JP2000251343A - テープドライブ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 厚みの異なる磁気テープに対応して、所望す
る記録／再生性能を得るようにする。 【解決手段】 薄い磁気テープを備えて構成されるテー
プカセットが装填されたら、厚い磁気テープが装填され
た場合の回転ドラムの総回転時間Ｍの判別を行い、所定
時間以上であった場合エラーレートの測定を行う（Ｓ１
０１〜Ｓ１０４）。そしてエラーレートが閾値を超えて
いたら性能回復処理を行い（Ｓ１０５〜Ｓ１０７）、性
能回復処理が終了した時点で総回転時間Ｍを所定の割合
で減じる（Ｓ１０８）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、使用するテープカ
セットの磁気テープの厚みに応じて、磁気テープに対す
る記録／再生の最適化を図る処理を行うことができるテ
ープドライブ装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】デジタルデータを磁気テープに記録／再
生することのできるドライブ装置として、いわゆるテー
プストリーマドライブが知られている。このテープスト
リーマドライブは、ヘリカルスキャン方式が採用され、
磁気ヘッドを有した回転ドラムに所定のラップ角で巻き
つけた状態で、磁気テープを走行させさらに回転ドラム
を所定の方向に回転させることにより、記録／再生など
の動作が実現される。このようなテープストリーマドラ
イブは、メディアであるテープカセットのテープ長にも
よるが、例えば数十〜数百ギガバイト程度の膨大な記録
容量を有することが可能であり、このため、コンピュー
タ本体のハードディスク等のメディアに記録されたデー
タをバックアップするなどの用途に広く利用されてい
る。また、データサイズの大きい画像データ等の保存に
利用する場合にも好適とされている。また、テープカセ
ットはテープストリーマドライブから排出することがで
きる、いわゆるリムーバブルなメディアとされている。
したがって、同じテープカセットに記録されているデー
タを他のテープストリーマドライブで再生したり、また
ことなるテープストリーマドライブによってのデータ記
録が可能となる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、テープカセ
ットの容量増加を図るためには、テープカセット内によ
り長いテープを収納していくことが必要になる。すなわ
ち、テープをより薄い構造で形成することによりテープ
カセット内により長いテープを収納することができるよ
うになる。これにより、ユーザは用途、目的などに応じ
て好適とされる容量のテープカセットを選択することも
可能になる。これによりテープストリーマドライブに
は、厚みの異なるテープが収納されたテープカセットが
選択的に装填されることになるが、磁気テープは回転ヘ
ッドに圧着された状態で走査するので、テープの厚みに
よって回転ヘッドに形成される磁気ヘッド（再生ヘッ
ド、記録ヘッド）に対する負荷が変動する。

【０００４】図１１は、回転ヘッド（図示せず）に備え
られている磁気ヘッド７０とこの磁気ヘッド７０に当接
する磁気テープの状態を説明する模式図であり、図１１
（ａ）は比較的厚く形成されている磁気テープ８０、同
じく図１１（ｂ）は図１１（ａ）に示した磁気テープよ
りも薄く形成されている磁気テープ８１を例に挙げてい
る。なお、実際の磁気テープの厚みは例えばサブミクロ
ンとされる微小な単位で形成されるので、この図に示す
例は説明の便宜を図るために、厚みの差が解りやすいよ
うに示している。

【０００５】図１１（ａ）に示されているように、磁気
ヘッド７０が磁気テープ８０を走査する場合は、磁気ヘ
ッド７０の形状に沿ってほぼ全面に当接するようにされ
る。したがって、この状態で磁気ヘッド７０が磨耗して
いくことになり、これにより磁気ヘッド７０は厚い磁気
テープ８０になじんだ形状になる。しかし、図１１
（ａ）に示したように磁気ヘッド７０が磁気テープ８０
になじんだ状態で、図１１（ｂ）に示されているように
磁気テープ８０よりも薄く形成されている磁気テープ８
１を走査する場合は、磁気ヘッド７０の中央部分に形成
されているギャップ７０ａ付近において中浮き現象が起
こってしまう。この中浮き現象は磁気ヘッド７０先端部
分の曲率半径が大きい場合に生じる現象とされ、これに
より、磁気ヘッド７０と磁気テープ８１の間に間隙８５
が生じて、記録／再生の性能が劣化してしまう。

【０００６】この場合、その劣化状態がテープストリー
マドライブにおける許容範囲を超えてしまった場合、双
方の磁気テープに対して互換性を保証することが困難な
場合があるという問題がある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明はこのような問題
点を解決するために、テープカセットに収納された記録
媒体とされる磁気テープを走行させるテープ走行手段
と、走行している前記磁気テープを走査することによっ
て情報の記録または再生を行なう磁気ヘッドを備えた回
転ドラムと、装填された前記テープカセットの種別を識
別するテープカセット種別識別手段と、前記テープカセ
ット識別手段の識別結果に基づいて、第一のテープカセ
ットが装填されたと判別した場合に前記回転ドラムが回
転動作を行った時間を計測する回転時間計測手段と、前
記回転時間計測手段によって計測された前記回転ドラム
の回転時間を記憶する回転時間記憶手段と、前記テープ
カセット識別手段の識別結果に基づいて、第二のテープ
カセットが装填されたと判別した場合に、前記回転時間
記憶手段に記憶されている回転時間に応じて前記第二の
テープカセットに収納されている磁気テープに対して所
要の性能確認処理を行う性能確認処理手段と、前記性能
確認処理制御手段の確認結果に基づいて、所要の性能回
復処理を行う性能回復処理手段を備えてテープドライブ
装置を構成する。

【０００８】本発明によれば、テープカセット識別手段
の判別結果に基づいて、磁気テープの厚みを検出するこ
とができ、さらに磁気テープの厚みに応じて性能回復処
理を行うことができる。これにより、厚い磁気テープを
用いることによる磁気ヘッドの形状変化により、薄い磁
気テープの記録／再生性能が劣化している場合でも、性
能回復処理によって改善を図ることができる。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。図１は、本発明の実施の形態のテープスト
リーマドライブの一構成例を示すブロック図である。こ
の図に示すテープストリーマドライブ１は、装填された
テープカセットの磁気テープ２に対して、ヘリカルスキ
ャン方式により記録／再生を行うようにされている。回
転ドラム３においては、その側面に対して、アジマス角
の異なる２つの再生ヘッド４Ａ、４Ｂが互いに１８０°
対向するようにして設けられると共に、２つの記録ヘッ
ド５Ａ，５Ｂも互いに１８０°対向するようにして設け
られる。なお以降、再生ヘッド４Ａ、４Ｂ、及び記録ヘ
ッド５Ａ，５Ｂを総じて示す場合は単に磁気ヘッドとい
うことにする。この回転ドラム３には、後で図２で説明
するように当該テープストリーマドライブ１に対応する
テープカセット（図示せず）から引き出された磁気テー
プ２が巻き付けられる。そして、この回転ドラム３はド
ラムモータ２２により回転される。また磁気テープ２を
定速走行させるためのキャプスタン（図示せず）はキャ
プスタンモータ２３により回転駆動される。

【００１０】またテープカセット内のリールハブ２Ａ，
２Ｂは、それぞれリールモータ２４，２５により、順方
向及び逆方向に回転駆動される。ローディングモータ２
６は、図示しないローディング機構を駆動し、磁気テー
プ２の回転ドラム３へのローディング／アンローディン
グを実行する。

【００１１】ドラムモータ２２、キャプスタンモータ２
３、リールモータ２４，２５、ローディングモータ２６
は、それぞれメカドライバ２１からの電力印加により回
転駆動される。メカドライバ２１はサーボコントローラ
２０からの制御に基づいて各モータを駆動する。サーボ
コントローラ２０は各モータの回転速度制御を行って通
常の記録再生時の走行や高速再生時のテープ走行、早送
り、巻き戻し時のテープ走行、テープカセット装填動
作、ローディング／アンローディング動作、テープテン
ション制御動作などを実行させる。

【００１２】サーボコントローラ２０が各モータのサー
ボ制御を実行するために、例えば、ドラムモータ２２に
は、ＦＧ（Frequency Generator）２２ａ、及びＰＧ(Pu
lseGenerator)２２ｂが設けられる。また、キャプスタ
ンモータ２３、リールモータ２４，２５、ローディング
モータ２６の各々に対しては、ＦＧ２３ａ，ＦＧ２４
ａ，ＦＧ２５ａ，ＦＧ２６ａが設けられる。これら、Ｆ
Ｇ、ＰＧから出力される信号によって、サーボコントロ
ーラ２０においては、各モータの回転情報が検出できる
ようになっている。

【００１３】そしてサーボコントローラ２０はこれらＦ
Ｇ、ＰＧから得られるパルスに基づいて各モータの回転
速度や回転位相差を判別することで、各モータの回転動
作について目的とする回転速度や位相の誤差を検出し、
その誤差分に相当する印加電力制御をメカドライバ２１
に対して行うことで、回転速度制御を実現することがで
きる。従って、記録／再生時の通常走行や、高速サー
チ、早送り、巻き戻しなどの各種動作時に、サーボコン
トローラ２０はそれぞれの動作に応じた目標回転速度に
より各モータが回転されるように制御を行うようにされ
ている。

【００１４】また、上記サーボコントローラ２０はテー
プフォーマットコントローラ１１から内部バス３０を介
してシステム全体の制御処理を実行するシステムコント
ローラ１９と双方向に通信可能に接続されている。

【００１５】ところで、回転ドラム３は磁気テープ２が
一定時間走行しない場合に、その回転を停止するように
制御される。つまり、サーボコントローラ２０はリール
モータ２４、２５を所定時間駆動しない場合にドラムモ
ータ２２が停止するように制御する。したがって、テー
プストリーマドライブ１では、例えば記録／再生、早送
り／巻き戻しなどを行い、磁気テープ２が走行している
時間、及び磁気テープ２が走行していなくても回転ドラ
ム３が回転してる時間、すなわちテープストリーマドラ
イブ１にテープカセットが装填された後に回転ドラム３
が回転している時間を磁気テープ２の走行時間としてい
る。サーボプロセッサ２０は回転ドラム３を回転させて
いる時間の計測を行い、回転時間が前記所定時間に達し
た時点で、回転ドラム３の回転を停止させる制御を行う
ようにしている。

【００１６】本実施の形態では、比較的厚い磁気テープ
を備えたテープカセットが装填されたと判別した場合に
回転ドラム３の回転時間を記憶しておき、比較的薄い磁
気テープを備えたテープカセットが装填されたと判別し
た場合に、この回転時間を性能回復処理を行うか否かの
判断を行うための値として用いるようにしている。な
お、磁気テープの厚みの判別は、後で説明するカセット
種別判別手段としてのホール検出機構２８によって行わ
れる。回転時間の測定値は例えばワークＲＡＭ１８にお
いて更新され、回転時間メモリ２９に格納されることに
よって、例えばテープカセットが入れ換えられたとき
や、例えば電源がオフにされた場合などでも保持される
ようにされている。つまり、回転時間メモリ２９には厚
いテープが装填されている場合の回転時間が累積されて
記憶される。

【００１７】テンションレギュレータ２７は、ここでは
図示していないテンションピックアップなどを備え、図
４で説明するようにローディング機構における所要の位
置において、磁気テープ２が回転ドラム３に巻き付けら
れている状態での、当該磁気テープのテンションを検出
して所要のテンション値に換算してサーボコントローラ
２０に供給する。サーボコントローラ２０は供給された
テンション値に基づいてリールモータ２４、２５の負荷
トルクを制御するようにして、磁気テープ２を所要のテ
ンションにするようにされている。

【００１８】ここで、図２に従い、本例のテープストリ
ーマドライブ１内にテープカセット４０が装填され、ロ
ーディングされた状態を説明する。破線で示しているさ
れているようにテープカセット４０の内部にはリールハ
ブ２Ａ及びリールハブ２Ｂが設けられ、このリールハブ
２Ａ及び２Ｂ間に磁気テープ２が巻装される。そして、
テープカセット４０はメカデッキ部に着座された状態
で、リールハブ２Ａ，２Ｂがそれぞれ図示していないリ
ールモータ２４、２５により正方向及び逆方向に駆動さ
れるように係合される。また、このように着座されたテ
ープカセット４０からは、磁気テープ２が引き出され、
回転ドラム３に所定角度巻装される状態となる。即ち、
着座されたテープカセット４０は後述するガードパネル
が開かれた状態となっており、移動式のローディングピ
ン５５，５６が図中Ｓ方向及びＸ方向に移動されること
によって、磁気テープ２がテープカセット４０の筐体か
ら導出され、ガイドローラ５１，５２，５３，５４によ
ってテープパスが規定された状態で回転ドラム３に巻き
付けられる。

【００１９】また、ピンチローラ５８はガイドローラ５
３，５４間のテープパスで、磁気テープ２に対して一定
のテープテンションを与えるとともに、磁気テープ２を
キャプスタン５７の外周面に圧接するようにされてい
る。これによりキャプスタン５７の定速回転が行われる
ことで、磁気テープ２が定速で走行される。このように
して磁気テープ２が走行されるとともに、磁気ヘッドを
配した回転ドラム３が回転されることで、磁気テープ２
に対する記録再生動作が実行される。

【００２０】また、早送り、巻き戻しなどの高速走行時
には、ピンチローラ５８は矢印Ｚ方向に所定の位置まで
移動され、これによって磁気テープ２はピンチローラ５
８とキャプスタン５７から開放される。

【００２１】テープ走行時には、テープのたるみが生じ
ないようにバックテンションがかけられ、このバックテ
ンションはリールハブ２Ａ，２Ｂの回転駆動制御により
得られるものとなる。ここで、ガイドローラ５１，５２
の間には図１に示したテンションレギュレータ２７を構
成するテンションピックアップ２７ａが配されている。
このテンションピックアップ２７はスピンドルリングで
付勢されながら磁気テープ２に圧接していることで、磁
気テープ２に与えられているテンションに応じて回動状
態が変動する。従ってテンションレギュレータ２７では
このテンションピックアップ２７ａの回動状況（回動位
置）を例えばホール素子などで電気的に検出すること
で、磁気テープ２に対してかけられているテンションに
相当する検出信号を得ることができる。つまり、この検
出信号がテンションレギュレータ２７からサーボプロセ
ッサ２０に供給され、リールハブ２Ａ，２Ｂの回転駆動
制御が行われる。

【００２２】図１に示すホール検出機構２８は、装填さ
れたテープカセット４０に形成されている各種識別孔を
検出するための機構部であり、例えば各種識別孔に応じ
たピンや、フォトセンサなどによって構成される。テー
プカセット４０には、予め定められた規格に従って、そ
のテープ種別や、ライトプロテクトの有無によって開閉
する各種識別孔が形成されているが、ホール検出機構２
８では、これらの識別孔を検出する。ホール検出機構２
８の検出情報は、システムコントローラ１５に供給され
ることで、システムコントローラ１９において、装填さ
れたテープカセットの種別やライトプロテクト設定状況
等を把握することが可能になる。なお、本実施の形態と
してのテープカセットに対して形成される識別孔につい
ては後述する。

【００２３】このテープストリーマドライブ１において
は、データの入出力にＳＣＳＩコントローラ１６が設け
られる。つまり外部とのデータの授受はＳＣＳＩ(Small
Computer System Interface)が用いられる。例えばデ
ータ記録時にはホストコンピュータ３２から、ＳＣＳＩ
バス３１、ＳＣＳＩコントローラ１６を介してデータが
入力され、インターナルバッファコントローラ１４に供
給される。

【００２４】インターナルバッファコントローラ１４で
は、入力されたデータについて、バッファメモリ１５を
使用して一旦蓄積して、例えば単位データの時間軸的整
合を図った後に、圧縮／伸長回路１３に対して供給す
る。

【００２５】圧縮／伸長回路１３では、入力されたデー
タについて必要があれば、所定方式によって圧縮処理を
施すようにされる。圧縮方式の一例として、例えばＬＺ
符号による圧縮方式を採用するのであれば、この方式で
は過去に処理した文字列に対して専用のコードが割り与
えられて辞書の形で格納される。そして、以降に入力さ
れる文字列と辞書の内容とが比較されて、入力データの
文字列が辞書のコードと一致すればこの文字列データを
辞書のコードに置き換えるようにしていく。辞書と一致
しなかった入力文字列のデータは逐次新たなコードが与
えられて辞書に登録されていく。このようにして入力文
字列のデータを辞書に登録し、文字列データを辞書のコ
ードに置き換えていくことによりデータ圧縮が行われる
ようにされる。

【００２６】テープフォーマットコントローラ１１にお
いては、圧縮／伸長回路１３の出力について、バッファ
メモリ１２を作業領域として使用してテープフォーマッ
トに従った所要のデータ処理、信号処理を実行する。こ
こでは、例えば、エラー訂正符号の付加、サブコードの
付加、同期信号の付加等を実行すると共に、最終的に
は、テープ対する磁気記録に適合した変調処理を施し
て、デジタルイコライザ／ビタビデコーダ１０に供給す
る。また、後述する性能確認処理においては、記録／再
生を行う場合のエラーレートの検出を行い、検出結果を
システムコントローラ１９に供給する。

【００２７】デジタルイコライザ／ビタビデコーダ１０
は、記録時においては、必要があれば入力データに対し
て所要のイコライジング処理を行って、記録データとし
てＲＦ処理部８に出力する。

【００２８】ＲＦ処理部８では供給された記録データに
ついて記録イコライジング等の処理を施して磁気記録の
ための記録信号を生成し、記録アンプ９に供給する。記
録アンプ９では、入力された記録信号について増幅を行
って、ロータリートランス７を介して記録ヘッド５Ａ、
５Ｂに供給する。これにより記録ヘッド５Ａ、５Ｂから
磁気テープ２に対して磁気印加が行われ、データの記録
が行われることになる。

【００２９】また、データ再生動作について簡単に説明
すると、磁気テープ２の記録データが再生ヘッド４Ａ、
４ＢによりＲＦ再生信号として読み出される。その出力
は、それぞれ再生アンプ６Ａ，６Ｂにて増幅された後、
ロータリートランス７を介するようにして、ＲＦ処理部
８に対して出力される。ＲＦ処理部８においては、再生
イコライジング、再生クロック生成、２値化などの処理
が行われる。

【００３０】ＲＦ処理部８において２値化されたＲＦ再
生信号は、デジタルイコライザ／ビタビデコーダ１０に
出力され、ここで、例えばビタビ復号に適合した波形等
価（イコライジング処理）及びビタビ複合処理が実行さ
れ、テープフォーマットコントローラ１１に供給され
る。

【００３１】テープフォーマットコントローラ１１で
は、バッファメモリ１２を利用して、入力されたデータ
についての誤り訂正処理、サブコードの抽出等を行い、
圧縮／伸長回路１３に出力する。圧縮／伸長回路１３で
は、システムコントローラ１９の判断に基づいて、記録
時に圧縮が施されたデータであればここでデータ伸長処
理を行い、非圧縮データであればデータ伸長処理を行わ
ずにそのままパスして出力する。圧縮／伸長回路１３の
出力データは、一旦、インターナルバッファコントロー
ラ１４に供給される。インターナルバッファコントロー
ラ１４では、バッファメモリ１５を使用して、例えば、
入力データを所定のデータ単位に整えるなどして、ＳＣ
ＳＩコントローラ１６に対して出力する。ＳＣＳＩコン
トローラ１６では、入力された再生データを、ＳＣＳＩ
バス３１を介してホストコンピュータ３２に対して出力
する。

【００３２】システムコントローラ１９はマイクロコン
ピュータ等を備えて成り、内部バス３０を介して、テー
プフォーマットコントローラ１１、圧縮／伸長回路１
３、インターナルバッファコントローラ１４，ＳＣＳＩ
コントローラ１６、フラッシュＲＯＭ１７、ワークＲＡ
Ｍ１８と相互通信可能に接続されていることで、各機能
回路部に対しての各種制御処理を実行する。ここで、フ
ラッシュＲＯＭ１７及びワークＲＡＭ１８には、システ
ムコントローラ１９が各種処理に用いるデータが記憶さ
れる。フラッシュＲＯＭ１７には、システムコントロー
ラ１９が実行すべき各種制御処理のためのプログラム
や、各種制御値等が記憶される。ワークＲＡＭ１８に
は、例えば、システムコントローラ１９が行った処理結
果や演算値等が一時的に格納される。

【００３３】なお、フラッシュＲＯＭ１７，ワークＲＡ
Ｍ１８は、システムコントローラ１９を構成するマイク
ロコンピュータの内部メモリとして構成してもよく、ま
たバッファメモリ１２（又はバッファメモリ１５）の領
域の一部をワークメモリとして用いる構成としてもよ
い。また、図１では回転時間メモリ２９を個別に示して
いるが、例えばフラッシュＲＯＭ１７の領域の一部に構
成されるようにしても良い。

【００３４】２．テープカセットの外観

【００３５】図３はテープカセット４０の外観例を下方
側から示す図であり、筺体全体は上側ケース４１、下側
ケース４２、及び前方に備えられるガードパネル４３か
らなる。

【００３６】このテープカセット４０の下面後方側近傍
には、各種孔が形成されている。例えば位置決め孔４
４、４５は、テープカセット４０がテープストリーマド
ライブ１の所定の位置に着座するための位置決めを行う
孔とされ、テープストリーマドライブ１の所定の位置に
形成されている位置決め部材に嵌合することができるよ
うにされている。これによって、テープカセット４０は
テープストリーマ１内における所定の位置に着座するよ
うにされる。書き込み禁止孔４６は、当該テープカセッ
ト４０が記録可または記録不可とされているかの判別を
行う孔として構成される。例えば書き込み禁止孔４６が
開状態である場合は書き込み禁止、また例えば書き込み
禁止孔４６が閉状態である場合には書き込み可とされ
る。書き込み禁止孔４６の開閉状態はこれはホール検出
機構２８によって、記録可否判別情報として検出されて
システムコントローラ１９に供給される。

【００３７】カセット種別識別孔４７ａ、４７ｂ、４７
ｃ、及びカセット種別識別孔４７ｄは、テープカセット
４０の種別を識別することができるように形成されてい
る。すなわち、これら４個のカセット種別識別孔４７
（ａ、ｂ、ｃ、ｄ）の開閉状態の組み合わせによって、
例えばＤＤＳ、ＤＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４などとし
てとして規定されている磁気テープのフォーマット方式
を識別することができるようにされている。したがっ
て、ホール検出機構２８はこれらのカセット種別識別孔
４７（ａ〜ｄ）の開閉状態を検出して、ＤＤＳ乃至ＤＤ
Ｓ４のいずれのフォーマットであるかというフォーマッ
ト情報をシステムコントローラ１９に供給すると、シス
テムコントローラ１９は各フォーマットに対応した各種
動作を行うような制御を行う。

【００３８】また本実施の形態では、カセット種別識別
孔４７（ａ、ｂ、ｃ、ｄ）の開閉状態に基づいて磁気テ
ープ２の厚みを識別して、その厚みに対応した処理を行
うようにされている。ここで、図４に従い、カセット種
別識別孔４７（ａ〜ｄ）の開閉状態の組み合わせと磁気
テープ２の厚み、長さ及びフォーマット方式の関係を説
明する。この図で「×」はカセット種別識別孔４７（ａ
〜ｄ）の閉状態、「○」は同じく開状態を示している。
したがって、このようなカセット種別識別孔４７（ａ〜
ｄ）の開閉状態を検出することによって、磁気テープ２
の厚み、長さ、及びフォーマットを検出することがでい
る。

【００３９】開閉状態が例えば（ａ）に示されている
「××××」とされている場合は、フォーマットはＤＤ
Ｓとされテープ厚は例えば１３μｍ、テープ長は６０ｍ
とされている。また、（ｂ）に示されている「×○×
×」とされている場合は、同じくＤＤＳフォーマットと
されテープ厚は例えば９μｍ、テープ長は９０ｍとされ
ている。さらに、（ｃ）に示されているように「○××
×」の場合はＤＤＳ-２で６．９μｍ、テープ長は１２
０ｍ、（ｄ）に示されているように「○×○×」の場合
はＤＤＳ-３で６．９μｍ、テープ長は１２５ｍ、また
（ｅ）に示されているように「○×○○」の場合はＤＤ
Ｓ-４で５．９μｍ、テープ長は１５０ｍとされてい
る。

【００４０】本実施の形態では、例えばＤＤＳとされる
磁気テープを厚く形成されているものとして、カセット
種別識別孔４７ａ〜４７ｄが例えば（ａ）（ｂ）に示さ
れている開閉状態である判別した場合は、第一のテープ
カセットとして比較的厚い磁気テープ２が収納されてい
る構成であると識別する。また、カセット種別識別孔４
７ａ〜４７ｄが例えば（ｅ）に示されている開閉状態で
あると判別した場合は、第二のテープカセットとして比
較的薄い磁気テープ２が収納されている構成であると識
別する。これによって、テープストリーマドライブ１で
はテープの厚みに応じて変形（磨耗）した磁気ヘッドの
形状に対応して、性能確認処理、性能回復処理などを行
うことができるようになる。つまり、第二のテープカセ
ット（ＤＤＳ-４）が装填された場合には、それ以前に
第一のテープカセット（ＤＤＳ-１）が使用されていた
時間に基づいて性能確認処理、性能回復処理を行い、磁
気ヘッドを第二のテープカセット（ＤＤＳ-４）に対応
した形状になじませるようにしている。

【００４１】なお、（ｃ）（ｄ）に示されているＤＤＳ
-２、ＤＤＳ-３については、第二のテープカセットとさ
れるＤＤＳ-４よりも厚く形成されている。しかしＤＤ
Ｓよりも厚みの差が小さいことから、磁気ヘッド２に対
する影響が小さいものとして、性能確認処理などを行う
条件の対象としていない。しかし、必要に応じてＤＤＳ
-２、ＤＤＳ-３が使用された時間などを性能確認処理、
性能回復処理を行う条件にするようにしても良い。

【００４２】性能確認処理は、例えば回転時間メモリ２
９に記憶されている第一のテープカセット（ＤＤＳ）装
填時における回転ドラム３の回転時間が所定時間以上と
され、この場合に第二のテープカセット（ＤＤＳ-４）
が装填されたことなどを条件として行われる。この性能
確認処理は磁気テープ２上において自由使用が認められ
ている所定の位置において、データとしての意味をなさ
ないランダムデータの記録／再生を行い、記録／再生デ
ータのエラーレートを検出するものとされる。

【００４３】図５は磁気テープに形成されるデータ構成
領域を説明する模式図であり、例えば１個のパーティシ
ョンが形成されている例を示している。図示されている
ように、磁気テープ２の最初の部分に対して物理的にリ
ーダーテープが先頭に位置しており、次にテープカセッ
トのローディング／アンローディングを行う領域となる
デバイスエリアが設けられている。このデバイスエリア
の先頭が物理的テープの先頭位置ＰＢＯＴ（Phisycal B
igining of Tape)とされる。上記デバイスエリアに続い
ては、リファレンスエリア及びテープの使用履歴情報等
が格納されるシステムエリア（以下、リファレンスエリ
アを含めてシステムエリアという）が設けられて、以降
にデータエリアが設けられる。システムエリアの先頭が
論理的テープの開始位置ＬＢＯＴ（Logical Bigining o
f Tape) とされる。

【００４４】データの記録が行われるデータエリアに続
いては、パーティションのデータ領域の終了を示すＥＯ
Ｄ（End of Data)の領域が設けられる。そしてＥＯＤの
最後が、論理的テープの終了位置ＬＥＯＴ（Logical En
d of Tape)とされる。ＰＥＯＴ（Phisycal End of Tap
e) は、物理的テープの終了位置、又はパーティション
の物理的終了位置を示すことになる。

【００４５】本実施の形態では、例えばデバイスエリア
を利用して性能確認処理を行う。つまり、性能確認処理
を行う場合、まずデバイスエリアに移動する制御が行わ
れる。図６はデバイスエリア及びシステムエリアが形成
される長さの一例を説明する図である。図６（ａ）に示
されているようにデバイスエリアはＰＢＯＴを起点とし
て、例えば５００ｍｍの長さで形成される。つまりＰＢ
ＯＴからＬＢＯＴまでの長さが５００ｍｍということに
なる。また、システムエリアはＬＢＯＴを起点として例
えば２０ｍｍの長さで形成される。上記したように性能
確認処理はデバイスエリアで行うようにされるが、この
場合デバイスエリア内において例えばＰＢＯＴを起点と
して約３５０ｍｍ〜４５０ｍｍの領域を性能確認領域と
する。したがって、テープカセット４０が装填された後
に、性能確認処理を行う場合は、磁気テープ２のポジシ
ョン検出を行い、性能確認領域まで移動することにな
る。

【００４６】図７にリールハブ２Ｂ、リールハブ２Ａに
磁気テープ２が巻装されて走行されている状態を示して
いるが、ここでリールハブ２Ａ側のリール巻径をＲｔ、
Ｓリールハブ２Ｂ側のリール巻径をＲｓ、リールハブ２
Ｂ及びリールハブ２Ａのリールハブ径をＲｏとする。ま
たテープ速度をＶtape、テープ長をＬtape、テープ厚を
Ｄtapeとする。当然ながらテープ長Ｌtape、テープ厚Ｄ
tapeは、そのテープカセット１についての固定値とな
り、図４で説明したようにカセット種別識別孔４７（ａ
〜ｄ）の開閉状態によって把握することができる。従っ
て磁気テープ２が巻装された状態のリールハブ２Ｂ側の
投影面積とリールハブ２Ａ側の投影面積の和はテープ走
行位置に関わらず一定である。すると次の（数１）が成
立する。

【数１】 つまり磁気テープ２が巻装された状態のリールハブ２Ｂ
側の投影面積とリールハブ２Ａ側の投影面積の和から、
両リールハブ自体の投影面積を引いたものは、テープ長
Ｌtapeとテープ厚Ｄtapeのみによる投影面積に相当す
る。

【００４７】ここで、リールハブ２Ａ側の回転周期をＴ
ｔ、リールハブ２Ｂ側の回転周期をＴｓとしたときに、
各回転周期Ｔｔ、Ｔｓが測定できれば、各リールハブの
リール巻径の比率がわかることになるため、次の（数
２）が成り立つ。

【数２】 そして上記（数２）を上記（数１）に代入すると、

【数３】 が得られる。

【００４８】この（数３）において、テープ長Ｌtape、
テープ厚Ｄtape、リールハブ径Ｒｏは、そのテープカセ
ット１についての固有の値である。従って、あらかじめ
このテープ長Ｌtape、テープ厚Ｄtape、リールハブ径Ｒ
ｏがわかっているとすれば、ＦＧ２４ａ、２５ａから供
給されるリールモータ２４、２５の回転情報に基づい
て、各リールハブの回転周期Ｔｔ、Ｔｓを測定すること
ができる。これにより、でテープポジション検出（両リ
ールのリール巻径又はその比の検出）が可能であり、性
能確認領域への移動が可能になる。

【００４９】また、図６（ｂ）に示すＦＷＤ-ＲＶＳ領
域は、性能確認処理の結果として記録／再生性能が劣化
している場合に磁気ヘッドを第二のテープカセット（薄
型の磁気テープ）になじんだ形状にするために性能回復
処理としてのＦＷＤ（順方向の倍速再生）、ＲＶＳ（逆
方向の倍速再生）を行う領域とされる。性能回復処理と
は、厚い磁気テープを所定時間使用した後に薄い磁気テ
ープ２を使用する場合に生じていた、間隙８５（図１１
（ｂ））をなくすために、薄いテープが装填されてから
或る程度の期間、磁気テープ２のテンションを上げた状
態で、例えばＦＷＤ、ＲＶＳなどを行う処理とされる。
この場合、磁気テープ２のテンションを上げた状態で、
所定の位置から１往復で約１０秒程度を要してＦＷＤ、
ＲＶＳを行い、この動作を例えば５回程度繰り返して行
うようにする。

【００５０】図８は性能回復処理の概要を説明する図で
あり、図８（ａ）は図１１（ｂ）に対応している。性能
回復処理としては、図８（ａ）に破線円Ａ、Ａで囲んで
示しているように、磁気ヘッド６０（再生ヘッド４Ａ、
４Ｂ、記録ヘッド５Ａ、５Ｂに対応する）において磁気
テープ２が当接している部分を磨耗させて、その先端の
曲率半径を小さくして尖った形状にさせる処理とされ
る。この場合、磁気テープ２のテンションを通常よりも
上げた状態で磁気テープを例えばＦＷＤ及びＲＶＳを行
うことによって、より付加かけることにより磁気ヘッド
６０の先端部分を尖らすことができるようになる。性能
回復処理によって磁気ヘッド６０が尖るようになると、
図８（ａ）に示していた間隙８５が無くなり、図８
（ｂ）に示されているように磁気テープ２と磁気ヘッド
６０がなじむようになる。これにより、薄型の磁気テー
プ２を使用する場合でも、安定した走査を行うことがで
きるようになり、所定の記録／再生性能を得ることがで
きるようになる。

【００５１】このように、性能確認処理の結果に基づい
て図８で説明したような性能回復処理を行うために、Ｆ
ＷＤ-ＲＶＳ領域に移動する場合も、テープ長Ｌtape、
テープ厚Ｄtape、リールハブ径Ｒｏ、及びリールモータ
２４、２５の回転情報に基づいて所要の位置に移動する
ことが可能になる。なお、性能回復処理としてはこの他
に、例えば早送り／巻き戻しを例えば１往復行うように
しても良いし、例えば回転ドラム３を逆回転させた上で
磁気テープ２を走行させるようにしても良い。また、こ
れらの動作を組み合わせて実行するようにしても良い。

【００５２】図９は性能回復処理を行う条件とされる、
第一のテープカセットが装填された場合の回転ドラムの
回転時間を測定するシステムコントローラ１９の処理遷
移の一例を説明する図である。テープカセット４０が装
填され、ローディング処理が終了すると（Ｓ００１）、
通常動作状態に移行する（Ｓ００２）。なお、ローディ
ング処理とは、例えば図２示したように回転ヘッド３に
磁気テープ２を巻きつけ、さらに磁気テープ２上のシス
テムエリアの読み込みなどを行う、テープカセット装填
時一連の処理とされる。さらに、通常動作状態とはロー
ディング処理が終了した後に例えば記録／再生などの各
種動作を行うことができる状態とされる。

【００５３】通常動作状態に移行すると、回転ドラム３
を回転させているか否かの判別を行い（Ｓ００３）、回
転ドラム３を回転させていると判別した場合は、回転時
間ｎをカウントアップする（Ｓ００４）。このカウント
アップ処理は例えばワークＲＡＭにおける所要のワーク
エリアで行われる。なお、上記したように回転ドラム３
は所定時間磁気テープ２が走行しなかった場合は、回転
を停止するようにされているので、その場合はステップ
Ｓ００４のカウントアップ処理は行われない。このよう
に、ステップＳ００３、Ｓ００４において回転ドラム３
の回転動作の監視とともに、さらに例えばホストコンピ
ュータ３２からのアンロード要求を受けたか否かの判別
を行う（Ｓ００５）。つまり、テープカセット４０が装
填されている場合は、ステップＳ００３、Ｓ００４、Ｓ
００５を繰り返すことで回転時間ｎの計測が行われるこ
とになる。

【００５４】アンロード要求を受けたと判別した場合
は、現在装填されているテープカセット４０のカセット
種別識別孔４７の開閉状態の判別を行う（Ｓ００６）。
このステップにおいて、カセット種別識別孔４７の開閉
状態が「××××」であった場合は、テープ厚が例えば
１３μｍであることが解る。この場合は回転時間ｎに例
えば４倍の係数を掛けたうえで（Ｓ００７）、総回転時
間Ｍに回転時間ｎを加え総回転時間Ｍの更新を行う（Ｓ
００８）。この総回転時間Ｍの更新は、例えばワークＲ
ＡＭなどにおいて行われ、更新が行われた後に、回転時
間メモリ２９に総回転時間Ｍを記憶する（Ｓ００９）。
また、ステップＳ００６でカセット種別識別孔４７の開
閉状態が「×○××」であった場合は、テープ厚が例え
ば９μｍであることが解る。したがって、この場合は回
転時間ｎに、ステップＳ００７よりも小さい例えば２倍
の係数を掛けたうえで（Ｓ０１０）、総回転時間Ｍの更
新（Ｓ００８）、総回転時間Ｍの記憶（Ｓ００９）を行
う。

【００５５】このように、テープストリーマドライブ１
に例えばＤＤＳのテープカセット４０が装填された場合
に、回転ドラム３の回転時間ｎを計測するようにしてい
るが、この回転時間ｎを累積した総回転時間Ｍが磁気ヘ
ッド６０の減り具合に相当するものとされる。したがっ
て、以降例えばＤＤＳ-４のテープカセットが装填され
た場合に、総回転時間Ｍに基づいて性能確認処理を行
い、さらに性能確認結果に基づいて性能回復処理を行う
ようにする。

【００５６】図１０は性能確認処理及び性能回復処理を
行う場合のシステムコントローラ１９の処理遷移の一例
を説明するフローチャートである。テープストリーマド
ライブ１にテープカセット４０が装填され、所定の位置
に着座すると（Ｓ１０１）、カセット種別識別孔４７の
開閉状態の判別を行う（Ｓ１０２）。そして、カセット
種別識別孔４７の開閉状態が「○×○○」、すなわちＤ
ＤＳ-４のテープカセットが装填されていると判別した
場合は、回転時間メモリ２９に記憶されている、総回転
時間Ｍが所定時間以上か否かを判別する（Ｓ１０３）。
ここでの所定時間とは、例えば２４時間程度とする。し
たがって、例えば総回転時間Ｍが２４時間以下であった
場合は、以降の処理を省略して通常動作状態に移行する
（Ｓ１０９）。

【００５７】総回転時間Ｍが例えば２４時間以上であっ
た場合は、例えば図７に示したデバイスエリアにおける
性能確認領域で、記録／再生動作を行いエラーレートの
測定を行う（Ｓ１０４）。そして、エラーレートが所要
の閾値（例えば２×１０Ｅ-2）を超えているか否かの判
別を行い（Ｓ１０５）、エラーレートが閾値を超えてい
た場合は性能回復処理に移行する（Ｓ１０６）。この性
能回復処理は、前記したように磁気テープ２のテンショ
ンを上げた状態でのＦＷＤ、ＲＶＳなどの動作とされ
る。なお、エラーレートが前記閾値を越えていなかった
場合は、所望する性能が得られたとして、以降の処理を
省略して通常動作状態に移行する（Ｓ１０９）。

【００５８】また性能回復処理が開始された場合はその
処理過程を監視して、性能回復処理が終了した可否かの
判別を行う（Ｓ１０７）。そして、性能回復処理が終了
したと判別した場合は、総回転時間Ｍを所定の割合で減
じる処理を行う（Ｓ１０８）。なお、ここで、総回転時
間Ｍをリセットしない理由として、例えば１回の性能回
復処理では完全に性能を回復させることが困難な場合が
あると考えられるためとされる。したがって、例えば１
回の性能回復処理でほぼ完全に性能を回復させることが
できると想定した場合は、総回転時間Ｍをリセットする
ことも可能である。このように、性能回復処理が終了し
て総回転時間Ｍを所定の割合で減じた時点で、通常処理
状態に移行する（Ｓ１０９）。

【００５９】なお、図１０ではテープカセットが装填さ
れて通常動作状態に移行する以前（ローディング処理が
完了する以前）に性能確認処理、性能回復処理を行う処
理行程を例に挙げて説明しているが、通常動作状態に移
行した後に、例えば再生などのコマンドが供給された時
点で、実際の動作に移行する前に行うようにしても良
い。

【００６０】本実施の形態では、例えば図９、図１０に
示したフローチャートの処理行程で説明したように、例
えばＤＤＳ-４とされる薄型の磁気テープを利用する場
合でも、回転ドラム３の回転時間やエラーレートの測定
結果などに基づいて、性能回復処理を行うことができる
ようになり。これにより、薄型の磁気テープ２を使用す
る場合でも、ユーザはそれを意識することなく通常の使
用手順で所要の記録／再生性能を得ることができるよう
になる。また、磁気ヘッド６０を薄型の磁気テープにな
じんだ形状にするために、例えばクリーニングテープな
どのように、例えば製造過程におけるカレンダー処理
（磁気テープ２をローラなどでつぶしてその表面性を上
げる行程）を行わないことで、磁気テープとの摺接面が
比較的粗とされるテープを用いてヘッド形状をなじませ
ることも考えられる。しかし、本発明はこのような他の
媒体を必要とせず、前記したようにユーザが磁気テープ
の構成を意識しないで利用することに利点を有してい
る。

【００６１】なお、図１０のフローチャートの処理行程
において、ステップＳ１０５でエラーレートが閾値を超
えていたと判別した場合に、前記した例えばクリーニン
グテープなどとされる他の媒体を使用することをユーザ
に促して、ステップＳ１０６及びステップＳ１０７に示
す処理行程を、前記クリーニングテープなどとされる他
の媒体で行うことも可能である。

【００６２】また、上記実施の形態では、例えばテープ
ストリーマドライブを例に挙げて説明したが、ヘリカル
スキャン方式で磁気テープを走査するように構成されて
いる機器であれば、本発明を適用することがでいる。

【００６３】

【発明の効果】以上、説明したように本発明のテープド
ライブ装置は、薄い磁気テープを収納して構成されてい
る第二のテープカセットが装填された場合に、その時点
の磁気ヘッドの形状で、薄い磁気テープに対して所望す
る記録／再生性能が得られるかを判別することができ、
さらに所望する記録／再生性能が得られなかった場合に
は、磁気ヘッドの形状をなじませるための性能回復処理
を行うことができるようにされている。したがって、テ
ープドライブ装置において例えば再生などの動作を実行
する前に、薄い磁気テープに対して所望する記録／再生
性能を得ることができるようになる。これにより、ユー
ザは厚い磁気テープと薄い磁気テープを意識せずに使用
することができるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態のテープストリーマドライ
ブの構成例を説明するブロック図である。

【図２】実施の形態のテープストリーマドライブのロー
ディング機構を説明する図である。

【図３】テープカセットの外観を説明する図である。

【図４】テープカセットにおけるカセット種別識別孔の
定義を説明する図である。

【図５】磁気テープのフォーマット例を説明する図であ
る。

【図６】デバイスエリアにおけるＦＷＤ-ＲＶＳ領域及
び性能回復領域を説明する図である。

【図７】磁気テープのポジション検出を説明する図であ
る。

【図８】性能回復処理について説明する図である。

【図９】回転ヘッドの回転時間を計測する処理行程の一
例を説明するフローチャートを示す図である。

【図１０】性能確認処理、及び性能回復処理を行う場合
の処理行程の一例を説明するフローチャートを示す図で
ある。

【図１１】テープ厚と磁気ヘッドの形状の関係を説明す
る図である。

【符号の説明】

１ テープストリーマドライブ、２ 磁気テープ、２
Ａ，２Ｂ リールハブ、３ 回転ドラム、４Ａ，４Ｂ
再生ヘッド、５Ａ，５Ｂ 記録ヘッド、６Ａ，６Ｂ、再
生アンプ、７ ロータリートランス、８ ＲＦ処理部、
９ 記録アンプ、１０ デジタルイコライザ／ビタビデ
コーダ、１１ テープフォーマットコントローラ、１２
バッファメモリ、１３ 圧縮／伸長回路、１４ イン
ターナルバッファコントローラ、１５ バッファメモ
リ、１６ ＳＣＳＩコントローラ、１７ フラッシュ
ＲＯＭ、１８ ワークＲＡＭ、１９ システムコントロ
ーラ、２０ サーボコントローラ、２１ メカドライ
バ、２２ ドラムモータ、２３キャプスタンモータ、２
４，２５ リールモータ、２６ ローディングモータ、
２２ａ〜２６ａ ＦＧ、２２ｂ ＰＧ、２７ テンショ
ンレギュレータ、２８ホール検出機構、２９ 回転時間
メモリ、３０ 内部バス、３１ ＳＣＳＩバス、３２
ホストコンピュータ、４０ テープカセット、４７ａ、
４７ｂ、４７ｃ、４７ｄ カセット種別識別孔

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｇ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 テープカセットに収納された記録媒体と
   される磁気テープを走行させるテープ走行手段と、 走行している前記磁気テープを走査することによって情
   報の記録または再生を行なう磁気ヘッドを備えた回転ド
   ラムと、 装填された前記テープカセットの種別を識別するテープ
   カセット種別識別手段と、 前記テープカセット識別手段の識別結果に基づいて、第
   一のテープカセットが装填されたと判別した場合に前記
   回転ドラムが回転動作を行った時間を計測する回転時間
   計測手段と、 前記回転時間計測手段によって計測された前記回転ドラ
   ムの回転時間を記憶する回転時間記憶手段と、 前記テープカセット識別手段の識別結果に基づいて、第
   二のテープカセットが装填されたと判別した場合に、前
   記回転時間記憶手段に記憶されている回転時間に応じて
   前記第二のテープカセットに収納されている磁気テープ
   に対して所要の性能確認処理を行う性能確認処理手段
   と、 前記性能確認処理制御手段の確認結果に基づいて、所要
   の性能回復処理を行う性能回復処理手段と、 を備えたことを特徴とするテープドライブ装置。