JP2000046912A - 自己検査装置を備えた集積回路 - Google Patents
自己検査装置を備えた集積回路Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 コストのかかる集積回路および自己検査装置
の変更するのない改善された自己検査装置を提供するこ
と。 【解決手段】 自己検査装置（３）と検査すべき回路ユ
ニット（１）とを備えた集積回路であって、前記自己検
査装置（３）は前記集積回路（２）の自己検査を実行す
るためのものである形式の集積回路において、前記自己
検査装置（３）の出力側は、前記回路のコンタクト個所
（４）に接続されており、該コンタクト個所（４）は外
部とのコンタクトに使用されており、前記コンタクト個
所（４）は、前記検査すべき回路ユニット（１）の入力
側（Ｉｎ）に接続されており、自己検査装置（３）は、
前記回路ユニット（１）に検査信号（Ｓ１）を、前記コ
ンタクト個所（４）を介して供給することを特徴とする
自己検査装置を備えた集積回路を構成する。
の変更するのない改善された自己検査装置を提供するこ
と。 【解決手段】 自己検査装置（３）と検査すべき回路ユ
ニット（１）とを備えた集積回路であって、前記自己検
査装置（３）は前記集積回路（２）の自己検査を実行す
るためのものである形式の集積回路において、前記自己
検査装置（３）の出力側は、前記回路のコンタクト個所
（４）に接続されており、該コンタクト個所（４）は外
部とのコンタクトに使用されており、前記コンタクト個
所（４）は、前記検査すべき回路ユニット（１）の入力
側（Ｉｎ）に接続されており、自己検査装置（３）は、
前記回路ユニット（１）に検査信号（Ｓ１）を、前記コ
ンタクト個所（４）を介して供給することを特徴とする
自己検査装置を備えた集積回路を構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路の自己検
査を行うための自己検査装置を備えた集積回路に関す
る。
査を行うための自己検査装置を備えた集積回路に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】上記のような集積回路は例えば米国特許
５１７３９０６号明細書に記載されている。自己検査装
置いわゆるビルトインセルフ検査システムは、集積回路
に組み込まれた構成部分である。自己検査装置は、検査
信号を形成するための検査パターン発生器を含んでお
り、この検査信号は検査すべき集積回路の回路ユニット
に供給される。実行した検査についての結果の信号は、
チップ上で形成され、検査実行後にチップの外部に読み
出される。検査信号は、チップに存在するデータ線路を
介して、自己検査装置から検査すべき回路ユニットに伝
送される。
５１７３９０６号明細書に記載されている。自己検査装
置いわゆるビルトインセルフ検査システムは、集積回路
に組み込まれた構成部分である。自己検査装置は、検査
信号を形成するための検査パターン発生器を含んでお
り、この検査信号は検査すべき集積回路の回路ユニット
に供給される。実行した検査についての結果の信号は、
チップ上で形成され、検査実行後にチップの外部に読み
出される。検査信号は、チップに存在するデータ線路を
介して、自己検査装置から検査すべき回路ユニットに伝
送される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、冒頭
に述べた形式の集積回路が自己検査装置を使用してより
良好な検査を実行することのできるように構成すること
である。
に述べた形式の集積回路が自己検査装置を使用してより
良好な検査を実行することのできるように構成すること
である。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題は本発明によ
り、自己検査装置と検査すべき回路ユニットとを備えた
集積回路であって、前記自己検査装置は前記集積回路の
自己検査を実行する形式の集積回路において、前記自己
検査装置の出力側は、前記回路のコンタクト個所に接続
されており、該コンタクト個所は外部とのコンタクトに
使用されており、前記コンタクト個所は、前記の検査す
べき回路ユニットの入力側に接続されており、自己検査
装置は、前記コンタクト個所を介して、前記回路ユニッ
トに検査信号を供給することを特徴とする自己検査装置
を備えた集積回路を構成することによって解決される。
り、自己検査装置と検査すべき回路ユニットとを備えた
集積回路であって、前記自己検査装置は前記集積回路の
自己検査を実行する形式の集積回路において、前記自己
検査装置の出力側は、前記回路のコンタクト個所に接続
されており、該コンタクト個所は外部とのコンタクトに
使用されており、前記コンタクト個所は、前記の検査す
べき回路ユニットの入力側に接続されており、自己検査
装置は、前記コンタクト個所を介して、前記回路ユニッ
トに検査信号を供給することを特徴とする自己検査装置
を備えた集積回路を構成することによって解決される。
【０００５】
【発明の実施の形態】本発明の集積回路では、自己検査
装置の出力側は、回路のコンタクト個所と接続されてい
る。このコンタクト個所は、外部とのコンタクトに使用
され、かつ集積回路の、検査すべき回路ユニットの入力
側と接続されている。ここで自己検査装置は、検査すべ
き回路ユニットに検査信号を、このコンタクト個所を介
して供給する。
装置の出力側は、回路のコンタクト個所と接続されてい
る。このコンタクト個所は、外部とのコンタクトに使用
され、かつ集積回路の、検査すべき回路ユニットの入力
側と接続されている。ここで自己検査装置は、検査すべ
き回路ユニットに検査信号を、このコンタクト個所を介
して供給する。
【０００６】したがって従来公知の回路と異なり検査信
号は意識的にコンタクト個所を介して供給される。この
コンタクト個所は例えば、検査装置の検査針による外部
コンタクト、またはボンディングワイヤによる外部コン
タクトに使用可能である。この手段は、検査すべき回路
ユニットの入力側に検査信号を直接供給することに比し
てつぎのような利点を有する。すなわちこの手段によ
り、コンタクト個所と検査すべき回路ユニットとの間の
接続も検査されるという利点を有する。したがって検査
すべき回路ユニットには、検査信号がつぎのように供給
される。すなわち検査動作モード以外の時に、コンタク
ト個所を介して供給される外部の信号と同様に供給され
る。したがって本発明では、従来公知の解決手段と異な
り、コンタクト個所と検査すべき回路ユニットとの間の
接続の検査が可能であり、その際にコストのかかる集積
回路またはこの集積回路の自己検査装置の変更は不要で
ある。必要であるのは単に、自己検査装置の出力側を、
検査すべき回路ユニットの入力側に直接接続するのでは
なく、これをコンタクト個所に接続することである。例
えば自己検査装置の構造、この自己検査装置が形成する
検査パターンないしは検査信号の種類、ならびに実行し
た検査に対する結果信号の形成形式、および集積回路の
外部への結果の出力は、自己検査装置を備えた従来公知
の集積回路と同様に構成することができる。
号は意識的にコンタクト個所を介して供給される。この
コンタクト個所は例えば、検査装置の検査針による外部
コンタクト、またはボンディングワイヤによる外部コン
タクトに使用可能である。この手段は、検査すべき回路
ユニットの入力側に検査信号を直接供給することに比し
てつぎのような利点を有する。すなわちこの手段によ
り、コンタクト個所と検査すべき回路ユニットとの間の
接続も検査されるという利点を有する。したがって検査
すべき回路ユニットには、検査信号がつぎのように供給
される。すなわち検査動作モード以外の時に、コンタク
ト個所を介して供給される外部の信号と同様に供給され
る。したがって本発明では、従来公知の解決手段と異な
り、コンタクト個所と検査すべき回路ユニットとの間の
接続の検査が可能であり、その際にコストのかかる集積
回路またはこの集積回路の自己検査装置の変更は不要で
ある。必要であるのは単に、自己検査装置の出力側を、
検査すべき回路ユニットの入力側に直接接続するのでは
なく、これをコンタクト個所に接続することである。例
えば自己検査装置の構造、この自己検査装置が形成する
検査パターンないしは検査信号の種類、ならびに実行し
た検査に対する結果信号の形成形式、および集積回路の
外部への結果の出力は、自己検査装置を備えた従来公知
の集積回路と同様に構成することができる。
【０００７】本発明の別の実施形態では、コンタクト個
所は入力側ドライバを介して、検査すべき回路ユニット
の入力側に接続されている。ここでこの入力側ドライバ
は、集積回路の通常動作モード時には外部信号を、検査
すべき回路ユニットに供給するために使用される。ここ
で自己検査装置は検査動作モード時には検査信号をコン
タクト個所に伝送し、そこから入力側ドライバを介して
検査すべき回路ユニットの入力側に伝送する。
所は入力側ドライバを介して、検査すべき回路ユニット
の入力側に接続されている。ここでこの入力側ドライバ
は、集積回路の通常動作モード時には外部信号を、検査
すべき回路ユニットに供給するために使用される。ここ
で自己検査装置は検査動作モード時には検査信号をコン
タクト個所に伝送し、そこから入力側ドライバを介して
検査すべき回路ユニットの入力側に伝送する。
【０００８】このことの利点は、回路ユニットに検査信
号を供給するために、通常動作モードにおいていずれに
せよ必要とされる素子、すなわち入力側ドライバならび
にこれと接続されたデータ線路を使用することである。
さらにこれによりこの入力側ドライバを、自己検査装置
による検査に組み入れることができる。
号を供給するために、通常動作モードにおいていずれに
せよ必要とされる素子、すなわち入力側ドライバならび
にこれと接続されたデータ線路を使用することである。
さらにこれによりこの入力側ドライバを、自己検査装置
による検査に組み入れることができる。
【０００９】本発明の付加的または択一的な別の実施形
態では、回路ユニットの出力側は、出力側ドライバを介
してコンタクト個所に接続されている。ここでこの出力
側ドライバは通常動作モードでは回路ユニットの信号を
集積回路の外部に出力するために使用され、自己検査装
置の出力側は同様に出力側ドライバを介してコンタクト
個所に接続されている。ここでこの自己検査装置は、検
査動作モード時には検査信号を、この出力側ドライバを
介してコンタクト個所に伝送する。
態では、回路ユニットの出力側は、出力側ドライバを介
してコンタクト個所に接続されている。ここでこの出力
側ドライバは通常動作モードでは回路ユニットの信号を
集積回路の外部に出力するために使用され、自己検査装
置の出力側は同様に出力側ドライバを介してコンタクト
個所に接続されている。ここでこの自己検査装置は、検
査動作モード時には検査信号を、この出力側ドライバを
介してコンタクト個所に伝送する。
【００１０】この実施形態の利点は、必要な出力側ドラ
イバは１つだけであるということである。すなわちこの
１つの出力側ドライバにより、検査動作モード時には自
己検査装置からの検査信号をコンタクト個所に伝送し、
また通常動作モードにはこれとは別の回路ユニットから
の信号を、このコンタクト個所を介して集積回路の外部
に出力するのである。さらにこの出力側ドライバを、自
己検査装置による検査に組み入れることができる。
イバは１つだけであるということである。すなわちこの
１つの出力側ドライバにより、検査動作モード時には自
己検査装置からの検査信号をコンタクト個所に伝送し、
また通常動作モードにはこれとは別の回路ユニットから
の信号を、このコンタクト個所を介して集積回路の外部
に出力するのである。さらにこの出力側ドライバを、自
己検査装置による検査に組み入れることができる。
【００１１】本発明の上記の２つの実施形態によりつぎ
のような利点が得られる。すなわち自己検査装置からコ
ンタクト個所へ、ないしはコンタクト個所から検査すべ
き回路ユニットの入力側へ達する検査信号が、通常動作
モードにおいてすでに必要であり、いずれにせよ設けら
れているドライバを介して伝送され、したがって付加的
な電気的接続およびドライバを設ける必要がないという
利点が得られる。さらに検査信号を２つのドライバを介
して供給することにより、検査すべき回路ユニットの入
力側ドライバとその出力側ドライバとが、自己検査装置
により検査される。したがって検査すべき回路ユニット
の他にわずかなコストをかけるだけで上記のドライバお
よびこれらに接続された線路を検査することができる。
のような利点が得られる。すなわち自己検査装置からコ
ンタクト個所へ、ないしはコンタクト個所から検査すべ
き回路ユニットの入力側へ達する検査信号が、通常動作
モードにおいてすでに必要であり、いずれにせよ設けら
れているドライバを介して伝送され、したがって付加的
な電気的接続およびドライバを設ける必要がないという
利点が得られる。さらに検査信号を２つのドライバを介
して供給することにより、検査すべき回路ユニットの入
力側ドライバとその出力側ドライバとが、自己検査装置
により検査される。したがって検査すべき回路ユニット
の他にわずかなコストをかけるだけで上記のドライバお
よびこれらに接続された線路を検査することができる。
【００１２】本発明の別の実施形態では、自己検査装置
の出力側は回路ユニットの出力側につぎのように接続さ
れている。すなわちこの自己検査装置は、検査動作モー
ド時には検査信号をまず回路ユニットの出力側に伝送
し、この出力側から出力側ドライバを介してコンタクト
個所に伝送するように接続されている。
の出力側は回路ユニットの出力側につぎのように接続さ
れている。すなわちこの自己検査装置は、検査動作モー
ド時には検査信号をまず回路ユニットの出力側に伝送
し、この出力側から出力側ドライバを介してコンタクト
個所に伝送するように接続されている。
【００１３】このことの利点は、この回路ユニットの出
力側からコンタクト個所までに至る、回路ユニットの出
力データ線路全体が自己検査装置の検査に組み入れられ
ることである。
力側からコンタクト個所までに至る、回路ユニットの出
力データ線路全体が自己検査装置の検査に組み入れられ
ることである。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の実施例を示した図を用いて説
明する。
明する。
【００１５】図１は本発明による集積回路２の実施例を
示している。この集積回路２は、論理回路またはメモリ
回路とすることができる。この集積回路２は検査すべき
回路ユニット１を含んでおり、この回路ユニット１は例
えば論理的機能の実行に使用することができる。回路ユ
ニット１は、集積回路のメモリセル領域とすることもで
きる。チップ２の外部端子５（ピン）はボンディングワ
イヤ６を介してコンタクト個所４（パッド）と接続され
ており、このコンタクト個所４は入力側ドライバＤＩを
介して回路ユニット１の入力側Ｉｎと接続されている。
回路ユニット１の第１の出力側ＯＵＴ１は、出力側ドラ
イバＤＯを介してコンタクト個所４と接続されている。
上記の電気的接続路を介して回路ユニット１に、集積回
路２の通常動作モード時には信号が、外部端子５および
入力側ドライバＤＩを介して供給される。回路ユニット
１は別の時点では信号を、出力側ドライバＤＯおよび外
部端子５を介してチップ２の外部へ出力する。
示している。この集積回路２は、論理回路またはメモリ
回路とすることができる。この集積回路２は検査すべき
回路ユニット１を含んでおり、この回路ユニット１は例
えば論理的機能の実行に使用することができる。回路ユ
ニット１は、集積回路のメモリセル領域とすることもで
きる。チップ２の外部端子５（ピン）はボンディングワ
イヤ６を介してコンタクト個所４（パッド）と接続され
ており、このコンタクト個所４は入力側ドライバＤＩを
介して回路ユニット１の入力側Ｉｎと接続されている。
回路ユニット１の第１の出力側ＯＵＴ１は、出力側ドラ
イバＤＯを介してコンタクト個所４と接続されている。
上記の電気的接続路を介して回路ユニット１に、集積回
路２の通常動作モード時には信号が、外部端子５および
入力側ドライバＤＩを介して供給される。回路ユニット
１は別の時点では信号を、出力側ドライバＤＯおよび外
部端子５を介してチップ２の外部へ出力する。
【００１６】チップ２の検査動作モード時に自己検査を
実行するために、このチップ２はまた自己検査装置３
（ＢＩＳＴ＝Built-In Self-Test）を有する。自己検査
装置３は検査信号Ｓ１を形成する。自己検査装置はこの
検査信号Ｓ１を、検査動作モード時には、出力側ドライ
バＤＯを介してコンタクト個所４に供給し、さらにこの
コンタクト個所４から入力側ドライバＤＩを介して回路
ユニット１の入力側に供給する。回路ユニット１の第２
の出力側ＯＵＴ２は自己検査装置３の入力側と接続され
ており、これにより検査動作モード時には自己検査装置
は、回路ユニット１がこの回路ユニット１に供給された
検査信号Ｓ１に基づきどのような信号を発生したかを検
出することができる。自己検査装置３は、回路ユニット
１から伝送された信号と自己検査装置３に記憶された信
号との間で、目標値と実際値との比較を行い、相応の結
果信号Ｓ２を集積回路の外部に伝送する。
実行するために、このチップ２はまた自己検査装置３
（ＢＩＳＴ＝Built-In Self-Test）を有する。自己検査
装置３は検査信号Ｓ１を形成する。自己検査装置はこの
検査信号Ｓ１を、検査動作モード時には、出力側ドライ
バＤＯを介してコンタクト個所４に供給し、さらにこの
コンタクト個所４から入力側ドライバＤＩを介して回路
ユニット１の入力側に供給する。回路ユニット１の第２
の出力側ＯＵＴ２は自己検査装置３の入力側と接続され
ており、これにより検査動作モード時には自己検査装置
は、回路ユニット１がこの回路ユニット１に供給された
検査信号Ｓ１に基づきどのような信号を発生したかを検
出することができる。自己検査装置３は、回路ユニット
１から伝送された信号と自己検査装置３に記憶された信
号との間で、目標値と実際値との比較を行い、相応の結
果信号Ｓ２を集積回路の外部に伝送する。
【００１７】通常動作モード中は同時には、入力側ドラ
イバＤＩまたは出力側ドライバＤＯのいずれ一方のみし
か活性化されない。ここでこの入力側ドライバＤＩは、
外部信号を回路ユニット１に供給し、出力側ドライバＤ
Ｏは、回路ユニット１がその第１の出力側ＯＵＴ１に発
生させた信号を、チップ２の外部に出力する。検査動作
モードでは２つのドライバＤＩおよびＤＯが同時に活性
状態にあり、自己検査装置３からの検査信号Ｓ１を回路
ユニット１に伝送する。
イバＤＩまたは出力側ドライバＤＯのいずれ一方のみし
か活性化されない。ここでこの入力側ドライバＤＩは、
外部信号を回路ユニット１に供給し、出力側ドライバＤ
Ｏは、回路ユニット１がその第１の出力側ＯＵＴ１に発
生させた信号を、チップ２の外部に出力する。検査動作
モードでは２つのドライバＤＩおよびＤＯが同時に活性
状態にあり、自己検査装置３からの検査信号Ｓ１を回路
ユニット１に伝送する。
【００１８】本発明が従来公知の回路と異なるのは、自
己検査装置３の出力側が、回路ユニット１の入力側に直
接接続されているのではなく、コンタクト個所４を介し
て間接的に接続されていることである。このことにより
次のような利点が得られる。すなわち自己検査装置３に
より付加的に、コンタクト個所４と回路ユニット１の入
力側ＩＮとの間の、通常動作モードで使用されるデータ
路が検査に取り込まれるのである。図１に示した実施例
では、検査信号Ｓ１はコンタクト個所４に、（通常動作
モード時には回路ユニット１がデータを出力するために
使用する）出力側ドライバＤＯを介して供給されるた
め、この出力側ドライバＤＯも検査動作モード時に自己
検査装置３による検査に組み入れられる。
己検査装置３の出力側が、回路ユニット１の入力側に直
接接続されているのではなく、コンタクト個所４を介し
て間接的に接続されていることである。このことにより
次のような利点が得られる。すなわち自己検査装置３に
より付加的に、コンタクト個所４と回路ユニット１の入
力側ＩＮとの間の、通常動作モードで使用されるデータ
路が検査に取り込まれるのである。図１に示した実施例
では、検査信号Ｓ１はコンタクト個所４に、（通常動作
モード時には回路ユニット１がデータを出力するために
使用する）出力側ドライバＤＯを介して供給されるた
め、この出力側ドライバＤＯも検査動作モード時に自己
検査装置３による検査に組み入れられる。
【００１９】本発明の別の実施例では、自己検査装置３
の出力側を、回路ユニット１の第１の出力側ＯＵＴ１に
直接接続することができる。これにより検査信号Ｓ１
は、第１の出力側ＯＵＴ１からコンタクト個所までの回
路ユニットの出力データ路全体を走行し、このようにし
て出力側データ路全体が、自己検査装置による検査に組
み入れられる。
の出力側を、回路ユニット１の第１の出力側ＯＵＴ１に
直接接続することができる。これにより検査信号Ｓ１
は、第１の出力側ＯＵＴ１からコンタクト個所までの回
路ユニットの出力データ路全体を走行し、このようにし
て出力側データ路全体が、自己検査装置による検査に組
み入れられる。
【００２０】上記の自己検査装置は、ワイヤードロジッ
クとして実現することもでき、または制御器またはプロ
セッサを含むことも可能であり、これらは外部から読み
込み可能な検査プログラムを実行する。
クとして実現することもでき、または制御器またはプロ
セッサを含むことも可能であり、これらは外部から読み
込み可能な検査プログラムを実行する。
【図１】本発明による集積回路の実施例の図である。
１ 回路ユニット ２ チップ ３ 自己検査装置（ＢＩＳＴ） ４ コンタクト個所（パッド） ５ 外部端子（ピン） ６ ボンディングワイヤ ＤＩ 入力側ドライバ ＤＯ 出力側ドライバ ＳＩ 検査信号 ＳＯ 結果信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 フロリアン シャムベルガー ドイツ連邦共和国 バート ライヒェンハ ル ノン 39 (72)発明者 ヘルムート シュナイダー ドイツ連邦共和国 ミュンヘン ジークム ント−シャッキー−シュトラーセ 20
Claims (4)
- 【請求項１】 自己検査装置（３）と検査すべき回路ユ
ニット（１）とを備えた集積回路であって、前記自己検
査装置（３）は前記集積回路（２）の自己検査を実行す
る形式の集積回路において、 前記自己検査装置（３）の出力側は、前記回路のコンタ
クト個所（４）に接続されており、該コンタクト個所
（４）は外部とのコンタクトに使用されており、前記コ
ンタクト個所（４）は、前記検査すべき回路ユニット
（１）の入力側（Ｉｎ）に接続されており、 自己検査装置（３）は、前記コンタクト個所（４）を介
して、前記回路ユニット（１）に検査信号（Ｓ１）を供
給することを特徴とする自己検査装置を備えた集積回
路。 - 【請求項２】 前記コンタクト個所（４）は、入力側ド
ライバ（ＤＩ）を介して、回路ユニット（１）の入力側
（Ｉｎ）に接続されており、該入力側ドライバ（ＤＩ）
は集積回路の通常動作モードでは外部信号を供給するた
めに使用され、 自己検査装置（３）は、集積回路の検査動作モードでは
前記検査信号（Ｓ１）をコンタクト個所（４）に伝送
し、さらにそこから前記入力側ドライバ（ＤＩ）を介し
て回路ユニット（１）に伝送する請求項１に記載の集積
回路。 - 【請求項３】 回路ユニット（１）の出力側（ＯＵＴ
１）は、出力側ドライバ（ＤＯ）を介してコンタクト個
所（４）に接続されており、該出力側ドライバは、通常
動作モードでは回路ユニット（１）の信号を集積回路の
外部に出力するために使用され、 自己検査装置（３）の出力側は同様に出力側ドライバ
（ＤＯ）を介してコンタクト個所（４）に接続されてお
り、 自己検査装置（３）は、検査動作モードでは出力側ドラ
イバ（ＤＯ）を介して検査信号（Ｓ１）をコンタクト個
所（４）に伝送する請求項１または２に記載の集積回
路。 - 【請求項４】 自己検査装置（３）の出力側は、回路ユ
ニット（１）の出力側（ＯＵＴ１）に次のように接続さ
れている、すなわち自己検査装置は検査信号（Ｓ１）
を、検査動作モードではまず回路ユニットの出力側に伝
送し、さらに該出力側から出力側ドライバ（ＤＯ）を介
してコンタクト個所（４）に伝送するように接続されて
いる請求項３に記載の集積回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19832307A DE19832307C2 (de) | 1998-07-17 | 1998-07-17 | Integrierte Schaltung mit einer Selbsttesteinrichtung |
| DE19832307.7 | 1998-07-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000046912A true JP2000046912A (ja) | 2000-02-18 |
Family
ID=7874490
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11203669A Pending JP2000046912A (ja) | 1998-07-17 | 1999-07-16 | 自己検査装置を備えた集積回路 |
Country Status (6)
| Country | Link |
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