DE961992C - Verfahren zur Ableitung von Frequenzmarken bei der Aufnahme und Ausmessung von Frequenzcharakteristiken mittels oszillographischer Resonanzkurvenaufzeichnung - Google Patents

Verfahren zur Ableitung von Frequenzmarken bei der Aufnahme und Ausmessung von Frequenzcharakteristiken mittels oszillographischer Resonanzkurvenaufzeichnung

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DE961992C
DE961992C DET7632A DET0007632A DE961992C DE 961992 C DE961992 C DE 961992C DE T7632 A DET7632 A DE T7632A DE T0007632 A DET0007632 A DE T0007632A DE 961992 C DE961992 C DE 961992C
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DET7632A
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Inventor
Horst Gerlach
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Telefunken AG
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Telefunken AG
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
    • G01R27/32Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Description

  • Verfahren: zur Ableitung von Frequenzmarken bei der ,Aufnahme und Ausmessung von. Frequenzcharakteristiken mittels oszillographischer Resonanzkurvenaufzeichnung Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Gewinnung von Kennfrequenzen bzw. Frequenzmarken aus einer vorgegebenen Hochfrequenzspannung, insbesondere im Bereich sehr- kurzer elektromagnetischer Wellen. Die Frequenzmarken sind für die Aufnahme und Ausmessung von Frequenzcharakteristiken, z. B. von HdhIraumresonatoren ihoher Kreisgüte, mittels oszillographischer Resonanzkurvenaufzeichnung bestimmt.
  • Frequenzmarken bzw. Kennfrequenzen wurden bisher meist in der Weise gewonnen, daß beispielsweise zur Messung der Kreisgüte eines Hohlraumresonators ein besonderer Meßempfänger mit sehr geringer Bandbreite an die dem MeBobjekt die Hochfrequenzspannung zuführende HochfrequenzqueTle angeschaltet wird, so daB bei Durchlaufen der Empfangsfrequenz des MeBempfängers am MeBempfängerausgang eine Spannung auftritt; die der Anzeige als Frequenzmarke bzw. Kennfrequenz zugeführt werden kann.
  • Die Grenzen für die Anwendung dieses bekannten Verfahrens zur Ausmessung beispielsweise sehr schmaler Resonanzkurven sind einmal durch die Stabilität des Hochfrequenzgenerators und des MeBempfängers bestimmt, andererseits wird- die Hölhe der meßbaren Kreisgüte bei dynamischer Messung mittels oszi.llographischer Aufzeichnung der Resonanzkurve, in die Frequenzmarken eingezeichnet werden, durch den Meßempfänger selbst begrenzt. Dies ist einleuchtend, denn je geringer die Bandbreite des Meßempfängers ist, um so größer wird seine Einschwingzeit, so daß bei schnellem Durchlaufen des Empfangsbereiches des Meßempfängers die Anzeige für die augenblickliche Frequenz zu spät oder unter Umständen überhaupt nicht erfolgt. Außerdem stören noch die durch den Meßempfänger hervorgerufenen Ein-und Ausschwingvorgänge vor allem bei oszillographischer Anzeige sehr wesentlich, da diese ein Verwaschen der Frequenzmarken verursachen. Aus diesen Gründen ist das bekannte Verfahren - im Bereich kürzester Wellen und dort vor allem für die Messung sehr ;hoher Kreisgüten von Resonanzkreisen praktisch nicht mehr brauchbar.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Weg aufzuzeigen, der es ermöglicht, diese Schwierigkeiten zu umgehen. Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht im Gegensatz zu dem bekannten Verfahren gerade im Bereich der kürzesten Wellen Frequenzmarken verhältnismäßig geringen Frequenzabstandes und. sehr hoher Genauigkeit zu erzeugen. Gemäß der Erfindung wird vorgeschlagen, daß dem Meßobjekt ein Frequenzspektrum in Form einer amplitudenmodulierten Trägerfrequenz zugeführt wird, das in seiner Frequenzlage im Sinne einer Überstreichung der Frequenzdharakteristik des Meßobjekts periodisch verschoben wird und bei .dem der Frequenzabstand zwischen der Trägerfrequenz und dem ersten Seitenband gleich dem halben Frequenzabstand zwischen den Frequenzmarken ist, und daß die Summenspannung des Frequenzspektrums am Meßobjekt ausgekoppelt und nach Gleichrichtung der oszillographischen Anzeigevorrichtung zugeführt wird.
  • Es ist an sich bekannt, zur Ausmessung von Frequenzcharakteristiken ein Frequenzspektrum zu verwenden, doch werden nach dem bisher bekannten Verfahren die Frequenzmarken mittels eines besonderen, stark selektiven Kanals erzeugt, der vom eigentlichen M eßkana1 völlig getrennt ist und nicht, wie nach der Lehre der Erfindung, am Meßobjekt selbst gewonnen. Das bekannte Verfahren erfordert daher 'zu seiner Ausübung einen sehr großen Aufwand. Außerdem ist es hiermit nicht möglich, beispielsweise Hohlraumresonatoren sehr )hoher Kreisgüte zu messen, denn Einschwingzeiten in dem gesonderten Kanal für die Gewinnung der Frequenzmarken stören hier ebenso wie bei dem einleitend erwähnten bekannten Verfahren. Demgegenüber ermöglicht es das Verfahren nach der Lehre der Erfindung,-gerade Hohlraumresonatoren sehr hoher Kreisgüte in ihrer Frequenzcharakteristik mittels Frequenzmarken auszumessen bzw. aufzunehmen.
  • Es ist außerdem an sich bekannt, zum Zwecke der Frequenzkurvenaufschreibung von Verstärkern, insbesondere für Rundfunk- und Fernsehempfänger, einen die Meßspannung liefernden Generator gleichzeitig derart in der Frequenz oder Amplitude zu modulieren, daß die Frequenz der Amplitudenmodulation höher liegt als die der Frequenzmodulation. Bei diesem bekannten Verfahren dient indes die Amphtudenmodulation nicht dazu, um Seitenbänder für die Gewinnung von Frequenzmarken zu erzielen, sondern um in der Ausgangsspannung des zu untersuchenden Gerätes nach Gleichrichtung eine Frequenz zu 'erhalten, nämlich .die der Amplitudenmodulation, die dann in einem Resonanzverstärker in beliebiger Weise verstärkt werden kann. Diesem bekannten Verfahren lieg daher weder die Aufgabe der Gewinnung von Frequenzmarken zugrunde;, noch ist dort eine Lösung zur Gewinnung von Frequenzmarken aufgezeigt.
  • Nachstehend wird die Erfindung an Hand von Ausführungsbeispielen näher erläutert.
  • An Hand des in Abb. z dargestellten übers.ichtsschaItbildes soll die Erfindung in ihrer einfachsten Ausführungsform näher erklärt werden. Der Hochfrequenzgenerator i wird über den Modulator 2 mit einer Spannung verhältnismäßig niedriger Frequenz, beispielsweise 5o Hz, in seiner Frequenz moduliert. Der Modulator speist dabei gleichzeitig einePhasenschiebereinrichtung und die Rücklaufverdunklungseinridhtu.ng sowie die Ablenkspannungserzeugung des Oszillographen r2. Der Phasenschieber dient der Herstellung einer bestimmten Phasenlage zwischen dem Frequenzhub des Generators und der Ablenkspannung des Oszillographen. Diese gesamte vom Modulator 2 gespeiste Einrichtung ist mit 2' bezeichnet. Ein weiterer Modulätor q. liefert eine sinusförmig verlaufende Spannung für die Amplitudenmodulation der niederfrequent modulierten Hochfrequenzspannung- des Generators ;, wobei diese Modulationsspannung eine verhältnismäßig hohe Frequenz aufweist, die gerade so groß gewählt ist, daß sie dem halben gewünschten Frequenzabstand der Frequenzmarken entspricht. Vorteilhaft ist es, die Frequenz des Modulators q. veränderbar zu machen, beispielsweise im Bereich von o, i bis 2 MHz. Auf diese Weise läßt sich der Abstand der Frequenz marken beliebig im Bereich zwischen Zoo kHz und q. MHz einstellen. Diese zurAmplitudenmodulation bestimmte Spannung des Modulators .4 wird über die Mödulationsstufe 3 der frequenzmodulierten Hochfrequenzspannung des Generators i aufgedrückt. Eine direkte Modulation des Generators i mittels Modulator 4. wurde vermieden, um Rückwirkungen zwischen den beiden Bauteilen, die bei Impedanzänderungen an. den Ausgangsklemmen des Generators auftreten können, zu beseitigen; denn dies könnte eine weitere, im vorliegenden Fall jedoch unerwünschte Frequenzmodulation zur Folge haben.
  • Die aus der Modulationsstufe 3 austretende, zweifach modulierte Hochfrequenzspannung wird über eine im Zentimeterwellenbereich übliche Meßanordnung, bestehend aus dem Wellenmesser 5. dem Dämpfungsglied 6 und der 1VIeßleitung 7, dem Meßobjekt 8 - im vorliegenden Fall ein Hohlraumresonator - zugeführt. Im Anzeigedetektor der Meßleitung 7 wird die zweifach modulierte Hochfrequenzspannung demoduliert und über den Verstärker i z den vertikalen Ablenkplatten des Oszillographen 12 zugeführt.
  • Der We'hneltzylinder 1q. der Oszillographenröhre erhält von der Rücklaufverdunklungseinrichtung2' in der richtigen Phase einen derartigen Steuerimpuls, daß das Bild auf dem Schirm nur einmal erscheint. Die Resonanzanzeige des Wellenmessers 5 wird verstärkt und versteilert in dem Bauteil 9 und über die Mischstufe io ebenfalls dem Wehneltzylinder der Osz.illographenröhre 12 zugeführt, und zwar in solcher Phase, @daß der Resonanzimpuls in an sich bekannter Weise als scharfeDunkelmarke auf demBildschirm erscheint. Über die Betriebsspannungsquelle 13 wetden die einzelnen Teile der Anordnung mit ihren Betriebsspannungen versorgt.
  • Die Wirkungsweise dieser Anordnung ist wie folgt. Betrachtet man eine mit einer niedrigen Fre-_ quenz in ihrer Frequenz modulierte Hochfrequenzspannung, so ist sie eigentlich nichts anderes als die Ausgangsspannung eines Hochfrequenzgenerators, dessen Frequenz sehr langsam, beispielsweise von Hand, geändert bzw. durchgedreht wird. Moduliert man die Hochfrequenzspannung des Generators mit einer rein sinusförmigen Spannung in ihrer Amplitude, deren Frequenz zwischen der der Frequenzmodulation und der des Trägers liegt, so entsteht in an sich bekannter Weise oberhalb und. unterhalb derTrägerschwingung je ein Seitenband, dessen Abstand von der Trägerschwingung jeweils gleich der Modularionsfrequenz ist. Bei gleichzeitiger Frequenz- undAmplitudenmodullation wird also ein Hochfrequenzträger gebildet, der sich einmal in. seiner - -'requenz mit niederfrequentem Rhythmus ändert und andererseits bei jeder Frequenz innerhalb seines Änderungsbereiches zwei Seitenbänder jeweils im Abstand der Amplitudenmodulationsfreqüenz aufweist. Gibt man eine derart modulierte Hochfrequenzspannung auf den Eingang eines Blindwiderstandes vorgegebener kesonanzkurve, beispielsweise einen Ho-hlraumresonator, so regt die Hochfrequenzspannung beim Durchlaufen des Resonanzbereiches des Hohlraurriresonators diesen zuerst mit ihrem einen Seitenband, dann mit ihrem Träger und schließlich mit ihrem anderen Seitenband an, wobei die Resonanz jeweils auf übliche Weise angezeigt werden kann. Der Nachteil der bekannten Anordnungen, daß für die Resonanzkurvenanzeige und für die Frequenzmarkenerzeugung Gebilde verschiedener Übertragungseigenschaften verwendet werden, tritt also nicht mehr auf.
  • Die auf die vorstehend geschilderte Weise erzeugten beiden Frequenzmarken lassen sich dann in einfacher Weise zur Bestimmung der Halbwertsbreite der Resonanzkurve benutzen. Gegebenenfalls empfiehlt es snoh, dies in der Weise vorzunehmen,-"daß die Frequenzmarken durch Veränderung der Frequenz der Amplitudenmodulationsspannung derart eingestellt werden, daß sie auf dem Anzeigeschirm die Frequenzmarken für die Halbwertsbreite der Resonanzkurve. festlegen. -An Stellte der sinusförmigen Amplitudenrimodulation kann man zur Erzeugung von mehr als zwei Frequenzmarken auch eine Spannung verwenden, die außer der Grundwelle der Sinusschwingung noch Oberwellen derselben enthält. Besonders vorteilhaft ist hierfür die Verwendung einer rechteckförmigen Modulationsspannung.
  • In Abb. 2 ist hierfür ein Schaltungsbeispiel zur . Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens wiedergegeben. Der Unterschied zwischen der Anordnung nach Abb. i und der nach Abb. 2 besteht lediglich- darin, daß bei letzterer Anordnung die Modulationsspannung für die Amplitude nmodulation dem Hochfrequenzgenerator i unmittelbar zugeführt ist, so daß die Modulationsstufe 3 der Anordnung nach Abb. i entfällt. Dies ist möglich, weil bei Verwendung einer Rechteckimpulsspannung, insbesondere mit- einem Tastverhältnis i : i, Frequenzverwerfungen des Generators i, die durch den Modulator q. verursacht werden können, praktisch nicht auftreten: Die übrigen Teile der Schaltungsanordnung arbeiten ebenso wie die entsprechenden Teile der Anordnung nach Abb. i, so däß sich ein weiteres Eingehen auf ihre Wirkungsweise erübrigt.

Claims (3)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Verfahren zur Ableitung von Frequenzmarken bei der Aufnahme und Ausmessung von Frequenzcharakteristiken, z. B. von Hohlraumresonatoren hoher Kreisgüte, mittels oszillographischer Resonanzkurvenaufzeichnung, dadurch gekennzeichnet, daß dem Meßobjekt ein Frequenzspektrum in Form einer amplitudenmodulierten Trägerfrequenz zugeführt wird, das in seiner Frequenzlage im Sinne einer Überstreichung der Frequenzcharakteristik des Meßobjektes periodisch verschoben wird und bei dem der Frequenzabstand zwischen der Trägerfrequenz und dem -ersten Seitenband gleich dem halben Frequenzabstand zwischen den Frequenzmarken ist, und daß die Summenspannung des Frequenzspektrums am Meßobjekt ausgekoppelt und nach Gleichrichtung der oszillographischen Anzeigevorrichtung zugeführt wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch i, dadurch ge-. kennzeichnet, daß dieModulationsspannung für die Amplitudenmodulation eine Rechteckspannung ist.
  3. 3. Verfahren zur Bestimmung der Kreisgüte eines Hohlraumresonators, dessen Resonanzkurve auf dem Schirm eines BraunschenRohres aufgezeichnet wird, unter Anwendung des Verfahrens nach Anspruch i oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Frequenzmarken erzeugt werden, die zur Bestimmung der Halbwertsbreite benutzt werden. q.. Auswerteverfahren für ein Verfahren zur Bestimmung der Kreisgüte nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Frequenzmarken durch Veränderung der Frequenz der Amplitudenmodulationsspannung derart eingestellt werden, daß sie auf dein. Anzeigeschirm die Frequenzmarken für die Halbwertsbreite der Resonanzkurve festlegen. In Betracht gezogene Druckschriften: Österreichische Patentschrift Nr. 165 85a; französische Ps.tentsdhrift Nr. 986 7a2.
DET7632A 1953-03-29 1953-03-29 Verfahren zur Ableitung von Frequenzmarken bei der Aufnahme und Ausmessung von Frequenzcharakteristiken mittels oszillographischer Resonanzkurvenaufzeichnung Expired DE961992C (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4125592A1 (de) * 1991-08-02 1993-02-04 Bruker Analytische Messtechnik Verfahren und vorrichtung zum abstimmen einer hochfrequenz-quelle, insbesondere zum abstimmen einer mikrowellen-quelle eines elektronenspinresonanz-spektrometers auf einen resonator

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT165852B (de) *
FR986722A (fr) * 1949-03-16 1951-08-03 Perfectionnements aux dispositifs de marquage des appareils traceurs de courbes de réponse

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