EP0404863A1 - Elektronisches, monolithisch integriertes gerät - Google Patents

Elektronisches, monolithisch integriertes gerät

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EP0404863A1
EP0404863A1 EP19890908687 EP89908687A EP0404863A1 EP 0404863 A1 EP0404863 A1 EP 0404863A1 EP 19890908687 EP19890908687 EP 19890908687 EP 89908687 A EP89908687 A EP 89908687A EP 0404863 A1 EP0404863 A1 EP 0404863A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
electronic
monolithically integrated
integrated device
substrate
junction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP19890908687
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Gerhard Conzelmann
Robert Kainer
Gerhard Fiedler
Peter Jochen
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Priority to EP94119468A priority Critical patent/EP0645818B1/de
Publication of EP0404863A1 publication Critical patent/EP0404863A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/0203—Particular design considerations for integrated circuits
    • H01L27/0248—Particular design considerations for integrated circuits for electrical or thermal protection, e.g. electrostatic discharge [ESD] protection

Definitions

  • the invention relates to an electronic, monolithically integrated device according to the preamble of the main claim.
  • the electronic monolithically integrated device according to the invention with the characterizing features of the main claim has the advantage, in contrast, that simple means make it possible to prevent the development of a spreading minority current at all, to reduce its strength at the point of origin or to reduce the spreading To dampen minority current through recombination barriers and / or to suction through voltage-connected barriers that generate an electric field in the substrate. Further advantages result from subclaims 2 to 39. drawing
  • FIG. 1 shows the circuit of a transistor la generating directional and minority current and a transistor lb receiving the minority current
  • FIG. 2 shows the time course of the collector voltage of the transistor generating the directional current under the influence of a superimposed high-frequency AC voltage
  • FIG. 3 shows the connection of the transistor to a series diode to prevent a directional current
  • FIG. 4 shows a parallel diode to reduce it.
  • the principle of a barrier for intercepting the generated minority current is illustrated in FIG. 5, and the structures of necessary avalanche, Schottky or capacitance diodes with possible interconnections (FIGS. 7a-c) are explained in FIGS. 6a-e.
  • FIG. 8a shows a circuit with a transistor whose directional current is prevented by a series diode and a further transistor whose minority current injected into the substrate is intercepted by a barrier
  • FIG. 8b shows a section through the associated structure.
  • the circuit diagram of FIG. 9a with the associated layout according to FIG. 9b shows a simpler arrangement for a barrier.
  • the integrated structure of a dielectric capacitor is shown in FIG. 10, that of a transistor with a dielectrically insulated trough in FIG. 11 and that of a transistor insulated with a barrier layer in order to avoid directional currents in FIG.
  • 01 is the ground-side connection
  • 02 the connection for the positive pole of the operating voltage and 2 a transistor, as is customarily shown on a p-type substrate, 21 its emitter, 22 its base and 23 its collector, which on the one hand has the connection spot 03 is connected and on the other hand to the substrate as an anode 32 forms the parasitic diode 3;
  • Its cathode 31 thus corresponds to the collector 23 of 2.
  • the arrangement is exemplarily supplemented by a pnp transistor 4 with its emitter 41, its base 42 and its collector 43.
  • the substrate diode 3 is shown as a transistor with the cathode 31 as the emitter, the spatially extended substrate 32 as the base and the far-away collector 33, which is identical to the base 42 of the pnp transistor 4; the minority current formed by electrons is indicated by 331.
  • FIG. 2 shows the time course of the collector potential U_ against ground. If the line connected to the connection spots 01, 03 comes into the field of a strong transmitter, then amplitudes can be influenced which go far beyond the pending DC potential U__; this occurs at time t; a visual current is generated which converts the direct potential U to the value U,. lifts. It is generally not problematic to raise the DC potential U of the collector 23 from FIG. 2, but rather to inject a minority current 331 into the substrate, which is connected to the directional current. In addition, voltage curves with negative voltages against the substrate can occur in electronic systems even without high-frequency irradiation, such as correspond to the branch of the envelope marked in bold in FIG. 2; they also inject minorities. The long service life of the minorities results in long diffusion lengths in the field-free substrate, so that the minority current can also shift the operating points of far-away components, such as those of transistor 4. A numerical example should illustrate this:
  • the directional current is 300 mA, the minority current injected by it into the substrate is 10% thereof, ie 30 mA. If the base current of 4 is 1 uA, which already seems to be well dimensioned, then If the minority current is attenuated by 1: 30,000, both currents are only the same size.
  • the positive and negative poles of the operating voltage are again connected to the connection pads 01, 02; 2 in this example is the series transistor of a circuit part for voltage stabilization; 3 denotes the parasitic substrate diode, 5 denotes a diode connected between the connection pad 03 and the collector 23, and 6 denotes a capacitance connected downstream of the diode 5 — in this example, a capacitance diode.
  • the diode 5 in conjunction with the capacitor 6 reliably prevents the polarization of the diode 3 in the forward direction; the capacitor 6 is required in order to reliably prevent the potential at the collector 23 from submerging below the ground potential due to the intrinsic capacitance and blocking inertia of the diode 5.
  • the capacitor 6 can also be enlarged.
  • the diode 5 can also be formed by the emitter-base diode of a pnp transistor; in this case the capacitor 6 is to be connected to the collector of the pnp transistor. Minorities generated by the pn junction 5 do not spread, since they are captured by the positive DC potential present at 23.
  • the emitter 21 of the npn transistor 2 is at the connection pad 01, its collector 23 at the connection pad 03;
  • a diode 7 is now connected in parallel with the pn junction 3, which is polarized in the forward direction when the collector potential is negative.
  • the diode 7 may reduce the directional current through 3 in connection with the resistors 71 and / or 73; one is particularly advantageous Schottky diode as diode 7, since it can be represented with a significantly lower forward voltage than 3 and injects almost no minorities.
  • the barrier denoted by 8 is connected between the diode 3 acting as an npn transistor and the pnp transistor 4 to be disrupted by the minority current.
  • the barrier 8 is biased positively by the current source 81; it can absorb the entire minority current, provided the current of the current generator 81 is sufficiently productive;
  • an advantageous development of the invention provides for this current to be designed as a function of the directional or minority current. A possible embodiment will be shown later with reference to Figures 8a, b.
  • the barrier should either enclose the critical parts of the monolithically integrated circuit or else the components injecting minority currents. It is particularly advantageous to arrange the latter on the chip edge and to let the sufficiently wide barrier 8 pass from chip edge to chip edge over a corner or straight through. In addition, it is advantageous to arrange the parts of the monolithically integrated circuit which are less sensitive to minority currents in the layout immediately after the barrier 8, as a result of which the outlay for an interference-free circuit can be reduced.
  • the interference immunity is usually only required for certain limit field strengths of the interfering transmitters or certain limit directional currents. In practice, however, even higher field strengths or directional currents can occur, so that the protective means used fail.
  • a Hall sensor in the ignition distributor of a motor vehicle with a digital engine control only serves to determine the cylinder 1; it may fail temporarily during operation, provided that it does not affect the ignition; this is the case when the collector 23 of its output transistor does not change to the switched-on state. This requirement can also be easily met by the person skilled in the art by arranging the corresponding components in the layout.
  • FIGS. 6a to 6e show an example of a possible process for representing the subject matter of the invention on the basis of a sectional image of the structures of any necessary avalanche, Schottky or capacitance diodes. It means:
  • the insulation diffusion 002 is wide, the collector connection diffusion 003 is narrow from the bottom left to the top right, the structured metal 007 is shown hatched from the top left to the bottom right.
  • the diode according to FIG. 6a is formed by means of the insulation diffusion 002 seated on the buried layer 001; Depending on the management of the manufacturing processes, breakdown voltages of between approximately 10 and 25 V result.
  • the diode according to FIG. 6b is formed by means of an emitter diffusion zone 005 lying within the insulation diffusion 002 with a lower breakdown voltage of approx. 6 V, but with a higher capacitance.
  • FIG. 6c shows the usual base (004) emitter diode (005); it has a greater sheet resistance, but is usually insulated against the substrate 000 by the n-doped space 100 (epitaxy) in a higher-blocking manner.
  • 6d is formed from the zones buried layer (001) and emitter (005) against the insulation (002) in a sandwich arrangement, the buried layer being led out via the collector connection diffusion 003. If 005 is connected to 003, the capacity increases. If, on the other hand, only 005 is used against 002, the double junction insulation results in a diode according to 6b in a bipolar version.
  • the arrangements according to FIG. 6 can also be used as avalanche diodes or capacitance diodes. Its area is to be designed as an avalanche diode in accordance with the surge energy to be absorbed, and as a capacitance diode in accordance with the required capacitance.
  • the diodes according to FIG. 6 can be combined as desired, as shown in some examples of FIGS. 7a-c.
  • FIG. 8a The object of the invention is explained in FIG. 8a with the aid of an exemplary circuit: 01, 02 again denotes the connection spots for the negative (ground) and the positive operating voltage, and 03 the connection spot for the collector of the output transistor.
  • the diodes 51, 52 and 53 with their internal resistance 54 serve to protect the circuit against the operating voltage superimposed voltage peaks; if their capacity is sufficiently large, they can also serve, according to patent application P 38 02 822, to dampen the line connected to 02/01; the entire circuit is protected against polarity reversal by the counter-connected diode 51.
  • 5 is a Schottky diode according to FIG.
  • the output of the diode 5 is capacitively connected to ground 01 through the diode 61.
  • the output transistor is designated 2. Since the directional and minority currents resulting from high-frequency alternating voltages cannot be prevented due to the requirement for a low saturation voltage of 2, the barrier 8 is arranged between the output transistor 2 and the active part of the monolithically integrated circuit, designated 44 .
  • the diode 74 with the (track) resistor 75 serves to protect the transistor 2 against overvoltages and possibly also to further attenuate the line connected to the connection point 03.
  • the barrier 8 consists of two parts: an upstream recombination zone, which consists of the the epitaxy, possibly in connection with the buried-layer diffusion, there is a barrier layer 82 and the p-doped zone 83, which acts as an emitter and is located in it, is connected to the cathode-side end of the diode 5 - that is to a low-voltage operating voltage is; they form the base 82 and emitter 83 of the pnp transistor serving as current source 81, the collector of which is equal to the zone 84 acting as an ohmic substrate contact for sucking off the minority current; the current flowing into the substrate is thus generated by the minority current itself.
  • the transistor 81 can also be embodied as a Darlington, in order to ensure a collector current sufficient to extract the entire minority current. Because of the relatively large current to be absorbed, the emitter 83 can also be located directly at the connection point 02 for the operating voltage or can also be connected there via its own diode.
  • the vertical field component generated by zone 84 in the substrate also acts in the vicinity of recombination zone 82 and increases its recombination current and thus also the base current of pnp transistor 81. While with large minority currents due to the high density gradient, sufficient recombination current on base 82 flows, it cannot be sufficient for small currents; A sufficient bias current is generated on the base 82 by means of the resistor 85 (FIG. 8 a) or the current source 86 (FIG. 8 b).
  • the structure of a possible arrangement in the layout is shown in FIG. 8b; the diode 52 is cut on the left edge.
  • the individual zones of the structure have already been explained on the basis of the description of FIG. 6.
  • the diodes 51 and 52 belonging to the protective circuit (further left would come 53) are arranged to the left, the Schottky diode 5 to the right, which has a common buried layer with the series transistor 1.
  • the more or less complex active part 44 of the monolithically integrated circuit begins.
  • the transistor 2 injecting minority currents when the collector potential is negative.
  • the barrier 8 between 2 and 44 is formed by the recombination electrode 82 and the insulation diffusion zone 84 as an ohmic contact to the substrate and collector as the current source
  • the capacitor 61 serving pnp transistor for extracting the minority current.
  • the capacitor 61 is arranged between the barrier 8 and the remaining circuit 44; this increases the distance between the contact to the substrate 84 and the next adjacent insulation diffusion zone 023 and thus the substrate resistance lying therebetween.
  • a further embodiment of the invention provides for barriers in the forms described above to be placed around components of the circuit to be protected, in order to possibly reduce the overall effort.
  • the necessary potential for sucking off the minority current is generated by the directional and minority current itself.
  • a resistance 34 formed by the substrate and insulation diffusion zones 002 diffused therein is introduced. Its resistance value can be easily set by the proportion of the resistance-determining insulation diffusion zones. If the collector 23, 31 becomes negative, the current 35 flows from the ground connection 01 through the resistor 34 further in the substrate through the pn junction 32, 31 to the collector connection 03. The connection 01 becomes positive.
  • the resistor 34 is shown by means of the substrate 000 and the insulation diffusion zones 002 running in the sectional plane, that is to say not visible, the anode 32 by the same zones and the cathode 31 by the buried layer 001, which over the collector connection diffusion 003 is connected to the collector connection 03.
  • Capacitors can also be produced by means of dielectric intermediate layers from the regular IC process, or additionally applied.
  • FIG. 10 gives an example with thin emitter oxide 060 as the dielectric; a zone made of emitter diffusion 005, reinforced by collector diffusion 003, forms the solid-state electrode contacted with 01, 63 is the counter electrode made of material of the conductor track system (AI) or also made of polysilicon or the like.
  • AI conductor track system
  • the emitter zone 005 is to be introduced into a p-doped zone which does not reach the substrate - here the base zone 004.
  • Directional currents against the substrate can also be avoided by dielectric (oxide, nitride or the like) insulation of the well of the transistor 2 in accordance with the arrangement according to FIG. 11; 061 denotes the thin insulating layer between the collector 23 of the transistor 2 and the substrate 000; all other names are already known. If this highly complex manufacturing process is needed for other reasons, this is a cheap solution.
  • Directional currents and thus the injection of a minority current into the substrate can also be introduced by introducing another one Suppress the barrier layer according to FIG. 12, particularly in the case of initial stage transistors.
  • a manufacturing process is used which has a lower insulation diffusion 020 and an upper insulation diffusion 021. If the lower insulation is placed on a buried layer zone and the side walls of the trough are introduced in a ring shape by means of the upper insulation 021, a trough is obtained which blocks the substrate bipolarly.
  • Another way of rendering minority flows harmless is to drastically reduce the carrier life of the minorities in the substrate by introducing recombination centers.
  • a measure to increase the recombination rate on the back of the chip can also be supportive, at least in the area of the barrier 8.
  • At the heart of the invention are means to be introduced into a monolithically integrated circuit in order to either avoid or dampen the minority currents injected into the substrate under the influence of high-frequency AC voltages, signal voltages or parasitic effects, or else to reduce their effect on the circuit.
  • this makes it possible to ensure the function of an electronic system with monolithically integrated circuits without additional outlay on discrete components or, in the case of radiated interference voltages, to dispense with interference suppressors which are difficult to accommodate, for example, in plug connections, or at least to reduce the outlay for this .

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Description

Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät
Stand der Technik
Die Erfindung betrifft ein elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach der Gattung des Hauptanspruchs.
Wie bereits in der DE-Patentan eldung P 38 02 822 vorgeschlagen wur¬ de, werden in Fahrzeugleitungen im hochfrequenten Feldbereich star¬ ker Sender Spannungen beachtlicher Amplitude influenziert. Führen solche Leitungen zu elektronischen Geräten, so können diese gestört werden. Die Siebschaltungen gemäß der obengenannten Patentanmeldung ermöglichen grundsätzlich einen störungsfreien Betrieb; sie sind je¬ doch unter gewissen Bedingungen außerordentlich aufwendig:
Führen nämlich Leitungen zum Anschlußfleck einer monolithisch inte¬ grierten Schaltung, der schaltungsbedingt direkt mit einer Komponen¬ te verbunden ist, die einen nicht entkoppelbaren pn-Übergang bildet, wie etwa den Kollektor-Substrat-Übergang eines mit offenem Kollektor betriebenen Ausgangstransistors oder eines Längstransistors der Stromversorgung, so sind entweder niederohmige und damit relativ aufwendige Siebschaltungen erforderlich oder aber Richtströme unver¬ meidlich. Beeinträchtigen diese Richtströme allein die Funktion der Schaltung nicht, so müssen sie auch nicht verhindert werden. Sie in¬ jizieren jedoch Minoritätsströme in ihre Umgebung, vornehmlich in das Substrat, von wo aus diese unter dem Einfluß des Dichtegradien¬ ten weit in die Fläche der monolithisch integrierten Schaltung hin¬ ein diffundieren. Erreichen sie empfindliche Schaltungsteile in hin¬ reichender Stromstärke, so kann deren Arbeitspunkt verlagert und die Funktion der Schaltung bis zum Totalausfall gestört werden. Da die Minoritätsströme grundsätzlich als Folge von Richtströmen auftreten, müssen entweder die Richtströme selbst oder die von ihnen erzeugten Minoritätsströme durch geeignete Mittel verhindert und/oder redu¬ ziert bzw. unschädlich gemacht werden.
In elektronischen Systemen können jedoch auch an den obengenannten pn-Ubergängen SignalSpannungen bzw. durch parasitäre Effekte erzeug¬ te Spannungen auftreten, die negativer sind als das Substrat und die deshalb gleichermaßen Richtströme und die damit verbundenen Minori¬ tätsströme erzeugen.
Vorteile der Erfindung
Das erfindungsgemäße elektronische monolithisch integrierte Gerät mit den kennzeichnenden Merkmalen des Hauptanspruchs hat demgegen¬ über den Vorteil, daß einfache Mittel es ermöglichen, die Entstehung eines sich ausbreitenden Minoritätsstroms überhaupt zu verhindern, seine Stärke am Ort der Entstehung zu senken bzw. den sich ausbrei¬ tenden Minoritätsstrom durch Rekombinationsbarrieren zu dämpfen und/oder durch an Spannung liegende, im Substrat ein elektrisches Feld erzeugende Barrieren abzusaugen. Weitere Vorteile ergeben sich aus den ünteransprüchen 2 bis 39. Zeichnung
Die Erfindung sei anhand der Figuren 1 bis 12 erläutert: Figur 1 zeigt die Schaltung eines Rieht- und Minoritätsstrom erzeugenden Transistors la sowie eines den Minoritätsstrom empfangenden Transi¬ stors lb; in Figur 2 ist der Zeitverlauf der Kollektorspannung des Richtstrom erzeugenden Transistors unter dem Einfluß einer überla¬ gerten hochfrequenten Wechselspannung dargestellt. Figur 3 zeigt die Beschaltung des Transistors mit einer Reihendiode zum Verhindern ei¬ nes Richtstroms, Figur 4 eine Paralleldiode zu seiner Reduktion. In Figur 5 sind das Prinzip einer Barriere zum Abfangen des erzeugten Minoritätsstroms, und in Figuren 6a - e die Strukturen erforder¬ licher Avalanche-, Schottky- bzw. Kapazitätsdioden mit möglichen Zu¬ sammenschaltungen (Figuren 7a - c) erläutert. Ferner zeigt Figur 8a eine Schaltung mit einem Transistor, dessen Richtstrom durch eine Reihendiode verhindert wird, und einem weiteren Transistor, dessen in das Substrat injizierter Minoritätsstrom durch eine Barriere ab¬ gefangen wird, und Figur 8b einen Schnitt durch die dazugehörende Struktur. Eine einfachere Anordnung für eine Barriere zeigt das Schaltbild der Figur 9a mit dem zugehörigen Layout nach Figur 9b. In Figur 10 ist die integrierte Struktur eines dielektrischen Kondensa¬ tors, in Figur 11 die eines Transistors mit dielektrisch isolierter Wanne und in Figur 12 die eines sperrschichtisolierten Transistors zum Vermeiden von Richtströmen wiedergegeben.
Beschreibung der Erfindung
In Figur la ist 01 der masseseitige Anschluß, 02 der Anschluß für den positiven Pol der Betriebsspannung und 2 ein wie gebräuchlich auf einem p-Substrat dargestellter Transistor, 21 sein Emitter, 22 seine Basis und 23 sein Kollektor, der einerseits mit dem Anschlu߬ fleck 03 verbunden ist und andererseits mit dem Substrat als Anode 32 die parasitäre Diode 3 bildet; deren Kathode 31 entspricht somit dem Kollektor 23 von 2. In Figur lb ist die Anordnung beispielhaft ergänzt durch einen pnp-Transistor 4 mit seinem Emitter 41, seiner Basis 42 und seinem Kollektor 43. Die Substratdiode 3 ist darge¬ stellt als Transistor mit der Kathode 31 als Emitter, dem räumlich ausgedehnten Substrat 32 als Basis und dem weit entfernt liegenden Kollektor 33, der identisch ist mit der an positivem Potential lie¬ genden Basis 42 des pnp-Transistors 4; mit 331 ist der von Elektro¬ nen gebildete Minoritätsstrom angedeutet.
In Figur 2 ist der Zeitverlauf des Kollektorpotentials U_ gegen Masse dargestellt. Gerät die an die Anschlußflecken 01, 03 ange¬ schlossene Leitung in das Feld eines starken Senders, so können Am¬ plituden influenziert werden, die weit über das anstehende Gleich¬ potential U__ hinausgehen; dieser Fall trete zum Zeitpunkt t ein; es entsteht ein Sichtstrom, der das Gleichpotential U auf den Wert U, . anhebt. Problematisch ist in der Regel nicht das An- 14 heben des Gleichpotentials U des Kollektors 23 von 2, sondern die mit dem Richtstrom verbundene Injektion eines Minoritätsstroms 331 in das Substrat. Darüber hinaus können in elektronischen Syste¬ men auch ohne hochfrequente Einstrahlung Spannungsverläufe mit nega¬ tiven Spannungen gegen das Substrat auftreten, wie sie etwa dem in Figur 2 fett gekennzeichneten Ast der Einhüllenden entsprechen; auch sie injizieren Minoritäten. Durch die hohe Lebensdauer der Minoritä¬ ten ergeben sich im feldfreien Substrat große Diffusionslängen, so daß der Minoritätsstrom auch noch die Arbeitspunkte weit entfernter Komponenten, wie etwa den des Transistors 4, zu verschieben vermag. Ein Zahlenbeispiel soll dies veranschaulichen:
Der Richtstrom betrage 300 mA, der von ihm in das Substrat injizier¬ te Minoritätsström sei 10 % davon, also 30 mA. Liegt der Basisstrom von 4 bei 1 uA, was schon reichlich dimensioniert erscheint, so sind bei einer Dämpfung des Minoritätsstroms von 1 : 30 000 beide Ströme erst gleich groß.
In Figur 3 ist wieder an die Anschlußflecken 01, 02 der positive und negative Pol der Betriebsspannung angeschlossen; 2 ist in diesem Beispiel der Längstransistor eines Schaltungsteils zur Spannungssta¬ bilisierung; mit 3 ist die parasitäre Substratdiode, mit 5 eine zwi¬ schen den Anschlußfleck 03 und den Kollektor 23 geschaltete Diode und mit 6 eine der Diode 5 nachgeschaltete Kapazität - in diesem Beispiel eine Kapazitätsdiode - bezeichnet. Die Diode 5 verhindert in Verbindung mit dem Kondensator 6 sicher das Polen der Diode 3 in Durchlaßrichtung; der Kondensator 6 ist erforderlich, um ein durch Eigenkapazität und Sperrträgheit der Diode 5 bedingtes restliches Untertauchen des Potentials am Kollektor 23 unter das Massepotential sicher zu verhindern. Ist die an die Diode 5 angeschlossene Schal¬ tung allein schon gegen die restliche überlagerte HF-Amplitude empfindlich, kann der Kondensator 6 darüber hinaus vergrößert wer¬ den. Die Diode 5 kann auch durch die Emitter-Basis-Diode eines pnp-Transistors gebildet werden; in diesem Fall ist der Kondensator 6 an den Kollektor des pnp-Transistors anzuschließen. Von dem pn-Übergang 5 etwa erzeugte Minoritäten breiten sich nicht aus, da sie von dem an 23 anstehenden positiven Gleichpotential eingefangen werden.
Im Beispiel von Figur 4 liegt der Emitter 21 des npn-Transistors 2 am Anschlußfleck 01, sein Kollektor 23 am Anschlußfleck 03; parallel zu dem bei negativem Kollektorpotential in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang 3 ist jetzt eine Diode 7 geschaltet, deren Elektroden über die mindestens als Bahnwiderstände vorhandenen Widerstände 71 und/oder 73 mit Emitter 21 und Kollektor 23 verbunden sind; die Diode 7 reduziert eventuell in Verbindung mit den Widerständen 71 und/oder 73 den Richtstrom durch 3; besonders vorteilhaft ist eine Schottkydiode als Diode 7, da sie mit einer erheblich niedrigeren Durchlaßspannung als 3 darstellbar ist und nahezu keine Minoritäten injiziert.
Nicht immer läßt sich die Injektion eines Minoritätsstroms ganz ver¬ meiden oder hinreichend reduzieren. In diesem Fall hilft das Abfan¬ gen des Minoritätsstroms mittels einer Barriere. In Figur 5 ist in das Beispiel von Figuren la, b die mit 8 bezeichnete Barriere zwi¬ schen die als npn-Transistor wirkende Diode 3 und den durch den Minoritätsström zu störenden pnp-Transistor 4 geschaltet. Die Barriere 8 ist über die Stromquelle 81 positiv vorgespannt; sie ver¬ mag den gesamten Minoritätsstrom aufzunehmen, sofern der Strom des Stromgenerators 81 hinreichend ergiebig ist; um die notwendigen ho¬ hen Ruheströme zu vermeiden, sieht eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung vor, diesen Strom als eine Funktion des Rieht- bzw. Minoritätsstroms auszubilden. Ein mögliches Ausführungsbeispiel wird später anhand der Figuren 8a, b gezeigt werden. Damit der Minori¬ tätsstrom sicher abgefangen wird, sollte die Barriere entweder die kritischen Teile der monolithisch integrierten Schaltung oder aber die Minoritätsströme injizierenden Komponenten umschließen. Beson¬ ders vorteilhaft ist, letztere am Chiprand anzuordnen und die hin¬ reichend breite Barriere 8 von Chiprand zu Chiprand über Eck oder gerade durch gehen zu lassen. Außerdem ist es vorteilhaft, im Layout unmittelbar anschließend an die Barriere 8 die gegen Minoritätsströ¬ me unempfindlicheren Teile der monolithisch integrierten Schaltung anzuordnen, wodurch sich der Aufwand für eine störsichere Schaltung reduzieren läßt. Üblicherweise wird die Störsicherheit nur für be¬ stimmte Grenzfeldstärken der störenden Sender bzw. bestimmte Grenz¬ richtströme gefordert. In der Praxis können jedoch auch noch höhere Feldstärken bzw. Richtströme vorkommen, so daß die angewandten Schutzmittel versagen. Für diesen Fall ist es zweckmäßig, dafür zu sorgen, daß das Gesamtsystem in einen möglichst ungefährlichen Zu¬ stand übergeht. Folgende Beispiele seien genannt: 1, Ein Regler für große Ströme (etwa 30 A) könne durch einen Minori¬ tätsstrom durchgehen, sobald dieser den Regelkreis durchbricht; da der Leis ungstransistör eine niedrige Sättigungsspannung aufweisen soll, könnte er bei direkter Ansteuerung außerhalb der Sättigung noch sehr viel höhere Ströme (etwa 50 - 100 A) ziehen. Dies läßt sich sicher dadurch vermeiden, daß beispielsweise die Komponente des strombestimmenden Stromspiegels, die durch Aufnehmen eines Minori¬ tätsstroms den Strom des Leistungstransistors abregelt, im Layout bevorzugt im Einzugsbereich des Minoritätsstroms angeordnet ist.
2. Ein Hallsensor im Zündverteiler eines Kraftfahrzeugs mit einer digitalen MotorSteuerung diene allein zur Bestimmung des Zylinders 1; er darf während des Betriebs momentan ausfallen, sofern er die Zündung nicht beeinflußt; dies ist dann der Fall, wenn der Kollektor 23 seines Ausgangsstransistors nicht in den durchgeschalteten Zu¬ stand übergeht. Auch diese Forderung ist durch die Anordnung der entsprechenden Komponenten im Layout für den Fachmann leicht einzu¬ halten.
In den Figuren 6a bis 6e ist beispielhaft ein möglicher Prozeß zur Darstellung des Gegenstandes der Erfindung anhand eines Schnittbil¬ des der Strukturen etwa erforderlicher Avalanche-, Schottky- bzw. Kapazitäts-Dioden wiedergegeben. Es bedeuten:
000 Substrat
001 "buried layer"
002 Isolierungsdiffusion 100 Epitaxie
003 Kollektoranschluß-Diffusion
004 Basisdiffusion
005 Emitterdiffusion
006 Deckoxid
007 Metallisierung 070 Kontaktfenster Auf die Darstellung einer üblichen Schutzschicht aus Plasmanitrid oder dergleichen wurde verzichtet.
Die Isolierungsdiffusion 002 ist weit, die Kollektoranschluß-Diffu¬ sion 003 eng von links unten nach rechts oben, das strukturierte Me¬ tall 007 dagegen von links oben nach rechts unten schraffiert wie¬ dergegeben.
Die Diode nach Figur 6a ist mittels der auf dem buried layer 001 aufsitzenden Isolierungsdiffusion 002 gebildet; je nach Führung der Herstellungsprozesse ergeben sich Durchbruchspannungen zwischen etwa 10 und 25 V. Die Diode nach Figur 6b ist mittels einer innerhalb der Isolierungsdiffusion 002 liegenden Emitterdiffusionszone 005 gebil¬ det mit einer niedrigeren Durchbruchspannung von ca. 6 V, dafür aber einem höheren Kapazitätsbelag. In Figur 6c ist die übliche Ba¬ sis(004)-Emitterdiode (005) dargestellt; sie besitzt einen größeren Bahnwiderstand, ist dafür jedoch gegen das Substrat 000 durch den n-dotierten Raum 100 (Epitaxie) üblicherweise höhersperrend iso¬ liert. Die Diode nach Figur 6d ist aus den Zonen buried layer (001) und Emitter (005) gegen die Isolierung (002) in einer Sandwich-An¬ ordnung gebildet, wobei der buried layer über die Kollektoran¬ schluß-Diffusion 003 herausgeführt ist. Wird 005 mit 003 verbunden, so ergibt sich eine größere Kapazität. Wird dagegen nur 005 gegen 002 genutzt, so ergibt sich durch die doppelte Sperrschichtisolie¬ rung eine Diode nach 6b in bipolarer Ausführung. Die Schottkydiode nach Figur 6e ist beispielsweise direkt mit einer AI-Elektrode als Anode 511 und der n-dotierten Epitaxie 100 als Kathode gebildet; auf Maßnahmen zur Unterdrückung der Feldemission durch Spitzenwirkung entlang des Kontaktfensterrands wurde hier nicht eingegangen, da bei niedrigen Sperrspannungen darauf verzichtet werden kann; wenn nicht, können sie der Literatur entnommen werden. Die Anordnungen nach Figur 6 lassen sich der Aufgabe entsprechend auch als Avalanchedioden oder Kapazitätsdioden verwenden. Als Ava- lanchediode ist ihre Fläche entsprechend der aufzunehmenden Sto߬ energie, als Kapazitätsdiode entsprechend der geforderten Kapazität auszulegen. Um den vielfältigen Forderungen einer Schaltung besser gerecht zu werden, lassen sich die Dioden nach Figur 6, wie an eini¬ gen Beispielen der Figuren 7a - c gezeigt ist, beliebig kombinieren.
In Figur 8a ist der Gegenstand der Erfindung anhand einer beispiel¬ haften Schaltung erläutert: Mit 01, 02 sind wieder die Anschlu߬ flecken für die negative (Masse) und die positive Betriebsspannung, mit 03 der Anschlußfleck für den Kollektor des Ausgangstransistors bezeichnet. Die Dioden 51, 52 und 53 mit ihrem Innenwiderstand 54 dienen dem Schutz der Schaltung gegen der Betriebsspannung überla¬ gerte Spannungsspitzen; ist ihre Kapazität hinreichend groß, so kön¬ nen sie auch nach Patentanmeldung P 38 02 822 zur Dämpfung der an 02/01 angeschlossenen Leitung dienen; durch die gegengeschaltete Diode 51 wird die gesamte Schaltung verpolungsfest. Ferner ist 5 ei¬ ne Schottkydiode nach Figur 3 zum Unterdrücken der sonst durch hoch¬ frequente Wechselspannungen erzeugten Richtströme im Kollektorkreis des Längstransistors 1 (entsprechend 2 von Figur 3); der Ausgang der Diode 5 ist durch die Diode 61 kapazitiv mit Masse 01 verbunden. Der Ausgangstransistor ist mit 2 bezeichnet. Da sich die durch hochfre¬ quente Wechselspannungen entstehenden Rieht- und Minoritätsströme wegen der Forderung nach einer niedrigen Sättigungsspannung von 2 nicht verhindern lassen, ist die Barriere 8 zwischen den Ausgangs¬ transistor 2 und den mit 44 bezeichneten aktiven Teil der mono¬ lithisch integrierten Schaltung angeordnet. Die Diode 74 mit dem (Bahn-)Widerstand 75 dient zum Schutz des Transistors 2 gegen Über¬ spannungen und eventuell auch zur weiteren Dämpfung der am Anschlu߬ fleck 03 angeschlossenen Leitung. Die Barriere 8 besteht aus zwei Teilen: einer vorgelagerten Rekombinationszone, die aus der mittels der Epitaxie eventuell in Verbindung mit der buried-layer-Diffusion erzeugten Sperrschicht 82 besteht und die über die als Emitter wirkende in ihr sich befindende p-dotierte Zone 83 am kathoden- seitigen Ende der Diode 5 - also an wechselspannungs rmer Betriebs¬ spannung - angeschlossen ist; sie bilden Basis 82 und Emitter 83 des als Stromquelle 81 dienenden pnp-Transistors, dessen Kollektor gleich der als ohmscher Substratkontakt wirkenden Zone 84 zum Absaugen des Minoritätsstroms ist; der in das Substrat fließende Strom wird somit durch den Minoritätsstrom selbst erzeugt. Der Tran¬ sistor 81 kann auch als Darlington ausgebildet sein, um einen zum Absaugen des gesamten MinoritätsStroms ausreichenden Kollektorstrom sicherzustellen. Wegen des relativ großen aufzunehmenden Stroms kann der Emitter 83 auch direkt am Anschlußfleck 02 für die Betriebsspan¬ nung liegen bzw. auch über eine eigene Diode dort angeschlossen sein.
Die durch die Zone 84 im Substrat erzeugte vertikale Feldkomponente wirkt auch noch in der Umgebung der Rekombinationszone 82 und e.rhöht deren Rekombinationsstrom und somit auch den Basisstrom des pnp-Transistors 81. Während bei großen Minoritätsströmen infolge des hohen Dichtegradienten genügend Rekombinationsström auf die Basis 82 fließt, kann er bei kleinen Strömen nicht ausreichen; mittels des Widerstands 85 (Figur 8 a) bzw. der Stromquelle 86 (Figur 8 b) wird ein hinreichender Vorstrom auf die Basis 82 erzeugt.
Zu den Komponenten 51, 5, 1, 44, 61, 8, 74 und 2 ist die Struktur einer möglichen Anordnung im Layout in der Figur 8b wiedergegeben; am linken Rand ist noch die Diode 52 angeschnitten. Die einzelnen Zonen der Struktur sind bereits anläßlich der Beschreibung zu Figur 6 erläutert worden. Vom Anschlußfleck 02 ausgehend sind nach links die zur Schutzschaltung gehörenden Dioden 51 und 52 (weiter links käme 53) angeordnet, nach rechts die Schottkydiode 5, die mit dem Längstransistor 1 einen gemeinsamen buried layer aufweist. An- schließend beginnt der mehr oder weniger komplexe aktive Teil 44 der monolithisch integrierten Schaltung. Am äußersten rechten Ende liegt der bei negativem Kollektorpotential Minoritätsströme injizierende Transistor 2. Die Barriere 8 zwischen 2 und 44 wird gebildet durch die Rekombinationselektrode 82 und die Isolierungsdiffusionszone 84 als ohmschem Kontakt zum Substrat und Kollektor des als Stromquelle
81 dienenden pnp-Transistors zum Absaugen des Minoritätsstroms. Zwischen der Barriere 8 und der restlichen Schaltung 44 ist der Kondensator 61 angeordnet; hierdurch wird der Abstand zwischen dem o insehen Kontakt zum Substrat 84 und der nächstbenachbarten an Masse liegenden Isolierungsdiffusionszone 023 und damit der dazwischen¬ liegende Substratwiderstand vergrößert. Innerhalb des pnp-Transi¬ stors 81 ist es vorteilhaft, zwischen die Isolierungsdiffusionszone 022 und den p-dotierten Emitter 83 eine Kollektoranschluß-Diffu¬ sionszone 003 zum etwa ganz oder teilweise vorhandenen buried layer
82 einzubringen. In dieser Schaltung ist es in der Regel nicht zweckmäßig, die Diode 5 und den npn-Transistor 1 durch einen pnp-Transistor zu ersetzen, da dieser dann auch den aufzunehmenden Minoritätsstrom, also ein Vielfaches des regulären Betriebsstroms, liefern müßte.
Eine weitere Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, Barrieren in den oben beschriebenen Formen um zu schützende Komponenten der Schaltung zu legen, um damit den Gesamtaufwand eventuell zu reduzieren.
In der Anordnung von Figur 9a, b wird das notwendige Potential zum Absaugen des Minoritätsstroms durch den Rieht- und Minoritätsstrom selbst erzeugt. Im Schaltbild der Figur 9a ist zusätzlich zu der bereits bekannten Schaltung zwischen der Anode 32 der Kollektor-Sub¬ stratdiode 3 und dem Masseanschluß des Substrats 01 ein durch Sub¬ strat und darin eindiffundierten Isolierungsdiffusionszonen 002 gebildeter Widerstand 34 eingebracht. Sein Widerstandswert läßt sich leicht durch den Anteil der widerstandsbestimmenden Isolierungs¬ diffusionszonen einstellen. Wird der Kollektor 23, 31 negativ, so fließt der Strom 35 von dem Masseanschluß 01 durch den Widerstand 34 weiter im Substrat durch den pn-Übergang 32, 31 zum Kollektoran- schluß 03. Der Anschluß 01 wird positiv. Im Layout von Figur 9b ist der Widerstand 34 mittels des Substrats 000 und den in der Schnitt¬ ebene verlaufenden, also nicht sichtbaren, Isolierungsdiffusions¬ zonen 002 dargestellt, die Anode 32 durch dieselben Zonen und die Kathode 31 durch den buried layer 001, der über die Kollektoran¬ schlußdiffusion 003 mit dem Kollektoranschluß 03 verbunden ist.
Kondensatoren lassen sich auch mittels dielektrischer Zwischen¬ schichten aus dem regulären IC-Prozeß, oder zusätzlich aufgebracht, erzeugen. Figur 10 gibt hierzu ein Beispiel mit dünnem Emitteroxid 060 als Dielektrikum; eine Zone aus Emitterdiffusion 005, verstärkt durch die Kollektordiffusion 003, bildet die mit 01 kontaktierte Festkörperelektrode, 63 ist die Gegenelektrode aus Material des Lei¬ terbahnsystems (AI) bzw. auch aus Polysilizium oder dergleichen.
Soll die Elektrode 01 beide Polaritäten gegen das Substrat sperren, so ist die Emitterzone 005 in eine nicht zum Substrat reichende p-dotierte Zone - hier die Basiszone 004 - einzubringen.
Richtströme gegen das Substrat lassen sich auch vermeiden durch eine dielektrische (Oxid, Nitrid oder dergleichen) Isolation der Wanne des Transistors 2 entsprechend der Anordnung nach Figur 11; mit 061 ist die dünne Isolierschicht zwischen dem Kollektor 23 des Transi¬ stors 2 und dem Substrat 000 bezeichnet; alle anderen Bezeichnungen sind schon bekannt. Wird dieser hochkomplexe Herstellungsprozeß aus anderen Gründen benötigt, so ist dies eine günstige Lösung.
Richtströme und damit die Injektion eines Minoritätsstroms in das Substrat lassen sich aber auch durch Einbringen einer weiteren Sperrschicht entsprechend Figur 12 besonders bei AnfangsStufentran¬ sistoren unterdrücken. Hierzu ist ein Herstellungsprozeß verwendet, der eine untere Isolierungsdiffusion 020 und eine obere Isolierungs¬ diffusion 021 aufweist. Wird die untere Isolierung auf eine buried-layer-Zone aufgesetzt und die Seitenwände der Wanne ringför¬ mig mittels der oberen Isolierung 021 eingebracht, so ergibt sich eine gegen das Substrat bipolar sperrende Wanne.
Eine weitere Möglichkeit, Minoritätsströme unschädlich zu machen, besteht darin, die Trägerlebensdauer der Minoritäten im Substrat durch Einbringen von Rekombinationszentren drastisch zu senken. Unterstützend kann auch eine Maßnahme zum Erhöhen der Rekombina¬ tionsrate auf der Rückseite des Chips mindestens im Bereich der Barriere 8 sein.
Kern der Erfindung sind in eine monolithisch ingetrierte Schaltung einzubringende Mittel, um die unter dem Einfluß hochfrequenter Wechselspannungen, Signalspannungen bzw. parasitärer Effekte in das Substrat injizierten Minoritätsströme entweder zu vermeiden, zu dämpfen oder aber ihre Auswirkung auf die Schaltung zu reduzieren. Hierdurch wird es in vielen Fällen möglich, die Funktion eines elek¬ tronischen Systems mit monolithisch integrierten Schaltungen ohne zusätzlichen Aufwand an diskreten Komponenten sicherzustellen bzw. im Falle eingestrahlter Störspannungen auf etwa in Steckverbindungen nur schwierig unterzubringende Entstörmittel ganz zu verzichten oder mindestens den Aufwand dafür zu reduzieren.

Claims

Ansprüche
1. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät, zu dem von außen Leitungen geführt sind, wobei auf den Leitungen durch äußere hoch¬ frequente elektromagnetische Felder, wie sie in der Umgebung starker Sender auftreten, hochfrequente Wechselspannungen influenziert werden mit Amplituden ähnlicher Größenordnung und höher als das momentan anliegende Leitungspotential, wodurch mindestens einer der mit der Leitung mittel- oder unmittelbar verbundenen und im Arbeits¬ bereich gesperrten pn-Übergänge durch die influenzierte hochfrequen¬ te WechselSpannung im Bereich negativer Halbwellen in Durchlaßrich¬ tung gepolt ist, wodurch Richtströme entstehen, bzw. durch im elek¬ tronischen* System selbst, von Signalspannungen und/oder parasitären Effekten an denselben pn-Übergängen erzeugte Richtströme, die Mino¬ ritätsströme in das den betreffenden pn-Übergang umgebende Halb¬ leitermaterial hinein injizieren, die wenigstens teilweise von wenigstens einer der Komponenten der monolithisch integrierten Schaltung eingefangen werden und deren Arbeitspunkt verschieben, was zu einer Funktionsstörung des elektronischen Geräts führt, gekenn¬ zeichnet durch Mittel zum Verhindern und/oder Reduzieren der Injek¬ tion des Minoritätsstroms und/oder zum Dämpfen des sich ausbreiten¬ den Minoritätsstroms und/oder zum Minimieren der Folgen einer mino- ritätsstrombedingten Störung des elektronischen Geräts (in bezug zur Funktion der Anlage) .
2. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das im Bereich negativer Halbwellen der influenzierten hochfrequenten WechselSpannung bzw. im Bereich negativer SignalSpannungen und/oder negativer parasitärer Spannungen auftretende momentane Polen in Durchlaßrichtung mittels einer Diode (5) im Leitungszug verhindert ist (Figur 3).
3. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die im Leitungszug liegende Diode (5) eine Schottky-Diode ist (Figur 3).
4. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß dem im Bereich negativer Halbwellen der influenzierten hochfrequenten WechselSpannung bzw. im Bereich nega¬ tiver Signalspannungen und/oder negativer parasitärer Spannungen in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang eine Diode (7) gleicher Polarität parallelgeschaltet ist (Figur 4).
5. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die dem pn-Übergang parallelgeschaltete Diode (7) gleicher Polarität eine Schottky-Diode ist (Figur 4).
6. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die dem pn-Übergang in Reihe geschaltete (5) bzw. parallelgeschaltete (7) Diode eine Avalanche-Diode ist (Figur 4).
7. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Wider¬ stand (71, 73) in die Verbindung der beiden Elektroden des pn-Über- gangs und der ihm parallelgeschalteten Diode gleicher Polarität geschaltet ist (Figur 4).
8. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine der Komponenten mit einem im Bereich negativer Halbwellen der hochfre¬ quenten Wechselspannung bzw. durch im elektronischen System selbst von Signalspannungen und/oder parasitären Effekten in Durchlaßrich¬ tung gepolten pn-Übergang (31, 32) an der Peripherie des Chips angeordnet ist (Figur 1).
9. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der Ansprüche 2 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine der den pn-Übergängen in Reihe geschalteten bzw. parallelgeschalteten Dioden (5, 7) an der Peripherie des Chips angeordnet ist (Fig. 3, 4).
10. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß in der Umge¬ bung von pn-Übergängen, die im Bereich negativer Halbwellen der hochfrequenten Wechselspannungen bzw. durch im elektronischen S.ystem selbst von SignalSpannungen und/oder parasitären Effekten in Durch¬ laßrichtung gepolt sind, gegen Minoritätsströme unempfindliche Kom¬ ponenten der Schaltung angeordnet sind.
11. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß seine Schal¬ tung unter dem Einfluß von durch negative Halbwellen hochfrequenter Wechselspannungen bzw. durch im elektronischen System selbst von SignalSpannungen und/oder parasitären Effekten injizierten Minori¬ tätsströme in einen Zustand überführt wird, der die geringsten Fol¬ gen für die Funktion der gesamten Anlage zeitigt.
12. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine Barriere (8) zum Absaugen und/oder Rekombinieren des Minoritätsstroms, die mindestens einen zeitweilig in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang mindestens teilweise ringförmig umgibt (Figur 5).
13. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch
12, dadurch gekennzeichnet, daß die Barriere (8) zum Absaugen des Minoritätsstroms gebildet ist durch einen ohmschen Kontakt zum Sub¬ strat, der mit einer Strom- oder Spannungsquelle verbunden ist
(Figur 5 und 8) .
14. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch
13, dadurch gekennzeichnet, daß die Barriere (8) zum Absaugen des Minoritätsstroms gebildet ist durch einen ohmschen Kontakt (84) zum Substrat, der mit dem Kollektor eines pnp-Transistors verbunden ist, dessen Basisstrom vom injizierten Rieht- bzw. Minoritätsstrom ab¬ hängig ist (Figur 8).
15. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch
14, dadurch gekennzeichnet, daß die Barriere (8) zum Absaugen des Minoritätsstroms gebildet ist durch einen ohmschen Kontakt (84) zum Substrat, der mit dem Kollektor eines pnp-Transistors (81) verbunden ist, dessen Basisstrom direkt aus dem injizierten Minoritätsstrom gewonnen ist (Figur 8).
16. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die eine Rekombinationszone bildende Barriere (8) besteht aus einem pn-Übergang zum Substrat, dessen an Spannung liegende n-dotierte Elektrode durch die epitaktische Zone (100) ohne oder mit buried-layer-Zone (82) und dessen p-dotierte Zone durch das Substrat (000) gebildet ist (Figur 8).
17. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der Ansprüche 13 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Barriere (8) gebildet ist durch einen eine Rekombinationszone darstellenden pn-Übergang zum Substrat, dessen an Spannung liegende n-dotierte Elektrode durch die epitaktische Zone (100) ohne oder mit buried-layer-Zone (82) ausgeführt ist, in Verbindung mit einem zum Absaugen des restlichen Minoritätsstroms dienenden nachgeschalteten ohmschen Kontakt (84) zum Substrat.
18. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der Ansprüche 13 bis 17, dadurch gekennzeichnet, daß die n-dotierte Elektrode des pn-Übergangs zum Substrat zwischen der mindestens einen, Minoritäten injizierenden Komponente (2) und dem ohmschen Kontakt (84) zum Substrat angeordnet ist, daß die n-dotierte Elektrode die Basiselektrode (82) des pnp-Transistors, eine darin eingebettete an Spannung liegende p-dotierte Zone seinen Emitter (83) bildet und sein lateral angeordneter p-dotierter Kollektor entweder durch den ohmschen Kontakt (84) zum Substrat direkt gebildet ist oder aber durch eine Leitung mit dem ohmschen Kontakt verbunden ist (Figur 8).
19. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der Ansprüche 13 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß weitere Substrat¬ kontakte (022, 023) in einem Abstand zur Zone mit dem ohmschen Kontakt (84) zum Substrat angeordnet sind, um einen hinreichend großen Widerstand zum Aufbau des zum Absaugen des Minoritätsstroms erforderlichen Potentials zu bilden (Figur 8b).
20. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach den Ansprüchen 12 und 13, dadurch gekennzeichnet, daß der die Barriere (8) bildende ohmsche Kontakt zum Substrat mit dem allgemeinen Substratanschluß (01) niederohmig verbunden ist, während der durch eine Isolierungsdiffusionszone berandete Flächenbereich des Sub¬ strats, in dem die den Minoritätsstrom injizierende Komponente (2) angeordnet ist, nicht unmittelbar mit dem Substratanschluß verbunden ist, wodurch sich das zum Absaugen des Minoritätsstroms erforder¬ liche Potential in dem so erzeugten Substratwiderstand (34) durch den Richtstrom selbst bildet (Figur 9).
21. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine an Spannung liegende n-dotierte Barriere um mindestens eine der zu schützenden Komponenten, die gegen diese isoliert ist und diese mindestens teil¬ weise umgibt.
22. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine entsprechend den Ansprüchen 12 bis 19 ausgeführte Barriere um mindestens eine der zu schützenden Komponenten.
23. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch mindestens eine an Spannung liegende n-dotierte Barriere und auf der Rückseite des Chips durch mindestens im Bereich von Barrieren eingebrachte Rekom¬ binationszonen.
24. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der zum Ver¬ hindern des im Bereich negativer Halbwellen der influenzierten hoch¬ frequenten Wechselspannung auftretenden Polens eines pn-Übergangs in Durchlaßrichtung in Reihe liegenden Diode (5) ein Kondensator (6) nachgeschaltet ist (Figur 3).
25. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Avalanche- oder Kapazitätsdiode dargestellt ist durch die von buried-layer und Sperrschichtisolierung gebildeten Diffusionszonen (Figur 6a).
26. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Avalanche- oder Kapazitätsdiode dargestellt ist durch die von Emitter und Sperrschichtisolierung gebildeten Diffusionszonen (Figur 6b).
27. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Avalanche- oder Kapazitätsdiode dargestellt ist durch die von Emitter und Basis gebildeten Diffusionszonen (Figur 6c).
28. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Avalanche- oder Kapazitätsdiode dargestellt ist durch eine Sandwich-Anordnung der von buried-layer, Emitter und Sperr¬ schichtisolierung gebildeten Diffusionszonen (Figur 6d) .
29. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Avalanche- oder Kapazitätsdiode dargestellt ist durch die Gegen- einanderschaltung von mindestens zwei der durch die genannten Diffusionszonen dargestellten Dioden (Figur 7a) .
30. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Avalanche- oder Kapazitätsdiode dargestellt ist durch die Reihen¬ schaltung von mindestens zwei der durch die genannten Diffusions¬ zonen dargestellten Dioden (Figur 7b).
31. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Avalanche- oder Kapazitätsdiode dargestellt ist durch die Reihen- und Gegeneinanderschaltung von mehr als zwei der durch die ge¬ nannten Diffusionszonen dargestellten Dioden (Figur 7c).
32. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß der Kondensator (61) im Abstand zwischen mindestens einem der weiteren Substratkontakte (023) und der Zone mit dem ohmschen Kontakt (84) untergebracht ist (Figur 8b).
33. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß im Abstand zwischen weiteren Substratkontakten (023, ...) und der Zone mit dem ohmschen Kontakt (84) mindestens eine andere bzw. weitere Komponente der Schaltung untergebracht ist.
34. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mehr als eine Komponente mit einem im Bereich negativer Halbwellen der hoch¬ frequenten Wechselspannungen bzw. durch im elektronischen System selbst von Signalspannungen und/oder parasitären Effekten in Durch¬ laßrichtung gepolten pn-Ubergang örtlich zusammengefaßt ist und die Zusammenfassung mindestens teilweise von einer Barriere umgeben ist.
35. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine Elektrode des Kondensators gebildet ist durch mindestens einen leitfähigen Belag (63) auf einer der dielektrischen Deckschichten (60) der monolithisch integrierten Schaltung (Figur 10).
36. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch mindestens eine Komponente mit einem im Bereich negativer Halbwellen der hochfrequenten Wechselspannungen bzw. durch im elektronischen System selbst von Signalspannungen und/oder para¬ sitären Effekten in Durchlaßrichtung gepolten pn-Übergang, deren Wanne gegen das Substrat zum Verhindern eines pn-Übergangs dielek¬ trisch isoliert ist (Figur 11).
37. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch mindestens eine Komponente mit einem im Bereich negativer Halbwellen der hochfrequenten Wechselspannungen in Durch¬ laßrichtung gepolten pn-Übergang, deren Wanne gegen das Substrat mittels einer zusätzlichen Diffusionszone (020) isoliert ist (Figur 12).
38. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch ein Substrat mit künstlich reduzierter Träger¬ lebensdauer zur raschen Rekombination der injizierten Minoritäten.
39. Elektronisches, monolithisch integriertes Gerät nach Anspruch 14 und/oder 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Basis (82) des latera¬ len pnp-Transistors mit einem ohmschen Widerstand (85) bzw. über ei¬ ne Stromquelle (86) mit Masse verbunden ist (Figur 8 a, b).
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4133245C2 (de) * 1991-10-08 2001-09-20 Bosch Gmbh Robert Bipolare monolithisch integrierte Schaltung
US5514612A (en) * 1993-03-03 1996-05-07 California Micro Devices, Inc. Method of making a semiconductor device with integrated RC network and schottky diode

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5582467A (en) * 1978-12-18 1980-06-21 Toshiba Corp Mis type integrated circuit with schottky clamp diode
FR2492165A1 (fr) * 1980-05-14 1982-04-16 Thomson Csf Dispositif de protection contre les courants de fuite dans des circuits integres
IT1197279B (it) * 1986-09-25 1988-11-30 Sgs Microelettronica Spa Dispositivo integrato per schermare l'iniezione di cariche nel substrato, in particolare in circuiti di pilotaggio di carichi induttivi e/o capacitivi

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See references of WO9001801A2 *

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EP0645818B1 (de) 2001-11-21

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