DE888893C - Elektronenmikroskop zur Durchstrahlung eines Objektes mit Kondensorlinse und einer oder mehreren Abbildungslinsen (Objektivlinse, Projektionslinse) - Google Patents

Elektronenmikroskop zur Durchstrahlung eines Objektes mit Kondensorlinse und einer oder mehreren Abbildungslinsen (Objektivlinse, Projektionslinse)

Info

Publication number
DE888893C
DE888893C DES7163D DES0007163D DE888893C DE 888893 C DE888893 C DE 888893C DE S7163 D DES7163 D DE S7163D DE S0007163 D DES0007163 D DE S0007163D DE 888893 C DE888893 C DE 888893C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
lens
electron microscope
irradiating
cathode
imaging lenses
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DES7163D
Other languages
English (en)
Inventor
Ernst Dr-Ing Ruska
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DES7163D priority Critical patent/DE888893C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE888893C publication Critical patent/DE888893C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

  • Es sind=Elektronenmikroskgpe bekannt, bei denen der Elektronenstrahl nach Sammlung irr einer Kondensorlinse den Objektträger durchsetzt und bei denen eine oder mehrere zur Vergrößerung dienende Elektronenlinsen zur Abbildung des Objektes dienen,. Bei solchen Anordnungen ist es aus. Gründen der Fehlerfreiheit erforderlich, eine möglichst kleine Objektivblende zu verwenden. Kleine Objektivblenden haben bei den bisher bekannten Anordrl,ungen eine in vielen Fällen unerwünschte Begrenzung des Gesichtsfeldes zur Folge. Zweck der Erfindung ist es, eine Anordnung zu schaffen, bei der das beobachtbare Gegenstandsfeld im. Elektronenmikroskop größer als die Blende im Objektiv sein, soll. Erfindungsgemäß ist die Brennweite- der Kondensorlinse so gewählt, daß der Konvergenzpunkt der Elektronenstrahlen in -die Objektivblendenöffnung fällt, welche kleiner gewählt ist als das abzubildende Objektfeld. Da der "Könvergenizpunkt das von der Kondensorlinse erzeugte Bild der Kathode ist, wird bei der vorliegenden Anordnung der Erfindung also die Brennweite dieser beispielsweise als Magnetspule ausgebildeten-Linse so:.-gewählt, daß, das Kathodenbild in die Objektivblendenöfnung fällt. Bei dieser Anordnung kann der durchstrahlte Objektbereich größer gemacht werden als die Objektivblende. Bei genügender Kleinheit der Kathode ist der Strahlquerschnitt in der Objektivblende auch ohne körperliche -Blende- an dieser Stelle genügend klein und das Bild entsprechend fehlerfrei.
  • Um die konvergente Durchstrahlung von Objekten im Elektronenmikroskop durchführen zu können., empfiehlt es sich also, eine Kathode von äußerster Kleinheit zu -verwenden, die von- einer nahezu punktförmigen Stelle in einem nicht--zu kleinen Winkel strahlt. Bei einer solchen Kathode treffen den einzelnen Objektpunkt nahezu nadelförmige Strahlen, die alle in die Ob,jektivblende konvergieren, und auf dem Objekt einen größeren Bereich durchstrahlen, als es der Objektivblende entspricht. Man, kann: z. B. als Elektronenstrahlquelle zur Objektdürchstrahlung eine Spitzenkathode (z. B. Wolframkathode) -verwenden, die alle die obenerwähaten Bedingungen erfüllt. Ein besonderer Vorteil einer solchen Kathode besteht auch noch darin, daß die Heizquelle fortfällt und evtl. auch die Steuerelektrode und die dazu erforderliche Steuerspannung.
  • Die Abbildung zeigt schematisch als Ausführungsbeispiel der Erfindung einen Längsschnitt durch ein mit Magnetspulen als Linsen ausgestattetes Elektronenmikroskop. Selbstverständlich können auch elektrische Linsen verwendet werden. Mit i ist die Kathode des Glühelektronenrichtstrahlers bezeichnet. Von dieser Kathode ,geht ein: Elektronenstrahl mit der 'Strahlerapertur las aus. Der Elektronenstrahl wird mit Hilfe einer Kondensorspule 2 gesammelt und durchtritt die Objektträgerb:lende 3. Im Strahlengang dahinter angeordnet ist eine Objektivspule q., welche miteiner besonderen Objektivblende 5 versehen ist. Bei 6 ist ein Leuchtschirm zur Erzeugung eines Zwischenbildes angedeutet.
  • Der Kathodendurchmesser ist mit dk, der Durchmesser des Objektfeldes mit do, der Durchmesser der Objektivblende mit do B bezeichnet. Unter Berücksichtigung der im Ausführungsbeispiel eingetragenen Abstände soll sein: Wie aus der Abbildung erkennbar ist, fällt der Konvergenzpunkt der von der kondensorspule 2 zusammengefaßten Elektronenstrahlen -in die öfnung der Objektivbleride 5.
  • Wie bereits eingangs erwähnt worden ist, kann man bei der beschriebenen. Anordnung als Strahlerzeugungsquelle mit Vorteil eine Spitzenkathode verwenden. Der Krüm.mungsradius einer Spitzenkathode (Wolframeinkristall) beträgt zo--4 mm, also-ist dk = 2 X io-4 mm. Die fehlerfreie Apertur a, der Magnetobjektive beträgt heute etwa io-3. Bei der Objektivbrennweite fo = 5 mm müßte daher die O.bjektivblendeeinen Durchmesser haben doB=2aofo=2-io-3-5=o,oimm. Man muß daher für die Abbildung der Kathode in die Objektivblendenöffnung eine Vergrößerung wählen. -Beträgt die Strahlerapertur der Spitzenkathode a, = o,2, so ist die Apertur des durchstrahlenden Bündels beim Durchtritt durch die Objektivblende Das durchstrahlte Objektfeld hat die Größe während die Objektivblende nur die Größe dB = o,oi mm hatte.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH: Elektronenmikroskop zur Durchstrahlung eines Objektes mit Kondensorlinse und einer oder mehreren Abbildungslinsen (Objektivlinse, Projektionslinse), dadurch gekennzeichnet, daß die Brennweite der Kondensorlinse so gewählt ist, daß der Konvergenzpunkt der Elektronenstrahlen. in die Objektivblendenöffnung fällt, welche kleiner gewählt ist als das abzubildende Objektfeld.
DES7163D 1939-07-22 1939-07-23 Elektronenmikroskop zur Durchstrahlung eines Objektes mit Kondensorlinse und einer oder mehreren Abbildungslinsen (Objektivlinse, Projektionslinse) Expired DE888893C (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES7163D DE888893C (de) 1939-07-22 1939-07-23 Elektronenmikroskop zur Durchstrahlung eines Objektes mit Kondensorlinse und einer oder mehreren Abbildungslinsen (Objektivlinse, Projektionslinse)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE219290X 1939-07-22
DES7163D DE888893C (de) 1939-07-22 1939-07-23 Elektronenmikroskop zur Durchstrahlung eines Objektes mit Kondensorlinse und einer oder mehreren Abbildungslinsen (Objektivlinse, Projektionslinse)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE888893C true DE888893C (de) 1953-09-07

Family

ID=25762464

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DES7163D Expired DE888893C (de) 1939-07-22 1939-07-23 Elektronenmikroskop zur Durchstrahlung eines Objektes mit Kondensorlinse und einer oder mehreren Abbildungslinsen (Objektivlinse, Projektionslinse)

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE888893C (de)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2842527A1 (de) Elektrostatische emissionslinse
DE10156275A1 (de) Detektoranordnung und Detektionsverfahren
DE112016005577B4 (de) Ladungsträgerstrahlvorrichtung und Verfahren zur Einstellung ihrer optischen Achse
DE102014226985A1 (de) Verfahren zum Analysieren eines Objekts sowie Teilchenstrahlgerät zur Durchführung des Verfahrens
AT137611B (de) Einrichtung zum Abbilden von Gegenständen.
DE888893C (de) Elektronenmikroskop zur Durchstrahlung eines Objektes mit Kondensorlinse und einer oder mehreren Abbildungslinsen (Objektivlinse, Projektionslinse)
DE60033374T2 (de) Röntgenmikroskop mit einer röntgenstrahlungsquelle für weiche röntgenstrahlungen
DE1006983B (de) Verfahren und Vorrichtung zur uebermikroskopischen Abbildung mittels eines Jonenmikroskops
DE839837C (de) Kathodenstrahlroehre
DE887387C (de) Elektronenmikroskop
DE748680C (de) Elektronenmikroskop
DE2043749A1 (de) Raster Korpuskularstrahlmikroskop
DE692336C (de) Verfahren zur Abbildung von Flaechen mittels Korpuskularstrahlen
DE1204350B (de) Elektronenmikroskop
DE1098627B (de) Elektronenoptische Elektrodenanordnung fuer Kathodenstrahlroehren
DE102004046747A1 (de) Photoemissions-Elektronen-Mikroskopie und Messverfahren unter Verwendung der Mikroskopie
DE896690C (de) Elektronenstrahlroehre, insbesondere Roentgenroehre oder Elektronenmikroskop
AT134830B (de) Einrichtung zur Einstellung von Fokus und Hauptstrahl, insbesondere bei Röntgenröhren.
DE760135C (de) Elektronenmikroskop mit zweistufiger Abbildung, insbesondere ein Elektronenmikroskophoher Aufloesung (UEbermikroskop), und mit einem UEbersichtsbild geringer Vergroesserung (Zwischenbild)
DE895352C (de) Elektronenmikroskop zur Beobachtung von Oberflaechen in auffallender Elektronenstrahlung
DE1948270C (de) Raster Korpuskularstrahlmikroskop
DE764012C (de) Elektronenoptisches Abbildungssystem zur Erzielung eines kleinen Elektronenflecks
DE2515549C2 (de) Korpuskularstrahloptisches geraet zur abbildung einer maske auf ein zu bestrahlendes praeparat
AT150473B (de) Projektionsröhre.
AT157812B (de) Einrichtung mit Kathodenstrahlröhre.