DE764029C - Elektronenoptische Abbildungseinrichtung, insbesondere Elektronen-mikroskop, zur Abbildung durchstrahlter Objekte mit Hilfe eines elektrischen Immersionsobjektivs - Google Patents

Elektronenoptische Abbildungseinrichtung, insbesondere Elektronen-mikroskop, zur Abbildung durchstrahlter Objekte mit Hilfe eines elektrischen Immersionsobjektivs

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DE764029C
DE764029C DEL96091D DEL0096091D DE764029C DE 764029 C DE764029 C DE 764029C DE L96091 D DEL96091 D DE L96091D DE L0096091 D DEL0096091 D DE L0096091D DE 764029 C DE764029 C DE 764029C
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DE
Germany
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electrode
lens
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electron
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Expired
Application number
DEL96091D
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English (en)
Inventor
Hans Dr-Ing Mahl
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AEG AG
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AEG AG
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/10Lenses
    • H01J37/12Lenses electrostatic

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

  • Elektronenoptische Abbildungseinrichtung, insbesondere Elektronenmikroskop, zur Abbildung durchstrahlter Objekte mit Hilfe eines elektrischen Immersionsobjektivs Die Erfindung betrifft eine elektronenoptische Abbildungseinrichtung zur Abbildung durchstrahlter Objekte mit Hilfe eines elektrischen Immersionsobjektivs. Die Eigenschaften eines derartigen Objektivs sind bereits von B eh n e untersucht worden (Ann. d. Phys. (5) 26, 37.2 bis 397, 1936); indessen sind diese Untersuchungen auf den Fall beschränkt, daß die Elektronen beim Verlassen des Objektivs eine wesentlich höhere Geschwindigkeit als beim Objekt haben. So gibt z. B. Abb. 7 den Fall an, daß Elektronen von 3oo V Energie das Objekt durchstrahlen und dann um weitere 3000 V beschleunigt werden. Mit anderen Worten beträgt die Energie der Elektronen am Objekt nur einen Bruchteil der Endenergie. Die der vorliegenden Anordnung zugrunde liegenden Untersuchungen haben nun ergeben, daß die Abbildungsfehler eines Immersionsobjektivs weitaus kleiner werden, wenn die Energie der Elektronen beim Verlassen des Objektivs- etwa in der gleichen Größenordnung; also etwa um höchstens 5o% kleiner oder größer ist, als am Objekt. Es wird daher vorteilhaft ein derartiges Immersionsobjektiv in der Weise betrieben, daß die Geschwindigkeit der Elektronen beim Verlassen des Objektivs von der gleichen Größenordnung ist wie beim Eintritt.
  • Nach der Erfindung ist bei einer elektronenoptischen Abbildungseinrichtung, insbesondere Elektronenmikroskop, zur Abbildung durchstrahlter Objekte mit Hilfe eines elektrischen Immersionsobjektivs, auf dessen erster Elektrode das Objekt angebracht ist, das Immersionsobjektiv als Einzellinse ausgebildet. Diese Anordnung hat außer den obengenannten Vorteilen noch den Vorzug, daß eine besondere Spannungszuführung für die letzte Elektrode des Objektivs überflüssig ist. Unter Einzellinse soll dabei wie üblich eine Linse verstanden werden, die nach außen elektrisch neutral ist, deren erste und letzte Elektrode sich also auf dem gleichen Potential befinden. Gegenüber der sonst üblichen Verwendung einer Einzellinse unterscheidet sich die Verwendung einer Einzellinse als Immersionsobjektiv nach der Erfindung dadurch, daß infolge der Tatsache, daß sich das Objekt auf der ersten Elektrode befindet, das außerhalb dieser Elektrode befindliche Feld für die Linsenwirkung sozusagen abgeschnitten ist. Da indessen diese Tatsache von nicht allzu großer Bedeutung ist und das Wort Einzellinse den Tatbestand, daß erste und letzte Elektrode sich auf gleichem Potential befinden, in kürzester Form treffend wiedergibt, soll das Wort Einzellinse hier in dem angedeuteten eingeschränkten Sinne verwendet werden.
  • In der Abbildung ist ein Ausführungsbeispiel der Einrichtung nach der Erfindung dargestellt, wobei die Einzellinse soweit wie möglich maßstabsgetreu wiedergegeben wurde. Die Einzellinse besteht hier aus drei Elektroden 1, 2 und 3, von denen i und 3 auf der gleichen Spannung, z. B. 2o kV gegenüber dem Ort, an dem die das Objekt durchstrahlenden Elektronen die Geschwindigkeit Null haben (bei Verwendung einer Glühkathode als Ursprungsort der Elektronen, also 2o kV gegenüber der Glühkathode), liegen, während die mittlere Elektrode 2 an einer für die Abbildung günstigen Spannung liegt, die bei der gewählten Ausführungsform in der Größenordnung von etwa i bis 2 kV positiv oder negativ gegenüber dem gleichen Bezugspunkt beträgt. Die erste Elektrode i ist als Objektträger ausgebildet; auf ihr befindet sich das Objekt 4.. Dieses Objekt wird von Elektronen, die von einer Elektronenquelle 5 stammen und durch eine schematisch angedeutete Beschleunigungs- und Fokussierungseinrichtung 6 auf das Objekt konzentriert werden, durchstrahlt und mit Hilfe der Elektronen beispielsweise auf einem Leuchtschirm 7 abgebildet. Es wurde bereits erwähnt, daß die Spannung der Mittelelektrode 2 nur wenig von Null abweicht, mit anderen Worten absolut genommen nicht mehr als ioo/o des Potentials der Außenelektroden beträgt. Diese Größe des Potentials hat einen weiteren Vorteil. Beträgt in dem für die Abbildung günstigen Fall das Potential genau Null, so ist eine besondere Spannungszuführung zu dieser Elektrode nicht erforderlich, da sie in diesem Fall mit der Elektronenquelle 5 verbunden «-erden kann. Aber auch dann, wenn das Potential nicht genau den Wert Null hat, sondern einen wenig davon abweichenden Wert, sind beträchtliche Vorteile mit dieser Anordnung erzielt. Es läßt sich nämlich nicht immer vermeiden, daß die Spannung der Spannungsquelle etwas schwankt. Ändert sich nun die in dem Ausführungsbeispiel 2o k-%,- betragende Hochspannung etwas, so müßte natürlich an sich die Spannung an der Mittelelektrode mitgeändert werden, z. B. dadurch, daß die Hochspannung von einem Spannungsteiler überbrückt und die Spannung dieser Mittelelektrode an dem Spannungsteiler abgegriffen wird. Das macht indessen gewisse Schwierigkeiten. Es ist daher einfacher, die Spannung der Mittelelektrode, die nur wenig von Null abweicht und daher als Isorrektionsspannung angesehen werden kann, einer von der Hochspannungsquelle unabhängigen Spannungsquelle, die dann natürlich die Spannungsschwankungen dieser Quelle nicht mitmacht, zu entnehmen. Das ist aber nur dann möglich, wenn die eigentlich notwendigen Spannungsänderungen der Mittelelektrode absolut genommen nicht groß sind, also die Spannung an der Mittelelektrode klein ist.
  • Die günstige Wahl des Potentials an der Mittelelektrode läßt sich durch geeignete Formgebung dieser Elektrode leicht erreichen, nämlich durch Veränderung der Dicke. d. h. der axialen Erstreckung, oder des Lochdurchmessers. In dem Ausführungsbeispiel sind axiale Erstreckung und Durchmesser der Mittelelektrode von gleicher Größenordnung, sogar genau gleich groß. Im Vergleich dazu mag auf die Anordnung von B e h n e hingewiesen werden, bei dem der Durchmesser der Mittelelektrode etwa zwanzigmal so groß ist wie ihre Dicke.
  • Die dritte Elektrode der Einzellinse nach dem Ausführungsbeispiel befindet sich im Brennpunkt der Linse und dient gleichzeitig als Aperturblende. Die Öffnung dieser Blende ist im Verhältnis zu den übrigen Dimensionen der Linse, die in der Abbildung etwa in natürlicher Größe wiedergegeben sind, wesentlich kleiner, als dies dargestellt werden konnte. Während nämlich die Dicke der Mittelelektrode und ihr Öffnungsdurchmesser etwa 5 mm betrug, ihr Abstand von der Elektrode i etwa i mm, ist die Öffnung der Elektrode 3 nur etwa o, i mm. Um die Elektrode in den Brennpunkt bringen zu können, ist es in vielen Fällen erforderlich, sie, wie dies auch im Ausführungsbeispiel geschehen ist, trichterförmig auszubilden, wobei die kleinere Öffnung des Trichters auf das Linseninnere hinweist. Da die Elektronen nach Verlassen des Gegenstandes bis zum Verlassen der Linse ingesamt keine Beschleunigung erfahren, dient die Elektrode 3 gleichzeitig zum Abfangen der im Gegenstand abgebremsten Elektronen sowie praktisch auch der meisten Sekundärelektronen.
  • Auch die erste Elektrode der Einzellinse ist, wie aus der Zeichnung ersichtlich, nicht als einfache Lochblende ausgebildet. Die innere Öffnung der Blende weist nämlich auf der dem Objektiv abgewendeten Seite des Gegenstandes die Form eines Trichters auf, dessen Spitze von der Linse weg weist. Diese Anordnung ist deshalb getroffen worden, damit nicht etwa Primärelektronen, welche die Elektrode i treffen, nun von der Öffnung dieser Elektrode reflektiert und in unkontrollierbarer Richtung auf das Objekt gelenkt werden.
  • Die in der Anordnung der vorliegenden Art angegebene Form des Immersionsobjektivs kann überall dort Verwendung finden, wo es sich um die Verwendung eines durchstrahlten Objektes handelt. Soll sie insbesondere in einem Elektronenmikroskop hoher Vergrößerung (Übermikroskop) angebracht werden, bei dem mit hohen Spannungen gearbeitet wird (vgl. auch die angegebenen Zahlenbeispiele), so ist es erforderlich, den Elektroden keine scharfe Kanten zu geben, damit keine Überschläge eintreten. In der Zeichnung sind die Elektroden entsprechend ausgebildet.
  • Während in dem Ausführungsbeispiel der Einfachheit halber angenommen wurde, daß nur das Immersionsobjektiv nach der Erfindung zur Abbildung des Gegenstandes dient, ist es natürlich möglich, noch eine oder mehrere weitere Linsen zur weiteren Vergrößerung des Objektes vorzusehen, wobei unter Umständen in an sich bekannter Weise zwischen zwei oder, mehreren Linsen Zwischenbilder entstehen können.

Claims (7)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Elektronenoptische Abbildungseinrichtung, insbesondere Elektronenmikroskop, zur Abbildung durchstrahlter Objekte mit Hilfe eines elektrischen Immersionsobjektivs, auf dessen erster Elektrode das Objekt angebracht ist, dadurch gekennzeichnet, daß die erste und die letzte Elektrode des Immersionsobjektivs sich auf dem gleichen Potential befinden.
  2. 2. Abbildungseinrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Einzellinse aus drei Elektroden besteht, von denen die innere sich auf einem gegenüber dem den beiden äußeren Elektroden gemeinsamen Potential negativen, vorzugsweise einstellbaren Potential befindet.
  3. 3. Abbildungseinrichtung nach- Anspruch 2; dadurch gekennzeichnet, daß die Mittelelektrode von solcher Dicke und solchem Lochdurchmesser ist, daß die Immersionslinse beim Potential Null (bezogen auf den Ort, an dem die abbildenden Elektronen die Geschwindigkeit Null haben) oder einem nur sehr kleinen, d. h, weniger als io°1o des Potentials der Außenelektroden betragenden Potential der Mittelelektrode abbildend wirkt.
  4. 4. Abbildungseinrichtung nach Anspruch z oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Erstreckung der Mittelelektrode der Einzellinse in Achsenrichtung von gleicher Größenordnung ,ist wie der Durchmesser ihrer Öffnung.
  5. 5. Abbildungseinrichtung nach Anspruch i oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die letzte Elektrode der Einzellinse als eine im Brennpunkt der Linse liegende Aperturblende ausgebildet ist.
  6. 6. Abbildungseinrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die letzte Elektrode trichterförmig mit der Spitze auf die Linse weisend ausgebildet ist.
  7. 7. Abbildungseinrichtung nach Anspruch i oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die erste das Objekt tragende Elektrode auf der den übrigen Elektroden abgewendeten Seite des Objektivs die Form eines mit der größeren Öffnung nach dem Objekt weisenden Trichters hat. B. Elektronenmikroskop hoher Vergrößerung (Übermikroskop) nach Anspruch i oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektroden abgerundet sind. Zur Abgrenzung des Erfindungsgegenstands vom Stand der Technik sind im Erteilungsverfahren folgende Druckschriften in Betracht gezogen worden: Osterreichische Patentschrift Nr. 137 h 11; USA.-Patentschrift Nr. 2 070 3i9; Brüche und Scherzer, Geometrische Elektronenoptik, 1934, S.58 bis 6o, 9o bis 94, 170 und 171;
DEL96091D 1938-11-05 1938-11-05 Elektronenoptische Abbildungseinrichtung, insbesondere Elektronen-mikroskop, zur Abbildung durchstrahlter Objekte mit Hilfe eines elektrischen Immersionsobjektivs Expired DE764029C (de)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT137611B (de) * 1931-05-30 1934-05-25 Siemens Ag Einrichtung zum Abbilden von Gegenständen.
US2070319A (en) * 1931-05-30 1937-02-09 Siemens Ag Apparatus for influencing the character of electron rays

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT137611B (de) * 1931-05-30 1934-05-25 Siemens Ag Einrichtung zum Abbilden von Gegenständen.
US2070319A (en) * 1931-05-30 1937-02-09 Siemens Ag Apparatus for influencing the character of electron rays

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