ES2279204T3 - Procedimiento para fabricar emisores nanoestructurados para fuentes de luz incandescente. - Google Patents
Procedimiento para fabricar emisores nanoestructurados para fuentes de luz incandescente. Download PDFInfo
- Publication number
- ES2279204T3 ES2279204T3 ES03780542T ES03780542T ES2279204T3 ES 2279204 T3 ES2279204 T3 ES 2279204T3 ES 03780542 T ES03780542 T ES 03780542T ES 03780542 T ES03780542 T ES 03780542T ES 2279204 T3 ES2279204 T3 ES 2279204T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- substrate
- alumina
- pores
- structuring
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 71
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 23
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 82
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 63
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 35
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 28
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 claims description 20
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 17
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 15
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 14
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 13
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 9
- 238000007743 anodising Methods 0.000 claims description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 7
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 claims description 5
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 claims description 5
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 2
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 claims description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 21
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 21
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 10
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 description 8
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 6
- 229910001080 W alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 3
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 2
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 2
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 2
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 1
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000001033 granulometry Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000003340 mental effect Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000011858 nanopowder Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 239000004038 photonic crystal Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01K—ELECTRIC INCANDESCENT LAMPS
- H01K1/00—Details
- H01K1/02—Incandescent bodies
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01K—ELECTRIC INCANDESCENT LAMPS
- H01K1/00—Details
- H01K1/02—Incandescent bodies
- H01K1/04—Incandescent bodies characterised by the material thereof
- H01K1/08—Metallic bodies
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01K—ELECTRIC INCANDESCENT LAMPS
- H01K3/00—Apparatus or processes adapted to the manufacture, installing, removal, or maintenance of incandescent lamps or parts thereof
- H01K3/02—Manufacture of incandescent bodies
Abstract
Procedimiento para fabricar un emisor (10; 13) para fuentes de luz, que puede ser conducido a la incandescencia mediante el paso de corriente eléctrica, caracterizado porque la capa fabricada con alúmina porosa anodizada (1) se utiliza como elemento sacrificatorio para la estructuración de por lo menos una parte del emisor (10; 13).
Description
Procedimiento para fabricar emisores
nanoestructuraos para fuentes de luz incandescente.
La presente invención se refiere a un
procedimiento para fabricar un elemento emisor nanoestructurado para
fuentes de luz, que pueden ser llevadas a la incandescencia
mediante el paso de corriente eléctrica.
Los componentes metálicos que presentan
estructuras superficiales nanométricas o relieves nanométricos,
dispuestos según formas o geometrías específicas, se utilizan
normalmente en algunos campos tecnológicos, como por ejemplo el de
los sistemas microelectromecánicos o MEMS, para obtener
disposiciones ópticas difractivas, dispositivos médicos,
microturbinas, etc.
La presente invención se basa en el
reconocimiento de que estos filamentos nanoestructurados pueden
presentar aplicaciones importantes en el campo de las lámparas
incandescentes. Por ejemplo, por los documentos
US-A-4196368 o
DE-A-19845423 se conocen cuerpos
emisores de luz con estructuras periódicas en el rango de 1.000 nm o
menos. En dicha aspecto, la presente invención pretende sugerir un
nuevo procedimiento para fabricar, de forma sencilla y económica,
filamentos o emisores similares para fuentes de luz incandescentes,
que presenten relieves o estructuras nanométricos.
Dicho objetivo se alcanza según la presente
invención mediante un procedimiento para fabricar un emisor tal
como el citado anteriormente, caracterizado porque considera la
utilización de una capa realizada de alúmina porosa anodizada como
elemento sacrificatorio para la estructuración selectiva del
emisor.
La utilización de la capa de alúmina
anteriormente mencionada permite obtener una pluralidad de relieves
en por lo menos una superficie del emisor, o una pluralidad de
cavidades dentro del emisor. Dichos relieves o cavidades
nanométricos están dispuestos en el emisor conforme a una geometría
predefinida.
En las reivindicaciones subordinadas, que forman
parte integrante de la presente descripción, se describen
características preferidas del procedimiento según la invención.
Otros objetivos, características y ventajas de
la presente invención se pondrán de manifiesto a partir de la
siguiente descripción detallada, considerada conjuntamente con los
dibujos adjuntos que se incluyen a título de ejemplo ilustrativo y
no limitativo, en los cuales:
- la figura 1 es una vista esquemática en
perspectiva de un segmento de película de alúmina porosa;
- las figuras 2 a 5 son vistas esquemáticas que
muestran algunas etapas de un proceso de fabricación de una
película de alúmina como la que muestra la figura 1;
- la figura 6 es una vista esquemática en
perspectiva de una parte de un primer emisor nanoestructurado como
podría fabricarse según la invención;
- la figura 7 es una vista esquemática en
perspectiva de una parte de un segundo emisor nanoestructurado como
podría fabricarse según la invención;
- las figuras 8, 9 y 10 son secciones
esquemáticas que muestras tres posibles formas de realización
diferentes del procedimiento según la invención, que podrían
utilizarse para fabricar un emisor nanoestructurado como el que
muestra la figura 6;
- las figuras 11, 12 y 13 son secciones
esquemáticas que muestran tres posibles formas de realización del
procedimiento según la invención, que podrían utilizarse para
fabricar un emisor nanoestructurado como el que muestra la figura
7
- la figura 14 muestra secciones esquemáticas de
otra posible forma de realización del procedimiento según la
invención, que podría utilizarse para fabricar un emisor
nanoestructurado como el que muestra la figura 6;
- la figura 15 muestra secciones esquemáticas de
otra posible forma de realización del procedimiento según la
invención, que podría utilizarse para fabricar un emisor
nanoestructurado como el que muestra la figura 7;
- la figura 16 muestra secciones esquemáticas de
otra posible forma de realización del procedimiento según la
invención, que podría utilizarse para fabricar un emisor
nanoestructurado como el que muestra la figura 6;
- la figura 17 muestra secciones esquemáticas de
otra posible forma de realización del procedimiento según la
invención, que podría utilizarse para fabricar un emisor
nanoestructurado como el que muestra la figura 7.
En todas las formas de realización posibles, el
procedimiento según la presente invención propone utilizar una
película altamente regular fabricada de alúmina porosa anodizada
como elemento sacrificatorio o plantilla; según el caso, esta capa
de alúmina se utiliza directamente para obtener el emisor
nanoestructurado deseado, o indirectamente para fabricar otro
elemento sacrificatorio requerido para obtener el emisor
anteriormente mencionado.
Las películas de alúmina porosa han llamado la
atención en el pasado para aplicaciones como, por ejemplo,
películas dieléctricas en condensadores de aluminio, películas para
la retención de revestimientos orgánicos y para la protección de
sustratos de aluminio.
La estructura de la alúmina porosa puede
esquematizarse idealmente como una red de columna huecas sumergida
en una matriz de alúmina. La alúmina porosa puede obtenerse por
anodización de láminas o películas de aluminio de gran pureza sobre
sustratos como vidrio, cuarzo, silicona, tungsteno, etc.
La figura 1 muestra a título de ejemplo un
segmento de una película de aluminio poroso, designada globalmente
con el número 1, obtenida por oxidación anódica de una película de
aluminio sobre un sustrato adecuado, designado con el número 2.
Como puede apreciarse, la capa de aluminio 1 comprende una serie de
celdas 3 básicamente hexagonales inmediatamente próximas una de
otra, que presentan cada una un agujero central cilíndrico que
forma un poro 4, básicamente perpendicular a la superficie del
sustrato 2. El extremo de cada celda 3 situado en el sustrato 2
presenta una parte de cierre de forma básicamente hemisférica,
formando conjuntamente todas las partes de cierre una zona no
porosa de la película 1, o capa barrera, designada con el número
5.
Como se sabe por la técnica anterior, la
película 1 puede desarrollarse con una morfología controlada
mediante la selección adecuada del electrolito y los parámetros de
proceso físicos y electroquímicos: en electrolitos ácidos (como por
ejemplo ácido fosfórico, ácido oxálico y ácido sulfúrico) y en
condiciones de proceso adecuadas (tensión, intensidad de corriente,
agitación y temperatura) pueden obtenerse películas porosas muy
regulares. Con este propósito pueden variarse el tamaño y la
densidad de las celdas 3, el diámetro de los poros 4 y la altura de
la película 1; por ejemplo, el diámetro de los poros 4, que
normalmente es de 50-500 nm, puede incrementarse o
reducirse mediante tratamientos químicos.
Como muestra esquemáticamente la figura 2, en
fabricación de una película de alúmina porosa 1, la primera etapa
es la deposición de una capa de aluminio 6 sobre el sustrato 2, este
último fabricado, por ejemplo, de silicona o tungsteno. Dicha
operación requiere un depósito de materiales de gran pureza con
espesores entre 1 micrón y 30 micrones. Las técnicas de deposición
preferidas para la capa 3 son la evaporación térmica a través del
cañón de electrones y la pulverización catódica.
La etapa que comprende la deposición de la capa
de aluminio 6 va seguida de una etapa en la cual se anodiza cada
una de las capas. El proceso de anodización de la capa 6 puede
efectuarse utilizando diferentes soluciones electrolíticas
dependiendo del tamaño deseado y la distancia entre los poros 4.
Si el electrolito debe ser el mismo, la
concentración, la densidad de corriente y la temperatura son los
parámetros que afectarán en mayor medida al tamaño de los poros 4.
La configuración de la celda electrolítica también resulta
importante para obtener una distribución correcta de las líneas de
forma del campo eléctrico con la uniformidad correspondiente del
proceso anódico.
La figura 3 muestra esquemáticamente el
resultado de la primera anodización de la capa de aluminio 6 sobre
el sustrato 2; como se indica de forma esquemática, la película de
alúmina 1A obtenida mediante la primer anodización de la capa 6 no
permite alcanzar una estructura regular. Para conseguir una
estructura altamente regular, como por ejemplo la indicada con el
número 1 en la figura 1, es necesario efectuar procesos de
anodización consecutivos, y en particular por lo menos
i) un primer proceso de anodización, cuyos
resultados pueden apreciarse en la figura 3;
ii) una etapa de reducción mediante el
mordentado de la película de alúmina irregular 6, efectuado por
medio de soluciones ácidas (por ejemplo CrO_{3} y
H_{3}PO_{4}); la figura 4 muestra esquemáticamente el sustrato
2 después de dicha etapa de mordentado;
iii) una segunda anodización de la parte de
película de alúmina 1A que no ha sido eliminada por el
mordentado.
La etapa de mordentado descrita en ii) es
importante para definir en la parte de alúmina residual 1A zonas
preferenciales para el crecimiento de alúmina en la segunda etapa de
anodización.
Efectuando diversas veces las operaciones
consecutivas que comprenden el mordentado y la anodización, la
estructura mejora hasta volverse uniforme, como muestra
esquemáticamente la figura 5, en la que la película de alúmina
indicada con el número 5 es regular.
Como podrá apreciarse más adelante, en algunas
formas de realización del procedimiento según la invención, después
de obtener la película de alúmina porosa regular 1, se lleva a cabo
una etapa que comprende la eliminación total o local de la capa
barrera 5. La capa barrera aísla la estructura de alúmina y protege
el sustrato subyacente 2: la reducción de dicha capa 5 resulta, por
lo tanto, fundamental para realizar, si es necesario, procesos de
electrodeposición consecutivos, que requieren contacto eléctrico, y
procesos de mordentado, en el caso de que deban obtenerse
nanoestructuras tridimensionales directamente sobre el sustrato
2.
El proceso descrito que comprende la eliminación
o reducción de la capa barrera 5 puede incluir dos fases
consecutivas:
- ensanchamiento de los poros 4, efectuado en el
mismo electrolito como en la anodización anterior, sin paso de
corriente eléctrica;
- reducción de la capa barrera 5, efectuada
mediante el paso de una corriente de muy baja intensidad por el
mismo electrolito, como en la anodización anterior; en esta fase no
se alcanza el equilibrio normal de la anodización, lo cual favorece
el proceso de mordentado respecto al proceso de construcción con
alúmina.
Como se ha mencionado anteriormente, según la
invención, la película de alúmina 1 generada mediante el proceso
anteriormente descrito se utiliza como plantilla para la
nanoestructuración, es decir, como base para fabricar estructuras
que reproducen el mismo modelo que la alúmina. Como puede
apreciarse, dependiendo de la forma de realización seleccionada, es
posible fabricar nanoestructuras negativas, es decir, básicamente
complementarias a la alúmina y, por lo tanto, que presentan columna
en los poros de la película 1, o nanoestructuras positivas, es
decir, básicamente idénticas a la alúmina y, por lo tanto, con
cavidades en los poros 4 de la película 1.
Las figuras 6 y 7 muestra de forma parcial y
esquemática dos filamentos para fuentes de luz de incandescencia
que presentan los dos tipos de estructuras mencionada anteriormente,
que pueden efectuarse según la invención; el filamento indicado con
el número 10 en la figura 6 presenta la estructura negativa
previamente mencionada, caracterizada por una parte base 11 de la
cual parten las columnas anteriormente mencionadas, indicadas con
el número 12; el filamento indicado con el número 13 en la figura 7
presenta la estructura positiva previamente citada, caracterizada
por un cuerpo 14 en el cual se encuentran definidas las cavidades
anteriormente mencionadas indicadas con el número 15.
Las técnicas sugeridas para fabricar filamentos
estructurados 10, 13 como en las figuras 6 y 7 pueden ser bastante
diferentes, y pueden incluir en particular técnicas adicionales
(tales como evaporación, pulverización catódica, deposición de
vapores químicos, serigrafía y electrodeposición), técnicas
sustractivas (mordentado) y técnicas intermedias (anodización de
alúmina subyacente metálica).
Con este fin se describen a continuación algunas
formas de realización posibles del procedimiento según la
invención.
Primera forma de
realización
La figura 8 muestra esquemáticamente algunas
etapas de una primera forma de realización del procedimiento según
la invención ara fabricar estructuras negativas como la del
filamento 10 de la figura 6.
Las primeras cuatro etapas del proceso
comprenden por lo menos una primera y una segunda anodización de una
capa de aluminio correspondiente en un sustrato adecuado, como se
ha descrito anteriormente con referencia a las figuras 2 a 5; el
sustrato 2 puede fabricarse, por ejemplo, de silicona y la capa de
aluminio para los procesos de anodización puede depositarse
mediante pulverización catódica o cañón de electrones.
Después de obtener la película 1 que presenta
una estructura de alúmina regular (como puede apreciarse en la
figura 5), el material que debe ser nanoestructurado se deposita
como una película sobre la alúmina mediante pulverización catódica;
así, como muestra a título de ejemplo la parte a) de la figura 8,
los poros de alúmina 1 se han rellenado con el material depositado,
por ejemplo tungsteno, indicado con el número 20.
A continuación se elimina la alúmina 1 y su
sustrato 2 mediante mordentado, como muestra la parte b) de la
figura 8, obteniéndose el filamento deseado 10 con nanoestructura
negativa, en este caso fabricado con tungsteno.
La técnica de pulverización catódica consiste en
depositar películas de material de alta pureza 20 con un espesor de
1 a 30 micrones, pero no permite reproducir estructuras que
presentan una relación de aspecto dimensional elevada idealmente;
así pues, la forma de realización descrita anteriormente se utiliza
cuando el diámetro de los poros de alúmina 4 se sitúa en su valor
máximo.
Por lo tanto, en lugar de por pulverización
catódica, la deposición de material 20 puede realizarse mediante
deposición de vapores químicos o CVD, que se considera la técnica
más adecuada para fabricar estructuras de metal gran pureza o
convenientemente dopado. La característica principal de esta técnica
es la utilización de una cámara de reacción que contiene gases
reductores, lo cual permite la penetración del mental en el interior
de los poros huecos de alúmina y la deposición de una capa continua
sobre la superficie, asegurando una reproducción fiel de
estructuras de relación de aspecto dimensional alta.
Segunda forma de
realización
Como en el caso anterior, esta forma de
realización consiste en fabricar estructuras negativas, como la del
filamento 10 de la figura 6; la forma de realización comprende
básicamente las mismas etapas iniciales que la primera forma de
realización, en la medida que incluye la deposición de la capa de
alúmina 6 sobre el sustrato 2 (figura 2), una primera anodización
(figura 3) y el mordentado subsiguiente (figura 4). La segunda
anodización (figura 5) se realiza, en este caso, para fabricar la
película 1 de alúmina porosa más delgada que en la primera forma de
realiza-
ción.
ción.
A continuación, la película delgada de alúmina 1
se retira de su soporte 2 y se abre por su base, para eliminar la
capa barrera previamente indicada con el número 5, de forma
conocida. La estructura resultante de la película 1 sin su capa
barrera puede apreciarse en la parte a) de la figura 9.
La siguiente etapa, como puede apreciarse en la
parte b) de la figura 9, consiste en la deposición térmica, o
deposición mediante pulverización catódica, de una película metálica
conductora 21 sobre la alúmina 1. A continuación se deposita
electrolíticamente sobre la estructura así obtenida una aleación de
tungsteno 22, como en la parte c) de la figura 9, rellenando dicha
aleación los poros de alúmina 1. A continuación se eliminan la capa
de alúmina 1 y si película metálica 21 asociada, obteniéndose el
filamento nanoestructurado 10 deseado fabricado de aleación de
tungsteno, como puede apreciarse en la parte d) de la figura 9.
Tercera forma de
realización
Esta forma de realización del proceso según la
invención se propone fabricar estructuras positivas como la del
filamento 10 de la figura 6, con las mismas etapas iniciales que las
de las formas de realización anteriores (figuras 2 a 5).
Como muestra la parte a) de la figura 10, la
segunda anodización va seguida, en este caso, de una etapa en la
cual se deposita una pasta serigráfica 23 sobre alúmina porosa 1,
para rellenar sus poros.
Sigue una etapa en la cual se sinteriza dicha
pasta, como en la parte b) de la figura 10 y, a continuación, se
eliminan la alúmina 1 y su sustrato 2 para obtener la estructura 10,
como muestra la parte c) de la figura 10.
Esta forma de realización permite explotar
tecnologías de bajo coste y garantiza flexibilidad en la elección
de materiales. La preparación de la pasta serigráfica es la primera
etapa del proceso; la correcta elección del nanopolvo metálico, por
ejemplo con contenido de tungsteno, disolvente y aglomerante,
resulta fundamental para obtener una pasta que presente una
granulometría y unas propiedades reológicas ideales para diferentes
tipos de sustratos 2.
Cuarta forma de
realización
Esta forma de realización del procedimiento
según la invención tiene como objetivo fabricar estructuras
positivas como la del filamento 13 de la figura 7, partiendo de una
plantilla obtenida según formas de realización anteriores.
Por lo tanto, básicamente, se utiliza primero
una de las formas de realización anteriores para obtener un
sustrato que presente la misma estructura que uno de los filamentos
previamente indicados con el número 10; sobre dicho sustrato,
indicado con el número 10A en la parte a) de la figura 11, se
deposita, a continuación, una capa del material 24 requerida para
obtener el componente final, por ejemplo tungsteno, mediante
pulverización catódica o CVD, como muestra la parte b) de la figura
11; de este modo, el material 24 cubre las columnas 12A de los
sustratos anteriormente mencionados 10A, que actúan como
plantilla.
A continuación, se retira el sustrato 10A
mediante mordentado selectivo, para obtener el filamento 13 con
estructura nanoporosa positiva, como puede apreciarse en la parte d)
de la figura 11, provista de las cavidades correspondientes 15.
El sustrato 10A, obtenido según las tres
primeras formas de realización descritas anteriormente, no está
fabricado necesariamente de tungsteno. En una posible variante,
sobre el sustrato 10A, obtenido como en las figuras 8 a 9, se
deposita una pasta serigráfica metálica 25, como puede apreciarse en
las partes a) y b) de la figura 12, que a continuación se
sinteriza, como puede apreciarse en la parte c) de la figura 12.
Seguidamente, el sustrato 10A se retira mediante mordentado
selectivo, para obtener el filamento 13 con estructura nanoporosa
positiva, como puede apreciarse en la parte d) de la figura 12.
Quinta forma de
realización
También esta forma de realización del
procedimiento según la invención tiene como objetivo efectuar
nanoestructuras positivas como la del filamento anteriormente
indicado con el número 13 y comprende las mismas etapas iniciales
que las mostradas en las figuras 2 a 5, con la deposición de una
capa de aluminio 6 mediante pulverización catódica o cañón de
electrones sobre un sustrato de tungsteno 2 (figura 2), seguida de
una primera anodización del aluminio 6 (figura 3) y una etapa de
mordentado (figura 4), para disponer el sustrato 2 con zonas
preferenciales para el crecimiento de alúmina 1 durante la segunda
anodización (figura 5).
A continuación se elimina la capa barrera 5 de
alúmina 1 y se abren los poros 4, como puede apreciarse en la parte
a) de la figura 13. Sigue una etapa de mordentado con iones
reactivos (RIE), que permite "excavar" selectivamente en el
sustrato 2 en la parte inferior abierta de los poros 4 de alúmina 1,
como puede apreciarse en la parte b) de la figura 13.
Eventualmente se elimina la alúmina residual 1,
de modo que el sustrato de tungsteno forma un cuerpo 14 con
cavidades nanométricas regulares 15, obteniéndose el filamento
deseado 13.
En caso necesario, la etapa de mordentado con
iones reactivos puede sustituirse por una etapa de mordentado en
baño químico selectivo o por una etapa de mordentado
electroquímico.
Sexta forma de
realización
Esta forma de realización del procedimiento
tiene como objetivo fabricar estructuras negativas como la del
filamento 10 de la figura 6 y sus etapas iniciales son las mismas
que en la forma de realización anterior. Por lo tanto, después de
obtener una película regular de alúmina 1 sobre el correspondiente
sustrato de tungsteno 2 (figura 5), se elimina la capa barrera 5
para abrir los poros 4 del sustrato 2, como puede apreciarse en la
parte a) de la figura 14. Sigue una deposición electroquímica de una
aleación de tungsteno 26 con corriente de impulsos, como muestra
esquemáticamente la parte b) de la figura 14 y, eventualmente, la
eliminación de la alúmina residual 1 y de su sustrato 2, para
obtener el filamento deseado 10, como puede apreciarse en la parte
c) de la figura 14.
El procedimiento 6 consiste primero en la
preparación de la solución electrolítica concentrada para la
deposición de tungsteno en el interior de los poros 4 de alúmina 1;
el electrolito es muy importante para llenar correctamente los
poros, ya que garantiza una concentración suficiente de iones en la
solución. La etapa de corriente de impulsos permite efectuar la
copia de estructuras con una alta relación de aspecto dimensional y,
secuencialmente, comprende:
i) la deposición de la aleación de tungsteno 26
mediante la aplicación de una corriente positiva, dando como
resultado un empobrecimiento determinado de la solución cerca del
cátodo fabricado de alúmina 1 y su sustrato 2;
ii) un tiempo de reposo, sin aplicación de
corriente, para dejar que la solución vuelva a mezclarse cerca del
cátodo;
iii) la aplicación de corriente negativa,
diseñada para eliminar una parte de la aleación 26 previamente
depositada sobre el cátodo, permitiendo una mejor nivelación de la
superficie depositada.
Las etapas i), ii) e iii), cada una de las
cuales dura pocos milisegundos, se repiten cíclicamente hasta la
obtención de la estructura deseada.
Séptima forma de
realización
Esta forma de realización tiene como objetivo
fabricar nanoestructuras positivas como la del filamento 13
partiendo de un sustrato con estructura negativa, obtenido mediante
la forma de realización anterior, aunque no necesariamente
fabricado con tungsteno; el sustrato anteriormente mencionado con
estructura negativa que actúa como plantilla se indica con
el
número 10A en la parte a) de la figura 15.
número 10A en la parte a) de la figura 15.
Se deposita una capa de tungsteno 27 sobre dicho
sustrato 10A mediante deposición de vapores químicos o pulverización
catódica, como puede apreciarse en la parte b) de la figura 15.
Sigue una etapa de mordentado selectivo para eliminar el sustrato
10A, obteniéndose el filamento deseado 13 con estructura nanoporosa
de tungsteno, como puede apreciarse en la parte c) de la figura
15
Octava forma de
realización
Esta forma de realización tiene como objetivo
fabricar nanoestructuras negativas como la del filamento 10 de la
figura 6 y sus etapas iniciales son las mimas que las mostradas en
las figuras 2 a 5, con la deposición de una capa de aluminio 6 por
pulverización catódica o cañón de electrones sobre un sustrato de
tungsteno 2 (figura 2), seguida de una primera anodización de
aluminio 6 (figura 3) y una etapa de mordentado (figura 4), para
obtener el sustrato 2 con zonas preferenciales para el crecimiento
de alúmina 1 durante la segunda anodización (figura 5).
Sigue a continuación una etapa que comprende la
anodización del sustrato de tungsteno 2, para inducir el crecimiento
localizado de este último, que tiene lugar debajo de los poros 4 de
alúmina 1. Dicha etapa, como muestra la parte a) de la figura 16,
comprende básicamente la formación de relieves superficiales 2A del
sustrato 2, que primero provoca la ruptura de la capa barrera 5 de
alúmina 1, y a continuación continúa el crecimiento dentro de los
poros de alúmina 4.
A continuación se elimina la alúmina 1 mediante
el mordentado selectivo con óxido W/W, para obtener el filamento
deseado 10 con nanoestructura negativa, como puede apreciarse en la
parte b) de la figura 16.
Debe tenerse en cuenta que esta forma de
realización se basa en las características normales de algunos
metales, tales como el tungsteno y el tántalo, que se anodizan en
las mismas condiciones químicas y eléctricas que el aluminio; como
se ha mencionado anteriormente, dicha anodización se produce en la
parte inferior de los poros 4 de alúmina 1, estructurando
directamente la superficie del sustrato 2.
Novena forma de
realización
Esta forma de realización tiene como objetivo
fabricar estructuras nanoporosas positivas como la del filamento 13
de la figura 7 a partir de un sustrato que presenta una estructura
negativa como la obtenida mediante la forma de realización
anterior; dicho sustrato que actúa como plantilla se indica con el
número 10A en la parte a) de la figura 17.
Se deposita una aleación de tungsteno 27 sobre
dichos sustrato 10A mediante deposición electroquímica, deposición
de vapores químicos CVD o pulverización catódica, como puede
apreciarse en la parte b) de la figura 17. A continuación, se
elimina el sustrato 10A mediante mordentado selectivo, obteniéndose
el filamento deseado 13 con estructura positiva o nanoporosa.
De la descripción anterior puede inferirse que
en todas las formas de realización descritas el procedimiento según
la invención comprende la utilización de una capa de alúmina 1, la
cual, dependiendo del caso, actúa directamente como plantilla para
obtener el filamento deseado con estructura nanométrica 10, o que se
utiliza para obtener una plantilla 10A para la estructuración
posterior del filamento deseado 13.
La invención demuestra ser particularmente
conveniente para la estructuración de filamentos para fuentes de
luz de incandescencia y, más generalmente, de componentes también de
forma diferente al filamento, que pueden ser conducidos a la
incandescencia mediante el paso de una corriente eléctrica. Debe
observarse que un emisor fabricado según la invención también puede
formarse mediante una pluralidad de capas estructuradas por medio
de alúmina porosa según las técnicas descritas anteriormente, en
forma de capas superpuestas.
El procedimiento descrito permite, por ejemplo,
definir fácilmente, sobre una o más superficies de un filamento,
por ejemplo de tungsteno, una microestructura antirreflectante que
comprende una pluralidad de microrrelieves, para maximizar la
emisión electromagnética del filamento dentro del espectro visible.
La invención también puede aplicarse convenientemente para fabricar
otras estructuras de cristal fotónico, es decir, en estructuras de
tungsteno u otros materiales adecuados caracterizados por la
presencia de series de microcavidades regulares, que contienen un
medio con un índice de refracción distinto del del tungsteno u otro
material utilizado.
Naturalmente, aunque la idea básica de la
invención siga siendo la misma, los detalles de construcción y las
formas de realización pueden variar ampliamente con respecto a las
descritas y mostradas simplemente a título de ejemplo.
Claims (29)
1. Procedimiento para fabricar un emisor (10;
13) para fuentes de luz, que puede ser conducido a la incandescencia
mediante el paso de corriente eléctrica, caracterizado
porque la capa fabricada con alúmina porosa anodizada (1) se
utiliza como elemento sacrificatorio para la estructuración de por
lo menos una parte del emisor (10; 13).
2. Procedimiento según la reivindicación 1,
caracterizado porque dicha estructuración consiste en obtener
por lo menos uno de
- una pluralidad de relieves (12) nanométricos
dispuestos según una geometría básicamente predefinida sobre por lo
menos una superficie del emisor (10),
- una pluralidad de cavidades (15) nanométricas
dispuestas según una geometría básicamente predefinida dentro del
emisor (13).
3. Procedimiento según la reivindicación 2,
caracterizado porque la capa de alúmina (2) se obtiene a
través de anodizaciones consecutivas de la película de aluminio (6)
depositada sobre una superficie de un sustrato (2) correspondiente,
hasta que se obtiene una estructura regular de alúmina, que define
una pluralidad de poros (4) básicamente perpendiculares a dicha
superficie del sustrato (2), presentando la capa de alúmina (2) una
parte no porosa (5) cerca del sustrato respectivo (2).
4. Procedimiento según la reivindicación 3,
caracterizado porque la capa de alúmina (1) se utiliza como
plantilla sacrificatoria durante dicha estructuración o como
plantilla intermedia para obtener otra plantilla sacrificatoria
(10A) para dicha estructuración.
5. Procedimiento según la reivindicación 2,
caracterizado porque dicha estructuración comprende una etapa
de deposición de material mediante evaporación, pulverización
catódica, deposición de vapores químicos, serigrafía o
electrodeposición.
6. Procedimiento según la reivindicación 2,
caracterizado porque esta estructuración comprende una etapa
de mordentado.
7. Procedimiento según la reivindicación 2,
caracterizado porque dicha estructuración comprende una etapa
de anodizado de un metal subyacente a la capa de alúmina (1).
8. Procedimiento según la reivindicación 4,
caracterizado porque dicha estructuración comprende las
etapas siguientes:
- el material (20) designado para cubrir el
componente deseado (10; 10A), que presenta una pluralidad de
relieves (12; 12A), se deposita en forma de película sobre la capa
de alúmina (1), rellenando una parte de dicho material (20) dichos
poros (4), y
- a continuación, se eliminan la capa de alúmina
(1) y su sustrato (2), obteniéndose el componente deseado (10;
10A), cuyos relieves (12; 12A) están formados por la parte de dicho
material (20) que ha llenado dichos poros (4).
9. Procedimiento según la reivindicación 8,
caracterizado porque dicho material (20) se deposita sobre
la capa de alúmina (1) mediante pulverización catódica o deposición
de vapores químicos.
10. Procedimiento según la reivindicación 4,
caracterizado porque dicha estructuración comprende las
etapas siguientes:
- se elimina la capa de alúmina (1) de sus
sustrato (2) y se abre por su base, eliminando su parte no porosa
(5),
- se deposita una película metálica conductora
(21) sobre la capa de alúmina (1),
- el material (22) designado para cubrir el
componente deseado (10; 10A), que presenta una pluralidad de
relieves (12; 12A), se deposita electrolíticamente sobre la
estructura formada por la película metálica (21) y la parte residual
de la capa de alúmina (1), rellenando una parte de dicho material
(20) dichos poros (4),
- a continuación se eliminan la parte residual
de la capa de alúmina (1) y la película metálica (21), obteniéndose
el componente deseado (10; 10A), cuyos relieves (12; 12A) están
formados por la parte de dicho material (20) que ha llenado dichos
poros (4).
11. Procedimiento según la reivindicación 4,
caracterizado porque dicha estructuración comprende las
etapas siguientes:
- el material (23) designado para cubrir el
componente deseado (10; 10A) que presenta una pluralidad de relieves
(12; 12A) se deposita en forma de pasta serigráfica sobre la capa
de alúmina (1), rellenando una parte de dicha pasta (23) dichos
poros (4),
- dicha pasta (23) se sinteriza, y
- a continuación, la capa de alúmina (1) y su
sustrato (2) se eliminan, obteniéndose el componente deseado (10;
10A), cuyos relieves (12; 12A) están formados por la parte de dicho
material (20) que ha rellenado los poros (4).
12. Procedimiento según la reivindicación 4,
caracterizado porque dicha estructuración comprende las
etapas siguientes:
- se eliminan partes localizadas de la zona no
porosa (5) de la capa de alúmina (1), para abrir dichos poros (4)
por su sustrato (2),
- el material (26) designado para cubrir el
componente deseado (10; 10A) que presenta una pluralidad de relieves
(12; 12A) se deposita mediante procedimientos electroquímicos sobre
la parte residual de la capa de alúmina (1), rellenando una parte
de dicho material (26) dichos poros (4) y entrando en contacto con
su sustrato (2), y
- a continuación, se eliminan la parte residual
de la capa de alúmina (1) y su sustrato (2), obteniéndose el
componente deseado (10; 10A), cuyos relieves (12; 12A) están
formados por la parte de dicho material (20) que ha rellenado los
poros (4).
13. Procedimiento según la reivindicación 4,
caracterizado porque dicha estructuración comprende las
etapas siguientes:
- el sustrato (2) de la capa de alúmina (1) se
somete a anodización, para inducir un crecimiento del sustrato (2)
debajo de dichos poros (4), dando como resultado dicho crecimiento
la formación de proyecciones superficiales (2A) del sustrato (2),
que primero provocan la ruptura de partes de la zona no porosa (5)
de la capa de alúmina (1) y seguidamente continúa el crecimiento
dentro de dichos poros (4), y
- se elimina la capa de alúmina (1) por
mordentado selectivo, generando de este modo el sustrato (2) un
componente deseado (10) que presenta una pluralidad de relieves
(12), cubriendo dichas proyecciones superficiales (1A) dichos
relieves (12).
14. Procedimiento según una de las
reivindicaciones 8, 10, 11, 12, 13, caracterizado porque
dicho componente deseado es dicho emisor (10).
15. Procedimiento según una de las
reivindicaciones 8, 10, 11, 12, 13, caracterizado porque
dicho componente deseado es dicha plantilla adicional (10A).
16. Procedimiento según la reivindicación 15,
caracterizado porque dicha estructuración comprende las
etapas siguientes:
- se deposita una capa del material (24, 25)
designado para cubrir dicho emisor (13) sobre dicha plantilla
adicional (10A), y
- se elimina dicha plantilla adicional (10A,
13A), obteniéndose dicho emisor (13).
17. Procedimiento según la reivindicación 15,
caracterizado porque dicha estructuración comprende las
etapas siguientes:
- se deposita una capa del material designado
para cubrir dicho emisor (13) sobre dicha plantilla adicional (10A,
13A), y
- se elimina dicha plantilla adicional (10A,
13A), obteniéndose dicho emisor (13).
18. Procedimiento según la reivindicación 15,
caracterizado porque dicha estructuración comprende las
etapas siguientes:
- se deposita una capa del material designado
para cubrir dicho emisor (13) sobre dicha plantilla adicional (10A,
13A), y
- se elimina dicha plantilla adicional (10A,
13A), obteniéndose dicho emisor (13).
19. Procedimiento según una de las
reivindicaciones 16, 17 ó 18, caracterizado porque el
material (24) designado para cubrir dicho emisor (13) se deposita
sobre dicha plantilla adicional (10A, 13A) mediante pulverización
catódica o deposición de vapores químicos y porque dicha plantilla
adicional (10A, 13A) se elimina por mordentado selectivo.
20. Procedimiento según una de las
reivindicaciones 16, 17 ó 18, caracterizado porque el
material (24, 25) designado para cubrir dicho emisor (13) se
presenta en forma de una pasta serigráfica (25), que se sinteriza
después de ser depositada sobre dicha plantilla adicional (10A,
13A), eliminándose esta última a continuación por mordentado
selectivo.
21. Procedimiento según la reivindicación 5,
caracterizado porque dicha estructuración comprende las
etapas siguientes:
- se elimina por lo menos una parte de la zona
no porosa (5) de la capa de alúmina (1), abriéndose dichos poros
(4) por su sustrato (2),
- el sustrato se excava selectivamente en las
zonas abiertas en dichos poros (4),
- se elimina la parte residual de la capa de
alúmina (1), cubriendo el sustrato dicho emisor (13) y cubriendo
las zonas excavadas del sustrato (2) dichas cavidades (15).
22. Procedimiento según la reivindicación 21,
caracterizado porque el sustrato (2) se excava en dichas
zonas abiertas a través de Mordentado con Iones Reactivos o
mordentado en baño químico selectivo o mordentado
electromecánico.
23. Emisor para fuentes de luz, particularmente
un filamento, que puede ser conducido a la incandescencias mediante
el paso de una corriente eléctrica, obtenido con los procedimientos
según una o más de las reivindicaciones 1 a 22, presentando el
emisor por lo menos uno de
- una pluralidad de relieves (12) nanométricos
dispuestos según una geometría básicamente predefinida sobre por lo
menos una superficie del emisor (10),
- una pluralidad de cavidades (15) nanométricas
dispuestas según una geometría básicamente predefinida dentro del
emisor (13).
24. Emisor según la reivindicación 23, en el
que dichos relieves (12) cubren una microestructura antirreflexión,
para maximizar la emisión electromagnética del emisor (12) en el
espectro visible.
25. Emisor según la reivindicación 23, en el
que dichas cavidades (15) son parte de una estructura de cristal
fotónico.
26. Utilización de una alúmina porosa anodizada
(1) como elemento sacrificatorio para la estructuración de por lo
menos una parte de un emisor (10; 13) para fuentes de luz, que puede
ser conducido a la incandescencia mediante el paso de una corriente
eléctrica.
27. Utilización según la reivindicación 26, en
la que la alúmina (1) se utiliza como plantilla durante dicha
estructuración.
28. Utilización según la reivindicación 26, en
la que la alúmina (1) se utiliza como plantilla para obtener una
plantilla adicional (10A, 13A) utilizada durante dicha
estructuración.
29. Utilización según la reivindicación 26, en
la que dicha estructuración permite obtener por lo menos uno de
- una pluralidad de relieves (12) nanométricos
dispuestos según una geometría básicamente predefinida sobre por lo
menos una superficie del emisor (10),
- una pluralidad de cavidades (15) nanométricas
dispuestas según una geometría básicamente predefinida dentro del
emisor (13).
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
ITTO03A0167 | 2003-03-06 | ||
IT000167A ITTO20030167A1 (it) | 2003-03-06 | 2003-03-06 | Procedimento per la realizzazione di emettitori nano-strutturati per sorgenti di luce ad incandescenza. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ES2279204T3 true ES2279204T3 (es) | 2007-08-16 |
Family
ID=32948215
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
ES03780542T Expired - Lifetime ES2279204T3 (es) | 2003-03-06 | 2003-12-23 | Procedimiento para fabricar emisores nanoestructurados para fuentes de luz incandescente. |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7322871B2 (es) |
EP (2) | EP1602123B1 (es) |
JP (2) | JP4398873B2 (es) |
CN (2) | CN1692469B (es) |
AT (2) | ATE352864T1 (es) |
AU (1) | AU2003288694A1 (es) |
DE (2) | DE60311531T2 (es) |
ES (1) | ES2279204T3 (es) |
IT (1) | ITTO20030167A1 (es) |
WO (2) | WO2004079774A1 (es) |
Families Citing this family (54)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100940530B1 (ko) * | 2003-01-17 | 2010-02-10 | 삼성전자주식회사 | 실리콘 광소자 제조방법 및 이에 의해 제조된 실리콘광소자 및 이를 적용한 화상 입력 및/또는 출력장치 |
ITTO20030166A1 (it) | 2003-03-06 | 2004-09-07 | Fiat Ricerche | Emettitore ad alta efficienza per sorgenti di luce ad incandescenza. |
KR101190657B1 (ko) * | 2003-04-21 | 2012-10-15 | 삼성전자주식회사 | 자기 정렬된 나노 채널-어레이의 제조방법 및 이를 이용한 나노 도트의 제조방법 |
JP2005305634A (ja) * | 2004-03-26 | 2005-11-04 | Fujitsu Ltd | ナノホール構造体及びその製造方法、スタンパ及びその製造方法、磁気記録媒体及びその製造方法、並びに、磁気記録装置及び磁気記録方法 |
JP2006075942A (ja) * | 2004-09-09 | 2006-03-23 | Fujitsu Ltd | 積層構造体、磁気記録媒体及びその製造方法、磁気記録装置及び磁気記録方法、並びに、該積層構造体を用いた素子 |
EP1797579B1 (en) * | 2004-10-04 | 2015-09-02 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Microdischarge devices with encapsulated electrodes and its method of fabrication |
KR100898470B1 (ko) | 2004-12-03 | 2009-05-21 | 샤프 가부시키가이샤 | 반사 방지재, 광학 소자, 및 표시 장치 및 스탬퍼의 제조 방법 및 스탬퍼를 이용한 반사 방지재의 제조 방법 |
EP1857810A4 (en) * | 2005-01-07 | 2012-12-05 | Univ Kyoto | OPTICAL SENSOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME |
KR20080041663A (ko) * | 2005-07-22 | 2008-05-13 | 콸콤 인코포레이티드 | Mems 장치를 위한 지지 구조물 및 그 방법들 |
EP1785748A1 (en) * | 2005-11-10 | 2007-05-16 | C.R.F. Società Consortile per Azioni | Anti-reflection nano-metric structure based on anodised porous alumina and method for production thereof |
US20070116934A1 (en) * | 2005-11-22 | 2007-05-24 | Miller Scott M | Antireflective surfaces, methods of manufacture thereof and articles comprising the same |
US20070125652A1 (en) * | 2005-12-02 | 2007-06-07 | Buckley Paul W | Electroform, methods of making electroforms, and products made from electroforms |
US20070228986A1 (en) * | 2006-03-31 | 2007-10-04 | General Electric Company | Light source incorporating a high temperature ceramic composite for selective emission |
US8044567B2 (en) | 2006-03-31 | 2011-10-25 | General Electric Company | Light source incorporating a high temperature ceramic composite and gas phase for selective emission |
US7722421B2 (en) * | 2006-03-31 | 2010-05-25 | General Electric Company | High temperature ceramic composite for selective emission |
US7851985B2 (en) * | 2006-03-31 | 2010-12-14 | General Electric Company | Article incorporating a high temperature ceramic composite for selective emission |
US8679630B2 (en) * | 2006-05-17 | 2014-03-25 | Purdue Research Foundation | Vertical carbon nanotube device in nanoporous templates |
WO2008065223A1 (es) * | 2006-11-27 | 2008-06-05 | Universitat Autonoma De Barcelona | Método de fabricación de una estructura de nanohilos |
US7781977B2 (en) * | 2006-12-20 | 2010-08-24 | General Electric Company | High temperature photonic structure for tungsten filament |
WO2008082421A1 (en) * | 2007-01-05 | 2008-07-10 | Sabic Innovative Plastics Ip B.V. | Antireflective surfaces, methods of manufacture thereof and articles comprising the same |
US9487877B2 (en) * | 2007-02-01 | 2016-11-08 | Purdue Research Foundation | Contact metallization of carbon nanotubes |
US7786660B2 (en) * | 2007-02-06 | 2010-08-31 | General Electric Company | Highly emissive cavity for discharge lamp and method and material relating thereto |
US7719752B2 (en) | 2007-05-11 | 2010-05-18 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | MEMS structures, methods of fabricating MEMS components on separate substrates and assembly of same |
US20090160314A1 (en) * | 2007-12-20 | 2009-06-25 | General Electric Company | Emissive structures and systems |
ES2336745B1 (es) * | 2008-02-26 | 2011-04-08 | Universidad Autonoma De Madrid | Procedimiento de obtencion de membranas con estructura porosa organizada. |
US8715981B2 (en) * | 2009-01-27 | 2014-05-06 | Purdue Research Foundation | Electrochemical biosensor |
US8138675B2 (en) * | 2009-02-27 | 2012-03-20 | General Electric Company | Stabilized emissive structures and methods of making |
US8872154B2 (en) * | 2009-04-06 | 2014-10-28 | Purdue Research Foundation | Field effect transistor fabrication from carbon nanotubes |
US8563086B2 (en) | 2009-07-22 | 2013-10-22 | Korea Institute Research and Business Foundation | Nano pattern formation |
US8592732B2 (en) | 2009-08-27 | 2013-11-26 | Korea University Research And Business Foundation | Resistive heating device for fabrication of nanostructures |
JP5744407B2 (ja) * | 2010-02-23 | 2015-07-08 | キヤノン株式会社 | マイクロ構造体の製造方法 |
EP2617069B1 (fr) * | 2010-09-14 | 2014-12-03 | Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives | Dispositif optoélectronique à base de nanofils pour l'émission de lumière |
WO2012054042A1 (en) * | 2010-10-21 | 2012-04-26 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of forming a nano-structure |
WO2012054044A1 (en) * | 2010-10-21 | 2012-04-26 | Hewlett-Packard Development Company, L. P. | Method of forming a micro-structure |
US9410260B2 (en) | 2010-10-21 | 2016-08-09 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of forming a nano-structure |
US20170267520A1 (en) | 2010-10-21 | 2017-09-21 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of forming a micro-structure |
US9611559B2 (en) | 2010-10-21 | 2017-04-04 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Nano-structure and method of making the same |
TWI472630B (zh) * | 2010-12-02 | 2015-02-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 鋁製品及其製備方法 |
TWI471431B (zh) * | 2010-12-06 | 2015-02-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 鋁製品及其製備方法 |
US8659816B2 (en) | 2011-04-25 | 2014-02-25 | Qualcomm Mems Technologies, Inc. | Mechanical layer and methods of making the same |
TW201310081A (zh) * | 2011-08-25 | 2013-03-01 | Nat Univ Tsing Hua | 微奈米複合結構及其製作方法 |
JP5851165B2 (ja) * | 2011-09-08 | 2016-02-03 | 公益財団法人神奈川科学技術アカデミー | 微細構造の形成方法およびポーラスアルミナ複合体の製造方法 |
JP2013134875A (ja) * | 2011-12-26 | 2013-07-08 | Stanley Electric Co Ltd | 白熱電球、および、フィラメント |
KR20140069925A (ko) * | 2012-11-30 | 2014-06-10 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 소자 및 그 제조방법 |
CN103043600B (zh) * | 2012-12-13 | 2015-03-25 | 中国科学院物理研究所 | 基于薄膜材料的三维自支撑微纳米功能结构的制备方法 |
JP6371075B2 (ja) * | 2014-02-21 | 2018-08-08 | スタンレー電気株式会社 | フィラメント |
JP6797535B2 (ja) * | 2016-03-07 | 2020-12-09 | 株式会社アドバンテスト | 異方性導電膜の製造方法及び異方性導電膜 |
JP6727046B2 (ja) * | 2016-07-07 | 2020-07-22 | 東京都公立大学法人 | ピラーアレー構造体の製造方法 |
US10761428B2 (en) | 2018-08-28 | 2020-09-01 | Saudi Arabian Oil Company | Fabricating calcite nanofluidic channels |
US11312107B2 (en) * | 2018-09-27 | 2022-04-26 | Apple Inc. | Plugging anodic oxides for increased corrosion resistance |
US10926227B2 (en) * | 2018-12-03 | 2021-02-23 | Saudi Arabian Oil Company | Fabricating calcite nanofluidic channels |
CN114051485A (zh) * | 2019-06-18 | 2022-02-15 | 应用材料公司 | 用于扁平光学器件的空隙封装介电纳米支柱 |
US11787993B1 (en) | 2022-03-28 | 2023-10-17 | Saudi Arabian Oil Company | In-situ foamed gel for lost circulation |
US11913319B2 (en) | 2022-06-21 | 2024-02-27 | Saudi Arabian Oil Company | Sandstone stimulation |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5079473A (en) * | 1989-09-08 | 1992-01-07 | John F. Waymouth Intellectual Property And Education Trust | Optical light source device |
US5686791A (en) * | 1992-03-16 | 1997-11-11 | Microelectronics And Computer Technology Corp. | Amorphic diamond film flat field emission cathode |
US5385114A (en) * | 1992-12-04 | 1995-01-31 | Milstein; Joseph B. | Photonic band gap materials and method of preparation thereof |
EP0706196B1 (en) * | 1994-10-05 | 2000-03-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | An electron emission cathode; an electron emission device, a flat display, a thermoelectric cooling device incorporating the same; and a method for producing the electron emission cathode |
US5747180A (en) * | 1995-05-19 | 1998-05-05 | University Of Notre Dame Du Lac | Electrochemical synthesis of quasi-periodic quantum dot and nanostructure arrays |
WO1998009005A1 (en) * | 1996-08-26 | 1998-03-05 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method of manufacturing porous anodized alumina film |
JP3902883B2 (ja) * | 1998-03-27 | 2007-04-11 | キヤノン株式会社 | ナノ構造体及びその製造方法 |
US5998298A (en) * | 1998-04-28 | 1999-12-07 | Sandia Corporation | Use of chemical-mechanical polishing for fabricating photonic bandgap structures |
JP3020155B2 (ja) * | 1998-06-12 | 2000-03-15 | 東京大学長 | 針状ダイヤモンド配列構造体の作製方法 |
JP2000243247A (ja) | 1999-02-19 | 2000-09-08 | Canon Inc | 電子放出素子の製造方法 |
JP3576859B2 (ja) * | 1999-03-19 | 2004-10-13 | 株式会社東芝 | 発光装置及びそれを用いたシステム |
JP4536866B2 (ja) * | 1999-04-27 | 2010-09-01 | キヤノン株式会社 | ナノ構造体及びその製造方法 |
JP3667188B2 (ja) * | 2000-03-03 | 2005-07-06 | キヤノン株式会社 | 電子線励起レーザー装置及びマルチ電子線励起レーザー装置 |
DE10154756C1 (de) * | 2001-07-02 | 2002-11-21 | Alcove Surfaces Gmbh | Verwendung einer anodisch oxidierten Oberflächenschicht |
US6607673B2 (en) * | 2000-05-17 | 2003-08-19 | The University Of Tokyo | Method for manufacturing a diamond cylinder array having dents therein |
JP2003016921A (ja) * | 2000-09-20 | 2003-01-17 | Canon Inc | 構造体、電子放出素子、画像形成装置およびそれらの製造方法 |
US6709929B2 (en) * | 2001-06-25 | 2004-03-23 | North Carolina State University | Methods of forming nano-scale electronic and optoelectronic devices using non-photolithographically defined nano-channel templates |
US6611085B1 (en) * | 2001-08-27 | 2003-08-26 | Sandia Corporation | Photonically engineered incandescent emitter |
ITTO20020033A1 (it) * | 2002-01-11 | 2003-07-11 | Fiat Ricerche | Dispositivo elettro-luminescente. |
US7211143B2 (en) * | 2002-12-09 | 2007-05-01 | The Regents Of The University Of California | Sacrificial template method of fabricating a nanotube |
-
2003
- 2003-03-06 IT IT000167A patent/ITTO20030167A1/it unknown
- 2003-12-23 EP EP03780542A patent/EP1602123B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-23 AU AU2003288694A patent/AU2003288694A1/en not_active Abandoned
- 2003-12-23 CN CN2003801006240A patent/CN1692469B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-23 DE DE60311531T patent/DE60311531T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-23 WO PCT/IB2003/006338 patent/WO2004079774A1/en active IP Right Grant
- 2003-12-23 AT AT03780542T patent/ATE352864T1/de not_active IP Right Cessation
- 2003-12-23 US US10/523,214 patent/US7322871B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-23 ES ES03780542T patent/ES2279204T3/es not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-23 JP JP2004569054A patent/JP4398873B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-03-05 EP EP04717716A patent/EP1604052B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-03-05 WO PCT/IB2004/000639 patent/WO2004079056A2/en active Application Filing
- 2004-03-05 JP JP2006506303A patent/JP2006520697A/ja not_active Withdrawn
- 2004-03-05 CN CNA2004800059090A patent/CN1756861A/zh active Pending
- 2004-03-05 AT AT04717716T patent/ATE474324T1/de not_active IP Right Cessation
- 2004-03-05 DE DE602004028102T patent/DE602004028102D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2004-03-05 US US10/546,896 patent/US20060177952A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006520697A (ja) | 2006-09-14 |
WO2004079056A2 (en) | 2004-09-16 |
WO2004079056A3 (en) | 2005-01-20 |
CN1756861A (zh) | 2006-04-05 |
DE602004028102D1 (de) | 2010-08-26 |
ATE474324T1 (de) | 2010-07-15 |
JP4398873B2 (ja) | 2010-01-13 |
EP1604052B1 (en) | 2010-07-14 |
DE60311531D1 (de) | 2007-03-15 |
US7322871B2 (en) | 2008-01-29 |
JP2006514413A (ja) | 2006-04-27 |
EP1604052A2 (en) | 2005-12-14 |
ATE352864T1 (de) | 2007-02-15 |
EP1602123B1 (en) | 2007-01-24 |
WO2004079056A8 (en) | 2005-10-27 |
AU2003288694A1 (en) | 2004-09-28 |
ITTO20030167A1 (it) | 2004-09-07 |
EP1602123A1 (en) | 2005-12-07 |
DE60311531T2 (de) | 2007-06-06 |
US20060103286A1 (en) | 2006-05-18 |
CN1692469A (zh) | 2005-11-02 |
US20060177952A1 (en) | 2006-08-10 |
CN1692469B (zh) | 2010-09-08 |
WO2004079774A1 (en) | 2004-09-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ES2279204T3 (es) | Procedimiento para fabricar emisores nanoestructurados para fuentes de luz incandescente. | |
US7214418B2 (en) | Structure having holes and method for producing the same | |
JP2008100339A (ja) | 多孔質アルミナに基づく反射防止のナノメータ構造体及びその製造方法 | |
US7297041B2 (en) | Method of manufacturing microdischarge devices with encapsulated electrodes | |
JP3598373B2 (ja) | 基体上に接合して規則化配列したナノ構造体およびその製造方法 | |
EP1797579B1 (en) | Microdischarge devices with encapsulated electrodes and its method of fabrication | |
US11664172B2 (en) | Performance of capacitors | |
Yoo et al. | Critical factors in the anodic formation of extremely ordered titania nanocavities | |
EP0913850B1 (en) | Narrow titanium-containing wire, process for producing narrow titanium-containing wire, structure, and electron-emitting device | |
US7432218B2 (en) | Method for producing porous body | |
JP4641442B2 (ja) | 多孔質体の製造方法 | |
KR20110139851A (ko) | 나노 템플릿 및 그 제조 방법 | |
JP2001213700A (ja) | ナノ構造体及びその製造方法 | |
US10273592B2 (en) | Method of forming local nano/micro size structures of anodized metal | |
WO2012054120A1 (en) | Capped nano-pillars | |
JP4560356B2 (ja) | 多孔質体および構造体の製造方法 | |
JP2003266400A (ja) | シリコン酸化物ナノ構造体の製造方法 | |
WO2023201063A1 (en) | Conformal solid-state batteries and methods for producing and using the same | |
JP4625955B2 (ja) | カーボンチューブ及びカーボンチューブの製造方法 | |
KR20050016586A (ko) | 발광 표면을 갖는 조명용 소자 | |
RU2523718C2 (ru) | Нанокомпозитная газопоглощающая структура и способ ее получения | |
Kim | Microstructural control of aluminum/aluminum oxide electrochemistry: aluminum/aluminum oxide photonic devices | |
JP2005076118A (ja) | ホールアレーの製造方法 | |
WO2013066344A1 (en) | Assymetric nano-structures |