JPH098604A - スイッチドキャパシタ利得段 - Google Patents
スイッチドキャパシタ利得段Info
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Abstract
向上させかつ電力消費を低減する。 【解決手段】 スイッチドキャパシタ利得段21は入力
電圧を各クロックフェーズでサンプルして動作周波数を
倍化する。第1または第2の容量ネットワークが入力電
圧をサンプリングしている。例えば、第1の容量ネット
ワークが入力電圧をサンプリングする。第2のスイッチ
ドキャパシタネットワークはスイッチを介して利得構造
で増幅器22の回りに結合される。第2のスイッチドキ
ャパシタネットワークの容量は前のクロックフェーズか
ら蓄積された電圧を有する。次のクロックフェーズで、
第2のスイッチドキャパシタネットワークは入力電圧を
サンプリングするようスイッチを介して結合されかつ第
1のスイッチドキャパシタネットワークはスイッチを介
して増幅器22の回りの利得構造で結合される。
Description
得段(gain stages)に関し、かつより特定
的には、スイッチドキャパシタ利得段に関する。
する。増幅器は該入力に印加される信号を増幅しかつ出
力に増幅された信号を提供する。一般に、増幅器は提供
される利得または増幅度の量、動作の帯域幅または周波
数、ノイズ特性、および増幅の正確さによって特徴付け
られる。増幅器は一般に数多くの異なるタイプの回路、
例えば、アナログ−デジタル変換器に使用される。
タ増幅器である。スイッチドキャパシタ増幅器は離散的
ステップで動作するクロック制御される(clocke
d)回路である。例えば、第1のフェーズのクロックサ
イクルにおいて電圧がサンプリングされ、特に、スイッ
チドキャパシタ増幅段の容量が前記電圧に充電される。
容量を異なる構成で結合するためにスイッチが使用され
る。該スイッチは相補型トランジスタ形式で形成される
転送または伝送ゲートである。第2のフェーズのクロッ
クサイクルにおいては、スイッチドキャパシタ増幅器の
容量は増幅器の回りのスイッチを介してサンプルされた
電圧を増幅する構成で結合される。前記第1のフェーズ
のクロックサイクルにおいて容量に蓄積された電圧は増
幅段の出力電圧の大きさを決定する。利得は典型的には
増幅段の構成(第2のフェーズのクロックサイクルにお
ける)および容量値によって固定される。
ャパシタ増幅段の動作速度は該増幅段の容量を充電しか
つ放電するのに必要な時間または増幅段の増幅器が安定
化するのに必要な時間によって制限される。例えば、ス
イッチドキャパシタ利得段はパイプライン方式アナログ
−デジタル変換器(ADC)段に使用される。前記スイ
ッチドキャパシタ利得段はパイプライン方式ADCにお
いてアナログ信号を増幅するために使用される。ADC
におけるスイッチドキャパシタ利得段はアナログ信号レ
ベルのデジタル等価物に対応する。アナログ信号がデジ
タル信号に変換できる速度または周波数はスイッチドキ
ャパシタ増幅段の速度に直接関係する。アナログ−デジ
タル変換器のスイッチドキャパシタ増幅段の速度の増大
は動作の周波数を向上させるために使用できる。
低減するスイッチドキャパシタ増幅段が提供できれば大
きな利点となる。
タル変換器(ADC)の必須の構成要素である。高い分
解能および高速のサンプリングレートを有する1つの形
式のADCはパイプライン方式ADCである。パイプラ
イン方式ADCはデジタル信号を発生するために一群の
直列的に結合された増幅段を使用する。1つの増幅段は
容量の不整合、増幅器の電圧オフセット、理想的でない
スイッチ、ノイズ、有限の増幅器利得、有限の増幅器帯
域幅、およびデバイスのリーケージによる誤差を生じや
すい。1つの増幅段によって生成される誤差はADCの
性能を悪化させる。
ログ−デジタル変換器(ADC)11のブロック図であ
る。ADC11はアナログ信号を受けるための入力およ
びデジタル出力信号を提供するための出力を有する。増
幅器利得段12は直列的に結合され、おのおのサンプル
されたアナログ信号の振幅に対応するデジタル信号を発
生する。アライメントおよび同期回路13がデジタル変
換プロセスを調整する。
グ信号を特定のクロックレートまたは速度でサンプリン
グしかつおのおののサンプリングされた信号の電圧振幅
に対応するデジタル信号を発生する。パイプライン方式
のADCの分解能または精度は使用される増幅器利得段
の数の関数である。おのおのの直列接続された増幅器利
得段は1ビットの分解能に対応し、増幅の最初の回路段
に対して最上位ビット(MSB)で始まりかつ最後の増
幅段に対して最下位ビット(LSB)で終了する。
幅器利得段12の速度に直接関係する。おのおのの増幅
器利得段はデジタル信号を発生する前に先行する増幅器
利得段の結果に依存する。1つの増幅器利得段はスイッ
チドキャパシタ利得段および少なくとも1つの比較器を
含む。増幅器利得段のスイッチドキャパシタ利得段は隣
接する増幅器利得段に結合された増幅器利得段によって
受けられる電圧を増幅する。増幅器利得段の比較器は該
増幅器利得段によって受信された電圧を基準電圧と比較
しかつ対応する論理レベルを発生する。入力信号がAD
C11によってサンプリングされるクロックレートは増
幅器利得段12を通る遅延経路およびアライメントおよ
び同期回路13による遅延によって決定される。従っ
て、増幅器利得段12の動作速度が低下すればクロック
レートは増大する。
ADC11の増幅器利得段12は2の利得を有する。基
準電圧(Vref)は前記比較の結果に応じて第1の増
幅器利得段(図1の利得段1)の増幅された電圧に加え
られあるいは該電圧から減算される。論理レベルもまた
前記比較の結果にもとづきセットされる。結果として得
られる出力電圧(2*Vin+/−Vref)は次に次
の増幅段(図1の利得段2)に印加されかつよく知られ
ているようにサンプル電圧がパイプライン処理されて残
りのデジタルビットを順次決定するように処理が反復さ
れる。
およびアーキテクチャが、Bang−Sup Son
g,Michael F.TompsettおよびKa
daba R.Lakshmikumarによる“A
12−bit 1−Msample/s Capaci
tor Error−Averaging Pipel
ined A/D Converter”、IEEE
Journal ofSolid−State Cir
cuits、第23巻、第6号、1988年12月、S
ehat SutarjaおよびPaul R.Gra
yによる“APipelined 13 bit,25
0−ks/s,5−V Analogto Digit
al Converter”、IEEE Journa
lof Solid−State Circuits、
第23巻、第6号、1988年12月、およびThom
as Byunghak ChoおよびPaulR.G
rayによる“A 10 b,20 Msample/
s,35 mWPipeline A/D Conve
rter”、IEEE Journalof Soli
d−State Circuits、第30巻、第33
号、1995年3月に記載されており、これらは参照の
ため本明細書に導入される。上に掲げたおのおののパイ
プライン方式ADC回路は一群の直列的に接続された増
幅器利得段を使用する。これらの論文に記載された増幅
段は同様の特徴を有するスイッチドキャパシタ増幅器段
である。特に、スイッチドキャパシタ増幅器段はクロッ
ク制御式の(clocked)回路である。該スイッチ
ドキャパシタ回路の容量は第1のフェーズのクロックサ
イクルの間に充電される。該容量は次に第2のフェーズ
のクロックサイクルの間に所定の構造で演算増幅器の回
りに結合される。
は上に述べたようにクロックサイクルの半分の代わりに
全クロックサイクルの間スイッチドキャパシタ増幅器段
の増幅器を使用することにより2の係数で増大される。
2つのグループまたは組の容量がサンプルされた信号を
絶えず増幅するためにスイッチ接続または遮断される
(switched in and out)。
タ増幅器段21を示す電気回路図である。スイッチドキ
ャパシタ増幅器段21はスイッチS1〜S12、容量C
1〜C4および増幅器段22を具備する。スイッチS1
〜S6および容量C1およびC2は一方のフェーズのク
ロックサイクルの間に増幅器22とともに動作する。ス
イッチS7〜S12は他方のフェーズをクロックサイク
ルの間に増幅器22とともに動作する。
VIN、入力VREFP、入力VREFM、および出力
VOUTを有する。入力VREFMおよびVREFPは
スイッチドキャパシタ増幅器段21のVOUTにおける
増幅された信号からそれぞれ基準電圧を減算するための
入力である。増幅器22はノード25に結合された反転
入力、電源端子(例えば、グランド)に結合された非反
転入力、および出力VOUTに結合された出力を有す
る。スイッチS1は出力VOUTとノード24の間に結
合されている。スイッチS2は入力VINとノード24
の間に結合している。スイッチS3はノード26とノー
ド25の間に結合している。スイッチS4はノード26
と電源端子(例えば、グランド)の間に結合している。
スイッチS5は入力VINおよびノード23の間に結合
している。スイッチS6は入力VREFMおよびノード
23の間に接続されている。容量C1はノード24とノ
ード26の間に結合されている。容量C2はノード23
とノード26の間に結合されている。
およびC2を入力VINおよびグランドの間に結合す
る。スイッチS2,S5およびS4は容量C1およびC
2がVINに印加される電圧に充電できるようにする。
入力と増幅器22の出力の間に結合する。スイッチS6
およびS3は容量C2を入力VREFMと増幅器22の
反転入力との間に結合する。VREFMに印加される基
準電圧は容量C1およびC2が増幅器22の回りに結合
されたとき出力VOUTの出力電圧から減算される。
の間に結合される。スイッチS8は入力VINとノード
27の間に結合される。スイッチS9はノード29とノ
ード25の間に結合される。スイッチS10はノード2
9と電源端子(例えば、グランド)の間に結合される。
スイッチS11は入力VINとノード28の間に結合さ
れる。スイッチS12は入力VREFPとノード28の
間に結合される。容量C3はノード27とノード29の
間に結合される。容量C4はノード28とノード29の
間に結合される。
C3およびC4を入力VINとグランドの間に結合す
る。スイッチS8,S10およびS11は容量C3およ
びC4がVINに印加される電圧に充電できるようにす
る。
入力と増幅器22の出力の間に結合する。スイッチS1
2およびS9は容量C4を入力VREFPと増幅器22
の反転入力の間に結合する。VREFPに印加される基
準電圧は容量C3およびC4が増幅器22の回りに結合
されたとき出力VOUTの出力電圧から減算される。
器段21のスイッチS1〜S12を開きかつ閉じるため
のクロック信号を示すタイミング図である。クロック信
号CLK1およびクロック信号CLK1バーがスイッチ
S1〜S12をイネーブルしかつディスエーブルするた
めに使用される。CLK1バーはクロック信号CLK1
の補信号である。サンプリングのレートはクロック信号
CLK1の両方のフェーズの間にサンプリングしかつ出
力信号を提供することによって倍化される。ダブルサン
プリングは図2のスイッチドキャパシタ増幅器段21の
実効クロックレートをクロック信号CLK1の周波数の
2倍に等しくし、それは出力信号はそれぞれのクロック
フェーズの間に提供されるからである。好ましい実施形
態では、クロック信号CLK1およびCLK1バーはオ
ーバラップしない。
理1レベルにありかつ図3のクロック信号CLK1バー
が論理0レベルにある場合の図2のスイッチドキャパシ
タ増幅器段21の容量C1およびC2の回路図である。
容量C1およびC2はサンプリング構造になっている。
スイッチS2,S4およびS5は閉じられ、それによっ
て容量C1およびC2を入力VINとグランドの間に結
合する。入力VINに印加される電圧は容量C1および
C2を充電する。容量C1およびC2の充電は図2の増
幅器22と独立に動作することに注意を要する。
理0レベルでありかつ図3のクロック信号CLK1バー
が論理1レベルである場合の図2のスイッチドキャパシ
タ増幅器段21の回りの利得構造となっている容量C1
およびC2の回路図である。スイッチS1,S3および
S6は閉じられている。容量C1は増幅器22の反転入
力と出力の間に結合されている。容量C2は入力VRE
FMおよび増幅器22の反転入力の間に結合されてい
る。好ましい実施形態では、容量C1およびC2は等し
い容量を有し、これは増幅器段を2の利得で構成する。
VREFMに印加される基準電圧は容量C1およびC2
におけるサンプル電圧の増幅された電圧から減算され
る。従って、図5に示される増幅器段は容量C1および
C2に関して図4においてサンプルされた電圧を2の係
数で乗算しかつVREFMに印加される基準電圧を減算
する。
理0レベルにありかつ図3のクロック信号CLK1バー
が論理1レベルにある場合の図2のスイッチドキャパシ
タ増幅器段21の容量C3およびC4の回路図である。
容量C3およびC4はサンプリング構造になっている。
スイッチS8,S10およびS11が閉じられ、それに
よって容量C3およびC4を入力VINとグランドの間
に結合する。入力VINに印加される電圧は容量C3お
よびC4を充電する。容量C3およびC4の充電は図2
の増幅器22と独立に動作することに注目すべきであ
る。容量C3およびC4は図2の容量C1およびC2が
図2の増幅器22の回りの利得構造になっている場合に
充電されている。
理1レベルにありかつ図3のクロック信号CLK1バー
が論理ゼロレベルにある場合の図2のスイッチドキャパ
シタ増幅器段21の回りの利得構造になっている容量C
3およびC4の回路図である。スイッチS7,S9およ
びS12は閉じられている。容量C3は図2の増幅器2
2の反転入力と出力の間に結合されている。容量C4は
入力VREFPと増幅器22の反転入力の間に結合され
ている。好ましい実施形態では、容量C3およびC4は
等しい容量を有し、これは増幅器段を2の利得で構成す
る。VREFPに印加される基準電圧は容量C3および
C4におけるサンプル電圧の増幅された電圧から減算さ
れる。従って、図7に示されるスイッチドキャパシタ増
幅器段は容量C3およびC4における図6でサンプルさ
れた電圧を2の係数で乗算しかつVREFPに印加され
る基準電圧を減算する。図2の容量C1およびC2は容
量C3およびC4が増幅器22の回りの利得構造になっ
ているときに充電されている。
のおのの遷移時に図2のスイッチドキャパシタ増幅器段
21によって有効な出力信号が与えられる。スイッチド
キャパシタ増幅器段21は、第1のフェーズのクロック
信号の間にサンプルを行いかつ第2のフェーズのクロッ
ク信号の間に増幅を行う従来技術の増幅器段のレートの
2倍で出力信号を提供する。クロック信号の両方のクロ
ックフェーズの間にサンプリングを行うために付加的な
容量が加えられている。従来技術の増幅器段は1つの増
幅器段の容量が充電され該増幅器が使用されていないと
きにクロックのハーフサイクルの間デッド期間(dea
d period)を有する。おのおののハーフサイク
ルとともに絶えずターンオンおよびオフすれば静止状態
へ安定化するために増幅器にとって必要な余分の時間の
ため増幅器の性能が低下する。従来技術の増幅器段はこ
の問題を増幅器が使用されていないクロックサイクルの
部分の間に増幅器へのフィードバックを提供するために
ダミーのスイッチおよび容量を加えることによって解決
している。図2に示される回路は増幅器が使用されてい
ない期間の問題をもたないが、それは図2の増幅器22
はクロックサイクルの間絶えず動作しているからであ
る。回路の面積を増大するダミースイッチおよび容量は
必要ではない。動作における唯一の中断は一方のグルー
プの容量が電圧をサンプリングするために増幅器から切
り離されつつありかつ他方のグループの容量が増幅器の
回りの利得構造で結合されている場合またはこの逆の場
合である。
は上に述べた従来技術の増幅器段と同じ速度で動作した
とき2の係数で電力を低減する。スイッチドキャパシタ
増幅器段22は単一のサンプリング増幅器段の半分の周
波数で動作することができ、従って、それは半分の電力
を消費する。また、増幅器の付加は従来技術の増幅器段
と近い。
器段21と対応する完全に差動構成のスイッチドキャパ
シタ増幅器段71を示す。増幅器段の完全な差動構成は
両方の入力に共通のノイズの排除に有利でありかつ達成
可能なダイナミックレンジを倍化する。スイッチドキャ
パシタ増幅器段71は入力A、入力B、入力VREFM
A、入力VREFMB、入力VREFPA、入力VRE
FPB、出力A、および出力Bを有する。スイッチドキ
ャパシタ増幅器段71の動作は図2のスイッチドキャパ
シタ増幅器段21について説明したのと同様である。異
なる点は図2の増幅器22の反転入力回りに結合された
容量およびスイッチがスイッチドキャパシタ増幅器段7
1の非反転入力に対して倍化されていることである。
スイッチは増幅器72のための第1のサンプリング回路
に対応する。容量C1およびC2は入力Aから電圧を受
ける。容量C3およびC4は入力Bから電圧を受ける。
入力AおよびBの間の電圧差は増幅器72によって増幅
される。容量C5〜C8およびそれらに結合されたスイ
ッチは増幅器72のための第2のサンプリング回路に対
応する。容量C5およびC6は入力Aから電圧を受け
る。容量C7およびC8は入力Bにおいて電圧を受け
る。容量C1〜C4は容量C5〜C8が図5および図6
に示されるものと同様の利得構造で増幅器72の回りに
結合されている間に第1のクロックフェーズで(入力A
およびB、およびグランドの間の)電圧に充電される。
差動基準電圧が入力VREFPAおよびVREFPBの
間に印加される。第2のクロックフェーズの間に、容量
C5〜C8は容量C1〜C4が増幅器72の回りに利得
構造で結合されている間に(入力AおよびB、およびグ
ランドの間の)電圧に充電される。差動基準電圧が入力
VREFMAおよびVREFMBの間に印加される。増
幅器72はダブルサンプリング処理によりクロックサイ
クルにわたり動作する。より多くの回路が必要である
が、この完全に差動的なスイッチドキャパシタ増幅器段
71はいくつかの用途において高い性能特性を有しかつ
高い速度または低減された電力で動作する。
費を低減するスイッチドキャパシタ増幅器段が提供され
たことが理解されるべきである。前記増幅器段は1つの
クロックサイクルの両方のクロックフェーズの間に入力
電圧をサンプリングする。このサンプリングプロセスは
増幅プロセスから独立であり、従って前にサンプルされ
た信号の増幅を他の入力サンプリングと同時に行うこと
ができるようにする。増幅器は常に動作しており、それ
によって従来技術の増幅器段において使用されたダミー
のフィードバック回路を必要としない。本増幅器は複数
の利得段を直列的に使用するパイプライン方式ADCの
性能を大幅に改善する。
されたが、当業者にはさらに他の修正および改善をなす
ことができる。本発明は示された特定の形式に限定され
るのではなく、添付の特許請求の範囲によりこの発明の
精神および範囲から離れることのないすべての修正をカ
バーすることを意図している。
ライン方式のアナログ−デジタル変換器(ADC)のブ
ロック図である。
示す電気回路図である。
得段のタイミング図である。
気回路図である。
よびC2を示す電気回路図である。
気回路図である。
よびC4を示す電気回路図である。
動的な構成を示す電気回路図である。
DC) 12 増幅器利得段 13 アライメントおよび同期回路 21 スイッチドキャパシタ増幅器段 22 増幅器段 C1,C2,…,C8 容量 S1,S2,…,S12 スイッチ 71 スイッチドキャパシタ増幅器段 72 増幅器
Claims (3)
- 【請求項1】 入力および出力を有するスイッチドキャ
パシタ利得段(21)であって、 反転入力、電源端子に結合された非反転入力、および前
記スイッチドキャパシタ利得段の出力に結合された出力
を有する増幅器(22)、 第1の端子および第2の端子を有する第1の容量(C
1)、 前記第1の容量(C1)の前記第1の端子に結合された
第1の端子および前記増幅器(22)の前記出力に結合
された第2の端子を有する第1のスイッチ、 前記スイッチドキャパシタ利得段(21)の入力に結合
された第1の端子および前記第1の容量(C1)の前記
第1の端子に結合された第2の端子を有する第2のスイ
ッチ(52)、 前記第1の容量(C1)の前記第2の端子に結合された
第1の端子および前記増幅器(22)の前記反転入力に
結合された第2の端子を有する第3のスイッチ(5
3)、 前記第1の容量(C1)の前記第2の端子に結合された
第1の端子および前記電源端子に結合された第2の端子
を有する第4のスイッチ(54)、 前記スイッチドキャパシタ利得段(21)の入力に結合
された第1の端子および第2の端子を有する第5のスイ
ッチ(55)、 前記スイッチ(55)の前記第2の端子に結合された第
1の端子および前記第1の容量(C1)の前記第2の端
子に結合された第2の端子、 第1の端子および第2の端子を有する第3の容量(C
3)、 前記第3の容量(C3)の前記第1の端子に結合された
第1の端子、および前記増幅器(21)の前記出力に結
合された第2の端子を有する第6のスイッチ(57)、 前記スイッチドキャパシタ利得段(21)の入力に結合
された第1の端子および前記第3の容量(C3)の前記
第1の端子に結合された第2の端子を有する第7のスイ
ッチ(58)、 前記第3の容量(C3)の前記第2の端子に結合された
第1の端子および前記増幅器(22)の前記反転入力に
結合された第2の端子を有する第8のスイッチ(5
9)、 前記第3の容量(C3)の前記第2の端子に結合された
第1の端子および前記電源端子に結合された第2の端子
を有する第9のスイッチ(S10)、 前記スイッチドキャパシタ利得段(21)の入力に結合
された第1の端子および第2の端子を有する第10のス
イッチ(S11)、そして前記第10のスイッチ(S1
1)の前記第2の端子に結合された第1の端子および前
記第3の容量(C3)の前記第2の端子に結合された第
2の端子を有する第4の容量(C4)、 を具備することを特徴とするスイッチドキャパシタ利得
段(21)。 - 【請求項2】 入力および出力を有するクロック式利得
段(21)であって、 反転入力、電源端子に結合された非反転入力、および前
記クロック式利得段の出力に結合された出力を有する増
幅器(22)、 第1の容量(C1)、 第2の容量(C2)であって、前記第1(C1)および
第2(C2)の容量はクロックサイクルの第1のフェー
ズの間に前記クロック式利得段(21)の入力と前記電
源端子の間に結合され前記クロック式利得段(21)の
入力に印加される入力信号の電圧をサンプリングし、か
つ前記第1(C1)および第2(C2)の容量は前記ク
ロックサイクルの第2のフェーズの間に前記増幅器回り
に利得構造で結合され前記クロックサイクルの前記第1
のフェーズの間にサンプルされた電圧を増幅する(2
2)もの、 第3の容量(C3)、そして第4の容量(C4)であっ
て、前記第3(C3)および第4(C4)の容量は前記
クロックサイクルの前記第2のフェーズの間に前記クロ
ック式利得段(21)の入力と前記電源端子との間に結
合されて前記クロック式利得段(21)の入力に印加さ
れる前記入力信号の電圧をサンプリングし、かつ前記第
3(C3)および第4(C4)の容量はクロックサイク
ルの第1のフェーズの間に前記増幅器(22)の回りに
利得構造で結合されて前のクロックサイクルの第2のフ
ェーズの間にサンプルされた電圧を増幅するもの、 を具備することを特徴とするクロック式利得段(2
1)。 - 【請求項3】 複数の直列的に結合されたスイッチドキ
ャパシタ利得段(12)を含むパイプライン式アナログ
−デジタル変換器(ADC)(11)であって、前記パ
イプライン式ADC(11)においては前記複数の直列
的に結合されたスイッチドキャパシタ利得段(12)の
内の少なくとも1つのスイッチドキャパシタ利得段(1
2)がクロック信号の両方のクロックフェーズの間に電
圧をサンプルしかつ増幅して前記パイプライン式ADC
(11)の動作速度を増大することを特徴とするパイプ
ライン式アナログ−デジタル変換器(ADC)(1
1)。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/489,349 US5574457A (en) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | Switched capacitor gain stage |
US08/489,349 | 1995-06-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH098604A true JPH098604A (ja) | 1997-01-10 |
JP4022272B2 JP4022272B2 (ja) | 2007-12-12 |
Family
ID=23943493
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17063996A Expired - Fee Related JP4022272B2 (ja) | 1995-06-12 | 1996-06-10 | スイッチドキャパシタ利得段 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5574457A (ja) |
EP (1) | EP0749205B1 (ja) |
JP (1) | JP4022272B2 (ja) |
DE (1) | DE69607245T2 (ja) |
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- 1996-06-07 DE DE69607245T patent/DE69607245T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-07 EP EP96109157A patent/EP0749205B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-10 JP JP17063996A patent/JP4022272B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
DE69607245D1 (de) | 2000-04-27 |
JP4022272B2 (ja) | 2007-12-12 |
EP0749205B1 (en) | 2000-03-22 |
US5574457A (en) | 1996-11-12 |
EP0749205A1 (en) | 1996-12-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20041217 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20050223 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051011 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060926 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061226 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070911 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071001 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101005 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101005 Year of fee payment: 3 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D03 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111005 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121005 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131005 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |