (ja) | 集積回路装置及び集積回路装置の製造方法 | |
KR100422533B1 (ko) | 차량용 전자 제어 유니트 시험 장치 | |
JPH11133101A (ja) | 静止電源電流テスト回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040720 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040803 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070813 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080813 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080813 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090813 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |