DE962914C - Abgeschirmter Hochohmwiderstand zur genauen Messung der Groesse und Phasenlage hoher Wechselspannungen - Google Patents

Description

• Abgeschirmter Hochohmwiderstand zur genauen Messung der Größe und Phasenlage hoher Wechselspannungen Zur genauen Messung der Größe und Phasenlage hoher Wechselspannungen benutzt man Hoch@ ohmwiderstände besonderer Art, die vor das Meßinstrument geschaltet werden. Zur Vermeidung -von kapailtiven Strömen zwischen den Windungen des Meßwiderstandes und ihrer Umgebung infolge des äußeren elektrischen Feldes, die das Meßergebnis nach Größe und Phase fälschen würden, wird in bekannter Weise um den hochohmigen Meßwiderstand ein Schirmwiderstand angeordnet. Es ist jedoch selbst durch völlige Abschirmung des Meßwiderstandes nicht zu verhindern, daß der Strom im Meßinstrument infolge der kapazitiven Fehiströme gegenüber der Spannung eine vor- oder nacheilende Phase erhält. Auch der Betrag des -Widerstandswertes wird unter Umständen durch die kapazitiven Streuströme beeinflußt. Nach einer bekannten Methode wurde die Kompensation dieser Fehler dadurch bewirkt, daß man den Meßwiderstand teilweise aus der Abschirmung herauszog, wodurch der Meßwiderstand wegen der kapazitiven Verlustströme eine scheinbare induktive Komponente bekommt. Diese Art des Abgleichs erfordert verschiebbare Abschirmungen und damit teure Meßwiderstände und ist zudem bei Hochspannung schwierig durchzuführen. Erfindungsgemäß werden diese Nachteile dadurch vermieden, daß der genaue Abgleich des Phasenwinkels des Meßwiderstandes mittels zusätzlicher Widerstände im Schirmwiderstandskreis und der Abgleich der Größe des Meß- widerstandes durch Zusatzwiderstände im Meßwiderstandskreis erfolgt. Wenn jedes der beiden Enden des Meßwiderstandes durch entsprechende Vorschaltwiderstände abgeglichen wird, so ergibt sich der Vorteil, daß sowohl am erdseitigen als auch am hochspannungsseitigen Ende Meßinstrumente angeschlossen werden können, wodurch man eine optimale Ausnutzung der erflndungsgemäßen Anordnung erhält. Besonders leicht und genau ist der erflndungsgemäße Abgleich durchzuführen, wenn der Meßwiderstand selbst schon vorher durch Maßnahmen im Innern des Spulenkörpers, in dem sich der Meßwiderstand befindet, nahezu auf seinen vorgeschriebenen Wert gebracht worden ist. Solche Maßnahmen sind z. B. geeignete Ausbildung der Endelektroden, Verwendung geeigneter Anzapfungen, Überbrückung von Wicklungsteilen, Anbringung zusätzlicher Schirmelektroden oder zusätzlicher Widerstände im Innern des Spulenkörpers, so daß die außen vorgeschalteten Widerstände nur noch für geringe Korrekturen gebraucht werden.
• Bei Anwendung dieser Maßnahmen erscheint es außerdem zweckmäßig, den Phasenwinkel des Meßwiderstandes derartig abzugleichen, daß der dem Meßwiderstand entnommene Strom an beiden Enden eine geringe nacheilende Komponente gegenüber der Spannung erhält.
• Die erfindungsgemäße Anordnung weist einen weiteren Vorteil auf, der darin besteht, daß der Meßwiderstand durch an seine Enden angeschlossene Vorwiderstände nur dem Betrage nach abgeglichen wird, während die Korrektur seines Phasenwinkels durch Zusatzwiderstände im Schirmwiderstandskreis vorgenommen werden kann. Bei dieser neuen Art des Phasenabgleichs bleibt nämlich der Betrag des Meßwiderstandes fast konstant, was eine schnelle und genaue Einstellung dieses Widerstandes auf den gewünschten Wert ermöglicht.
• Damit ein Abgleich durch Vorwiderstände gemäß der Erfindung mit Sicherheit ermöglicht wird, ist es vorteilhaft, den Meßwiderstand selbst vor dem endgültigen Abgleich der ganzen Anordnung auf einen etwas kleineren als den verlangten Wert zu bringen und ihm eine geringe induktive Kompotente zu erteilen, weil der Betrag des Meßwiderstandes durch Vorschaltwiderstände nur vergrößert werden kann und weil der Meßwiderstand durch Vorschaltung von Wi rkwiderständen im Schirmkreis eine kapazitive Komponente erhält.
• Wenn im Innern des Hochohmwiderstandes zusätzliche Elektroden angebracht sind, so ist es unter Umständen zweckmäßig, deren Potential ebenfalls durch außen vorgeschaltete Widerstände, durch Anzapfungen an einem Spannungsteiler oder durch eine dem Schirmwiderstand vorgeschaltete Widerstandsanordnn.ng zu beeinflussen.

Claims (5)

1. PATENTANSPRUCHE: I. Abgeschirmter Hochohmwiderstand zur genauen Messung der Größe und Phasenlage hoher Wechselspannungen, dadurch gekennzeichnet, daß der genaue Abgleich des Phasenwinkels des Meß'widerstandes mittels zusätzlicher Widerstände vornehmkch im Schifmwiderstandskreis und der Abgleich der Größe des Meßwiderstandes durch Zusatzwiderstände im Meßwiderstandskreis erfolgt.
2. 2. Hochohmwiderstand nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß der Abgleich durch Vofschaltwiderstände an beiden Enden des Widerstandes vorgenommen wird, um diesen sowohl am erdseitigen als auch am hochspannungsseitigen Ende für genaue Messungen verwenden zu können.
3. 3. Hochohmwiderstand nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein möglichst guter Abgleich schon durch hiabnahmell im Innern des Spulenkörpers, also beispiels weise durch geeignete Ausbildung der Endelektroden, durch Verwendung geeigneter Anzapfungen, durch Überbrückung von Wickiu.ngs teilen, durch Anbringung zusätzlicher Schirmelektroden oder durch zusätzliche Widerstände im Innern des Spulenkörpers erfolgt, so dai) die außen vorgeschalteten Widerstände nur noch für geringe Korrekturen gebraucht werden.
4. 4. Hochohmwiderstand nach Anspruch I oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß mittels der unter Anspruch 3 genannten Maßnahmen der Meßwiderstand auf einen etwas niedrigeren Wert als seinen Nennwert abgeglichen wird.
5. 5. Hochohmwiderstand nach Anspruch I oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß mittels der unter Anspruch 3 genannten Maßnahmen der Phasenwinkel des Meßwiderstandes derartig abgeglichen wird, daß der dem Meßwiderstand entnommene Strom an beiden Enden eine geringe nacheilende Komponente gegenüber der Spannung erhält.

   In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 307 249.