DE69727471T2 - Gleichrichtervorrichtung mit integrierten bauteilen - Google Patents

Gleichrichtervorrichtung mit integrierten bauteilen Download PDF

Info

Publication number
DE69727471T2
DE69727471T2 DE69727471T DE69727471T DE69727471T2 DE 69727471 T2 DE69727471 T2 DE 69727471T2 DE 69727471 T DE69727471 T DE 69727471T DE 69727471 T DE69727471 T DE 69727471T DE 69727471 T2 DE69727471 T2 DE 69727471T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
transistors
voltage
transistor
substrate
source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69727471T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69727471D1 (de
Inventor
Jacky Bouvier
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Orange SA
Original Assignee
France Telecom SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by France Telecom SA filed Critical France Telecom SA
Application granted granted Critical
Publication of DE69727471D1 publication Critical patent/DE69727471D1/de
Publication of DE69727471T2 publication Critical patent/DE69727471T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M7/00Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M7/00Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
    • H02M7/02Conversion of ac power input into dc power output without possibility of reversal
    • H02M7/04Conversion of ac power input into dc power output without possibility of reversal by static converters
    • H02M7/12Conversion of ac power input into dc power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode
    • H02M7/21Conversion of ac power input into dc power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal
    • H02M7/217Conversion of ac power input into dc power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal using semiconductor devices only
    • H02M7/219Conversion of ac power input into dc power output without possibility of reversal by static converters using discharge tubes with control electrode or semiconductor devices with control electrode using devices of a triode or transistor type requiring continuous application of a control signal using semiconductor devices only in a bridge configuration

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Rectifiers (AREA)

Description

  • Die Erfindung betrifft die Spannungsgleichrichtung, insbesondere für Wellen im Funkfrequenzbereich.
  • Die Erfindung findet eine vorteilhafte, aber nicht darauf beschränkte Anwendung im Bereich tragbarer Objekte, die bei Zusammenwirken mit einem entfernten Endgerät in der Lage sind, Energie zurückzugewinnen, z. B. aus dem das Endgerät verlassenden Magnetfeld und das bei Frequenzen von einigen 100 kHz bis zu einigen 10 MHz.
  • Man kennt aus der statutengemäßen Erfindungsregistrierung der Vereinigten Staaten H64, veröffentlicht am 6. Mai 1986, einen Vollweggleichrichter, der in integrierter Technik mit zwei Feldeffekttransistoren mit isolierten N-Kanal-Gates (NMOS-Transistor) und zwei Dioden realisiert ist. Jedoch zeigt ein solcher Gleichrichter funktionelle Probleme, wenn die Frequenz der eingangsseitigen Wechselspannung einige 100 kHz überschreitet, aufgrund der schlechten Kommutationseigenschaften der Dioden.
  • Man könnte genauso gut das Dokument JP-A-63 064 572 heranziehen, das die Verwendung von als Diode verschalteten Feldeffekttransistoren zur Realisierung eines Gleichrichters beschreibt.
  • Das amerikanische Patent 5,479,172 beschreibt einen Gleichrichter, der vier NMOS-Transistoren beinhaltet, von denen zwei als Diode geschaltet sind. Der schwerwiegendste Nachteil eines solchen Gleichrichters liegt in dem bedeutenden Spannungsabfall, d. h. der Differenz zwischen der Eingangsspannung und der Ausgangsspannung an den Klemmen des Gleichrichters.
  • Die Erfindung beabsichtigt eine Lösung für diese Probleme anzubieten. Die Erfindung beabsichtigt insbesondere das Problem der Kommutationszeit der Dioden zu lösen bei gleichzeitiger Minimierung des Spannungsabfalls, insbesondere wobei ein korrektes Funktionieren bei erhöhten Frequenzen gewährleistet ist.
  • Die Erfindung schlägt eine Gleichrichtervorrichtung gemäß den Ansprüchen 1 und 4 vor. Folglich schlägt die Erfindung eine Gleichrichtervorrichtung vor, mit zwei Eingangsklemmen für eine Wechselspannung, Mittel zur Gleichrichtung, die in einer integrierten Halbleiter-Substrat-Technik hergestellt sind und zwei Ausgangsklemmen für eine gleichgerichtete Spannung, wobei eine dieser Ausgangsklemmen im Bereich des Substrats angeschlossen ist.
  • Nach einer allgemeinen Eigenschaft dieser Erfindung umfassen die Mittel zur Gleichrichtung ein paar erste Feldeffekttransistoren mit isolierten Gates, die so ausgebildet sind, daß sie als Gleichrichtungselemente wirken, die mit einer ihrer Drain- oder Source-Elektroden mit dem Substrat verbunden sind und ein Paar zweit Feldeffekttransistoren mit isolierten Gates, wobei jeder der zweiten Transistoren in gepolten Halbleiter-Substratzellen mit kreuzweise mit den beiden Eingangsklemmen verbundenen Gates untergebracht ist, wobei die ersten und die zweiten Transistoren inverse Kanäle haben und eine Drain/Source-Stromleitungsspannung aufweisen, die kleiner als eine vorgegebene Spannung ist.
  • Wenn die ersten Transistoren, z. B. NMOS-Transistoren, eine Kanalbreite aufweisen, die ausreicht, sodaß die Gate/Source-Stromleitungsspannung unterhalb der genannten vorgegebenen Spannung bleibt, in diesem Fall die Schwellspannung einer Diode, dann könnte die Anordnung dieser Transistoren als Gleichrichter einfach durch Zusammenschaltung dieser Transistoren als Diode hergestellt werden, d. h. durch Verbinden des Gates mit einer ihrer anderen Elektroden, z. B. dem Drain. Bei einer solchen Art der Verwirklichung, sind die Sources dieser beiden ersten als Diode geschalteten Transistoren auch mit den Eingangsklemmen der Gleichrichtervorrichtung verbunden, unter der Voraussetzung, daß die Drains der ersten Transistoren mit dem Substrat und ihre Gates mit ihren Drains verbunden sind.
  • Die Tatsache, daß eine Drain/Source-Stromleitungsspannung (oder eine Gate/Source-Stromleitungsspannung, solange das Gate mit dem Drain verbunden ist) vorliegt, die kleiner als die Schwellenspannung der parasitären Source/Substrat-Diode ist, trägt zum guten Funktionieren des Gleichrichters bei, indem diese Diffusionsdiode effektiv geshuntet wird, also mit anderen Worten verhindert wird, daß ein Teil des Stroms durch diese parasitäre Diode fließt.
  • Falls die verwendete Technologie keine ausreichend kleine Gate/Source-Stromleitungsspannung bei einer angemessenen Breite des Transistors erlaubt, könnten die ersten Transistoren als Gleichrichter angeordnet werden, indem eine der Drain- oder Source-Elektroden der ersten Transistoren mit dem Substrat und indem die Gates dieser ersten Transistoren mit einer gewählten Polarisationsspannung verbunden werden, die vorteilhafterweise kleiner als die eigenleitende Schwellenspannung jedes ersten Transistors ist (d. h. die Schwellenspannung des Transistors für eine Source/Substrat-Spannung gleich 0 Volt), also derart, daß diese während der Zeit des Nicht-Leitens hinreichend gesperrt bleiben.
  • In der Praxis, insbesondere wenn die Mittel zur Gleichrichtung in 1 μm-CMOS-Technologie (1 μm kennzeichnet die Kanallänge des Transistors) hergestellt wird, ja sogar bei einer 0,5 μm-CMOS-Technologie, wird die Polarisationsspannung in einem Bereich gewählt zwischen einigen 100 mV, z. B. 400 mV, und einer oberen Grenze, die gleich der eigenleitenden Schwellenspannung des Transistors ist, verringert um einige 100 mV, z. B. 400 mV.
  • Die Nutzung von zu einem Gleichrichtungselement zusammengeschalteter Transistoren anstelle von klassischen Dioden gestattet die korrekte Funktionsweise des Gleichrichters sogar bei erhöhten Frequenzen, z. B. bei einigen 10 MHz. Solange eine der Elektroden der ersten Transistoren (z. B. die Drain-Elektrode) mit dem Substrat verbunden ist, und das Potential der anderen Elektrode (z. B. die Source-Elektrode) während der Periode der Leitfähigkeit negativ im Verhältnis zu dem des Substrats ist, ist darüber hinaus der Spannungsabfall durch Minimierung eines Effekts minimiert, der bei Fachleuten dieses Gebiets unter dem Namen "Substrateffekt" bekannt ist.
  • Was die zweiten Transistoren, z. B. PMOS-Transistoren betrifft, ermöglicht die Tatsache, daß ihre Drain/Source-Stromleitungsspannung kleiner als eine vorgegebene Spannung sein soll, vorzugsweise der Schwellenspannung einer Diode entspricht, z. B. 0,7 Volt, in der Praxis 0,6 Volt, insbesondere wenn die Mittel zur Gleichrichtung in integrierter 1 μm- oder sogar auch 0,5 μm-CMOS-Technologie hergestellt sind, die Blockierung des vertikalen parasitären PNP- Transistors jederzeit aufrechtzuerhalten, der aus einer solchen Struktur entsteht, die zum guten Wirkungsgrad des Gleichrichters beiträgt.
  • Durch Polarisierung der Halbleiter-Zellen, die die zweiten Transistoren enthalten, z. B. indem sie mit der anderen Ausgangsklemme verbunden werden, erzielt man zudem Mitnahmeeffekte ("Latch-Up" im Englischen) dieser Transistoren durch Leitfähigkeit zwischen der Zelle und dem Substrat.
  • Weiter Vorteile und Eigenschaften der Erfindung werden bei Betrachtung der nicht beschränkenden Ausführungsbeispiele und der beiliegenden Zeichnungen deutlich, bei denen:
  • 1 schematisch ein erstes Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Gleichrichters darstellt,
  • 2 schematisch die Realisierung der Vorrichtung aus 1 in integrierter Technologie darstellt und die
  • 3 u. 4 schematisch ein zweites Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Gleichrichters zeigen.
  • In 1 bezeichnet das Bezugszeichen RDR global ein erstes Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Vollweggleichrichters.
  • Dieser Gleichrichter umfaßt zwei Anschlußklemmen BE1 und BE2 zum Empfang eines Wechselsignals (Rechteck, Sinus oder eine beliebige andere Form) und zwei Ausgangsklemmen BS1 und BS2 zur Ausgabe eines gleichgerichteten kontinuierlichen Signals.
  • Eine dieser Ausgangsklemmen, z. B. die Ausgangsklemme BS1, ist im Bereich des Halbleiter-Substrats SBS angeschlossen (2), in dem der Gleichrichter realisiert ist.
  • Zwischen den Eingangsklemmen und den Ausgangsklemmen sind Mittel zur Gleichrichtung vorgesehen, ein Paar erste Feldeffekttransistoren mit isolierten Gates, jeweils mit T1 und T2 bezeichnet, und ein Paar zweiter Feldeffekttransistoren mit isolierten Gates, jeweils mit T3 und T4 bezeichnet.
  • Im Verlauf der Beschreibung wird zum Zweck der Vereinfachung, soweit Feldeffekttransistoren mit isolierten Gates betroffen sind, zwischen den von dem Gate abweichenden Elektroden unterschieden, indem die Begriffe Source und Drain verwendet werden. Gleichwohl weiß der Fachmann, daß bei diesem Technologietyp die Transistoren symmetrisch realisiert sind, soweit es das Verhalten ihrer beiden Elektroden Source und Drain betrifft, so daß man ohne Schwierigkeiten die Bezeichnungen Source und Drain austauschen könnte.
  • In der Schaltung in 1 sind die Transistoren T1 und T2 über ihre Sources S1 und S2 mit den beiden Eingangsklemmen BE1 und BE2 verbunden. Darüber hinaus sind diese Transistoren als Dioden verschaltet, d. h. daß ihre anderen Elektroden und zwar ihre Drains D1, D2 mit den Gates G1 und G2 verbunden sind.
  • Außerdem sind die beiden Drains D1 und D2 und folglich die beiden Gates G1 und G2 direkt mit der Ausgangsklemme BS1, d. h. mit dem Halbleiter-Substrat verbunden.
  • Während das Paar der ersten Transistoren aus NMOS-Transistoren besteht, besteht das zweite Paar der Transistoren T3 und T4 aus PMOS-Transistoren.
  • Die Gates G3 und G4 dieser zweiten Transistoren sind kreuzweise mit den Eingangsklemmen BE2 und BE1 verbunden. Die Source S3 des Transistors T3 ist außerdem verbunden mit der Eingangsklemme BE1, während die Source S4 des Transistors T4 mit der Eingangsklemme BE2 und die Drains D3 und D4 zusammen mit der zweiten Ausgangsklemme BS2 verbunden sind.
  • Wie man außerdem in 2 sehen kann, ist die erste Ausgangsklemme BS1 mit dem Halbleiter-Substrat SBS verbunden, das im vorliegenden Fall P-dotiert ist, über eine Zwischenzone des Substrats SB12, die hoch P+-dotiert ist.
  • Die Drain/Source-Spannung eines jeden der leitenden Transistoren T3 und T4 ist kleiner als die Schwellenspannung der Basis-Emitter-Diode eines vertikalen parasitären PNP-Transistors, der aus der beschriebenen Struktur resultiert, und somit ist dieser parasitäre Transistor immer gesperrt.
  • Ein Fachmann, der weiß, daß die Drain/Source-Spannung eines leitenden Transistors eine Funktion des Verhältnisses W/L (wobei W die Kanalbereite und L die Kanallänge, d. h. die Drain-Source-Distanz ist), des Wertes des Leitungsstromes und der der angewendeten Technologie zugrundeliegenden Parameter ist, versteht es mühelos, die Transistoren T3 und T4 unter Berücksichtigung dieser Bedingungen zu dimensionieren. In der Praxis wird man vorzugsweise eine Drain/Source-Stromleitungsspannung wählen, die kleiner als 0,6 Volt ist. Das könnte erreicht werden durch Benutzung von Transistoren mit einer Kanalbreite von ungefähr 500 μm für Momentanströme in der Größenordnung von Milliampere und durch Nutzung einer 1 μm-CMOS-Technologie, wobei dieser letztere Wert die Kanallängen der Transistoren bezeichnet.
  • Soweit es die NMOS-Transistoren T1 und T2 betrifft, ist die Kanalbreite ausreichend groß zu wählen, so daß ihre Gate-Source-Stromleitungsspannung (also ihre Drain/Source-Stromleitungsspannung, da das Gate und der Drain verbunden sind) unterhalb der Schwellenspannung der parasitären Source/Substrat-Diffusionsdiode eines jeden dieser Transistoren bleibt. Wenn das nicht der Fall wäre, würde ein Teil des Leitungsstroms über diese Diffusionsdiode fließen und damit folglich den Wirkungsgrad des Gleichrichters reduzieren.
  • In der Praxis dimensioniert man die Transistoren so, daß eine Gate/Source-Stromleitungsspannung vorliegt, die kleiner als 0,6 Volt ist, was in einer 0,5 μm-CMOS-Technologie erreicht werden kann mit einer Kanalbreite in der Größenordnung von 300 bis 500 μm für Ströme in der Größenordnung von Milliampere.
  • Entsprechend der Leitfähigkeit eines jeden Transistors T1 und T2 wird außerdem sein Source-Potential negativ im Verhältnis zu dem Substrat. Die Source/Substrat-Diffusionsdiode ist also direkt polarisiert. Aber die Schwellenspannung VT des Transistors folgt dem physikalischen Gesetz
    Figure 00070001
    wobei
    VTO die Eigenleitungs-Schwellenspannung des Transistors bei einer Source/Substratspannung von 0 bezeichnet,
    VSB die Source/Substratspannung bezeichnet,
    KB und 2Øf zwei Technologie-Parameter sind,
    (als Beispiel: VTO = 0,65 Volt, KB = 0,7 und 2Øf = 0,63 für eine 1 μm-CMOS-Technologie).
  • Als Konsequenz wird die Schwellenspannung VT ihren Wert entsprechend der Leitfähigkeit des Transistors verringern, in dem sie den Stromfluß durch den Kanal des Transistors auf Kosten des Stroms in der Source/Substrat-Diffusionsdiode begünstigt.
  • Der Fachmann weiß, daß der Substrateffekt eines Transistors, der durch einen positiven VSB-Wert ungleich 0 hervorgerufen wird, zu einer Erhöhung der Schwellenspannung führt.
  • Dieser Substrateffekt, der nach dem amerikanischen Patent n° 5479172 im Bereich von als Dioden zusammengeschalteter Transistoren maximal ist, da ihre Sources mit einer positiven Austrittsspannung verbunden sind, wird in dem erfindungsgemäßen Gleichrichter minimiert und trägt deshalb zur Reduzierung des Spannungsabfalls bei.
  • Falls die verwendete Technologie keine ausreichend geringen Gate/Source-Stromleitungsspannungen bei einer angemessenen Breite des Transistors erlaubt, könnte der Fachmann das in 3 dargestellte Ausführungsbeispiel verwenden.
  • In 3 erhalten die entsprechenden Elemente, die eine analoge Funktion zu denen in den 1 und 2 haben Bezugszeichen, deren Ziffern in Bezug zu denen in den 1 und 2 um 10 erhöht worden sind. Einzig die Unterschiede zwischen 3 und den 1 und 2 werden nun beschrieben.
  • In 3 sind die beiden als Gleichrichter verschalteten Transistoren T11 und T12 diesmal nicht als Dioden gemäß dem Schema in 1 zusammengeschaltet, aber ihre jeweiligen Gates G11 und G12 sind mit einer gewählten Polarisationsspannung VP verbunden. Diese Polarisationsspannung, die sich hinter der Schwellenspannung der Transistoren T11 und T12 verbirgt, wird kleiner als die eigenleitende Schwellenspannung VTO dieser Transistoren gewählt, derart, daß die Source/Substrat-Spannung, also im vorliegenden Fall die Source/Drain-Spannung dieser Transistoren im leitenden Zustand unterhalb der Schwellenspannung der parasitären Source/Substrat-Diffusionsdiode bleibt. In dem Fall, in dem die Polarisationsspannung der Gates der Transistoren die Schwellenspannung VTO dieser Transistoren übersteigt, würden diese während der Zeit des Nicht-Leitens nicht ausreichend gesperrt bleiben.
  • In der Praxis könnte man eine Polarisationsspannung von einigen 100 Millivolt, typischerweise 0,5 Volt wählen. Diese Polarisationsspannung könnte (wenn sie verfügbar ist) direkt dem Bereich der anderen, den Gleichrichter beinhaltenden integrierten Schaltungsteile entnommen werden. Wenn diese Spannung nicht direkt verfügbar ist, könnte man eine Polarisationsvorrichtung vorsehen, wie sie in 4 illustriert ist.
  • In 4 umfaßt die Polarisationseinrichtung DPL zwei PMOS Transistoren T5 und T6, deren Sources mit der Versorgungsspannung + VDD verbunden sind. Die Gates dieser beiden Transistoren sind miteinander verbunden. Das Gate von Transistor T6 ist mit dem Drain verbunden.
  • Der Drain des Transistors T5 ist mit dem Substrat mit Hilfe eines NMOS-Transistors T7 verbunden, dessen Gate mit dem Drain verbunden ist. Der Drain des Transistors T6 ist mit dem Substrat mit Hilfe der beiden NMOS-Transistoren T8 und T9 verbunden, der Drain von T9 ist mit der Source von T8 verbunden. Die Polarisationsspannung VP wird dem Bereich des gemeinsamen Anschlusses entnommen.
  • Die Gates der Transistoren T7 und T8 sind miteinander verbunden, genau wie die Gates der Transistoren T7 und T9.
  • Vergleichstests zwischen der erfindungsgemäßen Vorrichtung und dem Gleichrichter des oben erwähnten amerikanischen Patents haben gezeigt, daß man bei einer sinusförmigen Eingangsspannung von +–5 Volt mit dem Gleichrichter nach dem Stand der Technik eine gleichgerichtete Spannung von etwa 3,3 Volt und mit dem erfindungsgemäßen Gleichrichter eine gleichgerichtete Spannung von etwa 4,2 Volt erhält, was einer Differenz von 22% zu Gunsten des erfindungsgemäßen Gleichrichters entspricht.
  • Die vorangegangene Beschreibung bezieht sich auf Vorrichtungen, die P-dotiertes oder P-Typ-Substrat verwenden. Selbstverständlich ist es im Falle von N-dotierten oder N-Typ-Substraten erforderlich, die NMOS-Transistoren durch PMOS-Transistoren und umgekehrt zu ersetzen und gleichzeitig die Spannungsvorzeichen und den Richtungssinn der Diffusionsdioden umzukehren.

Claims (11)

  1. Gleichrichtervorrichtung mit zwei Eingangsklemmen (BE1, BE2) für eine Wechselspannung, Mitteln zur Gleichrichtung, hergestellt in einer in ein Halbleiter-Substrat (SBS) integrierten Technik, und zwei Ausgangsklemmen (BS1, BS2) für eine gleichgerichtete Spannung, wobei eine dieser Ausgangsklemmen (BS1) im Bereich des Substrats angeschlossen ist und die Mittel zur Gleichrichtung ein Paar erste Feldeffekttransistoren mit widerstandsisolierten Gates (T1, T2), die mit einer ihrer Elektroden (D1, D2), die mit dem Substrat verbunden ist, zwischen den beiden Eingangsklemmen als Diode und in Reihe geschaltet sind, und ein Paar zweite Feldeffekttransistoren mit widerstandsisolierten Gates (T3, T4) umfassen, wobei die Source eines der zweiten Transistoren und das Gate des anderen zweiten Transistors mit einer der Eingangsklemmen und das Gate eines der zweiten Transistoren und die Source des anderen zweiten Transistors mit der anderen Eingangsklemme und die Drains der zwei zweiten Transistoren gemeinsam mit der zweiten Ausgangsklemme verbunden sind, dadurch gekennzeichnet, daß die zweiten Transistoren jeweils in gepolten Halbleiter-Substratzellen (CS3, CS4) ausgebildet sind, wobei die ersten und die zweiten Transistoren gegenläufige Kanäle haben und jeder Transistor eine Drain/Source-Stromleitungsspannung hat, die kleiner als eine Schwellenspannung einer mit demselben Transistor verbundenen Stördiode ist.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Drains (D1, D2) der ersten Transistoren (T1, T2) mit dem Substrat (SBS) und ihre Gates (G1, G2) mit ihren jeweiligen Drains verbunden sind, während ihre Sources (S1, S2) jeweils mit den beiden Eingangsklemmen (BE1, BE2) verbunden sind.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Breite der Kanäle der ersten Transistoren wenigstens 300 Mikrometer beträgt.
  4. Gleichrichtervorrichtung mit zwei Eingangsklemmen (BE11, BE12) für eine Wechselspannung, Mitteln zur Gleichrichtung, hergestellt in einer in ein Halbleiter-Substrat (SBS) integrierten Technik, und zwei Ausgangsklemmen (BS11, BS12) für eine gleichgerichtete Spannung, wobei eine dieser Ausgangsklemmen (BS11) im Bereich des Substrats angeschlossen ist und die Mittel zur Gleichrichtung ein Paar erste Feldeffekttransistoren mit widerstandsisolierten Gates (T11, T12) und ein Paar zweite Feldeffekttransistoren mit widerstandsisolierten Gates (T13, T14) umfassen, wobei die Source eines der zweiten Transistoren und das Gate des anderen zweiten Transistors mit einer der Eingangsklemmen verbunden sind und das Gate eines der zweiten Transistoren und die Source des anderen zweiten Transistors mit der anderen Eingangsklemme und die Drains der zwei zweiten Transistoren gemeinsam mit der zweiten Ausgangsklemme verbunden sind, dadurch gekennzeichnet, daß eine der Drain- oder Source-Elektroden der ersten Transistoren mit dem Substrat und ihre Gates mit einer gewählten Polarisierungsspannung (VP) verbunden sind und daß die zweiten Transistoren jeweils in gepolten Halbleiter-Substratzellen ausgebildet sind, wobei die ersten und zweiten Transistoren entgegengesetzte Kanäle und eine Drain/Source-Stromleitungsspannung haben, die kleiner ist als eine Schwellenspannung einer mit demselben Transistor verbundenen Diode.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Drains der ersten Transistoren (T11, T12) mit dem Substrat und ihre jeweilige Source mit den zwei Eingangsklemmen verbunden sind.
  6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die gewählte Polarisationsspannung (VP) kleiner ist als die eigenleitende Schwellenspannung von jedem ersten Transistor.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die gewählte Polarisationsspannung (VP) zwischen einigen Hundert Millivolt, z. B. 400 Millivolt, und einer oberen Grenze liegt, die gleich der eigenleitenden Schwellenspannung des ersten Transistors ist, verringert um einige Hundert Millivolt, z. B. 400 Millivolt.
  8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Substratzellen der zweiten Transistoren mit der anderen Ausgangsklemme (BS2) verbunden sind.
  9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die vorgewählte Spannung der Schwellenspannung einer Diode, z. B. 0,7 Volt, entspricht.
  10. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die vorgewählte Spannung 0,6 Volt beträgt.
  11. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei den ersten Transistoren um NMOS-Transistoren, während es sich bei den zweiten Transistoren um PMOS-Transistoren handelt.
DE69727471T 1996-11-29 1997-11-27 Gleichrichtervorrichtung mit integrierten bauteilen Expired - Lifetime DE69727471T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9614705A FR2756679B1 (fr) 1996-11-29 1996-11-29 Dispositif de redressement de tension a composants integres
FR9614705 1996-11-29
PCT/FR1997/002132 WO1998024172A2 (fr) 1996-11-29 1997-11-27 Dispositif de redressement de tension a composants integres

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69727471D1 DE69727471D1 (de) 2004-03-11
DE69727471T2 true DE69727471T2 (de) 2004-12-23

Family

ID=9498202

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69727471T Expired - Lifetime DE69727471T2 (de) 1996-11-29 1997-11-27 Gleichrichtervorrichtung mit integrierten bauteilen

Country Status (8)

Country Link
US (1) US6078512A (de)
EP (1) EP0882323B1 (de)
JP (1) JP3863571B2 (de)
KR (1) KR19990082042A (de)
CN (1) CN1130001C (de)
DE (1) DE69727471T2 (de)
FR (1) FR2756679B1 (de)
WO (1) WO1998024172A2 (de)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6349047B1 (en) * 2000-12-18 2002-02-19 Lovoltech, Inc. Full wave rectifier circuit using normally off JFETs
FR2807585B1 (fr) * 2000-04-05 2002-07-05 St Microelectronics Sa Dispositif redresseur dans un circuit integre tele-alimente
TW479904U (en) * 2000-10-09 2002-03-11 Sunplus Technology Co Ltd Diode circuit to simulate zero cutoff voltage and the rectifying circuit having zero cutoff voltage characteristics
JP4059874B2 (ja) * 2004-09-30 2008-03-12 富士通株式会社 整流回路
JP4521598B2 (ja) 2004-10-13 2010-08-11 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置、非接触電子装置並びに携帯情報端末
US8248141B2 (en) * 2005-07-08 2012-08-21 Med-El Elekromedizinische Geraete Gmbh Data and power system based on CMOS bridge
JP2009500997A (ja) * 2005-07-08 2009-01-08 メド−エル エレクトロメディジニシェ ゲラテ ゲーエムベーハー Cmos全波整流器
US7236408B2 (en) * 2005-07-19 2007-06-26 International Business Machines Corporation Electronic circuit having variable biasing
US8891264B1 (en) * 2006-11-15 2014-11-18 Thin Film Electronics Asa Series circuits and devices
US7729147B1 (en) * 2007-09-13 2010-06-01 Henry Wong Integrated circuit device using substrate-on-insulator for driving a load and method for fabricating the same
JP5483030B2 (ja) 2008-03-17 2014-05-07 パワーマット テクノロジーズ リミテッド 誘導伝送システム
US8320143B2 (en) * 2008-04-15 2012-11-27 Powermat Technologies, Ltd. Bridge synchronous rectifier
US11979201B2 (en) 2008-07-02 2024-05-07 Powermat Technologies Ltd. System and method for coded communication signals regulating inductive power transmissions
US8981598B2 (en) 2008-07-02 2015-03-17 Powermat Technologies Ltd. Energy efficient inductive power transmission system and method
WO2010125864A1 (ja) 2009-04-27 2010-11-04 株式会社村田製作所 ワイヤレス電力伝送端末
US8792260B2 (en) * 2010-09-27 2014-07-29 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Rectifier circuit and semiconductor device using the same
JP6190204B2 (ja) * 2012-09-25 2017-08-30 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 半導体装置
US9124194B2 (en) * 2013-06-03 2015-09-01 Infineon Technologies Austria Ag Methods and systems for a full-bridge voltage converting device
JP6289974B2 (ja) * 2014-03-31 2018-03-07 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP6372182B2 (ja) * 2014-06-17 2018-08-15 富士通株式会社 信号変換回路および電源装置
CN104333239B (zh) * 2014-10-23 2017-03-01 中山大学 一种高效率全集成的ac‑dc转换器
CN105991002B (zh) * 2015-02-04 2018-10-09 中国科学院微电子研究所 Cmos整流二极管电路单元
CN110350810A (zh) * 2019-05-24 2019-10-18 广东工业大学 一种消除阈值电压交叉多路并行输出全波整流电路

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4139880A (en) * 1977-10-03 1979-02-13 Motorola, Inc. CMOS polarity reversal circuit
DE3044444A1 (de) * 1980-11-26 1982-06-16 Deutsche Itt Industries Gmbh, 7800 Freiburg "monolithisch integrierte gleichrichter-brueckenschaltung"
JPS633655A (ja) * 1986-06-24 1988-01-08 Kanda Tsushin Kogyo Kk ブリツジ整流回路
US4875151A (en) * 1986-08-11 1989-10-17 Ncr Corporation Two transistor full wave rectifier
JPH0828975B2 (ja) * 1986-09-01 1996-03-21 株式会社田村電機製作所 電話機用電源回路
US5173849A (en) * 1987-09-19 1992-12-22 Magellan Corporation (Australia) Pty. Ltd. Integratable synchronous rectifier
US5479172A (en) * 1994-02-10 1995-12-26 Racom Systems, Inc. Power supply and power enable circuit for an RF/ID transponder
GB9505350D0 (en) * 1995-03-16 1995-05-03 British Tech Group Electronic identification system

Also Published As

Publication number Publication date
FR2756679A1 (fr) 1998-06-05
EP0882323B1 (de) 2004-02-04
KR19990082042A (ko) 1999-11-15
WO1998024172A2 (fr) 1998-06-04
JP3863571B2 (ja) 2006-12-27
CN1241319A (zh) 2000-01-12
US6078512A (en) 2000-06-20
EP0882323A2 (de) 1998-12-09
DE69727471D1 (de) 2004-03-11
EP0882323A3 (de) 2002-11-13
JP2002514377A (ja) 2002-05-14
FR2756679B1 (fr) 1999-02-12
WO1998024172A3 (fr) 2002-09-26
CN1130001C (zh) 2003-12-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69727471T2 (de) Gleichrichtervorrichtung mit integrierten bauteilen
DE2411839C3 (de) Integrierte Feldeffekttransistor-Schaltung
DE4110369C2 (de) MOS-Halbleiterbauelement
DE2841429A1 (de) Cmos-polaritaetsumkehrschaltung
DE1538608A1 (de) Strombegrenzerschaltung
DE3009447A1 (de) Integrierter cmos-halbleiterbaustein
DE3124237A1 (de) "feldeffektkapazitaet"
DE2510604C2 (de) Integrierte Digitalschaltung
EP0236967A1 (de) Schaltungsanordnung zum Ansteuern eines mit sourceseitiger Last verbundenen Mosfet
DE4017617C2 (de) Spannungserzeugungsschaltung mit geringer Leistungsaufnahme und stabiler Ausgangsspannung bei kleiner Schaltkreisfläche
DE102008031688A1 (de) Aktive Diode
DE2554054A1 (de) Differentialverstaerkerschaltung in cmos-bauweise
DE102004059627B4 (de) Halbleitervorrichtung mit einem Hochpotentialinselbereich
DE1564221A1 (de) Halbleiterbauelement vom Feldeffekttyp,insbesondere zur Realisierung von logischen Funktionen
DE3147870C2 (de) CMOS-Schaltkreis mit mindestens zwei Speisespannungsquellen
DE2740763A1 (de) Integrierte stromversorgungsschaltung
DE1088544B (de) Schaltungsanordnung mit einem Koinzidenzgatter aus mehreren parallel geschalteten Gleichrichtern zur Ausuebung verschiedener logischer Funktionen
CH691092A5 (de) Integrierte Schaltungsanordnung mit Diodencharakteristik.
DE2822094A1 (de) Monolithische integrierte cmos- schaltung
DE3727948C2 (de)
DE2644401B1 (de) Elektronischer Schalter
DE2627047A1 (de) Halbleiterschalter
DE4107332A1 (de) Integrierte bustreiberschaltung
DE3615545A1 (de) Schaltungsanordnung mit angezapfter ccd-verzoegerungsleitung
DE2001622A1 (de) Feldeffekttransistor-Bauelement

Legal Events

Date Code Title Description
8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: DERZEIT KEIN VERTRETER BESTELLT

8364 No opposition during term of opposition