DE69631743T2

DE69631743T2 - Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium und Verfahren zur Wiedergabe davon

Info

Publication number: DE69631743T2
Application number: DE69631743T
Authority: DE
Inventors: Junji Nara-shi Hirokane; Junichiro Shiki-gun Nakayama; Junsaku Kashihara-shi Nakajima; Akira Nara-shi Takahashi; Kenji Kitakatsuragi-gun Ohta
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1995-12-25
Filing date: 1996-12-20
Publication date: 2005-02-10
Anticipated expiration: 2016-12-21
Also published as: KR100222218B1; EP0782135B1; US5777953A; EP0782135A2; EP0782135A3; JPH09180276A; DE69631743D1; KR970050430A

Description

Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium, wie etwa eine magnetooptische Platte, ein magnetooptisches Band und eine magnetooptische Karte zur Verwendung in einer magnetooptischen Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung, und betrifft auch ein Verfahren zur Wiedergabe einer Information von dem magnetooptischen Aufzeichnungsmedium.
Hintergrund der Erfindung
Magnetooptische Aufzeichnungsmedien sind in herkömmlicher Weise in praktischen Gebrauch als ein wiederbeschreibbares optisches Aufzeichnungsmedium genommen worden. Derartige magnetooptische Aufzeichnungsmedien haben den folgenden Nachteil aufgezeigt. Spezifischer ist es, wenn jeder Durchmesser von Aufzeichnungsbits (magnetische Aufzeichnungsdomänen) und eine Beabstandung zwischen den Aufzeichnungsbits bezüglich des Durchmessers eines Lichtstrahlpunkts kleiner werden, der durch ein Konvergieren eines Lichtstrahls, der von einem Halbleiterlaser projiziert wird, auf das magnetooptische Aufzeichnungsmedium erhalten wird, wahrscheinlich, dass die Wiedergabeeigenschaften sich dementsprechend verschlechtern.
Ein derartiger Nachteil rührt von der Tatsache her, dass es schwierig wird, ein einzelnes Aufzeichnungsbit getrennt wiederzugeben, weil ein oder mehrere benachbarte Aufzeichnungsbits innerhalb des Durchmessers des Lichtstrahls, der auf ein Ziel-Aufzeichnungsbit konvertiert wird, vorhanden sind.
Um einen derartigen Nachteil zu überwinden, wird ein magnetooptisches Aufzeichnungsmediums in der ungeprüften japanischen Patentanmeldung Nr. 6-150418/1994 vorgeschlagen. Das magneto optische Aufzeichnungsmedium ist mit einer Wiedergabeschicht, einer Aufzeichnungsschicht und einer nicht-magnetischen Schicht zwischen den Wiedergabe- und Aufzeichnungsschichten versehen, wobei die Wiedergabeschicht eine Magnetisierung in der Ebene bei Raumtemperatur zeigt, während sie eine senkrechte Polarisation im Ansprechen auf eine Temperaturerhöhung zeigt, wodurch eine statische Magnetkopplung zwischen den Wiedergabe- und Aufzeichnungsschichten sichergestellt ist.
Die JP 7307040 offenbart ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium, das eine nicht-magnetische Zwischenschicht mit einer Dicke von zwischen 1 bis 10 nm aufweist.
Gemäß dem vorgeschlagenen magnetooptischen Aufzeichnungsmedium ist es möglich, einzelne Aufzeichnungsbits getrennt wiederzugeben, auch wenn ein oder mehrere benachbarte Aufzeichnungsbits innerhalb des Durchmessers des Lichtstrahls, der auf ein Ziel-Aufzeichnungsbit konvergiert ist, vorhanden sind. Dies liegt daran, dass die Information einer magnetischen Aufzeichnungsdomäne, die eine Magnetisierung in der Ebene zeigt, maskiert wird.
Jedoch wurde gemäß der ungeprüften japanischen Patentanmeldung Nr. 6-150418/1994 das Folgende bestätigt. Spezifischer war es, wenn die Aufzeichnungs- und Wiedergabebetriebsweisen bezüglich eines kleineren Durchmessers von Aufzeichnungsbits, die eine kleinere Beabstandung dazwischen aufweisen, durchgeführt wurden, notwendig, ein größeres Magnetfeld zum Aufzeichnen und Löschen einer Information anzulegen. Dies liegt an einem Leck-Magnetfeld aufgrund der Magnetisierung der Wiedergabeschicht, das an der Aufzeichnungsschicht angelangt ist.
Zusammenfassung der Erfindung
Es ist wünschenswert, ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium bereitzustellen, (1) welches wiedergegeben werden kann, auch wenn ein Aufzeichnungsbetrieb bezüglich eines kleineren Durchmessers von Aufzeichnungsbits, die ein kleinere Beabstandung dazwischen aufweisen, ausgeführt wird, und (2) welches von ei nem kleineren Magnetfeld aufgezeichnet oder gelöscht werden kann.
Dementsprechend wird ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1 bereitgestellt.
Da die Wiedergabeschicht dünn ausgelegt ist, um so eine Dicke von nicht mehr als 30 nm aufzuweisen, ist das Leck-Magnetfeld, das von der Wiedergabeschicht abgeleitet ist, klein. Weiter beeinflusst, da die Aufzeichnungs- und Wiedergabeschichten durch die zweite transparente dielektrische Schicht, die eine Dicke von nicht weniger als 6 nm aufweist, getrennt sind, das Leck-Magnetfeld, das von der Wiedergabeschicht abgeleitet ist, kaum die Eigenschaften des Aufzeichnungsmagnetfelds der Aufzeichnungsschicht.
Somit ist es möglich, ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium zu erhalten, (1) welches wiedergegeben werden kann, auch wenn ein Aufzeichnungsbetrieb bezüglich eines kleineren Durchmessers von Aufzeichnungsbits, die eine kleinere Beabstandung dazwischen aufweisen, ausgeführt wird, und (2) welches durch ein kleineres Magnetfeld aufgezeichnet oder gelöscht werden kann.
Vorzugsweise weist die Aufzeichnungsschicht eine Kompensationstemperatur T_Wcomp von nicht mehr als 50°C auf, oder (2) die Aufzeichnungsschicht weist ein Übergangs-Metallteilgittermoment in einem Temperaturbereich von Raumtemperatur bis zur Curie-Temperatur T_WC der Aufzeichnungsschicht auf.
Da die Temperaturabhängigkeit des Leck-Magnetfelds, das von der Aufzeichnungsschicht abgeleitet ist, bezüglich der Wiedergabeeigenschaften optimiert ist, ist es möglich, eine ausreichende Qualität eines Signals zu erhalten, auch wenn der Aufzeichnungsbetrieb bezüglich eines kleineren Durchmessers von Aufzeichnungsbits, die eine kleinere Beabstandung dazwischen aufweist, ausgeführt wird.
Vorzugsweise weist die Wiedergabeschicht eine Kompensationstemperatur T_rcomp von nicht weniger als 180°C auf, oder (2) die Wiedergabeschicht weist ein Seltene-Erden-Metallteilgittermoment auf, das immer größer als jenes des Übergangs-Metallteilgittermoments in einem Temperaturbereich von Raumtemperatur bis zur Curie-Temperatur T_rc der Wiedergabeschicht ist.
Da das Leck-Magnetfeld, das von der Wiedergabeschicht abgeleitet ist, während des Aufzeichnungsbetriebs verringert wird, ist es möglich, ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium zu erhalten, das Aufzeichnungs- und Löschbetriebsweisen mit einem kleineren Magnetfeld ausführen kann.
Vorzugsweise weist das magnetooptische Aufzeichnungsmedium weiterhin eine Aufzeichnungsunterstützungsschicht auf, die bereitgestellt ist, neben der Aufzeichnungsschicht zu liegen, wobei die Aufzeichnungsunterstützungsschicht und die Aufzeichnungsschicht eine Gesamtdicke von nicht weniger als 20 nm aufweisen.
Da die Aufzeichnungsunterstützungsschicht eine größere Empfindlichkeit für ein Magnetfeld als jene der Aufzeichnungsschicht aufweist, ist es möglich, ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium zu erhalten, das Aufzeichnungs- und Löschbetriebsweisen mit einem kleineren Magnetfeld ausführen kann.
Vorzugsweise weist die Aufzeichnungsunterstützungsschicht eine Kompensationstemperatur von nicht mehr als 50°C auf, oder (2) die Aufzeichnungsunterstützungsschicht weist ein Übergangs-Metallteilgittermoment auf, das immer größer als jenes des Seltene-Erden-Metallteilgittermoments in einem Temperaturbereich von Raumtemperatur bis zur Curie-Temperatur der Aufzeichnungsunterstützungsschicht ist.
Da die magnetischen Eigenschaften der Aufzeichnungsunterstützungsschicht optimiert sind, ist es möglich, ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium zu erhalten, das durch ein praktikables Aufzeichnungsmagnetfeld aufgezeichnet werden kann.
Vorzugsweise ist die Aufzeichnungsunterstützungsschicht zwischen der zweiten transparenten dielektrischen Schicht und der Aufzeichnungsschicht bereitgestellt.
Da die magnetischen Eigenschaften der Aufzeichnungsunterstützungsschicht optimiert sind, ist es möglich, ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium zu erhalten, das durch ein praktikables Aufzeichnungsmagnetfeld aufgezeichnet werden kann. Weiter wird das Laserlicht, das durch die Wiedergabeschicht läuft, von der Aufzeichnungsunterstützungsschicht reflektiert, deren Kerr-Drehwinkel größer als jener der Aufzeichnungsschicht ist. Dementsprechend ist es möglich, ein Wiedergabesignal größer als jenes zu erhalten, das durch die Anordnung erhalten wird, wo die Aufzeichnungsschicht selbst als die Reflexionsschicht verwendet wird.
Das erste Verfahren zur Wiedergabe von dem ersten magnetooptischen Aufzeichnungsmedium in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass es den Schritt eines Projizierens von Laserlicht aufweist, das eine Intensität kleiner als jene aufweist, durch welche eine abrupte Änderung in einem Wiedergabesignal aufgrund eines Verschwindens (Kollapses) von Magnetdomänen der Wiedergabeschicht auftritt.
Gemäß dem ersten Verfahren ist es, da sich die Wellenform des Wiedergabesignals auf eine sinusförmige Weise in Übereinstimmung mit Aufzeichnungs-Magnetdomänen wie bei dem herkömmlichen Verfahren ändert, möglich, eine Information wiederzugeben, die in Übereinstimmung mit einer Markierungskantenaufzeichnung aufgezeichnet wurde, die eine Aufzeichnung einer hohen Dichte sicherstellt.
Der weitere Umfang einer Anwendbarkeit der vorliegenden Erfindung wird aus der detaillierten Beschreibung, die nachstehend gegeben wird, offensichtlich werden. Jedoch ist zu verstehen, dass die detaillierte Beschreibung und spezifische Beispiele, während sie bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung anzeigen, nur im Wege einer Veranschaulichung gegeben werden, da verschiedene Änderungen und Modifikationen innerhalb des Umfangs der Erfindung Durchschnittsfachleuten aus dieser detaillierten Beschreibung offensichtlich werden. Die vorliegende Erfindung wird aus der detaillierten Beschreibung, die unten stehend gegeben wird, und den zugehörigen Zeichnungen, die nur im Wege einer Veranschaulichung gegeben werden und somit nicht einschränkend für die vorliegende Erfindung sind, vollständiger verstanden werden.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
In den Zeichnungen zeigen:
1 ein schematisches erklärendes Diagramm, das einen Aufbau einer magnetooptischen Platte in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung zeigt;
2 einen Graphen, der einen Vergleich jeweiliger Wiedergabeeigenschaften der magnetooptischen Platte, die in 1 gezeigt ist, und einer herkömmlichen magnetooptischen Platte zeigt;
3 ein schematisches erklärendes Diagramm, das einen Aufbau einer herkömmlichen magnetooptischen Platte zeigt;
4 einen Graphen, der magnetische Eigenschaften der Aufzeichnungsschicht der magnetooptischen Platte zeigt, die in 1 gezeigt ist;
5 einen weiteren Graphen, der magnetische Eigenschaften der Aufzeichnungsschicht der magnetooptischen Platte zeigt, die in 1 gezeigt ist.
6 einen Graphen, der magnetische Eigenschaften der Wiedergabeschicht der magnetooptischen Platte zeigt, die in 1 gezeigt ist;
7 einen weiteren Graphen, der magnetische Eigenschaften der Wiedergabeschicht der magnetooptischen Platte zeigt, die in 1 gezeigt ist;
8 einen Graphen, der Wiedergabeeigenschaften der magnetooptischen Platte zeigt, die in 1 gezeigt ist;
9(a) und 9(b) Graphen, die jeweils die Wellenform eines Wiedergabesignals der magnetooptischen Platte zeigen, die in 1 gezeigt ist;
10 ein weiteres schematisches erklärendes Diagramm, das einen Aufbau einer weiteren magnetooptischen Platte gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt; und
11 ein weiteres schematisches erklärendes Diagramm, das einen Aufbau einer weiteren magnetooptischen Platte gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt.
Detaillierte Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen
[Erste Ausführungsform]
Die folgende Beschreibung behandelt eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Die vorliegende Ausführungsform behandelt den Fall, wo eine magnetooptische Platte als ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium eingesetzt ist.
Die magnetooptische Platte der vorliegenden Ausführungsform weist einen Plattenhauptkörper 8 auf, wobei ein Substrat 1, eine erste transparente dielektrische Schicht 2, eine Wiedergabeschicht 3, eine zweite transparente dielektrische Schicht 4, eine Aufzeichnungsschicht 5, eine Schutzschicht 6 und eine Mantelschicht 7 in dieser Reihenfolge laminiert sind (siehe 1).
Eine Information wird bezüglich der magnetooptischen Platte in Übereinstimmung mit dem Curie-Temperaturaufzeichnungsverfahren aufgezeichnet, d.h. eine Information wird auf die magnetoopti sche Platte unter Verwendung des magnetooptischen Effekts aufgezeichnet und von dieser gelesen, der als der magnetooptische Kerr-Effekt bekannt ist (nachstehend als Kerr-Effekt bezeichnet), während ein Lichtstrahl 9, der von einem Halbleiterlaser projiziert wird, auf die Wiedergabeschicht 3 durch eine Objektivlinse 10 konvergiert wird. Der Kerr-Effekt zeigt ein Phänomen an, in welchem die Drehrichtung der Polarisationsebene des reflektierten Lichts durch die Magnetisierungsrichtung orthogonal zu der Ebene des Einfallslichts umgekehrt wird.
Das Substrat 1 ist aus einem transparenten Material, wie etwa Polycarbonat, ausgeführt und weist eine Plattenform auf. Die Wiedergabeschicht 3 ist ein Magnetfilm, der aus einer Seltene-Erden-Übergangsmetalllegierung ausgeführt ist, und die Zusammensetzung des Substrats ist so eingestellt, die folgenden magnetischen Eigenschaften aufzuweisen. Spezifischer zeigt die Wiedergabeschicht 3 eine Magnetisierung in der Ebene bei Raumtemperatur, während sie eine senkrechte Magnetisierung im Ansprechen auf eine Temperaturerhöhung zeigt. Die Wiedergabeschicht 3 ist so ausgelegt, eine Dicke aufzuweisen, die in einen Bereich von 5 nm bis 30 nm fällt. Die zweite transparente dielektrische Schicht 4 ist aus einer dielektrischen Substanz, wie etwa AlN oder SiN ausgeführt. Die zweite transparente dielektrische Schicht 4 ist so ausgelegt, eine Dicke aufzuweisen, die in einen Bereich von 6 nm bis 40 nm fällt. Die Aufzeichnungsschicht 5 ist ein Film mit senkrechter Magnetisierung, der aus einer Seltene-Erden-Übergangsmetalllegierung ausgeführt ist. Die Aufzeichnungsschicht 5 ist so ausgelegt, eine Dicke aufzuweisen, die in einen Bereich von 20 nm bis 80 nm fällt.
Die Wiedergabeschicht 3 ist mit der Aufzeichnungsschicht 5 statisch magnet-gekoppelt. Dementsprechend versucht die Magnetisierungsrichtung der Wiedergabeschicht 3 in die gleiche Richtung wie jene der Aufzeichnungsschicht 5 zu weisen. Im Gegensatz dazu zeigt der Abschnitt der Wiedergabeschicht 3, der eine Magnetisierung in der Ebene zeigt, d.h. keine Temperaturerhöhung aufweist, den Kerr-Effekt nicht. Dementsprechend kann eine Information nur von dem Abschnitt der Wiedergabeschicht 3, der eine senkrechte Magnetisierung zeigt, d.h. eine Temperaturerhöhung aufgrund der Wiedergabe-Laserlichtprojektion aufweist, wiedergegeben werden. Deswegen ist es möglich, eine Information von der Aufzeichnungs-Magnetdomäne wiederzugeben, die bei einer Beabstandung kleiner als der Laserstrahlpunkt aufgezeichnet worden ist.
Die erste transparente dielektrische Schicht 2 erfordert eine Dicke, durch welche ein guter Interferenz-Effekt bezüglich des Einfallslaserlichts verwirklich ist, um so Kerr-Drehwinkel der magnetooptischen Platte zu verstärken. Spezifischer ist die Dicke der ersten transparenten dielektrischen Schicht 2 auf ungefähr (λ/4n) eingestellt, wobei λ die Wellenlänge des Laser×lichts anzeigt, und "n" den Brechungsindex der ersten transparenten dielektrischen Schicht 2 anzeigt. Beispielsweise ist, wenn λ 680 nm ist, die Dicke der ersten transparenten dielektrischen Schicht 2 auf ungefähr 40 nm bis 100 nm eingestellt.
<Beispiel 1>
(1) Verfahren zum Herstellen einer magnetooptischen Platte
Die folgende Beschreibung behandelt, wie magnetooptische Platten zu fertigen sind, die jeweils die vorangehende Anordnung aufweisen.
Zuerst wurde ein Substrat 1, das aus Polycarbonat ausgeführt ist, eine Plattenform aufweist und Vor-Nuten und Vor-Pits aufweist, in einem Substrathalter in einer Sputter-Vorrichtung angeordnet. Die Sputter-Vorrichtung wurde mit einem Al-Target, einem GdFeCo-Legierungstarget bzw. einem TbDyFeCo-Legierungstarget versehen. Die Sputter-Vorrichtung wurde auf 1×10^–6 Torr evakuiert. Dann wurde das Mischgas aus Argon und Stickstoff in die evakuierte Sputter-Vorrichtung eingeführt. Eine erste transparente dielektrische Schicht 2, die aus AlN ausgeführt ist, die eine Dicke von 80 nm aufweist, wurde auf dem Substrat 1 in dem Zustand gebildet, wo ein Gasdruck von 4×10^–3 Torr gehalten wurde, während die elektrische Energie an das Al-Target angelegt wurde.
Dann wurde die Sputter-Vorrichtung wieder auf 1×10^–6 Torr evakuiert. Danach wurde Argongas eingeführt. Eine Wiedergabeschicht 3, die aus Gd_0.31 (Fe_0.78 Co_0.22)_0.69 ausgeführt ist, die eine Dicke von 20 nm aufweist, wurde auf der ersten transparenten dielektrischen Schicht 2 in dem Zustand gebildet, wo ein Gasdruck von 4×10^–3 Torr gehalten wurde, während die elektrische Energie an das GdFeCo-Legierungstarget angelegt wurde. Die Wiedergabeschicht 3 wies die folgenden magnetischen Eigenschaften auf. Spezifischer (1) zeigte die Wiedergabeschicht 3 eine Magnetisierung in der Ebene bei Raumtemperatur, dagegen eine senkrechte Magnetisierung bei 120°C, (2) wies eine Kompensationstemperatur von 300°C und eine Curie-Temperatur von 360°C auf.
Dann wurde das Mischgas aus Argon und Stickstoff in die Sputter-Vorrichtung eingeführt. Eine zweite transparente dielektrische Schicht 4, die aus AlN ausgeführt ist, die eine Dicke von 20 nm aufweist, wurde auf der Wiedergabeschicht 3 in dem Zustand gebildet, wo ein Gasdruck von 4×10^–3 Torr gehalten wurde, während die elektrische Energie an das Al-Target angelegt wurde.
Als Nächstes wurde die Sputter-Vorrichtung weder auf 1×10^–6 Torr evakuiert. Danach wurde Argongas eingeführt. Eine Aufzeichnungsschicht 5, die aus (TB_0.75Dy_0.25)_0.30 (Fe_0.72Co_0.28)_0.70 ausgeführt ist, die eine Dicke von 40 nm aufweist, wurde auf der zweiten transparenten dielektrischen Schicht 4 in dem Zustand gebildet, wo ein Gasdruck von 4×10^–3 Torr gehalten wurde, während die elektrische Energie an das TbDyFeCo-Legierungstarget angelegt wird. Die Aufzeichnungsschicht 5 wies eine Kompensationstemperatur von 25°C und eine Curie-Temperatur von 275°C auf.
Dann wurde das Mischgas aus Argon und Stickstoff in die Sputter-Vorrichtung eingeführt. Eine Schutzschicht 6, die aus AlN ausgeführt ist, wurde auf der Aufzeichnungsschicht 5 in dem Zustand gebildet, wo ein Gasdruck 4×10^–3 Torr gehalten wurde, während die elektrische Energie an das Al-Target angelegt wird. Es sei darauf hingewiesen, dass die Dicke der Schutzschicht 6 nicht auf eine spezifische eingeschränkt ist, vorausgesetzt, dass die Aufzeichnungsschicht 5 vor Korrosion aufgrund etwa einer Oxidation geschützt werden kann. Es ist vorzuziehen, dass die Schutzschicht 6 eine Dicke von nicht weniger als 5 nm aufweist. Gemäß der vorliegenden Ausführungsform wurde die Schutzschicht 6 eingestellt, eine Dicke von 20 nm aufzuweisen.
Ultraviolettstrahlen-härtendes Harz oder thermisch härtendes Harz wurde auf die Schutzschicht 6 durch das Schleuderbeschichtungsverfahren aufgetragen. Dann wurden Ultraviolettstrahlen oder Wärme an das Harz angelegt, um so eine Mantelschicht 7 zu bilden.
(2) Eigenschaften einer Aufzeichnung und einer Wiedergabe
Ein CNR (Signal-zu-Rausch-Verhältnis) der vorangehenden magnetooptischen Platte wurde unter Verwendung eines optischen Aufnehmers gemessen, der einen Halbleiterlaser aufweist, dessen Wellenlänge 680 nm betrug. 2 zeigt die Markierungs-Längenabhängigkeit des gemessenen CNR.
2 zeigt zum Vergleich auch die Markierungs-Längenabhängigkeit des CNR, das für eine magnetooptische Platte gemessen wurde, die kommerziell erhältlich gewesen ist. Es sei darauf hingewiesen, dass eine derartige kommerziell erhältliche magnetooptische Platte so angeordnet ist, dass ein Substrat 91, eine erste dielektrische Schicht 92, eine Aufzeichnungsschicht 93, eine zweite dielektrische Schicht 94, eine Reflexionsschicht 95 und eine Mantelschicht 96 in dieser Reihenfolge laminiert sind (siehe 3).
Gemäß der vorliegenden Ausführungsform wurde ein CNR unter Verwendung eines optischen Aufnehmers gemessen, der einen Halbleiterlaser aufweist, dessen Wellenlänge 680 nm betrug. In dem Fall, wo eine Reihe von Aufzeichnungs-Magnetdomänen auf die kommerziell erhältliche magnetooptische Platte mit einer Markierungslänge von 0,3 μm und einer Markierungsbeabstandung von 0,6 μm in üblicher Weise aufgezeichnet sind, ist es am wahrscheinlichsten, dass eine Mehrzahl von Aufzeichnungs-Magnetdomänen in einem einzigen Laserstrahlpunkt zusammen existieren, was es schwierig macht, jede einzelne Aufzeichnungs-Magnetdomäne getrennt wiederzugeben. Deswegen wurde ein CNR von null für die kommerziell erhältliche magnetooptische Platte für eine Markierungslänge von 0,3 μm gemessen.
Im Gegensatz dazu kann gemäß einer magnetooptischen Platte der vorliegenden Erfindung eine Information nur von dem Abschnitt der Wiedergabeschicht 3 wiedergegeben werden, der eine senkrechte Magnetisierung im Ansprechen auf die Temperaturerhöhung aufgrund der Wiedergabe-Laserlichtprojektion darauf zeigt, was dazu führt, dass ein CNR von 41 dB erhalten wurde, sogar dann, wenn eine Markierungslänge 0,3 μm betrug.
In einem herkömmlichen magnetooptischen Aufzeichnungsmedium, worin die Aufzeichnungsschicht statisch an die Wiedergabeschicht magnet-gekoppelt ist, weist die nicht-magnetische Zwischenschicht (die der zweiten transparenten dielektrischen Schicht 4 der vorliegenden Ausführungsform entspricht), die zwischen den beiden Schichten bereitgestellt ist, eine geringe Dicke von 5 nm auf, wie in der ungeprüften japanischen Patentanmeldung Nr. 6-150418/1994 offenbart. Je weiter die Position von der Aufzeichnungsschicht weg ist, desto kleiner wird das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht abgeleitet wird, an der Position. Dementsprechend wird die nichtmagnetische Zwischenschicht, die eine derart geringe Dicke aufweist, gebildet, d.h. die Beabstandung zwischen der Aufzeichnungsschicht und der Wiedergabeschicht ist bereitgestellt, klein zu sein, so dass die Wiedergabeschicht und die Aufzeichnungsschicht vollständig statisch durch das Leck-Magnetfeld von der Aufzeichnungsschicht magnet-gekoppelt sind. Im Gegensatz dazu wurden, gemäß der vorliegenden Ausführungsform, wie sie in 2 gezeigt ist, auch wenn die zweite transparente dielektrische Schicht eine Dicke von 20 nm aufweist, gute hochauflösende Wiedergabeeigenschaften erhalten.
Tabelle 1 zeigt die Ergebnisse des gemessenen CNR mit einer Markierungslänge von 0,45 μm, indem die jeweiligen Dicken der Wiedergabeschicht 3 und der Aufzeichnungsschicht 5 der vorliegenden Ausführungsform variiert werden.
[Tabelle 1]
In Tabelle 1 zeigt 0 nm (die Dicke der Wiedergabeschicht) an, dass die zweite Interferenzschicht (die der zweiten transparenten dielektrischen Schicht 4 der vorliegenden Ausführungsform entspricht) direkt auf einer ersten Interferenzschicht (die der ersten transparenten dielektrischen Schicht 2 der vorliegenden Ausführungsform entspricht) ohne die Wiedergabeschicht 3 gebildet wurde. Dementsprechend zeigt in einem derartigen Fall das gemessene Ergebnis die Aufzeichnungseigen schaften und die Wiedergabeeigenschaften ohne die Wiedergabeschicht 3 an. Wie aus der Tabelle 1 klar ist, war, wenn die Wiedergabeschicht 3 eine Dicke von 3 nm aufwies, das gemessene CNR kleiner als jenes des Falls, der keine derartige Wiedergabeschicht 3 aufweist. In einem derartigen Fall wurde keine Verbesserung in den Wiedergabeeigenschaften gefunden. Dies liegt daran, dass die Dicke der Wiedergabeschicht 3 zu dünn war, um die magnetischen Eigenschaften zu verwirklichen, d.h. um eine Magnetisierung in der Ebene bei Raumtemperatur zu zeigen, währenddessen eine senkrechte Magnetisierung im Ansprechen auf eine Temperaturerhöhung gezeigt wird. Um ein geeignetes CNR zu erhalten, ist es notwendig, dass die Wiedergabeschicht 3 eine Dicke von nicht weniger als 5 nm aufweist. Wenn die Wiedergabeschicht 3 eine Dicke von nicht weniger als 35 nm aufweist, wurde eine abrupte Erhöhung in dem Magnetfeld zum Löschen der aufgezeichneten Information (nachstehend als das Lösch-Magnetfeld bezeichnet) gefunden. Deswegen ist es nötig, das Lösch-Magnetfeld von nicht weniger als 40 kA/m anzulegen, was dazu führt, dass die Lösch-Magnetfelderzeugungsvorrichtung sperrig wird, und dazu führt, dass die dissipierte Energie ansteigt. Wenn ein gegenwärtig verfügbares magnetooptisches Plattenlaufwerk verwendet wird, ist es notwendig, dass eine Wiedergabeschicht eine Dicke von nicht mehr als 30 nm aufweist, um ein praktikables Lösch-Magnetfeld zu verwirklichen oder zu erhalten.
Wie aus Tabelle 1 klar ist, wurde, wenn die Wiedergabeschicht 3 eine Dicke von 20 nm aufwies und die Aufzeichnungsschicht 5 eine Dicke von 10 nm aufwies, kein Wiedergabesignal erhalten. Die Magnetisierung der Wiedergabeschicht 3 wird durch das Leck-Magnetfeld von der Aufzeichnungsschicht 5 gerichtet. Dementsprechend wird es, wenn die Aufzeichnungsschicht 5 dünner wird, so dass das Leck-Magnetfeld von der Aufzeichnungsschicht 5 verringert ist, unmöglich, die aufgezeichnete Information wiederzugeben. Wie aus der Tabelle 1 klar ist, ist es gemäß der vorliegenden Ausführungsform notwendig, dass die Aufzeichnungsschicht 5 eine Dicke von nicht weniger als 20 nm aufweist.
Wenn sie nur ausgehend von den Wiedergabeeigenschaften (CNR) beurteilt wird, weist die Dicke der Aufzeichnungsschicht 5 keine obere Grenze auf. Jedoch ist, wenn die Dicke der Aufzeichnungsschicht 5 zu groß ist, ein größeres Lösch-Magnetfeld notwendig. Um ein Lösch-Magnetfeld von mehr als 31 kA/m zu erzeugen, ist eine sperrige Magnetfeld-Erzeugungsvorrichtung notwendig, was dazu führt, dass eine magnetooptische Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung sperrig wird. Um ein praktikables Lösch-Magnetfeld (nicht mehr als 31 kA/m) zu erzeugen, ist es notwendig, dass die Aufzeichnungsschicht 5 eine Dicke von nicht mehr als 80 nm aufweist.
Eine Tabelle 2 zeigt gemessene Ergebnisse eines CNR und eines Lösch-Magnetfelds mit einer Markierungslänge von 0,45 μm, indem die Dicke der zweiten transparenten dielektrischen Schicht 4 des Beispiels 1 geändert ist.
[Tabelle 2]
Wie aus der Tabelle 2 klar ist wurde, wenn die zweite transparente dielektrische Schicht 4 eine Dicke von nicht mehr als 5 nm aufwies, ein abrupter Anstieg in dem Lösch-Magnetfeld ge funden. Dies liegt daran, dass das Lösch-Magnetfeld auf der Grundlage der Tatsache erhöht war, dass die zweite transparente dielektrische Schicht 4 dünn wurde und die Wiedergabeschicht 3 näher an die Aufzeichnungsschicht 5 herankam, so dass das Leck-Magnetfeld von der Wiedergabeschicht 3 die Aufzeichnungsschicht 5 in hohem Maße beeinflusste.
Wie aus der Tabelle 2 klar ist wurde, wenn die zweite transparente dielektrische Schicht 4 eine Dicke von nicht weniger als 8 nm aufwies, ein konstantes Lösch-Magnetfeld von 20 kA/m erhalten. Dies basiert auf der Tatsache, dass das Leck-Magnetfeld von der Wiedergabeschicht 3 die Aufzeichnungseigenschaften überhaupt nicht beeinflusste und das Lösch-Magnetfeld nur durch die Aufzeichnungseigenschaften der Aufzeichnungsschicht 5 bestimmt wurde.
Die Erhöhung des Lösch-Magnetfelds veranlasst, dass die Magnet-Erzeugungsvorrichtung in dem magnetooptischen Plattenlaufwerk sperrig wird, und verursacht, dass die dissipierte Energie ansteigt. Da ein Lösch-Magnetfeld von nicht mehr als 31 kA/m für gegenwärtig verfügbare magnetooptische Plattenlaufwerke erforderlich ist, ist es aus der Tabelle 2 klar, dass eine Dicke von nicht weniger als 6 nm für die zweite transparente dielektrische Schicht 4 erforderlich ist.
Während des Aufzeichnungsbetriebs wird die Magnetisierungsrichtung der Wiedergabeschicht 3 durch das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht 5 abgeleitet wird, bestimmt. Dementsprechend gelangte, wie aus der Tabelle 2 klar ist, wenn die zweite transparente dielektrische Schicht 4 eine Dicke von 50 nm aufwies, das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht 5 abgelenkt wird, nicht vollständig an der Wiedergabeschicht 3 an, wodurch veranlasst wurde, dass sich das CNR verschlechtert. Um eine gute Signalqualität, d.h. ein großes CNR sicherzustellen, ist es notwendig, dass die zweite transparente dielektrische Schicht 4 eine Dicke von nicht mehr als 40 nm aufweist.
<Beispiel 2>
Eine Mehrzahl magnetooptischer Platten in Übereinstimmung mit dem vorliegenden Beispiel wurden durch ein Ändern von nur der Zusammensetzung der Aufzeichnungsschicht 5 des vorangehenden Beispiels 1 hergestellt, und Aufzeichnungseigenschaften und Wiedergabeeigenschaften wurden für jede Platte gemessen. Eine Tabelle 3 zeigt jeweils Zusammensetzung, Zusammensetzungstemperatur und Curie-Temperatur derart hergestellter magnetooptischer Platten. Die 4 und 5 zeigen eine Temperaturabhängigkeit der Koerzitivkraft bzw. eine Temperaturabhängigkeit der Magnetisierung der Aufzeichnungsschicht 5. Es sei darauf hingewiesen, dass die Einheit der Temperatur °C ist.
[Tabelle 3]
[Tabelle 4]
Wie in dem vorangehenden Beispiel 1 wurde jedes CNR der magnetooptischen Platten A1, B2, C2 und D2, die wie oben stehend hergestellt wurden, mit einer Markierungslänge von 0,45 μm und optimalen Wiedergabebedingungen durch einen optischen Aufnehmer, der einen Halbleiterlaser aufweist, dessen Wellenlänge 680 nm betrug, gemessen. Die gemessenen Ergebnisse sind in der Tabelle 4 gezeigt.
Wenn die jeweiligen Wiedergabeeigenschaften der magnetooptischen Platten A2, B2, C2 und D2 miteinander verglichen werden, wurden gute CNRe für die magnetooptischen Platten A2, B2 und C2 erhalten, während ein kleines CNR von 20 dB für die magnetooptische Platte D2 erhalten wurde. Diese Ergebnisse sind aus den jeweiligen magnetischen Eigenschaften (siehe 4 und 5) der vorangehenden magnetooptischen Platten klar. Die Magnetisierungsrichtung der Wiedergabeschicht 3 einer magnetooptischen Platte in Übereinstimmung mit der vorliegenden Ausführungsform wird durch das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht 5 abgeleitet wird, bestimmt. Dementsprechend ist es, wenn das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht 5 abgeleitet wird, klein wird, nicht möglich, die aufgezeichnete Information wiederzugeben. Das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht 5 abgeleitet wird, ändert sich proportional zu einer Größe einer Magnetisierung der Aufzeichnungsschicht 5. Es ist deswegen notwendig, dass bei Temperaturen von ungefähr 100°C bis 150°C die Aufzeichnungsschicht 5 einen ausreichend großen Betrag einer Magnetisierung aufweist, um so ein ausreichend großes Leck-Magnetfeld zu erzeugen. Es sei darauf hingewiesen, dass bei Temperaturen von ungefähr 100°C bis 150°C der Übergang in der Wiedergabeschicht 3 von einer Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung auftritt.
Wie aus der 5 klar ist, weichen die jeweiligen Kompensationstemperaturen der Aufzeichnungsschicht 5 der magnetooptischen Platten A2, B2 und C2 von derartigen Temperaturen von ungefähr 100°C bis 150°C ab, bei welchen der Übergang in der Wiedergabeschicht 3 von einer Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung auftritt. Dementsprechend weist die Aufzeichnungsschicht 5 einen derart ausreichenden, großen Betrag einer Magnetisierung auf, um ein derart ausreichendes, großes Leck-Magnetfeld zu erzeugen. Im Gegensatz dazu ist die Kompensationstemperatur der Aufzeichnungsschicht 5 der magnetooptischen Platte D2 nahe an derartigen Temperaturen von ungefähr 100°C bis 150°C, bei welchen der Übergang in der Wiedergabeschicht 3 von einer Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung auftritt. Dementsprechend weist die Aufzeichnungsschicht 5 eine zu kleine Magnetisierung auf, um ein Leck-Magnetfeld zu erzeugen, das für den Wiedergabebetrieb erforderlich ist.
In Anbetracht der voranstehenden Tatsachen wird die Aufzeichnungsschicht 5 eingestellt, die folgenden magnetischen Eigenschaften aufzuweisen. Spezifischer (1) beträgt gemäß der Aufzeichnungsschicht 5 die Kompensationstemperatur nicht mehr als 50°C, wie bei der magnetooptischen Platte B2 oder C2, oder (2) ist das Übergangs-Metallteilgittermoment immer größer als jenes des Seltene-Erden-Metallteilgittermoments, wie in der magnetooptischen Platte A2, in einem Temperaturbereich von Raumtemperatur bis zu ihrer Curie-Temperatur T_WC.
<Beispiel 3>
Eine Mehrzahl magnetooptischer Platten in Übereinstimmung mit dem vorliegenden Beispiel wurde durch ein Ändern von nur der Zusammensetzung der Wiedergabeschicht 3 des voranstehenden Beispiel 1 hergestellt, und Aufzeichnungseigenschaften und Wiedergabeeigenschaften wurden für jede Platte gemessen. Eine Tabelle 5 zeigt jeweils die Zusammensetzung, die Kompensationstemperatur und die Curie-Temperatur derart hergestellter magnetooptischer Platten. Die 6 und 7 zeigen eine Temperaturabhängigkeit der Koerzitivkraft bzw. eine Temperaturabhängigkeit der Magnetisierung der Wiedergabeschicht 3. Es sei darauf hingewiesen, dass die Einheit der Temperatur °C ist.
[Tabelle 5]
[Tabelle 6]
Wie in dem voranstehenden Beispiel 1 wurde jeweils das CNR der magnetooptischen Platten A3, B3, C3, D3 und E3, die wie obenstehend hergestellt wurden, mit einer Markierungslänge von 0,45 μm und optimalen Wiedergabebedingungen von einem optischen Aufnehmer, der einen Halbleiterlaser aufweist, dessen Wellenlänge 680 nm betrug, gemessen. Die gemessenen Ergebnisse sind in der Tabelle 6 gezeigt.
Wenn die jeweiligen Wiedergabeeigenschaften der magnetooptischen Platten A3, B3, C3, D3 und E3 miteinander verglichen werden, wurden gute CNRe für die magnetooptischen Platten A3, B3, C3 und D3 erhalten, während ein kleines CNR von 30 dB für die magnetooptische Platte E3 erhalten wurde. Diese Ergebnisse sind aus den jeweiligen magnetischen Eigenschaften (siehe 6 und 7) der voranstehenden magnetooptischen Platten klar. Die Magnetisierungsrichtung der Wiedergabeschicht 3 der vorliegenden Ausführungsform wird durch das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht 5 abgeleitet wird, bestimmt. Dementsprechend ist es, wenn die Magnetisierungsrichtung der Wiedergabeschicht 3 klein wird, nicht möglich, die aufgezeichnete Information wiederzugeben, weil das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht 5 abgeleitet wird, statisch schwach an die Wiedergabeschicht 3 magnet-gekoppelt ist. Es ist deswegen notwendig, dass bei Temperaturen von ungefähr 100°C bis 150°C die Wiedergabeschicht 3 einen ausreichend gro ßen Betrag einer Magnetisierung aufweist, um so vollständig statisch an das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht 5 abgeleitet wird, zu magnet-koppeln. Es sei darauf hingewiesen, dass bei Temperaturen von ungefähr 100°C bis 150°C der Übergang in der Wiedergabeschicht 3 von einer Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung auftritt.
Wie aus 7 klar ist, weichen die jeweiligen Kompensationstemperaturen der Wiedergabeschicht 3 der magnetooptischen Platten A3, B3, C3 und D3 von derartigen Temperaturen von ungefähr 100°C bis 150°C, bei welchen der Übergang in der Wiedergabeschicht 3 von einer Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung auftritt, ab. Dementsprechend weist die Wiedergabeschicht 3 einen ausreichend großen Betrag einer Magnetisierung auf, um so vollständig statisch an das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht 5 abgeleitet wird, zu magnet-koppeln. Im Gegensatz dazu ist die Kompensationstemperatur der Wiedergabeschicht 3 der magnetooptischen Platte E3 nahe bei derartigen Temperaturen von ungefähr 100°C bis 150°C, bei welchen der Übergang in der Wiedergabeschicht 3 von einer Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung auftritt. Dementsprechend weist die Wiedergabeschicht 3 eine zu kleine Magnetisierung auf, um vollständig statisch an das Leck-Magnetfeld, das von der Aufzeichnungsschicht 5 abgeleitet wird, zu magnet-koppeln.
Zusätzlich weist die Wiedergabeschicht 3 der magnetooptischen Platte E3 einen größeren Betrag einer Magnetisierung bei ungefähr 275°C (Curie-Temperatur der Aufzeichnungsschicht 5) verglichen mit den magnetooptischen Platten A3, B3, C3 und D3 auf. Dementsprechend wird es, da das Leck-Magnetfeld, das von der Wiedergabeschicht 3 abgeleitet wird, die Aufzeichnungseigenschaften und die Löscheigenschaften in hohem Maße beeinflusst, notwendig, ein größeres Lösch-Magnetfeld anzulegen, wie in der Tabelle 6 gezeigt.
In Anbetracht der voranstehenden Tatsachen wird die Wiedergabeschicht 3 eingestellt, die folgenden magnetischen Eigen schaften aufzuweisen. Spezifischer, gemäß der Wiedergabeschicht 3, (1) zeigt diese eine Magnetisierung in der Ebene bei Raumtemperatur, während sie eine senkrechte Magnetisierung im Ansprechen auf eine Temperaturerhöhung zeigt, und weist eine Kompensationstemperatur von nicht weniger 180°C wie die magnetooptischen Platten B3, C3 und D3 auf, oder (2) ist das Seltene-Erden-Metallteilgittermoment immer größer als jenes des Übergangs-Metallteilgittermoments, wie bei der magnetooptischen Platte A3, in einem Temperaturbereich von Raumtemperatur bis zu seiner Curie-Temperatur T_rc.
<Beispiel 4>
8 zeigt jeweilige Wiedergabeenergieabhängigkeiten eines Trägerpegels und eines Rauschpegels einer magnetooptischen Platte C3 des Beispiels 3, in welchem (1) eine Wiedergabeschicht 3 eine Kompensationstemperatur von 250°C, eine Curie-Temperatur von 380°C und eine Zusammensetzung von Gd_0.31(Fe_0.72Co_0.28)_0.69 aufweist, und (2) eine Aufzeichnungsschicht 5 eine Kompensationstemperatur von 25°C, eine Curie-Temperatur von 275°C und eine Zusammensetzung von (Tb_0.75Dy_0.25)_0.30(Fe_0.72Co_0.28)_0.70 aufweist.
Die Wiedergabeschicht eines magnetooptischen Aufzeichnungsmediums in Übereinstimmung mit der vorliegenden Ausführungsform zeigt eine Magnetisierung in der Ebene bei Raumtemperatur, während sie eine senkrechte Magnetisierung im Ansprechen auf eine Temperaturerhöhung zeigt. Dementsprechend nimmt ein Ausgang des Wiedergabesignals (Trägerpegels) allmählich zu, wenn sich die Temperatur der Wiedergabeschicht 3 im Ansprechen auf die Änderung in der Wiedergabe-Laserleistung von 0,6 mW auf 1,8 mW erhöht. Wenn die Wiedergabe-Laserleistung nicht geringer als 1,8 mW ist, zeigt der Abschnitt der Wiedergabeschicht, der in den Wiedergabebetrieb eingezogen ist, eine senkrechte Magnetisierung, so dass der Trägerpegel gesättigt wird.
Wie aus 8 klar ist, wurde eine weitere Erhöhung in dem Trägerpegel bei einer Wiedergabe-Laserleistung von nicht weniger als 2,8 mW beobachtet. Es sei darauf hingewiesen, dass die Erhöhung des Rauschpegels für eine derartige Wiedergabe-Laserleistung beobachtet wurde, wodurch das Problem auftrat, dass das CNR wesentlich verringert wurde.
Die 9(a) und 9(b) zeigen jeweilige Wiedergabewellenformen von Wiedergabe-Laserleistungen von 2,5 mW und 3,2 mW. Wie in 9(a) gezeigt, ändert sich die Wellenform des Wiedergabesignals auf eine sinusförmige Weise in Übereinstimmung mit magnetischen Aufzeichnungsdomänen. Deswegen ist es, wenn ein geeigneter Schnittpegel eingestellt wird, möglich, eine jeweilige Länge der magnetischen Aufzeichnungsdomänen als die aufgezeichnete Information wiederzugeben.
Im Gegensatz dazu wurde, wie in 9(b) gezeigt, ein abrupter Abfall in dem Wiedergabesignal irregulär gefunden. Dies liegt an den folgenden Tatsachen. Spezifischer gelangt die Temperatur der Wiedergabeschicht 3 nahe an ihre Kompensationstemperatur, und die Magnetisierung der Wiedergabeschicht 3 wird verringert, so dass die statische Magnetkopplung zwischen der Wiedergabeschicht 3 und der Aufzeichnungsschicht 5 schwach wird, was dazu führt, dass die Magnetdomäne, die von der Aufzeichnungsschicht 5 auf die Wiedergabeschicht 3 kopiert worden ist, unmittelbar verschwindet (kollabiert). In einem derartigen Fall steigt der Trägerpegel im Ansprechen auf eine große Änderung in dem Betrag des Wiedergabesignals aufgrund eines derartigen Kollapses an. Da diese Art eines Kollapses irregulär auftritt, nimmt der Rauschpegel gleichzeitig dementsprechend zu, was dazu führt, dass sich das CNR verschlechtert.
Es wird angenommen, dass die jeweiligen Originallängen der Aufzeichnungsdomänen a1, a2 und a3 sind, wie in 9(a) gezeigt. Wenn der Kollaps auftritt, wie in 9(b) gezeigt, werden die Längen a1 und a3 als die jeweiligen Aufzeichnungs-Magnetdomänen b1 und b3 erfasst, deren Längen der Aufzeichnungs-Magnetdomänen unterschiedlich von jenen von a1 bzw. a2 sind. Dementsprechend wird es schwierig, jede Länge der Aufzeichnungs-Magnetdomänen als die aufgezeichnete Information wiederzugeben.
In Anbetracht der voranstehenden Tatsachen wird die Laserlichtintensität zur Wiedergabe der magnetooptischen Platten der vorliegenden Ausführungsform eingestellt, kleiner als jene zu sein, durch welche eine abrupte Änderung in dem Wiedergabesignal wegen des Verschwindens (Kollapses) der Aufzeichnungs-Magnetdomänen der Wiedergabeschicht 3 gefunden wird.
[Zweite Ausführungsform]
Die folgende Beschreibung behandelt eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die 10 und 11. Die vorliegende Ausführungsform behandelt einen Fall, wo eine magnetooptische Platte als ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium eingesetzt wird.
Die magnetooptische Platte der vorliegenden Ausführungsform weist einen Plattenhauptkörper 8 auf, wobei ein Substrat 1, eine erste transparente dielektrische Schicht 2, eine Wiedergabeschicht 2, eine Wiedergabeschicht 3, eine zweite transparente dielektrische Schicht 4, eine Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11, eine Aufzeichnungsschicht 5, eine Schutzschicht 6 und eine Mantelschicht 7 in dieser Reihenfolge laminiert sind (siehe 10).
Alternativ kann die magnetooptische Platte der vorliegenden Ausführungsform einen Plattenhauptkörper 8 aufweisen, wobei ein Substrat 1, eine erste transparente dielektrische Schicht 2, eine Wiedergabeschicht 3, eine zweite transparente dielektrische Schicht 4, eine Aufzeichnungsschicht 5, eine Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11, eine Schutzschicht 6 und eine Mantelschicht 7 in dieser Reihenfolge laminiert sind (siehe 11).
Aufzeichnungs- und Wiedergabebetriebsweisen wurden auf eine ähnliche Weise zu der voranstehenden ersten Ausführungsform ausgeführt. Gemäß der vorliegenden zweiten Ausführungsform ist die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 bereitgestellt, angrenzend an die Aufzeichnungsschicht 5 zu sein, und weist eine Curie-Temperatur auf, die höher als jene der Aufzeichnungs schicht 5 ist, wodurch die Verbesserung in Aufzeichnungs- und Wiedergabebetriebsweisen sichergestellt wird.
In einem bestimmten Fall wird, wie in 10 gezeigt, wo eine Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 zwischen der zweiten transparenten dielektrischen Schicht 4 und der Aufzeichnungsschicht 5 bereitgestellt ist, das Laserlicht, das durch die Wiedergabeschicht 3 läuft, von der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 reflektiert, deren Curie-Temperatur höher als jene der Aufzeichnungsschicht 5 ist, d.h. deren Kerr-Drehwinkel größer als jener der Aufzeichnungsschicht 5 ist. Dementsprechend ist es möglich, ein Wiedergabesignal größer als jenes zu erhalten, das durch die Anordnung erhalten wird, bei der die Aufzeichnungsschicht 11 selbst als die Reflexionsschicht verwendet wird, wie in 11 gezeigt.
<Beispiel 5>
(1) Verfahren zum Herstellen einer magnetooptischen Platte
Die folgende Beschreibung behandelt, wie magnetooptische Platten, die die voranstehende Anordnung aufweisen, herzustellen sind. Ein Verfahren zum Herstellen einer magnetooptischen Platte in Übereinstimmung mit der vorliegenden Ausführungsform ist das gleiche wie jenes in der voranstehenden ersten Ausführungsform beschriebene, außer der zusätzlichen Bereitstellung einer Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11.
Die magnetooptische Platte, die in 10 gezeigt ist, wurde mit einer ersten transparenten dielektrischen Schicht 2, einer Wiedergabeschicht 3 und einer zweiten transparenten dielektrischen Schicht 4 bereitgestellt, danach wurde eine Sputter-Vorrichtung auf 1×10^–6 Torr evakuiert. Dann wurde Argongas in die evakuierte Sputter-Vorrichtung eingeführt. Es wurde eine Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11, die aus Gd_0.29(Fe_0.83Co_0.17)_0.76 ausgeführt ist und eine Dicke von 20 nm aufweist, auf der zweiten transparenten dielektrischen Schicht 4 in dem Zustand bereitgestellt, wo ein Gasdruck von 4×10^–3 Torr gehalten wurde, während die elektrische Energie an das GdFeCo-Legierungstarget angelegt wird. Eine Aufzeichnungsschicht 5, eine Schutzschicht 6 und eine Mantelschicht 7 wurden auf der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 in dieser Reihenfolge bereitgestellt, wodurch die magnetooptische Platte, die in 10 gezeigt ist, gefertigt wurde. Die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 wies eine Kompensationstemperatur von nicht mehr als 25°C und eine Curie-Temperatur von 290°C auf. Zur Vereinfachung wird die magnetooptische Platte, die in 10 gezeigt ist, nachstehend als eine magnetooptische Platte A5 bezeichnet.
Die in 11 gezeigte magnetooptische Platte wurde mit einer ersten transparenten dielektrischen Schicht 2, einer Wiedergabeschicht 3, einer zweiten transparenten dielektrischen Schicht 4 und einer Aufzeichnungsschicht 5 versehen, danach wurde die Sputter-Vorrichtung auf 1×10^–6 Torr evakuiert. Dann wurde Argongas in die evakuierte Sputter-Vorrichtung eingeführt. Es wurde eine Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11, die aus Gd_0.24(Fe_0.83Co_0.17)_0.76 ausgeführt ist und eine Dicke von 20 nm aufweist, auf der Aufzeichnungsschicht 5 in dem Zustand bereitgestellt, wo ein Gasdruck von 4×10^–3 Torr gehalten wurde, während die elektrische Energie an das GdFeCo-Legierungstarget angelegt wurde. Eine Schutzschicht 6 und eine Mantelschicht 7 wurden auf der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 bereitgestellt, wodurch die magnetooptische Platte, die in 11 gezeigt ist, gefertigt wurde. Die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 wies eine Kompensationstemperatur von nicht mehr als 25°C und eine Curie-Temperatur von 290°C auf. Zur Vereinfachung wird die magnetooptische Platte, die in 11 gezeigt ist, nachstehend als eine magnetooptische Platte B5 bezeichnet.
(2) Eigenschaften eines Aufzeichnens und einer Wiedergabe
Eine Tabelle 7 zeigt (1) CNRe der voranstehenden magnetooptischen Platten A5 und B5, die unter Verwendung eines optischen Aufnehmers, der einen Halbleiterlaser aufweist, dessen Wellenlänge 680 nm betrug, gemessen wurden, und (2) Lösch-Magnetfelder, die zum Löschen jeweiliger Aufzeichnungs- Magnetdomänen erforderlich sind. Die Tabelle 7 zeigt auch zum Vergleich das jeweilige CNR und das Lösch-Magnetfeld der voranstehenden magnetooptischen Platte B2.
[Tabelle 7]
Wie aus der Tabelle 7 klar ist, wurde beobachtet, dass ein Lösch-Magnetfeld von 20,0 kA/m für die magnetooptische Platte B2 der voranstehenden ersten Ausführungsform notwendig war, während ein Lösch-Magnetfeld von 7,5 kA/m für die magnetooptischen Platten A5 und B5 der zweiten Ausführungsform notwendig war. Dies zeigt an, dass der Löschbetrieb hauptsächlich durch die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 (GdFeCo) ausgeführt wurde, deren Curie-Temperatur (290°C) höher als jene (275°C) der Aufzeichnungsschicht 5 (TbDyFeCo) war, und in welcher das Umkehren einer Magnetisierung einfacher ausgeführt wurde als in der Aufzeichnungsschicht 5, wodurch bewirkt wurde, dass das Lösch-Magnetfeld verringert war.
Wenn die magnetooptischen Platten A5 und B5 weiter verglichen wurden, wie es aus der Tabelle 7 klar ist, wurde gefunden, dass ein CNR in der magnetooptischen Platte A5 größer als in den magnetooptischen Platten B5 war. In der magnetooptischen Platte B5 wurde das Laserlicht, das durch die Wiedergabeschicht 3 läuft, einer mehrfachen Reflexion zwischen der Aufzeichnungsschicht 5 und der Wiedergabeschicht 3 unterworfen. Dementsprechend wies die magnetooptische Platte B5 die gleichen Wiedergabeeigenschaften wie jene der magnetooptischen Platte B2 auf. Im Gegensatz dazu wurde in der magnetooptischen Platte A5 das Laserlicht, das durch die Wiedergabeschicht 3 läuft, einer mehrfachen Reflexion zwischen der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 und der Wiedergabeschicht 3 unterwor fen, Somit wurde die mehrfache Reflexion durch die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 ausgeführt, die eine Curie-Temperatur höher als jene der Aufzeichnungsschicht 5 aufwies, d.h, die einen Kerr-Drehwinkel größer als jenen der Aufzeichnungsschicht 5 aufwies, was dazu führte, dass die magnetooptische Platte A5 ein CNR größer als jenes der magnetooptischen Platten B2 und B5 zeigte.
Eine Tabelle 8 zeigt die Ergebnisse eines gemessenen CNR mit einer Markierungslänge von 0,45 μm durch ein Variieren der jeweiligen Dicken der Wiedergabeschicht 3, der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 und der Aufzeichnungsschicht 5 der magnetooptischen Platte A5.
[Tabelle 8]
In Tabelle 8 zeigt 0 nm (die Dicke der Aufzeichnungsschicht) an, dass die zweite Interferenzschicht (die der zweiten transparenten dielektrischen Schicht 4 der vorliegenden Ausführungsform entspricht) direkt auf einer ersten Interferenzschicht (die der ersten transparenten dielektrischen Schicht 2 der ersten Ausführungsform entspricht) ohne die Wiedergabeschicht 3 gebildet wurde. Dementsprechend zeigt in einem derartigen Fall das gemessene Ergebnis die Aufzeichnungseigenschaften und die Wiedergabeeigenschaften ohne die Wiedergabeschicht 3 an.
Wie aus der Tabelle 8 klar ist, war, wenn die Wiedergabeschicht 3 eine Dicke von 3 nm aufwies, das gemessene CNR kleiner als jenes des Falls, der keine derartige Wiedergabeschicht 3 aufweist. In einem derartigen Fall wurde keine Verbesserung in den Wiedergabeeigenschaften gefunden. Dies liegt daran, dass die Dicke der Wiedergabeschicht 3 zu dünn war, um die magnetischen Eigenschaften zu verwirklichen, d.h. um eine Magnetisierung in der Ebene bei Raumtemperatur zu zeigen, während eine senkrechte Magnetisierung in Abhängigkeit von einer Temperaturerhöhung gezeigt wird. Um ein geeignetes CNR aufrechtzuerhalten, ist es notwendig, dass die Wiedergabeschicht 3 eine Dicke von nicht weniger als 5 nm aufweist. Wenn die Wiedergabeschicht 3 eine Dicke von nicht weniger als 35 nm aufwies, wurde ein abrupter Anstieg in dem Lösch-Magnetfeld gefunden. Deswegen ist es notwendig, das Lösch-Magnetfeld von nicht weniger als 36,5 kA/m anzulegen, was dazu führt, dass die Lösch-Magnetfeld-Erzeugungsvorrichtung sperrig wird und dazu führt, dass die dissipierte Energie zunimmt. Wenn ein gegenwärtig verfügbares magnetooptisches Plattenlaufwerk verwendet wird, ist es notwendig, dass die Wiedergabeschicht eine Dicke von nicht mehr als 30 nm aufweist, um ein praktikables Lösch-Magnetfeld zu verwirklichen oder zu erhalten.
Wie aus der Tabelle 8 klar ist, wurde, wenn die Wiedergabeschicht 3 eine Dicke von 20 nm aufwies, die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 eine Dicke von 5 nm aufwies und die Aufzeichnungsschicht 5 eine Dicke von 5 nm aufweist, kein Wiedergabesignal erhalten. Die Magnetisierung der Wiedergabeschicht 3 wird durch die Leck-Magnetfelder von der Aufzeichnungsschicht 5 bzw. der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 gerichtet. Dementsprechend wird es, wenn die Gesamtdicke der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 und der Aufzeichnungsschicht 5 dünner wird, so dass die Leck-Magnetfelder von der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 und der Aufzeichnungsschicht 5 verringert werden, unmöglich, die aufgezeichnete Information wiederzugeben. Wie aus der Tabelle 8 klar ist, wurde gemäß der vorliegenden Ausführungsform die Dicke der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 auf 10 nm eingestellt, und die Dicke der Aufzeichnungsschicht 5 wurde auf 10 nm eingestellt, d.h. die Gesamtdicke der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 und der Aufzeichnungsschicht 5 wurde auf nicht weniger als 20 nm eingestellt.
In der voranstehenden ersten Ausführungsform wurde vom Standpunkt eines Beschränkens des Erhöhens des Lösch-Magnetfelds aus die Dicke der Aufzeichnungsschicht 5 auf nicht mehr als 80 nm eingestellt. Im Gegensatz dazu besteht in der zweiten Ausführungsform, da der Aufzeichnungsbetrieb hauptsächlich durch die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 ausgeführt wird, keine obere Grenze der Gesamtdicke der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 und der Aufzeichnungsschicht 5 vom Standpunkt eines Beschränkens des Erhöhens des Lösch-Magnetfelds. Jedoch wird es, wenn die Gesamtdicke der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 und der Aufzeichnungsschicht 5 zu groß eingestellt wird, notwendig, während eines Aufzeichnungsbetriebs Laserlicht, das eine große Intensität aufweist, anzulegen. Dementsprechend ist es vorzuziehen, dass die Gesamtdicke der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 und der Aufzeichnungsschicht 5 auf nicht mehr als 200 nm eingestellt wird.
Eine Tabelle 9 zeigt die Ergebnisse gemessener CNRe und Lösch-Magnetfelder mit einer Markierungslänge von 0,45 μm durch ein Variieren der Dicke der zweiten transparenten dielektrischen Schicht 4 der magnetooptischen Platte A5.
[Tabelle 9]
Wie aus der Tabelle 9 klar ist, wurde, wenn die zweite transparente dielektrische Schicht 4 eine Dicke von nicht mehr als 5 nm aufwies, ein abrupter Anstieg in dem Lösch-Magnetfeld gefunden. Dies liegt daran, dass das Lösch-Magnetfeld auf der Grundlage der Tatsache erhöht wurde, dass die zweite transparente dielektrische Schicht 4 dünn wurde und die Wiedergabeschicht 3 näher an die Aufzeichnungsschicht 5 und die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 herangelangte, so dass das Leck-Magnetfeld von der Wiedergabeschicht 3 die Aufzeichnungsschicht 5 und die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 in hohem Maße beeinflusste. Wie aus der Tabelle 9 klar ist, wurde, wenn die zweite transparente dielektrische Schicht 4 eine Dicke von nicht weniger als 8 nm aufwies, ein konstantes Lösch-Magnetfeld von 7,5 kA/m erhalten. Dies basiert auf der Tatsache, dass das Leck-Magnetfeld von der Wiedergabeschicht 3 die Aufzeichnungseigenschaften überhaupt nicht beeinflusste und das Lösch-Magnetfeld durch die Aufzeichnungseigenschaften der Aufzeichnungsschicht 5 bestimmt wurde.
Die Zunahme des Lösch-Magnetfelds führt dazu, dass die Magneterzeugungsvorrichtung in dem magnetooptischen Plattenlaufwerk sperrig wird, und führt dazu, dass die dissipierte Energie zunimmt. Da ein praktikables Lösch-Magnetfeld nicht mehr als 31 kA/m für gegenwärtig verfügbare magnetooptische Plattenlaufwerke beträgt, ist es aus der Tabelle 9 klar, dass eine Dicke von nicht weniger als 6 nm für die zweite transparente dielektrische Schicht 4 erforderlich ist.
Während des Wiedergabebetriebs wird die Magnetisierungsrichtung der Wiedergabeschicht 3 durch die Leck-Magnetfelder, die von der Aufzeichnungsschicht 5 und der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 abgeleitet werden, bestimmt. Dementsprechend gelangten, wie aus der Tabelle 9 klar ist, wenn die zweite transparente dielektrische Schicht 4 eine Dicke von 50 nm aufwies, die jeweiligen Leck-Magnetfelder, die von der Aufzeichnungsschicht 5 und der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 abgeleitet werden, nicht vollständig an der Wiedergabeschicht 3 an, was dazu führte, dass sich das CNR verschlechterte. Um eine gute Signalqualität, d.h. ein großes CNR sicherzustellen, war es notwendig, dass die zweite transparente dielektrische Schicht 4 eine Dicke von nicht mehr als 40 nm aufweist.
<Beispiel 6>
Eine Mehrzahl magnetooptischer Platten in Übereinstimmung mit dem vorliegenden Beispiel wurde gefertigt, indem nur die Zusammensetzung der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 der magnetooptischen Platte A5 des voranstehenden Beispiels 5 geändert wurde, und Aufzeichnungseigenschaften und Wiedergabeeigenschaften wurden für jede Platte gemessen. Tabelle 10 zeigt jeweils die Kompensation, die Kompensationstemperatur und die Curie-Temperatur der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 derart gefertigter magnetooptischer Platten. Es sei darauf hingewiesen, dass die Einheit der Temperatur °C ist.
[Tabelle 10]
[Tabelle 11]
Wie in dem voranstehenden Beispiel 5 wurde jedes CNR der magnetooptischen Platten A6, B6, C6, D6 und E6, die wie oben stehend gefertigt wurden, mit einer Markierungslänge von 0,45 um und optimalen Wiedergabebedingungen durch einen optischen Aufnehmer, der einen Halbleiterlaser aufweist, dessen Wellenlänge 680 nm betrug, gemessen. Eine Tabelle 11 zeigt die gemessenen CNRe, die Lösch-Magnetfelder (das Magnetfeld, das zum Löschen der Auf zeichnungs-Magnetdomäne erforderlich ist) und das Aufzeichnungs-Magnetfeld (das Magnetfeld, das zum Bilden der Aufzeichnungs-Magnetdomäne erforderlich ist).
Wenn die jeweiligen Wiedergabeeigenschaften der magnetooptischen Platten A6, B6, C6, D6 und E6 miteinander verglichen werden, wurden, wie es aus der Tabelle 11 klar ist, die CNRe der magnetooptischen Platten A6, B6, C6, D6 und E6 kleiner in der aufgelisteten Reihenfolge. Dies liegt daran, dass die Kom pensationstemperatur der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 ansteigt und das Leck-Magnetfeld von der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 allmählich klein wird, und das CNR wird dementsprechend allmählich klein. Die Aufzeichnungsschicht 5 ist bereitgestellt, angrenzend an die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 zu sein, wodurch ein ausreichend großes Leck-Magnetfeld erzeugt wird, um zu verhindern, dass das CNR in hohem Maße verringert wird.
Wie aus den Tabellen 10 und 11 klar ist, wird das Lösch-Magnetfeld kleiner, wenn seine Kompensationstemperatur größer wird. Dementsprechend ist es vorzuziehen, dass die Kompensationstemperatur der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 größer ist. Jedoch wird das Aufzeichnungs-Magnetfeld größer, wenn die Kompensationstemperatur der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 größer wird. Beispielsweise war in dem Fall der magnetooptischen Platte E6 ein Aufzeichnungs-Magnetfeld von 45 kA/m erforderlich. Ein derart großes Aufzeichnungsmagnetfeld ist nicht praktikabel.
In Anbetracht der voranstehenden Tatsachen wurde die Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 eingestellt, die folgenden magnetischen Eigenschaften aufzuweisen. Spezifischer betrug gemäß der Aufzeichnungsunterstützungsschicht 11 (1) die Kompensationstemperatur nicht mehr als 50°C wie bei den magnetooptischen Platten C6 und D6, oder (2) war das Übergangs-Metallteilgittermoment immer größer als das Seltene-Erden-Metallteilgittermoment wie bei den magnetooptischen Platten A6 und B6 in einem Temperaturbereich von Raumtemperatur bis zu ihrer Curie-Temperatur.
Die voranstehenden Beschreibungen behandeln den Fall, wo AlN, GdFeCo, TbDyFeCo und GdFeCo als eine transparente dielektrische Schicht, eine Wiedergabeschicht, eine Aufzeichnungsschicht bzw. eine Aufzeichnungsunterstützungsschicht in den ersten und zweiten Ausführungsformen eingesetzt wurden. Jedoch ist die vorliegende Erfindung nicht auf diese Materialien für die jeweiligen Schichten beschränkt.
Beispielsweise können andere transparente Schichten, die jeweils einen größeren Brechungsindex aufweisen, wie etwa SiN, SiAlN oder TaO₂ als die transparente dielektrische Schicht eingesetzt werden.
Die Wiedergabeschicht kann aus anderen magnetischen Schichten bestehen, vorausgesetzt, dass die magnetischen Schichten eine Magnetisierung in der Ebene bei Raumtemperatur zeigen, während sie eine senkrechte Magnetisierung im Ansprechen auf eine Temperaturerhöhung zeigen. Beispielsweise kann die magnetische Schicht, wie etwa GdDyFeCo, GdTbFe oder GdTbFeCo, die hauptsächlich Gd als das Seltene-Erden-Metall enthält, als die Wiedergabeschicht eingesetzt werden.
Beispielsweise kann die magnetische Schicht, wie etwa DyFeCo, TbFeCo oder GdTbFeCo, die hauptsächlich Dy oder Gd als das. Seltene-Erden-Metall enthält, als die Aufzeichnungsschicht eingesetzt werden.
Beispielsweise kann die magnetische Schicht, wie etwa GdDyFe-Co, GdTbFe oder GdTbFeCo, die hauptsächlich Gd als das Seltene-Erden-Metall enthält, als die Aufzeichnungsunterstützungsschicht eingesetzt werden.

Claims

Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium, umfassend: ein Substrat (1); eine erste transparente dielektrische Schicht (2); eine Wiedergabeschicht (3), die eine Dicke von 5 nm bis 30 nm aufweist und eine Magnetisierung in der Ebene bei Raumtemperatur zeigt, während sie eine senkrechte Magnetisierung in Reaktion auf einen Temperaturanstieg zeigt; eine zweite transparente dielektrische Schicht (4), eine Aufzeichnungsschicht (5), die aus einem Film mit senkrechter Magnetisierung ausgeführt ist, der eine Dicke von 20 nm bis 80 nm aufweist; und eine Schutzschicht (6), wobei die Schichten auf dem Substrat (1) in dieser Reihenfolge laminiert sind, dadurch gekennzeichnet, dass die Dicke der zweiten transparenten dielektrischen Schicht (4) mehr als 10 nm und nicht mehr als 40 nm beträgt.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei die Aufzeichnungsschicht (5) eine Kompensationstemperatur T_Wcomp von nicht mehr als 50°C aufweist.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei die Aufzeichnungsschicht (5) eine Kompensationstemperatur T_Wcomp aufweist, die zumindest 50°C kleiner als eine Temperatur ist, bei welcher ein Übergang in der Wiedergabeschicht (3) von einer Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung auftritt.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei die Aufzeichnungsschicht (5) ein Übergangs-Metallteilgittermoment, das immer größer als ein Seltene-Erden-Metallteilgittermoment ist, in einem Temperaturbereich von Raumtemperatur bis zur Curie-Temperatur T_WC der Aufzeichnungsschicht aufweist.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Wiedergabeschicht (3) eine Kompensationstemperatur T_rcomp von nicht weniger als 180°C aufweist.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei die Wiedergabeschicht (3) eine Kompensationstemperatur T_rcomp aufweist, die zumindest 30°C größer als eine Temperatur ist, bei welcher ein Übergang in der Wiedergabeschicht (3) von einer Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung auftritt.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, wobei die Wiedergabeschicht (3) ein Seltene-Erden-Metallteilgittermoment, das immer größer als ein Übergangs-Metallteilgittermoment ist, in einem Temperaturbereich von Raumtemperatur bis zur Curie-Temperatur T_rc der Wiedergabeschicht aufweist.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, weiter umfassend eine Aufzeichnungsunterstützungsschicht, die neben der Aufzeichnungsschicht (5) bereitgestellt ist, die eine Curie-Temperatur größer als jene der Aufzeichnungsschicht aufweist, wobei die Aufzeichnungsunterstützungsschicht und die Aufzeichnungsschicht eine Gesamtdicke von nicht weniger als 20 nm aufweisen.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 8, wobei die Aufzeichnungsunterstützungsschicht und die Aufzeichnungsschicht (5) eine Gesamtdicke von nicht mehr als 200 nm aufweisen.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 8, wobei die Aufzeichnungsunterstützungsschicht eine Kompensationstemperatur von nicht mehr als 50°C aufweist.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 8, wobei die Aufzeichnungsunterstützungsschicht eine Kompensa tionstemperatur aufweist, die zumindest 50°C kleiner als eine Temperatur ist, bei welcher ein Übergang in der Wiedergabeschicht (3) von einer Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung auftritt.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 8, wobei die Aufzeichnungsunterstützungsschicht ein Übergangs-Metallteilgittermoment, das immer größer als ein Seltene-Erden-Metallteilgittermoment ist, in einem Temperaturbereich von Raumtemperatur bis zur Curie-Temperatur der Aufzeichnungsunterstützungsschicht aufweist.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 8, wobei die Aufzeichnungsunterstützungsschicht zwischen der zweiten transparenten dielektrischen Schicht (4) und der Aufzeichnungsschicht (5) bereitgestellt ist.
Magnetooptisches Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 8, wobei die Aufzeichnungsunterstützungsschicht zwischen der Aufzeichnungsschicht (5) und der Schutzschicht (6) bereitgestellt ist.
Verfahren zum Wiedergeben von einem magnetooptischen Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 1, umfassend den Schritt eines Wiedergebens einer Information, die auf der Aufzeichnungsschicht (5) aufgezeichnet ist, während Laserlicht projiziert wird, das eine Intensität kleiner als jene aufweist, durch welche eine abrupte Änderung in einem Wiedergabesignal aufgrund eines Verschwindens magnetischer Domänen der Wiedergabeschicht (3) auftritt.
Verfahren nach Anspruch 15, wobei die Wiedergabe der Information ausgeführt wird durch: Erhöhen einer Temperatur der Wiedergabeschicht (3) in Reaktion auf eine Projektion des Laserlichts in einem Bereich von (1) einer Temperatur, bei welcher ein Übergang in der Wiedergabeschicht (3) von einer Magnetisierung in der Ebene zu einer senkrechten Magnetisierung auftritt, und (2) einer Kompensationstemperatur der Wiedergabeschicht, und Kopieren einer Magnetisierungsrichtung der Aufzeichnungsschicht (5) auf die Wiedergabeschicht (3) in Übereinstimmung mit einer statischen Magnetkopplung zwischen der Wiedergabeschicht und der Aufzeichnungsschicht (5).