JP2000516075A - Adc用の電流−電圧積分器 - Google Patents
Adc用の電流−電圧積分器Info
- Publication number
- JP2000516075A JP2000516075A JP10543044A JP54304498A JP2000516075A JP 2000516075 A JP2000516075 A JP 2000516075A JP 10543044 A JP10543044 A JP 10543044A JP 54304498 A JP54304498 A JP 54304498A JP 2000516075 A JP2000516075 A JP 2000516075A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capacitor
- output
- integration
- terminal
- coupled
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06G—ANALOGUE COMPUTERS
- G06G7/00—Devices in which the computing operation is performed by varying electric or magnetic quantities
- G06G7/12—Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers
- G06G7/18—Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers for integration or differentiation; for forming integrals
- G06G7/184—Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers for integration or differentiation; for forming integrals using capacitive elements
- G06G7/186—Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers for integration or differentiation; for forming integrals using capacitive elements using an operational amplifier comprising a capacitor or a resistor in the feedback loop
- G06G7/1865—Arrangements for performing computing operations, e.g. operational amplifiers for integration or differentiation; for forming integrals using capacitive elements using an operational amplifier comprising a capacitor or a resistor in the feedback loop with initial condition setting
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)
Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1. 積分回路であって、 (a) 反転入力、出力、および第1の基準電圧を導く第1基準電圧導体に結 合した非反転入力を有する演算増幅器であって、第1の電源電圧導体によりこれ に印加される第1電源電圧と第2の電源電圧導体によりこれに印加される第2電 源電圧とにより給電する、前記の演算増幅器と、 (b) 前記反転入力に結合した第1の端子と、前記出力に結合した第2の端 子とを有する積分キャパシタと、 (c) 前記出力と前記第2端子との間に結合した第1のスイッチング回路で あって、前記積分キャパシタのプリチャージの間において前記出力を前記積分キ ャパシタから減結合するよう動作する、前記の第1スイッチング回路と、 (d) 精密な第2基準電圧を導く第1の導体と、 (e) 前記第1導体と前記第2端子との間に結合した第2のスイッチング回 路であって、前記プリチャージの間において前記第2端子を前記第2基準電圧に 結合するよう動作する、前記の第2スイッチング回路と、 (f) 前記第2電源電圧導体と前記第1端子との間に結合した第3のスイッ チング回路であって、該スイッチング回路が、前記プリチャージの間において前 記第1端子を前記第1基準電圧に結合するよう動作し、前記プリチャージが各積 分サイクルの前に生起する、前記の第3スイッチング回路と、 から成り、各積分サイクルが、前記第1端子を前記第1基準電圧導体から減結合 すること、前記第2端子を前記第2基準電圧から減結合すること、前記出力を前 記第2端子に結合すること、および入力電流を前記反転入力内へあるいはこの反 転入力外へ導くことを含み、前記演算増幅器が、前記反転入力を前記第1基準電 圧に等しい電圧に維持するのに必要なだけその出力電圧を前記第2基準電圧から 調節すること、を特徴とする積分回路。 2. 請求項1記載の積分回路において、前記第1基準電圧導体は前記第2電源 電圧導体であり、前記第1基準電圧は前記第2電源電圧であること、を特徴とす る積分回路。 3. 請求項1記載の積分回路であって、さらに、 前記第2端子に結合した第3端子とそしてまた第4端子とを有する相関型二重 サンプリング・キャパシタと、 前記第4端子と前記第1導体との間に結合した第4のスイッチング回路であっ て、前記積分キャパシタのリセット誤差の測定を、前記相関型二重サンプリング ・キャパシタ上のリセット誤差の相関型二重サンプリングを前記積分サイクルの 前に実行することにより、行うよう動作する、前記の第4スイッチング回路と、 前記第4端子と前記出力との間に結合した第5のスイッチング回路であって、 前記積分サイクルの後に前記相関型二重サンプリング・キャパシタを前記積分キ ャパシタと直列に結合して、前記積分キャパシタと前記相関型二重サンプリング ・キャパシタの両方に蓄積された逆極性のリセット誤差電圧をキャンセルし、そ してこれにより前記演算増幅器が前記入力電流をより正確に表す出力電圧を発生 するようにさせるよう動作する、前記の第5スイッチング回路と、 を含むこと、を特徴とする積分回路。 4. 請求項1記載の積分回路において、前記演算増幅器は、前記出力と、前記 演算増幅器の内部信号経路内の1点との間に結合した第1の内部補償キャパシタ を含むこと、を特徴とする積分回路。 5. 請求項4記載の積分回路において、前記演算増幅器は、前記出力と前記内 部信号経路内の1点との間に直列に結合した第2の内部補償キャパシタおよび第 4スイッチング回路を含んで、前記第4スイッチング回路が前記第2補償キャパ シタを前記第1補償キャパシタと並列に結合するよう動作しているときに、前記 演算増幅器の帯域幅を減少させること、を特徴とする積分回路。 6. 請求項4記載の積分回路であって、前記出力に結合した入力と、前記第1 補償キャパシタの一方の端子に結合した出力と、を有するゲイン段を含み、該ゲ イン段は、ゲイン制御入力を有して、これにより前記演算増幅器の帯域幅の制御 を、前記第1補償キャパシタの実効値を前記ゲイン段のゲインで乗算することに より行うこと、を特徴とする積分回路。 7. 請求項1記載の積分回路において、前記積分キャパシタは、キャパシタの プログラマブル・アレイを含み、該アレイは、複数のゲイン選択入力に応答して 選択的に並列に結合して、これにより前記積分回路のゲインを制御することがで きること、を特徴とする積分回路。 8. 請求項1記載の積分回路において、前記演算増幅器は、差動の自動零点化 段を含み、該段は、反転入力と、非反転入力と、前記演算増幅器の差動入力段の 対応する出力に結合した差動出力と、を含むこと、を特徴とする積分回路。 9. 請求項8記載の積分回路において、前記第1スイッチング回路が前記出力 を前記積分キャパシタから減結合している間、前記出力を前記自動零点化段の前 記反転入力に結合して、前記演算増幅器を安定化させること、を特徴とする積分 回路。 10. 請求項9記載の積分回路において、前記自動零点化段の前記非反転入力 は、前記第1導体に結合して、前記演算増幅器の前記出力を、前記積分キャパシ タの前記プリチャージの終了時において前記第2基準電圧にあるようにすること 、を特徴とする積分回路。 11. 請求項3記載の積分回路であって、前記出力を差動型のアナログ−デジ タル変換器の一方の入力に結合し、該アナログ−デジタル変換器の別の入力が前 記第2基準電圧に結合したこと、を特徴とする積分回路。 12. 請求項11記載の積分回路において、前記アナログ−デジタル変換器は 、デジタル・フィルタの入力に結合した出力を有するデルタシグマ変調器を含む こ と、を特徴とする積分回路。 13. 請求項2記載の積分回路において、前記第2スイッチング回路は、 i. 前記第2基準電圧を導く第1導体と、 ii. 前記第1導体に接続した入力と、また出力とを有するバッファ回路と、 iii. 第1信号により制御する第1のスイッチであって、前記バッファ回路 の前記出力と第2導体への間に結合して、前記バッファ回路が、前記基準電圧を 発生する精密な基準電圧源をオーバーロードせずに、前記積分キャパシタをほぼ 前記基準電圧に急速にプリチャージできるようにする、前記の第1スイッチと、 iv.前記第1導体と前記第2導体との間に結合した第2のスイッチであって、 前記第1信号よりも遅延させた第2信号により制御して、前記積分キャパシタを 前記基準電圧へ精密にプリチャージするのを完成させる、前記の第2スイッチと 、 v.前記第2導体と前記第2端子との間に結合した第3のスイッチであって、 前記第1スイッチおよび前記第2スイッチのいずれかが閉じている間において、 前記第2導体を前記第2端子に結合するよう動作する、前記の第3スイッチと、 を含むこと、を特徴とする積分回路。 14. 積分回路を動作させる方法であって、 (a) 反転入力、出力、および第1の基準電圧を導く第1基準電圧導体に結 合した非反転入力を有する演算増幅器を提供し、第1の電源電圧導体によりこれ に印加される電源電圧と第2の電源電圧導体によりこれに印加される第2電源電 圧とにより前記演算増幅器に給電するステップと、 (b) 前記反転入力に結合した第1の端子と、また前記出力に結合した第2 の端子とを有する積分キャパシタを提供するステップと、 (c) 前記積分キャパシタを第2基準電圧にプリチャージするステップであ って、該プリチャージを、前記積分キャパシタの前記第1端子を前記第1基準電 圧に結合し、前記出力を前記積分キャパシタの前記第2端子から減結合し、前記 積分キャパシタの前記第2端子を前記第2基準電圧を導く精密な第2基準電圧導 体に結合することにより行い、前記プリチャージが各積分サイクルの前に生起す る、前記のステップと、 を含み、 各積分サイクルが、前記第1端子を前記第1基準電圧導体から減結合すること 、前記第2端子を前記第2基準電圧から減結合すること、前記出力を前記第2端 子に結合すること、および入力電流を前記反転入力内へあるいはこの反転入力外 へ導くことを含み、前記演算増幅器が、前記反転入力を前記第1基準電圧に等し い電圧に維持するのに必要なだけその出力電圧を前記第2基準電圧から調節する こと、を特徴とする方法。 15. 請求項14記載の方法であって、前記第2基準電圧に等しい前記第1基 準電圧を提供すること、を含むこと、を特徴とする方法。 16. 請求項14記載の方法であって、 i. 相関型二重サンプリング・キャパシタを提供するステップと、 ii. 前記相関型二重サンプリング・キャパシタを前記積分キャパシタに結合 して、前記積分キャパシタのkT/C誤差の測定を、次の積分サイクルの前に前 記相関型二重サンプリング・キャパシタ上の前記kT/C誤差の相関型二重サン プリングを実行することにより行うステップと、 iii. 前記相関型二重サンプリング・キャパシタを前記積分サイクル後に前 記積分キャパシタと直列に結合して、前記積分キャパシタと前記相関型二重サン プリング・キャパシタの両方に蓄積された逆極性のkT/C誤差電圧をキャンセ ルし、そしてこれにより前記演算増幅器が、前記入力電流をより正確に表す出力 電圧を発生するようにさせるステップと、 を含むこと、を特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/835,776 | 1997-04-08 | ||
US08/835,776 US5841310A (en) | 1997-04-08 | 1997-04-08 | Current-to-voltage integrator for analog-to-digital converter, and method |
PCT/US1998/006901 WO1998045798A1 (en) | 1997-04-08 | 1998-04-06 | Current-to-voltage integrator for adc |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000516075A true JP2000516075A (ja) | 2000-11-28 |
JP3464228B2 JP3464228B2 (ja) | 2003-11-05 |
Family
ID=25270431
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP54304498A Expired - Fee Related JP3464228B2 (ja) | 1997-04-08 | 1998-04-06 | Adc用の電流−電圧積分器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5841310A (ja) |
EP (1) | EP0974119A1 (ja) |
JP (1) | JP3464228B2 (ja) |
WO (1) | WO1998045798A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7557648B2 (en) | 2005-10-31 | 2009-07-07 | Nec Electronics Corporation | Operational amplifier, integrating circuit, feedback amplifier, and controlling method of the feedback amplifier |
JP2018098794A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | アナログ・ディヴァイシス・グローバル・アンリミテッド・カンパニー | マルチプレクサ用プリチャージ回路 |
Families Citing this family (49)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6320616B1 (en) * | 1997-06-02 | 2001-11-20 | Sarnoff Corporation | CMOS image sensor with reduced fixed pattern noise |
US6816100B1 (en) | 1999-03-12 | 2004-11-09 | The Regents Of The University Of California | Analog-to-digital converters with common-mode rejection dynamic element matching, including as used in delta-sigma modulators |
US6249153B1 (en) * | 1999-05-25 | 2001-06-19 | Micrel Incorporated | High slew rate input differential pair with common mode input to ground |
US6288669B1 (en) * | 1999-07-15 | 2001-09-11 | Daramana G. Gata | Switched capacitor programmable gain and attenuation amplifier circuit |
US6356065B1 (en) * | 1999-08-30 | 2002-03-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Current-voltage converter with changeable threshold based on peak inputted current |
US6404578B1 (en) | 1999-09-28 | 2002-06-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Circuit for reduction and optimization of write-to-read settling times in magnetic medium storage devices |
JP4489914B2 (ja) * | 2000-07-27 | 2010-06-23 | 浜松ホトニクス株式会社 | A/d変換装置および固体撮像装置 |
AU2001293267A1 (en) | 2000-09-15 | 2002-03-26 | Radian Research, Inc. | Method and apparatus for analog-to-digital conversion |
JP2003258639A (ja) * | 2002-02-27 | 2003-09-12 | Nec Microsystems Ltd | アナログ−ディジタル変換器 |
WO2004013971A1 (en) * | 2002-07-31 | 2004-02-12 | Augusto Carlos J R P | Asynchronous serial analog-to-digital converter methodology having dynamic adjustment of the bandwith |
US7319423B2 (en) * | 2002-07-31 | 2008-01-15 | Quantum Semiconductor Llc | Multi-mode ADC and its application to CMOS image sensors |
US7518540B2 (en) * | 2002-07-31 | 2009-04-14 | Quantum Semiconductor Llc | Multi-mode ADC and its application to CMOS image sensors |
US6750796B1 (en) | 2003-03-27 | 2004-06-15 | National Semiconductor Corporation | Low noise correlated double sampling modulation system |
JP4271479B2 (ja) * | 2003-04-09 | 2009-06-03 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | ソースフォロワ及び半導体装置 |
US20050179468A1 (en) * | 2004-02-17 | 2005-08-18 | Binling Zhou | Implementation of MOS capacitor in CT scanner data acquisition system |
US7605854B2 (en) * | 2004-08-11 | 2009-10-20 | Broadcom Corporation | Operational amplifier for an active pixel sensor |
US7075475B1 (en) | 2004-08-13 | 2006-07-11 | National Semiconductor Corporation | Correlated double sampling modulation system with reduced latency of reference to input |
US7212042B1 (en) | 2004-08-27 | 2007-05-01 | Zilog, Inc. | Below-ground sensor interface amplifier |
US7190291B2 (en) * | 2005-01-05 | 2007-03-13 | Artesyn Technologies, Inc. | Programmable error amplifier for sensing voltage error in the feedback path of digitially programmable voltage sources |
US7053807B1 (en) * | 2005-03-03 | 2006-05-30 | Analog Devices, Inc. | Apparatus and method for controlling the state variable of an integrator stage in a modulator |
DE102005031119A1 (de) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Universität Mannheim | Schaltungsanordnung mit niedriger Transkonduktanz |
US20070057834A1 (en) * | 2005-09-15 | 2007-03-15 | Wake Robert H | Method and system for obtaining enhanced signal to noise ratio in a laser imaging apparatus |
US7342832B2 (en) * | 2005-11-16 | 2008-03-11 | Actel Corporation | Bit line pre-settlement circuit and method for flash memory sensing scheme |
US20090273386A1 (en) * | 2008-05-01 | 2009-11-05 | Custom One Design, Inc | Apparatus for current-to-voltage integration for current-to-digital converter |
US20090273392A1 (en) * | 2008-05-01 | 2009-11-05 | Custom One Design, Inc. | Methods and apparatus for reducing non-ideal effects in correlated double sampling compensated circuits |
US9116048B2 (en) * | 2011-02-10 | 2015-08-25 | Linear Technology Corporation | Circuits for and methods of accurately measuring temperature of semiconductor junctions |
US8384579B2 (en) * | 2011-07-19 | 2013-02-26 | Freescale Semiconductor, Inc. | Systems and methods for data conversion |
US8531324B2 (en) | 2011-07-19 | 2013-09-10 | Freescale Semiconductor, Inc. | Systems and methods for data conversion |
JP5871691B2 (ja) * | 2012-03-29 | 2016-03-01 | キヤノン株式会社 | 増幅回路、光電変換装置、および撮像システム |
US9354186B2 (en) | 2013-03-13 | 2016-05-31 | Texas Instruments Incorporated | X-ray sensor and signal processing assembly for an X-ray computed tomography machine |
RU2571614C1 (ru) * | 2014-11-20 | 2015-12-20 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Ордена Ленина и Ордена Октябрьской революции Институт геохимии и аналитической химии им. В.И. Вернадского Российской академии наук (ГЕОХИ РАН) | Аналоговый интегратор напряжения |
US9374063B1 (en) * | 2015-02-05 | 2016-06-21 | University Of Macau | Gain-boosted N-path bandpass filter |
US9564855B2 (en) | 2015-02-10 | 2017-02-07 | Analog Devices Global | Apparatus and system for rail-to-rail amplifier |
KR20170010515A (ko) * | 2015-07-20 | 2017-02-01 | 삼성전자주식회사 | 적분기 및 sar adc를 포함하는 반도체 장치 |
US9960782B2 (en) * | 2015-09-11 | 2018-05-01 | Texas Instruments Incorporated | Precharge switch-capacitor circuit and method |
US9451060B1 (en) | 2015-10-15 | 2016-09-20 | Civiq Smartscapes, Llc | Techniques and apparatus for controlling access to components of a personal communication structure (PCS) |
US10270918B2 (en) | 2015-10-15 | 2019-04-23 | Civiq Smartscapes, Llc | Method and apparatus for power and temperature control of compartments within a personal communication structure (PCS) |
US10127781B2 (en) | 2015-11-16 | 2018-11-13 | Civiq Smartscapes, Llc | Systems and techniques for vandalism detection in a personal communication structure (PCS) |
US11288461B2 (en) * | 2017-07-27 | 2022-03-29 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | High voltage gain switched capacitor filter integration |
US10809792B2 (en) * | 2018-08-16 | 2020-10-20 | Analog Devices, Inc. | Correlated double sampling amplifier for low power |
US10291226B1 (en) | 2018-09-27 | 2019-05-14 | IQ-Analog Corporation | Sample-and-hold circuit with enhanced noise limit |
DE102018129062B3 (de) * | 2018-11-19 | 2020-04-23 | Infineon Technologies Ag | Filterverfahren und filter |
EP3663779B1 (en) * | 2018-12-05 | 2021-10-06 | Nxp B.V. | Apparatus and method for measuring a capacitance, and a fingerprint sensor utilizing the same |
US10733391B1 (en) | 2019-03-08 | 2020-08-04 | Analog Devices International Unlimited Company | Switching scheme for low offset switched-capacitor integrators |
US10804865B1 (en) * | 2019-12-30 | 2020-10-13 | Novatek Microelectronics Corp. | Current integrator and related signal processing system |
US11196397B2 (en) * | 2019-12-31 | 2021-12-07 | Novatek Microelectronics Corp. | Current integrator for OLED panel |
US11108404B1 (en) | 2020-07-22 | 2021-08-31 | Analog Devices, Inc. | Low noise integrated circuit techniques |
CN112929017B (zh) * | 2021-02-02 | 2023-08-18 | 同源微(北京)半导体技术有限公司 | 一种提升复位速度的积分器电路 |
US20240106404A1 (en) * | 2022-09-28 | 2024-03-28 | Texas Instruments Incorporated | Circuit for Integrating Currents from High-Density Sensors |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4163947A (en) * | 1977-09-23 | 1979-08-07 | Analogic Corporation | Current and voltage autozeroing integrator |
US4393351A (en) * | 1981-07-27 | 1983-07-12 | American Microsystems, Inc. | Offset compensation for switched capacitor integrators |
US4438354A (en) * | 1981-08-14 | 1984-03-20 | American Microsystems, Incorporated | Monolithic programmable gain-integrator stage |
US4567465A (en) * | 1982-05-25 | 1986-01-28 | Iwatsu Electric Co., Ltd. | Method and apparatus for converting analog signal into digital signal |
JPH0797749B2 (ja) * | 1986-05-16 | 1995-10-18 | 沖電気工業株式会社 | アナログ・デイジタル変換器のデルタ・シグマ変調回路 |
US4688017A (en) * | 1986-05-20 | 1987-08-18 | Cooperbiomedical, Inc. | Optical detector circuit for photometric instrument |
JPS62277819A (ja) * | 1986-05-27 | 1987-12-02 | Nec Corp | A/d変換器 |
US5027116A (en) * | 1987-02-24 | 1991-06-25 | Micro Linear Corporation | Self-calibrating analog to digital converter |
JPS63246929A (ja) * | 1987-04-01 | 1988-10-13 | Nec Corp | A−d変換回路 |
JPH01204528A (ja) * | 1988-02-10 | 1989-08-17 | Fujitsu Ltd | A/d変換器 |
US4896156A (en) * | 1988-10-03 | 1990-01-23 | General Electric Company | Switched-capacitance coupling networks for differential-input amplifiers, not requiring balanced input signals |
FR2641924B1 (fr) * | 1988-12-28 | 1991-05-03 | Sgs Thomson Microelectronics | Generateur de forme d'onde de signal analogique |
US4901031A (en) * | 1989-01-17 | 1990-02-13 | Burr-Brown Corporation | Common-base, source-driven differential amplifier |
JPH02266718A (ja) * | 1989-04-07 | 1990-10-31 | Fujitsu Ten Ltd | デルタ・シグマ変換回路 |
DE58906837D1 (de) * | 1989-05-08 | 1994-03-10 | Siemens Ag | Integrierbarer Sigma-Delta-Modulator in Switched-Capacitor-Technik. |
US5172117A (en) * | 1989-06-19 | 1992-12-15 | Linear Instruments | Analog to digital conversion using an integrater and a sample and hold circuit |
US5142286A (en) * | 1990-10-01 | 1992-08-25 | General Electric Company | Read-out photodiodes using sigma-delta oversampled analog-to-digital converters |
GB2252829B (en) * | 1991-02-15 | 1994-10-19 | Crystal Semiconductor Corp | Method and apparatus for decreasing the interference and noise sensitivity of a ratiometric converter type of circuit |
US5274375A (en) * | 1992-04-17 | 1993-12-28 | Crystal Semiconductor Corporation | Delta-sigma modulator for an analog-to-digital converter with low thermal noise performance |
JPH06120837A (ja) * | 1992-10-01 | 1994-04-28 | Asahi Kasei Micro Syst Kk | デルタシグマ変調器 |
US5351050A (en) * | 1992-11-03 | 1994-09-27 | Crystal Semiconductor Corporation | Detent switching of summing node capacitors of a delta-sigma modulator |
FR2702611B1 (fr) * | 1993-03-11 | 1995-06-09 | Senn Patrice | Codeur perfectionné à mise en forme du spectre de bruit, en particulier de type delta-sigma. |
US5500645A (en) * | 1994-03-14 | 1996-03-19 | General Electric Company | Analog-to-digital converters using multistage bandpass delta sigma modulators with arbitrary center frequency |
US5565867A (en) * | 1995-08-23 | 1996-10-15 | General Electric Company | Distributed analog to digital converter with optical links |
-
1997
- 1997-04-08 US US08/835,776 patent/US5841310A/en not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-04-06 EP EP98918036A patent/EP0974119A1/en not_active Withdrawn
- 1998-04-06 WO PCT/US1998/006901 patent/WO1998045798A1/en not_active Application Discontinuation
- 1998-04-06 JP JP54304498A patent/JP3464228B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7557648B2 (en) | 2005-10-31 | 2009-07-07 | Nec Electronics Corporation | Operational amplifier, integrating circuit, feedback amplifier, and controlling method of the feedback amplifier |
JP2018098794A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | アナログ・ディヴァイシス・グローバル・アンリミテッド・カンパニー | マルチプレクサ用プリチャージ回路 |
US10931122B2 (en) | 2016-12-12 | 2021-02-23 | Analog Devices International Unlimited Company | Pre-charging circuitry for multiplexer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5841310A (en) | 1998-11-24 |
EP0974119A4 (en) | 2000-01-26 |
WO1998045798A1 (en) | 1998-10-15 |
EP0974119A1 (en) | 2000-01-26 |
JP3464228B2 (ja) | 2003-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2000516075A (ja) | Adc用の電流−電圧積分器 | |
Li et al. | A ratio-independent algorithmic analog-to-digital conversion technique | |
US5606320A (en) | Method and apparatus for micropower analog-to-digital conversion in an implantable medical device | |
US5479130A (en) | Auto-zero switched-capacitor integrator | |
JPH05501344A (ja) | コンピュータ断層撮影に有用な雑音消去光検出器前置増幅器 | |
JP3128647B2 (ja) | 二重サンプリングアナログ低域通過フィルタ | |
KR101484334B1 (ko) | 공통-모드 인센시티브 샘플러 | |
US8330537B1 (en) | Low noise, high CMRR and PSRR input buffer | |
US5689201A (en) | Track-and-hold circuit utilizing a negative of the input signal for tracking | |
JPH098604A (ja) | スイッチドキャパシタ利得段 | |
JPS6355108B2 (ja) | ||
CN104568169B (zh) | 带有失调消除功能的红外焦平面读出电路 | |
US7592819B2 (en) | Microprocessor-based capacitance measurement | |
USRE44410E1 (en) | Charge comparator with low input offset | |
US20040008133A1 (en) | High linearity digital-to-analog converter | |
US6489914B1 (en) | RSD analog to digital converter | |
EP1869771B1 (en) | Electronic circuit for the analog-to-digital conversion of an analog input signal | |
JP2707471B2 (ja) | 集積回路用のサンプルホールド増幅器 | |
JP3703387B2 (ja) | サンプル&ホールド回路 | |
Maloberti et al. | A novel approach for high-frequency gain-compensated sample-and-hold circuits | |
KR0148632B1 (ko) | 스위치 커패시터형 샘플-홀드 증폭기 | |
JPH0660688A (ja) | サンプル・ホールド回路 | |
JPS5928288B2 (ja) | 電荷検出回路 | |
JPH051509B2 (ja) | ||
JP3532080B2 (ja) | アナログ演算回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070822 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080822 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080822 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090822 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090822 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100822 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110822 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110822 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120822 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120822 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130822 Year of fee payment: 10 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |