JP2000286694A - 電圧レベルシフタ - Google Patents

電圧レベルシフタ

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JP2000286694A JP2000057907A JP2000057907A JP2000286694A JP 2000286694 A JP2000286694 A JP 2000286694A JP 2000057907 A JP2000057907 A JP 2000057907A JP 2000057907 A JP2000057907 A JP 2000057907A JP 2000286694 A JP2000286694 A JP 2000286694A
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 電圧レベルシフタの性能を改善する。 【解決手段】 第1の回路分岐部は、出力に接続された
出力電極および第1の入力に接続された制御電極を有す
る、第1の導電型の第1のトランジスタT1と、出力に
接続された出力電極、直接入力信号に対応する信号を受
け取る制御電極、および第2の入力に接続された共通電
極を有する、第1の導電型と反対である第2の導電型の
第2のトランジスタT2とを有し、第2のトランジスタ
の制御電極は第2の回路分岐部に接続されており、第2
の回路分岐部は、第1の導電型である第3および第4の
トランジスタT3、T4を有しており、第3および第4
のトランジスタの主たる導電経路は第1および第2の電
源供給入力間に直列に接続されており、第4のトランジ
スタの制御電極は第1の入力に接続されており、第2の
トランジスタの制御電極は第3のトランジスタの出力電
極および第4のトランジスタの共通電極に接続されてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電圧レベルシフタ
に関する。本発明のシフタは例えば、大面積シリコン−
オン−インシュレータ(SOI)回路において、より小
さい振幅を有する信号とのインターフェースをとるため
に用いられ得る。そのようなアプリケーションの一例と
して、低温ポリシリコン薄膜トランジスタ(TFT)を
用いて作製される、液晶ディスプレイなどのフラットパ
ネルマトリクスディスプレイ用のモノリシックドライバ
回路(3.3〜5ボルトの信号レベルと10〜20ボル
トの信号レベルとの間のインターフェースをとることが
しばしば要求される)がある。他のアプリケーションと
しては、ランダムアクセスメモリ(RAM)においてラ
インセンスアンプの応答時間の改善に用い得る。
【0002】
【従来の技術】図1は、単純な電圧レベルシフタとして
用いられ得る、基本的なCMOSインバータを示してい
る。このインバータは、P型トランジスタT1およびN
型トランジスタT2を有しており、これらのトランジス
タのドレインは互いに接続され、ソースは電源線vdd
および接地線gndにそれぞれ接続されている。トラン
ジスタT1およびT2のゲートは互いに接続され、とも
に入力端子INに接続されている。トランジスタT1お
よびT2のドレインは互いに接続され、ともに反転出力
!OUTに接続されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】入力信号は、インバー
タスイッチポイントを基準として、電源線vddおよび
接地線gndによって規定される電圧未満の論理レベル
間を、振動し得る。出力は電源線vddおよび接地線g
ndの電圧とほぼ等しい電圧レベルの間で振動するた
め、このインバータはレベルシフタとして動作し得る。
しかし実用においてはこのレベルシフトの程度は比較的
小さい。なぜなら、インバータスイッチポイントに近い
電圧は、トランジスタT1およびT2の同時的かつ望ま
しくない導通をさせてしまうからである。これが起こら
ないための条件は、
【0004】
【数1】
【0005】である。上式において、VDDは電源線v
dd上の電圧である。VTnおよびVTpはそれぞれ、N型
トランジスタおよびP型トランジスタのしきい電圧であ
る。
【0006】図2は、例えばUS4707623号に開
示されている、別のタイプの低入力電圧用の信号入力レ
ベルシフタを示している。このシフタは、第1のP型ト
ランジスタT1および第2のN型トランジスタT2を含
む第1の回路分岐部を有している。第1のトランジスタ
T1および第2のトランジスタT2のドレインは互いに
接続され、ともに反転出力!OUTに接続されている。
第1のトランジスタT1および第2のトランジスタT2
のソースはそれぞれ、電源線vddおよび接地線gnd
に接続されている。またこのシフタは、第3のP型トラ
ンジスタT3および第4のP型トランジスタT4を含む
第2の回路分岐部を有している。第3のトランジスタT
3のソースは電源線vddに接続され、第4のトランジ
スタT4のドレインは接地線gndに接続されている。
トランジスタT3のドレインはトランジスタT4のソー
スに接続され、かつトランジスタT2のゲートに接続さ
れている。入力INは、トランジスタT1およびT4の
ゲートに接続されている。バイアス電圧入力Vbは、ト
ランジスタT3のゲートに接続されている。トランジス
タT3およびT4は、ソースフォロワ接続されており、
その出力電圧は、トランジスタT3およびT4がマッチ
ングされておりかつ飽和状態にあるとき、V IN+(VD
D−Vb)で与えられる。入力信号はトランジスタT1
のゲートを直接駆動する。一方ソースフォロワの出力
は、正方向に(VDD−Vb)だけシフトされた入力信
号のコピーを用いて、トランジスタT2のゲートを駆動
する。これらの電圧レベルはトランジスタT1およびT
2をスイッチするために十分であり、トランジスタT1
およびT2は、電源電圧より実質的に低いhigh状態
論理入力レベルおよび、接地電位と実質的に等しいlo
w状態論理入力レベルを有する、プッシュ−プルデバイ
スとして動作する。
【0007】図3は、図2に示すレベルシフタを、バイ
アス電圧入力Vbを接地に接続した状態で0〜5ボルト
入力を15〜0ボルト出力にシフトするために用いた場
合の、シミュレーション結果を示す。このシミュレーシ
ョンにおいて、適正な動作が得られるようにトランジス
タT2が他のトランジスタの幅の2倍にされている以外
は、全てのトランジスタは等しいサイズにされている。
このシミュレーションにおいて出力!OUTには、図1
に示すタイプのインバータの入力が負荷として与えられ
ている。シミュレーションされたトランジスタ性能は、
低温ポリシリコンTFT技術で達成される性能と同等で
ある。
【0008】図3は、入力信号IN、出力信号!OUT
および電源電圧VDDの電圧レベルを示している。ま
た、このシミュレーションにおいて出力が接続されてい
ることを想定しているインバータの、スイッチングレベ
ルも示している。出力!OUTは、インバータのスイッ
チポイントを基準にして、特に2.3ボルトと10.4
ボルトとの間で振動する。しかし、出力における電圧の
変化が小さいので、インバータスイッチレベルを基準に
した十分な電圧振動を確実にするためには、トランジス
タT1およびT2のスケーリングは比較的正確になされ
なければならない。またこの信号は、インバータトラン
ジスタの少なくとも1つを十分にはオフにせず、このた
め、インバータ中での消費電流が比較的高くなる。
【0009】図4は、A.Bellaouarおよび
M.Elmasry、”Low−power Digi
tal VLSI Design Circuits
andSystems”、Kluwer Academ
ic Publishers、1995に開示されたタ
イプの、公知のタイプのCMOSセンスアンプを示して
いる。このセンスアンプは、第2のP型トランジスタT
2、第6のP型トランジスタT6、第1のN型トランジ
スタT1、第5のN型トランジスタT5、および第7の
N型トランジスタT7を有している。トランジスタT7
はテール電流源として機能し、そのソースは接地gnd
に接続され、ゲートはバイアス電圧入力Vbに接続され
ている。トランジスタT1およびT5はロングテールペ
ア接続されており、トランジスタT1およびT5のソー
スはトランジスタT7のドレインに接続され、トランジ
スタT1のゲートは直接入力信号を受け取る第1の入力
INに、そしてトランジスタT5のゲートは反転入力信
号を受け取る第2の入力!INにそれぞれ接続されてい
る。トランジスタT1のドレインは出力!OUTおよび
トランジスタT2のドレインに接続されており、トラン
ジスタT5のドレインは出力OUTおよびトランジスタ
T6のドレインに接続されている。トランジスタT2お
よびT6のソースは電源線vddに接続されている。ト
ランジスタT2のゲートはトランジスタT6のドレイン
に接続されており、トランジスタT6のゲートはトラン
ジスタT2のドレインに接続されている。
【0010】従ってこのセンスアンプは、2つの差動入
力および2つの差動出力を有する。このアンプの動作説
明のために、トランジスタは完全にマッチングされてお
り、同じ入力電圧レベルが入力に供給されていることに
より、テール電流は、トランジスタT1およびT2を含
む第1の回路分岐部とトランジスタT5およびT6を含
む第2の回路分岐部とに等しい分量が流れるものと仮定
する。この条件は準安定であり、差動入力電圧の揺動に
応答して変化する。例えば、入力INにおける電圧が反
転入力!INにおける電圧よりも少し高ければ、トラン
ジスタT1はトランジスタT5よりも強くオン状態にな
る。これは、反転出力!OUTにおける電圧を低下させ
る効果を有する。トランジスタT6はよりオンにされ、
これは直接出力OUTにおける電圧を増加させる。従っ
てトランジスタT2はさらにオフにされ、このことによ
り反転出力!OUTにおける電圧を低下させかつ出力O
UTにおける電圧を増加させる。このように、入力IN
および!INに供給される電圧間のわずかなアンバラン
スが、センスされて増幅される。しかし、幾分かのテー
ル電流が常に流れているため、出力電圧は接地電位と電
源線電位との間を振動し得ない。
【0011】図5は、図4に示すアンプの「反転論理」
による構成例を示している。特に、トランジスタの導電
型を逆にし、電源電圧の極性を逆にしている。このよう
な構成は、入力および出力のlow論理状態側を接地し
た状態で入力のhigh論理状態をレベルシフトするた
めに、より有用である。
【0012】図6は、図5に示すアンプのシミュレーシ
ョン結果を示している。このシミュレーションでは、図
2のシフタのシミュレーション結果を示す図3と同じ条
件を用いている。まず、直接入力信号INがlowであ
り(従って反転入力信号!INがhighである)、か
つ反転出力信号!OUTがhighである(従って直接
出力OUTがlowである)。入力信号の状態が変化す
ると、トランジスタT5はトランジスタT1よりも強く
オン状態になる。トランジスタT5は、トランジスタT
6に抑制されながら、出力OUTをhighに上げ始め
る。この抑制は、トランジスタT2のゲートがしきい値
に達し、出力!OUTを放電してトランジスタT6をオ
フし始めるまで続く。従って、これらの出力は、3.0
ボルトから13.6ボルトの間の電圧振動をともなって
変化する。
【0013】図7は、シングルエンド電流ミラーセンス
アンプを示している。この構成は、トランジスタT2お
よびT6が電流ミラー接続されている点において、図4
に示す構成とは異なる。このようなアンプは、N.We
steおよびK.Eshraghian、”Princ
iples of CMOS VLSI Desi
g”、Addison Wesley、1993に開示
されており、スタティックRAM回路において普通に用
いられているものである。図7のアンプの動作は図4に
示したものと同様である。
【0014】図8は、論理high入力状態を接地に対
してブーストするための、別の公知のタイプのレベルシ
フタを示している。このアンプは、P型トランジスタT
2a、T2b、T6a、およびT6bならびに、N型ト
ランジスタT1およびT5を有しており、N型トランジ
スタの幅の方が他のトランジスタの幅よりも有意に広く
なっている。トランジスタT2b、T2aおよびT1は
電源線vddと接地gndとの間に直列に接続されてお
り、一方、トランジスタT6b、T6aおよびT5が電
源線vddと接地gndとの間に直列に接続されてい
る。トランジスタT1およびT5のドレインはそれぞれ
出力!OUTおよびOUTに接続されている。トランジ
スタT2aおよびT1のゲートは入力INに接続されて
いる。トランジスタT6aおよびT5のゲートは反転入
力!INに接続されている。トランジスタT2bおよび
T6bのゲートはそれぞれ出力OUTおよび!OUTに
接続されている。
【0015】図8のアンプの動作説明のために、入力I
Nはlow状態にあり、入力!INはhigh状態にあ
り、出力OUTはlow状態にあり、出力!OUTはh
igh状態にあるものと仮定する。入力INがhigh
になり反転入力!INがlowになるように入力がスイ
ッチングされると、トランジスタT1がオンにされ、ト
ランジスタT2aおよびT2bに抑制されながら出力!
OUTを下げる。この抑制は、トランジスタT2bがオ
ンされたままであるのに対し、トランジスタT2aは入
力INにおけるhigh入力論理レベルによって十分に
はオフにされていないことに起因して発生する。トラン
ジスタT1が出力!OUTをlowに下げると、トラン
ジスタT6bはオンにされ、トランジスタT6bおよび
T6aが導通することにより、トランジスタT2bをオ
フにする。出力状態は従ってスイッチングする。しか
し、このレベルシフタは、入力論理レベルがN型トラン
ジスタT1およびT5のしきい電圧よりも高くなければ
ならないという制約を有する。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、第1の
回路分岐部と、直接入力信号を受け取る第1の入力と、
反転入力信号を受け取る第2の入力と、直接入力信号に
対して反転されかつレベルシフトされた反転出力信号を
生成するための出力とを有する電圧レベルシフタであっ
て、第1の回路分岐部は、出力に接続された出力電極お
よび第1の入力に接続された制御電極を有する、第1の
導電型の第1のトランジスタと、出力に接続された出力
電極、直接入力信号に対応する信号を受け取るように構
成された制御電極、および第2の入力に接続された共通
電極を有する、第1の導電型と反対である第2の導電型
の第2のトランジスタと、を有する、電圧レベルシフタ
が提供され、第2のトランジスタの制御電極は第2の回
路分岐部に接続され、第2の回路分岐部は、第1の導電
型である第3および第4のトランジスタを有していても
よく、第3および第4のトランジスタの主たる導電経路
は第1および第2の電源供給入力間に直列に接続されて
おり、第4のトランジスタの制御電極は第1の入力に接
続されており、第2のトランジスタの制御電極は第3の
トランジスタの出力電極および第4のトランジスタの共
通電極に接続されており、そのことにより上記目的が達
成される。
【0017】第1のトランジスタの共通電極は、第1の
電源供給入力に接続されていてもよい。
【0018】第3のトランジスタの制御電極は、第1の
バイアス電圧入力に接続されていてもよい。
【0019】第3のトランジスタの制御電極は、第2の
入力に接続されていてもよい。
【0020】第1の入力は、第8のトランジスタの主た
る導電経路を介して第1および第4のトランジスタの制
御電極に接続されており、第8のトランジスタの制御電
極は直接ゲーティング信号を受け取る第1のゲーティン
グ入力に接続されていてもよい。
【0021】第3の制御電極は、反転ゲーティング信号
を受け取る第2のゲーティング入力に接続されていても
よい。
【0022】第2のトランジスタの制御電極は、第9の
トランジスタの主たる導電経路を介して第2の電源供給
入力に接続されており、第9のトランジスタの制御電極
は第2のゲーティング入力に接続されていてもよい。
【0023】第1のトランジスタの制御電極は、第10
のトランジスタの主たる導電経路を介して第2の電源供
給入力に接続されており、第10のトランジスタの制御
電極は第2のゲーティング入力に接続されていてもよ
い。
【0024】出力はインバータの入力に接続されていて
もよい。
【0025】トランジスタの各々は電界効果トランジス
タであり、出力電極、制御電極および共通電極はそれぞ
れ、ドレイン電極、ゲート電極およびソース電極であっ
てもよい。
【0026】トランジスタの各々はアモルファスシリコ
ン薄膜トランジスタであってもよい。
【0027】トランジスタの各々はポリシリコン薄膜ト
ランジスタであってもよい。
【0028】レベルシフタは、CMOS集積回路の少な
くとも一部を含んでなってもよい。
【0029】このようにして、レベルシフタの性能を改
善することが可能である。特に、以下の利点のうち1つ
以上が達成され得る。 (a)非常に低い入力電圧による動作を可能にする改善
された感度。 (b)より高速な応答時間。 (c)プロセス変動に対するより大きなロバスト性。 (d)改善された論理レベル電圧から得られるより低い
消費電力。 (e)エラーの無い、より大きな電圧レベルシフト。
【0030】
【発明の実施の形態】以下に、本発明を図面を参照して
さらに説明する。図面において、同じ参照符号は同じ部
材を指す。
【0031】図9に示すレベルシフタは、図2に示すも
のと同様であるので、差違部分のみを説明する。特に、
第2のトランジスタT2のソースは、反転入力信号(す
なわち入力INに供給される直接入力信号の論理的補数
である信号)を受け取る、第2の反転入力!INに接続
されている。
【0032】図9のレベルシフタの動作において、入力
INがhighであり、入力!INがlowであると
き、前述した図2のレベルシフタと同様の動作を行う。
従って出力!OUTは図10に示すように、2.3ボル
トに下げられる。入力INがlowになり、入力!IN
がhighになると、第3のトランジスタT3は強くオ
ンにされ、出力!OUTをhighに引き上げようとす
る。第3および第4のトランジスタT3およびT4で形
成されるソースフォロワは、電源電圧VDD(15ボル
ト)よりも低くかつトランジスタT2をオンにするのに
十分な電圧で、トランジスタT2のゲートを駆動する。
入力!INにおける5ボルト入力はトランジスタT2の
ソースに供給され、そのことによりトランジスタT2の
ゲート−ソース電圧を減少させ、結果として出力!OU
Tにおけるゲートオーバードライブおよびプルダウン能
力が制限される。
【0033】結果、第1のトランジスタT1の作用によ
り、出力!OUTは14.4ボルトまで引き上げられ
る。これにより、図2に示したレベルシフタによって得
られる図3に示す出力振動と比較して、より大きな出力
振動が、図10に示すように得られる。図9に示すよう
に、出力!OUTは、例えば図1に示すタイプであるイ
ンバータIの入力に接続され得る。より大きな出力電圧
振動により、インバータIがより完全にスイッチングさ
れ、また、トランジスタT1とT2との相対的なスケー
リングがあまり重要ではなくなる。
【0034】図11に示すレベルシフタは、トランジス
タT3のゲートが反転入力!INに接続されている点に
おいて、図9に示すものとは異なっている。従って反転
入力信号は、トランジスタT3およびT4を含んでなる
ソースフォロワへバイアス電圧を供給し、出力!OUT
において提供される出力電圧振動を増加する。入力IN
がhighであり入力!INがlowのとき、トランジ
スタT3に供給されるバイアス電圧は0ボルトである。
【0035】下記の式で与えられるソースフォロワの伝
達特性は、出力電圧、ひいてはトランジスタT2のゲー
トを最大にブーストさせる。
【0036】
【数2】
【0037】これにより、出力!OUTが極限まで引き
下げられることを容易にする。しかしながら、入力IN
がlowでありかつ入力!INがhighのときは、ト
ランジスタT3に供給されるバイアス電圧は小さい正の
電圧である。従って、ソースフォロワはより小さい電圧
シフトで動作し、トランジスタT2のゲート電圧がより
低くなることにより出力!OUTがより高く引き上げら
れることを確実にする。
【0038】図12は、クロス結合されたN型CMOS
センスアンプとしてのレベルシフタを示している。図1
2のレベルシフタは、図5に示すものと同様であるた
め、その差違部分のみを説明する。特に、第2のトラン
ジスタT2のソースは入力!INに接続され、第6のト
ランジスタT6のソースは入力INに接続されている。
このため、トランジスタT2およびT6のゲート−ソー
ス電圧を変化させることにより、高速にレベルシフタを
スイッチングできる。
【0039】図12のレベルシフタの動作を図13に示
す。図13は、前述と同様なパラメータのシミュレーシ
ョン結果である。この場合レベルシフタの出力は、図5
のレベルシフタの振動(図6)と同じ電圧レベル間で振
動するが、入力信号の変化に対する応答はずっと高速で
ある。例えば、入力INがhighになるとき、第5の
トランジスタT5は第1のトランジスタT1よりも強く
オン状態になる。トランジスタT5は、トランジスタT
6に抑制されながら出力OUTをhighに引き上げ始
める。しかし、トランジスタT6のソース端子電圧が5
ボルトに上がることにより、トランジスタT6のゲート
オーバードライブが減少される効果を有する。その結
果、トランジスタT5は出力OUTおよびトランジスタ
T2のゲートをより高速に充電することができる。
【0040】逆の入力変化に際しても同じ動作が起こ
る。従って、レベルシフタの応答はより高速である。
【0041】図14は、図7に示したタイプのソース結
合電流ミラーセンスアンプを示すが、ただし極性が逆で
あり、図12のレベルシフタにおけると同様にトランジ
スタT2およびT6のソースがそれぞれ入力!INおよ
びINに接続されている。従って図12のレベルシフタ
について上述したのと同様な基本動作およびレベルシフ
トの改善が得られる。
【0042】図15に示すレベルシフタは、図9に示す
レベルシフタをもとに、ゲーティングを提供するように
改変されている。従って、クロック信号CKを受け取る
ように図示されている直接入力は、第8のトランジスタ
T8のソースに接続されている。第8のトランジスタT
8のドレインは、トランジスタT1およびT4のゲート
に接続されている。第8のトランジスタT8のゲート
は、直接ゲーティング信号Gを受け取るゲーティング入
力に接続されている。トランジスタT3のゲートは、反
転ゲーティング信号を受け取る第2のゲーティング入力
!Gに接続されている。トランジスタT2のゲートは、
第9のトランジスタT9のソース−ドレイン経路を介し
て接地に接続されている(第9のトランジスタT9のゲ
ートは第2のゲーティング入力!Gに接続されてい
る)。トランジスタT1のゲートは、第10のトランジ
スタT10のソース−ドレイン経路を介して接地に接続
されている(第10のトランジスタT10のゲートは第
2のゲーティング入力!Gに接続されている)。上記構
成により、このレベルシフタは、入力Gおよび!Gにお
けるゲーティング信号によって抑止状態にスイッチング
されたとき、ほとんど電流を流さないことを可能にす
る。入力Gおよび!Gがそれぞれhighおよびlow
であることによりレベルシフタがイネーブルされると
き、トランジスタT8は、直接入力信号をトランジスタ
T1およびT4のゲートに渡す。トランジスタT2のソ
ースは、レベルシフタの第2の入力において反転クロッ
ク信号!CKを受け取る。結果としてトランジスタT3
のゲートは接地されることにより、ソースフォロワは、
入力信号に最大ブーストが与えられるように動作する。
トランジスタT9およびT10がオフにされることによ
り、図9のレベルシフタについて前述したのと同様に本
レベルシフタは動作する。
【0043】ゲーティング信号Gおよび!Gがそれぞれ
lowおよびhighであるとき、トランジスタT9お
よびT10がオンにされることにより、トランジスタT
2がオフにされ、トランジスタT1がオンにされ、そし
てトランジスタT1およびT2のドレイン上の出力がh
ighになる。トランジスタT3がオフ状態であり、ト
ランジスタT1およびT4がトランジスタT8(オフ状
態である)によってクロック信号CKから切り離される
ため、トランジスタT16およびT17によって形成さ
れるインバータIの出力はlowに保たれる。
【0044】イネーブルモード動作およびディスエーブ
ルモード動作の両方において、相補的クロック信号CK
および!CKは、いずれのトランジスタのゲートも直接
には駆動しない。むしろ、クロック信号は、トランジス
タT2およびT8によってゲーティングされる。従って
クロック信号を供給する配線上の容量性負荷が減少され
る。
【0045】図16は図15のレベルシフタのシミュレ
ーション結果を示している(前述と同じパラメータを使
用)。下側の波形図は相補的なゲーティング信号を示し
ており、上側の波形図は相補的なクロック信号およびイ
ンバータIの出力Oを示している。このように、このレ
ベルシフタは、ゲーティング信号によってイネーブルさ
れたときにのみクロック信号がレベルシフトされた信号
を提供する。その他の場合には、出力Oは論理レベルl
owに保たれる。
【0046】図17は、図12に示すレベルシフタに基
づき、図15に示すタイプのインバータIを備えた、ゲ
ーティング化レベルシフタを示している。図17に示す
レベルシフタは、相補的クロック入力信号CKおよび!
CKを用い、相補的なゲーティング信号またはイネーブ
ル信号を受け取る第1および第2のゲーティング入力G
および!Gを用いている。入力は、第11および第12
のトランジスタT11およびT12のソース−ドレイン
経路を介して、トランジスタT1およびT5のゲートな
らびにトランジスタT6およびT2のソースにそれぞれ
接続されている。トランジスタT11およびT12のゲ
ートは、第1のゲーティング入力Gに接続されている。
トランジスタT1およびT2のゲートは、プルアップト
ランジスタT13およびT14を介して電源線vddに
接続されている。トランジスタT13およびT14のゲ
ートは、ゲーティング入力Gに接続されている。
【0047】電流ソーストランジスタT7のゲートは、
第2のゲーティング入力!Gに接続されている。インバ
ータIの入力は、プルダウントランジスタT15を介し
て接地gndに接続されている。トランジスタT15の
ゲートは、第2のゲーティング入力!Gに接続されてい
る。
【0048】ゲーティング入力Gおよび!Gがそれぞれ
highおよびlowであるとき、レベルシフタはイネ
ーブルされ、トランジスタT11およびT12は、相補
的なクロック信号CKおよび!CKをそれぞれ、トラン
ジスタT1およびT5のゲートならびにトランジスタT
6およびT2のソースに渡す。トランジスタT7のゲー
トは接地されているため、センスアンプは高いテール電
流で動作している。図18に示すように、出力Oは、適
切なレベルシフトをもって反転クロック信号!CKの論
理状態に追従する。
【0049】ゲーティング入力Gおよび!Gがそれぞれ
lowおよびhighであるとき、トランジスタT11
およびT12は、入力をセンスアンプから切り離す。ト
ランジスタT7がオフにされることにより、センスアン
プに流れる電流は実質的に無くなる。プルアップトラン
ジスタT13およびT14ならびにプルダウントランジ
スタT15がオンにされ、図18に示すように出力Oが
そのデフォールトの論理low状態に保たれるようにす
る。従って、漏れ電流以外の電流はレベルシフタに流れ
ない。
【0050】本発明は、図9に示すように、電源線vd
dと反転入力!INとの間に接続された相補的トランジ
スタT1およひT2を有する電圧レベルシフタが提供さ
れる。トランジスタT1のゲートは直接信号入力INに
接続される。トランジスタT2のゲートは、直接入力信
号がシフトされた信号を、トランジスタT3およびT4
を有してなるソースフォロワから受け取る。レベルシフ
タはまた、ドレイン負荷トランジスタのソースが差動入
力にクロス結合された、差動クロス結合センスアンプと
しても実施され得る。
【0051】
【発明の効果】本発明によれば、レベルシフタの性能を
改善することが可能である。特に、以下の利点のうち1
つ以上が達成され得る。 (a)非常に低い入力電圧による動作を可能にする改善
された感度。 (b)より高速な応答時間。 (c)プロセス変動に対するより大きなロバスト性。 (d)改善された論理レベル電圧から得られるより低い
消費電力。 (e)エラーの無い、より大きな電圧レベルシフト。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、公知のタイプのCMOSインバータの
回路図である。
【図2】図2は、公知のタイプのレベルシフタの回路図
である。
【図3】図3は、図2に示すレベルシフタのシミュレー
ション結果を示す波形図である。
【図4】図4は、公知のタイプのセンスアンプの回路図
である。
【図5】図5は、図4に示すタイプであるが逆極性動作
のセンスアンプの、回路図である。
【図6】図6は、図5に示すレベルシフタのシミュレー
ション結果を示す波形図である。
【図7】図7は、別の公知のタイプのセンスアンプの回
路図である。
【図8】図8は、公知のタイプのレベルシフタの回路図
である。
【図9】図9は、本発明の第1の実施形態を構成するレ
ベルシフタの回路図である。
【図10】図10は、図9に示すレベルシフタのシミュ
レーション結果を示す波形図である。
【図11】図11は、図9に示すタイプのレベルシフタ
の変形例としての、本発明の第2の実施形態を構成する
レベルシフタの回路図である。
【図12】図12は、本発明の第3の実施形態を構成す
るレベルシフタの回路図である。
【図13】図13は、図12に示すレベルシフタのシミ
ュレーション結果を示す波形図である。
【図14】図14は、本発明の第4の実施形態を構成す
るレベルシフタの回路図である。
【図15】図15は、本発明の第5の実施形態を構成す
るゲーティング化レベルシフタの回路図である。
【図16】図16は、図15に示すレベルシフタのシミ
ュレーション結果を示す波形図である。
【図17】図17は、本発明の第6の実施形態を構成す
るゲーティング化レベルシフタの回路図である。
【図18】図18は、図17に示すレベルシフタのシミ
ュレーション結果を示す波形図である。
【符号の説明】
T1 第1のトランジスタ T2 第2のトランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 久保田 靖 奈良県桜井市朝倉台西5−1093−267 (72)発明者 鷲尾 一 奈良県天理市櫟本町2613−1 シャープ社 宅1−107

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の回路分岐部と、直接入力信号を受
    け取る第1の入力と、反転入力信号を受け取る第2の入
    力と、該直接入力信号に対して反転されかつレベルシフ
    トされた反転出力信号を生成するための出力とを有する
    電圧レベルシフタであって、 該第1の回路分岐部は、 該出力に接続された出力電極および該第1の入力に接続
    された制御電極を有する、第1の導電型の第1のトラン
    ジスタと、 該出力に接続された出力電極、該直接入力信号に対応す
    る信号を受け取るように構成された制御電極、および該
    第2の入力に接続された共通電極を有する、該第1の導
    電型と反対である第2の導電型の第2のトランジスタ
    と、を有し、 該第2のトランジスタの該制御電極は第2の回路分岐部
    に接続されており、 該第2の回路分岐部は、該第1の導電型である第3およ
    び第4のトランジスタを有しており、該第3および第4
    のトランジスタの主たる導電経路は第1および第2の電
    源供給入力間に直列に接続されており、該第4のトラン
    ジスタの制御電極は該第1の入力に接続されており、該
    第2のトランジスタの該制御電極は該第3のトランジス
    タの出力電極および該第4のトランジスタの共通電極に
    接続されている、電圧レベルシフタ。
  2. 【請求項2】 前記第1のトランジスタの共通電極は、
    前記第1の電源供給入力に接続されている、請求項1に
    記載の電圧レベルシフタ。
  3. 【請求項3】 前記第3のトランジスタの制御電極は、
    第1のバイアス電圧入力に接続されている、請求項1ま
    たは2に記載の電圧レベルシフタ。
  4. 【請求項4】 前記第3のトランジスタの制御電極は、
    前記第2の入力に接続されている、請求項1または2に
    記載の電圧レベルシフタ。
  5. 【請求項5】 前記第1の入力は、第8のトランジスタ
    の主たる導電経路を介して前記第1および第4のトラン
    ジスタの制御電極に接続されており、該第8のトランジ
    スタの制御電極は直接ゲーティング信号を受け取る第1
    のゲーティング入力に接続されている、請求項1から4
    のいずれかに記載の電圧レベルシフタ。
  6. 【請求項6】 前記第1の入力は、第8のトランジスタ
    の主たる導電経路を介して前記第1および第4のトラン
    ジスタの制御電極に接続されており、該第8のトランジ
    スタの制御電極は直接ゲーティング信号を受け取る第1
    のゲーティング入力に接続されており、前記第3のトラ
    ンジスタの制御電極は、反転ゲーティング信号を受け取
    る第2のゲーティング入力に接続されている、請求項1
    または4に記載の電圧レベルシフタ。
  7. 【請求項7】 前記第2のトランジスタの制御電極は、
    第9のトランジスタの主たる導電経路を介して前記第2
    の電源供給入力に接続されており、該第9のトランジス
    タの制御電極は前記第2のゲーティング入力に接続され
    ている、請求項6に記載の電圧レベルシフタ。
  8. 【請求項8】 前記第1のトランジスタの制御電極は、
    第10のトランジスタの主たる導電経路を介して前記第
    2の電源供給入力に接続されており、該第10のトラン
    ジスタの制御電極は前記第2のゲーティング入力に接続
    されている、請求項6または7に記載の電圧レベルシフ
    タ。
  9. 【請求項9】 前記出力はインバータの入力に接続され
    ている、請求項1から8のいずれかに記載の電圧レベル
    シフタ。
  10. 【請求項10】 前記トランジスタの各々は電界効果ト
    ランジスタであり、前記出力電極、前記制御電極および
    前記共通電極はそれぞれ、ドレイン電極、ゲート電極お
    よびソース電極である、請求項1から9のいずれかに記
    載の電圧レベルシフタ。
  11. 【請求項11】 前記トランジスタの各々はアモルファ
    スシリコン薄膜トランジスタである、請求項10に記載
    の電圧レベルシフタ。
  12. 【請求項12】 前記トランジスタの各々はポリシリコ
    ン薄膜トランジスタである、請求項10記載の電圧レベ
    ルシフタ。
  13. 【請求項13】 CMOS集積回路の少なくとも一部を
    含んでなる、請求項10から12のいずれかに記載の電
    圧レベルシフタ。
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