DE896690C - Elektronenstrahlroehre, insbesondere Roentgenroehre oder Elektronenmikroskop - Google Patents

Elektronenstrahlroehre, insbesondere Roentgenroehre oder Elektronenmikroskop

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DE896690C
DE896690C DEA10853D DEA0010853D DE896690C DE 896690 C DE896690 C DE 896690C DE A10853 D DEA10853 D DE A10853D DE A0010853 D DEA0010853 D DE A0010853D DE 896690 C DE896690 C DE 896690C
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/02Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
    • H01J29/021Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof arrangements for eliminating interferences in the tube

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  • Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)

Description

  • Elektronenstrahlröhre, insbesondere Röntgenröhre oder Elektronenmikroskop Die Erfindung bezieht sich auf eine Elektronenstrahlröhre beispielsweise mit elektrostatischer Fokussierung des Strahles. Unter Elektronenstrahlröhren werden dabei unter anderen verstanden, Röntgenröhren oder Kathodenstrahlröhren für medizinische oder Forschungszwecke (Atomze:rtrümmerungsversuche), ferner Elektronenmikroskope und andere Röhren mit elektronenoptischer Abbildung. Bti solchen Röhren wird der Querschnitt des Elektronenstrahles unter Umständen :durch eine Blende begrenzt. Es entsteht daher .die Frage, wie groß die Öffnung einer solchen Blende vorteilhaft zu wählen ist, eine Frage, die auch bei anderen Elektronenstrahlröhren von Bedeutung ist. Nach der Erfindung wird die den Strahlquerschnitt begrenzende Blende so bemessen, daß das auf der Auftrefffläche des Elektronenstrahles erzeugte Bild der Kathode oder einer Zwischenblende gleich dein bei der Abbildung entstehenden Öffnungsfehlerscheibchen ist. Das Öffnunigsfehlerscheibchen ist derjenige auf ,der Auftrefffiäche entstehende Fleck, der infolge der unvermeidlichen Fehler der Linse bei der Abbildung eines Achsenpunktes entsteht. Wäre nun das Bild größer als das Öffnun.gsfehlerscheibchen, so könnte man. die den Strahlquerschn.itt begrenzende Blende und damit :dieses Schei:bchen vergrößern, ohne daß ein, größerer Fleck entsteht. Man hat dann den Gewinn einer großen Intensität. Wäre dagegen das Bild kleiner als das Öffnungsfehlerscheibchen, so. könnte man das Bild größer machen, ohne daß der Fleck vergrößert wird, und zwar entweder dadurch, daß man die Kathode bzw. die Zwischenblende der Linse nähert, was einen Gewinn hinsichtlich der Rohrlänge bedeutet, oder indem man die Kathode bzw. die Zwischenblende größer macht, was wiederum eine Erhöhung der Intensität bedeutet. Diese Bemessungsvorschrift für die den Strahlquerschnitt begrenzende Blende bezieht sich, wie erwähnt, auf den Fall, daß. der Elektronenfleck als Bild der Kathode oder einer Zwischenblende entsteht.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH: Elektronenstrahlröhre, insbesondere Röntgenröhre oder Elektronenmikroskop, gekennzeichnet durch eine solche Bemessung der den Strahlquerschnitt begrenzenden Blende, daß .das auf der Auftrefffläche des Eleiktronenstrahles erzeugte Bild der Kathode oder einer Zwischenblende gleich dem Öffnungsfehlerscheibchen ist.
DEA10853D 1940-04-16 1940-04-16 Elektronenstrahlroehre, insbesondere Roentgenroehre oder Elektronenmikroskop Expired DE896690C (de)

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