JP2008026083A - テストシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、テストプログラムにより、被試験対象の試験を行うと共に、トリガ信号を入力し、このトリガ信号入力時のテストプログラムの実行中の位置データを記録するICテスタと、このICテスタを波形観測し、トリガ信号をICテスタに出力するオシロスコープとを備えたことを特徴とするものである。
【選択図】図1
Description
テストプログラムにより、被試験対象の試験を行うと共に、トリガ信号を入力し、このトリガ信号入力時のテストプログラムの実行中の位置データを記録するICテスタと、
このICテスタを波形観測し、トリガ信号をICテスタに出力するオシロスコープと
を備えたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載のテストシステムであって、
ICテスタは、
テストプログラムを記憶する記憶部と、
被試験対象を試験する試験部と、
この試験部を、前記記憶部のテストプログラムにより制御するコントローラと、
前記テストプログラムの位置データを記憶する位置記憶部と、
この位置記憶部に、オシロスコープのトリガ信号により、前記コントローラのテストプログラム実行中の位置データを記録する記録部と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項2記載の発明であって、
記録部は、
マスクデータを記憶するマスク記憶部と、
このマスク記憶部のマスクデータにより、マスクに該当しない場合、位置データの記録を行い、マスクに該当する場合、位置データの記録を行わないマスク処理部と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項1,2によれば、オシロスコープのトリガ信号により、ICテスタが、テストプログラムの位置データを記録するので、テストプログラムの異常箇所を容易に検出できる。
請求項3によれば、マスク処理部が、マスク記憶部のマスクデータにより、位置データの記録を行わないので、検出不要な異常個所を除外することができる。
また、マスク処理部452が、マスク記憶部451のマスクデータにより、位置データの記録を行わないので、検出不要な異常個所を除外することができる。
2 パフォーマンスボード
3 テストヘッド
4 本体
41 記憶部
42 本体試験部
43 コントローラ
44 メモリ
45 記録部
451 マスク記憶部
452 マスク処理部
5 オシロスコープ
Claims (3)
- テストプログラムにより、被試験対象の試験を行うと共に、トリガ信号を入力し、このトリガ信号入力時のテストプログラムの実行中の位置データを記録するICテスタと、
このICテスタを波形観測し、トリガ信号をICテスタに出力するオシロスコープと
を備えたことを特徴とするテストシステム。 - ICテスタは、
テストプログラムを記憶する記憶部と、
被試験対象を試験する試験部と、
この試験部を、前記記憶部のテストプログラムにより制御するコントローラと、
前記テストプログラムの位置データを記憶する位置記憶部と、
この位置記憶部に、オシロスコープのトリガ信号により、前記コントローラのテストプログラム実行中の位置データを記録する記録部と
を設けたことを特徴とする請求項1記載のテストシステム。 - 記録部は、
マスクデータを記憶するマスク記憶部と、
このマスク記憶部のマスクデータにより、マスクに該当しない場合、位置データの記録を行い、マスクに該当する場合、位置データの記録を行わないマスク処理部と
を設けたことを特徴とする請求項2記載のテストシステム。
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