JP2000105901A - 環境変動耐力の高い磁気ディスク装置 - Google Patents
環境変動耐力の高い磁気ディスク装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁気ディスク装置の再生信号処理の適応能力
を向上させ、リトライや誤訂正の頻度を低減し、高性能
な装置を低コストで提供すること。 【解決手段】 図は再生回路(RSPC)201とチャネル状態
測定回路(CCM)205を示す。A/D変換回路212の出力はディ
ジタル等化回路(FIR)213入力され、精密に等化される。
FIRの係数学習を指示する信号(TREQ_EN)51が入力される
とレジスタCOEF0の初期係数値がレジスタCOEFに係数値
として設定され、係数学習回路(ADAPT)218が起動され、
係数値の逐次学習を開始する。CCMではFIRの出力値列53
の誤差を算出し、誤差の２乗積算値を誤差しきい値と比
較し、積算値の方が大なら、係数学習結果が異常である
としてレジスタCOEFの係数値を棄却する制御信号52がAD
APTに発行され、初期係数値を係数値として設定する。T
REQ_ENは読取り対象セクタの１つ前のセクタで出力され
ても、読取り対象セクタで出力されてもよい。
を向上させ、リトライや誤訂正の頻度を低減し、高性能
な装置を低コストで提供すること。 【解決手段】 図は再生回路(RSPC)201とチャネル状態
測定回路(CCM)205を示す。A/D変換回路212の出力はディ
ジタル等化回路(FIR)213入力され、精密に等化される。
FIRの係数学習を指示する信号(TREQ_EN)51が入力される
とレジスタCOEF0の初期係数値がレジスタCOEFに係数値
として設定され、係数学習回路(ADAPT)218が起動され、
係数値の逐次学習を開始する。CCMではFIRの出力値列53
の誤差を算出し、誤差の２乗積算値を誤差しきい値と比
較し、積算値の方が大なら、係数学習結果が異常である
としてレジスタCOEFの係数値を棄却する制御信号52がAD
APTに発行され、初期係数値を係数値として設定する。T
REQ_ENは読取り対象セクタの１つ前のセクタで出力され
ても、読取り対象セクタで出力されてもよい。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
（ＨＤＤ）に係り、位置ずれが大きな状態から係数学習
を適用することによる装置性能の劣化を回避するための
再生制御方法に関する。
（ＨＤＤ）に係り、位置ずれが大きな状態から係数学習
を適用することによる装置性能の劣化を回避するための
再生制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術による磁気ディスク装置の構成
と再生動作を説明する。図１２に磁気ディスク装置（Ｈ
ＤＤ）１０の構成の一例を示す。ＨＤＤ１０は、ヘッド
ディスクアセンブリ（ＨＤＡ）２０と、パッケージ基板
（ＰＣＢ）３０とで構成される。ＨＤＡ２０は、磁気デ
ィスク２−１〜２−５と、磁気ヘッド１−１〜１−１０
が取り付けられたサスペンション１０８と、キャリッジ
１０３と、キャリッジ１０３上に取り付けられたＲ／Ｗ
ＩＣ１０４と、スピンドルモータ１０５、フレキシブル
プリントケーブル（ＦＰＣ）１０６等から構成される。
ＰＣＢ３０は、信号処理ＬＳＩ（ＳＰＣ）２１とハード
ディスクコントローラチップ（ＨＤＣ）２２とサーボコ
ントローラ（ＳＲＶＣ）２３、マイクロプロセッサ（Ｍ
Ｐ）２４とホストバスインターフェイスチップ（ＨＢ
Ｉ）２５、ＲＯＭ２６、バッファーＲＡＭ２７等から構
成される。
と再生動作を説明する。図１２に磁気ディスク装置（Ｈ
ＤＤ）１０の構成の一例を示す。ＨＤＤ１０は、ヘッド
ディスクアセンブリ（ＨＤＡ）２０と、パッケージ基板
（ＰＣＢ）３０とで構成される。ＨＤＡ２０は、磁気デ
ィスク２−１〜２−５と、磁気ヘッド１−１〜１−１０
が取り付けられたサスペンション１０８と、キャリッジ
１０３と、キャリッジ１０３上に取り付けられたＲ／Ｗ
ＩＣ１０４と、スピンドルモータ１０５、フレキシブル
プリントケーブル（ＦＰＣ）１０６等から構成される。
ＰＣＢ３０は、信号処理ＬＳＩ（ＳＰＣ）２１とハード
ディスクコントローラチップ（ＨＤＣ）２２とサーボコ
ントローラ（ＳＲＶＣ）２３、マイクロプロセッサ（Ｍ
Ｐ）２４とホストバスインターフェイスチップ（ＨＢ
Ｉ）２５、ＲＯＭ２６、バッファーＲＡＭ２７等から構
成される。
【０００３】再生時の動作を図１２〜１５を用いて説明
する。図１２の磁気ディスク２−１から磁気ヘッド１−
１のＭＲヘッドで検出された再生磁界に対応する再生信
号は、サスペンション１０８上の配線を介してＲ／ＷＩ
Ｃ１０４に入力される。Ｒ／ＷＩＣ１０４は、予めＭＰ
２４を介して磁気ヘッドの選択と選択したＭＲヘッドの
センス電流値が設定される。磁気ディスク２−１からの
再生磁界によるＭＲヘッドの抵抗変化を電圧の変化に変
換し、更にＲ／ＷＩＣ１０４はこの再生信号を数十〜数
百ｍＶｐ−ｐに増幅してＳＰＣ２１に出力する。この信
号３３は、図１３のＳＰＣ２１の再生回路（ＲＳＰＣ）
２０１に入力される。
する。図１２の磁気ディスク２−１から磁気ヘッド１−
１のＭＲヘッドで検出された再生磁界に対応する再生信
号は、サスペンション１０８上の配線を介してＲ／ＷＩ
Ｃ１０４に入力される。Ｒ／ＷＩＣ１０４は、予めＭＰ
２４を介して磁気ヘッドの選択と選択したＭＲヘッドの
センス電流値が設定される。磁気ディスク２−１からの
再生磁界によるＭＲヘッドの抵抗変化を電圧の変化に変
換し、更にＲ／ＷＩＣ１０４はこの再生信号を数十〜数
百ｍＶｐ−ｐに増幅してＳＰＣ２１に出力する。この信
号３３は、図１３のＳＰＣ２１の再生回路（ＲＳＰＣ）
２０１に入力される。
【０００４】図１４はＲＳＰＣ２０１の構成を示す。Ｒ
ＳＰＣ２０１の初段の可変利得増幅器（ＶＧＡ）２１０
で適切な振幅に増幅され、アナログ等化回路（ＡＦ）２
１１で、不要な高域雑音が除去されると共に再生波形が
粗く等化される。この後にＡ／Ｄ変換器（ＡＤＣ）２１
２でディジタル信号化され、後段のディジタル等化器
（ＦＩＲ）２１３で精密に等化される。この信号は、更
に最尤復号器（ＭＬ）２１４でシリアルデータ列に複合
され、このデータ列からシンクバイト検出回路（ＳＢＤ
ＥＴ）２１５がユーザーデータの開始を示すシンクバイ
ト（ＳＢ）を検出する。この検出結果を基にシリアルデ
ータ列をパラレルデータに変換し、復調回路（ＤＥＣ）
２１６で復調されて、更にデスクランブラ（ＤＳＣ）２
１７を介してデータ３４が復元される。更に図１３のイ
ンタフェース（ＩＮＴ）２０２を介してＨＤＣ２２に再
生データ３５が出力される。更にＨＤＣ２２に入力され
たデータ３５は、ＨＤＣ２２内のエラー訂正回路（ＥＣ
Ｃ）２２−１でエラー検出やエラー訂正を実施して、Ｈ
ＢＩ２５を介してユーザー（ＨＯＳＴ ＰＣ等）にデー
タ４８として出力される。
ＳＰＣ２０１の初段の可変利得増幅器（ＶＧＡ）２１０
で適切な振幅に増幅され、アナログ等化回路（ＡＦ）２
１１で、不要な高域雑音が除去されると共に再生波形が
粗く等化される。この後にＡ／Ｄ変換器（ＡＤＣ）２１
２でディジタル信号化され、後段のディジタル等化器
（ＦＩＲ）２１３で精密に等化される。この信号は、更
に最尤復号器（ＭＬ）２１４でシリアルデータ列に複合
され、このデータ列からシンクバイト検出回路（ＳＢＤ
ＥＴ）２１５がユーザーデータの開始を示すシンクバイ
ト（ＳＢ）を検出する。この検出結果を基にシリアルデ
ータ列をパラレルデータに変換し、復調回路（ＤＥＣ）
２１６で復調されて、更にデスクランブラ（ＤＳＣ）２
１７を介してデータ３４が復元される。更に図１３のイ
ンタフェース（ＩＮＴ）２０２を介してＨＤＣ２２に再
生データ３５が出力される。更にＨＤＣ２２に入力され
たデータ３５は、ＨＤＣ２２内のエラー訂正回路（ＥＣ
Ｃ）２２−１でエラー検出やエラー訂正を実施して、Ｈ
ＢＩ２５を介してユーザー（ＨＯＳＴ ＰＣ等）にデー
タ４８として出力される。
【０００５】ここで、図１５に示すようにシリンダＣｎ
からＣｍにシークして、データセクタＤＳ１，ＤＳ２，
ＤＳ３．．．と複数セクタをリードする場合の制御動作
を説明する。ＴＲＫ＿ＷＤＴＨには、サーボやデータ領
域の配置を示してある。サーボコントローラ（ＳＲＶ
Ｃ）２３はディスク面上に記録されたサーボ信号ＳＲＶ
ｉを逐次再生して、サーボ信号処理回路（ＳＳＰＣ）２
０４で位置決め信号４２を得ることによって位置決めを
制御する。シーク命令（ＳＥＥＫ）４０がＭＰ２４から
ＳＲＶＣ２３に出され、ＳＲＶＣ２３がサーボ領域の信
号ＳＲＶｌ（図１５）で得られた位置決め信号４２を解
析して、データを再生できる可能性がある状態であると
判断すると、リードシークコンプリート信号（ＲＤ＿Ｓ
Ｋ＿ＣＯＭＰ）４７をＨＤＣ２２に出力し、ＨＤＣ２２
はデータ領域ＤＳ１からリードゲート（ＲＧ）３６を出
力する。再生動作時のＲＤ＿ＳＫ＿ＣＯＭＰ４７が発行
される位置決め完了のしきい値は、一般に記録動作時の
しきい値より大きく設定され、シーク完了時間の短縮が
はかられる。
からＣｍにシークして、データセクタＤＳ１，ＤＳ２，
ＤＳ３．．．と複数セクタをリードする場合の制御動作
を説明する。ＴＲＫ＿ＷＤＴＨには、サーボやデータ領
域の配置を示してある。サーボコントローラ（ＳＲＶ
Ｃ）２３はディスク面上に記録されたサーボ信号ＳＲＶ
ｉを逐次再生して、サーボ信号処理回路（ＳＳＰＣ）２
０４で位置決め信号４２を得ることによって位置決めを
制御する。シーク命令（ＳＥＥＫ）４０がＭＰ２４から
ＳＲＶＣ２３に出され、ＳＲＶＣ２３がサーボ領域の信
号ＳＲＶｌ（図１５）で得られた位置決め信号４２を解
析して、データを再生できる可能性がある状態であると
判断すると、リードシークコンプリート信号（ＲＤ＿Ｓ
Ｋ＿ＣＯＭＰ）４７をＨＤＣ２２に出力し、ＨＤＣ２２
はデータ領域ＤＳ１からリードゲート（ＲＧ）３６を出
力する。再生動作時のＲＤ＿ＳＫ＿ＣＯＭＰ４７が発行
される位置決め完了のしきい値は、一般に記録動作時の
しきい値より大きく設定され、シーク完了時間の短縮が
はかられる。
【０００６】再生時には、図１４に示すように、ＩＮＴ
２０２を介して再生回路（ＲＳＰＣ）２０１に入力され
るＲＧ３７は、ＲＳＰＣ２０１の殆どの部位を動作させ
ると共に、ＦＩＲ２１３の係数を適応的に学習する係数
学習回路（ＡＤＡＰＴ）２１８も動作させる。これによ
って、温度や気圧等のＨＤＤ１０の動作環境の変化によ
って、ヘッド／ディスク特性やヘッドスペーシング等が
変化して、再生信号３３の分解能が変動しても、等化特
性設定レジスタ（ＣＯＥＦ）２１９の係数値は、良好な
再生性能を与える係数値に逐次変更される。
２０２を介して再生回路（ＲＳＰＣ）２０１に入力され
るＲＧ３７は、ＲＳＰＣ２０１の殆どの部位を動作させ
ると共に、ＦＩＲ２１３の係数を適応的に学習する係数
学習回路（ＡＤＡＰＴ）２１８も動作させる。これによ
って、温度や気圧等のＨＤＤ１０の動作環境の変化によ
って、ヘッド／ディスク特性やヘッドスペーシング等が
変化して、再生信号３３の分解能が変動しても、等化特
性設定レジスタ（ＣＯＥＦ）２１９の係数値は、良好な
再生性能を与える係数値に逐次変更される。
【０００７】しかし、このような従来技術では、以下の
ような２つの問題があった。第１の問題点は、ＦＩＲ２
１３の等化係数の発散である。図１５に示すように、有
効トラック幅（ＴＲＫ＿ＷＤＴＨ）はＭＲヘッドの位置
ずれや記録時の位置決め状態によって変化し、特にシー
ク直後はセトリング振動等の影響で位置ずれが大きい可
能性がある。リードすべきデータセクタＤＳ１がＲＤ＿
ＳＫ＿ＣＯＭＰ４７の直後に存在するような場合、上記
の劣化等によって十分な有効トラック幅を得られない状
態で、ＤＳ１の位置でリードゲート（ＲＧ）３７を開く
ことになる。この状態では、ＡＤＡＰＴ２１８が正常に
動作せず、結果としてＦＩＲ２１３の係数値が格納され
た等化特性設定レジスタ（ＣＯＥＦ）２１９の初期値Ｋ
ｍ（ｉｎｉｔ）が、学習動作によって正常にデータ再生
できないような係数値Ｋｍ（ａｄａｐｔ）に発散する場
合がある。
ような２つの問題があった。第１の問題点は、ＦＩＲ２
１３の等化係数の発散である。図１５に示すように、有
効トラック幅（ＴＲＫ＿ＷＤＴＨ）はＭＲヘッドの位置
ずれや記録時の位置決め状態によって変化し、特にシー
ク直後はセトリング振動等の影響で位置ずれが大きい可
能性がある。リードすべきデータセクタＤＳ１がＲＤ＿
ＳＫ＿ＣＯＭＰ４７の直後に存在するような場合、上記
の劣化等によって十分な有効トラック幅を得られない状
態で、ＤＳ１の位置でリードゲート（ＲＧ）３７を開く
ことになる。この状態では、ＡＤＡＰＴ２１８が正常に
動作せず、結果としてＦＩＲ２１３の係数値が格納され
た等化特性設定レジスタ（ＣＯＥＦ）２１９の初期値Ｋ
ｍ（ｉｎｉｔ）が、学習動作によって正常にデータ再生
できないような係数値Ｋｍ（ａｄａｐｔ）に発散する場
合がある。
【０００８】このような場合は、図１５に示すようにＮ
ＲＺデータ３４から出力されるデータ列には多くのＣｈ
ａｎｎｅｌ Ｂｙｔｅ Ｅｒｒｏｒを含み、ＨＤＣ２２
内のエラー訂正回路（ＥＣＣ）２２−１で訂正できない
可能性が高い。更には、ＥＣＣの誤訂正をチェックする
性能が十分でないと、ＥＣＣで誤訂正したデータをホス
トに送出する可能性（誤訂正の検出漏れ）も高くなる。
後続のデータセクタＤＳ２．．も異常な係数値を初期値
としているために、同様な問題を連続して生じる可能性
が高い。また、後続する有効トラック幅が大きな（ほぼ
オントラック）セクタ領域であるＤＳ３以降のセクタで
も、同様にＣｈａｎｎｅｌ Ｂｙｔｅ Ｅｒｒｏｒが頻
発する可能性が極めて高い。
ＲＺデータ３４から出力されるデータ列には多くのＣｈ
ａｎｎｅｌ Ｂｙｔｅ Ｅｒｒｏｒを含み、ＨＤＣ２２
内のエラー訂正回路（ＥＣＣ）２２−１で訂正できない
可能性が高い。更には、ＥＣＣの誤訂正をチェックする
性能が十分でないと、ＥＣＣで誤訂正したデータをホス
トに送出する可能性（誤訂正の検出漏れ）も高くなる。
後続のデータセクタＤＳ２．．も異常な係数値を初期値
としているために、同様な問題を連続して生じる可能性
が高い。また、後続する有効トラック幅が大きな（ほぼ
オントラック）セクタ領域であるＤＳ３以降のセクタで
も、同様にＣｈａｎｎｅｌ Ｂｙｔｅ Ｅｒｒｏｒが頻
発する可能性が極めて高い。
【０００９】これを修復するには、データ回復シーケン
ス（リトライ）の中で、ＣＯＥＦを初期値Ｋｍ（ｉｎｉ
ｔ）に再設定した状態で、ディスクが回転して再度同一
セクタ（ＤＳ１〜）が来るのを待って、十分な有効トラ
ック幅を有する状態でリード動作を再開する必要があ
る。このような状態が頻発すると装置のパフォーマンス
が著しく低下することになる。
ス（リトライ）の中で、ＣＯＥＦを初期値Ｋｍ（ｉｎｉ
ｔ）に再設定した状態で、ディスクが回転して再度同一
セクタ（ＤＳ１〜）が来るのを待って、十分な有効トラ
ック幅を有する状態でリード動作を再開する必要があ
る。このような状態が頻発すると装置のパフォーマンス
が著しく低下することになる。
【００１０】第２の問題点は、定常時の再生性能の劣化
である。従来技術では、リードゲート（ＲＧ）がＡＤＡ
ＰＴ２１８の起動信号として使用されていることによ
り、ＣＯＥＦ２１９に格納されたＦＩＲ２１３の係数は
リード状態で常時変動し、アダプティブ雑音が発生す
る。この場合、ＣＯＥＦ２１９のビット数がＡＤＣ２１
２の出力ビット数より十分に大きく、かつＡＤＡＰＴ２
１８の係数補正のステップパラメータを十分に小さく設
定することで、アダプティブ雑音の発生を抑え、ＦＩＲ
２１３の出力雑音が増加するのを回避できる。しかし、
環境変動等によって初期係数値が最適係数値からずれて
いる場合は、リード先頭部のセクタでエラーが発生し易
くなる。即ち、環境変動が大きいと、リトライの発生頻
度が増すことになる。
である。従来技術では、リードゲート（ＲＧ）がＡＤＡ
ＰＴ２１８の起動信号として使用されていることによ
り、ＣＯＥＦ２１９に格納されたＦＩＲ２１３の係数は
リード状態で常時変動し、アダプティブ雑音が発生す
る。この場合、ＣＯＥＦ２１９のビット数がＡＤＣ２１
２の出力ビット数より十分に大きく、かつＡＤＡＰＴ２
１８の係数補正のステップパラメータを十分に小さく設
定することで、アダプティブ雑音の発生を抑え、ＦＩＲ
２１３の出力雑音が増加するのを回避できる。しかし、
環境変動等によって初期係数値が最適係数値からずれて
いる場合は、リード先頭部のセクタでエラーが発生し易
くなる。即ち、環境変動が大きいと、リトライの発生頻
度が増すことになる。
【００１１】この装置性能の劣化をカバーするために
は、ヘッド／ディスクの特性やヘッド／ディスク間のス
ペーシング等の環境変動に関する仕様を厳しくせざるを
得なくなり、ヘッド／ディスクの歩留まり劣化や装置コ
ストの増加を引き起こすことになる。
は、ヘッド／ディスクの特性やヘッド／ディスク間のス
ペーシング等の環境変動に関する仕様を厳しくせざるを
得なくなり、ヘッド／ディスクの歩留まり劣化や装置コ
ストの増加を引き起こすことになる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上記
の問題点を解決することにあり、磁気ディスク装置の再
生信号処理の適応能力を向上させ、リトライや誤訂正の
頻度を低減し、高性能な磁気ディスク装置を低コストで
提供することにある。
の問題点を解決することにあり、磁気ディスク装置の再
生信号処理の適応能力を向上させ、リトライや誤訂正の
頻度を低減し、高性能な磁気ディスク装置を低コストで
提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、再生波形の波形等化手段と、該波形等化
手段の等化特性の適応学習を実施する適応学習手段を備
える磁気ディスク装置において、等化特性の適応学習の
異常動作をセクタの学習直後に検出する学習異常検出手
段を設け、適応学習に異常が生じた場合に、次セクタの
学習前に適応学習前の等化特性を再設定する等化特性再
設定手段を設け、等化特性の適応学習を、指定されたデ
ータのデータ再生動作と同時に実施するようにしてい
る。
に、本発明は、再生波形の波形等化手段と、該波形等化
手段の等化特性の適応学習を実施する適応学習手段を備
える磁気ディスク装置において、等化特性の適応学習の
異常動作をセクタの学習直後に検出する学習異常検出手
段を設け、適応学習に異常が生じた場合に、次セクタの
学習前に適応学習前の等化特性を再設定する等化特性再
設定手段を設け、等化特性の適応学習を、指定されたデ
ータのデータ再生動作と同時に実施するようにしてい
る。
【００１４】また、再生波形の波形等化手段と、該波形
等化手段の等化特性の適応学習を実施する適応学習手段
を備える磁気ディスク装置において、等化特性の適応学
習の異常動作をセクタの学習直後に検出する学習異常検
出手段を設け、適応学習に異常が生じた場合に、次セク
タの学習前に適応学習前の等化特性を再設定する等化特
性再設定手段を設け、等化特性の適応学習を、指定され
たデータのデータ再生動作に先行して実施するようにし
ている。
等化手段の等化特性の適応学習を実施する適応学習手段
を備える磁気ディスク装置において、等化特性の適応学
習の異常動作をセクタの学習直後に検出する学習異常検
出手段を設け、適応学習に異常が生じた場合に、次セク
タの学習前に適応学習前の等化特性を再設定する等化特
性再設定手段を設け、等化特性の適応学習を、指定され
たデータのデータ再生動作に先行して実施するようにし
ている。
【００１５】また、指定されたデータのデータ再生動作
中には、前記波形等化手段の等化特性を固定するように
している。
中には、前記波形等化手段の等化特性を固定するように
している。
【００１６】また、再生波形を入力するアクティブフィ
ルタと、該アクティブフィルタの出力を入力とするＡ／
Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段の出力を入力とする波
形等化手段を備える磁気ディスク装置であって、該アク
ティブフィルタのブースト特性を該波形等化手段の入力
と出力に基づき該波形等化手段での誤差が最小になるよ
うに適応学習を実施する適応学習手段を設け、ブースト
特性の適応学習の異常動作をセクタの学習直後に検出す
る学習異常検出手段を設け、適応学習に異常が生じた場
合に、次セクタの学習前に適応学習前のブースト特性を
再設定するブースト特性再設定手段を設け、ブースト特
性の適応学習を、指定されたデータのデータ再生動作と
同時に実施するようにしている。
ルタと、該アクティブフィルタの出力を入力とするＡ／
Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段の出力を入力とする波
形等化手段を備える磁気ディスク装置であって、該アク
ティブフィルタのブースト特性を該波形等化手段の入力
と出力に基づき該波形等化手段での誤差が最小になるよ
うに適応学習を実施する適応学習手段を設け、ブースト
特性の適応学習の異常動作をセクタの学習直後に検出す
る学習異常検出手段を設け、適応学習に異常が生じた場
合に、次セクタの学習前に適応学習前のブースト特性を
再設定するブースト特性再設定手段を設け、ブースト特
性の適応学習を、指定されたデータのデータ再生動作と
同時に実施するようにしている。
【００１７】また、再生波形を入力するアクティブフィ
ルタと、該アクティブフィルタの出力を入力とするＡ／
Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段の出力を入力とする波
形等化手段を備える磁気ディスク装置であって、該アク
ティブフィルタのブースト特性を該波形等化手段の入力
と出力に基づき該波形等化手段での誤差が最小になるよ
うに適応学習を実施する適応学習手段を設け、ブースト
特性の適応学習の異常動作をセクタの学習直後に検出す
る学習異常検出手段を設け、適応学習に異常が生じた場
合に、次セクタの学習前に適応学習前のブースト特性を
再設定するブースト特性再設定手段を設け、ブースト特
性の適応学習を、指定されたデータのデータ再生動作に
先行して実施するようにしている。
ルタと、該アクティブフィルタの出力を入力とするＡ／
Ｄ変換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段の出力を入力とする波
形等化手段を備える磁気ディスク装置であって、該アク
ティブフィルタのブースト特性を該波形等化手段の入力
と出力に基づき該波形等化手段での誤差が最小になるよ
うに適応学習を実施する適応学習手段を設け、ブースト
特性の適応学習の異常動作をセクタの学習直後に検出す
る学習異常検出手段を設け、適応学習に異常が生じた場
合に、次セクタの学習前に適応学習前のブースト特性を
再設定するブースト特性再設定手段を設け、ブースト特
性の適応学習を、指定されたデータのデータ再生動作に
先行して実施するようにしている。
【００１８】また、等化特性の適応学習の異常動作をセ
クタの学習直後に検出する学習異常検出手段は、該波形
等化手段の等化誤差の２乗積分値と誤差しきい値とを比
較することにより異常動作を検出するようにしている。
また、再生波形の最尤復号手段を備え、等化特性の適応
学習の異常動作をセクタの学習直後に検出する学習異常
検出手段は、異常動作を検出するために用いるデータと
して、該最尤復号手段のパスメトリック値の差メトリッ
ク値を用いるようにしている。また、再生波形の復号手
段にエラー検出手段を備え、等化特性の適応学習の異常
動作をセクタの学習直後に検出する学習異常検出手段
は、異常動作を該エラー検出手段の検出結果に基づき判
定するようにしている。
クタの学習直後に検出する学習異常検出手段は、該波形
等化手段の等化誤差の２乗積分値と誤差しきい値とを比
較することにより異常動作を検出するようにしている。
また、再生波形の最尤復号手段を備え、等化特性の適応
学習の異常動作をセクタの学習直後に検出する学習異常
検出手段は、異常動作を検出するために用いるデータと
して、該最尤復号手段のパスメトリック値の差メトリッ
ク値を用いるようにしている。また、再生波形の復号手
段にエラー検出手段を備え、等化特性の適応学習の異常
動作をセクタの学習直後に検出する学習異常検出手段
は、異常動作を該エラー検出手段の検出結果に基づき判
定するようにしている。
【００１９】また、データの記録再生を制御する磁気デ
ィスク装置用の信号処理チップにおいて、再生波形の波
形等化手段と、該波形等化手段の等化特性を適応学習す
る適応学習手段と、該波形等化手段の出力信号の品質を
判定する品質判定手段とを有し、該品質判定手段の判定
結果で該適応学習手段の学習結果を棄却する機能を有す
るようにしている。
ィスク装置用の信号処理チップにおいて、再生波形の波
形等化手段と、該波形等化手段の等化特性を適応学習す
る適応学習手段と、該波形等化手段の出力信号の品質を
判定する品質判定手段とを有し、該品質判定手段の判定
結果で該適応学習手段の学習結果を棄却する機能を有す
るようにしている。
【００２０】また、複数のセクタを連続的に再生可能と
するデジタル波形処理手段を有する磁気ディスク装置に
おいて、少なくとも１セクタ分のデジタルサンプルデー
タ列を該デジタル波形処理手段内の波形等化手段の前段
で保持するサンプルデータ保持手段と、該デジタル波形
処理手段の出力信号の異常をセクタのリード動作毎に検
出するセクタ異常検出手段とを設け、該セクタ異常検出
手段が該デジタル波形処理手段の出力信号の異常を検出
すると、該サンプルデータ保持手段が異常の検出された
デジタルサンプルデータ列を保持し、該サンプルデータ
保持手段に保持されたデータ列を用いて異常セクタの再
復号を可能とするようにしている。
するデジタル波形処理手段を有する磁気ディスク装置に
おいて、少なくとも１セクタ分のデジタルサンプルデー
タ列を該デジタル波形処理手段内の波形等化手段の前段
で保持するサンプルデータ保持手段と、該デジタル波形
処理手段の出力信号の異常をセクタのリード動作毎に検
出するセクタ異常検出手段とを設け、該セクタ異常検出
手段が該デジタル波形処理手段の出力信号の異常を検出
すると、該サンプルデータ保持手段が異常の検出された
デジタルサンプルデータ列を保持し、該サンプルデータ
保持手段に保持されたデータ列を用いて異常セクタの再
復号を可能とするようにしている。
【００２１】また、データ再生動作の先行して実施され
る等化特性の適応学習の適応速度に対し、データ再生動
作時には、等化特性の適応学習の適応速度を遅くするよ
うにしている。
る等化特性の適応学習の適応速度に対し、データ再生動
作時には、等化特性の適応学習の適応速度を遅くするよ
うにしている。
【００２２】
【発明の実施の形態】本発明の第１の実施例を図１〜図
１０を用いて説明する。本実施例でのＨＤＤの全体構成
は図１２に示す従来技術とＰＣＢ３０の一部を除いてほ
ぼ同一である。図１に再生信号処理系の全体構成図を示
す。ＨＤＡ２０のＲ／ＷＩＣ１０４からの再生信号３３
は、図１の信号処理ＬＳＩ（ＳＰＣ）２１内の再生回路
（ＲＳＰＣ）２０１に入力される。図２のＲＳＰＣ２０
１の初段の可変利得増幅器（ＶＧＡ）２１０で適切な振
幅に増幅され、アナログ等化回路（ＡＦ）２１１で、不
要な高域雑音が除去されると共に、再生波形が粗等化さ
れる。この後にＡ／Ｄ変換器（ＡＤＣ）２１２でディジ
タル信号化され、後段の波形等化手段としてのディジタ
ル等化器（ＦＩＲ）２１３で精密に等化される。この信
号は、更に最尤復号器（ＭＬ）２１４でシリアルデータ
列に復号され、このデータ列からシンクバイト検出回路
（ＳＢＤＥＴ）２１５がユーザーデータの開始を示すシ
ンクバイト（ＳＢ）を検出する。この検出結果を基にシ
リアルデータ列をパラレルデータに変換し、復調回路
（ＤＥＣ）２１６で復調されて、更にデスクランブラ
（ＤＳＣ）２１７を介してデータ３４が復元される。こ
こで、ＳＢＤＥＴ２１５はシンクバイトを検出した以降
で出力されるバイトクロック５４を生成して、チャネル
状態を統計測定するチャネル状態測定回路（ＣＣＭ）２
０５に供給する。
１０を用いて説明する。本実施例でのＨＤＤの全体構成
は図１２に示す従来技術とＰＣＢ３０の一部を除いてほ
ぼ同一である。図１に再生信号処理系の全体構成図を示
す。ＨＤＡ２０のＲ／ＷＩＣ１０４からの再生信号３３
は、図１の信号処理ＬＳＩ（ＳＰＣ）２１内の再生回路
（ＲＳＰＣ）２０１に入力される。図２のＲＳＰＣ２０
１の初段の可変利得増幅器（ＶＧＡ）２１０で適切な振
幅に増幅され、アナログ等化回路（ＡＦ）２１１で、不
要な高域雑音が除去されると共に、再生波形が粗等化さ
れる。この後にＡ／Ｄ変換器（ＡＤＣ）２１２でディジ
タル信号化され、後段の波形等化手段としてのディジタ
ル等化器（ＦＩＲ）２１３で精密に等化される。この信
号は、更に最尤復号器（ＭＬ）２１４でシリアルデータ
列に復号され、このデータ列からシンクバイト検出回路
（ＳＢＤＥＴ）２１５がユーザーデータの開始を示すシ
ンクバイト（ＳＢ）を検出する。この検出結果を基にシ
リアルデータ列をパラレルデータに変換し、復調回路
（ＤＥＣ）２１６で復調されて、更にデスクランブラ
（ＤＳＣ）２１７を介してデータ３４が復元される。こ
こで、ＳＢＤＥＴ２１５はシンクバイトを検出した以降
で出力されるバイトクロック５４を生成して、チャネル
状態を統計測定するチャネル状態測定回路（ＣＣＭ）２
０５に供給する。
【００２３】この際、ＦＩＲ２１３の係数学習を指示す
る信号（ＴＲＥＱ＿ＥＮ）５１が入力されると、ＦＩＲ
２１３の等化特性を示す係数を適応的に学習する手段と
しての係数学習回路（ＡＤＡＰＴ）２１８が起動し、Ｍ
Ｐ２４が初期等化特性設定レジスタ（ＣＯＥＦ０）２１
９−１に設定した初期係数値を、ＦＩＲ２１３の等化特
性設定レジスタ（ＣＯＥＦ）２１９に係数値として設定
して逐次学習を開始する。初期等化特性設定レジスタ
（ＣＯＥＦ０）２１９−１の初期係数値は、等化特性設
定レジスタ（ＣＯＥＦ）２１９の係数値の再設定時にも
使用される。ここで、ＴＲＥＱ＿ＥＮ５１はＨＤＣ２２
が出力する制御信号であり、この場合、ＴＲＥＱ＿ＥＮ
は読み出し対象のセクタの１つ前のセクタの始まりで出
力される。ＴＲＥＱ＿ＥＮはデータセクタのデータ部と
データのＣＲＣパリティーバイト部、ＥＣＣを含めた区
間でアクティブとなる。セクタがサーボ領域で分割され
ている場合には、ＴＲＥＱ＿ＥＮも分割して出力され
る。
る信号（ＴＲＥＱ＿ＥＮ）５１が入力されると、ＦＩＲ
２１３の等化特性を示す係数を適応的に学習する手段と
しての係数学習回路（ＡＤＡＰＴ）２１８が起動し、Ｍ
Ｐ２４が初期等化特性設定レジスタ（ＣＯＥＦ０）２１
９−１に設定した初期係数値を、ＦＩＲ２１３の等化特
性設定レジスタ（ＣＯＥＦ）２１９に係数値として設定
して逐次学習を開始する。初期等化特性設定レジスタ
（ＣＯＥＦ０）２１９−１の初期係数値は、等化特性設
定レジスタ（ＣＯＥＦ）２１９の係数値の再設定時にも
使用される。ここで、ＴＲＥＱ＿ＥＮ５１はＨＤＣ２２
が出力する制御信号であり、この場合、ＴＲＥＱ＿ＥＮ
は読み出し対象のセクタの１つ前のセクタの始まりで出
力される。ＴＲＥＱ＿ＥＮはデータセクタのデータ部と
データのＣＲＣパリティーバイト部、ＥＣＣを含めた区
間でアクティブとなる。セクタがサーボ領域で分割され
ている場合には、ＴＲＥＱ＿ＥＮも分割して出力され
る。
【００２４】本実施例では、更にチャネル状態を統計測
定し、適応学習の異常を検出するチャネル状態測定回路
（ＣＣＭ）２０５がＳＰＣ２１内に構成されており、こ
れを係数学習用のゲート信号（ＴＲＥＱ＿ＥＮ）５１で
ＡＤＡＰＴ２１８の起動と同時に起動する。ＣＣＭ２０
５内では、ＴＲＥＱ＿ＥＮ５１がアクティブな期間でＳ
ＢＤ以降に出力されるバイトクロック５４を１セクタの
データ長＋ＣＲＣ長＋ＥＣＣ長からなる予め決められた
総バイト長に達するまでカウンタＢＣＮＴ（２０５−１
１）でカウントする。サーボ領域等でカウント途中でＴ
ＲＥＱ＿ＥＮ５１が閉じることがあってもＢＣＮＴ２０
５−１１はカウント値を保持し、次のＲＧ３７でカウン
トを再開する。これによって、サーボ領域等で分割され
たセクタであっても、ＣＣＭ２０５の内部シーケンサは
セクタの終端を認識できる。
定し、適応学習の異常を検出するチャネル状態測定回路
（ＣＣＭ）２０５がＳＰＣ２１内に構成されており、こ
れを係数学習用のゲート信号（ＴＲＥＱ＿ＥＮ）５１で
ＡＤＡＰＴ２１８の起動と同時に起動する。ＣＣＭ２０
５内では、ＴＲＥＱ＿ＥＮ５１がアクティブな期間でＳ
ＢＤ以降に出力されるバイトクロック５４を１セクタの
データ長＋ＣＲＣ長＋ＥＣＣ長からなる予め決められた
総バイト長に達するまでカウンタＢＣＮＴ（２０５−１
１）でカウントする。サーボ領域等でカウント途中でＴ
ＲＥＱ＿ＥＮ５１が閉じることがあってもＢＣＮＴ２０
５−１１はカウント値を保持し、次のＲＧ３７でカウン
トを再開する。これによって、サーボ領域等で分割され
たセクタであっても、ＣＣＭ２０５の内部シーケンサは
セクタの終端を認識できる。
【００２５】ＣＣＭ２０５では、図２に示すようにＦＩ
Ｒ２１３の出力値列５３の誤差をコンパレータ２０５ー
７と減算器２０５−６で算出し、この結果を乗算器２０
５−１を介して２乗値とし、更に加算器２０５−２とデ
ータラッチ２０５−３とで積算することで統計測定を実
施する。この統計測定はビット周期で実施される。ＴＲ
ＥＱ＿ＥＮ５１が閉じ、１セクタ分の統計測定が終了時
点で、この統計測定結果５５とＭＰ２４によって設定さ
れた誤差しきい値（ＥＴＨ）２０５−５とを比較器２０
５−４で比較する。誤差しきい値（ＥＴＨ）２０５−５
には、通常の環境変動等で生じ得る統計測定値を越え、
明らかに係数学習結果が異常である状態を判定する数値
が設定される。測定結果５５がＥＴＨ２０５−５より大
きければ、適応学習が異常動作をしていると判断してＣ
ＯＥＦ２１９の係数値を棄却する制御信号５２をＡＤＡ
ＰＴ２１８に発行する。これによってＣＯＥＦ０２１９
−１の初期係数値をＣＯＥＦ２１９に再設定する構成で
ある。即ち、１セクタ毎に適応学習の動作をチェック
し、異常がある場合はリアルタイムで学習結果を棄却す
ることを可能とする。リードゲート（ＲＧ）３７が入力
されるのは、データ領域ＤＳ１からであり、ＲＧ３７で
はＡＤＡＰＴ２１８を除くＲＳＰＣ２０１の殆どの部位
を動作させてデータを再生する。
Ｒ２１３の出力値列５３の誤差をコンパレータ２０５ー
７と減算器２０５−６で算出し、この結果を乗算器２０
５−１を介して２乗値とし、更に加算器２０５−２とデ
ータラッチ２０５−３とで積算することで統計測定を実
施する。この統計測定はビット周期で実施される。ＴＲ
ＥＱ＿ＥＮ５１が閉じ、１セクタ分の統計測定が終了時
点で、この統計測定結果５５とＭＰ２４によって設定さ
れた誤差しきい値（ＥＴＨ）２０５−５とを比較器２０
５−４で比較する。誤差しきい値（ＥＴＨ）２０５−５
には、通常の環境変動等で生じ得る統計測定値を越え、
明らかに係数学習結果が異常である状態を判定する数値
が設定される。測定結果５５がＥＴＨ２０５−５より大
きければ、適応学習が異常動作をしていると判断してＣ
ＯＥＦ２１９の係数値を棄却する制御信号５２をＡＤＡ
ＰＴ２１８に発行する。これによってＣＯＥＦ０２１９
−１の初期係数値をＣＯＥＦ２１９に再設定する構成で
ある。即ち、１セクタ毎に適応学習の動作をチェック
し、異常がある場合はリアルタイムで学習結果を棄却す
ることを可能とする。リードゲート（ＲＧ）３７が入力
されるのは、データ領域ＤＳ１からであり、ＲＧ３７で
はＡＤＡＰＴ２１８を除くＲＳＰＣ２０１の殆どの部位
を動作させてデータを再生する。
【００２６】なお、前記制御信号５２はセクタ異常検出
信号でもあり、前記ＣＣＭはセクタ異常検出手段でもあ
り、波形等化手段の出力信号の品質を判定する品質判定
手段でもある。
信号でもあり、前記ＣＣＭはセクタ異常検出手段でもあ
り、波形等化手段の出力信号の品質を判定する品質判定
手段でもある。
【００２７】次に、本実施例の制御動作について詳細に
説明する。ここでは、図９と図１０に示すようにシリン
ダＣｎからＣｍにシークして直後のデータセクタＤＳ
１，ＤＳ２，ＤＳ３．．．と複数セクタを連続的にリー
ドする場合の制御動作を説明する。図９はシーク後の位
置ずれが小さく、有効トラック幅が広い状態であり、図
１０は有効トラック幅が狭い場合である。ここではサー
ボ領域でデータセクタが分割されるような場合の説明は
省略する。
説明する。ここでは、図９と図１０に示すようにシリン
ダＣｎからＣｍにシークして直後のデータセクタＤＳ
１，ＤＳ２，ＤＳ３．．．と複数セクタを連続的にリー
ドする場合の制御動作を説明する。図９はシーク後の位
置ずれが小さく、有効トラック幅が広い状態であり、図
１０は有効トラック幅が狭い場合である。ここではサー
ボ領域でデータセクタが分割されるような場合の説明は
省略する。
【００２８】図９に示すようにシーク後の位置ずれが比
較的小さい場合について説明する。シーク命令（ＳＥＥ
Ｋ）４０がＭＰ２４からＳＲＶＣ２３に出されると、Ｆ
ＩＲ２１３の係数値を格納するＣＯＥＦ２１９には、Ｃ
ｍに対応した初期係数Ｋｍ（ｉｎｉｔ）がＣＯＥＦ０
２１９−１を介してセットされる。リードシークコンプ
リート信号（ＲＤ＿ＳＫ＿ＣＯＭＰ）４７がＨＤＣ２２
に出力されると、ＨＤＣ２２は係数学習用のゲート信号
（ＴＲＥＱ＿ＥＮ）５１をデータ領域ＤＳ１に先行して
出力する。ここで、ＴＲＥＱ＿ＥＮ５１をアクティブと
する領域は、本実施例では図示するようにＤＳ１の１セ
クタ前のデータ領域（ＤＳ０）である。学習領域ＤＳ０
もユーザーデータが記録されているセクタであるが、こ
のセクタはリード対象のセクタ（ユーザにリード指定さ
れたセクタ）以外のセクタである。
較的小さい場合について説明する。シーク命令（ＳＥＥ
Ｋ）４０がＭＰ２４からＳＲＶＣ２３に出されると、Ｆ
ＩＲ２１３の係数値を格納するＣＯＥＦ２１９には、Ｃ
ｍに対応した初期係数Ｋｍ（ｉｎｉｔ）がＣＯＥＦ０
２１９−１を介してセットされる。リードシークコンプ
リート信号（ＲＤ＿ＳＫ＿ＣＯＭＰ）４７がＨＤＣ２２
に出力されると、ＨＤＣ２２は係数学習用のゲート信号
（ＴＲＥＱ＿ＥＮ）５１をデータ領域ＤＳ１に先行して
出力する。ここで、ＴＲＥＱ＿ＥＮ５１をアクティブと
する領域は、本実施例では図示するようにＤＳ１の１セ
クタ前のデータ領域（ＤＳ０）である。学習領域ＤＳ０
もユーザーデータが記録されているセクタであるが、こ
のセクタはリード対象のセクタ（ユーザにリード指定さ
れたセクタ）以外のセクタである。
【００２９】この場合は、有効トラック幅が比較的広い
ことから、初期係数値Ｋｍ（ｉｎｉｔ）が環境変動等で
ずれていてもＡＤＡＰＴ２１８は正常に動作し、係数値
Ｋｍを学習領域のＤＳ０内で逐次適応していき、ＦＩＲ
２１３の出力の誤差は徐々に減少する。例えば、図９に
示すようにＤＳ０の先頭部のＮＲＺ出力３４，３５にＣ
ｈａｎｎｅｌ Ｂｙｔｅ Ｅｒｒｏｒが含まれる場合で
も、このエラーは学習の進行に伴って減少する。温度や
気圧等のＨＤＤ１０の動作環境の変化によって、ヘッド
／ディスク特性やヘッドスペーシング等が変化し、再生
信号３３の分解能が変動しても、ＣＯＥＦ２１９の係数
値列は、良好な再生性能を与える係数値に逐次変更され
る。この時、チャネル状態測定回路（ＣＣＭ）２０５の
統計測定結果５５は、ＥＴＨ２０５−５に比べて小さく
なり、制御信号５２は出力されない。本実施例では、適
応学習した係数値は、リード対象のセクタでＣＯＥＦ２
１９に固定され、この固定された係数値の下にＤＳ１以
降のデータをリード（再生）し続ける。また、適応学習
はデータ再生領域に先行した領域のみで実施するので、
ＡＤＡＰＴ２１８のステップパラメータを大きく設定で
き、高速の適応化が可能となる。また、データ再生領域
では適応動作を止めるので、リードすべき領域でのアダ
プティブノイズによる再生性能の劣化も回避できる。
ことから、初期係数値Ｋｍ（ｉｎｉｔ）が環境変動等で
ずれていてもＡＤＡＰＴ２１８は正常に動作し、係数値
Ｋｍを学習領域のＤＳ０内で逐次適応していき、ＦＩＲ
２１３の出力の誤差は徐々に減少する。例えば、図９に
示すようにＤＳ０の先頭部のＮＲＺ出力３４，３５にＣ
ｈａｎｎｅｌ Ｂｙｔｅ Ｅｒｒｏｒが含まれる場合で
も、このエラーは学習の進行に伴って減少する。温度や
気圧等のＨＤＤ１０の動作環境の変化によって、ヘッド
／ディスク特性やヘッドスペーシング等が変化し、再生
信号３３の分解能が変動しても、ＣＯＥＦ２１９の係数
値列は、良好な再生性能を与える係数値に逐次変更され
る。この時、チャネル状態測定回路（ＣＣＭ）２０５の
統計測定結果５５は、ＥＴＨ２０５−５に比べて小さく
なり、制御信号５２は出力されない。本実施例では、適
応学習した係数値は、リード対象のセクタでＣＯＥＦ２
１９に固定され、この固定された係数値の下にＤＳ１以
降のデータをリード（再生）し続ける。また、適応学習
はデータ再生領域に先行した領域のみで実施するので、
ＡＤＡＰＴ２１８のステップパラメータを大きく設定で
き、高速の適応化が可能となる。また、データ再生領域
では適応動作を止めるので、リードすべき領域でのアダ
プティブノイズによる再生性能の劣化も回避できる。
【００３０】一方、図１０に示すようにシーク後の位置
ずれが大きく有効トラック幅が狭い状態では、ＡＤＡＰ
Ｔ２１８の異常動作によってＦＩＲの等化特性が大きく
ずれ、ＦＩＲ出力の誤差やＣｈａｎｎｅｌ Ｅｒｒｏｒ
が急増する。この時は、チャネル状態測定回路（ＣＣ
Ｍ）２０５の統計測定結果５５は、学習の経過と共に急
激に増加し、ＥＴＨ２０５−５に比べて大きくなる。従
って、制御信号５２が出力され、適応学習後の係数値は
初期係数値Ｋｍ（ｉｎｉｔ）に再設定され、後続のデー
タ領域ＤＳ１〜は、出荷時に設定した初期係数値（固定
される）でリードされることになる。この場合、適応学
習による性能改善は期待できないものの、適応学習が誤
動作し、大きくずれた等化特性でリードすることによっ
て、後続セクタが連続的にリアルタイムのＥＣＣ訂正が
不能な程にエラーすると言った状況が回避できる可能性
が高く、回転待ちを伴うリトライ動作の頻発を防止でき
る。
ずれが大きく有効トラック幅が狭い状態では、ＡＤＡＰ
Ｔ２１８の異常動作によってＦＩＲの等化特性が大きく
ずれ、ＦＩＲ出力の誤差やＣｈａｎｎｅｌ Ｅｒｒｏｒ
が急増する。この時は、チャネル状態測定回路（ＣＣ
Ｍ）２０５の統計測定結果５５は、学習の経過と共に急
激に増加し、ＥＴＨ２０５−５に比べて大きくなる。従
って、制御信号５２が出力され、適応学習後の係数値は
初期係数値Ｋｍ（ｉｎｉｔ）に再設定され、後続のデー
タ領域ＤＳ１〜は、出荷時に設定した初期係数値（固定
される）でリードされることになる。この場合、適応学
習による性能改善は期待できないものの、適応学習が誤
動作し、大きくずれた等化特性でリードすることによっ
て、後続セクタが連続的にリアルタイムのＥＣＣ訂正が
不能な程にエラーすると言った状況が回避できる可能性
が高く、回転待ちを伴うリトライ動作の頻発を防止でき
る。
【００３１】なお、ＣＯＥＦ２１９の係数値を棄却する
制御信号５２は、ＨＤＣ内のＥＣＣのエラー検出結果を
用いても同様の効果が得られることは明らかである。そ
して、このＥＣＣのエラー検出結果を用いた制御信号は
セクタ異常検出信号でもあり、上記ＨＤＣ内のＥＣＣは
セクタ異常検出手段でもあり、波形等化手段の出力信号
の品質を判定する品質判定手段でもある。また、ＴＲＥ
Ｑ＿ＥＮ５１をアクティブとする適応係数学習領域を複
数セクタにしてもよいことも明らかである。この場合、
学習領域で十分な有効トラック幅が得られない領域で
は、学習した係数が棄却され続け、十分な有効トラック
幅が得らた時点から正常な係数値が得られることにな
る。ＲＧ３７がアクティブとなる直前の１セクタのみで
の係数学習の場合に比べて、平均的には広い学習領域が
確保できるので、適応学習が正常に終了する比率が上が
り、この結果としてリトライの頻度を更に低減できる。
広い学習領域が確保できれば、適応学習のステップパラ
メータ（適応学習の適応速度に対応する）を小さくで
き、学習の安定性が増す。なお、ＲＤ＿ＳＫ＿ＣＯＭＰ
４７の出力後に、ＤＳ１の前に学習セクタが取れない場
合には、回転待ちをして学習セクタを確保するようにし
てもよく、回転待ちをせず、ＤＳ１以降のセクタのリー
ドをしてもよい。また、学習セクタは、ＲＤ＿ＳＫ＿Ｃ
ＯＭＰ４７の出力後でＤＳ１の直前に確保した方がよ
い。これは、ＲＤ＿ＳＫ＿ＣＯＭＰ４７が出力した後、
時間が経過した方が位置ずれが小さくなる可能性が高い
からである。
制御信号５２は、ＨＤＣ内のＥＣＣのエラー検出結果を
用いても同様の効果が得られることは明らかである。そ
して、このＥＣＣのエラー検出結果を用いた制御信号は
セクタ異常検出信号でもあり、上記ＨＤＣ内のＥＣＣは
セクタ異常検出手段でもあり、波形等化手段の出力信号
の品質を判定する品質判定手段でもある。また、ＴＲＥ
Ｑ＿ＥＮ５１をアクティブとする適応係数学習領域を複
数セクタにしてもよいことも明らかである。この場合、
学習領域で十分な有効トラック幅が得られない領域で
は、学習した係数が棄却され続け、十分な有効トラック
幅が得らた時点から正常な係数値が得られることにな
る。ＲＧ３７がアクティブとなる直前の１セクタのみで
の係数学習の場合に比べて、平均的には広い学習領域が
確保できるので、適応学習が正常に終了する比率が上が
り、この結果としてリトライの頻度を更に低減できる。
広い学習領域が確保できれば、適応学習のステップパラ
メータ（適応学習の適応速度に対応する）を小さくで
き、学習の安定性が増す。なお、ＲＤ＿ＳＫ＿ＣＯＭＰ
４７の出力後に、ＤＳ１の前に学習セクタが取れない場
合には、回転待ちをして学習セクタを確保するようにし
てもよく、回転待ちをせず、ＤＳ１以降のセクタのリー
ドをしてもよい。また、学習セクタは、ＲＤ＿ＳＫ＿Ｃ
ＯＭＰ４７の出力後でＤＳ１の直前に確保した方がよ
い。これは、ＲＤ＿ＳＫ＿ＣＯＭＰ４７が出力した後、
時間が経過した方が位置ずれが小さくなる可能性が高い
からである。
【００３２】以上の説明では、適応学習をデータ再生領
域に先行した領域において行っているが、適応学習をデ
ータ再生領域内で行い、学習結果に異常がある場合に
は、学習後の係数値を初期係数値Ｋｍ（ｉｎｉｔ）に再
設定し、後続のデータ領域でのデータの読み取りを行う
ようにしてもよい。
域に先行した領域において行っているが、適応学習をデ
ータ再生領域内で行い、学習結果に異常がある場合に
は、学習後の係数値を初期係数値Ｋｍ（ｉｎｉｔ）に再
設定し、後続のデータ領域でのデータの読み取りを行う
ようにしてもよい。
【００３３】本実施例の上記説明では、リード動作中は
適応学習を実施しない構成としたが、ステップパラメー
タの適切な設定（リード前の学習専用領域とリード動作
中とでステップパラメータを切り替える）によっては、
リード動作中でもアダプティブノイズの影響を抑えなが
らの適応学習をしてもよいことはいうまでもない。この
場合、データリードでＣＣＭの統計測定結果が劣化した
場合、その直後のセクタのリードでの係数値は、初期係
数値Ｋｍ（ｉｎｉｔ）に再設定され、エラー多発セクタ
が連続して発生しないようにする。
適応学習を実施しない構成としたが、ステップパラメー
タの適切な設定（リード前の学習専用領域とリード動作
中とでステップパラメータを切り替える）によっては、
リード動作中でもアダプティブノイズの影響を抑えなが
らの適応学習をしてもよいことはいうまでもない。この
場合、データリードでＣＣＭの統計測定結果が劣化した
場合、その直後のセクタのリードでの係数値は、初期係
数値Ｋｍ（ｉｎｉｔ）に再設定され、エラー多発セクタ
が連続して発生しないようにする。
【００３４】本発明の第２の実施例を図３を用いて説明
する。本実施例では、第１の実施例と異なる構成部位で
ある再生回路（ＲＳＰＣ）２０１とチャネル状態測定回
路（ＣＣＭ）２０５を中心に説明する。本実施例では、
ＡＤＣの出力値列を時系列で記憶する波形メモリ（ＭＥ
Ｍ）２２１を、セクタのスプリット（セクタがサーボ領
域で分割されていること）を想定して、２セクタ分のＭ
ＥＭ１，２（２２１−１，２２１−２）を設ける。ま
た、チャネル状態測定回路（ＣＣＭ）２０５内の統計測
定には、最尤復号器（ＭＬ）２１４内の各状態でのパス
メトリック値の差メトリック値の最小値５３−１を用い
る。この差メトリック値の最小値（５３−１）をＣＣＭ
２０５内の比較器２０５ー８に入力し、予めＭＰ２４で
設定した差メトリックのしきい値（ＶＭＴＨ）２０５−
９と比較する。ＶＭＴＨ２０５−９より差メトリック値
の最小値５３−１が小さければ、エラーする可能性が高
いと見なして加算器２０５−２でデータラッチ２０５−
３をカウントアップする。同時に、ＳＢＤＥＴ２１５か
ら出力されるバイトクロック５４をフラグ位置と見なし
てフラグポジションレジスタ（ＦＰＲＥＧ）２０５−１
０に順次記録する。ＴＲＥＱ＿ＥＮ５１（ｏｒ ＲＧ３
７）がアクティブとなってから、ＢＣＮＴ２０５−１１
で１セクタ分のバイトカウント後に、データラッチ２０
５−３のカウント値と予め設定した誤差しきい値（ＥＴ
Ｈ）２０５−５とを比較し、データラッチ２０５−３の
カウント値の方が大きければ異常セクタと見なして制御
信号５２を出力する構成である。この制御信号５２によ
って、係数学習時には学習した係数値を棄却してレジス
タ（ＣＯＥＦ）２１９にＣＯＥＦ０ ２１９−１の初期
係数値をセットする。学習後の係数値のセットについて
は第１の実施例と同様である。上記制御信号５２はセク
タ異常検出信号でもあり、図３のＣＣＭはセクタ異常検
出手段でもあり、波形等化手段の出力信号の品質を判定
する品質判定手段でもある。なお、ＦＰＲＥＧ２０５−
１０は、比較器２０５−８の出力をエラーの可能性があ
るフラグ信号としてＨＤＣ２２に出力することで、ＨＤ
Ｃ２２内に設けても良い。
する。本実施例では、第１の実施例と異なる構成部位で
ある再生回路（ＲＳＰＣ）２０１とチャネル状態測定回
路（ＣＣＭ）２０５を中心に説明する。本実施例では、
ＡＤＣの出力値列を時系列で記憶する波形メモリ（ＭＥ
Ｍ）２２１を、セクタのスプリット（セクタがサーボ領
域で分割されていること）を想定して、２セクタ分のＭ
ＥＭ１，２（２２１−１，２２１−２）を設ける。ま
た、チャネル状態測定回路（ＣＣＭ）２０５内の統計測
定には、最尤復号器（ＭＬ）２１４内の各状態でのパス
メトリック値の差メトリック値の最小値５３−１を用い
る。この差メトリック値の最小値（５３−１）をＣＣＭ
２０５内の比較器２０５ー８に入力し、予めＭＰ２４で
設定した差メトリックのしきい値（ＶＭＴＨ）２０５−
９と比較する。ＶＭＴＨ２０５−９より差メトリック値
の最小値５３−１が小さければ、エラーする可能性が高
いと見なして加算器２０５−２でデータラッチ２０５−
３をカウントアップする。同時に、ＳＢＤＥＴ２１５か
ら出力されるバイトクロック５４をフラグ位置と見なし
てフラグポジションレジスタ（ＦＰＲＥＧ）２０５−１
０に順次記録する。ＴＲＥＱ＿ＥＮ５１（ｏｒ ＲＧ３
７）がアクティブとなってから、ＢＣＮＴ２０５−１１
で１セクタ分のバイトカウント後に、データラッチ２０
５−３のカウント値と予め設定した誤差しきい値（ＥＴ
Ｈ）２０５−５とを比較し、データラッチ２０５−３の
カウント値の方が大きければ異常セクタと見なして制御
信号５２を出力する構成である。この制御信号５２によ
って、係数学習時には学習した係数値を棄却してレジス
タ（ＣＯＥＦ）２１９にＣＯＥＦ０ ２１９−１の初期
係数値をセットする。学習後の係数値のセットについて
は第１の実施例と同様である。上記制御信号５２はセク
タ異常検出信号でもあり、図３のＣＣＭはセクタ異常検
出手段でもあり、波形等化手段の出力信号の品質を判定
する品質判定手段でもある。なお、ＦＰＲＥＧ２０５−
１０は、比較器２０５−８の出力をエラーの可能性があ
るフラグ信号としてＨＤＣ２２に出力することで、ＨＤ
Ｃ２２内に設けても良い。
【００３５】一方、波形メモリ（ＭＥＭ１，２）２２１
−１，２は、データリード時に記録され、ＡＤＣ２１２
の動作後のサンプル波形がＭＥＭ１に取り込まれ、サー
ボ領域でスプリットしたセクタの後半部分はＭＥＭ２に
取り込まれる。この際、比較器２０５−８からのエラー
フラグが多く発生してＥＴＨのしきい値を越えて、制御
出力信号５２がＭＥＭ２２１に出力され、以降のＲＧ３
７によるＭＥＭ２２１の更新（オーバーライト）を中止
する。制御信号５２は、同時にＭＰ２４にも出力され、
ＭＥＭ２２１に不良セクタ候補のデータを記録したこと
を通知する。このＭＰ２４への通知によって、ＭＰ２４
は、図１に示すように制御信号５２が出力されたセクタ
が、ＨＤＣ２２内のＥＣＣ２２−１のＣＲＣチェックで
修復できたかを知ることができ、修復できていない場合
は、ＭＥＭ２２１に記録された波形データをスイッチ
（ＳＷ）２２２を介して選択し、ＨＤＣ２２からの適当
なＲＧ３７の入力によってＦＩＲ２１３にＭＥＭ２２１
の波形を入力することで、ディスク上のデータをアクセ
スすることなく再復号する（オンザフライのリトライ）
ことが可能となる。スプリットしている場合はＭＥＭ
１，２の両方を用いる。この際、ＦＰＲＥＧ２０５−１
０を基にＦＩＲ２１３の係数値や利得Ｇ２２３を変更し
たり、ＦＰＲＥＧ２０５−１０をイレージャ位置（デー
タの消失位置）とするイレージャ訂正（消失データの復
元訂正）等が可能である。また、従来技術では、連続す
るセクタ中に１セクタでもリアルタイムのＥＣＣでの訂
正が不可能となった場合は、概ね後続するセクタも訂正
不能なエラーとなる可能性が高いことから、連続のリー
ド動作を中断し、エラーとなったセクタからリトライ動
作にはいる。即ち、１回転の回転待ちとなる可能性が高
かった。これが本発明の適用によって、殆どの場合に回
転待ちをなくすことが可能となる。
−１，２は、データリード時に記録され、ＡＤＣ２１２
の動作後のサンプル波形がＭＥＭ１に取り込まれ、サー
ボ領域でスプリットしたセクタの後半部分はＭＥＭ２に
取り込まれる。この際、比較器２０５−８からのエラー
フラグが多く発生してＥＴＨのしきい値を越えて、制御
出力信号５２がＭＥＭ２２１に出力され、以降のＲＧ３
７によるＭＥＭ２２１の更新（オーバーライト）を中止
する。制御信号５２は、同時にＭＰ２４にも出力され、
ＭＥＭ２２１に不良セクタ候補のデータを記録したこと
を通知する。このＭＰ２４への通知によって、ＭＰ２４
は、図１に示すように制御信号５２が出力されたセクタ
が、ＨＤＣ２２内のＥＣＣ２２−１のＣＲＣチェックで
修復できたかを知ることができ、修復できていない場合
は、ＭＥＭ２２１に記録された波形データをスイッチ
（ＳＷ）２２２を介して選択し、ＨＤＣ２２からの適当
なＲＧ３７の入力によってＦＩＲ２１３にＭＥＭ２２１
の波形を入力することで、ディスク上のデータをアクセ
スすることなく再復号する（オンザフライのリトライ）
ことが可能となる。スプリットしている場合はＭＥＭ
１，２の両方を用いる。この際、ＦＰＲＥＧ２０５−１
０を基にＦＩＲ２１３の係数値や利得Ｇ２２３を変更し
たり、ＦＰＲＥＧ２０５−１０をイレージャ位置（デー
タの消失位置）とするイレージャ訂正（消失データの復
元訂正）等が可能である。また、従来技術では、連続す
るセクタ中に１セクタでもリアルタイムのＥＣＣでの訂
正が不可能となった場合は、概ね後続するセクタも訂正
不能なエラーとなる可能性が高いことから、連続のリー
ド動作を中断し、エラーとなったセクタからリトライ動
作にはいる。即ち、１回転の回転待ちとなる可能性が高
かった。これが本発明の適用によって、殆どの場合に回
転待ちをなくすことが可能となる。
【００３６】ここで、第２の実施例について、リードシ
ーク開始からの動作シーケンスを、図４〜図８のフロー
チャートを用いて説明する。図４がコントローラ側から
見た上位のシーケンスを、図５が係数学習制御の詳細シ
ーケンス、図６がデータリードの制御の詳細シーケンス
を示す。また、図７にＭＥＭ１，２を用いたオンザフラ
イのリトライ制御１のシーケンス、図８にフラグポイン
トレジスタ（ＦＰＲＥＧ）を用いたイレージャ訂正方法
を示す。
ーク開始からの動作シーケンスを、図４〜図８のフロー
チャートを用いて説明する。図４がコントローラ側から
見た上位のシーケンスを、図５が係数学習制御の詳細シ
ーケンス、図６がデータリードの制御の詳細シーケンス
を示す。また、図７にＭＥＭ１，２を用いたオンザフラ
イのリトライ制御１のシーケンス、図８にフラグポイン
トレジスタ（ＦＰＲＥＧ）を用いたイレージャ訂正方法
を示す。
【００３７】図４に示すように、リードシークが開始さ
れると、リードのためのレジスタ設定の一つとして、Ｃ
ＣＭ内のバイトカウンタ（ＢＣＮＴ）がリセットされ、
ＭＥＭＷ＿ＥＮ＝１、ｉ＝１と設定することによってＭ
ＥＭ１の記録を可能にする。シークが完了し、係数学習
のためのセクタ位置に到すると、係数学習制御に入る。
れると、リードのためのレジスタ設定の一つとして、Ｃ
ＣＭ内のバイトカウンタ（ＢＣＮＴ）がリセットされ、
ＭＥＭＷ＿ＥＮ＝１、ｉ＝１と設定することによってＭ
ＥＭ１の記録を可能にする。シークが完了し、係数学習
のためのセクタ位置に到すると、係数学習制御に入る。
【００３８】図５に示すように、ＴＲＥＱ＿ＥＮが立ち
上がり、シンクバイトが見つかる（ＳＢＤ）と、係数学
習回路（ＡＤＡＰＴ）を起動する。同時にバイトカウン
ト（ＢＣＮＴ）をしながら、ビタビ復号器内の差メトリ
ック値の大きさをしきい値（ＶＭＴＨ）と比較し、差メ
トリック値が小さい（小さい程判別結果が曖昧であるこ
とになる）と、エラーカウント（２０５−３）をカウン
トアップし、これをＴＲＥＱ＿ＥＮが下がるまで繰り返
す。この時点で係数学習を停止するとともに、バイトカ
ウント値が１セクタの全バイト数（例えば、データ長＋
ＣＲＣ長＋ＥＣＣ長）を越えているかをチェックする。
スプリット等で１セクタの全バイト数を越えていなけれ
ば、後半のＴＲＥＱ＿ＥＮの立上りを待つ。１セクタが
終了すれば、エラーカウント値をチェックし、これがし
きい値（ＥＴＨ）を越えていれば、係数学習で得られた
係数を棄却して、学習前の係数値にリセットする。更に
ＣＣＭ内のバイトカウンタ（ＢＣＮＴ）をリセットし
て、係数学習制御を終了する。
上がり、シンクバイトが見つかる（ＳＢＤ）と、係数学
習回路（ＡＤＡＰＴ）を起動する。同時にバイトカウン
ト（ＢＣＮＴ）をしながら、ビタビ復号器内の差メトリ
ック値の大きさをしきい値（ＶＭＴＨ）と比較し、差メ
トリック値が小さい（小さい程判別結果が曖昧であるこ
とになる）と、エラーカウント（２０５−３）をカウン
トアップし、これをＴＲＥＱ＿ＥＮが下がるまで繰り返
す。この時点で係数学習を停止するとともに、バイトカ
ウント値が１セクタの全バイト数（例えば、データ長＋
ＣＲＣ長＋ＥＣＣ長）を越えているかをチェックする。
スプリット等で１セクタの全バイト数を越えていなけれ
ば、後半のＴＲＥＱ＿ＥＮの立上りを待つ。１セクタが
終了すれば、エラーカウント値をチェックし、これがし
きい値（ＥＴＨ）を越えていれば、係数学習で得られた
係数を棄却して、学習前の係数値にリセットする。更に
ＣＣＭ内のバイトカウンタ（ＢＣＮＴ）をリセットし
て、係数学習制御を終了する。
【００３９】図４に示すように、リードセクタに到達す
るのを待って、図６に示すリード制御を開始する。リー
ドに必要な各種レジスタ設定は、前もってリードシーク
開始時に設定している。ＲＧが立ち上がるとＭＥＭ１に
ＡＤＣのサンプル値をＲＧが下がるまで記録する。一
方、データの再生系では、シンクバイトが見つかる（Ｓ
ＢＤ）と、バイトカウント（ＢＣＮＴ）をしながら、ビ
タビ復号器内の差メトリック値の大きさをしきい値（Ｖ
ＭＴＨ）と比較し、差メトリック値が小さいと、エラー
カウント（２０５−３）をカウントアップし、更にエラ
ーバイト位置をフラグポイントレジスタ（ＦＰＲＥＧ）
に記録する。これをＲＧが下がるまで繰り返す。ＲＧが
下がった時点で係数学習を停止するとともに、バイトカ
ウント値（ＢＣＮＴ）をチェックし、スプリット等で１
セクタの全バイト数を越えていなければ、ｉ＝２として
後半のＲＧの立上りを待つ。１セクタが終了していれ
ば、エラーカウント値をチェックし、これがしきい値
（ＥＴＨ）を越えていれば、ＭＥＭ１，２の書き込みを
禁止（ＭＥＭＷ＿ＥＮ＝０）すると共にエラー多発を示
す制御信号５２をコントローラ側に送出して、リードし
たセクタのサンプルデータ列がＭＥＭに記録されたこと
を知らせる。更にＣＣＭ内のバイトカウンタ（ＢＣＮ
Ｔ）のリセットとｉ＝１をセットして、１セクタ分のリ
ード制御を終了する。
るのを待って、図６に示すリード制御を開始する。リー
ドに必要な各種レジスタ設定は、前もってリードシーク
開始時に設定している。ＲＧが立ち上がるとＭＥＭ１に
ＡＤＣのサンプル値をＲＧが下がるまで記録する。一
方、データの再生系では、シンクバイトが見つかる（Ｓ
ＢＤ）と、バイトカウント（ＢＣＮＴ）をしながら、ビ
タビ復号器内の差メトリック値の大きさをしきい値（Ｖ
ＭＴＨ）と比較し、差メトリック値が小さいと、エラー
カウント（２０５−３）をカウントアップし、更にエラ
ーバイト位置をフラグポイントレジスタ（ＦＰＲＥＧ）
に記録する。これをＲＧが下がるまで繰り返す。ＲＧが
下がった時点で係数学習を停止するとともに、バイトカ
ウント値（ＢＣＮＴ）をチェックし、スプリット等で１
セクタの全バイト数を越えていなければ、ｉ＝２として
後半のＲＧの立上りを待つ。１セクタが終了していれ
ば、エラーカウント値をチェックし、これがしきい値
（ＥＴＨ）を越えていれば、ＭＥＭ１，２の書き込みを
禁止（ＭＥＭＷ＿ＥＮ＝０）すると共にエラー多発を示
す制御信号５２をコントローラ側に送出して、リードし
たセクタのサンプルデータ列がＭＥＭに記録されたこと
を知らせる。更にＣＣＭ内のバイトカウンタ（ＢＣＮ
Ｔ）のリセットとｉ＝１をセットして、１セクタ分のリ
ード制御を終了する。
【００４０】図４に示すように、コントローラ側では制
御信号５２＝１ならば、波形保持したセクタＮｏ．を記
憶する。また、オンザフライのＥＣＣ（ＯＴＦ−ＥＣ
Ｃ）訂正（リード済みデータのＥＣＣ訂正）、ＣＲＣチ
ェックを実行する。どちらかが不成功の場合、チェック
されたエラーセクタのＮｏ．を記憶する。成功した場合
は、バッファＲＡＭに再生データが格納される。このＥ
ＣＣやＣＲＣチェック動作と並行して、リードすべきセ
クタが終了していなければ、引き続きリード制御が起動
される。リードすべきセクタがなくなると、ＯＴＦ−Ｅ
ＣＣやＣＲＣチェックで不良となったセクタが存在した
かを確認し、チェックエラーセクタＮｏ．が記憶されて
いる場合は、これと波形保持したセクタＮｏ．とを比較
し、一致していない場合は通常のリトライシーケンスを
実施する。一致している場合は以下のオンザフライリト
ライ制御１を実施する。
御信号５２＝１ならば、波形保持したセクタＮｏ．を記
憶する。また、オンザフライのＥＣＣ（ＯＴＦ−ＥＣ
Ｃ）訂正（リード済みデータのＥＣＣ訂正）、ＣＲＣチ
ェックを実行する。どちらかが不成功の場合、チェック
されたエラーセクタのＮｏ．を記憶する。成功した場合
は、バッファＲＡＭに再生データが格納される。このＥ
ＣＣやＣＲＣチェック動作と並行して、リードすべきセ
クタが終了していなければ、引き続きリード制御が起動
される。リードすべきセクタがなくなると、ＯＴＦ−Ｅ
ＣＣやＣＲＣチェックで不良となったセクタが存在した
かを確認し、チェックエラーセクタＮｏ．が記憶されて
いる場合は、これと波形保持したセクタＮｏ．とを比較
し、一致していない場合は通常のリトライシーケンスを
実施する。一致している場合は以下のオンザフライリト
ライ制御１を実施する。
【００４１】図７にオンザフライリトライ制御１の動作
シーケンスの概要を示す。再生信号処理回路（ＲＳＰ
Ｃ）内のＳＷ２２２をＭＥＭ側に切り換え、エラーバイ
ト位置情報（ＦＰＲＥＧ）を取得してエラーバイト位置
の分布から、ＲＳＰＣのパラメータの設定変更を実施す
る。媒体欠陥やＭＲヘッド起因のサーマルアスペリティ
ーによるエラーの場合は、特定のバイト位置に集中する
エラーとなり、分解能の変動や位置決め障害等の主にＳ
／Ｎ要因のエラー場合は、エラー位置が散らばる。前者
では例えば利得Ｇを制御し、後者ではＦＩＲの係数値を
調整するなど各種の組み合わせが考えられる。この状態
でコントローラ側からの適当な位置でのＲＧの入力で、
ＭＥＭ１に記録されたデータ列の再復調が実施できる。
コントローラ側からのＲＧの出力タイミングは、サーボ
領域にかからなければ適当なタイミングでよい。なお、
連続リード状態でも少なくとも１トラック分のセクタの
リードが終了し、次のトラックやヘッドに移行する際に
は、必ず他のトラックへの位置決め動作やヘッドチェン
ジのための数セクタ分の空き時間が入るので、この時間
をオンザフライリトライ制御１に当てればよい。ＭＥＭ
１のデータを再復調した時点でＢＣＮＴのバイト数をチ
ェックし、全バイト数に達しない場合（分割セクタ）
は、ＭＥＭ２も再復調する。再復調後はＣＣＭ内のバイ
トカウンタ（ＢＣＮＴ）のリセットとｉ＝１をセット
し、ＳＷ２２２をＡＤＣ側に切り換えて、エラー多発セ
クタのオンザフライリトライ制御１を終了する。
シーケンスの概要を示す。再生信号処理回路（ＲＳＰ
Ｃ）内のＳＷ２２２をＭＥＭ側に切り換え、エラーバイ
ト位置情報（ＦＰＲＥＧ）を取得してエラーバイト位置
の分布から、ＲＳＰＣのパラメータの設定変更を実施す
る。媒体欠陥やＭＲヘッド起因のサーマルアスペリティ
ーによるエラーの場合は、特定のバイト位置に集中する
エラーとなり、分解能の変動や位置決め障害等の主にＳ
／Ｎ要因のエラー場合は、エラー位置が散らばる。前者
では例えば利得Ｇを制御し、後者ではＦＩＲの係数値を
調整するなど各種の組み合わせが考えられる。この状態
でコントローラ側からの適当な位置でのＲＧの入力で、
ＭＥＭ１に記録されたデータ列の再復調が実施できる。
コントローラ側からのＲＧの出力タイミングは、サーボ
領域にかからなければ適当なタイミングでよい。なお、
連続リード状態でも少なくとも１トラック分のセクタの
リードが終了し、次のトラックやヘッドに移行する際に
は、必ず他のトラックへの位置決め動作やヘッドチェン
ジのための数セクタ分の空き時間が入るので、この時間
をオンザフライリトライ制御１に当てればよい。ＭＥＭ
１のデータを再復調した時点でＢＣＮＴのバイト数をチ
ェックし、全バイト数に達しない場合（分割セクタ）
は、ＭＥＭ２も再復調する。再復調後はＣＣＭ内のバイ
トカウンタ（ＢＣＮＴ）のリセットとｉ＝１をセット
し、ＳＷ２２２をＡＤＣ側に切り換えて、エラー多発セ
クタのオンザフライリトライ制御１を終了する。
【００４２】図４に示すように、コントローラ側で再復
調結果をＥＣＣ＋ＣＲＣでチェックし、成功ならばバッ
ファＲＡＭに格納し、連続するセクタでのリードシーク
が完了する。ＥＣＣ＋ＣＲＣでチェックが不成功なら
ば、オンザフライリトライ制御２として、図８に示すよ
うにエラーバイト位置情報（ＦＰＲＥＧ）の取得による
イレージャ訂正を実施する。但し、イレージャ訂正に要
する時間がリアルタイムで実施できない場合は実施せ
ず、図４に示す通常のリトライシーケンスを実施し、こ
の中でイレージャ訂正を実施する。この際、エラーバイ
ト位置情報（ＦＰＲＥＧ）を活用できる。
調結果をＥＣＣ＋ＣＲＣでチェックし、成功ならばバッ
ファＲＡＭに格納し、連続するセクタでのリードシーク
が完了する。ＥＣＣ＋ＣＲＣでチェックが不成功なら
ば、オンザフライリトライ制御２として、図８に示すよ
うにエラーバイト位置情報（ＦＰＲＥＧ）の取得による
イレージャ訂正を実施する。但し、イレージャ訂正に要
する時間がリアルタイムで実施できない場合は実施せ
ず、図４に示す通常のリトライシーケンスを実施し、こ
の中でイレージャ訂正を実施する。この際、エラーバイ
ト位置情報（ＦＰＲＥＧ）を活用できる。
【００４３】なお、本実施例では一連の複数セクタの連
続リード中の１セクタの異常に対応する構成例を示した
が、ＭＥＭ容量を大きくすることによって、一連の複数
セクタの連続リード中の複数セクタの異常にも対応でき
ることは明らかである。
続リード中の１セクタの異常に対応する構成例を示した
が、ＭＥＭ容量を大きくすることによって、一連の複数
セクタの連続リード中の複数セクタの異常にも対応でき
ることは明らかである。
【００４４】本発明の第３の実施例を図１１を用いて説
明する。本実施例では、第１の実施例と異なる構成部位
である再生回路（ＲＳＰＣ）２０１のみについて説明す
る。本実施例では、ＡＤＡＰＴ２１８はアクティブフィ
ルタ（ＡＦ）２１１のブースト量を設定するレジスタ
（ＢＯＯＳＴ）２２０を適応的に制御する構成である。
シーク命令４０を受けて、ＭＰ２４はＦＩＲ２１３の等
化特性を決める（ＣＯＥＦ０）２１９−１の係数値とＡ
Ｆ２１２の初期ブースト量（ＢＯＯＳＴ０）２２０−１
を設定する。この状態でＴＲＥＱ＿ＥＮ５１がＨＤＤ２
２から発行されると、ＡＤＡＰＴ２１８は、ＦＩＲ２１
３の入力と出力からＢＯＯＳＴ２２０を、ＦＩＲ２１３
の出力での誤差が最小になるように適応的に制御する。
ＣＣＭ２０５は、この時の誤差を検出して、ＢＯＯＳＴ
２２０が適切に制御されているかをモニタし、適切でな
ければ制御信号５２で初期のブースト量（ＢＯＯＳＴ
０）２２０−１に再設定する。判断基準は第１の実施例
と同様である。
明する。本実施例では、第１の実施例と異なる構成部位
である再生回路（ＲＳＰＣ）２０１のみについて説明す
る。本実施例では、ＡＤＡＰＴ２１８はアクティブフィ
ルタ（ＡＦ）２１１のブースト量を設定するレジスタ
（ＢＯＯＳＴ）２２０を適応的に制御する構成である。
シーク命令４０を受けて、ＭＰ２４はＦＩＲ２１３の等
化特性を決める（ＣＯＥＦ０）２１９−１の係数値とＡ
Ｆ２１２の初期ブースト量（ＢＯＯＳＴ０）２２０−１
を設定する。この状態でＴＲＥＱ＿ＥＮ５１がＨＤＤ２
２から発行されると、ＡＤＡＰＴ２１８は、ＦＩＲ２１
３の入力と出力からＢＯＯＳＴ２２０を、ＦＩＲ２１３
の出力での誤差が最小になるように適応的に制御する。
ＣＣＭ２０５は、この時の誤差を検出して、ＢＯＯＳＴ
２２０が適切に制御されているかをモニタし、適切でな
ければ制御信号５２で初期のブースト量（ＢＯＯＳＴ
０）２２０−１に再設定する。判断基準は第１の実施例
と同様である。
【００４５】本実施例によれば、ヘッド／ディスクの環
境変動による分解能の変化を、アナログ回路であるＡＦ
のＢＯＯＳＴ２２０の設定で補正する。ＡＦのブースト
設定量の変更に伴う過渡応答は連続的であり、比較的ス
ムーズな適応等化動作が可能であることから、ＦＩＲの
係数変化時のアダプティブノイズによる劣化を回避する
ことが可能である。従って、本実施例では、データ再生
中においても適応動作を継続することが容易に可能であ
る。この場合、適応動作の制御状態をモニタするＣＣＭ
もデータ再生中で同時動作させ、誤差の増加やデータエ
ラーの頻発が検知された場合は初期のブースト量にリア
ルタイムに再設定すれば良い。本実施例も、第２の実施
例に示したようなＭＥＭ２２１との組み合わせが可能な
ことは言うまでもない。
境変動による分解能の変化を、アナログ回路であるＡＦ
のＢＯＯＳＴ２２０の設定で補正する。ＡＦのブースト
設定量の変更に伴う過渡応答は連続的であり、比較的ス
ムーズな適応等化動作が可能であることから、ＦＩＲの
係数変化時のアダプティブノイズによる劣化を回避する
ことが可能である。従って、本実施例では、データ再生
中においても適応動作を継続することが容易に可能であ
る。この場合、適応動作の制御状態をモニタするＣＣＭ
もデータ再生中で同時動作させ、誤差の増加やデータエ
ラーの頻発が検知された場合は初期のブースト量にリア
ルタイムに再設定すれば良い。本実施例も、第２の実施
例に示したようなＭＥＭ２２１との組み合わせが可能な
ことは言うまでもない。
【００４６】
【発明の効果】本発明によれば、磁気ディスク装置の再
生信号処理の環境変動等に対する適応能力を向上させ、
リトライや誤訂正の頻度を低減でき、高性能な磁気ディ
スク装置を低コストで提供できる。
生信号処理の環境変動等に対する適応能力を向上させ、
リトライや誤訂正の頻度を低減でき、高性能な磁気ディ
スク装置を低コストで提供できる。
【図１】本発明による第１の実施例の再生信号処理系の
全体構成を示す図である。
全体構成を示す図である。
【図２】本発明の第１の実施例の再生回路を示す図であ
る。
る。
【図３】本発明の第２の実施例の再生回路を示す図であ
る。
る。
【図４】本発明の第２の実施例のコントローラのリード
シーク制御のシーケンスを示す図である。
シーク制御のシーケンスを示す図である。
【図５】本発明の第２の実施例の係数学習制御シーケン
スを示す図である。
スを示す図である。
【図６】本発明の第２の実施例のリード制御シーケンス
を示す図である。
を示す図である。
【図７】本発明の第２の実施例の再生回路内の波形メモ
リを用いたリトライシーケンスを示す図である。
リを用いたリトライシーケンスを示す図である。
【図８】本発明の第２の実施例の再生回路内のエラー位
置情報を用いたイレージャ訂正方法を示す図である。
置情報を用いたイレージャ訂正方法を示す図である。
【図９】本発明の第１の実施例のシーク後の位置ずれが
比較的小さい場合の動作シーケンスを示す図である。
比較的小さい場合の動作シーケンスを示す図である。
【図１０】本発明の第１の実施例のシーク後の位置ずれ
が比較的大きい場合の動作シーケンスを示す図である。
が比較的大きい場合の動作シーケンスを示す図である。
【図１１】本発明の第３の実施例を構成する再生回路を
示す図である。
示す図である。
【図１２】従来技術による磁気ディスク装置の全体構成
を示す図である。
を示す図である。
【図１３】従来技術の再生信号処理系の全体構成を示す
図である。
図である。
【図１４】従来技術の再生回路を示す図である。
【図１５】従来技術のシーク後の位置ずれが比較的大き
い場合の動作シーケンスを示す図である。
い場合の動作シーケンスを示す図である。
１ 磁気ヘッド ２ 磁気ディスク １０ 磁気ディスク装置（ＨＤＤ） ２０ ヘッドディスクアセンブリ（ＨＤＡ） ２１ 信号処理ＬＳＩチップ ２２ ＨＤＣ ２２−１ ＥＣＣ ２３ サーボコントローラ（ＳＲＶＣ） ２４ マイクロプロセッサ（ＭＰ） ３０ ＰＣＢ ２０１ 再生回路（ＲＳＰＣ） ２０５ チャネル状態測定回路（ＣＣＭ） ２１１ アクティブフィルタ（ＡＦ） ２１３ ディジタル等化回路（ＦＩＲ） ２１８ 係数学習回路（ＡＤＡＰＴ） ２１９ 等化特性設定レジスタ（ＣＯＥＦ） ２２０ ブースト特性設定レジスタ ２２１ 波形メモリ（ＭＥＭ） ２２２ スイッチ（ＳＷ） ２２３ 利得設定回路（Ｇ）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ Ｆターム(参考） 5D044 AB01 AB05 AB07 BC01 CC04 FG01 5D091 AA10 BB02 BB04 BB06 DD09 FF15 HH20
Claims (6)
- 【請求項１】 再生波形の波形等化手段と、該波形等化
手段の等化特性の適応学習を実施する適応学習手段を備
える磁気ディスク装置において、 等化特性の適応学習の異常動作をセクタの学習直後に検
出する学習異常検出手段を設け、適応学習に異常が生じ
た場合に、次セクタの学習前に適応学習前の等化特性を
再設定する等化特性再設定手段を設け、等化特性の適応
学習を、指定されたデータのデータ再生動作と同時に実
施することを特徴とする環境変動耐力の高い磁気ディス
ク装置。 - 【請求項２】 再生波形の波形等化手段と、該波形等化
手段の等化特性の適応学習を実施する適応学習手段を備
える磁気ディスク装置において、 等化特性の適応学習の異常動作をセクタの学習直後に検
出する学習異常検出手段を設け、適応学習に異常が生じ
た場合に、次セクタの学習前に適応学習前の等化特性を
再設定する等化特性再設定手段を設け、等化特性の適応
学習を、指定されたデータのデータ再生動作に先行して
実施することを特徴とする環境変動耐力の高い磁気ディ
スク装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の環境変動耐力の高い磁気
ディスク装置において、 指定されたデータのデータ再生動作中には、前記波形等
化手段の等化特性を固定することを特徴とする環境変動
耐力の高い磁気ディスク装置。 - 【請求項４】 再生波形を入力するアクティブフィルタ
と、該アクティブフィルタの出力を入力とするＡ／Ｄ変
換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段の出力を入力とする波形等
化手段を備える磁気ディスク装置であって、 該アクティブフィルタのブースト特性を該波形等化手段
の入力と出力に基づき該波形等化手段での誤差が最小に
なるように適応学習を実施する適応学習手段を設け、 ブースト特性の適応学習の異常動作をセクタの学習直後
に検出する学習異常検出手段を設け、適応学習に異常が
生じた場合に、次セクタの学習前に適応学習前のブース
ト特性を再設定するブースト特性再設定手段を設け、ブ
ースト特性の適応学習を、指定されたデータのデータ再
生動作と同時に実施することを特徴とする環境変動耐力
の高い磁気ディスク装置。 - 【請求項５】 再生波形を入力するアクティブフィルタ
と、該アクティブフィルタの出力を入力とするＡ／Ｄ変
換手段と、該Ａ／Ｄ変換手段の出力を入力とする波形等
化手段を備える磁気ディスク装置であって、 該アクティブフィルタのブースト特性を該波形等化手段
の入力と出力に基づき該波形等化手段での誤差が最小に
なるように適応学習を実施する適応学習手段を設け、 ブースト特性の適応学習の異常動作をセクタの学習直後
に検出する学習異常検出手段を設け、適応学習に異常が
生じた場合に、次セクタの学習前に適応学習前のブース
ト特性を再設定するブースト特性再設定手段を設け、ブ
ースト特性の適応学習を、指定されたデータのデータ再
生動作に先行して実施することを特徴とする環境変動耐
力の高い磁気ディスク装置。 - 【請求項６】 複数のセクタを連続的に再生可能とする
デジタル波形処理手段を有する磁気ディスク装置におい
て、 少なくとも１セクタ分のデジタルサンプルデータ列を該
デジタル波形処理手段内の波形等化手段の前段で保持す
るサンプルデータ保持手段と、該デジタル波形処理手段
の出力信号の異常をセクタのリード動作毎に検出するセ
クタ異常検出手段とを設け、 該セクタ異常検出手段が該デジタル波形処理手段の出力
信号の異常を検出すると、該サンプルデータ保持手段が
異常の検出されたデジタルサンプルデータ列を保持し、
該サンプルデータ保持手段に保持されたデータ列を用い
て異常セクタの再復号を可能とすることを特徴とする環
境変動耐力の高い磁気ディスク装置。
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2002
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