JP2000357348A - 記録媒体の製造システム及びその製造方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】記録媒体の製造過程において、記録媒体に対す
る全数検査を可能とし、記録層の成膜ばらつき等の製造
履歴を体系的に把握できるようにして、故障の発生等を
迅速に、かつ、的確に発見できるようにする。 【解決手段】光ディスクＤにおける色素記録層２０４の
成膜ばらつき等を検査する特性検査装置１０８に、光デ
ィスクＤから再生信号を読み取るための第１〜第３の光
学ピックアップ３４０ａ〜３４０ｃを設置する。この場
合、第１の光学ピックアップ３４０ａは、色素記録層２
０４の最内周端から最外周に向かって半径方向ほぼ１／
３の部分（距離ａ１）まで移動できるように構成し、第
２の光学ピックアップ３４０ｂは、前記半径方向ほぼ１
／３の部分（距離ａ１）からほぼ２／３の部分（距離ａ
２）まで移動できるように構成し、第３の光学ピックア
ップ３４０ｃは、色素記録層２０４の最外周端から最内
周に向かって半径方向ほぼ１／３の部分（距離ａ３）ま
で移動するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に、レーザ
光の照射により情報を記録することができる記録層を有
し、該記録層上に光反射層を有する記録媒体の製造シス
テム及びその製造方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、レーザ光により１回限りの情報
の記録が可能な光情報記録媒体（光ディスク）として
は、追記型ＣＤ（いわゆるＣＤ−Ｒ）やＤＶＤ−Ｒなど
があり、従来のＣＤ（コンパクトディスク）の作製に比
べて少量のＣＤを手頃な価格でしかも迅速に市場に供給
できるという利点を有しており、最近のパーソナルコン
ピュータなどの普及に伴ってその需要も増している。

【０００３】ＣＤ−Ｒ型の光情報記録媒体の代表的な構
造は、厚みが約１．２ｍｍの透明な円盤状基板上に有機
色素からなる記録層、金や銀などの金属からなる光反射
層、更に樹脂製の保護層をこの順に積層したものである
（例えば特開平６−１５０３７１号公報参照）。

【０００４】また、ＤＶＤ−Ｒ型の光情報記録媒体は、
２枚の円盤状基板（厚みが約０．６ｍｍ）を各情報記録
面をそれぞれ内側に対向させて貼り合わせた構造を有
し、記録情報量が多いという特徴を有する。

【０００５】そして、これら光情報記録媒体への情報の
書き込み（記録）は、近赤外域のレーザ光（ＣＤ−Ｒで
は通常７８０ｎｍ付近、ＤＶＤ−Ｒでは６３５ｎｍ付近
の波長のレーザ光）を照射することにより行われ、色素
記録層の照射部分がその光を吸収して局所的に温度上昇
し、物理的あるいは化学的な変化（例えばピットの生
成）が生じて、その光学的特性を変えることにより情報
が記録される。

【０００６】一方、情報の読み取り（再生）も、通常、
記録用のレーザ光と同じ波長のレーザ光を照射すること
により行われ、色素記録層の光学的特性が変化した部位
（ピットの生成による記録部分）と変化しない部位（未
記録部分）との反射率の違いを検出することにより情報
が再生される。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、レーザ光を
用いて情報の記録及び再生を行うことができるヒートモ
ード型の光情報記録媒体においては、記録層の成膜ばら
つき等で、光反射率やトラッキング信号が変動し、この
場合、レーザ光のトラッキング外れが生ずる蓋然性が高
くなる。

【０００８】そのため、従来では、抜取り検査を実施し
て、記録層の成膜ばらつき等の大きい不良品を抜き取る
ようにしていた。通常、抜取り検査は、最終段階で行わ
れることが多い。この場合、品質の悪い記録媒体が最終
段階まで送られることになり、その分、記録媒体の製造
処理が無駄になるという問題がある。

【０００９】また、抜取り検査の場合、記録層の成膜ば
らつき等の製造履歴を体系的に把握することができず、
故障の発生を迅速に、かつ、的確に発見することができ
ないおそれがある。

【００１０】また、抜取り検査の場合、検査対象の記録
媒体を製造ラインから抜き取って、例えば製造ラインと
は別の施設に設置された検査設備に運搬して、検査を行
う必要があるため、そのための手間と時間が必要になる
という問題がある。

【００１１】本発明はこのような課題を考慮してなされ
たものであり、記録媒体の製造過程において、記録媒体
に対する全数検査が可能で、記録層の成膜ばらつき等の
製造履歴を体系的に把握することができ、故障の発生等
を迅速に、かつ、的確に発見することができる記録媒体
の製造システム及びその製造方法を提供することを目的
とする。

【００１２】また、本発明の他の目的は、品質の悪い記
録媒体を最終段階までもっていく必要がなく、製造処理
の無駄を省くことができる記録媒体の製造システム及び
その製造方法を提供することにある。

【００１３】また、本発明の他の目的は、最終段階にお
いて抜取り検査を行うための手間や時間を省くことがで
き、工数の削減を図ることができる記録媒体の製造シス
テム及びその製造方法を提供することにある。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明は、基板上に、レ
ーザ光の照射により情報を記録することができる記録層
を有し、該記録層上に光反射層を有する記録媒体の製造
システムにおいて、前記記録媒体の製造ラインに、前記
記録媒体を回転させて、該記録媒体から再生信号を得、
該再生信号から少なくとも反射率及び／又はトラッキン
グ信号を検出して前記記録媒体の良否を枚葉方式で判定
する検査装置を組み込んで構成する。

【００１５】また、本発明は、基板上に、レーザ光の照
射により情報を記録することができる記録層を有し、該
記録層上に光反射層を有する記録媒体の製造方法におい
て、前記記録媒体を回転させて、該記録媒体から再生信
号を得、該再生信号から少なくとも反射率及び／又はト
ラッキング信号を検出して前記記録媒体の良否を枚葉方
式で判定しながら前記記録媒体を製造することを特徴と
する。

【００１６】これにより、製造過程にある記録媒体は全
て検査装置での検査を経ることになる。この場合、検査
装置に投入された記録媒体は、まず、回転され、該記録
媒体から再生信号が読み取られる。そして、この再生信
号から少なくとも反射率とトラッキング信号が検出さ
れ、これら反射率やトラッキング信号の変動に基づいて
前記記録媒体の良否が判別される。

【００１７】このように、本発明に係る記録媒体の製造
システム及びその製造方法においては、記録媒体の製造
過程において、記録媒体に対する全数検査が可能で、記
録層の成膜ばらつき等の製造履歴を体系的に把握するこ
とができ、故障の発生等を迅速に、かつ、的確に発見す
ることができる。

【００１８】また、採取段階で抜取り検査を行う必要が
ないため、品質の悪い記録媒体を最終段階まで送る必要
がなく、製造処理の無駄を省くことができる。しかも、
最終段階において抜取り検査を行うための手間や時間を
省くことができ、工数の削減を図ることができる。

【００１９】そして、本発明に係る記録媒体の製造シス
テム及びその製造方法においては、前記記録媒体から少
なくとも２つ以上の光学ピックアップを介して得られた
再生信号に基づいて前記記録媒体の良否を判定するよう
にしてもよい。

【００２０】この場合、前記光学ピックアップを前記記
録媒体における記録層の内周側に対応した位置と外周側
に対応した位置にそれぞれ設置して、前記記録媒体の良
否を判定するようにしてもよい。

【００２１】また、前記光学ピックアップを前記記録媒
体における記録層の内周側に対応した位置、記録層の半
径方向中央部に対応する部分と外周側に対応した位置に
それぞれ設置して、前記記録媒体の良否を判定するよう
にしてもよい。

【００２２】また、本発明に係る記録媒体の製造システ
ム及びその製造方法において、前記記録媒体から再生信
号を得る際に、前記記録媒体を真空吸着し、該記録媒体
を回転させながら行うようにしてもよい。

【００２３】この場合、前記記録媒体を真空吸着するた
めのパッドのうち、前記記録媒体と接触する面が平坦で
あることが好ましい。また、前記記録媒体を真空吸着す
るためのパッドのうち、前記記録媒体と接触する面の外
径が前記記録媒体における記録層の最内周の径よりも小
さいことが好ましい。また、前記検査過程において、前
記記録媒体の回転開始と回転停止をゆっくりと行うこと
が好ましい。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る記録媒体の製
造システム及びその製造方法を例えばＣＤ−Ｒ等の光デ
ィスクを製造するシステムに適用した実施の形態例（以
下、単に実施の形態に係る製造システムと記す）を図１
〜図１５Ｃを参照しながら説明する。

【００２５】本実施の形態に係る製造システム１０は、
図１に示すように、例えば射出成形、圧縮成形又は射出
圧縮成形によって基板を作製する２つの成形設備（第１
及び第２の成形設備１２Ａ及び１２Ｂ）と、基板の一主
面上に色素塗布液を塗布して乾燥させることにより、該
基板上に色素記録層を形成する塗布設備１４と、基板の
色素記録層上に光反射層を例えばスパッタリングにより
形成し、その後、光反射層上にＵＶ硬化液を塗布した
後、ＵＶ照射して前記光反射層上に保護層を形成する後
処理設備１６とを有して構成されている。

【００２６】第１及び第２の成形設備１２Ａ及び１２Ｂ
は、ポリカーボネートなどの樹脂材料を射出成形、圧縮
成形又は射出圧縮成形して、一主面にトラッキング用溝
又はアドレス信号等の情報を表す凹凸（グルーブ）が形
成された基板を作製する成形機２０と、該成形機２０か
ら取り出された基板を冷却する冷却部２２と、冷却後の
基板を段積みして保管するためのスタックポール２４が
複数本設置された集積部２６（スタックポール回転台）
とを有する。

【００２７】塗布設備１４は、３つの処理部３０、３２
及び３４から構成され、第１の処理部３０には、前記第
１及び第２の成形設備１２Ａ及び１２Ｂから搬送された
スタックポール２４を収容するためのスタックポール収
容部４０と、該スタックポール収容部４０に収容された
スタックポール２４から１枚ずつ基板を取り出して次工
程に搬送する第１の搬送機構４２と、該第１の搬送機構
４２によって搬送された１枚の基板に対して静電気の除
去を行う静電ブロー機構４４とを有する。

【００２８】第２の処理部３２は、第１の処理部３０に
おいて静電ブロー処理を終えた基板を次工程に順次搬送
する第２の搬送機構４６と、該第２の搬送機構４６によ
って搬送された複数の基板に対してそれぞれ色素塗布液
を塗布する色素塗布機構４８と、色素塗布処理を終えた
基板を１枚ずつ次工程に搬送する第３の搬送機構５０と
を有する。この色素塗布機構４８は６つのスピンコート
装置５２を有して構成されている。

【００２９】第３の処理部３４は、前記第３の搬送機構
５０にて搬送された１枚の基板の裏面を洗浄する裏面洗
浄機構５４と、裏面洗浄を終えた基板を次工程に搬送す
る第４の搬送機構５６と、該第４の搬送機構５６によっ
て搬送された基板に対してロット番号等の刻印をインク
ジェット印刷にて行う番号付与機構５８と、ロット番号
等の刻印を終えた基板を次工程に搬送する第５の搬送機
構６０と、該第５の搬送機構６０によって搬送された基
板に対して欠陥の有無並びに色素記録層の膜厚の検査を
行う第１の欠陥検査装置６２と、該第１の欠陥検査装置
６２での検査結果に応じて基板を正常品用のスタックポ
ール６４あるいはＮＧ用のスタックポール６６に選別す
る選別機構６８とを有する。

【００３０】第１の処理部３０と第２の処理部３２との
間に第１の仕切板７０が設置され、第２の処理部３２と
第３の処理部３４との間にも同様に第２の仕切板７２が
設置されている。第１の仕切板７０の下部には、第２の
搬送機構４６による基板の搬送経路を塞がない程度の開
口（図示せず）が形成され、第２の仕切板７２の下部に
は、第３の搬送機構５０による基板の搬送経路を塞がな
い程度の開口（図示せず）が形成されている。

【００３１】後処理設備１６は、塗布設備１４から搬送
された正常品用のスタックポール６４を収容するための
スタックポール収容部８０と、該スタックポール収容部
８０に収容されたスタックポール６４から１枚ずつ基板
を取り出して次工程に搬送する第６の搬送機構８２と、
該第６の搬送機構８２によって搬送された１枚の基板に
対して静電気の除去を行う第１の静電ブロー機構８４
と、静電ブロー処理を終えた基板を次工程に順次搬送す
る第７の搬送機構８６と、該第７の搬送機構８６によっ
て搬送された基板の一主面に光反射層をスパッタリング
にて形成するスパッタ機構８８と、光反射層のスパッタ
リングを終えた基板を次工程に順次搬送する第８の搬送
機構９０と、該第８の搬送機構９０によって搬送された
基板の周縁（エッジ部分）を洗浄するエッジ洗浄機構９
２とを有する。

【００３２】また、この後処理設備１６は、エッジ洗浄
を終えた基板に対して静電気の除去を行う第２の静電ブ
ロー機構９４と、静電ブロー処理を終えた基板の一主面
に対してＵＶ硬化液を塗布するＵＶ硬化液塗布機構９６
と、ＵＶ硬化液の塗布を終えた基板を高速回転させて基
板上のＵＶ硬化液の塗布厚を均一にするスピン機構９８
と、ＵＶ硬化液の塗布及びスピン処理を終えた基板に対
して紫外線を照射することによりＵＶ硬化液を硬化させ
て基板の一主面に保護層を形成するＵＶ照射機構１００
と、前記基板を第２の静電ブロー機構９４、ＵＶ硬化液
塗布機構９６、スピン機構９８及びＵＶ照射機構１００
にそれぞれ搬送する第９の搬送機構１０２と、ＵＶ照射
された基板を次工程に搬送する第１０の搬送機構１０４
と、該第１０の搬送機構１０４によって搬送された基板
に対して記録層塗布面と保護層面の欠陥を検査するため
の第２の欠陥検査装置１０６と、基板に形成されたグル
ーブによる信号特性を検査するための特性検査装置１０
８と、これら第２の欠陥検査装置１０６及び特性検査装
置１０８での検査結果に応じて基板を正常品用のスタッ
クポール１１０あるいはＮＧ用のスタックポール１１２
に選別する選別機構１１４とを有する。

【００３３】ここで、１つのスピンコート装置５２の構
成について図２〜図６を参照しながら説明する。

【００３４】このスピンコート装置５２は、図２及び図
３に示すように、塗布液付与装置４００、スピナーヘッ
ド装置４０２及び飛散防止壁４０４を有して構成されて
いる。塗布液付与装置４００は、塗布液が充填された加
圧タンク（図示せず）と、該加圧タンクからノズル４０
６に引き回されたパイプ（図示せず）と、ノズル４０６
から吐出される塗布液の量を調整するための吐出量調整
バルブ４０８とを有し、塗布液は前記ノズル４０６を通
してその所定量が基板２０２の表面上に滴下されるよう
になっている。この塗布液付与装置４００は、ノズル４
０６を下方に向けて支持する支持板４１０と該支持板４
１０を水平方向に旋回させるモータ４１２とを有するハ
ンドリング機構４１４によって、待機位置から基板２０
２の上方の位置に旋回移動できるように構成されてい
る。

【００３５】スピナーヘッド装置４０２は、前記塗布液
付与装置４００の下方に配置されており、着脱可能な固
定具４２０により基板２０２が水平に保持されると共
に、駆動モータ（図示せず）により軸回転が可能とされ
ている。

【００３６】固定具４２０により水平に保持された状態
で回転している基板２０２上に、上記の塗布液付与装置
４００のノズル４０６から滴下した塗布液は、基板２０
２の表面上を外周側に流延する。そして、余分の塗布液
は基板２０２の外周縁部で振り切られ、その外側に放出
され、次いで塗膜が乾燥されることにより、基板２０２
の表面上に塗膜（色素記録層２０４）が形成される。

【００３７】飛散防止壁４０４は、基板２０２の外周縁
部から外側に放出された余分の塗布液が周辺に飛散する
のを防止するために設けられており、上部に開口４２２
が形成されるようにスピナーヘッド装置４０２の周囲に
配置されている。飛散防止壁４０４を介して集められた
余分の塗布液はドレイン４２４を通して回収されるよう
になっている。

【００３８】また、第２の処理部３２（図１参照）にお
ける各スピンコート装置５２の局所排気は、前記飛散防
止壁４０４の上方に形成された開口４２２から取り入れ
た空気を基板２０２の表面上に流通させた後、各スピナ
ーヘッド装置４０２の下方に取り付けられた排気管４２
６を通じて排気されるようになっている。

【００３９】塗布液付与装置４００のノズル４０６は、
図４及び図５に示すように、軸方向に貫通孔４３０が形
成された細長い円筒状のノズル本体４３２と、該ノズル
本体４３２を支持板４１０（図３参照）に固定するため
の取付部４３４を有する。ノズル本体４３２は、その先
端面及びその先端面から１ｍｍ以上の範囲の外側又は内
側、あるいは両方の壁面がフッ素化合物からなる表面を
有する。このフッ素化合物としては、例えばポリテトラ
フルオロエチレンやポリテトラフルオロエチレン含有物
等を使用することができる。

【００４０】この実施の形態で用いられる好ましいノズ
ル４０６の例としては、例えば、図５に示すように、ノ
ズル本体４３２の先端面及びその先端面から１ｍｍ以上
の範囲をフッ素化合物を用いて形成したノズル４０６
や、図６に示すように、ノズル本体４３２の先端面４４
０及びその先端面４４０から１ｍｍ以上の範囲の外側又
は内側、あるいは両方の壁面４４２及び４４４をフッ素
化合物を用いて被覆したノズル４０６を挙げることがで
きる。

【００４１】ノズル本体４３２の先端面及びその先端面
から１ｍｍ以上の範囲をフッ素化合物で形成する場合、
強度などを考慮すると、実用的には、例えばノズル本体
４３２をステンレススチールで形成し、その先端面及び
その先端面から最大で５ｍｍの範囲をフッ素化合物で形
成することが好ましい。

【００４２】また、図６に示すように、ノズル本体４３
２の先端面４４０及びその先端面４４０から１ｍｍ以上
の範囲の外側又は内側、あるいは両方の壁面４４２及び
４４４をフッ素化合物で被覆する場合、ノズル本体４３
２の先端面４４０から１０ｍｍ以上、更に好ましくは、
ノズル本体４３２の全領域をフッ素化合物で被覆するこ
とが好ましい。被覆する場合のその厚みは、特に制限は
ないが、５〜５００μｍの範囲内が適当である。また、
ノズル本体４３２の材質としては、上記のように、ステ
ンレススチールが好ましい。ノズル本体４３２に形成さ
れた貫通孔４３０の径は一般に０．５〜１．０ｍｍの範
囲である。

【００４３】次に、本実施の形態に係る製造システムの
特徴的な構成である特性検査装置１０８について図７〜
図１５Ｃを参照しながら説明する。

【００４４】この特性検査装置１０８は、図７及び図８
に示すように、基台３００上に、光ディスクＤを回転駆
動するためのスピンドルユニット３０２と、光ディスク
Ｄから再生信号を得るための３つの再生ユニット（第１
〜第３の再生ユニット３０４ａ〜３０４ｃ）と、コンピ
ュータ３０６とを有する。

【００４５】コンピュータ３０６には、第１〜第３の再
生ユニット３０４ａ〜３０４ｃにて得られた再生信号Ｓ
１〜Ｓ３（図１０参照）に基づいて光ディスクＤの良否
を判別するための判定手段３０８（図１０参照）が組み
込まれている。この判定手段３０８は、デジタル回路等
からなるハードウェアで構成するようにしてもよいし、
コンピュータ３０６のＣＰＵで動作するプログラムとし
て構成するようにしてもよい。

【００４６】この判定手段３０８は、例えば図１０に示
すように、第１〜第３の再生ユニット３０４ａ〜３０４
ｃからの再生信号を取り込んで、それぞれ光反射率によ
るＤＣ成分（Ｓｄ１１，Ｓｄ１２）、（Ｓｄ２１，Ｓｄ
２２）及び（Ｓｄ３１，Ｓｄ３２）とトラッキング信号
Ｓｔ１、Ｓｔ２及びＳｔ３とを抽出する第１〜第３の波
形抽出部３２０ａ、３２０ｂ及び３２０ｃと、これら第
１〜第３の波形抽出部３２０ａ、３２０ｂ及び３２０ｃ
にて抽出された波形と規定の波形とを比較して、光反射
率に関するずれ量（Ｄｄ１１，Ｄｄ１２）、（Ｄｄ２
１，Ｄｄ２２）及び（Ｄｄ３１，Ｄｄ３２）とトラッキ
ング信号に関するずれ量Ｄｔ１、Ｄｔ２及びＤｔ３を検
出する第１〜第３の検出部３２２ａ、３２２ｂ及び３２
２ｃと、これらずれ量を予め設定された許容範囲と比較
しながら不良の度合いＥ１、Ｅ２及びＥ３を演算処理す
る第１〜第３の比較演算部３２４ａ、３２４ｂ及び３２
４ｃと、これら第１〜第３の比較演算部３２４ａ、３２
４ｂ及び３２４ｃでの演算結果（不良の度合い）Ｅ１、
Ｅ２及びＥ３に基づいて光ディスクＤの良否を判別し、
その判別結果Ｓｅを後段の選別機構１１４に出力する判
別部３２６とを有する。

【００４７】スピンドルユニット３０２は、図９に示す
ように、光ディスクＤを保持するためのテーブル部３３
０と該テーブル部３３０を回転駆動するスピンドルモー
タ３３２とを有する。

【００４８】テーブル部３３０は、光ディスクＤの中央
孔を挿通する膨出部３３４と、光ディスクＤの最内周部
分を支持して、光ディスクＤを水平に保持する平坦部３
３６とが一体に形成され、平坦部３３６に光ディスクＤ
をエア吸着するための吸引孔３３８が形成されている。
平坦部３３６の外径は、光ディスクＤにおける色素記録
層２０４の最内周の径よりも小さく設定されている。

【００４９】第１〜第３の再生ユニット３０４ａ〜３０
４ｃは、それぞれ光学ピックアップ（第１〜第３の光学
ピックアップ３４０ａ〜３４０ｃ）を有する。各光学ピ
ックアップ３４０ａ〜３４０ｃは、水平方向の面をＸＹ
面とし、鉛直方向をＺ軸方向と定義したとき、３軸方向
に移動可能とされたテーブル３４２ａ〜３４２ｃにそれ
ぞれ支点部材３４４ａ〜３４４ｃを介して取り付けら
れ、支点部材３４４ａ〜３４４ｃを中心として上下方向
に移動可能となっている。

【００５０】そして、第１の光学ピックアップ３４０ａ
は、図１１に示すように、光ディスクＤにおける色素記
録層２０４の最内周端から最外周に向かって色素記録層
２０４の半径方向ほぼ１／３の部分（距離ａ１）まで移
動するように構成され、第２の光学ピックアップ３４０
ｂは、光ディスクＤにおける色素記録層２０４の最内周
端から最外周に向かって色素記録層２０４の半径方向ほ
ぼ１／３の部分（距離ａ１）から色素記録層２０４の半
径方向ほぼ２／３の部分（距離ａ２）まで移動するよう
に構成され、第３の光学ピックアップ３４０ｃは、光デ
ィスクＤにおける色素記録層の最外周端から最内周に向
かって色素記録層２０４の半径方向ほぼ１／３の部分
（距離ａ３）まで移動するように構成されている。

【００５１】従って、第１の光学ピックアップ３４０ａ
からは前記距離ａ１に含まれる複数本のトラックの再生
信号Ｓ１が得られ、第２の光学ピックアップ３４０ｂか
らは前記距離ａ２に含まれる複数本のトラックの再生信
号Ｓ２が得られ、第３の光学ピックアップ３４０ｃから
は前記距離ａ３に含まれる複数本のトラックの再生信号
Ｓ３が得られ、これら第１〜第３の光学ピックアップ３
４０ａ〜３４０ｃで全トラックの再生信号Ｓ１〜Ｓ３が
得られるようになっている。

【００５２】ここで、色素記録層２０４の半径方向の距
離をｄとしたとき、ａ１≒ａ２≒ａ３≒ｄ／３の関係に
ある。つまり、各光学ピックアップ３４０ａ〜３４０ｃ
が全トラックに相当する距離ｄの１／３を移動するだけ
で、全トラックについての再生信号が得られることと等
価になる。この特性検査装置１０８を使用して光ディス
クＤの良否を判別する処理については後述する。

【００５３】次に、この製造システム１０によって光デ
ィスクを製造する過程について図１２Ａ〜図１３Ｂの工
程図も参照しながら説明する。

【００５４】まず、第１及び第２の成形設備１２Ａ及び
１２Ｂにおける成形機２０において、ポリカーボネート
などの樹脂材料が射出成形、圧縮成形又は射出圧縮成形
されて、図７Ａに示すように、一主面にトラッキング用
溝又はアドレス信号等の情報を表す凹凸（グルーブ）２
００が形成された基板２０２が作製される。

【００５５】前記基板２０２の材料としては、例えばポ
リカーボネート、ポリメタルメタクリレート等のアクリ
ル樹脂、ポリ塩化ビニル、塩化ビニル共重合体等の塩化
ビニル系樹脂、エポキシ樹脂、アモルファスポリオレフ
ィン及びポリエステルなどを挙げることができ、所望に
よりそれらを併用してもよい。上記の材料の中では、耐
湿性、寸法安定性及び価格などの点からポリカーボネー
トが好ましい。また、グルーブ２００の深さは、０．０
１〜０．３μｍの範囲内であることが好ましく、その半
値幅は、０．２〜０．９μｍの範囲内であることが好ま
しい。

【００５６】成形機２０から取り出された基板２０２
は、後段の冷却部２２において冷却された後、一主面が
下側に向けられてスタックポール２４に積載される。ス
タックポール２４に所定枚数の基板２０２が積載された
段階で、スタックポール２４はこの成形設備１２Ａ及び
１２Ｂから取り出されて、次の塗布設備１４に搬送さ
れ、該塗布設備１４におけるスタックポール収容部４０
に収容される。この搬送は、台車で行ってもよいし、自
走式の自動搬送装置で行うようにしてもよい。

【００５７】スタックポール２４がスタックポール収容
部４０に収容された段階で、第１の搬送機構４２が動作
し、スタックポール２４から１枚ずつ基板２０２を取り
出して、後段の静電ブロー機構４４に搬送する。静電ブ
ロー機構４４に搬送された基板２０２は、該静電ブロー
機構４４において静電気が除去された後、第２の搬送機
構４６を介して次の色素塗布機構４８に搬送され、６つ
のスピンコート装置５２のうち、いずれか１つのスピン
コート装置５２に投入される。スピンコート装置５２に
投入された基板２０２は、その一主面上に色素塗布液が
塗布された後、高速に回転されて塗布液の厚みが均一に
された後、乾燥処理が施される。これによって、図７Ｂ
に示すように、基板２０２の一主面上に色素記録層２０
４が形成されることになる。

【００５８】即ち、スピンコート装置５２に投入された
基板２０２は、図２に示すスピナーヘッド装置４０２に
装着され、固定具４２０により水平に保持される。次
に、加圧式タンクから供給された塗布液は、吐出量調整
バルブ４０８によって所定量が調整され、基板２０２上
の内周側にノズル４０６を通して滴下される。

【００５９】このノズル４０６は、上述したように、そ
の先端面及びその先端面から１ｍｍ以上の範囲の外側又
は内側、あるいは両方の壁面がフッ素化合物からなる表
面を有しているため、塗布液の付着が生じにくく、ま
た、これが乾燥して色素の析出やその堆積物が生じにく
く、従って、塗膜を塗膜欠陥などの障害を伴うことなく
スムーズに形成させることができる。

【００６０】なお、塗布液としては色素を適当な溶剤に
溶解した色素溶液が用いられる。塗布液中の色素の濃度
は一般に０．０１〜１５重量％の範囲内、好ましくは
０．１〜１０重量％の範囲内、特に好ましくは０．５〜
５重量％の範囲内、最も好ましくは０．５〜３重量％の
範囲内である。

【００６１】駆動モータによってスピナーヘッド装置４
０２は高速回転が可能である。基板２０２上に滴下され
た塗布液は、スピナーヘッド装置４０２の回転により、
基板２０２の表面上を外周方向に流延し、塗膜を形成し
ながら基板２０２の外周縁部に到達する。外周縁部に到
達した余分の塗布液は、更に遠心力により振り切られ、
基板２０２の縁部の周囲に飛散する。飛散した余分の塗
布液は飛散防止壁４０４に衝突し、更にその下方に設け
られた受皿に集められた後、ドレイン４２４を通して回
収される。塗膜の乾燥はその形成過程及び塗膜形成後に
行われる。塗膜（色素記録層）２０４の厚みは、一般に
２０〜５００ｎｍの範囲内、好ましくは５０〜３００ｎ
ｍの範囲内に設けられる。

【００６２】色素記録層２０４に用いられる色素は特に
限定されない。使用可能な色素の例としては、シアニン
系色素、フタロシアニン系色素、イミダゾキノキサリン
系色素、ピリリウム系色素、チオピリリウム系色素、ア
ズレニウム系色素、スクワリリウム系色素、Ｎｉ、Ｃｒ
などの金属錯塩系色素、ナフトキノン系色素、アントラ
キノン系色素、インドフェノール系色素、インドアニリ
ン系色素、トリフェニルメタン系色素、メロシアニン系
色素、オキソノール系色素、アミニウム系色素、ジイン
モニウム系色素及びニトロソ化合物を挙げることができ
る。これらの色素のうちでは、シアニン系色素、フタロ
シアニン系色素、アズレニウム系色素、スクワリリウム
系色素、オキソノール系色素及びイミダゾキノキサリン
系色素が好ましい。

【００６３】色素記録層２０４を形成するための塗布剤
の溶剤の例としては、酢酸ブチル、セロソルブアセテー
トなどのエステル；メチルエチルケトン、シクロヘキサ
ノン、メチルイソブチルケトンなどのケトン；ジクロル
メタン、１，２−ジクロルエタン、クロロホルムなどの
塩素化炭化水素；ジメチルホルムアミドなどのアミド；
シクロヘキサンなどの炭化水素；テトラヒドロフラン、
エチルエーテル、ジオキサンなどのエーテル；エタノー
ル、ｎ−プロパノール、イソプロパノール、ｎ−ブタノ
ール、ジアセトンアルコールなどのアルコール；２，
２，３，３−テトラフロロ−１−プロパノールなどのフ
ッ素系溶剤；エチレングリコールモノメチルエーテル、
エチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレング
リコールモノメチルエーテルなどのグリコールエーテル
類などを挙げることができる。

【００６４】前記溶剤は使用する色素の溶解性を考慮し
て単独または二種以上を適宜併用することができる。好
ましくは、２，２，３，３−テトラフロロ−１−プロパ
ノールなどのフッ素系溶剤である。なお、塗布液中に
は、所望により退色防止剤や結合剤を添加してもよい
し、更に酸化防止剤、ＵＶ吸収剤、可塑剤、そして潤滑
剤など各種の添加剤を、目的に応じて添加してもよい。

【００６５】退色防止剤の代表的な例としては、ニトロ
ソ化合物、金属錯体、ジインモニウム塩、アミニウム塩
を挙げることができる。これらの例は、例えば、特開平
２−３００２８８号、同３−２２４７９３号、及び同４
−１４６１８９号等の各公報に記載されている。

【００６６】結合剤の例としては、ゼラチン、セルロー
ス誘導体、デキストラン、ロジン、ゴムなどの天然有機
高分子物質；およびポリエチレン、ポリプロピレン、ポ
リスチレン、ポリイソブチレン等の炭化水素系樹脂、ポ
リ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリ塩化ビニル・
ポリ酢酸ビニル共重合体等のビニル系樹脂、ポリアクリ
ル酸メチル、ポリメタクリル酸メチル等のアクリル樹
脂、ポリビニルアルコール、塩素化ポリエチレン、エポ
キシ樹脂、ブチラール樹脂、ゴム誘導体、フェノール・
ホルムアルデヒド樹脂等の熱硬化性樹脂の初期縮合物な
どの合成有機高分子を挙げることができる。

【００６７】結合剤を使用する場合に、結合剤の使用量
は、色素１００重量部に対して、一般に２０重量部以下
であり、好ましくは１０重量部以下、更に好ましくは５
重量部以下である。

【００６８】なお、色素記録層２０４が設けられる側の
基板表面には、平面性の改善、接着力の向上および記録
層の変質防止などの目的で、下塗層が設けられてもよ
い。

【００６９】下塗層の材料としては例えば、ポリメチル
メタクリレート、アクリル酸・メタクリル酸共重合体、
スチレン・無水マレイン酸共重合体、ポリビニルアルコ
ール、Ｎ−メチロールアクリルアミド、スチレン・ビニ
ルトルエン共重合体、クロルスルホン化ポリエチレン、
ニトロセルロース、ポリ塩化ビニル、塩素化ポリオレフ
ィン、ポリエステル、ポリイミド、酢酸ビニル・塩化ビ
ニル共重合体、エチレン・酢酸ビニル共重合体、ポリエ
チレン、ポリプロピレン、ポリカーボネート等の高分子
物質；およびシランカップリング剤などの表面改質剤を
挙げることができる。

【００７０】下塗層は、前記物質を適当な溶剤に溶解ま
たは分散して塗布液を調整した後、この塗布液をスピン
コート、ディップコート、エクストルージョンコートな
どの塗布法を利用して基板表面に塗布することにより形
成することができる。下塗層の層厚は一般に０．００５
〜２０μｍの範囲内、好ましくは０．０１〜１０μｍの
範囲内に設けられる。

【００７１】色素記録層２０４が形成された基板２０２
は、第３の搬送機構５０を介して次の裏面洗浄機構５４
に搬送され、基板２０２の一主面の反対側の面（裏面）
が洗浄される。その後、基板２０２は、第４の搬送機構
５６を介して次の番号付与機構５８に搬送され、基板２
０２の一主面又は裏面に対してロット番号等の刻印が行
われる。

【００７２】その後、基板２０２は、第５の搬送機構６
０を介して次の第１の欠陥検査装置６２に搬送され、基
板２０２の欠陥の有無や色素記録層２０４の膜厚の検査
が行われる。この検査は、基板２０２の裏面から光を照
射してその光の透過状態を例えばＣＣＤカメラで画像処
理することによって行われる。この第１の欠陥検査装置
６２での検査結果は次の選別機構６８に送られる。

【００７３】上述の検査処理を終えた基板２０２は、そ
の検査結果に基づいて選別機構６８によって正常品用の
スタックポール６４か、ＮＧ用のスタックポール６６に
搬送選別される。

【００７４】正常品用のスタックポール６４に所定枚数
の基板２０２が積載された段階で、正常品用のスタック
ポール６４はこの塗布設備１４から取り出されて、次の
後処理設備１６に搬送され、該後処理設備１６のスタッ
クポール収容部８０に収容される。この搬送は、台車で
行ってもよいし、自走式の自動搬送装置で行うようにし
てもよい。

【００７５】正常品用のスタックポール６４がスタック
ポール収容部８０に収容された段階で、第６の搬送機構
８２が動作し、スタックポール６４から１枚ずつ基板２
０２を取り出して、後段の第１の静電ブロー機構８４に
搬送する。第１の静電ブロー機構８４に搬送された基板
２０２は、該第１の静電ブロー機構８４において静電気
が除去された後、第７の搬送機構８６を介して次のスパ
ッタ機構８８に搬送される。スパッタ機構８８に投入さ
れた基板２０２は、図７Ｃに示すように、その一主面
中、周縁部分（エッジ部分）２０６を除く全面に光反射
層２０８がスパッタリングによって形成される。

【００７６】光反射層２０８の材料である光反射性物質
はレーザ光に対する反射率が高い物質であり、その例と
しては、Ｍｇ、Ｓｅ、Ｙ、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｈｆ、Ｖ、Ｎ
ｂ、Ｔａ、Ｃｒ、Ｍｏ、Ｗ、Ｍｎ、Ｒｅ、Ｆｅ、Ｃｏ、
Ｎｉ、Ｒｕ、Ｒｈ、Ｐｄ、Ｉｒ、Ｐｔ、Ｃｕ、Ａｇ、Ａ
ｕ、Ｚｎ、Ｃｄ、Ａｌ、Ｇａ、Ｉｎ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｔ
ｅ、Ｐｂ、Ｐｏ、Ｓｎ、Ｂｉなどの金属及び半金属ある
いはステンレス鋼を挙げることができる。

【００７７】これらのうち、好ましいものは、Ｃｒ、Ｎ
ｉ、Ｐｔ、Ｃｕ、Ａｇ、Ａｕ、Ａｌ及びステンレス鋼で
ある。これらの物質は単独で用いてもよいし、あるいは
二種以上を組み合わせて用いてもよい。または合金とし
て用いてもよい。特に好ましくはＡｕ、Ａｇもしくはそ
の合金である。

【００７８】光反射層２０８は、例えば、前記光反射性
物質を蒸着、スパッタリングまたはイオンプレーティン
グすることにより記録層の上に形成することができる。
反射層の層厚は、一般的には１０〜８００ｎｍの範囲
内、好ましくは２０〜５００ｎｍの範囲内、更に好まし
くは５０〜３００ｎｍの範囲内に設けられる。

【００７９】光反射層２０８が形成された基板２０２
は、第８の搬送機構９０を介して次のエッジ洗浄機構９
２に搬送され、図８Ａに示すように、基板２０２の一主
面中、エッジ部分２０６が洗浄されて、該エッジ部分２
０６に形成されていた色素記録層２０４が除去される。
その後、基板２０２は、第９の搬送機構１０２を介して
次の第２の静電ブロー機構９４に搬送され、静電気が除
去される。

【００８０】その後、基板２０２は、同じく前記第９の
搬送機構１０２を介してＵＶ硬化液塗布機構９６に搬送
され、基板２０２の一主面の一部分にＵＶ硬化液が滴下
される。その後、基板２０２は、同じく前記第９の搬送
機構１０２を介して次のスピン機構９８に搬送され、高
速に回転されることにより、基板２０２上に滴下された
ＵＶ硬化液の塗布厚が基板全面において均一にされる。

【００８１】その後、基板２０２は、同じく前記第９の
搬送機構１０２を介して次のＵＶ照射機構１００に搬送
され、基板２０２上のＵＶ硬化液に対して紫外線が照射
される。これによって、図８Ｂに示すように、基板２０
２の一主面上に形成された色素記録層２０４と光反射層
２０８を覆うようにＵＶ硬化樹脂による保護層２１０が
形成されて光ディスクＤとして構成されることになる。

【００８２】保護層２１０は、色素記録層２０４などを
物理的及び化学的に保護する目的で光反射層２０８上に
設けられる。保護層２１０は、基板２０２の色素記録層
２０４が設けられていない側にも耐傷性、耐湿性を高め
る目的で設けることができる。保護層２１０で使用され
る材料としては、例えば、ＳｉＯ、ＳｉＯ₂ 、Ｍｇ
Ｆ ₂ 、ＳｎＯ₂ 、Ｓｉ₃ Ｎ₄ 等の無機物質、及び熱可塑
性樹脂、熱硬化性樹脂、そしてＵＶ硬化性樹脂等の有機
物質を挙げることができる。

【００８３】保護層２１０は、例えば、プラスチックの
押出加工で得られたフイルムを接着剤を介して光反射層
２０８上及び／または基板２０２上にラミネートするこ
とにより形成することができる。あるいは真空蒸着、ス
パッタリング、塗布等の方法により設けられてもよい。
また、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂の場合には、これら
を適当な溶剤に溶解して塗布液を調整したのち、この塗
布液を塗布し、乾燥させることによっても形成すること
ができる。

【００８４】ＵＶ硬化性樹脂の場合には、上述したよう
に、そのまま、もしくは適当な溶剤に溶解して塗布液を
調整したのちこの塗布液を塗布し、ＵＶ光を照射して硬
化させることによって形成することができる。これらの
塗布液中には、更に帯電防止剤、酸化防止剤、ＵＶ吸収
剤等の各種添加剤を目的に応じて添加してもよい。保護
層２１０の層厚は一般には０．１〜１００μｍの範囲内
に設けられる。

【００８５】その後、光ディスクＤは、第１０の搬送機
構１０４を介して次の第２の欠陥検査装置１０６と特性
検査装置１０８に搬送され、色素記録層２０４の面と保
護層２１０の面における欠陥の有無や光ディスクＤの基
板２０２に形成されたグルーブ２００による信号特性が
検査される。

【００８６】第２の欠陥検査装置１０６での検査は、光
ディスクＤの両面に対してそれぞれ光を照射してその反
射光を例えばＣＣＤカメラで画像処理することによって
行われ、特性検査装置１０８での検査は、図７、図１０
及び図１１に示すように、第１〜第３の光学ピックアッ
プ３４０ａ〜３４０ｃからの再生信号Ｓ１〜Ｓ３に基づ
いて行われる。これら第２の欠陥検査装置１０６及び特
性検査装置１０８での各検査結果は次の選別機構１１４
に送られる。

【００８７】上述の欠陥検査処理及び特性検査処理を終
えた光ディスクＤは、各検査結果に基づいて選別機構１
１４によって正常品用のスタックポール１１０か、ＮＧ
用のスタックポール１１２に搬送選別される。

【００８８】正常品用のスタックポール１１０に所定枚
数の光ディスクＤが積載された段階で、該スタックポー
ル１１０が後処理設備１６から取り出されて図示しない
ラベル印刷工程に投入される。

【００８９】ここで、前記特性検査装置１０８での処理
動作について図１４のフローチャートを参照しながら説
明する。

【００９０】まず、図１４のステップＳ１において、光
ディスクＤは、第１０の搬送機構１０４を介して特性検
査装置１０８に搬送され、スピンドルユニット３０２に
おけるテーブル部３３０に載置される。このとき、光デ
ィスクＤの中心孔にテーブル部３３０の膨出部３３４が
挿通され、同時に光ディスクＤの最内周部分が平坦部３
３６上に載置される。平坦部３３６の外径が、光ディス
クＤにおける色素記録層２０４の最内周の径よりも小さ
いため、平坦部３３６の存在によって最内周の再生信号
が得られないという不都合を回避することができる。

【００９１】また、平坦部３３６は、その上面（光ディ
スクＤが載置される面）が平坦とされているため、光デ
ィスクＤが載置されたとき、該光ディスクＤを水平に保
持することができ、第１〜第３の光学ピックアップ３４
０ａ〜３４０ｃを通じての再生信号Ｓ１〜Ｓ３の検出を
高精度に行うことができる。

【００９２】次に、ステップＳ２において、テーブル部
３３０に設けられた吸引孔３３８を通じてのエア吸引が
開始され、このエア吸引によって、光ディスクＤは平坦
部３３６に真空吸着される。

【００９３】次に、ステップＳ３において、スピンドル
ユニット３０２のスピンドルモータ３３２によってテー
ブル部３３０が回転駆動される。このとき、回転をゆっ
くりと開始させるようにする。急激に回転を開始する
と、光ディスクＤに対する真空吸着が外れてしまうおそ
れがあるからである。これは、ステップＳ６での光ディ
スクＤの回転停止でも同じである。

【００９４】次に、第１〜第３の光学ピックアップ３４
０ａ〜３４０ｃを通じて光ディスクＤから全トラックに
ついての再生信号Ｓ１〜Ｓ３を得る。具体的には、第１
の光学ピックアップ３４０ａにおいては、光ディスクＤ
の半径方向に上述した距離ａ１にわたって一定速度で移
動しながら、距離ａ１に含まれるトラックの再生信号Ｓ
１を得、第２の光学ピックアップ３４０ｂにおいては、
光ディスクＤの半径方向に上述した距離ａ２にわたって
一定速度で移動しながら、距離ａ２に含まれるトラック
の再生信号Ｓ２を得、第３の光学ピックアップ３４０ｃ
においては、光ディスクＤの半径方向に上述した距離ａ
３にわたって一定速度で移動しながら、距離ａ３に含ま
れるトラックの再生信号Ｓ３を得る。

【００９５】次に、ステップＳ５において、前記再生信
号Ｓ１〜Ｓ３に基づいて光ディスクＤの良否判別が行わ
れる。

【００９６】この場合、図１０に示すように、コンピュ
ータ３０６に組み込まれた判定手段３０８は、まず、第
１〜第３の波形抽出部３２０ａ〜３２０ｃにおいて、各
光学ピックアップ３４０ａ〜３４０ｃからの再生信号Ｓ
１〜Ｓ３が取り込まれて、図１５Ａ〜図１５Ｃに示すよ
うに、各再生信号Ｓ１〜Ｓ３からそれぞれランドの光反
射率による第１ＤＣ成分Ｓｄ１１、Ｓｄ２１及びＳｄ３
１と、グルーブの光反射率による第２ＤＣ成分Ｓｄ１
２、Ｓｄ２２及びＳｄ３２と、光ディスクＤの半径方向
に移動したことによるトラッキング信号Ｓｔ１、Ｓｔ２
及びＳｔ３の変動波形が抽出される。この変動波形は、
各光学ピックアップ３４０ａ〜３４０ｃが、それぞれ割
り当てられたトラックのランドとグルーブを横切ること
によって生じたトラッキング信号Ｓｔ１、Ｓｔ２及びＳ
ｔ３の波形である。

【００９７】第１〜第３の光学ピックアップ３４０ａ〜
３４０ｃに対応する各第１ＤＣ成分Ｓｄ１１、Ｓｄ２１
及びＳｄ３１、各第２ＤＣ成分Ｓｄ１２、Ｓｄ２２及び
Ｓｄ３２並びに各トラッキング信号Ｓｔ１、Ｓｔ２及び
Ｓｔ３は、後段の第１〜第３の検出部３２２ａ〜３２２
ｃに供給される。

【００９８】第１〜第３の検出部３２２ａ〜３２２ｃに
おいては、供給された第１ＤＣ成分Ｓｄ１１、Ｓｄ２１
及びＳｄ３１と規定の第１ＤＣ成分Ｓｄ１（図１５Ａの
一点鎖線の波形参照）とが比較されて、それぞれランド
の光反射率に関する第１〜第３のずれ量Ｄｄ１１、Ｄｄ
２１及びＤｄ３１が検出され、供給された第２ＤＣ成分
Ｓｄ１２、Ｓｄ２２及びＳｄ３２と規定の第２ＤＣ成分
Ｓｄ２（図１５Ｂの一点鎖線の波形参照）とが比較され
て、それぞれグルーブの光反射率に関する第１〜第３の
ずれ量が検出される。

【００９９】また、供給されたトラッキング信号Ｓｔ
１、Ｓｔ２及びＳｔ３の波形と規定の振幅上の所定範囲
Ｓｔとが比較されて、それぞれ第１〜第３のトラッキン
グ信号Ｓｔ１、Ｓｔ２及びＳｔ３の前記所定範囲に対す
る平均ずれ量Ｄｔ１、Ｄｔ２及びＤｔ３が検出される。

【０１００】これらランドの光反射率に関する第１〜第
３のずれ量Ｄｄ１１、Ｄｄ２１及びＤｄ３１、グルーブ
の光反射率に関する第１〜第３のずれ量Ｄｄ１２、Ｄｄ
２２及びＤｄ３２及び第１〜第３のトラッキング信号Ｓ
ｔ１、Ｓｔ２及びＳｔ３に関する平均ずれ量Ｄｔ１、Ｄ
ｔ２及びＤｔ３は、それぞれ第１〜第３の比較演算部３
２４ａ〜３２４ｃに供給される。

【０１０１】第１〜第３の比較演算部３２４ａ〜３２４
ｃにおいては、ランドの光反射率に関する第１〜第３の
ずれ量Ｄｄ１１、Ｄｄ２１及びＤｄ３１と予め設定され
た許容範囲とが比較され、グルーブの光反射率に関する
第１〜第３のずれ量Ｄｄ１２、Ｄｄ２２及びＤｄ３２と
予め設定された許容範囲とが比較され、第１〜第３のト
ラッキング信号Ｓｔ１、Ｓｔ２及びＳｔ３に関する平均
ずれ量Ｄｔ１、Ｄｔ２及びＤｔ３と予め設定された許容
範囲とが比較される。

【０１０２】更に、第１〜第３の比較演算部３２４ａ〜
３２４ｃにおいては、ランドの光反射率に関する比較結
果、グルーブの光反射率に関する比較結果及びトラッキ
ング信号に関する比較結果を所定の演算規則に従って演
算して、色素記録層２０４の成膜ばらつき等を反映した
第１〜第３の不良の度合いＥ１、Ｅ２及びＥ３が求めら
れる。

【０１０３】そして、後段の判別部３２６において、第
１〜第３の比較演算部３２４ａ〜３２４ｃにて求められ
た第１〜第３の不良の度合いＥ１〜Ｅ３に基づいて光デ
ィスクＤの良否が判別される。この判別結果Ｓｅは、選
別機構１１４に出力され、上述したように選別機構１１
４を通じて光ディスクＤに対する実際の選別が行われ
る。

【０１０４】その後、図１４のステップＳ６において、
前記スピンドルモータ３３２によるテーブル部３３０の
回転駆動が停止される。このとき、回転をゆっくりと停
止させるようにする。

【０１０５】次に、ステップＳ７において、光ディスク
Ｄに対する真空空着が解除され、次の選別機構１１４に
搬出される。そして、次のステップＳ８において、選別
機構１１４は、前記第２の欠陥検査装置１０６と上述し
た特性検査装置１０８からの検査結果に基づいて光ディ
スクＤを良品と不良品のいずれかに選別する。

【０１０６】このように、本実施の形態に係る製造シス
テム１０においては、光ディスクＤの後処理設備１６
に、光ディスクＤを回転させて、該光ディスクＤから再
生信号Ｓ１〜Ｓ３を得、該再生信号Ｓ１〜Ｓ３からラン
ドに関する光反射率のＤＣ成分、グルーブに関する光反
射率のＤＣ成分及びトラッキング信号を検出して、光デ
ィスクＤの良否を枚葉方式で判定する特性検査装置１０
８を組み込むようにしたので、製造過程にある光ディス
クＤは、全てこの特性検査装置１０８での検査を経るこ
とになる。

【０１０７】この場合、特性検査装置１０８に投入され
た光ディスクＤは、まず、回転され、該光ディスクＤか
ら再生信号Ｓ１〜Ｓ３が読み取られる。そして、この再
生信号Ｓ１〜Ｓ３からランドに関する光反射率のＤＣ成
分、グルーブに関する光反射率のＤＣ成分及びトラッキ
ング信号が検出され、これら反射率を示すＤＣ成分やト
ラッキング信号の変動に基づいて光ディスクＤの良否が
判別される。

【０１０８】このように、本実施の形態に係る製造シス
テム１０においては、光ディスクＤの製造過程におい
て、光ディスクＤに対する全数検査が可能で、色素記録
層２０４の成膜ばらつき等の製造履歴を体系的に把握す
ることができ、故障の発生等を迅速に、かつ、的確に発
見することができる。

【０１０９】また、採取段階で抜取り検査を行う必要が
ないため、品質の悪い光ディスクＤを最終段階まで送る
必要がなく、製造処理の無駄を省くことができる。しか
も、最終段階において抜取り検査を行うための手間や時
間を省くことができ、工数の削減を図ることができる。

【０１１０】特に、この実施の形態に係る製造システム
１０においては、３つの光学ピックアップ３４０ａ〜３
４０ｃを使用して１枚の光ディスクＤから再生信号Ｓ１
〜Ｓ３を得るようにしているため、１つの光学ピックア
ップで全トラックの再生信号を得る場合の１／３の時間
で済み、検査時間の大幅な短縮化を図ることができる。

【０１１１】なお、この発明に係る記録媒体の製造シス
テム及びその製造方法は、上述の実施の形態に限らず、
この発明の要旨を逸脱することなく、種々の構成を採り
得ることはもちろんである。

【０１１２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る記録
媒体の製造システム及びその製造方法によれば、記録媒
体の製造過程において、記録媒体に対する全数検査が可
能で、記録層の成膜ばらつき等の製造履歴を体系的に把
握することができ、故障の発生等を迅速に、かつ、的確
に発見することができる。

【０１１３】また、本発明に係る記録媒体の製造システ
ム及びその製造方法によれば、品質の悪い記録媒体を最
終段階までもっていく必要がなく、製造処理の無駄を省
くことができる。また、最終段階において抜取り検査を
行うための手間や時間を省くことができ、工数の削減を
図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施の形態に係る製造システムを示す構成図
である。

【図２】塗布設備に設置されるスピンコート装置を示す
構成図である。

【図３】塗布設備に設置されるスピンコート装置を示す
斜視図である。

【図４】スピンコート装置のノズルを示す平面図であ
る。

【図５】スピンコート装置のノズルの一例を示す側面図
である。

【図６】スピンコート装置のノズルの他の例を一部省略
して示す拡大断面図である。

【図７】本実施の形態に係る製造システムに組み込まれ
る特性検査装置を示す平面図である。

【図８】特性検査装置を示す正面図である。

【図９】特性検査装置のテーブル部を示す拡大図であ
る。

【図１０】判定手段を示すブロック図である。

【図１１】第１〜第３の光学ピックアップの配置関係を
示す説明図である。

【図１２】図１２Ａは基板にグルーブを形成した状態を
示す工程図であり、図１２Ｂは基板上に色素記録層を形
成した状態を示す工程図であり、図１２Ｃは基板上に光
反射層を形成した状態を示す工程図である。

【図１３】図１３Ａは基板のエッジ部分を洗浄した状態
を示す工程図であり、図１３Ｂは基板上に保護層を形成
した状態を示す工程図である。

【図１４】特性検査装置による光ディスクの検査工程を
示すフローチャートである。

【図１５】図１５Ａは再生信号から検出されたランドの
光反射率による第１ＤＣ成分を示す波形図であり、図１
５Ｂは再生信号から検出されたグルーブの光反射率によ
る第２ＤＣ成分を示す波形図であり、図１５Ｃは再生信
号から検出されたトラッキング信号を示す波形図であ
る。

【符号の説明】

１０…製造システム １６…後処理設備 １０４…第１０の搬送機構 １０８…特性検査
装置 １１４…選別機構 ２０４…色素記録
層 ３０４ａ…第１の再生ユニット ３０４ｂ…第２の
再生ユニット ３０４ｃ…第３の再生ユニット ３０８…判定手段 ３３０…テーブル部 ３３６…平坦部 ３３８…吸引孔 ３４０ａ…第１の
光学ピックアップ ３４０ｂ…第２の光学ピックアップ ３４０ｃ…第３の
光学ピックアップ Ｄ…光ディスク

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】基板上に、レーザ光の照射により情報を記
   録することができる記録層を有し、 該記録層上に光反射層を有する記録媒体の製造システム
   において、 前記記録媒体の製造ラインに、該記録媒体を回転させ
   て、該記録媒体から再生信号を得、該再生信号から少な
   くとも反射率及び／又はトラッキング信号を検出して前
   記記録媒体の良否を枚葉方式で判定する検査装置が組み
   込まれていることを特徴とする記録媒体の製造システ
   ム。
2. 【請求項２】請求項１記載の記録媒体の製造システムに
   おいて、 前記検査装置は、前記記録媒体から少なくとも２つ以上
   の光学ピックアップを介して得られた再生信号に基づい
   て前記記録媒体の良否を判定することを特徴とする記録
   媒体の製造システム。
3. 【請求項３】請求項２記載の記録媒体の製造システムに
   おいて、 前記光学ピックアップを少なくとも前記記録媒体におけ
   る記録層の内周側に対応した位置と外周側に対応した位
   置にそれぞれ設置して、前記記録媒体の良否を判定する
   ことを特徴とする記録媒体の製造システム。
4. 【請求項４】請求項１〜３のいずれか１項に記載の記録
   媒体の製造システムにおいて、 前記記録媒体を真空吸着するためのパッドのうち、前記
   記録媒体と接触する面の外径が前記記録媒体における記
   録層の最内周の径よりも小さいことを特徴とする記録媒
   体の製造システム。
5. 【請求項５】基板上に、レーザ光の照射により情報を記
   録することができる記録層を有し、該記録層上に光反射
   層を有する記録媒体の製造方法において、 前記記録媒体を回転させて、該記録媒体から再生信号を
   得、該再生信号から少なくとも反射率及び／又はトラッ
   キング信号を検出して前記記録媒体の良否を枚葉方式で
   判定しながら前記記録媒体を製造することを特徴とする
   記録媒体の製造方法。
6. 【請求項６】請求項５記載の記録媒体の製造方法におい
   て、 前記記録媒体から少なくとも２つ以上の光学ピックアッ
   プを介して得られた再生信号に基づいて前記記録媒体の
   良否を判定することを特徴とする記録媒体の製造方法。
7. 【請求項７】請求項６記載の記録媒体の製造方法におい
   て、 前記光学ピックアップを少なくとも前記記録媒体におけ
   る記録層の内周側に対応した位置と外周側に対応した位
   置にそれぞれ設置して、前記記録媒体の良否を判定する
   ことを特徴とする記録媒体の製造方法。
8. 【請求項８】請求項６記載の記録媒体の製造方法におい
   て、 前記光学ピックアップを少なくとも前記記録媒体におけ
   る記録層の内周側に対応した位置、記録層の半径方向中
   央部に対応する部分と外周側に対応した位置にそれぞれ
   設置して、前記記録媒体の良否を判定することを特徴と
   する記録媒体の製造方法。
9. 【請求項９】請求項５〜８のいずれか１項に記載の記録
   媒体の製造方法において、 前記記録媒体から再生信号を得る際に、前記記録媒体を
   真空吸着し、該記録媒体を回転させながら行うことを特
   徴とする記録媒体の製造方法。