JP2001004683A - 自己点検装置 - Google Patents

自己点検装置

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JP2001004683A
JP2001004683A JP11174123A JP17412399A JP2001004683A JP 2001004683 A JP2001004683 A JP 2001004683A JP 11174123 A JP11174123 A JP 11174123A JP 17412399 A JP17412399 A JP 17412399A JP 2001004683 A JP2001004683 A JP 2001004683A
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JP
Japan
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output
loopback
self
input
signal
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JP11174123A
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English (en)
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Mutsumi Kojima
睦 小島
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】外部装置にの出力素子等を破壊することなく入
出力素子を含めた内部回路の自己点検を行うことができ
るようにした自己点検装置を提供する。 【解決手段】コネクタ21、22を介して外部機器30
が接続されている場合は、ハードウエア的にループバッ
ク素子15によるループバック路の形成を禁止し、コネ
クタ21からコネクタ22が抜かれた状態においてのみ
ループバック素子15によるループバック路を形成し、
この状態で出力部14から出力された点検信号と出力素
子13、ループバック素子15、入力素子11を経由し
て入力部12にループバックされた検出信号との間の同
一性に基づき内部回路の自己点検を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、コネクタを介し
て外部機器が接続される電子機器の内部回路の自己点検
を行う自己点検装置に関し、特に、コネクタを介して外
部機器が接続されていないことをハードウエアにより検
出して、出力素子の出力信号を入力素子に入力信号とし
てループバックすることにより入出力素子を含めた内部
回路の自己点検を行うようにした自己点検装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、外部機器とコネクタで接続される
電子機器の内部回路の自己点検方式としては次に示すよ
うな構成が知られている。
【0003】図4は、従来の自己点検装置を示すブロッ
ク図である。
【0004】図4において、10はコネクタ21、22
を介して図示しない外部機器と接続される電子機器であ
り、この電子機器10は、外部機器からの入力信号をコ
ネクタ21、22を介して入力する入力素子11、入力
素子11の出力信号を入力する入力部12、コネクタ2
1、22を介して外部機器に出力信号を出力する出力素
子13、出力素子13に対して出力信号を出力する出力
部14、出力部14から出力される出力信号を入力信号
として入力部12にループバックするループバック素子
15、入力部12および出力部14およびループバック
素子15とバス16を介して接続され、この電子機器1
0の全体動作を制御する制御部17を具備して構成され
る。
【0005】ここで、この電子機器10の内部回路を自
己点検する場合は、制御部17の制御により、ループバ
ック素子15を導通状態に制御するとともに、出力部1
4から所定の点検信号を出力し、この点検信号がループ
バック素子15を介して入力部12にループバックされ
た否かを制御部17で判断し、これによりこの電子機器
10の内部回路が正常であるか否かの自己点検を行う。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図4に
示す従来の自己点検装置においては、出力部14から出
力された点検信号がループバック素子15を介して正常
にループバックされたか否かにより、内部回路の自己点
検を行っており、この自己点検に際して点検信号は入力
素子11および出力素子13を通過しないので入力素子
11および出力素子13を含めた内部回路の自己点検は
できない。
【0007】そこで、上記問題を解決するために、図5
に示す自己点検装置が提案されている。
【0008】図5は、従来の他の自己点検装置を示すブ
ロック図である。
【0009】図5において、この自己点検装置10は、
出力素子13の出力側にループバック素子15を接続
し、出力素子13の出力の出力信号をループバック素子
15を介して入力素子11にループバックする。このよ
うな構成によると、入力素子11および出力素子13を
含めてこの電子機器10の内部回路の自己点検を行うこ
とが可能になる。
【0010】しかし、図5に示す自己点検装置10にお
いては、この電子機器10にコネクタ21、22を介し
て外部機器30が接続された状態で、誤操作若しくは制
御部17のソフトウエアの誤制御によりループバック素
子15が導通状態に制御されると、ループバック素子1
5でループバックされた信号と外部機器30の出力素子
32から出力された信号との間に衝突が発生し、外部機
器30の出力素子32を破壊してしまう虞があるという
別の問題が生じる。
【0011】そこで、この発明は、外部装置にの出力素
子等を破壊することなく入出力素子を含めた内部回路の
自己点検を行うことができるようにした自己点検装置を
提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の発明は、コネクタを介して外部機器
からの入力信号を入力する入力素子と、前記コネクタを
介して外部機器に出力信号を出力する出力素子と、前記
出力素子の出力信号を前記入力素子に入力信号としてル
ープバックするループバック部とを具備し、前記ループ
バック部によるループバックにより内部回路の自己点検
を行う自己点検装置において、前記ループバック部は、
前記コネクタを介して外部機器が接続されていないこと
を検出する検出手段と、前記検出手段により前記コネク
タを介して外部機器が接続されていないことが検出され
ていることを条件に、前記出力素子の出力信号を前記入
力素子に入力信号としてループバックするループバック
手段とを具備することを特徴とする。
【0013】また、請求項2記載の発明は、請求項1記
載の発明において、前記検出手段は、一端が前記ループ
バック手段に接続され、他端が前記コネクタを介して接
地された線路からなり、前記コネクタを介して外部機器
が接続されていない場合に前記ループバック手段に対し
てハイレベルの検出信号を出力することを特徴とする。
【0014】また、請求項3記載の発明は、請求項2記
載の発明において、前記ループバック手段は、前記検出
手段から検出信号が出力されていない場合はハイインピ
ーダンスとなり、前記検出手段からの検出信号の出力に
より前記出力素子の出力信号を前記入力素子に入力信号
としてループバックするループバック素子を具備するこ
とを特徴とする。
【0015】また、請求項4記載の発明は、請求項3記
載の発明において、前記ループバック素子は、スリース
テート素子からなることを特徴とする。
【0016】また、請求項5記載の発明は、請求項3記
載の発明において、前記ループバック素子は、RS48
5素子からなることを特徴とする。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、この発明に係わる自己点検
装置の実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明す
る。
【0018】なお、以下の説明においては、図4および
図5に示した従来例の説明で説明したものと同一の機能
を果たす部分には説明の便宜上同一符号を付し、重複し
た説明は省略する。
【0019】図1は、この発明に係わる自己点検装置の
一実施の形態を示すブロック図である。
【0020】図1において、電子機器10は、入力素子
11、入力部12、出力素子13、出力部14、ループ
バック素子15、バス16、制御部17、検出部18を
具備して構成される。
【0021】ところで、本実施形態では、図5に示した
ものと同様、ループバック素子15を出力素子13の出
力側に接続し、出力素子13の出力の出力信号をループ
バック素子15を介して入力素子11にループバックす
るように構成されているが、さらにループバック素子1
5には、図示しない外部機器が接続されるコネクタ22
がこの電子機器10側のコネクタ21に接続されている
か否かを検出する検出部18が接続されている。
【0022】この検出部18は、一端がループバック素
子15に接続されるとともに、プルアップ抵抗18−1
が接続され、他端が接地され、コネクタ21を介してコ
ネクタ22で折り返して電子機器10内部に戻る回路1
8−2からなるハードウエア回路から構成される。
【0023】ここで、図1に示すように、外部機器側の
コネクタ22がこの電子機器10側のコネクタ21から
離脱している状態においては、回路18−2は、コネク
タ21でオープン状態となり、この場合、プルアップ抵
抗18−1によりループバック素子15にはハイレベル
の検出信号が印加される。
【0024】また、外部機器側のコネクタ22がこの電
子機器10側のコネクタ21に接続された状態において
は、回路18−2は、コネクタ22内で接続され、ルー
プバック素子15には接地レベルの信号が印加される。
【0025】ループバック素子15は、検出部18から
ハイレベルの検出信号が印加された場合は導通状態にな
り、接地レベルの信号が印加された場合はハイインピー
ダンスとなる回路素子で、例えば、スリーステート素子
から構成される。
【0026】また、このループバック素子15として
は、検出部18からハイレベルの検出信号が印加された
場合は出力許可状態となり、接地レベルの信号が印加さ
れた場合は出力禁止状態となるRS485素子等を用い
て構成することもできる。
【0027】このような構成において、外部機器側のコ
ネクタ22を電子機器10側のコネクタ21から抜く
と、これが検出部18によりハードウエア的に検出さ
れ、ループバック素子15が出力素子13の出力信号を
入力素子11にループバックする状態になる。
【0028】ここで、制御部17の制御により、出力部
14から点検信号を出力させると、この点検信号は、出
力素子13、ループバック素子15、入力素子11、入
力部12にループバックされる。そして、出力部14か
ら出力された点検信号と入力部12にループバックされ
た検出信号との間に同一性が判断されると、この電子機
器10の内部回路は正常であると判断することができ
る。
【0029】また、出力部14から出力された点検信号
と入力部12にループバックされた検出信号との間に同
一性がないと判断されると、この電子機器10の内部回
路には異常が発生していると判断する。
【0030】ここで、出力部14から出力された点検信
号は、入力素子11、出力素子13を経由しているの
で、入力素子11、出力素子13を含めたこの電子機器
10の内部回路の自己点検が可能になる。
【0031】また、自己点検時には、常にコネクタ1は
抜かれた状態なので、外部機器の出力素子を破壊するこ
ともない。
【0032】図2は、図1に示した自己点検装置におい
て、電子機器10をコネクタ21、22を介して外部機
器30を接続した状態で自己点検操作を行った場合を示
す図である。
【0033】この状態においては電子機器10側のコネ
クタ21に外部機器30側のコネクタ22が接続されて
いるので、検出部18の回路18−2はコネクタ22内
で接続された状態になり、これにより検出部18からは
ループバック素子15へ接地レベルの信号が印加され
る。
【0034】これにより、ループバック素子15はルー
プバック路を形成しない。このため、自己点検操作を行
ったとしても、出力部14から出力される点検信号は、
出力素子13、コネクタ21、22を介して外部機器3
0の入力素子31に入力される。
【0035】また、外部機器30の出力素子32から出
力された信号はコネクタ22、21を介して入力素子1
1に入力される。ここで、ループバック素子15はルー
プバック路を形成しないので、ループバック素子15で
ループバックされた信号と外部機器30の出力素子32
から出力された信号との間に衝突が発生することはな
く、また、外部機器30の出力素子32を破壊してしま
う事態も生じない。
【0036】すなわち、この実施の形態の自己点検装置
においては、コネクタ21、22を介して外部機器30
が接続されている場合は、ハードウエア的にループバッ
ク素子15によるループバック路の形成を禁止し、コネ
クタ21からコネクタ22が抜かれた状態においてのみ
ループバック素子15によるループバック路を形成し、
この状態で出力部14から出力された点検信号と出力素
子13、ループバック素子15、入力素子11を経由し
て入力部12にループバックされた検出信号との間の同
一性に基づきの内部回路自己点検を行うように構成され
る。
【0037】図3は、この発明に係わる自己点検装置の
他の実施の形態を示すブロック図である。
【0038】図3に示す実施の形態においては、外部機
器30が入力信号しか出力しない構成をとる場合を示し
ている。この図3に示す実施の形態においても、電子機
器10をコネクタ21、22を介して外部機器30を接
続した状態においては、検出部18によりハードウエア
的にループバック素子15はループバック路を形成しな
いので、この状態で自己点検操作を行ったとしても、出
力部14から出力される点検信号は、ループバック素子
15から出力されない。
【0039】これにより、図3の構成においても、ルー
プバック素子15でループバックされた信号と外部機器
30の出力素子32から出力された信号との間に衝突が
発生することはなく、また、外部機器30の出力素子3
2を破壊してしまう事態も生じない。
【0040】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
コネクタを介して外部機器が接続されている場合は、ハ
ードウエア的にループバック素子によるループバック路
の形成を禁止し、コネクタが抜かれた状態においてのみ
ループバック素子によるループバック路を形成するよう
に構成したので、外部機器の出力素子を破壊することな
く、かつ電子機器内の入力素子や出力素子も含めた内部
回路の自己点検ができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係わる自己点検装置の一実施の形態
を示すブロック図である。
【図2】図1に示した自己点検装置において、電子機器
10をコネクタ21、22を介して外部機器30を接続
した状態で自己点検操作を行った場合を示す図である。
【図3】この発明に係わる自己点検装置の他の実施の形
態を示すブロック図である。
【図4】従来の自己点検装置を示すブロック図である。
【図5】従来の他の自己点検装置を示すブロック図であ
る。
【符号の説明】
10 電子機器 11 入力素子 12 入力部 13 出力素子 14 出力部 15 ループバック素子 16 バス 17 制御部 18 検出部 18−1 プルアップ抵抗 18−2 回路 21、22 コネクタ 30 外部機器 31 入力素子 32 出力素子

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コネクタを介して外部機器からの入力信
    号を入力する入力素子と、前記コネクタを介して外部機
    器に出力信号を出力する出力素子と、前記出力素子の出
    力信号を前記入力素子に入力信号としてループバックす
    るループバック部とを具備し、前記ループバック部によ
    るループバックにより内部回路の自己点検を行う自己点
    検装置において、 前記ループバック部は、 前記コネクタを介して外部機器が接続されていないこと
    を検出する検出手段と、 前記検出手段により前記コネクタを介して外部機器が接
    続されていないことが検出されていることを条件に、前
    記出力素子の出力信号を前記入力素子に入力信号として
    ループバックするループバック手段とを具備することを
    特徴とする自己点検装置。
  2. 【請求項2】 前記検出手段は、 一端が前記ループバック手段に接続され、他端が前記コ
    ネクタを介して接地された線路からなり、前記コネクタ
    を介して外部機器が接続されていない場合に前記ループ
    バック手段に対してハイレベルの検出信号を出力するこ
    とを特徴とする請求項1記載の自己点検装置。
  3. 【請求項3】 前記ループバック手段は、 前記検出手段から検出信号が出力されていない場合はハ
    イインピーダンスとなり、前記検出手段からの検出信号
    の出力により前記出力素子の出力信号を前記入力素子に
    入力信号としてループバックするループバック素子を具
    備することを特徴とする請求項2記載の自己点検装置。
  4. 【請求項4】 前記ループバック素子は、スリーステー
    ト素子からなることを特徴とする請求項3記載の自己点
    検装置。
  5. 【請求項5】 前記ループバック素子は、RS485素
    子からなることを特徴とする請求項3記載の自己点検装
    置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2008053526A1 (ja) * 2006-10-31 2010-02-25 富士通株式会社 プリント板接続試験装置および方法
CN112269120A (zh) * 2020-11-05 2021-01-26 深圳市广和通无线股份有限公司 接口信号回环测试方法、装置、计算机设备和存储介质

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