DE849461C - Kristallverstaerker und Verfahren zu seiner Herstellung - Google Patents

Kristallverstaerker und Verfahren zu seiner Herstellung

Info

Publication number
DE849461C
DE849461C DES19579A DES0019579A DE849461C DE 849461 C DE849461 C DE 849461C DE S19579 A DES19579 A DE S19579A DE S0019579 A DES0019579 A DE S0019579A DE 849461 C DE849461 C DE 849461C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
ground
crystal
grooves
wedge
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DES19579A
Other languages
English (en)
Inventor
Heinz Dr Henker
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DES19579A priority Critical patent/DE849461C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE849461C publication Critical patent/DE849461C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/70Bipolar devices
    • H01L29/72Transistor-type devices, i.e. able to continuously respond to applied control signals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Description

(WiGBL S. 175)
AUSGEGEBEN AM 15. SEPTEMBER 1952
S 19579 VlIIc/ 21g
Bei den Kristallverstärkern (Transistoren) mit zwei oder mehr auf einen Halbleiter, z. B. Germanium, aufgesetzten Kontaktelektroden besteht vielfach die Aufgabe, die Entfernung der Aufsatzstellen der l>eiden Kontakte sehr klein zu machen. Dies geschieht vielfach dadurch, daß die beiden Spitzen dicht nebeneinander auf eine el>en geschliffene, polierte und geätzte Halbleiterfläche oder auf zwei gegenüberliegende Punkte einer sehr dünn geschliffenen Halbleiterscheibe aufgesetzt werden. Um derart dünne Scheiben des Halbleiters herzustellen, sind t>ereits zwei Verfahren 1>ekannt. Bei dem einen werden in eine Kristallplatte zwei kugelförmige Vertiefungen an einander gegenüberliegenden Stellen der Platte so weit eingeschlifFen, bis ihre tiefsten Punkte den für den jeweiligen Halbleiter günstigsten Abstand haben, der im allgemeinen 20 bis 50 μ beträgt. Bei dem anderen Verfahren wird ein Kristall keilförmig mit sehr kleinem Keilwinkel angeschliffen. Die Kontaktspitzen können nun bei den in dieser Weise präparierten Kristallplatten auf zwei gegenül>erliegenden Punkten aufgesetzt werden und erhalten so den für die Wirkungsweise des Transistors notwendigen geringen Abstand.
Bei der Anwendung dieser Verfahren entsteht aber eine Reihe von Nachteilen. Das Einschleifen der Kugelkalotten erfordert erhebliche Zeit, und es ist sehr schwierig, den gewünschten Abstand der tiefsten Punkte der beiden Kalotten mit Sicherheit und genau herbeizuführen. Bei der Herstellung der keilförmig zugeschliffenen Kristalle müssen die Kontaktspitzen dicht ander dünnen scharfen Kante auf zwei gegenüberliegenden Punkten aufgesetzt werden. Diese Kante ist aber sehr empfindlich und
zerbric'ht deshalb ζ. B. bei der Justierung der Kontaktspitzen leicht.
Die Erfindung geht deshalb einen neuen Weg und schlägt vor, in den Kristallkörper mit einer dünnen Schleifscheibe, deren Außenkanten zweckmäßig abgerundet sind, von beiden Seiten an gegenüberliegenden Stellen rinnenförmige Vertiefungen in den Halbleiter einzuschleifen. Um einen keilförmigen Transistor zu erhalten, müssen diese rinnenförmigen Vertiefungen so weit eingeschliffen werden, daß sie .sich gegenseitig durchdringen, dadurch entstehen keilförmig aufeinander zu laufende Flächen, die infolge der geringen Breite der Rinne und der Krümmung der Flächen eine äußerst stabile Kante bilden.
Die Vorteile der Erfindung sind erheblich. Das abzuschleifende Volumen und die zu bearbeitende Oberfläche sind wesentlich kleiner als bei den bisher bekannten Verfahren, so daß beim Schleifen ein erheblicher Zeitgewinn erzielt werden kann. Außerdem kann durch geeignete Anordnung der Schleifeinrichtung in leichter Weise sichergestellt werden, daß die Mittellinien der schmalen Rinnen in genau einer Ebene liegen. Der außerordentlich kleine Krümmungsradius des schmalen Rinnenprofils hat außerdem zur Folge, daß der Transistor stabiler, insbesondere die Gefahr des Ausbrechens der Kanten beim keilförmigen Transistor wesentlich verringert wird. Auch das Justieren der aufzusetzenden Kontaktspitzen wird wesentlich erleichtert, da die Spitzen beim Aufsetzen meist schon von selbst in die tiefsten Stellen der engen Rinne hineingleiten. Schließlich können auch Schleifscheiben mit verhältnismäßig großem Durchmesser verwendet werden, so daß ihre Schleifgeschwindigkeiten am Umfang größere und günstigere Werte annehmen als z. B. beim Einschleifen der Kugelkalotten mit kleinem Durchmesser bei den bekannten Transistoren.
Ein Ausführungsbeispiel eines in der erfindungsgemäßen Weise hergestellten Kristallplättchens für Transistoren zeigt Fig. 1 in vergrößertem Maßstab (etwa 10: 1) im Aufriß, Grundriß und Seitenriß. In ihr bedeutet 1 den Halbleiterkristall, der z. B. aus Germanium oder Silicium besteht. In den Kristall ist von beiden Seiten je eine Rille 2, 3 so eingeschliffen, daß an der rechts dargestellten Seite des Kristallseine Keilfläche mit kleinem Keilwinkel entsteht. Die Breite dieser Rinne ist, wie im Grundriß (s. Fig. ι unten) gezeigt ist, sehr klein. Hierdurch und durch die Abrundung der Kanten der Schleifscheibe entsteht beim Durchdringen der l>eiden Rillen eine halbkreisförmig in das Innere gebogene Keilkante 4, die infolge ihrer Form sehr stabil ist und auch bei verhältnismäßig hohen mechanischen Beanspruchungen nicht ausbricht. Die Kontaktspitzen 5,6 werden bei dem erfindungsgemäßen Transistor dicht an der keilförmigen Kante 4 in der in Fig. 1 gezeigten Weise aufgesetzt. Aus dem Seitenriß (links unten in Fig. 1) ist er- [ sichtlich, daß die Spitzen hierbei ohne besondere Maßnahmen bestrebt sind, in die Mitte der Rinne zu gleiten. Da außerdem bei der Justierung der Spitzen ihr Abstand von der vorderen Keilkapte leicht kontrolliert und gleich groß gemacht werden kann, ist es in einfacher Weise möglich, ein genaues Gegenüberstehen der beiden Kontaktspitzen 5, 6 zu gewährleisten.
Ein zweites Ausführungsbeispiel der Erfindung zeigt ebenfalls in vergrößertem Maßstab Fig. 2. Dort sind in den Kristall 1 zwei rinnenförmige Vertiefungen 2, 3 so tief eingeschliffen, daß ihre sich gegenüberliegenden tiefsten Punkte nur einen geringen Abstand voneinander haben. In diese Rinne werden dann in der auch bei kugelförmig geschliffenen Vertiefungen üblichen Weise die Kontaktspitzen 5,6 eingesetzt, die zusammen mit dem Kristall 1 die drei Elektroden des Transistors bilden. Auch hier ist die Festigkeit des Transistors wesentlich größer als bei den kugelförmig geschliffenen Transistoren, und beim Einsetzen der Kontaktspitzen ist die Justierung dadurch erleichtert, daß die Spitzen in den schmalen Rinnen von selbst in die Mitte gleiten und nur noch in einer Richtung genau gegenübergestellt werden müssen (s. den Seitenriß in Fig. 2 links unten).
Die Erfindung ist nicht auf Transistoren mit nur zwei gegenüberstehenden Kontakten beschränkt, sondern bietet auch bei Transistoren mit mehr als einem Kontaktpaar bzw. mit mehr als zwei aufzusetzenden Kontaktspitzen wesentliche Vorteile. Ein Ausführungsbeispiel eines solchen Transistors mit zwei Kontaktpaaren auf einem gemeinsamen Kristallplättchen 1 zeigt Fig. 3 im Schnitt und in der Draufsicht, bei der ähnlich wie im Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 in das Kristallplättchen 1 zwei rinnenförmige Vertiefungen 8, 9 eingeschliffen sind, jedoch so tief, daß sich dieRinnen gegenseitig durchdringen. Auf diese Weise entstehen zwei keilförmige Kanten 10, 11. Auf jede dieser Kanten können nun in der in Fig. 3 gezeigten Weise je zwei Kontaktspitzen 12, 13 bzw. 14, 15 aufgesetzt werden und ergeben somit einen Transistor mit einem gemein samen Kristall und zwei Kontaktpaaren.

Claims (7)

  1. Patentansprüche:
    i. Verfahren zur Herstellung von Kristallverstärkern, bei dem mindestens- zwei Kontaktelektroden auf je eine Teilfläche eines Halb: kiterkörpers so aufgesetzt werden, daß die Berührungsflächen, insbesondere -punkte der Elektroden mit dem Halbleiter nur durch eine dünne Wandung des Halbleiters voneinander getrennt sind, vorzugsweise Keiltransistor, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens die eine Teilfläche durch Einschleifen einer schmalen Rinne in den Halbleiterkörper, der insbesondere aus Germa^ nium oder Silicium l>esteht, mittels einer dünnen Schleifscheibe erzeugt wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kanten der Schleifscheiben abgerundet sind.
  3. 3. Kristallverstärker, hergestellt nach einem Verfahren der Ansprüche 1 oder 2, dadurch ge-
    kennzeichnet, daß die eingeschliffenen Rinnen parallel zueinander liegen.
  4. 4. Kristallverstärker nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittellinien der eingeschliffenen Rinnen in einer Ebene liegen.
  5. 5. Kristallverstärker nach einem der Ansprüche ι bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Rinnen so tief eingeschliffen sind, daß keilförmige Kanten am Halbleiterkörper entstellen (Fi?- ι)·
  6. 6. Kristallverstärker nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Rinnen so tief eingeschliffen sind, daß zwei keilförmige Kanten am Halbleiterkörper entstehen (Fig. 3).
  7. 7. Kristallverstärker nach einem der Ansprüche ι bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Rinnen nur so tief eingeschliffen sind, daß ihre tiefsten Punkte den für den Abstand der Kontaktelektroden geeigneten geringen Abstand hal>en (Fig. 2).
    Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
    1 5359 9.
DES19579A 1950-09-25 1950-09-25 Kristallverstaerker und Verfahren zu seiner Herstellung Expired DE849461C (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES19579A DE849461C (de) 1950-09-25 1950-09-25 Kristallverstaerker und Verfahren zu seiner Herstellung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES19579A DE849461C (de) 1950-09-25 1950-09-25 Kristallverstaerker und Verfahren zu seiner Herstellung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE849461C true DE849461C (de) 1952-09-15

Family

ID=7475889

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DES19579A Expired DE849461C (de) 1950-09-25 1950-09-25 Kristallverstaerker und Verfahren zu seiner Herstellung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE849461C (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1027320B (de) * 1953-12-30 1958-04-03 Ibm Deutschland Spitzentransistor, dessen Halbleiteroberflaeche teilweise um einen geringen Dickenbetag abgetragen ist
DE1074759B (de) * 1954-11-02 1960-02-04 Pye Limited, Cambridge (Grossbritannien) Verfahren zur Herstellung eines Flächentransistors und nach diesem Verfahren hergestellter Flächentransistor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1027320B (de) * 1953-12-30 1958-04-03 Ibm Deutschland Spitzentransistor, dessen Halbleiteroberflaeche teilweise um einen geringen Dickenbetag abgetragen ist
DE1074759B (de) * 1954-11-02 1960-02-04 Pye Limited, Cambridge (Grossbritannien) Verfahren zur Herstellung eines Flächentransistors und nach diesem Verfahren hergestellter Flächentransistor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1924360A1 (de) Thermisch leitende Metallwandung
DE849461C (de) Kristallverstaerker und Verfahren zu seiner Herstellung
DE2134137C3 (de) Einspannvorrichtung fur ein Innen Trennsageblatt
DE2129041A1 (de) Schirm oder Schirmtrager fur eine Kathodenstrahlrohre
DE812169C (de) Rollschuh
DE612878C (de) Backenfuehrung in Drehbankfuttern
DE763005C (de) Einspritzpumpe
DE732828C (de) Zeichenschablone zum Ziehen von Schrifthilfslinien und Schaffuren
DE522269C (de) Gewindewalzmaschine zum Kaltwalzen, vorzugsweise von feinem Metallgewinde, mit mehreren Gewindewalzen
DE368979C (de) Selbstkassierer mit Geldeinwurf
DE810854C (de) Vorrichtung zum Polieren von Glas oder anderen Stoffen, insbesondere zum kontinuierlichen Polieren eines Glasbandes
DE511194C (de) Formschablone fuer Toepferdrehscheiben
AT164878B (de) Schneidplatte für ein Trockenrasiergerät
DE1603191A1 (de) Bauelement,insbesondere plattenfoermiges Bauelement,fuer Modell- bzw.Spielzeugbausaetze
DE867045C (de) Mahlkoerper
DE928814C (de) Schraegschulterfelge
DE409838C (de) Schraubenzieher
DE612586C (de) Mahlzaehne fuer Zerkleinerungsvorrichtungen
DE561682C (de) Profil-Schablone zum Richten von Muehlsteinen
DE312929C (de)
DE405337C (de) Fluessigkeitsverteiler zum Beregnen rechteckiger Flaechen
DE535897C (de) Sensenbefestigungsvorrichtung mit Ring
DE574511C (de) Saugvorrichtung
DE1564846C3 (de) Transistor und Verfahren zur Herstellung einer Mehrzahl von solchen Transistoren
DE1614861C3 (de) Verfahren zur Herstellung eines Sperrschicht-Feldeffekttransistors