DE877501C - Optische Pruef- und Projektionseinrichtung - Google Patents
Optische Pruef- und ProjektionseinrichtungInfo
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- DE877501C DE877501C DEL750D DEL0000750D DE877501C DE 877501 C DE877501 C DE 877501C DE L750 D DEL750 D DE L750D DE L0000750 D DEL0000750 D DE L0000750D DE 877501 C DE877501 C DE 877501C
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0016—Technical microscopes, e.g. for inspection or measuring in industrial production processes
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Description
-
- Die Erfindung bezieht sich auf eine Prüf- und Projektionseinrichtung gemäß Patent 745 733, nach der ein optisches System, das aus zwei Teilen hesteht, von denen der erste Teil positive Brechkraft hat, für sich korrigiert ist und je nach den Leistungen des geforderten, Systems verschieden zusammengesetzt sein kann, während der zweite Teil aus einem Glied besteht, dessen Brechkraft sowohl positiv als auch negativ sein kann Dabei ist der Abstand zwischen den beiden Teilgliedern so bemessen, daß der hintere Brennpunkt des ersten Teilgliedes mit dem vorderen Hauptpunkt des zweiten Teilgliedes zusammenfällt. Insbesondere ist nach dem Hauptpatent vorgesehen; daß das zweite Teilglied gegen ein entsprechendes Glied anderer Brechkraft ausgewechselt werden kann.
- Bei optischen Prüf- und P rojektionseinrichtungen besteht nun oft das Bedürfnis, auch bei verhältnismäßig starken Vergrößerungen eine große Tiefenschärfe zu erhalten. Diestläßt sich zwar mit den Mitteln des Hauptpatents durch die Anordnung einer Reihe ausredhseLIharer Teilglfeder erreichen, daß nacheinander durch Einschalten je eines neuen Teilgliedes gewisse Tiefenschärfebereiche eingestellt werden können. Um auch während des ganzen Prüf- und Projektionsvorganges einen großen Tiefenschärfenb,ereich für die Beobachtung zugänglich zu machen, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, eine Reihe Teilglieder des optischen Systems mit unterschiedlicher Brechkraft auf einem Weehsler anzuordnen und diesen Wechsier mittels eines Schaltgetriebes mit etwa Filmbildfrequenz anzutreiben. Dabei kann zweckmäßigerweise für die jeweilige Dauer des Schaltvorganges das ProjektionslichtbVindel ähnlich wie bei einem Kinoprojektor durch eine in Übereinstimmung mit dem Schaltgetriebe rotierende Blende zeitweise abgeblendet werden oder es kann eine mit derselben Frequenz und in Übereinstimmung mit dem Schaltgetriebe arbeitende elektrisohe Schaltung der Projektionslampe vorgesehen sein.
- Mit Hilfe einer solchen Einrichtung ist es möglich, einen großen Tiefenschärfenbereich zu gleicher Zeit der optischen Prüf- und Projektionseinrichtung zugänglich zu machen, so daß auch Körper mit großer Tiefen'ausdehnung, beispielsweise Hohlzylinder, gut untersucht werden können. Als Schaltgetriebe kann zweckmäßig ein aus der Kinotechnik her bekaltes Malteserkreuzgetriebe Verwendung finden.
- Weitere Einzelheiten der Erfindung seien anHand der Zeichnung, die eine beispielsweise schematisch gehaltene Ausfu'hrungsform zeigt, näher erläutert.
- Es- ist Abb. I eine Gesamtansicht der neuen Einrichtung, Abb. 2 eine Vorderansicht des Schaltgetriebes.
- Zwischen Lichtquelle I und dem Projektionssystem 2-3 ist der das Objekt 4 tragende Objekttisch 5 angeordnet. Das Teilgtied 3 des optischen Systems ist zusammen mit weiteren Teilgliedern 3 von verschiedener Brechkraft auf einem drehbar gelagerten Wechsler 6 gelagert, der über ein Malteserkreuzgetriebe 7 durch den Antrieb S unter Zwischenschaltung eines Zwischengetriebes 9-IO angetrieben wird. Gleichachsig mit dem Rad 10 des Zwischengetriebes ist eine rotierende Blende 11 angeordnet, die gleichzeitig als Träger des Schaltstiftes 12 für das Malteserkreuz 7 dient. Blende und Malteserkreuzgetriebe sind einander derart zugeordnet, daß die Weiterschaltung der optischen Teilglieder in den Strahlengang unter Abblendung des Strahlenganges durch die rotierende Blende erfolgt. Durch eine der Filmbilldfrequenlz entsprechende Schaltfrequeniz des Wechslers wird ein flimmerfreies Bild mit großer Tiefenschärfe des zu prüfenden Objektes erzeugt.
Claims (3)
- PATENTANSPRÜCHE: I. Projektionseinrichtung für Prüf- und Meßzwecke nach Patent 745 733, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere der im Bsrennpunkt des ersten Gliedes stehenden zweiten Glieder mit unterschiedlichen, in bezug auf die Tietenschärfenwirkung des Gesamtobjektivs in ihrer Größenordnung aneinander anschließenden BNreohkräft.en-auf einem Wechsler angeordnet sind, der beispielsweise mit Filmbildfrequenz intermittierend geschaltet wird, und daß gleichzeitig die Belichtungsstra'htlen während des Schaltvorganges unterbrochen werden.
- 2. Einrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß ,die Beleuchtungsstrahlen von einer rotierenden Blende unterbrochen werden.
- 3. Einrichtung nach den Ansprüchen I und/ oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Schaltgetriebe ein aus der Kinotechnik her bekanntes Malteserkreuzgetriebe Verwendung findet.Angezogene Druckschriften: USA.-Patentschrift Nr. 1 974 42.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEL750D DE877501C (de) | 1939-04-19 | 1939-04-19 | Optische Pruef- und Projektionseinrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEL750D DE877501C (de) | 1939-04-19 | 1939-04-19 | Optische Pruef- und Projektionseinrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE877501C true DE877501C (de) | 1953-05-26 |
Family
ID=7255034
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEL750D Expired DE877501C (de) | 1939-04-19 | 1939-04-19 | Optische Pruef- und Projektionseinrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE877501C (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008045826B4 (de) * | 2008-09-05 | 2013-11-14 | Leica Instruments (Singapore) Pte. Ltd. | Einrichtung zum Einbringen eines optischen Elements den Beobachtungsstrahlengang eines Lichtmikroskops |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1974423A (en) * | 1933-09-07 | 1934-09-25 | S M M H Corp | Motion picture projector |
-
1939
- 1939-04-19 DE DEL750D patent/DE877501C/de not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1974423A (en) * | 1933-09-07 | 1934-09-25 | S M M H Corp | Motion picture projector |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008045826B4 (de) * | 2008-09-05 | 2013-11-14 | Leica Instruments (Singapore) Pte. Ltd. | Einrichtung zum Einbringen eines optischen Elements den Beobachtungsstrahlengang eines Lichtmikroskops |
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