DE2417899C2

DE2417899C2 - Verfahren zum Anfertigen von zusammengesetzten Mikrofotografien und Anordnung zur Durchführung desselben

Info

Publication number: DE2417899C2
Application number: DE2417899A
Authority: DE
Inventors: Klaus P. Wien Schindl
Original assignee: C Reichert Optische Werke AG
Current assignee: C Reichert Optische Werke AG
Priority date: 1973-04-18
Filing date: 1974-04-11
Publication date: 1982-09-02
Also published as: US3935011A; JPS5014330A; GB1438616A; FR2226681A1; FR2226681B1; AT331121B; CA1051708A; DE2417899A1; ATA295374A; CH560912A5; DD111480A5

Description

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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Anfertigen von zusammengesetzten Mikrofotografien.

Zusammengesetzte Mikrofotografien werden normalerweise in der Weise angefertigt, daß auf optischem Wege verschiedene Bilder miteinander kombiniert ^5S werden, oder dadurch, daß zwei oder mehr Negative im Rahmen einer komplizierten fotografischen Dunkelkammertechnik verwendet werden. Bei einem anderen kürzlich entwickelten System zur Anfertigung von Mikrofotografien wird eine Halbbildkamera verwendet Wie bereits der Name sagt, ermöglicht eine solche Kamera die Durchführung von zwei getrennten Belichtungen in ein und demselben Bildfeld, wobei jede Belichtung in einer anderen Hälfte des Bildfeldes durchgeführt wird.

Die bekannten Systeme sind entweder sehr kompliziert und aufwendig oder nicht genügend vielseitig verwendbar oder erfordern komplizierte, in der Dunkelkammer durchzuführende Verfahrensgänge.

Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein einfach durchzuführendes und vielseitig anzuwendendes Verfahren zur Herstellung zusammengesetzter Mikrofotografien des gleichen Objekts zu schaffen, so daß auf einem einzigen Bildfeld ein Vergleich dieses Objekts unter unterschiedlichen Verhältnissen möglich ist

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst daß eine Maske in der Zwischenbildebene eines Mikroskops angeordnet wird, die einen transparenten und einen opaken Teil hat und optisch mit dem optischen Strahlengang des Mikroskops ausgerichtet ist daß eine erste Belichtung über die genannte Zwischenbildebene vorgenommen wird, daß eine zweite Maske in der Zwischenbildebene angeordnet wird, die einen transparenten Teil, der dem opaken Teil der ersten Maske entspricht und einen opaken Teil hat der dem transparenten Teil der ersten Maske entspricht und die optisch mit dem optischen Strahlengang des Mikroskops ausgerichtet wird, und daß eine zweite Belichtung eines anderen Teiles desselben Filmabschnitts wie bei der ersten Belichtung mit demselben Objekt unter anderen Verhältnissen durchgeführt wird.

Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens werden neben der ersten und der zweiten Maske weitere Masken mit opaken und transparenten Teilen verwendet, wobei alle Masken bezüglich der opaken und transparenten Teile zueinander komplementär sind. Nacheinander wird jeweils eine der Masken in der Zwischenbildebene in den optischen Strahlengang eingebracht wobei dabei jeweils ein unterschiedlicher diskreter Teil desselben Filmelements mit einem Bild des gleichen Objekts unter anderen Verhältnissen belichtet wird.

Mit Vorteil werden die verschiedenen Belichtungen unterschiedlicher Teile desselben Filmelements mit unterschiedlichen Abbildungsarten durchgeführt

Die Erfindung betrifft auch eine Anordnung zur Durchtührung des vorstehend beschriebenen Verfahrens mit einem eine Zwischenbildebene aufweisenden Mikroskop und einer fotografischen Kamera, die zum Fotografieren von Objekten durch das optische System des Mikroskops hindurch geeignet ist Diese Anordnung ist gekennzeichnet durch mehrere komplementäre Masken, die nacheinander in optischer Ausrichtung mit dem Mikroskopstrahlengang in der genannten Zwischenbildebene positionierbar sind.

Durch Einsetzen einer Folge dieser Masken in die Zwischenbildebene kann der Fachmann eine einzelne Mikrofotografie durch mehrere mit den verschiedenen Masken nacheinander erfolgende Belichtungen anfertigen. Das erfindungsgemäße System ist äußerst vielseitig, da die Maskenmuster nicht auf gerade Linien oder bestimmte Bereiche beschränkt sind.

Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend im Zusammenhang mit der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt

F i g. 1 ein Paar komplementäre Masken;

Fig.2 die Darstellung einer Mikrofotografie, die durch nacheinander erfolgende Verwendung von zwei Masken der in Fi g. 1 gezeigten Art angefertigt wurde; F i g. 3 ein weiteres Paar komplementäre Masken;

F i g. 4 eine Mikrofotografie, die durch nacheinander erfolgende Verwendung der zwei Masken von F i g. 3 angefertigt würde; und

F i g. 5 ein weiteres komplementäres Maskenpaar in einem Maskenhalter.

Gemäß F i g. 1 hat eine Maske A einen transparenten Teil 10 mit einer reellen oder imaginären Grenzlinie 11. Die Grenzlinie 11 ist auf die Größe und die Form des Kamerafeldes abgestimmt Die Grenzlinie kann auf dem transparenten Teil 10 markiert sein, um dem Betrachter das Positionieren des zu fotografierenden Objekts zu erleichtern. Die Grenzlinie 11 kann auch eine reale Begrenzung des transparenten Teils 10 der Makse A sein. Zum Beispiel kann der transparente Teil der Maske in einem Metallrahmen gehalten werden, wie noch erläutert v^^;rd, so daß derjenige Teil des Mikroskopfeldes blockiert wird, der nicht dem Feld der fotografischen Kamera entsprichL Bei einer solchen Ausführungsform wird die Grenzlinie 11 durch die Größe und die Form der Öfinung im Metallrahmen definiert Der opake Teil 12 hält bei Belichtung mit der Maske 10 alles Licht von dem entsprechenden Teil des Filmes ab. Die komplementäre Maske B hat einen transparenten Teil 43, dessen Fläche genau so ausgebildet und angeordnet ist, daß sie dem opaken Teil 12 entspricht. Der restliche Teil 14 der Maske B ist opak und blockiert sämtliches Licht, das während der Belichtung mit der Maske A durchgelassen wird.

F i g. 2 stellt eine Fotografie dar, die ein orthoskopisches Bild in der Fläche hat, die dem vom transparenten Teil 10 der Maske 10 durchgelassenen Bild entspricht, und ein konoskopisches Bild in dem Bereich, der dem durch den transparenten Teil 13 der Maske B durchgelassenen Bild entspricht

Fig.3 zeigt eine weitere Ausführungsform eines komplementären Paares von Masken, die ähnlich sind wie die von Fi g. 1, wobei ein opaker Teil 15 der Maske A und ein transparenter Teil 16 der Maske S sich im Mittelpunkt des Kamerafeldes befinden.

Fig.4 zeigt eine Fotografie, die einen Bildteil geringer Vergrößerung in dem Bereich hat, der dem transparenten Teil 16 entspricht, und einen Bildteil hoher Vergrößerung in dem Bereich, der dem transparenten Teil 17 der Maske A entspricht

Fig.5 zeigt einen Maskenhalter 18 mit darin befestigten komplementären Masken A und B. Die Masken A und B sind Ganzfeldmasken im Gegensatz i.u den Kamerafeldmasken von Fig. 1 und 3. Jede Maske hat einen transparenten Teil 19 und einen opaken Teil 20, die komplementär zueinander angeordnet sind; die Maske A kann daher für eine erste Belichtung

ίο verwendet werden, um ein fotografisches Bild zu erhalten, das demjenigen Bild entspricht das in der Zwischenbildebene in dem vom transparenten Teil 19 der Maske A definierten Bereich abgebildet wird. Der Maskenhalter 18 wird dann so verlagert, daß die Maske B mit dem Strahlengang durch das Mikroskop in der Zwischenbildebene ausgerichtet ist. Eine zweite Belichtung läßt dann ein fotografisches Bild auf demselben Filmabschnitt entstehen, und zwar in einem Bereich, der dem durch den transparenten Teil 19 der Maske B abgebildeten Bildteil entspricht

Mikroskope, die eine Zwischenbildebene haben, sind

• bekannt Ein Beispiel hierfür wird in der eigenen, am

23. November i971 unter dem Aktenzeichen 2 01390 eingereichten US-Patentanmeldung beschrieben. In Fig. 3 dieser US-Patentanmeldung und dem zugehörigen Text wird die Zwischenbildebene 21 gezeigt, die sich innerhalb des Mikroskops befindet Ein Maskenhalter der in Fig. 5 der vorliegenden Anmeldung beschriebenen Art ist in einem solchen Mikroskop verwendbar, das zur Aufnahme von Fadenkreuzen u.a. in der Zwischenbildebene geeignet ist

Die erörterten Figuren zeigen zwar Masken, die das Bildfeld in zwei Teile teilen; im Rahmen der Erfindung können jedoch auch drei oder mehr komplementäre Masken verwendet werden, die das Feld in drei oder mehr Segmente, z. B. in Drittel, Viertel usw, unterteilen.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims

1 Patentansprüche:

1. Verfahren zum Anfertigen von zusammengesetzten Mikrofotografien, dadurch gekennzeichnet, daß eine Maske in der Zwischenbildebene eines Mikroskops angeordnet wird, die einen transparenten und einen opaken Teil hat und optisch mit dem optischen Strahlengang des Mikroskops ausgerichtet ist, daß eine erste Belichtung über die genannte Zwischenbildebene vorgenommen wird, daß eine zweite Maske in der Zwischenbildebene angeordnet wird, die einen transparenien Teil, der dem opaken Teil der ersten Maske entspricht, und einen opaken Teil hat, der dem transparenten Teil der ersten Maske entspricht, und die optisch mit dem optischen Strahlengang des Mikroskops ausgerichtet wird, und daß eine zweite Belichtung eines anderen Teils desselben Filmabschnitts wie bei der ersten Belichtung mit demselben Objekt unter anderen Verhältnissen durchgeführt wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß neben der ersten und der zweiten Maske weitere Masken mit opaken und transparenten Teilen verwendet werden, wobei alle Masken bezüglich der opaken und transparenten Teile zueinander komplementär sind, daß nacheinander jeweils eine der Masken in der Zwischenbildebene in den optischen Strahlengang eingebracht wird und daß dabei jeweils ein unterschiedlicher diskreter Teil desselben Filmelements mit einem Bild des gleichen Objekts unter anderen Verhältnissen belichtet wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die verschiedenen Belichtungen unterschiedlicher Teile desselben Filmelements mit unterschiedlichen Abbildungsarten durchgeführt werden.

4. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorstehenden Ansprüche mit einem eine Zwischenbildebene aufweisenden Mikroskop und einer fotografischen Kamera, die zum Fotografieren von Objekten durch das optische System des Mikroskops hindurch geeignet ist, gekennzeichnet durch mehrere komplementäre Masken, die nacheinander in optischer Ausrichtung mit dem Mikroskopstrahlengang in der genannten Zwischenbildebene positionierbar sind.