DE69706029T2 - Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung - Google Patents

Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung

Info

Publication number
DE69706029T2
DE69706029T2 DE69706029T DE69706029T DE69706029T2 DE 69706029 T2 DE69706029 T2 DE 69706029T2 DE 69706029 T DE69706029 T DE 69706029T DE 69706029 T DE69706029 T DE 69706029T DE 69706029 T2 DE69706029 T2 DE 69706029T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
compound
group
independently
integer
resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69706029T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69706029D1 (de
Inventor
Masahiro Akiyama
Katsumi Inomata
Shin-Ichiro Iwanaga
Akira Tsuji
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
JSR Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JSR Corp filed Critical JSR Corp
Publication of DE69706029D1 publication Critical patent/DE69706029D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69706029T2 publication Critical patent/DE69706029T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0045Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/022Quinonediazides
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/022Quinonediazides
    • G03F7/023Macromolecular quinonediazides; Macromolecular additives, e.g. binders
    • G03F7/0233Macromolecular quinonediazides; Macromolecular additives, e.g. binders characterised by the polymeric binders or the macromolecular additives other than the macromolecular quinonediazides
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/038Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
    • G03F7/0382Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable the macromolecular compound being present in a chemically amplified negative photoresist composition
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/039Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/039Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
    • G03F7/0392Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/039Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
    • G03F7/0392Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition
    • G03F7/0397Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition the macromolecular compound having an alicyclic moiety in a side chain

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Description

    HINTERGRUND DER ERFINDUNG 1. Gebiet der Erfindung
  • Die Erfindung bezieht sich auf eine strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung, die ein alkali-lösliches Harz enthält. Genauer gesagt bezieht sich die Erfindung auf eine strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung, die als Resist für die Verwendung bei der Herstellung integrierter Schaltkreise geeignet ist, die gegenüber einer Vielzahl von Strahlungen empfindlich ist, einschließlich ultravioletter Strahlung, wie G-Strahlen, I-Strahlen und ähnlichem; Strahlung des fernen UV-Bereichs, wie Strahlung eines KrF-Excimer-Lasers und ähnliches; Röntgenstrahlung, wie Synchrotonstrahlung und ähnliches; und Strahlung aus geladenen Teilchen, wie Elektronenstrahlung, und ähnliches; insbesondere ultraviolette Strahlung und Strahlung des ferner ultravioletten Bereichs.
  • 2. Beschreibung des Stands der Technik
  • Positive Resists werden bei der Herstellung integrierter Schaltkreise in großem Umfang verwendet, und da der Integrationsgrad der integrierten Schaltkreise in den letzten Jahren zunahm, besteht eine Nachfrage nach positiven Resists, die zur Bildung eines Resistmusters mit besserer Auflösung geeignet sind.
  • Um Resistmaterialien zur Verbesserung der Auflösung positiver Resists zu modifizieren, ist ganz allgemein beispielsweise ein Verfahren bekannt, das die Verringerung des Molekulargewichts eines in dem Resist verwendeten alkali-löslichen Harzes umfaßt. Dieses Verfahren ist jedoch mit dem Problem verbunden, daß sich die Wärmebeständigkeit des Resists verringert. Es ist ein Verfahren zur Verbesserung der Auflösung auf Grund einer Modifikation von Verfahrensschritten bekannt, das die Zunahme der numerischen Apertur (NA) eines Steppers umfaßt. Dieses Verfahren ist jedoch mit dem Problem verbunden, daß die Fokustiefe (Brennweite) klein wird, so daß gleichzeitig eine Verbesserung der Resistmaterialien erforderlich ist. Eine der Gegenmaßnahmen zur Verbesserung der Resistmaterialien besteht zum Beispiel in der Vergrößerung der Menge einer zur Verbesserung der Fokustiefe zugegebenen Chinondiazidverbindung. Eine Zunahme der Menge der Chinondiazidverbindung führt jedoch zu einer Verschlechterung der Entwickelbarkeit.
  • Die Patentschrift WO 96/20430 offenbart eine positive Resistzusammensetzung, die ein alkali-lösliches Phenolharz, einen Sensibilisator, der einen Chinondiazidsulfonsäureester einer bestimmten Polyhydroxidverbindung und eine aromatische Phenolverbindung umfaßt.
  • Die europäische Patentschrift EP-A-0 496 640 offenbart eine strahlungsempfindliche positive Resistzusammensetzung, die ein alkali-lösliches Novolakharz, eine 1,2-Chinondiazidverbindung und eine Phenolverbindung mit geringem Molekulargewicht als Lösungsbeschleuniger für das Novolakharz umfaßt.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Eine Aufgabe der Erfindung besteht in der Bereitstellung einer neuen strahlungsempfindlichen Harzzusammensetzung, die als positives Resist geeignet ist, das eine gute Entwickelbarkeit, eine hohe Empfindlichkeit, eine hohe Auflösung und eine große Fokustiefe aufweist.
  • Erfindungsgemäß werden die vorstehend genannten Aufgaben der Erfindung durch eine strahlungsempfindliche Zusammensetzung gelöst, die die nachstehenden Bestandteile umfaßt:
  • (A) ein alkali-lösliches Harz, und
  • (B) eine 1,2-Chinondiazidverbindung, die durch die nachstehende Formel (1) wiedergegeben wird:
  • worin R¹ bis R&sup6; unabhängig eine Alkylgruppe, eine Cycloalkylgruppe oder eine Arylgruppe sind; a und b sind unabhängig eine ganze Zahl von 1 bis 3; D¹ und D² sind unabhängig ein Wasserstoffatom oder eine 1,2-Chinondiazidosulfonylgruppe, unter der Bedingung, daß mindestens ein D¹ eine 1,2-Chinondiazidosulfonylgruppe ist; A ist eine Einfachbindung, -O-, -S-, -CH&sub2;-, -C(CH&sub3;)&sub2;-, eine Gruppe, die durch die nachstehende Formel (2) wiedergegeben wird:
  • oder eine Gruppe, die durch die nachstehende Formel (3) wiedergegeben wird:
  • und x und y sind eine ganze Zahl von 0 bis 2.
  • Die Zusammensetzung der Erfindung begrenzt wirkungsvoll das Auftreten von Schaum, weist eine verbesserte Entwickelbarkeit auf, kann ein gutes Muster bilden, zeigt eine hohe Empfindlichkeit und eine hohe Auflösung und verbessert insbesondere die Fokustiefe. Somit kann die strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung geeigneterweise als Resist für die Verwendung bei der Herstellung integrierter Schaltkreise mit einem hohen Integrationsgrad verwendet werden.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNG
  • Fig. 1 zeigt einen Querschnitt des Resistmusters.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
  • Die Erfindung wird nun genauer beschrieben.
  • (A) Alkali-lösliches Harz
  • Das alkali-lösliches Harz (nachstehend wird darauf als "Harz (A)" Bezug genommen) des Bestandteils A, das in der Zusammensetzung der Erfindung verwendet wird, kann z. B. alkali-lösliche Phenolharze, Polyvinylphenol oder Derivate davon, ein Styrol-Maleinsäureanhydrid-Copolymer oder Derivate davon, Polyvinylhydroxybenzoat, Acrylsäureharze, die eine Carboxylgruppe und ähnliches enthalten, einschließen. Darunter sind alkali-lösliche Phenolharze bevorzugt.
  • Das Harz (A) weist ein Gewichtsmittel des Molekulargewichts (nachstehend wird darauf als "Mw" Bezug genommen), bezogen auf Polystyrol, von normalerweise 300 bis 20.000 auf. Unter dem Gesichtspunkt der Verarbeitbarkeit, die erforderlich ist, wenn die Zusammensetzung der Erfindung auf ein Substrat aufgebracht wird, der Entwickelbarkeit, die erforderlich ist, wenn sie als Resist verwendet wird, und der Verbesserung der Empfindlichkeit und der Wärmebeständigkeit weist es ein Mw von bevorzugt 2.000 bis 20.000, und besonders bevorzugt von 3.000 bis 15.000 auf. Insbesondere im Falle eines alkali-löslichen Phenolharzes weist es bevorzugt ein Mw von 5.000 bis 14.000, bevorzugter von 8.000 bis 12. 000 auf.
  • Das alkali-lösliche Phenolharz kann dadurch erhalten werden, daß eine Phenolverbindung, die durch die nachstehende Formel (4) wiedergegeben wird:
  • worin n eine ganze Zahl von 1 bis 3 ist, und eine Aldehydverbindung, wie eine Monoaldehydverbindung, eine Bisaldehydverbindung oder ähnliches, einer Polykondensation unterzogen werden.
  • Bevorzugte Beispiele für die vorstehend erwähnte Phenolverbindung sind Phenol, o-Kresol, m-Kresol, p-Kresol, 2,3-Xylenol, 2,5-Xylenol, 3,4-Xylenol, 3,5-Xylenol, 2,3,5-Trimethylphenol and 3,4,5-Trimethylphenol, und besonders bevorzugt Phenol, m-Kresol, p-Kresol, 2,3-Xylenol, 2,5-Xylenol, 3,4-Xylenol, 3,5-Xylenol und 2,3,5-Trimethylphenol. Diese Phenolverbindungen können alleine oder als Kombination aus zwei oder mehreren davon verwendet werden.
  • In dem Fall, in dem die Phenolverbindung als Kombination aus zwei oder mehreren davon verwendet wird, ist beispielsweise eine Kombination aus m-Kresol/p-Kresol von 30 bis 95/5 zu 70 (Gewichtsverhältnis), m-Kresol/2,3-Xylenol/3,4-Xylenol von 20 bis 95/5 bis 80/0 bis 75 (Gewichtsverhältnis) oder m-Kresol/2,3,5-Trimethyiphenol/2,3-Xylenol von 20 bis 95/5 bis 80/0 bis 75 (Gewichtsverhältnis) besonders bevorzugt.
  • Die Monoaldehydverbindung, mit der die Phenolverbindung einer Polykondensation unterzogen wird, kann z. B. die nachstehenden Verbindungen einschließen: Formaldehyde, wie Formaldehyd, Trioxan, Paraformaldehyd und ähnliches; Halbformale, wie Methylhalbformal, Ethylhalbformal, Propylhalbformal, Butylhalbformal, Phenylhalbformal und ähnliches; Benzaldehyde, wie Benzaldehyd, o-Hydroxybenzaldehyd, m-Hydroxybenzaldehyd, p-Hydroxybenzaldehyd, o-Chlorbenzaldehyd, m-Chlorbenzaldehyd, p-Chlorbenzaldehyd, o-Nitrobenzaldehyd, m-Nitrobenzaldehyd, p-Nitrobenzaldehyd, o-Methylbenzaldehyd, m-Methylbenzaldehyd, p-Methylbenzaldehyd, p-Ethylbenzaldehyd, p-n-Butylbenzaldehyd, und ähnliches; Acetaldehyd; Propylaldehyd; Phenylacetaldehyd; α-Phenylpropylaldehyd; β-Phenylpropylaldehyd; und Furfural.
  • Die Bisaldehydverbindung kann Glyoxal, Glutaraldehyd, Terephthalaldehyd und Isophthalaldehyd einschließen.
  • Darunter sind Formaldehyd, Butylhalbformal und o-Hydroxybenzaldehyd besonders bevorzugt.
  • Diese Aldehydverbindungen können ebenfalls alleine oder als Kombination aus zwei oder mehreren davon verwendet werden.
  • Die Aldehydverbindung kann normalerweise in einer Menge von 0,7 bis 3,0 Mol, und bevorzugt von 0,6 bis 115 Mol, pro Mol der Phenolverbindung, verwendet werden.
  • Üblicherweise wird bei der Polykondensationsreaktion der Phenolverbindung mit der Aldehydverbindung ein Katalysator, wie ein saurer Katalysator, ein basischer Katalysator oder ähnliches, verwendet. Solch ein saurer Katalysator kann z. B. Salzsäure, Salpetersäure, Schwefelsäure, Ameisensäure, Oxalsäure, Essigsäure und p-Toluolsäure einschließen. Der saure Katalysator kann normalerweise in einer Menge von 1 · 10&supmin;&sup5; bis 5 · 10&supmin;¹ Mol pro Mol der Phenolverbindung verwendet werden.
  • Als Reaktionsmedium für die vorstehende Polykondensation wird normalerweise Wasser verwendet. Falls vom Beginn der Umsetzung an ein uneinheitliches System gebildet wird, wenn Wasser als Reaktionsmedium eingesetzt wird, kann ein hydrophiles Lösungsmittel oder ein lipophiles Lösungsmittel verwendet werden. Das hydrophile Lösungsmittel kann z. B. Alkohole, wie Methanol, Ethanol, Propanol, Butanol, Propylenglykolmonomethylether und ähnliches; und cyclische Ether, wie Tetrahydrofuran, Dioxan und ähnliches einschließen. Das lipophile Lösungsmittel kann Ketone einschließen, wie Methylethylketon, Methylisobutylketon, 2-Heptanon und ähnliches. Dieses Reaktionsmedium kann normalerweise in einer Menge von 20 bis 1.000 Gew.teilen pro 100 Gew. teile der Reaktantenmaterialien, die aus der Phenolverbindung und der Aldehydverbindung bestehen, verwendet werden.
  • Die Temperatur der Polykondensationsreaktion kann geeigneterweise in Übereinstimmung mit der Reaktivität der Reaktanten eingestellt werden, üblicherweise kann eine Temperatur in einem Bereich von 10 bis 200ºC eingesetzt werden.
  • Als Verfahren für die Polykondensationsreaktion kann geeigneterweise ein Verfahren eingesetzt werden, in dem die Phenolverbindung, die Aldehydverbindung, der Katalysator und so weiter zusammen in einen Reaktionsbehälter gegeben werden; ein Verfahren, in dem die Phenolverbindung, die Aldehydverbindung und so weiter im Verlaufe der Umsetzung zu dem Reaktionssystem gegeben werden, in dem der Katalysator vorhanden ist; und ähnliches.
  • Nachdem die Polykondensationsreaktion beendet ist, werden im allgemeinen die nicht umgesetzten Materialien, der Katalysator, das Reaktionsmedium und ähnliches, die in dem System auftreten, entfernt. Genauer gesagt kann nach einer Erhöhung der Temperatur auf 130ºC bis 230ºC und dem Entfernen der flüchtigen Bestandteile unter verringertem Druck das alkalilösliche Phenolharz zurückgewonnen werden.
  • Das auf die vorstehend beschriebene Weise erhaltene Harz wird in einem guten Lösungsmittel, wie Ethylenglykolmonomethyletheracetat, Methyl-3-methoxypropionat, Methylisobutylketon, 2-Heptanon, Dioxan, Methanol, Ethylacetat oder ähnlichem gelöst, und anschließend wird ein schlechtes Lösungsmittel, wie n-Hexan, n-Heptan oder ähnliches beigemischt, um ein hochmolekulares alkali-lösliches Phenolharz mit einem Mw von 2.000 bis 20.000 zu erhalten. Die so abgetrennte Harzlösungsschicht kann gewonnen werden, um ein alkali-lösliches Phenolharz mit einem hohen Molekulargewicht zu erhalten.
  • Das Harz (A) kann alleine oder als Kombination aus zwei oder mehreren davon verwendet werden.
  • Das Harz (A) kann wie vorstehend beschrieben bevorzugt ein Mw von 2.000 bis 20.000 aufweisen. Um die Alkali-Löslichkeit der Zusammensetzung, die erhalten werden soll zu fördern, kann es erwünscht sein, ein niedermolekulares alkali-lösliches Harz mit einem Mw von kleiner 2.000 in Kombination zu verwenden. Das alkali-lösliche Harz mit niedrigem Molekulargewicht weist bevorzugt ein Mw in einem Bereich von 300 oder größer, aber kleiner als 2.000 auf.
  • Solch ein alkali-lösliches Harz mit niedrigem Molekulargewicht kann zum Beispiel alkali-lösliche Novolak-Harze mit niedrigem Molekulargewicht und alkali-lösliches Polyhydroxystyrol und Derivate davon einschließen. Beispielsweise kann es ein kondensiertes Phenol/Formaldehyd-Novolak-Harz, ein kondensiertes o-Kresol/Formaldehyd-Novolak-Harz, ein kondensiertes m-Kresol/Formaldehyd-Novolak-Harz, ein kondensiertes p-Kresol/Formaldehyd-Novolak-Harz, ein kondensiertes m-Kresol/p-Kresol/Formaldehyd-Novolak-Harz, Polyhydroxystyrol und ein Hydroxystyrol-Styrol-Copolymer einschließen.
  • Das alkali-lösliche Novolak-Harz mit geringem Molekulargewicht kann dadurch erhalten werden, daß eine Phenolverbindung und ein Aldehyd einer Polykondensation unterzogen werden. Als diese Phenolverbindung kann neben denjenigen Phenolverbindungen, die beispielhaft als die bei der Synthese der vorstehend erwähnten Novolak-Harze verwendete Phenolverbindung genannt wurden, 1-Naphthol, 2-Naphthol oder ähnliches verwendet werden. In diesem Fall kann der Aldehyd normalerweise in einer Menge von 0,2 bis 0,8 mol, und bevorzugt von 0,3 bis 0,7 Mol pro Mol der Phenolverbindung verwendet werden. Als Katalysator für diese Polykondensation kann der vorstehend beschriebene saure Katalysator verwendet werden.
  • Das alkali-lösliche Harz mit dem niedrigen Molekulargewicht kann normalerweise in einer Menge von 50 Gewichtsteilen oder weniger, bezogen auf 100 Gewichtsteile des alkali-löslichen Harzes mit hohem Molekulargewicht mit einem Mw von 2.000 bis 20.000, beigemischt sein.
  • (B) Chinondiazidverbindung
  • Die 1,2-Chinondiazidverbindung (nachstehend wird darauf als "Chinondiazidverbindung (B)" Bezug genommen), die durch die Formel (1) wiedergegeben wird, die als der Bestandteil (B) in der Zusammensetzung der Erfindung verwendet wird, fungiert als strahlungsempfindliches Mittel.
  • In der Formel (1) sind R¹ bis R&sup6; unabhängig eine Alkylgruppe, eine Cycloalkylgruppe oder eine Arylgruppe. Die Alkylgruppe kann hier bevorzugt eine Alkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen, insbesondere eine Methylgruppe, eine Ethylgruppe, eine n-Propylgruppe, eine Isopropylgruppe, eine n-Butylgruppe, eine t-Butylgruppe und ähnliches einschließen. Die Cycloalkylgruppe kann bevorzugt diejenigen mit 5 bis 7 Kohlenstoffatomen einschließen, z. B. eine Cyclopentylgruppe, eine Cyclohexylgruppe und ähnliches. Die Arylgruppe kann Arylgruppen mit 6 bis 10 Kohlenstoffatomen, z. B. eine Phenylgruppe, eine Tolylgruppe, eine Naphthylgruppe und ähnliches einschließen.
  • In der Formel (1), sind D¹ und D² unabhängig ein Wasserstoffatom oder eine 1,2-Chinondiazidosulfonylgruppe, unter der Bedingung, daß mindestens eines der D¹ eine 1,2-Chinondiazidosulfonylgruppe ist.
  • Die 1,2-Chinondiazidosulfonylgruppe kann hier insbesondere die 1,2-Benzochinondiazido-4-sulfonylgruppe, die 1,2-Naphthochinondiazido-4-sulfonylgruppe, die 1,2-Naphthochinondiazido- 5-sulfonylgruppe und ähnliches einschließen.
  • In der Formel (1) ist A eine Einfachbindung, -O-, -S-, -CH&sub2;-, -C(CH&sub3;)&sub2;-, eine Gruppe, die durch die Formel (2) oder die Formel (3) wiedergegeben wird.
  • Die Chinondiazidverbindung (B), die durch die Formel (1) wiedergegeben wird, wird durch Umsetzung einer Verbindung mit der Formel (1), in der alle D¹ und D² Wasserstoffatome sind, das heißt eine Verbindung mit der Formel (1), in der die Gruppen, die durch -OD¹ und -OD² wiedergegeben werden, eine Hydroxylgruppe sind (nachstehend wird darauf als "Vorstufe (b)" Bezug genommen) mit 1,2-Naphthochinondiazido-5- sulfonylchlorid in Gegenwart eines basischen Katalysators, wie Triethylamin oder ähnliches, erhalten.
  • Spezielle Beispiele für die Vorstufe (b) können Verbindungen einschließen, die durch die nachstehenden Formeln (5-1) bis (5-8) wiedergegeben werden.
  • Spezielle Beispiele für die Chinondiazidverbindung (B) können 1,2-Benzochinondiazido-4-sulfonsäureester, 1,2-Naphthochinondiazido-4-sulfonsäureester, 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonsäureester, 1,2-Naphthochinondiazido-6-sulfonsäureester und ähnliches des Vorläufers (b) einschließen, der durch jede der Formeln (5-1) bis (5-8) wiedergegeben wird. Besonders bevorzugt sind der 1,2-Naphthochinondiazido-4-sulfonsäureester und der 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonsäureester.
  • In der Zusammensetzung der Erfindung wird die Chinondiazidverbindung (B) normalerweise in einer Menge von 5 bis 50 Gewichtsteilen, besonders bevorzugt von 10 bis 40 Gewichtsteilen, pro 100 Gewichtsteile des Harzes (A) verwendet. Die Chinondiazidverbindung (B) kann alleine oder als Kombination aus zwei oder mehreren davon verwendet werden.
  • Die Vorstufe (b) kann auf die nachstehende Weise hergestellt werden.
  • Die Vorstufen-Verbindung, die der Formel (1) entspricht, in der D¹ und D² jeweils ein Wasserstoffatom sind, A eine Einfachbindung, -O-, -S-, -CH&sub2;- oder -C(CH&sub3;)&sub2; ist, kann beispielsweise unter Verwendung einer Phenolverbindung, die durch die nachstehende Formei (6) wiedergegeben wird, als Ausgangsmaterial hergestellt werden.
  • worin B eine Gruppe ist, die durch eine Einfachbindung, -O-, -S-, -CH&sub2;- oder -C(CH&sub3;)&sub2;- wiedergegeben wird.
  • Genauer gesagt wird die Vorstufen-Verbindung durch Erwärmen der Phenolverbindung, die durch die Formel (6) wiedergegeben wird, und Isopropylenphenol in Gegenwart eines sauren Katalysators bei ungefähr 30 bis 60ºC erhalten.
  • Die Reaktion kann mit einem Lösungsmittel oder ohne Lösungsmittel durchgeführt werden. Das Lösungsmittel muß nicht verwendet werden, wenn die Reaktantenbestandteile gleichmäßig gemischt werden können. Im Falle der Verwendung eines Lösungsmittels ist die alleinige Verwendung von Toluol oder Xylol oder die Verwendung von Toluol und n-Hexan als Mischung bevorzugt. Als der saure Katalysator werden p-Toluolsulfonsäure, Salzsäure und ähnliches verwendet.
  • Die der Formel (1) entsprechende Vorstufen-Verbindung, in der D¹ und D² jeweils ein Wasserstoffatom sind, A durch die Formel (2) oder die Formel (3) wiedergegeben wird, kann beispielsweise unter Verwendung einer Dihydroxyverbindung, die durch die Formel (7) oder die Formel (8) wiedergegeben wird, als Ausgangsmaterial synthetisiert werden.
  • Genauer gesagt kann sie durch Erwärmen und Umsetzen der durch die Formel (7) oder die Formel (8) wiedergegebenen Dihydroxyverbindung und Resorcinol bei ungefähr 35 bis 60ºC in Gegenwart eines sauren Katalysators, um eine intermediäre Substanz zu erhalten, die durch die nachstehende Formel (7a) oder (8a) wiedergegeben wird:
  • und einem anschließenden Erwärmen der intermediären Substanz und von Isopropenylphenol in Gegenwart des sauren Katalysators bei ungefähr 30 bis 60ºC für eine Umsetzung erhalten werden. Auch in diesem Fall kann ein Lösungsmittel oder kein Lösungsmittel verwendet werden. Im Falle der Verwendung eines Lösungsmittels ist die alleinige Verwendung von Toluol oder Xylol oder die Verwendung von Toluol und n-Hexan als Mischung bevorzugt. Wenn die Reaktantenbestandteile gleichförmig gemischt werden können, braucht kein Lösungsmittel verwendet werden. Als der saure Katalysator werden p-Toluolsulfonsäure, Salzsäure und ähnliches verwendet.
  • Andere Bestandteile
  • Zu der Zusammensetzung der Erfindung können wahlweise andere verschiedene Bestandteile und Additive gegeben werden, die alleine oder als Kombination aus zwei oder mehreren zugegeben werden können.
  • Andere Chinondiazidverbindungen
  • In der Zusammensetzung der Erfindung kann die Chinondiazidverbindung (B) zusammen mit einer anderen 1,2-Chinondiazidverbindung, wie 1,2-Benzochinondiazido-4-sulfonsäureester, einem anderen 1,2-Naphthochinondiazido-4-sulfonsäureester, einem anderen 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonsäureester und ähnlichem verwendet werden. Solch eine andere 1,2-Chinondiazidverbindung schließt zum Beispiel 1,2-Chinondiazidsulfonsäureester von Phenolverbindungen ein, die durch die nachstehender Formeln wiedergegeben werden:
  • worin x&sub1; bis X&sub1;&sub5; unabhängig ein Wasserstoffatom, eine Alkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen, eine Alkoxygruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen, eine Arylgruppe mit 6 bis 10 Kohlenstoffatomen oder eine Hydroxylgruppe sind, unter der Bedingung, daß in jeder der Gruppen X&sub1; bis X&sub5;, X&sub6; bis X&sub1;&sub0;, und X&sub1;&sub1; bis X&sub1;&sub5;, mindestens ein Element eine Hydroxylgruppe ist; und Y&sub1; ist ein Wasserstoffatom oder eine Alkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen;
  • worin X&sub1;&sub6; bis X&sub3;&sub0; für das gleiche Atom oder die gleiche Gruppe wie in dem X&sub1; bis X&sub1;&sub5; stehen, unter der Bedingung, daß in jeder der Gruppen X&sub1;&sub6; bis X&sub2;&sub0;, X&sub2;&sub1; bis X&sub2;&sub5; und X&sub2;&sub6; bis X&sub3;&sub0; mindestens ein Element eine Hydroxylgruppe ist; und Y&sub2; bis Y&sub4; sind unabhängig ein Wasserstoffatom oder eine Alkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen; und Y&sub2; bis Y&sub4; sind unabhängig ein Wasserstoffatom oder eine Alkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen;
  • worin X&sub3;&sub1; bis X&sub4;&sub4; für das gleiche Atom oder die gleiche Gruppe wie in dem X&sub1; bis X&sub1;&sub5; stehen, unter der Bedingung, daß in X&sub3;&sub1; bis X&sub3;&sub5; mindestens ein Element eine Hydroxylgruppe ist; und Y&sub5; bis Y&sub8; sind unabhängig ein Wasserstoffatom oder eine Alkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen
  • worin X&sub4;&sub5; bis X&sub5;&sub6; unabhängig ein Wasserstoffatom, ein Halogenatom, eine Alkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen, eine Alkoxygruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen, eine Cycloalkylgruppe mit 5 bis 7 Kohlenstoffatomen oder eine Hydroxylgruppe sind, unter der Bedingung, daß in jeder der Gruppen X&sub4;&sub5; bis X&sub4;&sub8;, und X&sub4;&sub9; bis X&sub5;&sub3; mindestens ein Element eine Hydroxylgruppe ist; und Y&sub9; und Y&sub1;&sub0; sind unabhängig ein Wasserstoffatom, eine Alkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen oder eine Cycloalkylgruppe mit 5 bis 7 Kohlenstoffatomen; und
  • worin X&sub5;&sub9; bis X&sub8;&sub0; wie in X&sub1; bis X&sub1;&sub5; definiert sind, unter der Bedingung, daß in jeder der Gruppen X&sub5;&sub9; bis X&sub6;&sub3;, X&sub6;&sub4; bis X&sub6;&sub7;, x&sub7;&sub2; bis X&sub7;&sub5; und X&sub7;&sub6; bis X&sub8;&sub0; mindestens eine Hydroxylgruppe ist; und Y&sub1;&sub1; bis Y&sub1;&sub8; sind unabhängig ein Wasserstoffatom oder eine Alkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen.
  • Die von der Chinondiazidverbindung (B) verschiedene Chinondiazidverbindung wird bevorzugt in einer Menge von 50 Gewichtsteilen oder weniger, bezogen auf 100 Gewichtsteile des Harzes (A), beigemischt.
  • Ungeachtet dessen, ob eine von der Chinondiazidverbindung (B) verschiedene Chinondiazidverbindung verwendet oder nicht verwendet wird, wird das Gesamtgewicht der in der Zusammensetzung der Erfindung enthaltenen 1,2-Chinondiazidosulfonylrestes bevorzugt auf einen Bereich von 5 bis 50 Gewichts-%, und bevorzugter von 10 bis 30 Gewichts-%, bezogen auf das gesamte feste Material der Zusammensetzung, eingestellt.
  • Lösungsbeschieuniger
  • In der Erfindung ist es zum Zwecke der Verbesserung der Alkalilöslichkeit der Zusammensetzung möglich, eine Phenolverbindung mit geringem Molekulargewicht hinzuzufügen (nachstehend wird darauf als "Lösungsbeschleuniger" Bezug genommen). Die Phenolverbindung weist ein Molekulargewicht von kleiner 2.000 und bevorzugt von 200 bis 1.000 auf. Dieser Lösungsbeschleuniger kann bevorzugt eine Phenolverbindung mit 2 bis 5 Benzolringen sein, die z. B. Verbindungen einschließt, die durch die nachstehenden Formeln (9-1) bis (9-9) wiedergegeben werden. Sie können einzeln oder als Kombination aus zwei oder mehreren davon verwendet werden. Darunter sind diejenigen Verbindungen besonders bevorzugt, die durch die Formeln (9-3), (9-5), (9-6) und (9-7) wiedergegeben werden.
  • wobei in den Formeln (9-1) bis (9-3) e und f unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3, x und y unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, unter der Bedingung, daß e und f nicht gleichzeitig 0 sind, und daß gilt: e + x ≤ 5 und f + y ≤ 5;
  • wobei in den Formeln (9-4) und (9-5) e, f und g unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3, x, y und z unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, unter der Bedingung, daß e, f und g nicht gleichzeitig Null sind, und daß gilt: e + x ≤ 5, f + y ≤ 4 und g + z ≤ 5,
  • wobei in den Formeln (9-6) bis (9-8) e, f und g unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3, x, y und z unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, unter der Bedingung, daß e, f und g nicht gleichzeitig 0 sind, und daß gilt: e + x ≤ 5, f + y ≤ 5 und g + z ≤ 5;
  • wobei in der Formel (9-9) e, f, g und h unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3, w, x, y und z unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, unter der Bedingung, daß e, f, g und h nicht gleichzeitig Null sind, und daß gilt: e + w ≤ 5, f + x ≤ 5 g + y ≤ 5 und h + z ≤ 5.
  • Verbindungen, wie 2,3,4-Trihydroxybenzophenon, 2,3,4,4'-Tetrahydroxybenzophenon, Curcumin, Flavan und ähnliches können ebenfalls alleine oder in Kombination mit einer Verbindung einer der Formeln (9-1) bis (9-9) als Lösungsbeschleuniger verwendet werden.
  • Der Lösungsbeschleuniger kann normalerweise in einer Menge von 50 Gewichtsteilen oder weniger, und bevorzugt von 5 bis 30 Gewichtsteilen, bezogen auf 100 Gewichtsteile des Harzes (A), beigemischt werden.
  • Grenzflächenaktives Mittel
  • Ein grenzflächenaktives Mittel wird zur Verbesserung der Beschichtungseigenschaften und der Entwickelbarkeit der Zusammensetzung verwendet. Das grenzflächenaktive Mittel kann z. B. Polyoxyethylenlaurylether, Polyoxyethylenoctylphenylether, Polyoxyethylennonylphenylether, Polyoxyethylenglykoldilaurat, Polyoxyethylenglykoldistearat, MEGAFACS F171, F172, F173 (Handelsname; von Dainippon Ink & Chemicals, Inc. hergestellt), FLORARD FC430, FC431 (Handelsname; von Sumitomo 3M Ltd. hergestellt), ASAHI GUARD AG710, SURFRON S-382, SC-101, SC-102, SC-103, SC-104, SC-105, SC-106 (Handelsname; von Asahi Glass Co., Ltd. hergestellt), KP341 (Handelsname; von Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. hergestellt), POLYFLOW Nr. 75, Nr. 95 (Handelsname; von Kyoeisha Chemical Co., Ltd. hergestellt) und NBX-7, NBX-14, NBX-15 (Handelsname; von NEOS Co., Ltd. hergestellt) einschließen.
  • Diese grenzflächenaktiven Mittel werden in einer Menge von bevorzugt 2 Gewichtsteilen oder weniger, bezogen auf 100 Gewichtsteile des festen Materials der Zusammensetzung, beigemischt.
  • Die Zusammensetzung der Erfindung kann auch mit Farbstoffen und/oder Pigmenten zur Visualisierung eines auf den bestrahlten Bereichen des Resists erzeugten latenten Bildes und zur Verhinderung einer Beeinträchtigung auf Grund einer Halobildung während der Bestrahlung, und einem Hafthilfsmittel zur Verbesserung der Haftung, einem Lagerstabilisator, einem Antischaummittel und ähnlichem gemischt werden.
  • Herstellung und Verwendung der strahlungsempfindlichen Harzzusammensetzung
  • Die Zusammensetzung der Erfindung kann durch Mischen der wesentlichen Bestandteile und anderer wahlweiser Bestandteile, die in vorgegebenen Mengen zugegeben werden, und durch Lösen der resultierenden Mischung in einem Lösungsmittel, so daß die Konzentration des festen Materials beispielsweise 20 bis 40 Gewichts-% beträgt, gefolgt von einer Filtration unter Verwendung eines Filters mit einer Porengröße von ungefähr 0,2 um hergestellt werden.
  • Das Lösungsmittel kann z. B. die nachstehenden Verbindungen einschließen: Ethylenglykolmonomethylether, Ethylenglykolmonoethylether, Ethylenglykolmonomethyletheracetat, Ethylenglykolmonoethyletheracetat, Diethylenglykolmonomethylether, Diethylenglykolmonoethylether, Propylenglykolmonomethyletheracetat, Propylenglykolmonopropyletheracetat, Toluol, Xylol, Methylethylketon, 2-Heptanon, 3-Heptanon, 4-Heptanon, Cyclohexanon, Ethyl-2-hydroxypropionat, Ethyl-2-hydroxy-2-methylpropionat, Ethylethoxyacetat, Ethylhydroxyacetat, Methyl-2- hydroxy-3-methylbutyrat, Methyl-3-methoxypropionat, Ethyl-3- ethoxypropionat, Ethyl-3-methoxypropionat, Ethylacetat, Butylacetat, Methylpyruvat und Ethylpyruvat. Diese Lösungsmittel können alleine oder als Kombination aus zwei oder mehreren davon verwendet werden.
  • Es ist auch möglich dem vorstehend beschriebenen Lösungsmittel ein hochsiedendes Lösungsmittel zuzusetzen, wie N-Methylformamid, N,N-Dimethylformamid, N-Methylformanilid, N-Methylacetamid, N,N-Dimethylacetamid, N-Methylpyrrolidon, Dimethylsulfoxid, Benzylethylether, Dihexylether, Acetonylaceton, Isophoron, Capronsäure, Caprylsäure, 1-Octanol, 1-Nonanol, Benzylalkohol, Benzylacetat, Ethylbenzoat, Diethyloxalat, Diethylmaleat, 7-Butyrolacton, Ethylencarbonat, Propylencarbonat, Ethylenglykolmonophenyletheracetat und ähnliches. Diese Lösungsmittel können alleine oder als Kombination aus zwei oder mehreren davon verwendet werden.
  • Herstellung eines Resistfilms und von Mustern
  • Die Zusammensetzung der Erfindung, die in Form einer Lösung hergestellt wurde, wird auf einem Substrat, wie einem Siliciumwafer oder einem mit Aluminium beschichteten Wafer oder ähnliches mittels eines Beschichtungsverfahrens, wie Schleuderbeschichtung, Flow-Coating, Walzenbeschichtung oder ähnliches, aufgebracht.
  • Anschließend wird die so gebildete Beschichtung bei 70 bis 110ºC vorgehärtet, um einen Resistfilm zu bilden und der Resistfilm wird an vorgegebenen Stellen selektiv bestrahlt (nachstehend wird darauf als "Belichtung" Bezug genommen). Das Substrat mit dem so erzeugten Resistmuster wird mit einer Entwicklungslösung entwickelt, um ein Muster zu erzeugen.
  • Wenn eine Erwärmungsoperation bei 70 bis 140ºC (nachstehend wird darauf als "Nachbelichtungs-Härtung" Bezug genommen) nach der Bildung des Resistmusters und vor der Entwicklung hinzugefügt wird, ist es möglich, die Wirkung der Erfindung zu erhöhen.
  • Die Strahlung kann ultraviolette Strahlung, wie G-Strahlen, I-Strahlen und ähnliches; Strahlen des fernen UV-Bereiches, wie Excimer-Laser-Strahlung und ähnliches; Röntgenstrahlung, wie Synchrotonstrahlung und ähnliches; und Strahlung geladener Teilchen, wie Elektronenstrahlung und ähnliches einschließen; wobei die ultraviolette Strahlung bevorzugt ist.
  • Als Entwicklungslösung kann eine wäßrige alkalische Lösung verwendet werden, die durch Lösen einer alkalischen Verbindung, wie Natriumhydroxid, Kaliumhydroxid, Natriumcarbonat, Natriumsilicat, Natriummetasilicat, Ammoniakwasser, Ethylamin, n-Propylamin, Diethylamin, Di-n-propylamin, Triethylamin, Methyldiethylamin, Dimethylethanolamin, Triethanolamin, Tetramethylammoniumhydroxid, Tetraethylammoniumhydroxid, Cholin, Pyrrol, Piperidin, 1,8-Azabicyclo-[5.4.0]-7-undecen, 1,5-Diazabicyclo-[4.3.0]-5-nonan und ähnliches in Wasser mit einer Konzentration von z. B. 1 bis 10 Gew.-% hergestellt wird.
  • Zu der Entwicklungslösung kann ein wasserlösliches organisches Lösungsmittel, z. B. Alkohole und ähnliches, wie Methanol, Ethanol, etc.; und ein grenzflächenaktives Mittel in geeigneten Mengen zugegeben werden. Nach der Durchführung einer Entwicklung mit der Entwicklungslösung, die aus solch einer wäßrigen alkalischen Lösung besteht, ist es üblich, die Oberfläche mit Wasser, wie reinem Wasser, ultrareinem Wasser oder ähnlichem zu waschen.
  • BEISPIELE
  • Die Erfindung wird nachstehend detaillierter an Hand von Beispielen beschrieben, die die Erfindung jedoch nicht einschränken sollen. Die Messung des Mw; die Identifizierung und die quantitative Bestimmung des Bestandteils (B), der Chinondiazidverbindungen, und die Bewertung des Resists, die in den Beispielen stattfindet erfolgte auf die nachstehende Weise.
  • < Chinondiazidverbindung (B)>
  • Das Zusammensetzungsverhältnis einer jeden Chinondiazidverbindung wurde durch Hochleistungsflüssigchromatografie (HPLC) analysiert. Die Struktur der Verbindung, die dem Peak in jedem HPLC entsprach, wurde mittels ¹³C-NMR identifiziert.
  • Bedingungen der HPLC-Analyse: 3 ul einer Testprobe, die durch Lösen von 20 mg einer Probe in 10 ml Acetonitril hergestellt worden war, wurde unter Anwendung einer HPLC-Säule (Inertsil ODS 5, von Gasukuro Kogyo K.K. hergestellt) und einer Fließgeschwindigkeit der Flüssigkeit von 1,0 ml/Minute analysiert, wobei das Elutionsmittel aus Acetonitril/0,1%ige wäßrige Phosphorsäurelösung (Volumenverhältnis: 80/20) bestand. Die Ermittlung erfolgte durch die Messung der Absorptionsintensität der Testprobe bei einer Wellenlänge von 280 nm. Der resultierende numerische Wert wurde durch Flächen-% angegeben.
  • < MW>
  • Gemessen mittels Gelpermeationschromatografie (GPC) mit monodispersem Polystyrol als Standard unter Anwendung von GPC- Säulen (G2000HXL: zwei Säulen, G3000HXL: eine Säule, G4000HXL: eine Säule), von Toso K.K. hergestellt, bei einer Fließgeschwindigkeit von 1,0 ml/Minute, wobei als Elutionsmittel Tetrahydrofuran verwendet wurde und die Säulentemperatur 40ºC betrug.
  • < Empfindlichkeit>
  • Die Strahlungsmenge, der ein Resistfilm zu dem Zeitpunkt ausgesetzt worden war, an dem Linien und Abstände eines 0,35 um-Linien und-Abstände-Musters in einem Verhältnis von 1 : 1 in der Breite aufgelöst werden konnten, wurde als Empfindlichkeit (nachstehend wird darauf als "effektive Empfindlichkeit" Bezug genommen) angegeben.
  • < Auflösung>
  • Die minimale Größe von Linien und Abständen eines 0,35 um- Linien und-Abstände-Musters, das durch eine der effektiven Empfindlichkeit entsprechende Belichtung gebildet worden war, und im aufgelösten Zustand ohne irgendeinen Musterfilmverlust mittels eines Rasterelektronenmikroskops erkannt werden konnte, wurde betrachtet.
  • < Entwickelbarkeit>
  • Ein Resistfilm aus einer Zusammensetzung wurde gebildet und anschließend wurde ein Muster erzeugt. Das Auftreten von Schaum und der Anteil an unentwickeltem Restmaterial wurde unter Verwendung eines Rasterelektronenmikroskops untersucht.
  • < Fokustiefe (Brennweite)> :
  • Muster wurden durch einer der effektiven Empfindlichkeit entsprechenden Belichtung erzeugt. Die Fokustiefe (Brennpunktbereich), bei der es möglich war, die Auflösung eines 0,35 um- Linien-und-Abstand-Musters ohne Musterfilmverlust mittels eines Rasterelektronenmikroskops zu erkennen, wurde festgestellt.
  • < Form des Musters>
  • Der Querschnitt eines 0,4 um-Linien-und-Abstände-Musters, das durch eine der effektiven Empfindlichkeit entsprechende Belichtung erzeugt worden war, wurde unter Verwendung eines Rasterelektronenmikroskops betrachtet. Er wurde in die ihm entsprechende Form A, B oder C, die in Fig. 1 gezeigt sind, eingeteilt.
  • < Synthese des Harzes (A)> Synthesebeispiel 1
  • Die nachstehenden Bestandteile wurden in einen Autoklaven eingebracht:
  • m-Kresol 69,2 g (0,64 mol),
  • 2,3-Xylenol 9,8 g (0,08 mol),
  • 3,4-Xylenol 9,8 g (0,08 mol),
  • eine wäßrige 37 gew.-%ige Formaldehydlösung 55,1 g (Formaldehyd: 0,85 mol),
  • Oxalsäuredihydrat 5,0 g (0,04 mol),
  • Wasser 52,6 g, und
  • Dioxan 182 g.
  • Anschließend wurde der Autoklav in ein Ölbad eingetaucht und es erfolgte 8 Stunden lang eine Kondensation unter Rühren, wobei die Temperatur bei 130ºC gehalten wurde. Nachdem die Reaktion beendet worden war, wurde das Reaktionssystem auf Raumtemperatur abgekühlt und sein Inhalt wurde entnommen und in ein Becherglas gegeben. Nachdem sich der Inhalt in diesem Becherglas in zwei Schichten aufgetrennt hatte, wurde die untere Schicht entnommen, konzentriert und anschließend dehydriert, gefolgt von einem Trocknen, um ein Novolakharz zu erhalten. Dieses Harz wurde als Harz (A1) bezeichnet. Das Harz (A1) wies ein Mw von 8.600 auf.
  • Synthesebeispiel 2
  • In einen Autoklaven wurden die nachstehenden Bestandteile eingebracht:
  • m-Kresol 64,9 g (0,6 mol),
  • 2,3-Xylenol 36,7 g (0,3 mol),
  • 3,4-Xylenol 12,2 g (0,1 mol),
  • eine wäßrige 37 gew.-%ige Formaldehydlösung 64,9 g (Formaldehyd: 0,8 mol),
  • Oxalsäuredihydrat 6,3 g (0,05 mol),
  • Wasser 79,4 g, und
  • Dioxan 383,9 g.
  • Anschließend wurden die gleichen Operationen wie in Synthesebeispiel 1 durchgeführt, um ein Novolakharz zu synthetisieren. Dieses Harz wurde als Harz (A2) bezeichnet. Das Harz (A2) wies ein Mw von 8.300 auf.
  • < Synthese der Chinondiazidverbindung (B)>
  • Nachstehend wird die Verbindung, die durch die Formel (5-3) wiedergegeben wird, als "Vorstufen-Verbindung (5-3)" abgekürzt, die Verbindung, die durch die Formel (5-5) wiedergegeben wird, als "Vorstufen-Verbindung (5-5)" abgekürzt, und die Verbindung, die durch die Formel (5-7) wiedergegeben wird, als "Vorstufen-Verbindung (5-7)" abgekürzt.
  • Synthesebeispiel 3
  • In einer strahlungsabgeschirmten Umgebung wurde in einen mit einem Rührer, einem Tropftrichter und einem Thermometer versehenen Kolben die Vorstufen-Verbindung (5-3) 25,0 g (0,05 mol)
  • 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonsäurechlorid 26,8 g (0,1 mol), und
  • Dioxan 311 g
  • eingebracht und unter Rühren gelöst. Anschließend wurde dieser Kolben in ein Wasserbad eingetaucht, das auf 30ºC eingestellt worden war, und zu dem Zeitpunkt, an dem die Innentemperatur bei 30ºC konstant geworden war, wurde
  • Triethylamin 11,0 g (0,11 mol)
  • so unter Anwendung des Tropftrichters zugegeben, daß die Innentemperatur 35ºC nicht überschritt, gefolgt von einer 2stündigen Umsetzung bei der gleichen Temperatur. Danach wurde das ausgefallene Triethylaminhydrochlorid mittels Filtration entfernt und das Filtrat wurde in eine große Menge einer wäßrigen verdünnten Salzsäurelösung gegossen, um das Reaktionsprodukt auszufällen. Anschließend wurde das Praezipitat abfiltriert, gewonnen und einen Tag und eine Nacht lang bei 40ºC getrocknet, um eine Chinondiazidverbindung (B1) zu erhalten.
  • Die Zusammensetzung der Chinondiazidverbindung (B1) wurde mittels HPLC analysiert und als Ergebnis wurde gefunden, daß die Verbindung aus 22% eines Triesters, 68% eines Diesters und 10% eines Monoesters mit den jeweils nachstehend gezeigten Strukturen bestand. Triester Diester Monoester
  • worin D für eine Gruppe steht, die durch die nachstehende Formel wiedergegeben wird:
  • Synthesebeispiel 4
  • Die Chinondiazidverbindung (B2) wurde auf die gleiche Weise wie in Synthesebeispiel 3 erhalten, außer daß die Vorstufen- Verbindung (5-5)
  • 29,5 g (0,05 mol), 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonylchlorid 26,8 g (0,1 mol)
  • Dioxan 336 g; und
  • Triethylamin 11,1 g (0,11 mol)
  • verwendet wurden.
  • Die Zusammensetzung der Chinondiazidverbindung (B2) wurde mittels HPLC analysiert und als Ergebnis wurde gefunden, daß die Verbindung aus 18% eines Triesters, 70% eines Diesters und 12% eines Monoesters mit den jeweils nachstehend gezeigten Strukturen bestand. Triester Diester Monoester
  • worin D für eine Gruppe steht, die durch die nachstehende Formel wiedergegeben wird:
  • Synthesebeispiel 5
  • Die Chinondiazidverbindung (B3) wurde auf die gleiche Weise wie in Synthesebeispiel 3 erhalten, außer daß die Vorstufen- Verbindung (5-7)
  • 32,3 g (0,05 mol), 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonylchlorid 26,8 g (0,1 mol)
  • Dioxan 354 g; und
  • Triethylamin 11,1 g (0,11 mol)
  • verwendet wurden.
  • Die Zusammensetzung der Chinondiazidverbindung (B3) wurde mittels HPLC analysiert und als Ergebnis wurde gefunden, daß die Verbindung aus 98% eines Diesters und 2% eines Monoesters mit den jeweils nachstehend gezeigten Strukturen bestand. Diester Monoester
  • worin D für eine Gruppe steht, die durch die nachstehende Formel wiedergegeben wird:
  • < Synthese anderer Chinondiazidverbindungen> Synthesebeispiel 6
  • Die Chinondiazidverbindung (C-1) wurde auf die gleiche Weise wie in Synthesebeispiel 3 erhalten, außer daß 14,6 g (0,05 mol) einer Verbindung, die durch die nachstehende Formel wiedergegeben wird:
  • 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonylchlorid 33,5 g (0,125 mol),
  • Dioxan 288 g, und
  • Triethylamin 13,9 g (0,138 mol)
  • verwendet wurden.
  • Die Zusammensetzung der Chinondiazidverbindung (C-1) wurde mittels HPLC analysiert und als Ergebnis wurde gefunden, daß die Verbindung aus 73% eines Triesters, 21% eines Diesters und 5% eines Monoesters bestand.
  • Synthesebeispiel 7
  • Die Chinondiazidverbindung (C-2) wurde auf die gleiche Weise wie in Synthesebeispiel 3 erhalten, außer daß 21,2 g (0,05 mol) einer Verbindung, die durch die nachstehende Formel wiedergegeben wird:
  • 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonylchlorid 33,5 g (0,125 mol),
  • Dioxan 328 g, und
  • Triethylamin 13,9 g (0,138 mol)
  • verwendet wurden.
  • Die Zusammensetzung der Chinondiazidverbindung (C-2) wurde mittels HPLC analysiert und als Ergebnis wurde gefunden, daß die Verbindung aus 68% eines Triesters, 27% eines Diesters und 5% eines Monoesters bestand.
  • Synthesebeispiel 8
  • Die Chinondiazidverbindung (C-3) wurde auf die gleiche Weise wie in Synthesebeispiel 3 erhalten, außer daß 37,8 g (0,1 mol) einer Verbindung, die durch die nachstehende Formel wiedergegeben wird:
  • 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonylchlorid 40,2 g (0,15 mol),
  • Dioxan 300 g, und
  • N,N-Dimethylformamid 75 g, und
  • Triethylamin 17,2 g (0,17 mol)
  • verwendet wurden.
  • Die Zusammensetzung der Chinondiazidverbindung (C-3) wurde mittels HPLC analysiert und als Ergebnis wurde gefunden, daß die Verbindung aus 62% eines Diesters, 36% eines Monoesters und 2% der als Reaktant verwendeten Phenolverbindung bestand.
  • Synthesebeispiel 9
  • Die Chinondiazidverbindung (C-4) wurde auf die gleiche Weise wie in Synthesebeispiel 3 erhalten, außer daß 18,2 g (0,05 mol) einer Verbindung, die durch die nachstehende Formel wiedergegeben wird:
  • 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonylchlorid 40,2 g (0,15 mol),
  • Dioxan 377 g, und
  • Triethylamin 17,2 g (0,17 mol)
  • verwendet wurden.
  • Die Zusammensetzung der Chinondiazidverbindung (C-4) wurde mittels HPLC analysiert und als Ergebnis wurde gefunden, daß die Verbindung aus 23% eines Tetraesters, 69% eines Triesters und 8% eines Diesters bestand.
  • Beispiele 1-8 und Vergleichsbeispiele 1-3
  • In jedem Beispiel wurden ein Harz (A), ein Lösungsbeschleuniger, eine Chinondiazidverbindung und ein Lösungsmittel in den in den Tabellen 1 und 2 angegebenen Mengen gemischt, wobei mit "Teil(e)" "Gewichtsteil(e)" gemeint sind, um eine einheitliche Lösung zu bilden, gefolgt von einer Filtration unter Verwendung eines Membranfilters mit einer Porengröße von 0,2 um, um eine Lösung der Zusammensetzung herzustellen.
  • Die erhaltene Lösung wurde mittels einer Schleuderauftragvorrichtung auf einen Siliciumwafer mit einem Siliciumoxidfilm aufgebracht, gefolgt von einem 2minütigen Vorhärten auf einer heißen Platte bei 90ºC, um einen Resistfilm mit einer Dicke von 1,1 um zu bilden. Anschließend wurde der Film durch ein Retikel mit Strahlung mit einer Wellenlänge von 365 nm (I-Strahlen) mittels einer Vorrichtung für eine verkleinernde Projektionsbelichtung (numerische Linsenöffnung: 0,57), NSR- 2005i9C (Handelsname), von Nikon Co., Ltd. hergestellt, belichtet, bei 110ºC 1 Minute lang auf einer heißen Platte nachgehärtet und anschließend mit einer wäßrigen 2,38 gew.- %igen Tetramethylammoniumhydroxidlösung entwickelt, gefolgt von einem Spülen mit ultrareinem Wasser und einem anschließenden Trocknen, um eine Resistmuster zu bilden. Das erhaltene Resistmuster wurde untersucht, um das Leistungsverhalten zu beurteilen. Die Ergebnisse sind in den Tabellen 3 und 4 angegeben. Tabelle 1 Tabelle 2
  • Anmerkungen zur Tabelle 1 und 2:
  • Die nachstehenden Arten von Lösungsbeschleunigern und Lösungsmitteln wurden verwendet:
  • Lösungsbeschleuniger:
  • &alpha;: 1,1-Bis(4-hydroxy-2,5-dimethylphenyl)aceton
  • &beta;: 1,1-Bis(4-hydroxyphenyl)-1-phenylethan
  • Lösungsmittel:
  • S1: Ethyl-2-hydroxypropionat
  • S2: Ethyl-3-ethoxypropionat Tabelle 3 Tabelle 4
  • Eine strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung, die ein alkali-lösliches Harz und eine Chinondiazidverbindung einschließt, wird zur Verfügung gestellt. Die Chinondiazidverbindung weist beispielsweise die nachstehende Formel (1) auf:
  • worin R¹ bis R&sup6; eine Alkyl-, eine Cycloalkyl- oder eine Arylgruppe sind; a und b sind eine ganze Zahl von 1 bis 3; D¹ und D² sind unabhängig ein Wasserstoffatom oder eine 1,2-Chinondiazidosulfonylgruppe, unter der Bedingung, daß mindestens ein D¹ eine 1,2-Chinondiazidosulfonylgruppe ist; A ist eine Bindung, wie eine Einfachbindung; und x und y sind eine ganze Zahl von 0 bis 2. Die Zusammensetzung ist als positives Resist geeignet, das wirkungsvoll das Auftreten von Schaum beschränkt und eine ausgezeichnete Entwickelbarkeit, Musterform, Empfindlichkeit, Auflösung und Fokustiefe liefert.

Claims (10)

1. Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung, die die nachstehenden Bestandteile umfaßt:
(A) ein alkali-lösliches Harz, und
(B) eine 1,2-Chinondiazidverbindung, die durch die nachstehende Formel (1) wiedergegeben wird:
worin R¹ bis R&sup6; unabhängig eine Alkylgruppe, eine Cycloalkylgruppe oder eine Arylgruppe sind; a und b sind unabhängig eine ganze Zahl von 1 bis 3; D¹ und D² sind unabhängig ein Wasserstoffatom oder eine 1,2-Chinondiazidosulfonylgruppe, unter der Bedingung, daß mindestens ein D¹ eine 1,2-Chinondiazidosulfonylgruppe ist; A ist eine Einfachbindung, -O-, -S-, -CH&sub2;-, -C(CH&sub3;)&sub2;-, eine Gruppe, die durch die nachstehende Formel (2) wiedergegeben wird:
oder eine Gruppe, die durch die nachstehende Formel (3) wiedergegeben wird:
und x und y sind eine ganze zahl von 0 bis 2.
2. Zusammensetzung nach Anspruch 1, die ferner eine Phenolverbindung mit einem Molekulargewicht von kleiner 2.000 umfaßt.
3. Zusammensetzung nach Anspruch 2, wobei die Phenolverbindung eine Verbindung ist, die aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Phenolverbindungen besteht, die durch die nachstehenden Formeln (9-1) bis (9-9) wiedergegeben werden:
wobei in den Formeln (9-1) bis (9-3) e und f unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, x und y unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, unter der Bedingung, daß e und f nicht gleichzeitig 0 sind, und daß gilt: e + x &le; 5 und f + y &le; 5;
wobei in den Formeln (9-4) und (9-5) e, f und g unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, x, y und z unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, unter der Bedingung, daß e, f und g nicht gleichzeitig Null sind, und daß gilt: e + x &le; 5, f + y &le; 4 und g + z &le; 5;
wobei in den Formeln (9-6) bis (9-8) e, f und g unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, x, y und z unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, unter der Bedingung, daß e, f und g nicht gleichzeitig Null sind, und daß gilt: e + x &le; 5, f + y &le; 5 und g + z &le; 5; und
wobei in der Formel (9-9) e, f, g und h unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, w, x, y und z unabhängig eine ganze Zahl von 0 bis 3 sind, unter der Bedingung, daß e, f, g und h nicht gleichzeitig Null sind, und daß gilt: e + w &le; 5, f + x &le; 5, g + y &le; 5 und h + z &le; 5.
4. Zusammensetzung nach Anspruch 3, wobei die Phenolverbindung eine Verbindung ist, die aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Phenolverbindungen besteht, die durch die nachstehenden, in Anspruch 3 definierten Formeln (9-3), (9-5), (9-6) und (9-7) wiedergegeben werden.
5. Zusammensetzung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das alkali-lösliche Harz ein alkali-lösliches Phenolharz mit einem Gewichtsmittel des Molekulargewichts, bezogen auf Polystyrol, von 2.000 bis 20.000 ist.
6. Zusammensetzung nach Anspruch 5, wobei das alkali-lösliche Phenolharz dadurch hergestellt wird, daß eine Phenolverbindung, die durch die nachstehende Formel (4) wiedergegeben wird:
worin n eine ganze Zahl von 1 bis 3 ist, und eine Aldehydverbindung einer Polykondensation unterzogen werden.
7. Zusammensetzung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die 1,2-Chinondiazidverbindung des Bestandteils (B) aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus 1,2-Benzochinondiazido-4- sulfonsäureestern, 1,2-Naphthochinondiazido-4-sulfonsäureestern, 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonsäureestern und 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonsäureestern der Vorstufen- Verbindungen besteht, die durch die nachstehenden Formeln (5-1) bis (5-8) wiedergegeben werden:
8. Zusammensetzung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die 1,2-Chinondiazidverbindung des Bestandteils (B) aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus 1,2-Naphthochinondiazido-4- sulfonsäureestern und 1,2-Naphthochinondiazido-5-sulfonsäureestern besteht.
9. Zusammensetzung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das 1,2-Chinondiazid des Bestandteils (B) in einer Menge von 5 bis 50 Gewichtsteilen pro 100 Gewichtsteile des Harzes des Bestandteils (A) vorhanden ist.
10. Zusammensetzung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das 1,2-Chinondiazid des Bestandteils (B) in einer Menge von 10 bis 40 Gewichtsteilen pro 100 Gewichtsteile des Harzes des Bestandteils (A) vorhanden ist.
DE69706029T 1996-12-11 1997-12-10 Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung Expired - Lifetime DE69706029T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35201196 1996-12-11

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69706029D1 DE69706029D1 (de) 2001-09-13
DE69706029T2 true DE69706029T2 (de) 2002-06-06

Family

ID=18421174

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69706029T Expired - Lifetime DE69706029T2 (de) 1996-12-11 1997-12-10 Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6007961A (de)
EP (1) EP0848291B1 (de)
KR (1) KR100560021B1 (de)
DE (1) DE69706029T2 (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000194130A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Clariant (Japan) Kk 感光性樹脂組成物
JP3901923B2 (ja) * 2000-09-12 2007-04-04 東京応化工業株式会社 ポジ型ホトレジスト組成物
JP2003195495A (ja) * 2001-12-26 2003-07-09 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd ポジ型ホトレジスト組成物
KR101026094B1 (ko) * 2002-11-06 2011-04-04 아사히 가라스 가부시키가이샤 네가티브형 감광성 수지 조성물
EP2861580B1 (de) * 2012-06-07 2018-04-25 Georgia State University Research Foundation, Inc. Seca-hemmer und verfahren zu ihrer herstellung und verwendung
CN110597016B (zh) * 2019-09-29 2022-10-14 北京北旭电子材料有限公司 一种光刻胶组合物、制备方法及图案化方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5413896A (en) * 1991-01-24 1995-05-09 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. I-ray sensitive positive resist composition
US5554481A (en) * 1993-09-20 1996-09-10 Fuji Photo Film Co., Ltd. Positive working photoresist composition
JPH07120916A (ja) * 1993-10-21 1995-05-12 Fuji Photo Film Co Ltd ポジ型フオトレジスト組成物
DE69519781T2 (de) * 1994-10-05 2001-06-07 Arakawa Chemical Industries, Ltd. Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung
EP0801327B1 (de) * 1994-12-28 2002-10-16 Nippon Zeon Co., Ltd. Positivarbeitende resistzusammensetzung
US5750310A (en) * 1995-04-27 1998-05-12 Fuji Photo Film Co., Ltd. Positive photoresist composition
JPH0915853A (ja) * 1995-04-27 1997-01-17 Fuji Photo Film Co Ltd ポジ型フォトレジスト組成物
JP3076523B2 (ja) * 1996-03-25 2000-08-14 東京応化工業株式会社 ポジ型ホトレジスト組成物

Also Published As

Publication number Publication date
EP0848291A1 (de) 1998-06-17
DE69706029D1 (de) 2001-09-13
KR19980063945A (ko) 1998-10-07
US6007961A (en) 1999-12-28
EP0848291B1 (de) 2001-08-08
KR100560021B1 (ko) 2006-05-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69126834T3 (de) Positiv arbeitende Photoresistzusammensetzung
DE69130130T2 (de) Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung
DE69500160T2 (de) Positiv arbeitende Fotoresistzusammensetzung
DE69026340T2 (de) Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung
DE69329408T2 (de) Positiv arbeitende Photolackzusammensetzung
DE68926351T2 (de) Bestimmte dreikernige novolakoligomerderivate als photoaktive verbindungen und ihre verwendung in strahlungsempfindlichen mischungen
DE69033212T2 (de) Positiv arbeitende Photolack-Zusammensetzung
DE69027099T2 (de) Positiv arbeitende Photolackzusammensetzung
DE69607624T2 (de) Ausgewählte O-Chinondiazidsulfonsäureestern von phenolischen Verbindungen
DE3879516T2 (de) Positiv arbeitende Photolack-Zusammensetzung.
DE69510888T2 (de) Positiv arbeitende Fotoresist-Zusammensetzung
DE69421982T2 (de) Positiv arbeitende Photoresistzusammensetzung
DE69220257T2 (de) i-Strahlen empfindliche, positiv arbeitende Photolackzusammensetzung
DE69220612T2 (de) Positivarbeitende Photoresistzusammensetzung
DE69600202T2 (de) Positiv arbeitende Fotoresistzusammensetzung
DE69301273T2 (de) Positiv arbeitende Photolackzusammensetzung
DE69130896T2 (de) Strahlungsempfindliche positiv arbeitende Lackzusammensetzung
DE69130745T2 (de) Novolakharze und daraus hergestellte Positiv-Fotoresists
DE69614304T2 (de) Positiv arbeitende Fotoresistzusammensetzung
DE69805364T2 (de) Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung
DE69706029T2 (de) Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung
DE69718113T2 (de) Strahlungsempfindliche Harzzusammensetzung
DE69308634T2 (de) Positiv arbeitende Photolackzusammensetzung
DE69706214T2 (de) Photoresistzusammensetzung
DE69321274T2 (de) Positiv arbeitende Resistzusammensetzung

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition