JP2000216079A - ステ―ジ装置及び露光装置 - Google Patents
ステ―ジ装置及び露光装置Info
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- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
テージ装置を提供することである。 【解決手段】 ステージ1はリニアモータMによりY方
向に移動される。リニアモータMはコイル等の発熱部を
有する固定子2及びステージ1に取り付けられた可動子
3を有している。固定子2の発熱部としてのコイルの近
傍に冷却流体の流路が形成されており、温調機7により
温調された流体を配管9A〜9Dを介して該流路に沿っ
て循環させることにより、リニアモータMを冷却する。
これらの配管9A〜9Dには流れ方向切替機8が介装さ
れており、制御装置10による制御に基づき流れ方向切
替機8が作動されて、流体の流通方向が適宜に逆転され
る。リニアモータMに沿って生じる温度勾配が少なくな
り、レーザ干渉計4等によるステージ1の位置の計測精
度が向上する。
Description
動するためのステージ装置及び該ステージ装置を備えた
露光装置に関する。
像素子(CCD等)、又は薄膜磁気ヘッド等の製造に使
用される露光装置には、レチクル(又はフォトマスク
等)又はウエハ(又はガラスプレート等)を位置決めす
るためのステージ装置としてレチクルステージ又はウエ
ハステージが使用される。最近では、レチクル及びウエ
ハを投影光学系に対して同期走査することにより、レチ
クルのパターンを逐次ウエハ上に転写するステップ・ア
ンド・スキャン方式等の走査露光型の露光装置も使用さ
れているが、斯かる走査露光型のステージ装置では、レ
チクル及びウエハを一定速度で高精度に走査する機能も
求められている。
びウエハステージには、位置決め又は走査に際しステー
ジの位置を精密に測定するために、レーザ干渉計(レー
ザ光波干渉方式測長器)が備えられている。レーザ干渉
計は、ステージに固定された移動鏡にレーザビームを照
射し、移動鏡から反射されたレーザビームを受光するこ
とによりステージの位置を計測するものである。この場
合、レーザビームの光路上に空気の揺らぎがあると、レ
ーザ干渉計の測定値に誤差が生じる。このような空気の
揺らぎは、気流の乱れや光路近傍の環境温度の変化によ
り生ずる場合が多く、光路近傍の気流の乱れや温度変化
を極力少なくするための方策が求められてきた。
ージには、最近ステージを高速且つ非接触に駆動するた
めの駆動機構としてリニアモータが使用されつつある。
リニアモータは、ベース部材に固定された固定子と、そ
のベース部材に対して移動する部材上に固定された可動
子とからなり、固定子がコイルを含むときは、可動子は
磁石等の発磁体を含み、固定子が発磁体を含むときは、
可動子はコイルを含む。そして、発磁体が可動子に含ま
れ、コイルが固定子側に含まれているものをムービング
・マグネット型のリニアモータといい、コイルが可動子
に含まれ、発磁体が固定子側に含まれるものをムービン
グ・コイル型のリニアモータという。
グネット型、ムービング・コイル型共に通常の回転型の
モータ(ロータリモータ)と比較して、構造的にコイル
と発磁体とのギャップを広くとる必要があるため、回転
型のモータと比較して、効率が悪く、発熱量が多いとい
う傾向がある。
のコイルは、そのまま空気中に露出した構造になってい
る場合が多く、コイルからの熱が周辺の空気温度の変化
の要因となっていた。そのため、レチクルステージやウ
エハステージの位置を計測するレーザ干渉計のレーザビ
ームの光路周辺の空気に揺らぎが生じ、レーザ干渉計の
計測値に誤差が生じる場合があり、最近では益々半導体
素子等の集積度が向上して露光装置に要求される位置決
め精度が高まっているため、そのような部分的な空気の
揺らぎ等に起因する計測誤差を低減することが求められ
ている。
周囲を筒状の容器で覆い、筒状の容器中に温度調節機
(以下、「温調機」という)により冷却液を流してコイ
ルの発熱による温度の上昇を防ぐ方法が提案されてい
る。
ものは発熱部分に冷却液を単純に流すだけの方法である
ため、レーザ干渉計のレーザビームの光路周辺の温度変
化をなくして、光路周辺の部分的な空気の揺らぎを十分
に防止することはできなかった。
て温度が徐々に上昇するから、単純に冷却液を流通させ
るのみでは、冷却液の流れ方向に沿って温度勾配が生
じ、近傍に空気の揺らぎ(屈折率の変動)が発生する。
また、ステージの駆動部とその周辺部分の雰囲気等との
間に温度差があると、この部分にやはり空気の揺らぎが
発生する。
性の向上のため、ステージの高速度化、高加速度化が要
請されており、ステージの駆動装置としてのリニアモー
タにも高推力が要請されている。推力を大きくするため
には、コイル電流を大きくする必要があり、これに伴い
発熱量が増大することになり、上記の問題はさらに顕著
になる。
量を増大すべく、流路断面積を大きくし、あるいは高流
速化することが考えられる。しかし、冷却液の流路はコ
イルと発磁体の間に配置されるので、流路断面積を大き
くすると、コイルと発磁体間のギャップが広くなり、一
方、高流速化するためには、流路壁面(筒状の容器)の
耐圧を大きくすべくその厚さを増大する必要があり、や
はりコイルと発磁体間のギャップが広くなって効率が低
下するとともに、装置の大型化を招くため、得策ではな
い。
ステージ装置を備えた露光装置においては、ステージの
位置決めや移動の精度が低いと、露光精度が低下し、品
質の高いマイクロデバイスを製造することができない場
合があるという問題があった。
みてなされたものであり、効率の低下や装置の大型化を
招くことなく、駆動部の発熱による空気の揺らぎを十分
に抑え、ステージの位置を高精度に計測して、ステージ
を正確に位置決め又は移動できるステージ装置を提供す
ることを目的とする。また、高品質なマイクロデバイス
を製造できる露光装置を提供することを目的とする。
では、理解の容易化のため、本発明の各構成要件に実施
の形態の図に示す参照符号を付して説明するが、本発明
の各構成要件は、これら参照符号によって限定されるも
のではない。
ステージ(1)を駆動装置(M)により駆動するステー
ジ装置であって、前記駆動装置は前記ステージの駆動に
応じて発熱する部分(21)を有しており、前記発熱す
る部分を冷却するために流体(29)を供給する流体供
給装置(7,9A〜9D)と、前記流体の流れる方向を
選択的に切り替える切替装置(8)とを備えたことを特
徴とする。
ターンが形成されたマスクを介して感光基板を露光する
露光装置であって、前記マスク及び前記感光基板の少な
くとも一方を、前記第1のステージ装置により移動する
ことを特徴とする。この場合において、露光処理の後、
次の露光処理を行うまでの間に、前記流体の流れ方向の
切替を実施するよう前記切替装置を制御する制御装置
(10)を設けることができる。
装置の発熱する部分の熱を吸収することにより徐々に温
度が上昇し、駆動装置の流体の導入側における流体の温
度と、排出側における流体の温度との間に温度差が発生
し、流体の流れ方向に沿って温度勾配が生じるが、本発
明では、切替装置によって流体の流れる方向を選択的に
切り替えるようにしたので、流れ方向を逆転させる時期
を適宜に選定することにより、流体の流れ方向に平行す
る方向の温度勾配は平均化され、流体の導入側(一端
側)と排出側(他端側)の温度差を縮小することができ
る。
も、近傍における空気の揺らぎの発生が抑制され、干渉
計等による計測値がより正確となるから、ステージの位
置決め又は移動の精度を向上することができる。また、
このようなステージ装置を備えた本発明の露光装置によ
れば、ステージ装置の位置決め又は移動の精度が高いの
で、高精度、高品質なマイクロデバイスを製造すること
ができる。なお、流体は液体でも気体でもよい。
ステージ(1)を駆動装置(M)により駆動するステー
ジ装置であって、前記駆動装置は前記ステージの駆動に
応じて発熱する部分(21)を有しており、前記発熱す
る部分を包囲する隔壁(22)と、前記隔壁の内部に流
体(29)を流す流体供給装置(7,9A〜9D)と、
前記隔壁を加熱する加熱装置(32)とを備えたことを
特徴とする。この場合において、前記隔壁の温度を検出
する温度検出装置(31,11)と、前記温度検出装置
により検出された温度に基づき、前記隔壁が所定の温度
となるように前記加熱装置の作動を制御する制御装置
(12)とを設けることができる。
ターンが形成されたマスクを介して感光基板を露光する
露光装置であって、前記マスク及び前記感光基板の少な
くとも一方を、前記第2のステージ装置により移動する
ことを特徴とする。
加熱する加熱装置を設けているので、流体の温度と加熱
装置の作動量(発熱量)を適宜に調整することにより、
該隔壁をその周辺部分の雰囲気等と同様の温度に自在に
調整することが可能となり、その周辺部分の雰囲気の温
度分布の一様性を向上することができる。
発生が防止され、干渉計等による計測値がより正確とな
るから、ステージの位置決め又は移動の精度を向上する
ことができる。また、このようなステージ装置を備えた
本発明の露光装置によれば、ステージ装置の位置決め又
は移動の精度が高いので、高精度、高品質なマイクロデ
バイスを製造することができるようになる。なお、流体
は液体でも気体でもよい。
を参照して説明する。図1は1軸用のステージ装置の概
略構成を説明するための図、図2は図1のステージ装置
のリニアモータの断面図である。
ハやマスク等)を保持するためのステージであり、ステ
ージ1は不図示のステージベース上に移動自在に支持さ
れている。ステージ1はムービング・マグネット型の一
対のリニアモータMにより駆動される。なお、以下の説
明では、ステージ1の表面に平行な平面上であって、ス
テージ1の移動方向(図1で紙面に沿う左右方向)にY
軸をとり、これに直交する方向(図1で紙面に直交する
方向)にX軸をとり、これらに直交する方向(図1で紙
面に沿う上下方向)にZ軸をとって説明する。
にX方向に離間して互いに対向するように配置されてい
る。リニアモータMは、ステージベース上にY軸に平行
に設置された固定子(ステータ)2と、固定子2を上部
から挟むようにして架設された可動子(スライダ)3と
から構成され、可動子3の上面とステージ1の対応する
端部の上面とが不図示の固定用フレームを介して連結さ
れている。
ことにより、発磁体を含む可動子3を固定子2上に浮か
せた状態で駆動し、可動子2とステージ1とに固定され
た固定用フレームを介してステージ1をY方向に移動す
る。一対のリニアモータMは通常の場合、ステージ1に
同方向の駆動力を与えるように電流の方向が制御され
る。
が固定されている。ステージベースの端部で、移動鏡6
に対向する位置に設置されたステージ1(試料)の位置
検出装置であるレーザ干渉計4からレーザビーム5が移
動鏡6に照射され、移動鏡6から反射された反射ビーム
を再びレーザ干渉計4で受光して、ステージ1のY方向
の位置を計測する。また、レーザビーム5の光路の近傍
には、その光路周辺の空気温度を計測するための不図示
の温度センサが設置されている。この温度センサの計測
結果は、本実施の形態のステージ装置の周囲に温調され
た空気を供給する不図示の空調系に供給されている。
ニアモータMの温度を調節するための流体温調系及び加
熱温調系を備えている。流体温調系は、流体の温度を調
節するための温調機7、流れ方向切替機8、配管9A,
9B,9C,9D及び流体温調系を全体的に制御する流
体制御装置10等を備えて構成される。温調機7で温度
が調節(以下、単に「温調」という)された流体29
(図2参照)は、配管9A,9B,9C,9Dを通じて
リニアモータMのコイルを含む固定子2の一端部(+Y
方向の端部又は−Y方向の端部)からそれらの内部に供
給され、他端部(−Y方向の端部又は+Y方向の端部)
から排出されて温調機7に戻り循環されるようになって
いる。配管9Aと9B、及び配管9Cと9Dの間には、
流れ方向切替機8が介装されている。
り、この図2において、リニアモータMの可動子3は、
断面形状がコの字型の磁石支持部(ヨーク)27の内側
に一対の磁石26を固定して構成されている。そして固
定子2は、固定子支持体28上に断面形状の外形が矩形
の筒状のステンレス(SUS27等)又はアルミニウム
等からなるジャケット22を固定し、このジャケット2
2の内側に接着した上下一対の樹脂からなる支持体24
に、両面にコイル21をそれぞれ装着した支持板23を
固定して構成されている。コイル21を囲む筒状のジャ
ケット22内の流路25を温調用の流体29が流れ、コ
イル21からの発生熱を吸収する。
に、温度検出装置11、ヒータ制御装置12及び一対の
シートヒータ13等を備えて構成されている。シートヒ
ータ13は、図2に示されているように、リニアモータ
Mの固定子2のジャケット22の両面にそれぞれ接着さ
れている。このシートヒータ13は、図3に示されてい
るように、フィルム状の絶縁層33の内層(中間層)
に、薄膜白金抵抗体からなる温度センサ31、アルミ等
の薄膜電気抵抗体からなるヒータ(発熱回路)32、及
び配線パターンP1,P2,S1〜S4をパターンニン
グして構成されている。シートヒータ13としては、一
般に市販されているものを用いることができ、例えば、
厚さ100〜150μm程度のものを用いることができ
る。
された配線パターンS1〜S4は、温度検出装置11に
接続されており、温度検出装置11は温度センサ31の
抵抗値の変化に基づきジャケット22の温度を検出す
る。温度検出装置11により検出されたジャケット22
の温度はヒータ制御装置12に送られ、ヒータ制御装置
12は配線パターンP1,P2を介してシートヒータ1
3のヒータ32に通電して、リニアモータMの周辺雰囲
気の温度として仕様上予め決められた所定の温度(例え
ば、前記空調系によるレーザ干渉系4のレーザビーム5
の光路の近傍の空気温度の制御目標値)に一致するよう
にヒータ32による発熱量を調整制御する。
決められた所定の温度に一致するように制御する以外
に、レーザ干渉系4のレーザビーム5の光路の近傍の空
気温度を検出する温度センサによる検出温度に一致する
ように制御するようにしてもよい。
であり、(a)は順方向の送りを、(b)は逆方向の送
りを示している。同図において、8A,8Bは、流体温
調系の流体制御装置10からの制御信号に応じて作動さ
れる3ポートの電磁弁である。
配管9AとリニアモータM(ジャケット22)の一端部
(+Y方向の端部)へ接続された配管9Bとリニアモー
タM(ジャケット22)の他端部(−Y方向の端部)へ
接続された配管9Cに接続された連絡管8Cの交差部に
介装されており、配管9Aと配管9B又は配管9Aと配
管9C(連絡管8C)を流体制御装置10による制御に
基づき選択的に連通する。一方、電磁弁8Bは温調機7
の流体が吸入される配管9Dと配管9Bに接続された連
絡管8Dと配管9Cの交差部に介装されており、配管9
Cと配管9D又は配管9B(連絡管8D)と配管9Dと
を流体制御装置10による制御に基づき選択的に連通す
る。
又は(b)に示されているように、同時に切り替えるこ
とにより、流体の流通方向を正方向又は逆方向に自在に
切り替えることができるようになっている。
切替機8の電磁弁8A,8Bを図4(a)の状態に設定
して、温調機7を作動すると、温調機7から温調された
流体29が配管9Aに吐出され、流体29は電磁弁8A
により配管9Bに導かれ、固定子2のジャケット22の
一端側(+Y方向の端部側)の流出入口を介してジャケ
ット22の内部に供給される。流体29はジャケット2
2の内部でコイル21の熱を吸収して昇温され、ジャケ
ット22の他端側(−Y方向の端部側)の流出入口から
配管9Cに排出され、電磁弁8Bにより配管9Dに導か
れて、温調機7に戻り、再度温調されて、以下同様の経
路で循環される。
ュールに従って、所定の時間が経過した時点で、流れ方
向切替機8の電磁弁8A,8Bを図4(b)の状態に切
り替える。これにより、流体29の流れ方向が逆転され
る。
に吐出された流体29は、電磁弁8Aにより連絡管8C
を介して配管9Cに導かれ、固定子2のジャケット22
の一端側(−Y方向の端部側)の流出入口を介してジャ
ケット22の内部に供給される。流体29はジャケット
22の内部で逆方向に流通してコイル21の熱を吸収し
て昇温され、ジャケット22の他端側(+Y方向の端部
側)の流出入口から配管9Bに排出され、連絡管8Dを
介して電磁弁8Bにより配管9Dに導かれて、温調機7
に戻り、再度温調されて、以下同様の経路で循環され
る。
って、所定の時間が経過した時点で、同様に流れ方向切
替機8を制御して、流体29の流れ方向の切り替えを一
定時間間隔で順次繰り返す。
リニアモータMに供給される流体29の温度を検出する
ための温度センサ(不図示)が、配管9Aに挿設する形
で設置されている。同様に、配管9Dの温調機7への流
入口には、コイル21の熱で昇温された流体29の温度
を検出するための温度センサ(不図示)が配管9Dに挿
設されている。これらの温度センサの測定結果は流体制
御装置10に供給されており、流体制御装置10は、こ
れらの温度センサの測定結果に基づいて、流体29の温
度及び流量を制御する。なお、流体29の温度を制御す
るための温度センサは、流体29の流通経路中の他の位
置、例えば、リニアモータMの流体29の一端側及び他
端側の流出入口の近くに設けてもよい。また、流体29
の流通経路中に流量制御弁を設けて、流体29の流量を
制御することによりリニアモータMのコイル21の表面
温度を制御するようにしてもよい。
性が良好な場合には、例えば純水等純度の高い水が使用
できる。また、ヘリウム(He)等の不活性ガスも使用
できる。但し、流体29としてはコイル21及びジャケ
ット22等に対する腐食性がなく、導電性が小さく、伝
熱性に優れ、且つ化学的に不活性な液体が望ましい。流
体29として、具体的には例えば商品名がフロリナート
(住友スリーエム(株)製造)等のフッ素系の不活性液
体を使用することができる。
について説明する。本実施の形態では、図1のステージ
1が駆動されている間、不図示の温度センサによりレー
ザ干渉計4のレーザビーム5の光路周辺の温度TL を
常時計測する。この温度センサの計測温度TL は、不
図示の空調系に送られる。その空調系では、計測された
温度TLが目標温度TOに近づくように供給する空気の
温度を制御する。
C が設定されている。そして、温調機7は、リニアモ
ータMに供給される前の流体29の温度、即ち配管9A
に設けられた温度センサで計測される温度TR がその
制御温度TC と等しくなるように制御しながら温調機
7に内蔵されたポンプを駆動して、流体29をリニアモ
ータMに供給する構成となっている。
には、制御温度TC は目標温度T O と等しくなるよ
うに設定する。一方、加熱温調系11〜13を作動させ
る場合には、制御温度TC は目標温度TO よりも低
くなるように設定し、加熱温調系によって目標温度T
O となるように加熱制御する。
た温度センサで計測されるリニアモータMを通過した後
の流体29の温度が高くなり過ぎる場合には、例えば流
体29の流量を増加して過度の温度上昇を防止してい
る。
場合を除き、レーザ干渉計4のレーザビーム5の光路上
の気流の乱れはステージ装置及びステージ装置周辺の環
境温度の位置による温度差(以下、「位置温度差」とい
う)により発生する。即ち、位置温度差により空気の流
れが生じ、レーザビーム5の光路の周辺に空気の流れに
抵抗する障害物があれば、そこで気流の乱れが発生し、
光路上の空気に揺らぎが生じる。
熱の大きなリニアモータMの固定子2に含まれるコイル
21を覆うジャケット22を設け、このジャケット22
内に所定の温度に制御された流体29を流すことで、コ
イル21を冷却することに加えて、流体29の流通方向
を適宜に逆転することにより、リニアモータMに沿って
温度勾配が生じることを抑制するようにしている。これ
により、レーザビーム5の光路上の空気の揺らぎが抑え
られ、レーザ干渉計4によりステージ1の位置を正しく
計測することができる。そして、そのレーザ干渉計4の
計測値に基づいてステージ1を正確に位置決めできる。
Mの固定子2のジャケット22の表面温度が、シートヒ
ータ13の温度センサ31及び温度検出装置11により
検出され、ヒータ制御装置12はシートヒータ13のヒ
ータ32に通電して、リニアモータMの周辺環境の温度
として仕様上予め決められた所定の温度に一致するよう
にヒータ32による発熱量を調整制御するようにしてい
る。
ット22の壁面をヒータ32により周辺環境温度と一致
するように加熱するようにしたので、ジャケット22の
壁面はその周辺の環境温度と同様の温度となり、その近
傍の温度分布が一様となる。従って、リニアモータMの
周辺環境における空気に揺らぎの発生が防止され、レー
ザ干渉計4による計測値がより正確となり、ステージの
位置決め又は移動の精度が向上する。
では、ジャケット22の両面にそれぞれ設けているが、
このリニアモータMは左右対称なので、いずれか一方の
面にのみ設けるようにしてもよい。また、温度センサ3
1はジャケット22の一の面に対して単一である必要は
なく、複数箇所に設けてもよい。さらに、ヒータ32は
ジャケット22の一の面を全体的に加熱するもののみな
らず、独立して設けた複数のヒータによりそれぞれ部分
的に異なる加熱量で加熱することにより全体としての温
度を一様に制御するようにしてもよい。
温調系による流体29の流通方向の切替制御及び前記加
熱温調系によるヒータ32の発熱量の制御の双方を行う
ようにしているが、いずれか一方のみを採用するように
してもよい。
め決められた所定のスケジュールに従って、流体29の
流通方向を逆転させるようにしているが、リニアモータ
M(ジャケット22)の一端側と他端側の温度を検出し
て、その温度差が予め決められた所定の値となったとき
に、流体29の流通方向を逆転させるようにしてもよ
い。
の概略構成を示す図である。この露光装置はステップ・
アンド・リピート方式の縮小投影型露光装置である。
マレーザ光を射出する露光光源、照度分布均一化用のフ
ライアイレンズ又はロッド・インテグレータ等のオプチ
カルインテグレータ(ホモジナイザー)、照明系開口絞
り、レチクルブラインド(可変視野絞り)、及びコンデ
ンサレンズ系等から構成されている。転写すべきパター
ンが形成されたフォトマスクとしてのレチクルRは、レ
チクルステージRS上に吸着保持されており、照明光学
系51により露光光ILがレチクルステージRS上のレ
チクルRに照射される。
は、投影光学系PLを介して縮小倍率1/α(αは例え
ば5、又は4等)で、露光対象としてのフォトレジスト
が塗布されたウエハWの表面に投影される。
持されたレチクルRをXY平面内で位置決めする。レチ
クルステージRSは、図1に示した1軸用のステージ装
置と同様のステージ装置を2台組み合わせて、2軸用と
したステージ装置である。レチクルステージRSの位置
はレーザ干渉計によって計測され、この計測値及び主制
御系52からの制御情報によってレチクルステージRS
の動作が制御される。
上に真空吸着により保持され、このウエハホルダは試料
台(ウエハテーブル)WT上に同じく真空吸着されるこ
とにより着脱可能に保持されている。試料台WTはウエ
ハステージWS上にZ方向に変位する複数のアクチュエ
ータ(不図示)などを介して設置されている。試料台W
Tは、オートフォーカス方式でウエハWのフォーカス位
置(光軸AX方向の位置)、及び傾斜角を制御すること
によって、ウエハWの表面を投影光学系PLの像面に合
わせ込む。
上に載置されており、ウエハWをXY平面内で位置決め
する。ウエハステージWSは、図1に示した1軸用のス
テージ装置と同様のステージ装置を2台組み合わせて、
2軸用としたステージ装置である。試料台WTにはウエ
ハの位置検出装置であるレーザ干渉計の移動鏡(反射
鏡)54(図1の移動鏡6に相当)が固定されており、
この移動鏡54及び移動鏡54に対向して配置されたレ
ーザ干渉計55(図1のレーザ干渉計4に相当)によっ
て試料台WTのX座標、Y座標、及び回転角が計測さ
れ、この計測値がステージ制御系56及び主制御系52
に供給されている。ステージ制御系56は、レーザ干渉
計55による計測値及び主制御系52からの制御情報に
基づいて、ウエハステージWSのリニアモータなどの動
作を制御する。
制御装置10及び加熱温調系のヒータ制御装置12の上
位の制御装置であり、これらの流体制御装置10、ヒー
タ制御装置12及びステージ制御系56は主制御系52
からの指令に従って、各種の装置を制御する。
光対象のショット領域を順次露光位置に位置決めした
後、レチクルステージRSにより所定の位置に設定され
たレチクルRのパターン領域に対して、照明光学系51
よりエキシマレーザ光等の露光光ILを照射すること
で、パターン領域内のパターンを縮小倍率1/αで縮小
した像がショット領域に転写される。
域にパターンの縮小像を順次転写露光した後、ウエハW
の現像を行って、エッチング等のプロセスを実行するこ
とによって、ウエハW上の各ショット領域に半導体デバ
イスのあるレイヤの回路パターンが形成される。
ージWSの詳細構成について、図6を参照して説明す
る。なお、レチクルステージRSについては、ウエハス
テージWSとほぼ同様の構成のステージ装置を採用する
ものとし、その説明は省略することにする。
2軸のステージ装置であり、ウエハベースWB上をX方
向に駆動されるXステージ61、Xステージ61上をY
方向に駆動されるYステージ62、及び試料台(ウエハ
テーブル)WT等により構成されている。
3(図1の移動鏡6に相当)が固定されている。ウエハ
ベースWBの+Y方向の端部で、移動鏡63に対向する
位置に設置されたレーザ干渉計64(図1のレーザ干渉
系4に相当)からレーザビームが移動鏡63に照射さ
れ、移動鏡63から反射された反射ビームを再びレーザ
干渉計64で受光することにより、試料台WT(ウエハ
W)のY方向の位置が計測される。また、試料台WTの
−X方向の端部には移動鏡65が固定されており、ウエ
ハベースWBの−X方向の端部で、移動鏡65に対向す
る位置に設置されたレーザ干渉計66からレーザビーム
が移動鏡65に照射され、移動鏡65から反射された反
射ビームを再びレーザ干渉計66で受光することにより
試料台WT(ウエハW)のX方向の位置が計測される。
からなる一対のリニアモータMXによりウエハベースW
B上をX方向に駆動される。Yステージ62は、同じく
固定子2及び可動子3からなる一対のリニアモータMY
によりXステージ61上をY方向に駆動される。これら
のリニアモータMX,MYは、図2に示したリニアモー
タMと同様のムービング・コイル型のリニアモータであ
るので、その詳細な説明は省略することにする。なお、
Y軸のリニアモータMYは、図2のリニアモータMの全
体を横倒したような状態で設置されているが、構成的に
は同様である。
ルを含む固定子2は共にウエハベースWB上のY方向の
両端に沿って固定され、可動子3はそれぞれ固定板69
を介してXステージ61に固定されている。また、Y軸
のリニアモータMYのそれぞれのコイルを含む固定子2
は共にXステージ61の両側部に固定され、可動子3は
直接Yステージ62の側面に固定されている。
タMと同様に、内部をコイルの熱を吸収するための流体
が循環するジャケット(22)が設けられ、外部に設置
された温調機7から流れ方向切替機8を介して、温調さ
れた流体が各固定子2に並列に供給されている。図6で
は、流体を循環するための配管を線(一点鎖線)で示
し、流体の正方向の流れを矢印で示している。なお、温
調機7及び流れ方向切替機8の構成は図1と同様である
ので、その説明は省略する。また、この実施の形態で
は、各リニアモータMX,MYについて、図1に示した
加熱温調系11〜13に相当する温調系は設けていない
ものとする。
吐出配管9Aに流入する。初期状態では、流れ方向切替
機8は配管9Aと9Bを接続し、配管9Cと9Dを接続
するように設定されており、温調された流体は配管9B
に導入される。配管9Bは2つの配管70X,70Yに
分岐しており、これら2つの配管70X,70Yはそれ
ぞれ更に2つの枝管に分岐している。
配管70Xから分岐された2つの枝管を経由して、それ
ぞれXステージ61の2つの固定子2のジャケット(2
2)の流出入口に流入する。Xステージ61の2つの固
定子2のコイルの熱をそれぞれ吸収した流体は、ジャケ
ットの反対側の流出入口から排出され、それぞれのジャ
ケットに接続された枝管を経由した後に合流されて、配
管71Xを介して配管9Cに導入され、さらに流れ方向
切替機8を介して配管9Dに導入され、温調機7に戻さ
れる。
た流体は配管70Yから分岐された2つの枝管を経由し
て、それぞれYステージ62の2つの固定子2のジャケ
ット(22)の流出入口に流入する。Yステージ62の
2つの固定子2のコイルの熱をそれぞれ吸収した流体
は、ジャケットの反対側の流出入口から排出され、それ
ぞれのジャケットに接続された枝管を経由して合流され
て、配管71Yを介して配管9Cに合流され、同様に温
調機7に戻される。温調機7に戻された流体は温調機7
で所定の温度に調整され、再び各固定子2の温調のため
に循環される。
御系52の記憶装置に格納されているものとする)に従
って所定の時間が経過すると、主制御系52が流体制御
装置10に対して流体の流通方向の切替指令を送る。流
体制御装置10は流れ方向切替機8の電磁弁(8A,8
B)を作動させて、配管9Aと9Bの接続を遮断して配
管9Aと9Cを接続するとともに、配管9Cと9Dの接
続を遮断して配管9Bと9Dを接続する。これにより、
流体は切替前と逆の流通方向に流通されることになる。
機7の吐出配管9Aに流入する。切替後の状態では、流
れ方向切替機8は配管9Aと9Cを接続し、配管9Bと
9Dを接続するように設定されており、温調された流体
は分配管8Cを介して配管9Cに導入される。流体は図
6中の矢印方向と反対方向に流れ、2つの配管71X,
71Yに分配される。
配管71Xから分岐された2つの枝管を経由して、それ
ぞれXステージ61の2つの固定子2のジャケット(2
2)の流出入口に流入する。Xステージ61の2つの固
定子2のコイルの熱をそれぞれ吸収した流体は、ジャケ
ットの反対側の流出入口から排出され、それぞれのジャ
ケットに接続された枝管を経由した後に合流されて、配
管70Xを介して配管9Bに導入され、流れ方向切替機
8の分配管8Dを介して配管9Dに導入され、温調機7
に戻される。
た流体は配管71Yから分岐された2つの枝管を経由し
て、それぞれYステージ62の2つの固定子2のジャケ
ット(22)の流出入口に流入する。Yステージ62の
2つの固定子2のコイルの熱をそれぞれ吸収した流体
は、ジャケットの反対側の流出入口から排出され、それ
ぞれのジャケットに接続された枝管を経由して合流され
て、配管70Yを介して配管9Bに合流され、同様に温
調機7に戻される。温調機7に戻された流体は温調機7
で所定の温度に調整され、再び各固定子2の温調のため
に循環される。
切り替えは、一のショット領域に対する露光処理が終了
した後、次のショット領域に対する露光処理を開始する
前までのステップ移動中、あるいはウエハWの交換中に
行うようにすることが望ましい。流体の流通方向の切替
直後は、流体の流れが不安定になり、振動等が生じるこ
とがあり得るので、露光処理中に行うと露光精度が低下
する恐れがあるからである。
ニアモータMXの各固定子2、Yステージ62を駆動す
る一対のリニアモータMYの各固定子2に、それぞれ図
1に示した加熱温調系(11〜13)と同様の温調系を
設け、主制御系52からの指令に基づき、ヒータ制御装
置12が作動されて、各固定子2のジャケット(22)
の温度を制御するようにしてもよい。この場合には、リ
ニアモータMX,MYの周辺の雰囲気温度(目標温度又
は検出温度)よりも低くなるように、温調機7により流
体を温調して、ヒータ31により当該雰囲気温度に一致
するように加熱制御する。
口の近くに流体の温度を測定するための温度センサを個
別に設けるようにしてもよい。また、各固定子2のジャ
ケットに接続する枝管内に流量制御弁を個別に設けて、
各固定子2への流体の流量を個別に制御するようにして
もよい。
空気軸受式のステージであり、Xステージ61とリニア
モータMXとの間に案内面となるエアガイド72が設け
られ、Xステージ61のエアガイド72に対向する側面
に静圧気体軸受け73が設けられている。この静圧気体
軸受け73の吹出口から所定の圧力に調整された空気を
エアガイド72の対応する側面に吹き出すと共に、吹出
口に併設された吸引口から空気を吸引する。空気の吹出
口と吸引口とはXステージ61の側面全体に交互に設け
られており、空気吹き出しによる反発力と、真空吸引力
との釣り合いにより、Xステージ61とエアガイド72
との間に一定の隙間が保たれるようになっている。ま
た、Xステージ61の底面側にも同様に静圧気体軸受け
が設けられており、Xステージ61とウエハベースWB
との間に一定の隙間が保持されるようになっているが、
本発明と直接関係しないので詳細説明は省略する。
モータMX,MYの各固定子2を冷却するための流体の
流通方向を所定のスケジュールに従って逆転させるよう
にしたので、各リニアモータMX,MYの各固定子2の
コイルの発熱によりリニアモータMX,MYの長手方向
に生じる温度勾配が平均化されることにより小さくな
る。
も、リニアモータMX,MYの近傍における空気の揺ら
ぎの発生が抑制され、レーザ干渉計64,66による計
測値がより正確となるから、ステージ61,62の位置
決め又は移動の精度を向上することができる。従って、
このような高精度なステージ装置を備えた露光装置を用
いることにより、高精度、高品質なマイクロデバイスを
製造することができる。
能・性能設計を行うステップ、この設計ステップに基づ
いたレチクルを製作するステップ、シリコン材料からウ
エハを制作するステップ、上述の他の実施の形態の露光
装置によりレチクルのパターンをウエハに露光転写する
ステップ、デバイス組み立てステップ(ダイシング工
程、ボンディング工程、パッケージ工程を含む)、検査
ステップ等を経て製造される。
容易にするために記載されたものであって、本発明を限
定するために記載されたものではない。従って、上記の
実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に
属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。
形態においては、ムービング・マグネット型のリニアモ
ータM,MX,MYを使用したが、本発明は、可動子側
にコイルを含み、固定子に発磁体を含むムービング・コ
イル型のリニアモータを使用する場合にも同様に適用で
きる。また、ステージを駆動する駆動装置としてリニア
モータを例にとって説明したが、本発明はこれに限定さ
れず、その他の形式のモータ、例えば、いわゆる平面モ
ータを駆動装置とするステージ装置にも適用することが
できる。
向に移動するとともに、Z方向に微動し、さらに、X
軸、Y軸及びZ軸周りに微少回転することができ、全部
で6自由度を有する駆動装置である。平面モータは、詳
細な図示は省略するが、概略以下のような構成である。
部ヨークの上面に複数の駆動ユニットを配設し、該駆動
ユニットから上部に離間して、強磁性体からなる上部ヨ
ークを配置する。駆動ユニットは強磁性体からなるコア
に適宜に複数のコイルを配置して構成され、該駆動ユニ
ットと該上部ヨークの間に、磁石板を有するウエハステ
ージを配置する。これにより、ウエハステージは浮遊し
た状態で保持され、駆動ユニットに適宜に通電すること
により、所望の方向に推力を発生することで、かかる6
自由度を実現している。
これの冷却に上述の流体温調系(7,8,9A〜9D,
10等)と同様の温調系を設けて、駆動ユニットの近傍
に温調された流体を流通させ、該流体の流通方向を適宜
に切り替えることにより、該流体の流路に沿って生じる
温度勾配が平均化されて小さくなり、ステージ位置の計
測精度等を向上できる。
は、レチクルとウエハとを静止させた状態でレチクルパ
ターンの全面に露光用照明光を照射して、そのレチクル
パターンが転写されるべきウエハ上の1つの区画領域
(ショット領域)を一括露光するステップ・アップ・リ
ピート方式の縮小投影型露光装置(ステッパー)を例に
とって説明したが、本発明はこれに限定されず、マスク
やウエハを移動するためにステージ装置を用いるあらゆ
る形式の露光装置に適用することができる。
て、矩形その他の形状のスリット光で走査・照明してウ
エハ上のショット領域を逐次露光し、順次ウエハを移動
して他のショット領域に対して走査・露光を繰り返すス
テップ・アンド・スキャン方式の縮小投影型走査露光装
置(スキャニング・ステッパー)にも同様に本発明を適
用することができる。この場合において、流体温調系に
よるリニアモータMX,MYに対する流体の流通方向の
切り替えは、同期精度等に悪影響を与えないように、露
光動作中を含むスキャニング動作中以外の例えばステッ
プ移動中、あるいはウエハの交換動作中等に行うように
するとよい。
出される輝線(例えばg線、i線)、KrFエキシマレ
ーザ(波長248nm)、ArFエキシマレーザ(波長
193nm)、F2 レーザ(波長157nm)、Ar
2 レーザ(波長126nm)又はYAGレーザなどの
高調波のいずれであってもよい。また、露光用照明光と
して、DFB半導体レーザ又はファイバーレーザから発
振される赤外域、又は可視域の単一波長レーザを、例え
ばエルビウム(又はエルビウムとイットリビウムの両
方)がドープされたファイバーアンプで増幅し、非線形
光学結晶を用いて紫外光に波長変換した高調波を用いて
もよい。
域)に発振スペクトルを有するEUV(Extreme
Ultra Violet)光を露光用照明光とし、
反射マスク上での照明領域を円弧スリット状に規定する
とともに、複数の反射光学素子(ミラー)のみからなる
縮小投影光学系を有し、縮小投影光学系の倍率に応じた
速度比で反射マスクとウエハとを同期移動して反射マス
クのパターンをウエハ上に転写するEUV露光装置など
にも、本発明を適用することができる。
薄膜磁気ヘッド、及び撮像素子(CCD等)の製造に用
いられる投影露光装置だけでなく、レチクル、又はマス
クを製造するために、ガラス基板、又はシリコンウエハ
等に回路パターンを転写する投影露光装置にも本発明を
適用できる。
型化を招くことなく、駆動部の発熱による空気の揺らぎ
を十分に抑え、ステージの位置を高精度に計測して、ス
テージを正確に位置決め又は移動できるステージ装置を
提供することができるという効果がある。また、高品質
なマイクロデバイスを製造できる露光装置を提供するこ
とができるという効果がある。
成を示す図である。
示す断面図である。
けるシートヒータの構成を示す図である。
を示す図であり、(a)は流体を正方向に流す場合を、
(b)は流体を逆方向に流す場合を示している。
概略構成を示す図である。
構成を示す斜視図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 ステージを駆動装置により駆動するステ
ージ装置であって、 前記駆動装置は前記ステージの駆動に応じて発熱する部
分を有しており、 前記発熱する部分を冷却するために流体を供給する流体
供給装置と、 前記流体の流れる方向を選択的に切り替える切替装置と
を備えたことを特徴とするステージ装置。 - 【請求項2】 パターンが形成されたマスクを介して感
光基板を露光する露光装置であって、 前記マスク及び前記感光基板の少なくとも一方を、請求
項1に記載のステージ装置により移動することを特徴と
する露光装置。 - 【請求項3】 露光処理の後、次の露光処理を行うまで
の間に、前記流体の流れ方向の切替を実施するよう前記
切替装置を制御する制御装置を備えたことを特徴とする
請求項2に記載の露光装置。 - 【請求項4】 ステージを駆動装置により駆動するステ
ージ装置であって、 前記駆動装置は前記ステージの駆動に応じて発熱する部
分を有しており、 前記発熱する部分を包囲する隔壁と、 前記隔壁の内部に流体を流す流体供給装置と、 前記隔壁を加熱する加熱装置とを備えたことを特徴とす
るステージ装置。 - 【請求項5】 前記隔壁の温度を検出する温度検出装置
と、 前記温度検出装置により検出された温度に基づき、前記
隔壁が所定の温度となるように前記加熱装置の作動を制
御する制御装置とを備えたことを特徴とする請求項4に
記載のステージ装置。 - 【請求項6】 パターンが形成されたマスクを介して感
光基板を露光する露光装置であって、 前記マスク及び前記感光基板の少なくとも一方を、請求
項4又は5に記載のステージ装置により移動することを
特徴とする露光装置。
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003022955A (ja) * | 2001-07-09 | 2003-01-24 | Canon Inc | 露光装置 |
JP2003022963A (ja) * | 2001-07-10 | 2003-01-24 | Canon Inc | 露光装置 |
WO2003079418A1 (fr) * | 2002-03-15 | 2003-09-25 | Nikon Corporation | Aligneur et procede de fabrication de dispositif |
DE10327505B4 (de) * | 2003-06-17 | 2007-04-12 | IMMS gGmbH Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme | Maßverkörperung mit integriertem Kühlsystem |
JP2008072100A (ja) * | 2006-08-25 | 2008-03-27 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
JP2009049434A (ja) * | 2008-11-20 | 2009-03-05 | Canon Inc | ステージベース、ステージ装置、露光装置及びデバイスの製造方法 |
KR100914912B1 (ko) * | 2006-05-26 | 2009-08-31 | 캐논 가부시끼가이샤 | 스테이지 장치, 노광 장치, 및 마이크로디바이스 제조 방법 |
US8059261B2 (en) | 2003-05-30 | 2011-11-15 | Asml Netherlands B.V. | Masking device, lithographic apparatus, and device manufacturing method |
JP2012043916A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体ウエハ冷却装置 |
-
1999
- 1999-01-25 JP JP01539999A patent/JP4432139B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003022955A (ja) * | 2001-07-09 | 2003-01-24 | Canon Inc | 露光装置 |
JP2003022963A (ja) * | 2001-07-10 | 2003-01-24 | Canon Inc | 露光装置 |
WO2003079418A1 (fr) * | 2002-03-15 | 2003-09-25 | Nikon Corporation | Aligneur et procede de fabrication de dispositif |
US8059261B2 (en) | 2003-05-30 | 2011-11-15 | Asml Netherlands B.V. | Masking device, lithographic apparatus, and device manufacturing method |
DE10327505B4 (de) * | 2003-06-17 | 2007-04-12 | IMMS gGmbH Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme | Maßverkörperung mit integriertem Kühlsystem |
KR100914912B1 (ko) * | 2006-05-26 | 2009-08-31 | 캐논 가부시끼가이샤 | 스테이지 장치, 노광 장치, 및 마이크로디바이스 제조 방법 |
US8102500B2 (en) | 2006-05-26 | 2012-01-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Stage device, exposure apparatus, and microdevice manufacturing method |
US8891054B2 (en) | 2006-05-26 | 2014-11-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Stage device including a heat insulating sheet supported by an auxiliary member |
JP4668248B2 (ja) * | 2006-08-25 | 2011-04-13 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
JP2008072100A (ja) * | 2006-08-25 | 2008-03-27 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
JP2009049434A (ja) * | 2008-11-20 | 2009-03-05 | Canon Inc | ステージベース、ステージ装置、露光装置及びデバイスの製造方法 |
JP2012043916A (ja) * | 2010-08-18 | 2012-03-01 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体ウエハ冷却装置 |
DE102011079806B4 (de) | 2010-08-18 | 2022-01-13 | Rohm Co., Ltd. | Halbleiterwafer-Kühlvorrichtung |
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