DE69424613T2

DE69424613T2 - Aufzeichnungs- und Wiedergabevorrichtung für magnetooptisches Medium

Info

Publication number: DE69424613T2
Application number: DE69424613T
Authority: DE
Inventors: Takayuki Asahina; Nobuyuki Oka
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1993-09-29
Filing date: 1994-09-27
Publication date: 2001-01-25
Anticipated expiration: 2014-09-28
Also published as: US5495456A; KR100314107B1; KR950009581A; JP3567472B2; EP0645766B1; JPH0798895A; EP0645766A1; DE69424613D1

Description

1. Gebiet der Erfindung

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Aufzeichnungs- und Wiedergabegerät zum Aufzeichnen von gewünschten Informationssignalen auf einem magneto-optischen Aufzeichnungsträger, indem ein Magnetgeld angelegt und gleichzeitig ein Lichtstrahl auf den magneto-optischen Aufzeichnungsträger gestrahlt wird, wobei eine Halbleiter-Lasereinrichtung als Lichtquelle, die den Lichtstrahl abstrahlt, verwendet wird.

2. Beschreibung des Standes der Technik

Als Aufzeichnungsträger zum Aufzeichnen von Informationssignalen wird bis heute eine magneto-optische Platte verwendet, bei der die magneto-optischen Wirkungen zum Aufzeichnen der Informationssignale genutzt werden. Das Informationssignal-Aufzeichnungssystem, bei dem eine solche magneto-optische Platte als Aufzeichnungsträger verwendet wird, ist das Magnetfeld-Modulationssystem, bei dem die Richtung des Magnetfeldes, welches an die Platte angelegt wird, gemäß den Informationssignalen, die auf der Platte aufgezeichnet werden sollen, moduliert wird.
Bei dem Informationssignal-Aufzeichnungssystem, bei dem das Magnetfeld-Modulationssystem verwendet wird, wird ein Lichtstrahl, der von einem Halbleiterlaser abgestrahlt wird, fortlaufend auf die magneto-optische Platte gestrahlt, um einen Magnetfilmbereich der magneto-optischen Platte zu erwärmen, auf dem die Informationssignale aufgezeichnet werden sollen, um die Koerzitivkraft des Magnetfilmbereichs zu erhöhen, auf dem die Signale aufgezeichnet werden. Ein externes Magnetfeld, welches die Richtung des Magnetfelds hat, welches gemäß den aufzuzeichnenden Informationssignalen moduliert ist, wird an den Magnetfilmbereich der magneto-optischen Platte angelegt, dessen Koerzitivkraft mit Hilfe eines Elektromagneten angehoben ist. Die Richtung des Magnetfilms des magneto-optischen Plattenbereichs mit der erhöhten Koerzitivkraft wird geändert, um die gewünschten Informationssignale aufzuzeichnen.
Um die Informationssignale, die auf der magneto-optischen Platte als Änderungen in der Magnetisierungsrichtung aufgezeichnet sind, zu reproduzieren, wird der Kerr-Effekt oder der Faraday-Effekt in bezug auf die Wechselwirkung zwischen dem Licht und dem Ma gnetismus genutzt. Wenn ein Lichtstrahl auf ein magnetisiertes Teil in einer Richtung parallel zu seiner Magnetisierungsrichtung auftrifft, wird die Polarisationsebene des reflektierten Lichts und die des übertragenen Lichts um einen Drehwinkel verdreht, der der Kerr-Rotationswinkel und der Faraday-Drehwinkel ist. Wenn die Richtung der Magnet-Domänen in bezug auf die Lichteinfallsrichtung sich unterscheidet, wird die Differenz in der Drehrichtung erzeugt. Die Differenz in der Richtung des Kerr-Drehwinkels des reflektierten Lichts wird gelesen, um die Informationssignale zu reproduzieren.
Bei einer solchen Reproduktion gibt es ein Phänomen, bei dem der Halbleiterlaser einer Eigenschwingung unterliegt, so daß das ausgegebene Licht durch das reflektierte Licht von der Plattenfläche vergrößert wird, welches zum Halbleiter-Laser zurückgeführt wird. Eine optische Abtasteinrichtung dieser Art, bei dem dieses Phänomen wirksam genutzt wird, so daß Informationssignale auf der magneto-optischen Platte aus Änderungen in einem Ausgangslicht des Halbleiter-Lasers ermittelt werden, die durch das reflektierte Rückfihrlicht verursacht werden, wird als optische Eigenkopplungs-Abtasteinrichtung (SCOOP) bezeichnet.
Bei der SCOOP genügt eine kleinere Anzahl von Bauteilen, wobei die Einrichtung bezüglich der Baugröße, des Gewichts und der Herstellungskosten verkleinert bzw. verringert werden kann. Sie leidet jedoch an einem Rauschen, welches im Halbleiter-Laser durch das reflektierte Licht erzeugt wird, welches zum Halbleiter-Laser zurückgeführt wird, der die Lichtquelle ist. Dieses Rauschen wird anschließend als SCOOP-Rauschen bezeichnet. Natürlich wird dieses SCOOP-Rauschen in einer optischen Abtasteinrichtung erzeugt, die anders ist als die SCOOP, d. h., einer optischen Abtasteinrichtung, die nicht das Phänomen der Eigenschwingung der Halbleiter-Lasereinrichtung durch das reflektierte Licht verwendet.
Das SCOOP-Rauschen wird aufgrund der Tatsache erzeugt, daß der Halbleiter- Laser, der in einer einfachen longitudinalen Eigenschwingung durch die Gleichstrom-Ansteuerung schwingt, in einer mehrfach-longitudinalen Eigenschwingung schwingt, aufgrund des zurückgeführten reflektierten Lichts von der magneto-optischen Platte, die von einem sehr kleinen Versatz begleitet ist. Diese einfache longitudinale Eigenschwingung und die mehrfach-longitudinale Eigenschwingung werden abwechselnd in Abhängigkeit vom Status des Versatzes der magneto-optischen Platte eingebracht. Ein größeres Laserausgangslicht und ein kleineres Laserausgangslicht werden während der einfachen longitudinalen Eigenschwingung bzw. der mehrfach-longitudinalen Eigenschwingung erzeugt.
Das SCOOP-Rauschen wird durch den Halbleiter-Laser, der in einer einfachen longitudinalen Eigenschwingung oder in mehrfach-longitudinalen Eigenschwingung schwingt, durch die reflektierte Rückführung von der magneto-optischen Platte erzeugt, wodurch die Reproduktion der Informationssignale verschlechtert wird.
Folglich hat man in Betracht gezogen, den Hochfrequenz-Überlagerungsstrom, wie in Fig. 11 gezeigt ist, dem Ansteuerstrom für den Halbleiter-Laser während der Reproduktion zu überlagern (siehe beispielsweise DE-A 30 27 318, EP-A 0 120 389, JP-A 0 400 6635), wie in Fig. 11 gezeigt ist. Der Hochfrequenz-Überlagerungsstrom hat vollständige Einschaltzeiten und vollständige Ausschaltzeiten, wie in Fig. 13 gezeigt ist. Sollte somit dieser Hochfrequenz-Überlagerungsstrom, der dem Ansteuerstrom überlagert ist, zum Ansteuern des Halbleiter-Lasers verwendet werden, schwingt der Halbleiter-Laser in einer mehrfach-longitudinalen Eigenschwingung durch die Einschalt-/Ausschalt-Steuerung. Das Lichtausgangssignal des Halbleiter-Lasers, der in einer mehrfach-longitudinalen Eigenschwingung schwingt, wird allmählich gegenüber dem Versatz der magneto-optischen Platte geändert, um das SCOOP-Rauschen zu unterdrücken.
Dagegen wurde das SCOOP-Rauschen in Betracht gezogen, wenn Informationssignale durch die Magnetfeldmodulation (siehe JP-A 63 251 946), wie oben besprochen, aufgezeichnet werden. Da jedoch das Laserausgangslicht, welches während der Aufzeichnung auf die magneto-optische Platte vom Halbleiter-Laser abgestrahlt wird, eine hohe Leistung hat, dachte man nicht, daß es wesentlich durch das SCOOP-Rauschen beeinträchtigt wird. Das System zum Aufzeichnen von Informationssignalen, bei dem das Magnetfeld- Modulationssystem verwendet wird, wird mit Hilfe von Fig. 1 erklärt.
Gemäß dieser Figur wird das Laserlicht, welches durch eine Halbleiter-Lasereinrichtung 51 abgestrahlt wird, deren Schwingungsleistung, die durch eine Spannungsregelung (APC) durch eine Spannungsregelungsschaltung (APC) 52 geregelt wird, durch eine Fotodiode 54 ermittelt, die einen I-V-Umsetzer 53 zusammen mit einem Widerstand 55 bildet. Die Fotodiode 54 ist so angeordnet, daß sie der Vorderseite der Halbleiter-Lasereinrichtung 51 zugewandt ist, und sie ermittelt einen Teil des Laserlichtstrahls, der durch ein optisches System beispielsweise durch einen Strahlenteiler aufgespalten ist.
Wenn Informationssignale auf der magneto-optischen Platte durch die Magnetfeld-Modulation aufgezeichnet werden, ändert das SCOOP-Rauschen ein Lichtausgangssignal der Aufzeichnungs-Halbleiter-Lasereinrichtung etwas. Eine solche Änderung im Laserlichtausgangssignal wird Schwankungen bei den Positionen des modulierten senkrechten Magnetfeldes erzeugen. Diese schwankenden modulierten Magnetfeldpositionen bilden den optischen Jitter.
Die Erzeugung eines solchen Jitters wird mit Hilfe von Fig. 1 und 2 erklärt.
Es sei nun angenommen, daß die Halbleiter-Lasereinrichtung 51 durch die APC- Schaltung 52 angesteuert wird, und daß das Laserlicht, welches von der Halbleiter-Lasereinrichtung 51 ausgegeben wird, durch die Fotodiode 54 des I-V-Umsetzers 53 ermittelt wird, wie in Fig. 1 gezeigt ist. Wenn das SCOOP-Rauschen durch die Halbleiter-Lasereinrichtung 51 erzeugt wird, werden Zufallsspannungsschwankungen, d. h., Jitter, die 1 bis 10 us und gelegentlich 20 us lang anhalten, erzeugt, wie in Fig. 2 gezeigt ist.
Ein solcher Jitter während der Aufzeichnung führt zu einer Fehlerratenverschlechterung während der Wiedergabe, die aufzeichnungs-bezogenen Faktoren zuzuschreiben ist. Um digital-aufgezeichnete Informationssignale zu reproduzieren, ist es notwendig, PLL-Takte zu extrahieren. Wenn jedoch der Jitter erzeugt wird, neigen die PLL-Takte dazu, dem Jitter zu folgen, so daß Fehler auf der Zeitachse, d. h., Zeitablauffehler und daher PLL- Taktextraktionsfehler erzeugt werden.

Aufgabe und Übersicht über die Erfindung

Im Hinblick auf den oben beschriebenen Stand der Technik ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine magneto-optische Aufzeichnungs- und Wiedergabeeinrichtung bereitzustellen, bei der Ausgangssignalschwankungen im Aufzeichnungs-Laserlicht durch das SCOOP-Rauschen verteilt sein können und Schwankungen in den modulierten Positionen des Magnetfeldes während der Aufzeichnung unterdrückt werden können, um eine Verschlechterung der Fehlerrate, die den aufzeichnungs-bezogenen Faktoren zuzuschreiben ist, zu vermeiden, und bei der außerdem das SCOOP-Rauschen während der Wiedergabe unterdrückt wird.
Diese Aufgabe wird mittels eines Geräts gemäß den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Die abhängigen Patentansprüche entwickeln die Zentralidee der vorliegenden Erfindung weiter.
Die vorliegende Erfindung stellt ein Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabegerät für einen magneto-optischen Aufzeichnungsträger mit einer Halbleiter-Lasereinrichtung bereit, um einen Laserstrahl auf den magneto-optischen Aufzeichnungsträger zu strahlen, eine Ansteuerschaltung, um ein Ansteuersignal zur Halbleiter-Lasereinrichtung zu liefern, eine erste Oszillatorschaltung, um erste Hochfrequenzsignale zu erzeugen, die dem Ansteuersignal von der Ansteuerschaltung während der Aufzeichnung auf dem magneto-optischen Aufzeichnungsträger überlagert sind, und eine zweite Oszillatorschaltung, um zweite Hochfrequenzsignale zu erzeugen, die dem Ansteuersignal von der Ansteuerschaltung während der Wiedergabe vom magneto-optischen Aufzeichnungsträger überlagert sind. Die ersten Hochfrequenz signale haben eine Frequenz, die zweimal höher ist als die maximale Aufzeichnungsfrequenz oder höher ist, und die zweiten Hochfrequenzsignale haben eine Frequenz, die von der der ersten Hochfrequenzsignale verschieden ist. Die Halbleiter-Lasereinrichtung wird während der Aufzeichnung und während der Wiedergabe mit Signalen beliefert, die die Ansteuersignale von der Ansteuerschaltung sind, die von den ersten Hochfrequenzsignalen von der ersten Oszillatorschaltung überlagert sind, bzw. mit Signalen, die die Ansteuersignale von der Ansteuerschaltung sind, die von den zweiten Hochfrequenzsignalen von der zweiten Oszillatorschaltung überlagert sind. Während der Aufzeichnung wird ein senkrechtes Magnetfeld, welches gemäß den Aufzeichnungsdaten moduliert ist, an den magneto-optischen Aufzeichnungsträger angelegt, und gleichzeitig wird ein Lichtstrahl auf den Aufzeichnungsträger gestrahlt, um Daten darauf aufzuzeichnen. Während der Wiedergabe, wenn ein Lichtstrahl auf den magneto-optischen Aufzeichnungsträger gestrahlt wird, werden Daten, die auf dem magneto-optischen Aufzeichnungsträger aufgezeichnet sind, auf der Basis des Rückkehrlichts vom Aufzeichnungsträger gelesen.

Kurzbeschreibung der Zeichnungen

Fig. 1 ist eine schematische Ansicht, die eine Anordnung einer herkömmlichen magneto-optischen Aufzeichnungseinrichtung zeigt;
Fig. 2 zeigt die Jitter-Erzeugung bei dem Vorhandensein des SCOOP-Rauschens;
Fig. 3 ist eine schematische Ansicht, die eine magneto-optische Aufzeichnungseinrichtung zeigt;
Fig. 4 zeigt ein Überlagerungssignal, welches bei der in Fig. 3 gezeigten Aufzeichnungseinrichtung verwendet wird;
Fig. 5 ist eine graphische Darstellung, die die Beziehung zwischen der Überlagerungsfrequenz der Überlagerungssignale und der Blockfehlerrate (BLER) für verschiedene Werte des Überlagerungsverhältnisses zeigt;
Fig. 6A und 6B sind graphische Darstellungen, um die Wirkungsweise der magneto-optischen Aufzeichnungseinrichtung zu zeigen;
Fig. 7 ist eine graphische Darstellung, die die Beziehung zwischen dem Laserlichtausgangssignal und dem Rauschverhältnis zeigt;
Fig. 8 ist eine schematische Ansicht, die eine Ausführungsform der magneto-optischen Aufzeichnungs- und Wiedergabeeinrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 9 ist eine Schaltungsanordnung, die ein konkretes Beispiel einer Überlagerungsschaltung zeigt, welche bei der magneto-optischen Aufzeichnungs- und Wiedergabeeinrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet wird;
Fig. 10 ist eine Schaltungsanordnung, die ein anderes konkretes Beispiel einer Überlagerungsschaltung zeigt;
Fig. 11 ist eine Schaltungsanordnung, die ein weiteres konkretes Beispiel einer Überlagerungsschaltung zeigt;
Fig. 12 ist eine Schaltungsanordnung, die ein noch weiteres konkretes Beispiel einer Überlagerungsschaltung zeigt;
Fig. 13 zeigt einen Hochfrequenz-Überlagerungsstrom während der Wiedergabe.

Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen

Mit Hilfe der Zeichnungen wird eine Ausführungsform einer magneto-optischen Aufzeichnungseinrichtung ausführlich erklärt.
Die Ausführungsform richtet sich auf eine magneto-optische Aufzeichnungseinrichtung zum Aufzeichnen von Informationssignalen auf einer magneto-optischen Aufzeichnungseinrichtung durch Magnetfeldmodulation. Für die Magnetfeldmodulation wird ein Laserstrahl laufend auf eine magneto-optische Platte von einer Halbleiter-Lasereinrichtung als Lichtquelle abgestrahlt. Das heißt, bei der Aufzeichnung der Informationssignale bei der vorliegenden ersten Ausführungsform wird ein Laserstrahl fortlaufend von der Halbleiter-Lasereinrichtung auf die magneto-optische Platte gestrahlt, um die Koerzitivkrafi durch die Wärme, die durch den Laserstrahl erzeugt wird, zu vermindern, und die Magnetisierungsrichtung wird durch einen Elektromagneten als ein externes Magnetfeld geändert.
Die Ausführungsform besitzt eine Halbleiter-Lasereinrichtung 11 als Lichtquelle, um einen Aufzeichnungslaserstrahl auf die magneto-optische Platte zu strahlen, wie in Fig. 3 gezeigt ist. Die Halbleiter-Lasereinrichtung 11 wird durch eine Spannungsregelschaltung (APC-Schaltung) 12 gesteuert, so daß ihre Ausgangslaser-Lichtleitstung konstant sein wird. Mit der Halbleiter-Lasereinrichtung 11 ist eine Oszillatorschaltung 13 verbunden, um ein Überlagerungssignal über einen Koppelkondensator 14 in Schwingung zu versetzen.
Die Oszillatorschaltung 13 erzeugt das Überlagerungssignal, welches einem Gleichstrom-Ansteuersignal überlagert wird, welches von der APC-Schaltung 12 zur Halbleiter-Lasereinrichtung 11 geliefert wird. Das Überlagerungssignal hat eine Frequenz, die gleich oder das Zweifache der maximalen Aufzeichnungsfrequenz oder höher oder vorzugsweise gleich 5 MHz oder höher ist.
Damit wird zum Abstrahlen eines Laserstrahls die Halbleiter-Lasereinrichtung 11 durch das Ansteuersignal angesteuert, dem das Überlagerungssignal überlagert ist, welches die Frequenz hat, die gleich oder das Zweifache der maximalen Aufzeichnungsfrequenz oder höher und vorzugsweise 5 MHz oder höher ist, wobei dieses anschließend als Überlagerungsansteuersignal bezeichnet wird.
Das von einer magneto-optischen Platte, die nicht gezeigt ist, reflektierte Licht wird zur Halbleiter-Lasereinrichtung 11 zurückgeführt. Der Laserstrahl, der auf die magnetooptische Platte abgestrahlt wird, wird dazu verwendet, um die Plattenstelle, an der das Magnetfeld angelegt wird, zu erwärmen.
Der Teil des Lichtstrahls, der auf die magneto-optische Platte abgestrahlt wird und von der Plattenfläche und der Aufzeichnungsschicht reflektiert wird, wird über das optische System der optischen Abtasteinrichtung zur Halbleiter-Lasereinrichtung 11 zurückgeführt. Das reflektierte Licht, welches zur Halbleiter-Lasereinrichtung 11 zurückgeführt wird, verursacht selbst eine Eigenschwingung der Halbleiter-Lasereinrichtung 11. Eine solche Eigenschwingung der Halbleiter-Lasereinrichtung 11 führt zur Erzeugung des SCOOP-Rauschens. Da das Überlagerungsansteuersignal, dem das Überlagerungssignal überlagert ist, welches die Frequenz von 5 MHz oder höher hat, zur Halbleiter-Lasereinrichtung 11 wie oben beschrieben geliefert wird, kann die Halbleiter-Lasereinrichtung 11 in Schwingungen nur in der mehrfach-longitudinalen Eigenschwingung versetzt werden, wodurch es möglich wird, die Erzeugung des SCOOP-Rauschens zu unterdrücken.
Die Halbleiter-Lasereinrichtung 11, die durch das Überlagerungsansteuersignal angesteuert wird, strahlt das Aufzeichnungs-Laserlicht auf die magneto-optische Platte. Ein Teil des abgestrahlten Laserlichts wird zur Fotodiode 16 geführt, die einen I/V-Umsetzer 15 gemeinsam mit dem Widerstand 17 bildet, um das Lichtvolumen zu ermitteln.
Die Spannungssteuerung durch die APC-Schaltung 12 wird durch den Lichtstärkewert, der durch die Fotodiode 16 ermittelt wird, eingestellt.
Mit Hilfe von Fig. 4 und 5 wird das Überlagerungssignal, welches durch die Oszillatorschaltung 13 erzeugt wird, erklärt.
Das Überlagerungssignal hat die in Fig. 4 gezeigte Schwingungsform.
Das heißt, daß das Überlagerungssignal, welches durch die Oszillatorschaltung 13 erzeugt wird, ein fortlaufendes Signal ohne Abgrenzung zwischen dem Einschalt-Bereich und dem Ausschalt-Bereich ist, wie in Fig. 4 gezeigt ist.
Damit ist das Überlagerungsansteuersignal ein Signal, welches mit einer flachen Modulation moduliert ist, d. h., ein Signal, dessen Gleichstromspitzenwert in der Weise eines Wechselstroms durch das Überlagerungssignal schwankt, wie in Fig. 4 gezeigt ist.
Insbesondere kann das Überlagerungssignal eine Überlagerungsfrequenz und einen Überlagerungswert haben, der durch die in Fig. 5 gezeigte Kennlinie festgelegt ist. Die in Fig. 5 gezeigten Kurven zeigen Änderungen der Blockfehlerrate (BLER) in Abhängigkeit von der Überlagerungsfrequenz und des Überlagerungsverhältnisses auf der Basis des Überlagerungswerts als Parameter bei Verwendung einer optischen Abtasteinrichtung, die in der Lage ist, Daten von 450 Blöcken pro Sekunde während der üblichen Aufzeichnung und Reproduktion zu korrigieren. In Fig. 5 ist die Überlagerungsfrequenz und die BLER auf der Abszisse bzw. auf der Ordinate dargestellt.
Zunächst wird die BLER, die auf der Ordinate dargestellt ist, erklärt.
Wenn Daten auf einer optischen Platte aufgezeichnet oder davon reproduziert werden, kann es vorkommen, daß nicht korrekte Daten unter Fremdeinwirkung aufgezeichnet oder reproduziert werden. Diese nicht-korrekten Daten können bis zu einem begrenzten Ausmaß durch einen Fehlerkorrekturcode während der Reproduktion korrigiert werden. Die Minimaleinheit der Digitaldaten zur Korrektur der nicht-korrekten Daten wird als Block bezeichnet. Das Datenvolumen, welches durch die optische Abtasteinrichtung pro Sekunde gelesen werden kann, beträgt 7350 Blöcke. Fehlerhaft-gelesene Blöcke werden korrigiert. Die Blockfehlerrate (BLER), d. h., das Blockfehler-Korrekturverhältnis wird durch die Anzahl von korrigierten Blöcken unter den 7350 Blöcken, die pro Sekunde gelesen werden, angegeben:
Somit wird, wenn die Anzahl der korrigierten Blöcke gleich CI ist, die BLER angegeben durch
BLER = CI/7350
Das Überlagerungsverhältnis, welches als Parameter zusammen mit der Überlagerungsfrequenz verwendet wird, zeigt das Verhältnis des Überlagerungslichtvolumens in bezug auf das Lichtvolumen D der Gleichkomponente während der Aufzeichnung an. Das Überlagerungsverhältnis ist ein Wert B (Null-Spitzenwert oder 0-P, welches anschließend als Überlagerung 0-P bezeichnet wird) des Überlagerungssignals 5, wie in Fig. 4 gezeigt ist, multipliziert mit dem Lichtvolumen D der Gleichkomponente, geteilt durch 100. Es sei darauf hingewiesen, daß der Wert B die Hälfte eines Werts A (Spitzen-Spitze oder P-P, anschließend als Überlagerung P-P bezeichnet) des Überlagerungssignals, welches in Fig. 4 gezeigt ist, ist, und daß das Lichtvolumen D der Gleichkomponente durch die Fotodiode 16 ermittelt wird, wenn die Halbleiter-Lasereinrichtung 11 das Laserlicht ausgibt.
Damit wird das Überlagerungsverhältnis R angegeben durch:
R = B/D · 100 (%)
- (Überlagerung P - P)/2D · 100 (%)
- (Überlagerung 0 - P)/D · 100 (%)
Fig. 5 zeigt die Meßergebnisse der BLER, wenn die Überlagerungsfrequenz geändert wird, wobei das Überlagerungsverhältnis R auf 2,5, 5, 10 und 20% geändert wird. Aus den obigen Ergebnissen sieht man, daß gewünschte BLER-Werte für die Überlagerungsfrequenz von 5 MHz oder höher und das Überlagerungsverhältnis von 10% bis 20% erhalten werden können. Die Überlagerungsfrequenz von S MHz oder höher entspricht einer Frequenz gleich oder dem Zweifachen oder mehr der maximalen Aufzeichnungsfrequenz.
Als Schreibinformation während des Schreibens werden EFM-Signale mit der Datenbitrate von ungefähr 2,03 Mbit/s zum Messen der BLER verwendet. Um diese Bedingungen in die Form einer Gleichung zu bringen, wird BLER = 6,1 · 10&supmin;² während der üblichen Aufzeichnung für die die Niederfrequenzüberlagerung nicht angewandt. Dagegen ist die praktische Grenze der BLER durch BLER = 3 · 10&supmin;² gegeben. Wenn man annimmt, daß dies ein Zufallsfehler ist, da jeder Block mit EFM aus 32 Symbolen besteht und jedes Symbol aus 8 Bits besteht, ist der Symbolfehler = 9,4 · 10&supmin;&sup4; und der Bitfehler = 1,2 · 10&supmin;&sup4; Das SCOOP-Rauschen wird in einer offensichtlich anderen Weise in Abhängigkeit davon erzeugt, ob die Halbleiter-Lasereinrichtung mit der Überlagerungsfrequenz und dem Überlagerungswert (Überlagerungsverhältnis R) angesteuert wird, die aus den Meßergebnissen von Fig. 5 erhalten werden, oder mit der Überlagerung in einem Aus-Zustand.
Fig. 6A und 6B zeigen Änderungen bezüglich der Kennlinien zwischen dem einzigen Träger und dem Rauschen. In Fig. 6A und 6B ist die Trägeroszillatorfrequenz und Amplitude auf der Abszisse bzw. auf der Ordinate dargestellt.
Fig. 6A und 6B zeigen den Signalpegel (Amplitude), wenn die Überlagerung im Aus-Zustand bzw. im Ein-Zustand ist. Es wird eine ersichtliche Rauschpegeldifferenz zwischen dem Zustand, der in Fig. 6B gezeigt ist, und dem, der in Fig. 6A gezeigt ist, erzeugt.
Fig. 7 zeigt charakteristische Rauschverhältnisänderungen, die bei verschiedenen Laserlicht-Ausgangsleistungswerten und Umgebungstemperaturen des Halbleiterlasers verursacht werden.
In Fig. 7 ist die Laserlicht-Ausgangsleistung und das Rauschverhältnis auf der Abszisse bzw. auf der Ordinate dargestellt. Man sieht, daß das Rauschverhältnis mit dem Anstieg der Laserlicht-Ausgangsleistung vermindert wird, und daß das Rauschverhältnis durch die Umgebungstemperatur des Halbleiterlasers beeinträchtigt wird. Somit sieht man bei dem Beispiel von Fig. 7, daß zum Unterdrücken der Erzeugung des SCOOP-Rauschens es notwendig ist, daß die Laserlicht-Ausgangsleistung in der Größenordnung von 4,5 mW ist, wobei es ebenfalls notwendig ist, daß die Betriebsumgebungstemperatur nicht eine übermäßige hohe Temperatur ist.
Damit wird es bei der vorliegenden ersten Ausführungsform, bei der der Ansteuerstrom für die Halbleiter-Lasereinrichtung 11 der Überlagerungsansteuerstrom ist, der aus der Gleichkomponente besteht, der der Überlagerungsstrom mit dem Überlagerungsverhältnis von 10 bis 20% mit der Überlagerungsfrequenz von 5 MHz oder höher überlagert ist, möglich, Ausgangsleistungsschwankungen des Aufzeichnungslaserlichts durch das SCOOP-Rauschen zu verteilen und Schwankungen an den Modulationspositionen des Magnetfeldes während der Aufzeichnung zu unterdrücken, um die Verschlechterung der Fehlerrate zu reduzieren, die Faktoren, die während der Aufzeichnung vorkommen, zuzuschreiben ist.
Das Aufzeichnungs- und Wiedergabegerät gemäß einer Ausführungsform der Erfindung wird nun erklärt.
Die Ausführungsform richtet sich auf ein Gerät, mit dem es nicht nur möglich ist, Informationssignale durch Magentfeldmodulation auf der magneto-optischen Platte durch Magnetfeldmodulation aufzuzeichnen, sondern bei dem es auch möglich ist, die aufgezeichneten Informationssignale von der Platte zu reproduzieren.
Die Ausführungsform wird nun mit Hilfe von Fig. 8 erklärt, bei welcher Teile oder Komponenten, die ähnlich denjenigen sind, die in Fig. 3 gezeigt sind, entsprechend numeriert sind und aus Einfachheitsgründen nicht besonders beschrieben werden.
Bei der vorliegenden Ausführungsform wird eine Halbleiter-Lasereinrichtung 11 zum Abstrahlen eines Aufzeichnungslaserlichts auf die magneto-optische Platte als Informationsaufzeichnungsträger als Lichtquelle verwendet.
Mit der Halbleiter-Lasereinrichtung 11 ist eine APC-Schaltung 12, eine Oszillatorschaltung 13 über einen Koppelkondensator 14 wie bei der vorhergehenden Ausführungsform verbunden. Die vorliegende Ausführungsform unterscheidet sich von der vorhergehenden ersten Ausführungsform dahingehend, daß eine Hochfrequenzüberlagerungsschaltung 18 mit der Halbleiter-Lasereinrichtung 11 über einen Koppelkondensator 19 verbunden ist.
Bei der vorliegenden Ausführungsform wird die Hochfrequenzüberlagerungsschaltung 18 dazu verwendet, die magneto-optische Platte zu reproduzieren. Während der Wiedergabe wird das Überlagerungssignal, welches die Frequenz von hunderten von MHz hat, durch die Hochfrequenz-Überlagerungsschaltung 18 dem Gleichansteuerstrom von der APC-Schaltung 12 überlagert, wie in Fig. 13 gezeigt ist, unter der Steuerung durch eine Umschalteeinheit, die nicht gezeigt ist. Natürlich hat das Überlagerungssignal Ein-Bereiche und Aus-Bereiche. Während der Aufzeichnung werden die Überlagerungssignale mit einer Größe von 10 bis 20% des Wertes von der Oszillatorschaltung 13 dem Gleichansteuerstrom der APC-Schaltung 12 überlagert, unter der Steuerung durch die Umschalteeinheit, die nicht gezeigt ist, wie bei der oben beschriebenen ersten Ausführungsform.
Somit ist bei der vorliegenden Ausführungsform möglich, das SCOOP-Rauschen sowohl während der Aufzeichnung als auch während der Wiedergabe zu unterdrücken. Das heißt, daß es bei dieser Ausführungsform möglich ist, den Jitter während der Aufzeichnung wie bei der ersten Ausführungsform zu unterdrücken und Schwankungen in den Magnetfeld-Modulationspositionen währen der Aufzeichnung zu vermindern, wobei es möglich ist, das SCOOP-Rauschen während der Reproduktion zu unterdrücken.
Fig. 9 zeigt ein konkretes Beispiel einer Oszillatorschaltung 13, die bei der ersten und zweiten Ausführungsform verwendet wird. Die Oszillatorschaltung 13 besitzt einen Transistor Tr, dessen Basis mit einem Widerstand R&sub2; verbunden ist und dessen Emitter und Basis mit einem Widerstand R&sub3; überbrückt ist, und eine Schaltung, die mit dem Kollektor des Transistors Tr verbunden ist, d. h., eine Schaltung, die aus Widerständen R&sub4;, R&sub5; und R&sub6; besteht, einem Inverter IN, einer Spule L&sub1; und Kondensatoren C&sub1;, C&sub2;, C&sub3;, C&sub4; und C&sub5;. Der Widerstand R&sub2; ist mit einem Anschluß eines Widerstands R&sub1;, dessen anderer Anschluß geerdet ist, verbunden.
Ein Kollektorausgangssignal des Transistors Tr wird zu einem Verbindungspunkt zwischen den Widerständen R&sub4; und R&sub5; geliefert. Die Schaltung, die mit dem Kollektor des Transistors Tr verbunden ist, besteht aus einer Reihenschaltung, die aus dem Inverter IN und dem Widerstand R&sub6; besteht, und einer LC-Schaltung aus der Spule L&sub1; und dem Kondensator C&sub2;, die in Reihe miteinander geschaltet sind und die parallel zu der Reihenschaltung des Inverters IN und des Widerstands R&sub6; angeordnet sind. Die Parallelschaltung ist mit den Anschlüssen der Widerstände R&sub4; und R&sub5; verbunden, deren zweite Anschlüsse mit dem Verbindungspunkt verbunden sind. Der eine Anschluß der Parallelschaltung ist über den Kondensator C&sub1; geerdet, und der andere Anschluß ist über eine Reihenschaltung der Kondensatoren C&sub3; und C&sub4; geerdet, deren Verbindungspunkt mit dem Kondensator C&sub5; verbunden ist.
Wenn bei der Oszillatorschaltung 13 das logische Signal von einem Eingangsanschluß 41 hoch (H) ist, wird der Transistor Tr ausgeschaltet, um ein Aufzeichnungsüberlagerungssignal an einer Anschlußstelle ILCC über den Kondensator C&sub5; zu erzeugen. Wenn dagegen das logische Signal am Eingangsanschluß niedrig (L) ist, wird der Transistor Tr eingeschaltet, um die Erzeugung des Aufzeichnungsüberlagerungssignals zu stoppen.
Fig. 10 bis 12 zeigen Modifikationen der Oszillatorschaltung 13. Bei der in Fig. 10 gezeigten Modifikation ist ein Widerstand R&sub1;&sub1;, ein Keramik- oder Quarz-Oszillator X&sub1;&sub1; und ein Inverter IN&sub1;&sub1; parallel geschaltet, und die resultierende Parallelschaltung ist über die Kondensatoren C&sub1;&sub1; und C&sub1;&sub2; geerdet. Der Keramik- oder Quarz-Oszillator hat die Aufgabe, das Überlagerungssignal durch Schwingung zu erzeugen.
Bei der in Fig. 11 gezeigten Modifikation ist eine LC-Schaltung, die aus einem Kondensator C&sub2;&sub1; und einer Induktivität L&sub2;&sub1; besteht, parallel mit einem Inverter IN21 geschaltet, und die resultierende Parallelschaltung ist über zwei Kondensatoren C&sub3;&sub2; und C&sub3;&sub3; geerdet. Die LC-Schaltung hat die Aufgabe, das Überlagerungssignal zu erzeugen.
Bei der in Fig. 12 gezeigten Modifikation ist eine LC-Schaltung, die aus einem Kondensator C&sub3;&sub1; und einer Induktivität L&sub3;&sub1; besteht, und eine Reihenschaltung von Kondensatoren C&sub3;&sub2; und C&sub3;&sub3; parallel miteinander verbunden und an eine Basis-Emitter-Strecke eines Transistors Tr&sub3;&sub1; über einen Widerstand R&sub3;&sub1; angeschaltet. Der Transistor Tr&sub3;&sub1; hat die Aufgabe, das Überlagerungssignal durch Schwingung zu erzeugen.
Damit wird bei der Überlagerungsschaltung, die in Fig. 8 gezeigt ist, das Überlagerungssignal durch Schwingung erzeugt, wobei der Keramik- oder Quarz-Oszillator verwendet wird. Dagegen wird bei den Überlagerungsschaltungen, die in Fig. 9 und 10 gezeigt sind, das Überlagerungssignal durch die LC-Schaltung bzw. den Transistor erzeugt.

Claims

1. Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabegerät für einen magneto-optischen Aufzeichnungsträger, mit:

einer Halbleiter-Lasereinrichtung (11) zum Abstrahlen eines Laserstrahls auf den magneto-optischen Aufzeichnungsträger,

einer Ansteuerschaltung (12) zum Liefern eines Ansteuersignals zur Halbleiter- Lasereinrichtung,

einer ersten Oszillatorschaltung (13) zum Erzeugen von ersten Hochfrequenzsignalen, die dem Ansteuersignal von der Ansteuerschaltung während des Aufzeichnens auf dem magneto-optischen Aufzeichnungsträger überlagert werden, wobei die Hochfrequenzsignale eine Frequenz haben, die das Zweifache der maximalen Aufzeichnungsfrequenz oder höher ist, und

einer zweiten Oszillatorschaltung (18) zum Erzeugen von zweiten Hochfrequenzsignalen, die dem Ansteuersignal von der Ansteuerschaltung während der Wiedergabe vom magneto-optischen Aufzeichnungsträger überlagert werden, wobei die Hochfrequenzsignale eine Frequenz haben, die von der der ersten Hochfrequenzsignale verschieden ist, wobei die Halbleiter-Lasereinrichtung während des Aufzeichnens und während der Wiedergabe mit Signalen beliefert wird, die die Ansteuersignale von der Ansteuerschaltung sind, die von den ersten Hochfrequenzsignalen von der ersten Oszillatorschaltung überlagert sind,

und mit Signalen, die die Ansteuersignale von der Ansteuerschaltung sind, die von den zweiten Hochfrequenzsignalen von der zweiten Oszillatorschaltung überlagert sind, wobei während der Aufzeichnung ein senkrechtes Magnetfeld, welches gemäß den Aufzeichnungsdaten moduliert ist, an den magneto-optischen Aufzeichnungsträger angelegt wird und gleichzeitig ein Lichtstrahl auf den Aufzeichnungsträger zum Aufzeichnen von Daten darauf abgestrahlt wird, und wobei

während der Wiedergabe, wenn ein Lichtstrahl auf den magneto-optischen Aufzeichnungsträger gestrahlt wird, Daten, die auf dem magneto-optischen Aufzeichnungsträger aufgezeichnet sind, auf der Basis des Rückkehrlichts vom Aufzeichnungsträger gelesen werden.

2. Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabegerät nach Anspruch 1, wobei die ersten Hochfrequenzsignale Signale sind, die eine Frequenz von nicht niedriger als mehrere MHz oder höher haben, und wobei die zweiten Hochfrequenzsignale Signale sind, die eine Frequenz von mehreren hundert MHz haben.

3. Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabegerät nach Anspruch 1, wobei die ersten Hochfrequenzsignale Signale sind, die eine Frequenz von mehreren MHz haben und die bei einem Verhältnis von 10 bis 20% den Ansteuersignalen von der Ansteuerschaltung (12) überlagert sind, und wobei die zweiten Hochfrequenzsignale Signale sind, die eine Frequenz von mehreren hundert MHz haben.

4. Aufzeichnungs- und/oder Wiedergabegerät nach Anspruch 1, wobei die erste und die zweite Oszillatorschaltung (13, 18) mit der Halbleiter-Lasereinrichtung (11) über entsprechende Koppelkondensatoren (14, 19) verbunden sind.