JP2003084038A - 電子ユニットの検査方法 - Google Patents

電子ユニットの検査方法

Info

Publication number
JP2003084038A
JP2003084038A JP2001273925A JP2001273925A JP2003084038A JP 2003084038 A JP2003084038 A JP 2003084038A JP 2001273925 A JP2001273925 A JP 2001273925A JP 2001273925 A JP2001273925 A JP 2001273925A JP 2003084038 A JP2003084038 A JP 2003084038A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
electronic unit
mode
control program
switching signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001273925A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3778035B2 (ja
Inventor
Naoki Tei
尚▲煕▼ 鄭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to JP2001273925A priority Critical patent/JP3778035B2/ja
Publication of JP2003084038A publication Critical patent/JP2003084038A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3778035B2 publication Critical patent/JP3778035B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査時以外の場合に検査用制御プログラムが
誤実行されることの無い電子ユニット1の検査方法を提
供する。 【解決手段】 検査時だけ、マイコン3に対し書込モー
ド切替信号により端子T10に入力される検査用制御プ
ログラムを内部メモリ3aに書き込ませ、検査モード切
替信号に基づき内部メモリ3aに書き込んだ検査用制御
プログラムを実行させ、検査終了後は、消去モード切替
信号により内部メモリ3aに書き込んだ検査用制御プロ
グラムを消去する。

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、通常モード時には
通常用制御プログラムに従うと共に検査モード時には検
査用制御プログラムに従って所定の入力端子から入力さ
れる入力信号に対して所定の出力信号を所定の出力端子
から出力する電子ユニットの検査方法に関する。 【0002】 【従来の技術】図3は、従来の電子ユニットの検査方法
における電子ユニット及び検査機の各構成の一例を示す
図であり、図4は、従来の電子ユニットの検査方法を採
用した場合に生じる虞のある電子ユニットの誤動作を説
明する図である。 【0003】この種の電子ユニットは、例えば車両に搭
載され、種々の車載スイッチや種々の車載センサ等と接
続されると共に駆動モータやランプ等の負荷と接続さ
れ、それらスイッチ及びセンサ等からの信号(SW信
号、センサ信号等)に応じてそれら負荷を駆動したり、
車載LANと接続されて他の車載機器との間でデータ通
信を行うものである。 【0004】かかる電子ユニット101は、一般的に
は、例えば図3に示す如く、複数の入力端子(電源入力
端子T1、通信信号入出力端子T2、1つ以上(図では
2つ)のSW信号入力端子T3,T4、1つ以上(図で
は2つ)のセンサ信号入力端子T5,T6)と、複数の
出力端子(アース出力端子T7、負荷駆動用の駆動信号
を出力する1つ以上(図では2つ)の駆動信号出力端子
T8,T9)と、マイコン103と、電源回路5と、通
信回路7と、SW入力回路9と、AD入力回路11と、
出力回路13とを備えて構成される。電源入力端子T1
は電源回路5を介してマイコン103に接続され、通信
信号入出力端子T2は通信回路7を介してマイコン10
3に接続され、SW信号入力端子T3,T4はSW入力
回路9を介してマイコン103に接続され、センサ信号
入力端子T5,T6はAD入力回路11を介してマイコ
ン103に接続され、アース出力端子T7はマイコン1
03に接続されると共に電子ユニット101内でアース
され、駆動信号出力端子T8,T9は出力回路13を介
してマイコン103に接続されている。 【0005】ここで、電源回路5は、電源入力端子T1
に入力される外部からの電源電流及び電源電圧をマイコ
ンレベルの電流及び電圧に変換してマイコン103に入
力する。通信回路7は、通信信号入出力端子T2に入力
される通信相手からの通信信号をマイコンレベルの信号
に変換してマイコン103に入力し、マイコン103か
らの信号を通信信号に変換して通信信号入出力端子T2
から通信相手に出力する。SW入力回路9は、各SW信
号入力端子T3,T4に入力される外部からのSW信号
をマイコンレベルの信号に変換してマイコン103に入
力する。AD入力回路11は、各センサ信号入力端子T
5,T6に入力される外部からのセンサ信号をマイコン
レベルの信号に変換してマイコン103に入力する。出
力回路13は、マイコン103からの各制御信号に応じ
て各負荷を駆動する駆動信号を各駆動信号出力端子T
8,T9から出力する。 【0006】マイコン103は、その内部メモリ103
aにマイコン103の処理動作を規定する制御プログラ
ム(即ち、各入力端子T1〜T6に入力される外部から
の各信号に対して、どの出力端子T2,T7〜T9から
どのような出力信号を出力するのかが規定されると共に
通信信号入出力端子T2に入力される外部からの通信信
号に対してどのような処理動作を行うのかが規定された
プログラム)が設定されると共に、電源回路5から電源
が投入されて当該マイコン103が起動した時に、その
制御プログラムを実行して通常モードとなり、その制御
プログラムに従って動作するように設定されている。 【0007】そして、従来の電子ユニット101の検査
方法では、更に、マイコン103の内部メモリ103a
に検査用制御プログラム(制御プログラムの内容を電子
ユニット101の検査に適した内容に変更したプログラ
ム、以後検査用制御プログラムに対して上記制御プログ
ラムを通常用制御プログラムと呼ぶ)が固定的(消去不
能)に設定されると共に、マイコン103に対して、所
定の入力端子(例えば通信信号入出力端子T2)を介し
て検査モード切替信号が入力された場合にだけ、強制的
に検査用制御プログラムを実行して検査モードに切り替
わり、その検査用制御プログラムに従って動作するよう
に設定されている。なお、通常モードに切り替える場合
は例えばマイコン103を再起動させる。 【0008】そして、かかる電子ユニット101を検査
する検査機119は、一般的には、例えば図3に示す如
く構成される。即ち、複数の出力端子(電源出力端子S
1、通信信号入出力端子S2、1つ以上(図では1つ)
のSW信号出力端子S3、1つ以上(図では1つ)のセ
ンサ信号出力端子S5)と、複数の入力端子(アース入
力端子S7、1つ以上(図では2つ)の駆動信号入力端
子S8,S9)とを備える。また、制御部121と、電
源出力端子S1に電源スイッチ25を介して接続された
電源23と、制御部121の制御により電源スイッチ2
5をオンオフする電源SW制御回路27と、通信信号入
出力端子S2と制御部121との間に接続された通信回
路29と、SW信号出力端子S3とアースとの間に接続
された模擬スイッチ31と、制御部121の制御により
模擬スイッチ31をオンオフするSW制御回路33と、
センサ信号出力端子S5とアースとの間に接続された模
擬センサ35と、制御部121の制御により模擬センサ
35のセンサ出力を制御するセンサ出力制御回路37
と、駆動信号入力端子S8と電源23との間に接続され
た模擬負荷39と、模擬負荷39に入力される駆動信号
を検出する検出回路41とを備える。なお、アース入力
端子S7は検査機119内でアースされる。 【0009】ここで、通信回路29は、通信信号入出力
端子S2に入力される電子ユニット101側からの通信
信号を制御部レベルの信号に変換して制御部121に入
力し、制御部121からの信号を通信信号に変換して通
信信号入出力端子S2から電子ユニット101側に出力
する。検出回路41は、模擬負荷39に入力される駆動
信号を制御部レベルの信号に変換して制御部121に入
力する。 【0010】制御部121は、例えば操作者の入力操作
等により起動され、起動後は、まず、電源SW制御回路
27により電源スイッチ25をオン制御し、端子S1か
ら電子ユニット101側の端子T1に電源23による電
力供給を開始する。次いで、通信回路29により端子S
2から電子ユニット101側の端子T2に検査モード切
替信号を出力し電子ユニット101に対して検査用制御
プログラムを実行させて電子ユニット101の動作モー
ドを検査モードに切り替える。次いで、通信回路29、
SW制御回路33及びセンサ出力制御回路37により各
端子S2,S3,S5から電子ユニット101の各端子
T2,T3,T5に、検査用信号として所定の通信信
号、所定のSW信号及び所定のセンサ信号を順次出力し
ながら、同時にそれら各検査用信号の出力に応答して電
子ユニット101の各端子T2,T8,T9から出力さ
れて、検査機119の各端子S2,S8,S9及び各回
路29,41を介して得られる各信号をモニタし、所定
の検査用信号に対し所定の出力信号が得られるか否かを
みることにより、電子ユニット101に接続不良や素子
不良が有るか否かを判断して電子ユニット101の良否
を検査するように設定されている。 【0011】そして、従来の上記電子ユニット101を
検査機119を用いて検査する際は、まず、検査機11
9の各端子S1〜S3,S5,S7〜S9を電子ユニッ
ト101の対応する各端子T1〜T3,T5,T7〜T
9に接続し、検査機119を始動させる。これにより、
検査機119の端子S1から電源23による電力が電子
ユニット101の端子T1,電源回路5を介してマイコ
ン103に供給されて電子ユニット101が起動され
る。次いで検査機119の端子S2から検査モード切替
信号が出力されて電子ユニット101の端子T2及び通
信回路7を介してマイコン103に入力され、これによ
り電子ユニット101により内部メモリ103a内の検
査用制御プログラムが実行されて電子ユニット101が
検査モードに切り替えられ、この検査モードの下で、検
査機119の各端子S2,S3,S5から順に各検査用
信号が出力されて電子ユニット101の各端子T2,T
3,T5に入力され、その各検査用信号の入力に応答し
て電子ユニット101の各端子T2,T8から応答信号
が出力されて検査機119の各端子S2,S8に入力さ
れ、その応答信号に基づき、検査機119により電子ユ
ニット101の良否が検査される。そして、その検査終
了後に、電子ユニット101から検査機119が外され
る。 【0012】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
電子ユニット101の検査方法では、検査用制御プログ
ラムが電子ユニット101のマイコン103の内部メモ
リ103aに常設的に格納され、必要な時(検査時)だ
け検査モード切替信号の入力により電子ユニット101
(マイコン103)に対して検査用制御プログラムを強
制的に実行させる構成を用いるため、電子ユニット10
1において図4に示す誤動作が生じる虞がある。 【0013】即ち、ステップU1で、電子ユニット10
1が例えば車両に組み込まれて通常用制御プログラムを
実行して通常モード(通常制御状態)にある場合に、ス
テップU2で、マイコン103に故障が生じたり端子
(例えば通信信号入出力端子T2)にノイズが生じたり
しなければステップU1に戻り通常モードが維持される
が、検査用制御プログラムの誤実行を引き起こす故障が
マイコン103に生じたり、検査モード切替信号と同じ
波形パターンのノイズ等が端子(例えば通信信号入出力
端子T2)に印加されると、ステップU3に進み、検査
用制御プログラムが誤実行されて通常モードから検査モ
ードに誤移行し、ステップU4に進み、電子ユニット1
01において通常モードでないといけないところで検査
用動作(誤動作)が起こる虞がある(通常制御異常)。 【0014】そこで、この発明の課題は、検査時以外の
場合に検査用制御プログラムが誤実行されることの無い
電子ユニットの検査方法を提供することにある。 【0015】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
には、請求項1に記載の発明は、通常モード時には通常
用制御プログラムに従うと共に検査モード時には検査用
制御プログラムに従って所定の入力端子から入力される
入力信号に対して所定の出力信号を所定の出力端子から
出力する電子ユニットの検査方法であって、前記電子ユ
ニットは、プログラム入力端子と、書込・消去モード切
替信号入力端子と、検査モード切替信号入力端子とを備
えると共に、前記書込・消去モード切替信号入力端子に
入力される書込モード又は消去モードの切替信号に基づ
き、その動作モードを書込モード又は消去モードに切り
替える機能と、前記検査モード切替信号入力端子に入力
される検査モード切替信号に基づきその内部メモリに書
き込まれた検査用制御プログラムを実行する機能とを有
し、前記電子ユニットの前記書込・消去モード切替信号
入力端子に前記書込モード切替信号を入力することで前
記電子ユニットの動作モードを前記書込モードに切り替
えて、前記電子ユニットの前記プログラム入力端子に前
記検査用制御プログラムを外部より入力することで前記
電子ユニットの内部メモリに前記検査用制御プログラム
を書き込む第1工程と、前記電子ユニットの前記検査モ
ード切替信号入力端子に前記検査モード切替信号を入力
して前記電子ユニットに対して前記検査用制御プログラ
ムを実行させることで、前記電子ユニットの動作モード
を前記検査モードに切り替える第2工程と、前記検査モ
ード時に検査機により前記電子ユニットの所定の入力端
子に検査用信号を順次入力しながら、その検査用信号の
入力に応答して、前記検査用制御プログラムに従って前
記電子ユニットの所定の出力端子から出力される出力信
号をモニタすることで前記電子ユニットの良否を検査す
る第3工程と、検査終了後に検査機により前記電子ユニ
ットの前記書込・消去モード切替信号入力端子に前記消
去モード切替信号を入力して前記電子ユニットの動作モ
ードを前記消去モードに切り替えることで、前記電子ユ
ニットの内部メモリ内の前記検査用制御プログラムを消
去する第4工程と、を含むものである。 【0016】 【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施の形態に係
る電子ユニットの検査方法における電子ユニット及び検
査機の各概略的構成を示す図であり、図2は、本発明の
実施の形態に係る電子ユニットの検査方法を含む電子ユ
ニットの検査工程を説明する図である。 【0017】この実施の形態に係る電子ユニットの検査
方法では、検査の時に電子ユニットの内部メモリに検査
用制御プログラムを書き込んで電子ユニットに対してそ
の検査用制御プログラムを実行させて電子ユニットの検
査を行い、検査終了後に、その電子ユニットの内部メモ
リから検査用制御プログラムを消去する方式が用いられ
る。 【0018】従って、この実施の形態に係る電子ユニッ
ト1の検査方法における電子ユニット1では、図1に示
す如く、従来法における電子ユニット101と比べて、
更に外部から制御プログラム(通常用及び検査用)が入
力されるプログラム入力端子T10を備える。 【0019】そして、マイコン3は、従来のマイコン1
03と異なり、その内部メモリ3aが記憶内容の書き込
み及び部分消去可能なメモリ(ここではフラッシュメモ
リ)として構成されると共に、その動作モードが例えば
通信信号入出力端子(書込・消去モード切替信号入力端
子)T2を介して入力される書込モード又は消去モード
の切替信号に従って書込モード又は消去モードに切り替
わるように設定されている。このマイコン3は、書込モ
ード時には、プログラム入力端子T10を介して入力さ
れる通常用及び検査用の制御プログラムをその内部メモ
リ3aに書き込み、消去モード時には、その内部メモリ
3aに検査用制御プログラムが書き込まれていれば、そ
の検査用制御プログラムだけを自動的に消去するように
設定されている。 【0020】また、マイコン3は、従来のマイコン10
3と異なり、電源入力端子(検査モード切替信号入力端
子)T1からの電力の投入(検査モード切替信号)によ
り起動する他に、その作動時に通信信号入出力端子(検
査モード切替信号入力端子)T2を介して再起動用の信
号(検査モード切替信号)が入力された場合には再起動
するように設定されている。そして、その起動時及び再
起動時に、その内部メモリ3aに検査用制御プログラム
が書き込まれていれば、通常用制御プログラムが書き込
まれていてもその検査用制御プログラムを優先して実行
して検査モードとなり、その検査用制御プログラムに従
って動作する。そして、その起動時及び再起動時に、そ
の内部メモリ3aに通常用制御プログラムしか書き込ま
れていなければ、従来同様、その通常用制御プログラム
を実行して通常モードとなり、その通常用制御プログラ
ムに従って動作するように設定されている。 【0021】なお、電子ユニット1の他の構成部分は、
従来技術で説明した電子ユニット101(図3)と同様
に構成される為、対応する構成部分には同一符号を付し
て説明を省略する。 【0022】これに対応して、かかる電子ユニット1を
検査する検査機19は、従来法における検査機119と
比べて、更に、電子ユニット1のプログラム入力端子T
10に着脱自在に接続するプログラム出力端子S10
と、プログラム出力端子S10と後述の制御部21との
間に接続されたフラッシュライター43とを備える。 【0023】フラッシュライター43は、例えばその内
部メモリ(図示省略)に通常用及び検査用の各制御プロ
グラムが格納されている。そして、制御部21の制御に
よりその内部メモリに格納された通常用及び検査用の各
制御プログラムをプログラム出力端子S10を介して電
子ユニット1側に出力する。 【0024】この検査機19の制御部21は、例えば操
作者の入力操作等により起動され、起動後は、電源SW
制御回路27により電源スイッチ25をオン制御し、端
子S1から電子ユニット1側の端子T1に電源23によ
る電力供給を開始した後で、従来の制御部121と異な
り、まず、通信回路29により端子S2から電子ユニッ
ト1側の端子T2に書込モード切替信号を出力して電子
ユニット1の動作モードを書込モードに切り替え、この
書込モードの下で、フラッシュライター43により通常
用及び検査用の各制御プログラムを端子S10,T10
を介し電子ユニット1に入力してマイコン3の内部メモ
リ3aに書き込む。次いで、通信回路29により端子S
2から電子ユニット1側の端子T2に再起動用の信号を
出力し電子ユニット1を再起動させることで、電子ユニ
ット1に対して検査用制御プログラムを実行させて電子
ユニット1の動作モードを検査モードに切り替える。こ
の状態で、従来と同様の検査動作を実行し、電子ユニッ
ト1に接続不良や素子不良が有るか否かを判断して電子
ユニット1の良否を検査する。電子ユニットの良否の検
査終了後は、従来の制御部121と異なり、通信回路2
9により端子S2から電子ユニット1側の端子T2に消
去モード切替信号を出力して電子ユニット1の動作モー
ドを消去モードに切り替え、電子ユニット1に対しその
内部メモリ3aに書き込まれた検査用制御プログラムを
消去させるように設定されている。 【0025】次に、図2に基づいて電子ユニット1の検
査方法を説明する。まず、ステップV1で、所定の電子
部品が所定位置に組み付けられて電子ユニット1が組み
立てられる。 【0026】そして、ステップV2で、検査機19の各
端子S1〜S3,S5,S7〜S10を電子ユニット1
の対応する各端子T1〜T3,T5,T7〜T10に接
続するようにして電子ユニット1に検査機19を接続
し、この状態で検査機19を操作して始動させる。これ
により、検査機19の端子S1から電源23による電力
が電子ユニット1の端子T1,電源回路5を介してマイ
コン3に投入され、電子ユニット1が起動する。 【0027】電子ユニット3の起動後は、ステップV3
で、検査機19の端子S2から書込モード切替信号が出
力されて電子ユニット1の端子T2及び通信回路7を介
してマイコン3に入力され、これにより電子ユニット1
が書込モードに切り替えられる。そして、この書込モー
ドの下で、検査機19のフラッシュライター43により
端子S10から通常用及び検査用の各制御プログラムが
出力されて電子ユニット1の端子T10を介してマイコ
ン3に入力され、その内部メモリ3aに通常用及び検査
用の各制御プログラムが書き込まれる。 【0028】その後、ステップV4で、検査機19の端
子S2から再起動用の信号が出力されて電子ユニット1
側の端子T2及び通信回路7を介してマイコン3に入力
され、マイコン3が再起動される。 【0029】このマイコン3(電子ユニット1)の再起
動により、ステップV5で、電子ユニット1により内部
メモリ3a内の検査用制御プログラムが実行されて電子
ユニット1が検査モードに切り替えられる。そして、こ
の検査モードの下で、従来と同様に、検査機19の各端
子S2,S3,S5から電子ユニット1の各端子T2,
T3,T5に各検査用信号が順次入力され、その各検査
用信号の入力に応答して、電子ユニット1の各端子T
2,T8から検査機19の各端子S2,S8に応答信号
が出力され、検査機19により各検査用信号に対する応
答信号がモニタされることで電子ユニット1の良否が検
査される。例えば、スイッチ入力のチェック、AD入力
のチェック、出力のチェック等の順で検査が行われる。 【0030】そして、ステップV6で、電子ユニット1
の検査結果が判断され、その検査結果の判断が不良品
(NG)の場合は、ステップV7に進み、その電子ユニ
ット1は一度検査ルーチンから外されて解析され、その
解析でOKになれば、もう一度ステップV3から検査を
やり直す。他方、その検査結果の判断が良品(OK)の
場合は、ステップV8に進み、検査機19の端子S2か
ら検査OKの合図として消去モード切替信号が出力され
て電子ユニット1の端子T2及び通信回線7を介してマ
イコン3に入力され、電子ユニット1が消去モードに切
り替えられ、ステップV9に進み、その電子ユニット1
により内部メモリ3a内の検査用制御プログラムだけが
消去される。 【0031】その後、ステップV10で、電子ユニット
1において通常用制御プログラムが一部実行されて通常
用制御プログラムが正常に実行されるかが確認され(通
常制御動作確認)、検査が終了する。最後に、ステップ
V11で、電子ユニット1が梱包され出荷される。 【0032】以上のように、上記の電子ユニット1の検
査方法によれば、電子ユニット1に、プログラム入力端
子T10が備えられると共に、そのマイコン3に、通信
信号入出力端子(書込・消去モード切替信号入力端子)
T2を介して入力される書込モード又は消去モードの切
替信号に従ってプログラム入力端子T10を介して入力
される検査用制御プログラムをその内部メモリ3aに書
き込ませ又はその内部メモリ3aに書き込んだ検査用制
御プログラムを消去させる機能と、通信信号入出力端子
(検査モード切替信号入力端子)T2に入力される再起
動用の信号(検査モード切替信号)に基づきその内部メ
モリ3aに書き込んだ検査用制御プログラムを実行する
機能とが持たされ、検査の時だけ、マイコン3に対し、
検査モード切替信号によりプログラム入力端子T10を
介して入力される検査用制御プログラムをその内部メモ
リ3aに書き込ませ、再起動用の信号に基づきその内部
メモリ3aに書き込んだ検査用制御プログラムを実行さ
せ、検査終了後は、消去モード切替信号によりその内部
メモリ3aに書き込んだ検査用制御プログラムを消去す
ることで、電子ユニット1内に検査用制御プログラムが
残らないようにしているため、従来法のように検査用制
御プログラムがマイコン103の内部メモリ103a内
に常設的に設定されることが無くなり、従って、従来の
ように、マイコン3の故障や端子へのノイズの印加によ
り、通常用制御プログラムにより通常制御すべきところ
で検査用制御プログラムが誤実行されて誤動作すること
が防止できる。 【0033】なお、この実施の形態では、通常用及び検
査用の各制御プログラムを電子ユニット1のマイコン3
に入力する手段として、専用のプログラム入力端子T1
0を設ける場合で説明したが、既存の入力端子(例えば
通信信号入出力端子T2)をプログラム入力端子T10
に兼用しても構わない。また、通信信号入出力端子T2
を、電子ユニット1に書込モード又は消去モードの切替
信号及び検査モード切替信号を入力する為の入力端子と
して兼用した場合で説明したが、それぞれ専用の書込・
消去モード切替信号入力端子及び検査モード切替信号入
力端子を設けるようにしても構わない。 【0034】 【発明の効果】請求項1に記載の発明によれば、電子ユ
ニットに、プログラム入力端子と、書込・消去モード切
替信号入力端子と、検査モード切替信号入力端子とが備
えられると共に、書込・消去モード切替信号入力端子を
介して入力される書込モード又は消去モードの切替信号
に従ってプログラム入力端子を介して入力される検査用
制御プログラムをその内部メモリに書き込ませ又はその
内部メモリに書き込んだ検査用制御プログラムを消去さ
せる機能と、検査モード切替信号入力端子に入力される
検査モード切替信号に基づきその内部メモリに書き込ん
だ検査用制御プログラムを実行する機能とが持たされ、
検査の時だけ、書込モード切替信号によりプログラム入
力端子を介して入力される検査用制御プログラムをその
内部メモリに書き込ませて、検査モード切替信号に基づ
きその内部メモリに書き込んだ検査用制御プログラムを
実行させ、検査終了後は、消去モード切替信号によりそ
の内部メモリに書き込んだ検査用制御プログラムを消去
することで、電子ユニット内に検査用制御プログラムが
残らないようにしているため、従来法のように検査用制
御プログラムがマイコンの内部メモリ内に常設的に設定
されることが無くなり、従って、従来のように、マイコ
ンの故障や端子へのノイズの印加により、通常用制御プ
ログラムにより通常制御すべきところで検査用制御プロ
グラムが誤実行されて誤動作することが防止できる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の実施の形態に係る電子ユニットの検査
方法における電子ユニット及び検査機の各概略的構成を
示す図である。 【図2】本発明の実施の形態に係る電子ユニットの検査
方法を含む電子ユニットの検査工程を説明する図であ
る。 【図3】従来の電子ユニットの検査方法における電子ユ
ニット及び検査機の各構成の一例を示す図である。 【図4】従来の電子ユニットの検査方法を採用した場合
に生じる虞のある電子ユニットの誤動作を説明する図で
ある。 【符号の説明】 1 電子ユニット 3a 内部メモリ 19 検査機 T1〜T9 入力端子、出力端子 T2 通信信号入出力端子 T10 プログラム入力端子

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 通常モード時には通常用制御プログラム
    に従うと共に検査モード時には検査用制御プログラムに
    従って所定の入力端子から入力される入力信号に対して
    所定の出力信号を所定の出力端子から出力する電子ユニ
    ットの検査方法であって、 前記電子ユニットは、プログラム入力端子と、書込・消
    去モード切替信号入力端子と、検査モード切替信号入力
    端子とを備えると共に、前記書込・消去モード切替信号
    入力端子に入力される書込モード又は消去モードの切替
    信号に基づき、その動作モードを書込モード又は消去モ
    ードに切り替える機能と、前記検査モード切替信号入力
    端子に入力される検査モード切替信号に基づきその内部
    メモリに書き込まれた検査用制御プログラムを実行する
    機能とを有し、 前記電子ユニットの前記書込・消去モード切替信号入力
    端子に前記書込モード切替信号を入力することで前記電
    子ユニットの動作モードを前記書込モードに切り替え
    て、前記電子ユニットの前記プログラム入力端子に前記
    検査用制御プログラムを外部より入力することで前記電
    子ユニットの内部メモリに前記検査用制御プログラムを
    書き込む第1工程と、 前記電子ユニットの前記検査モード切替信号入力端子に
    前記検査モード切替信号を入力して前記電子ユニットに
    対して前記検査用制御プログラムを実行させることで、
    前記電子ユニットの動作モードを前記検査モードに切り
    替える第2工程と、 前記検査モード時に検査機により前記電子ユニットの所
    定の入力端子に検査用信号を順次入力しながら、その検
    査用信号の入力に応答して、前記検査用制御プログラム
    に従って前記電子ユニットの所定の出力端子から出力さ
    れる出力信号をモニタすることで前記電子ユニットの良
    否を検査する第3工程と、 検査終了後に検査機により前記電子ユニットの前記書込
    ・消去モード切替信号入力端子に前記消去モード切替信
    号を入力して前記電子ユニットの動作モードを前記消去
    モードに切り替えることで、前記電子ユニットの内部メ
    モリ内の前記検査用制御プログラムを消去する第4工程
    と、を含むことを特徴とする電子ユニットの検査方法。
JP2001273925A 2001-09-10 2001-09-10 電子ユニットの検査方法 Expired - Fee Related JP3778035B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001273925A JP3778035B2 (ja) 2001-09-10 2001-09-10 電子ユニットの検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001273925A JP3778035B2 (ja) 2001-09-10 2001-09-10 電子ユニットの検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003084038A true JP2003084038A (ja) 2003-03-19
JP3778035B2 JP3778035B2 (ja) 2006-05-24

Family

ID=19099066

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001273925A Expired - Fee Related JP3778035B2 (ja) 2001-09-10 2001-09-10 電子ユニットの検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3778035B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009223588A (ja) * 2008-03-15 2009-10-01 Omron Corp Plcシステム
US20140039764A1 (en) * 2012-08-02 2014-02-06 Denso Corporation Controller pre-shipment inspection method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009223588A (ja) * 2008-03-15 2009-10-01 Omron Corp Plcシステム
US20140039764A1 (en) * 2012-08-02 2014-02-06 Denso Corporation Controller pre-shipment inspection method

Also Published As

Publication number Publication date
JP3778035B2 (ja) 2006-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4763807B2 (ja) 制御装置の故障状態をシミュレートするための方法および回路構成
US6438470B1 (en) Vehicle-mounted control unit having checking program installed therein, inspection device, and inspection method
JP3778035B2 (ja) 電子ユニットの検査方法
JP4684917B2 (ja) 電子制御装置
JPH10171677A (ja) マイクロプロセッサおよびその検査方法
JPH04238279A (ja) Lsiテスト方法
JP2003076574A (ja) 電子ユニットの検査方法
CN114383856A (zh) 一种车辆自动测试方法、装置、存储介质及设备
JP3585401B2 (ja) エンジン制御装置
JP4483353B2 (ja) 車載電装品の試験システム及び試験方法
JP2002002419A (ja) 車両用電子制御ユニット
JP3963087B2 (ja) 制御ユニット及びその検査方法
JPH1069396A (ja) チップ検査システム及び制御装置
CN113361289B (zh) 拨码开关编码识别处理方法、装置和读码电路
US7257748B2 (en) Method for programming and/or testing for correct functioning of an electronic circuit
JP4179190B2 (ja) ワンチップマイクロコンピュータ及びワンチップマイクロコンピュータの過電圧印加試験方法
JP2006348945A (ja) 車載用制御装置およびそれに用いられる障害診断方法
JP2002007171A (ja) Prom切替制御システム
JPH09237198A (ja) コンピュータシステム立ち上げ時の拡張デバイス試験方式
JPH06249927A (ja) 電子回路装置
JP2001327188A (ja) モータ制御システムの自己診断方法
JP2001093296A (ja) 半導体デバイス試験装置
JP2704935B2 (ja) テスト機能付きプロセッサ
JP3064990B2 (ja) テストバーイン装置およびテストバーイン方法
JP2002007162A (ja) プリント実装基板のデバッグ方法およびプリント実装基板

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040511

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050525

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050913

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051025

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060207

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060220

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100310

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110310

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120310

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120310

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130310

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140310

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees