JP2000347897A - プロセッサ及びエミュレータ及び検査方法 - Google Patents

プロセッサ及びエミュレータ及び検査方法

Info

Publication number
JP2000347897A
JP2000347897A JP11156160A JP15616099A JP2000347897A JP 2000347897 A JP2000347897 A JP 2000347897A JP 11156160 A JP11156160 A JP 11156160A JP 15616099 A JP15616099 A JP 15616099A JP 2000347897 A JP2000347897 A JP 2000347897A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
trace
processor
converter
data
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11156160A
Other languages
English (en)
Inventor
Takio Yamashita
太紀夫 山下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP11156160A priority Critical patent/JP2000347897A/ja
Publication of JP2000347897A publication Critical patent/JP2000347897A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Microcomputers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 プロセッサの内部状態のトレースを、接続す
る信号線を少なくしつつも可能とすることを目的とす
る。 【解決手段】 内部動作状態であるトレースデータをD
AC3によってアナログ信号8として出力し、これをト
レース制御部4のADC5でディジタルデータとし、ト
レースメモリ6に格納する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はエミュレータに使用
され、プログラムの実行履歴を保存する機能に関する。
【0002】
【従来の技術】図5は従来のエミュレータのブロック図
を示す。同図においてトレース制御部4はトレースメモ
リ6とタイミング制御回路7から構成されている。プロ
セッサ2から出力されるトレースデータ12を制御信号
9に同期して、トレースメモリ6に順次書き込むことで
プロセッサの実行履歴を保存する。各種情報を示すトレ
ースデータ12はプログラムが実行されるアドレスや、
アクセスされるメモリのアドレス、データ、制御信号等
数十本以上の信号から構成される。このため、従来はこ
のようなトレースデータ出力端子を備えたエミュレータ
専用のデバッグ用プロセッサを開発する必要があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】より多くの情報を記憶
するには、上記に述べたように数十本以上のトレースデ
ータ信号をプロセッサから出力する必要がある。しか
し、このように多数のピンは量産されるプロセッサに搭
載することはできない。またエミュレータ専用のデバッ
グ用プロセッサを開発した場合でも、スイッチングする
信号が非常に多くなるためスイッチングノイズの影響を
受けやすくなる。さらに多くの信号を接続するには太い
ケーブルを必要とし特別な機構が必要となる。
【0004】本発明はかかる課題に鑑み少ない信号線で
プロセッサのトレースデータを出力でき、結果としてデ
バッグ用プロセッサを開発することなく、内部情報をト
レースすることを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
本発明のプロセッサは、デバッグ時に実行履歴を保存す
るためのトレースデータを出力するマイクロプロセッサ
であって、前記トレースデータ出力をアナログデータと
して出力するため、DA変換器を備えている。この構成
により、内部情報を出力するのに必要な信号線数が減少
させることができる。
【0006】また本発明のエミュレータは、前述するプ
ロセッサの出力するアナログデータを入力とし、そのア
ナログデータから元のトレースデータを復元するための
AD変換器を備え、その出力をトレースメモリに記憶す
ることでプロセッサの実行履歴を保存することができる
トレース制御部を備えている。この構成により、メモリ
に記憶される実行履歴は通常のデジタルデータとなり従
来のソフトウェアによる表示等の制御が可能となる。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図1から図3を用いて説明する。
【0008】図1に、本発明の第1の実施の形態におけ
るエミュレータ1の構成を示すブロック図を示す。図1
においてプロセッサ2は、トレースする信号を入力とす
るDA変換器3を持つ。トレース制御部4はプロセッサ
2の出力するDA変換器3の出力を入力とするAD変換
器5とAD変換器5のデジタル出力を書き込むトレース
メモリ6とトレースメモリを制御するタイミング制御回
路7から構成される。
【0009】以上のように構成された本発明のエミュレ
ータについて、トレースデータを書き込む場合の動作を
説明する。
【0010】DA変換器3はタイミング制御信号9に同
期してDA変換を行うとともに、一つ前のDA変換結果
をアナログ信号として出力する。トレース制御部4のA
D変換器5は同様にタイミング制御信号9に同期して、
AD変換を行い結果を出力する。タイミング制御回路7
は前述のAD変換器5の出力にあわせてトレースメモリ
6への書き込み信号を発生させることでデジタルデータ
に復元されたトレースデータをトレースメモリに書き込
む。
【0011】以上のように本発明の実施の形態のエミュ
レータは、プロセッサのトレース情報出力部にDA変換
器を設け、かつトレース制御部にAD変換器を設けてい
るので、多ビットのトレースデータを少数のアナログ信
号で出力する事ができる。
【0012】図2は本発明の第2の実施の形態における
エミュレータの構成を示すブロック図である。これは上
記第1の実施の形態に、さらにAD変換前のトレース情
報の最下位ビット10を設けた点が相違している。この
最下位ビット10を設けることにより、AD,DA変換
を通したデータではなく、AD変換前のデジタルデータ
を直接トレースメモリに書き込むことで、AD,DA変
換時の量子化誤差や外部ノイズによるデータの変動を排
除することが可能となる。
【0013】図3は本発明の第3の実施の形態における
プロセッサのアナログ出力を利用した検査装置の構成を
示すブロック図である。
【0014】これは本発明で付加されたプロセッサから
のアナログ出力を利用して、簡易に構成することができ
る検査装置の例である。図3においてオシロスコープ1
1はプロセッサ2のアナログ出力8と接続されている。
このように構成された検査装置はプロセッサ2のプログ
ラム実行履歴をオシロスコープ11上に波形表示するこ
とが可能となる。
【0015】この場合の波形の例を図4に示す。図4に
おいて正常に動作している場合の波形12はあらかじめ
オシロスコープに記憶された波形であって、この波形を
検査対象となる装置の波形13と同一画面上に表示する
ことによって、正常に動作している波形との比較を目視
で行うことができる。すなわち正常に動作していない機
器の波形は、14の部分に示すように正常動作時の波形
とは異なるため、正常動作する装置の波形と検査対象の
装置の波形を比べることによって、非常に簡便な検査装
置を構成することができる。
【0016】
【発明の効果】以上のように本発明に係るエミュレータ
は、DA変換器1組につき1本のアナログ信号を持つプ
ロセッサと、前記アナログ信号をAD変換し、トレース
メモリに記憶する手段を備えるトレース制御部で構成す
ることにより、従来技術では多くの信号接続が必要であ
ったトレースデータが少数のアナログ信号で得ることが
できる。信号線が減少することで、プロセッサのピン数
の削減、信号のスイッチングによるノイズの削減、容易
な接続を実現することが可能となる。さらに命令実行ア
ドレスのように局所性のあるトレースデータの場合は、
アナログデータのデータ変位量が小さくなり、デジタル
出力に比較してノイズを低減することができる。
【0017】さらに外部にオシロスコープを接続するだ
けで、プロセッサの実行状態を波形表示して、正常時の
実行波形との目視比較が可能となり、非常に簡便な検査
環境を構築することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態におけるエミュレー
タの構成を示すブロック図
【図2】本発明の第2の実施の形態におけるエミュレー
タの構成を示すブロック図
【図3】本発明の第3の実施の形態における検査装置の
構成を示すブロック図
【図4】本発明の第3の実施の形態における検査装置の
使用例を示す図
【図5】従来例のブロック図
【符号の説明】
1 エミュレータ 2 プロセッサ 3 DA変換器 4 トレース制御部 5 AD変換器 6 トレースメモリ 7 タイミング制御回路 8 DA変換したトレースデータ 9 タイミング制御信号 10 トレースデータの最下位ビット 11 オシロスコープ 12 正常動作時の実行時の波形 13 検査対象の実行時の波形 14 正常動作時と動作が異なっている点

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 デバッグ時のリアルタイムトレースを実
    現するエミュレータであって、プロセッサ内部の情報す
    なわちトレースデータをアナログ信号で伝送することを
    特徴とするエミュレータ。
  2. 【請求項2】 前記トレースデータの出力手段として、
    内部トレース情報をアナログデータとして出力するため
    DA変換器を備えることを特徴とするプロセッサ。
  3. 【請求項3】 請求項2記載のプロセッサであって、さ
    らに内部トレース情報の一部をデジタルデータとして出
    力することを特徴とするプロセッサ。
  4. 【請求項4】 前記トレースデータの保存手段として、
    請求項2または3のプロセッサの出力するアナログデー
    タを入力とし、そのアナログデータから元の内部トレー
    ス情報を復元するためのAD変換器を備え、その出力を
    メモリに記憶することでプロセッサの実行履歴を保存す
    ることを特徴とするトレース制御部を備える請求項1記
    載のエミュレータ。
  5. 【請求項5】 請求項2または3のプロセッサのアナロ
    グ出力にオシロスコープを接続して、波形を表示し正常
    動作時の波形と比較することで異常判定を行うことを特
    徴とする検査方法。
JP11156160A 1999-06-03 1999-06-03 プロセッサ及びエミュレータ及び検査方法 Pending JP2000347897A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11156160A JP2000347897A (ja) 1999-06-03 1999-06-03 プロセッサ及びエミュレータ及び検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11156160A JP2000347897A (ja) 1999-06-03 1999-06-03 プロセッサ及びエミュレータ及び検査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000347897A true JP2000347897A (ja) 2000-12-15

Family

ID=15621669

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11156160A Pending JP2000347897A (ja) 1999-06-03 1999-06-03 プロセッサ及びエミュレータ及び検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000347897A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008026083A (ja) * 2006-07-19 2008-02-07 Yokogawa Electric Corp テストシステム
WO2014041971A1 (ja) * 2012-09-13 2014-03-20 オムロン株式会社 監視装置、監視方法、プログラムおよび記録媒体

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008026083A (ja) * 2006-07-19 2008-02-07 Yokogawa Electric Corp テストシステム
WO2014041971A1 (ja) * 2012-09-13 2014-03-20 オムロン株式会社 監視装置、監視方法、プログラムおよび記録媒体
JP2014056509A (ja) * 2012-09-13 2014-03-27 Omron Corp 監視装置、監視方法、プログラムおよび記録媒体
US9494932B2 (en) 2012-09-13 2016-11-15 Omron Corporation Monitoring device, monitoring method, and recording medium

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5850512A (en) Bus analyzer and method for testing internal data paths thereof
JPH11282713A (ja) マイクロコンピュータ、電子機器及びデバッグシステム
JPH0434110B2 (ja)
JPH11328995A (ja) メモリ試験装置
US6484273B1 (en) Integrated EJTAG external bus interface
US6598150B2 (en) Asynchronously accessing the program counter values of a data processing system by applying an independent clock on the latching and scan-chain circuits
JP2000347897A (ja) プロセッサ及びエミュレータ及び検査方法
JPH08161476A (ja) インターフェース用検査装置
JP2877505B2 (ja) Lsi実装ボード及びデータ処理装置
JP3057217B2 (ja) 波形表示装置
JPH03231798A (ja) ディスプレイ制御装置
JPH01239485A (ja) 大規模集積回路
JP2505571B2 (ja) 記憶装置の診断方法
JPH0212436A (ja) 半導体装置
JPS59171096A (ja) 磁気バブルメモリ装置
JPH0566971A (ja) トレースが行われる半導体装置および複数の前記半導体装置をトレースする診断システム
JPH02276090A (ja) 半導体メモリ集積回路
JPH0322041A (ja) リアル・タイム・トレーサー
KR920006830A (ko) Cip보드 고장상태 표시방법 및 장치
JPH03142536A (ja) 記憶装置の診断方式
JP2002311110A (ja) 半導体集積回路試験装置
JPH03177947A (ja) メモリ装置の診断回路
JPH0720836A (ja) 表示制御装置
JP2002324059A (ja) マイコン内蔵ramの評価装置及び評価方法
JPH04232537A (ja) トレースシステム