DE69219535T2 - Behälter für Halbleiter-Wafer - Google Patents

Behälter für Halbleiter-Wafer

Info

Publication number
DE69219535T2
DE69219535T2 DE69219535T DE69219535T DE69219535T2 DE 69219535 T2 DE69219535 T2 DE 69219535T2 DE 69219535 T DE69219535 T DE 69219535T DE 69219535 T DE69219535 T DE 69219535T DE 69219535 T2 DE69219535 T2 DE 69219535T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
wafer
strips
pressing
region
guide ramps
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE69219535T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69219535D1 (de
Inventor
Nobuyoshi Ogino
Toshitsugu Yajima
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Shin Etsu Handotai Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Shin Etsu Handotai Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP24525391A external-priority patent/JPH0563065A/ja
Priority claimed from JP24525291A external-priority patent/JPH0563064A/ja
Application filed by Shin Etsu Chemical Co Ltd, Shin Etsu Handotai Co Ltd filed Critical Shin Etsu Chemical Co Ltd
Application granted granted Critical
Publication of DE69219535D1 publication Critical patent/DE69219535D1/de
Publication of DE69219535T2 publication Critical patent/DE69219535T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735Closed carriers
    • H01L21/67369Closed carriers characterised by shock absorbing elements, e.g. retainers or cushions

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

    Hintergrund der Erfindung (Bereich der Erfindung)
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Halbleiterwaferkorb zum Beinhalten von Wafers, der mit einer abnehmbaren Waferpreßeinrichtung unter dem oberen Deckel des Waferkorbs versehen ist.
  • (Beschreibung des bekannten Stands der Technik)
  • Man erhält Halbleiterwafers zur Bildung von Substraten 13 für elektronische Haibleiterbauelemente, indem ein 14 Einkristallblock eines Haibleitermatenais wie Silizium im wesentlichen in senkrechter Richtung zu der Achse des Blocks in dünne Scheiben geschnitten wird. Somit ist also ein Halbleiterwafer dünn und zerbrechlich; außerdem muß er von jeglicher Verunreinigung saubergehalten werden. Somit erfordert der Transport von Wafers große Sorgfalt und Vorsicht.
  • Aus diesem Grunde wurde herkömmlicherweise die Praxis angenommen, Wafers in einer Reihe in regelmäßigen Abständen in einen Waferkorb zu legen und die Wafers in dem Korb zu transportieren. Ein Waferkorb ist ein kastenähnliches Gestell zum Beinhalten von Halbleiterwafers und wird üblicherweise komplett aus einem Kunstharz geformt. Bei der Herstellung besteht der Waferkorb aus vielen Fächern zum Aufnehmen von Wafers in einer Reihe, wobei jedes Fach eine durch ein Paar benachbarter Teilungsrippen bestimmte Nut aufweist, wobei die Rippen in regelmäßigen Abständen gebildet werden. Der Waferkorb ist ebenfalls ein Beförderungsmittel für den Transport der Wafers, die er beinhaltet. Fig. 19 zeigt eine, zur besseren Ansicht der Innenseite, zum Teil aufgebrochene Vorderansicht eines Beispiels solch eines herkömmlichen Waferkorbs. Dieser Waferkorb besteht aus einem äußeren Kasten 101 und einem inneren Kasten 102, und eine Vielzahl von Wafers W werden jeweils in den durch die und zwischen den Teilungsrippen, die die gefalteten sich einander gegenüberliegenden Seitenwände 102a, 102a des inneren Kastens 102 bilden, bestimmten Nuten aufgenommen; deshalb werden die Wafers in einer Reihe senkrecht zu dem Blatt von Fig. 19 in regelmäßigen Abständen in den inneren Kasten 102 gelegt. Außerdem ist eine Waferpreßeinrichtung 103, die aus einer Vielzahl von elastisch-nachgiebigen Preßstreifen mit jeweils einer Eingreifnut besteht, abnehmbar an der Innenseite des oberen Deckels bib des äußeren Kastens 101 angebracht, und wenn der Deckel zum Schließen des Waferbehälters, wie in Fig. 19 dargestellt, in Stellung gebracht wird, sind die oberen Kanten der Wafers W, die in dem inneren Kasten 102 gelagert sind, mit den Eingriffsnuten im Eingriff und pressen jeweils die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen der Waferpreßeinrichtung 103, die wiederum elastisch-nachgiebig die Wafers nach unten lenkt, zusammen, so daß, wenn der Waferbehälter während des Transports einen Stoß erhält, die Waferpreßeinrichtung 103 den Stoß absorbiert und verhindert, daß die Wafers vibrieren und somit einen Schaden davontragen.
  • Eine solche in Fig. 19 dargestellte Waferpreßeinrichtung neigt jedoch dazu, an den Waferkanten zu reiben, wenn der Waferbehälter einen Stoß erhält, und somit reibt sich die Waferpreßeinrichtung ab und erzeugt Partikel, die die Wafers W verunreinigen.
  • Auch der Wafer W selbst trägt einen Schaden davon, wenn er wiederholt gegen die Waferpreßeinrichtung 103 gerieben wird.
  • Außerdem gibt es ein Problem mit den herkömmlichen Waferkörben, und zwar wenn die Wafers W in dem Waferkorb gelagert werden und der obere Deckel 101B an dem äußeren Kasten 101 angebracht wird, kann es passieren, daß einige Wafers W nicht in die Eingriffsnuten der jeweiligen elastisch-nachgiebigen Preßstreifen der Waferpreßeinrichtung 103 eingreifen, sondern in Spalten zwischen den Preßstreifen hineinrutschen; solche fehlplazierten Wafers sitzen lose in dem Korb und neigen dazu, sich selbst Schaden zuzufügen aufgrund der Transportstöße, und sie reiben gegen die Preßstreifen und erzeugen somit Verunreinigungspartikel. EP-A-0194481 offenbart einen Waferkorb mit elastisch-nachgiebigen Streifen, die auf die Wafers pressen.
  • Die vorliegende Erfindung wurde hinsichtlich der oben genannten Probleme gemacht, und es ist deshalb ein Ziel der Erfindung, einen Waferkorb bereitzustellen, worin die Waferpreßeinrichtung so gebaut ist, daß es kaum zum Reiben zwischen dem Wafer und der Preßeinrichtung, was zur Bildung von Partikeln führen kann, kommt und daß die Wafers in dem Waferkorb nicht die Nuten der entsprechenden Preßstreifen der Waferpreßeinrichtung verpassen, wenn der obere Deckel an dem äußeren Kasten angebracht wird, so daß die Wafers elastisch-nachgiebig durch die stoßabsorbierende Preßeinrichtung angepreßt werden.
  • (Mittel zur Lösung der Prohleme)
  • Dieziele der vorliegenden Erfindung werden durch die Bereitstellung eines Waferkorbs, wie er in Anspruch 1 beschrieben ist, erreicht.
  • In einer bevorzugten Ausführungsform sind die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen aus einem Polyesterharz hergestellt.
  • In einer noch bevorzugteren Ausführungsform weisen die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen jeweils Führungsrampen auf beiden Seiten des freien Endbereichs in einer solchen Art und Weise auf, daß die Führungsrampen der gleichen Preßstreifen Nuten ausbilden, in welche hinein die Waferkanten durch die Führungsrampen geführt werden, und daß bei Betrachtung in Längsrichtung des freien Endbereichs der Preßstreifen die Führungsrampen die Führungsrampen der benachbarten Preßstreifen überlappen ohne die Führungsrampen der benachbarten Preßstreifen zu berühren, so daß die Führungsrampen einen Eintritt der Waferkanten in die Spalten zwischen den Preßstreifen verhindern.
  • In einer weiteren Ausführungsform werden die Führungsrampen wie Sägezähne oder Kammzähne angesehen, die eng beieinander liegen und bei einer Ansicht von unten in benachbarte Zähne eingreifen.
  • In noch einer weiteren Ausführungsform umfaßt die Waferpreßeinrichtung weiterhin eine flache Orientierungspreßeinrichtung, die in der Richtung langgestreckt ist, in welcher die Wafers W angeordnet sind, und die für ein Zusammenwirken mit der Orientierungsabflachung jedes Wafers angepaßt ist.
  • (Wirkungen der Erfindung)
  • Selbst wenn in einem Waferkorb gelagert Wafers erfindungsgemäß während des Transports zum Vibrieren gebracht werden, pressen die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen weiterhin die Wafers an, wobei sie kaum an den Preßenden vibrieren, und bewegen sich nicht im Verhältnis zu den Waferkanten, aufgrund der elastischen Nachgiebigkeit der Preßstreifen, was durch die Krümmungen der Preßstreifen vereinfacht wird, so daß die Preßstreifen nicht an den Waferkanten reiben und somit Partikel erzeugen, die die Wafers verunreinigen würden. Die Waferpreßeinrichtungen sind auch dahingehend wirksam, daß sie die Wafers in den Nuten halten, um sie vor externen schädlichen Stößen zu schützen.
  • Außerdembilden die Führungsrampen der gleichen Preßstreifen gemäß der bevorzugten Methode der Erfindung Nuten aus, in welche hinein die Waferkanten durch die Führungsrampen geführt werden, und die Führungsrampen sind so angeordnet, daß bei Betrachtung in der Längsrichtung des freien Endbereichs der Preßstreifen die Führungsrampen die Führungsrampen der benachbarten Preßstreifen überlappen ohne eine Berührung der Führungsrampen der benachbarten Preßstreifen, so daß die Führungsrampen einen Eintritt der Waferkanten in die Spalten zwischen den Preßstreifen verhindern und stattdessen die Waferkanten problemlos in die Nuten hineinführen. Deshalb werden die Wafers nicht beschädigt, wenn sie versehentlich zwischen den Preßstreifen festgehalten werden.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Die vorliegende Erfindung wird besser verstanden werden aufgrund der weiter unten gegebenen detaillierten Beschreibung und der beigefügten Zeichnungen, die nur der Veranschaulichung dienen und deshalb nicht einschränkend für die vorliegende Erfindung sind.
  • Fig. 1 ist ein vertikaler Querschnitt einer Waferpreßeinrichtung.
  • Fig. 2 ist eine Seitenansicht der gleichen Waferpreßeinrichtung, wenn in Richtung des Pfeils A aus Fig. 1 betrachtet.
  • Fig. 3 ist eine Unteransicht der gleichen Waferpreßeinrichtung, wenn in Richtung des Pfeils B aus Fig. 1 betrachtet.
  • Fig. 4 ist eine vergrößerte Ansicht des Bereichs C aus Fig. 3.
  • Fig. 5 ist eine Querschnittsansicht des Bereichs C, wenn in Richtung des Pfeils D aus Fig. 4 betrachtet.
  • Fig. 6 ist ein Querschnitt entlang der Linie E-E aus Fig. 4.
  • Fig. 7 ist ein Querschnitt entlang der Linie F-F aus Fig. 4.
  • Fig. 8 ist eine Vorderansicht im Querschnitt von einem Waferkorb, die nützlich ist für die Erklärung der Funktion der Waferpreßeinrichtung.
  • Fig. 9 ist eine Vorderansicht im Querschnitt von einem Waferkorb, die nützlich ist für die Erklärung der Funktion der Waferpreßeinrichtung.
  • Fig. 10 ist ein Querschnitt einer Waferpreßeinrichtung, der das Funktionieren eines Preßstreifens aufzeigt.
  • Fig. 11 ist ein auseinandergezogener Perspektivschnitt eines Korbs.
  • Fig. 12 ist eine Vorderansicht einer Waferpreßeinrichtung einer anderen Ausführungsform
  • Fig. 13 ist eine Unteransicht der elastischnachgiebigen Preßstreifen mit Waferführungsrampen.
  • Fig. 14 ist eine Ansicht der Preßstreifen, wenn in Richtung des Pfeils G aus Fig. 13 betrachtet.
  • Fig. 15 ist ein Querschnitt der Preßstreifen entlang der Linie H-H aus Fig. 13.
  • Fig.16 ist ein Querschnitt der Preßstreifen entlang der Linie J-J aus Fig. 13.
  • Fig. 17 ist eine Unteransicht der elastischnachgiebigen Preßstreifen mit Waferführungsrampen.
  • Fig. 18 ist ein Querschnitt der Preßstreifen entlang der Linie K-K aus Fig. 17.
  • Fig. 19 ist eine teilweise aufgerissene Vorderansicht eines herkömmlichen Waferkorbs.
  • Fig. 20 ist ein vertikaler Querschnitt der Waferpreßeinrichtung.
  • Fig. 21 ist eine Seitenansicht der gleichen Waferpreßeinrichtung, wenn in Richtung des Pfeils A aus Fig. 20 betrachtet.
  • Fig. 22 ist eine Unteransicht der gleichen Waferpreßeinrichtung, wenn in Richtung des Pfeils B aus Fig. 20 betrachtet.
  • Fig. 23 ist eine vergrößerte Ansicht des Bereichs C aus Fig. 22.
  • Fig. 24 ist eine Ansicht des Bereichs C, wenn in Richtung des Pfeils D aus Fig. 23 betrachtet.
  • Fig. 25 ist eine Ansicht des Bereichs C, wenn in Richtung des Pfeils E aus Fig. 23 betrachtet.
  • Fig. 26 ist eine Vorderansicht im Querschnitt eines Waferkorbs, die nützlich ist für die Erklärung der Funktion der Waferpreßeinrichtung.
  • Fig. 27 ist eine Vorderansicht im Querschnitt eines Waferkorbs, die nützlich ist für die Erklärung der Funktion der Waferpreßeinrichtung.
  • Fig. 28 ist eine Unteransicht eines Bereichs der Waferpreßeinrichtung, wenn von unten gesehen.
  • Fig. 29 ist ein Querschnitt entlang der Linie F-F aus Fig. 28.
  • (Ausführungsformen)
  • Im folgenden wird eine erste Ausführungsform der Erfindung in bezug auf Fig. 1 bis 11 beschrieben.
  • Zuerstwird der Aufbau eines Waferkorbs kurz in bezug auf Fig. 11, einem auseinandergezogenen Perspektivschnitt des Korbs, erklrt. Der Waferkorb besteht hauptsächlich aus einem äußeren Kasten 1, einem inneren in den äußeren Kasten 1 eingesetzten Kasten 2 und einer Waferpreßvorrichtung 3, in der die Verbesserung der Erfindung zum Ausdruck kommt.
  • Der äußere Kasten 1 besteht aus einem Hauptkörper 1A und einem oberen Deckel 1B. Ein Dichtungsring 4 ist an demoberen Rand des Hauptkörpers 1A angebracht, und der obere Deckel 1B paßt auf den Haußtkörper 1A über diesen Dichtungsring 4. Wenn der Hauptkörper 1A mit dem oberen Deckel 1B dementsprechend abgedeckt wird, ist der äußere Kasten 1 aufgrund des Dichtungsrings 4 hermetisch abgeschlossen.
  • Der innere Kasten 2 ist zum Halten einer Vielzahl von Wafers in einer Reihe und in bestimmten Abständen gedacht; er öffnet sich sowohl nach oben als auch nach unten, wobei die untere Öffnung enger als die obere Öffnung ist, da ein Paar sich einander gegenüberliegender Seitenwände 2a, 2a am unteren Ende auf eine solche Art und Weise nach innen gekrümmt sind, daß grob ein wafergroßer Kreis an der Innenfläche der gekrümmten Seitenwände beschrieben werden kann. Die Seitenwände 2a, 2a sind plissiert, um Rippen 2b, die sich vertikal erstrecken und in einer horizontalen Reihe in regelmäßigen kurzen Abständen angeordnet sind, auszubilden, wobei die Abstände Nuten zum Aufnehmen der Wafers ausbilden. Die sich einander gegenüberliegenden Seitenwände 2a, 2a sind spiegelsymmetrisch angeordnet, so daß jedes Paar sich einander gegenüberliegender Nuten einen zum vertikalen Aufnehmen eines Wafers geeigneten Sitz bilden. So werden die Wafers jeweils in Paare sich einander gegenüberliegender Nuten der Seitenwände 2a, 2a gesetzt.
  • Als nächstes wird der Aufbau einer erfindungsgemäßen Waferpreßeinrichtung 3 im Detail in bezug auf Fig. 1 bis 6 beschrieben. Übrigens ist Fig. 1 ein vertikaler Querschnittder Waferpreßeinrichtung 3, Fig. 2 eine Seitenansicht der gleichen Einrichtung 3, wenn in Richtung des Pfeils A aus Fig. 1 betrachtet, Fig. 3 eine Unteransicht der gleichen Einrichtung 3, wenn in Richtung des Pfeils B aus Fig. 1 betrachtet, Fig. 4 eine vergrößerte Ansicht des Bereichs C aus Fig. 3, Fig. 5 eine Ansicht des Bereichs C, wenn in Richtung des Pfeils D aus Fig. 4 betrachtet, Fig. 6 ein Querschnitt entlang der Linie E-E aus Fig. 4 und Fig. 7 ein Querschnitt entlang der Linie F-F aus Fig. 4.
  • Die Waferpreßeinrichtung 3 dieser Ausführungsform ist aus einem thermoplastischen Elastomer, vorzugsweise einem Polyester, mit hohem Reibungskoeffizienten in Form eines Blockgußstückes hergestellt. Die Waferpreßeinrichtung 3 umfaßt einen rechteckigen Rahmen 5, von dem aus sich nach unten zwei Reihen elastischnachgiebiger Preßstreifen 6 erstrecken, wobei die Streifen 6 im allgemeinen in der folgenden Art und Weise (vgl. Fig. 1) gekrümmt sind: der oberste Bereich ist horizontal und auf einer gleichen Ebene wie der Rahmen 5, ein zweiter Bereich beginnt am inneren Ende des obersten Bereichs und erstreckt sich in einer Richtung, die einen Winkel von ungefähr 50º mit dem obersten Bereich bildet, nach unten, ein dritter Bereich beginnt an dem unteren Ende des zweiten Bereichs und erstreckt sich in einer Richtung, die einen Winkel von ungefähr 80º mit dem zweiten Bereich bildet, nach unten, und der unterste kurze Bereich erstreckt sich horizontal und von dem unteren Ende des dritten Bereichs nach innen. Wenn sie wie in Fig. 1 gesehen werden, sehen sie somit aus wie ein Paar Ungleichheitszeichen, die sich nach innen und jeweils zu dem anderen hin öffnen. Die zwei Reihen elastischnachgiebiger Preßstreifen 6 sind in einer Reihe parallel zueinander (senkrecht zu dem Blatt aus Fig. 1) und in den gleichen engen Abständen wie die Rippen 2b angeordnet. Parallel zu und in der Mitte zwischen den beiden Reihen elastisch-nachgiebiger Preßstreifen 6 des Rahmens 5 sind zwei Stücke flacher Orientierungspreßeinrichtungen 7 angebracht.
  • Wie in Fig. 4 bis 7 im Detail gezeigt wird, wird der unterste kurze Bereich (das ist der freie Endbereich, mit dem ein Wafer W in Berührung kommt) jedes elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 6 entweder mit einem Paar nach unten gerichteter Waferführungsrampen 8a, 8b oder mit zwei Paaren nach unten gerichteter Waferführungsrampen 9a, 9b und loa, lob versehen; diese beiden Arten elastisch-nachgiebiger Preßstreifen werden im Wechsel angeordnet. Die Führungsrampen sollen die Kante des Wafers so führen, daß sie korrekt von den entsprechenden Preßstreifen aufgenommen wird. Wie in Fig. 4 gezeigt wird, ist jede Führungsrampe 8a eines elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 6A zwischen einer Führungsrampe 9b und einer Führungsrampe lob eines benachbarten elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 68 angeordnet; auf der anderen Seite ist die andere Führungsrampe 8b des elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 6A zwischen einer Führungsrampe 9a und einer Führungsrampe loa des anderen benachbarten elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 6C angeordnet. Wenn in Richtung der Pfeile E-E oder F-F aus Fig. 4 betrachtet, überlappt jede Führungsrampe 8a die Führungsrampen 9b und 10b, die in der gleichen Spalte zwischen den Preßstreifen 6 wie die Rampe 8a angeordnet sind, und jede Führungsrampe 8b überlappt die Führungsrampen 9a und 10a, die in der gleichen Spalte zwischen den Preßstreifen 6 wie die Führungsrampe 8b angeordnet sind.
  • Wie in Fig. 6 und 7 gezeigt wird, bildet jedes Paar Rührungsrampen, wie 8a-8b, 9a-9b und 10a-10b, eine Nut 11 aus, die durch die Rampenflächen der Rampen (obere Seiten, wenn in Fig. 6 und 7 gesehen), die zum Führen und Aufnehmen der Waferkanten abgeschrägt sind, bestimmt werden.
  • Wie in Fig. 8 dargestellt, wird der innere Kasten 2, welcher eine Vielzahl von in einer Reihe in senkrechter Richtung zu dem Blatt aus Fig. 8 angeordneten Wafers W enthält, in den Hauptkörper 1A des äußeren Kastens 1 eingefügt; dann wird der obere Deckel 1B an dem Hauptkörper 1A angebracht, wie dies in Fig. 9 gezeigt wird, worauf die Waferpreßeinrichtung 3, die unter dem oberen Deckel 1B liegt, die oberen Kanten des Wafers W berührt und von den oberen Kanten des Wafers W so heruntergedrückt wird, daß die Wafers elastischnachgiebig nach unten gelenkt werden. Insbesondere berührt jedes Paar spiegelsymmetrischer elastischnachgiebiger Preßstreifen 6, 6 der Waferpreßeinrichtung 3 die obere Kante jedes Wafers W und neigt den Wafer W elastisch-nachgiebig nach unten, so daß der Wafer W davor geschützt wird, aus der Nut 2b zu springen, wenn der Waferkorb einen physikalischen Stoß erhält. Die oberen Kanten der Wafers W werden jeweils in den zwischen den Führungsrampen 8a, 8b (oder zwischen den Führungsrampen 9a, 9b oder auch zwischen den Führungsrampen 10a, 10b) ausgebildeten Nuten 11 geführt und eingerichtet, und somit werden die Wafers W so getragen, daß sie vertikal stehen. Die Führungsrampen 8a überlappen die Rampen 9b und 10b, wenn wie in Fig. 6 betrachtet, und analog überlappen die Führungsrampen 8b die Rampen 9a und 10a, so daß die Wafers W nicht dazu neigen, in die Spalten zwischen den Preßstreifen 6 zu rutschen. Wenn deshalb der obere Deckel 1B an dem äußeren Kasten 1A angebracht wird, werden alle Wafers W von den Rampen geführt und in die jeweiligen Nuten 11 eingebracht; zum Beispiel bewegt sich die obere Kante eines Wafers W, der in einer gepunkteten und gestrichelten Linie in Fig. 6 dargestellt ist, entlang der abgeschrägten Innenflächen der Rampen 9a und loa in die durch den Pfeil gezeigte Richtung, bis der Wafer W automatisch auf dem Boden der Nut 11 anlangt, so wie dies in der durchgehenden Linie gezeichnet ist.
  • Somit sind alle in dem inneren Kasten 2 gelagerten Wafers W elastisch-nachgiebig durch die Waferpreßeinrichtung 3 angepreßt, so daß, wenn der Waferkorb während des Transports einen Stoß erhält und ein Wafer W, so wie in Fig. 10 dargestellt, vibriert und bezüglich der in durchgezogener Linie dargestellten Position auf und ab in die in gepunkteter und gestrichelter Linie gezeichneten Positionen springt, die Bewegung des Wafers abgedämpft und abgeschwächt wird, da die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen 6 der Waferpreßeinrichtung 3 einer Krümmungs- und einer Dehnungsbewegung zwischen dem Rahmen 5 der Waferpreßeinrichtung 3 und dem Wafer W unterzogen werden, wodurch somit die Vibration hauptsächlich an dem Krümmungsknie a absorbiert wird. Infolgedessen kommt es jeweils kaum zur Reibung zwischen den elastisch-nachgiebigen Preßstreifen 6 und den Waferkanten; somit erzeugen die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen 6 keine Partikel, die andernfalls die Wafers W verunreinigen würden. Nebenbei bemerkt führt die Waferpreßeinrichtung 3 wirksam ihre herkömmliche Funktion des elastisch-nachgiebigen Haltens der Wafers W aus, um somit ein Zerbrechen der Wafers zu verhindern.
  • Wie in Fig. 9 gezeigt wird, sind die in der Waferpreßeinrichtung 3 angebrachten flachen Orientierungspreßeinrichtungen 7 so ausgelegt, daß sie mit der Orientierungsabflachungskante Wa jedes Wafers W zusammenwirken können, um somit den Wafer W davor zu bewahren, sich in der Umfangsrichtung zu drehen. Infolgedessen kommt es zu einem geringen Gleiten der Waferkante an dem inneren Kasten 2; somit sind die Wafers vor Verunreinigung durch die Partikel, die andernfalls durch das Gleiten erzeugt werden könnten, sicher. übrigens wird, wie in Fig. 8 und Fig. 9 dargestellt, jeder Wafer W in den inneren Kasten 2 so eingesetzt, daß seine Orientierungsabflachungskante Wa nach oben zeigt.
  • Inder vorhergehenden Ausführungsform sind die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen 6 so gekrümmt, daß sie wie zwei sich nach innen öffnende Ungleichheitszeichen aussehen, aber es ist auch möglich, elastisch-nachgiebige Streifen anzunehmen, die so gekrümmt sind, daß sie sich nach außen öffnen, wie dies in Fig. 12 dargestellt ist.
  • Als Ersatz für die in Fig. 4 bis 7 gezeigten Konstruktionen umfassen mögliche Konstruktionen der Waferpreßeinrichtung 3 zum Verhindern des Rutschens der Wafers W in die Spalten zwischen den elastischnachgiebigen Preßstreifen 6 die in Fig. 13 bis 16 gezeigte sowie eine andere, die in Fig. 17 und Fig. 18 gezeigt wird.
  • Fig. 13 ist eine Unteransicht der elastischnachgiebigen Preßstreifen 6 mit Waferführungsrampen, Fig. 14 ist eine Ansicht der Preßstreifen 6, wenn in Richtung des Pfeils G aus Fig. 13 betrachtet, Fig. 15 ist ein Querschnitt der Preßstreifen 6 entlang der Linie H-H aus Fig. 13, Fig. 16 ist ein Querschnitt der Preßstreifen 6 entlang der Linie J-J aus Fig. 13.
  • Gemäß der Alternativkonstruktion, die in Fig. 13 bis 16 gezeigt wird, ist der freie Endbereich jedes elastischnachgiebigen Preßstreifens 6 der gleichen Art und mit drei nach unten zeigenden Führungsrampen 12a, 12b und 12c ausgebildet, wobei 12a und 12b auf der gleichen Seite sind und 12c auf der anderen Seite ist, wie in Fig. 13 dargestellt. Eine Führungsrampe 12c eines elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 6 wird zwischen einer Führungsrampe 12a und einer Führungsrampe 12b in jeder Spalte zwischen benachbarten elastischnachgiebigen Preßstreifen 6 angebracht. Bei Betrachtung in Richtung der Pfeile H-H oder J-J aus Fig. 13 überlappt eine Führungsrampe 12c die Führungsrampen 12a und 12b, die in der gleichen Spalte zwischen den elastisch-nachgiebigen Preßstreifen 6 angebracht sind. Wie in Fig. 15 und 16 gezeigt wird, bildet jede Kombination von überlappenden Rampen 12a, 12b und 12c eine Nut 11 aus, die durch die Rampenflächen der Rampen bestimmt wird.
  • Fig. 17 ist eine Unteransicht der elastischnachgiebigen Preßstreifen 6 mit Waferführungsrampen, und Fig. 18 ist ein Querschnitt der Preßstreifen 6 entlang der Linie K-K aus Fig. 17. In der Alternativkonstruktion in Fig. 17 und Fig. 18 ist der freie Endbereich jedes elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 6 der gleichen Art und wird mit zwei nach unten zeigenden Führungsrampen 13a und 13b ausgebildet, die sich jeweils an den gegenüberliegenden Seiten jedes Preßstreifens 6, wie in Fig. 17 gezeigt, befinden. Bei Betrachtung wie in Fig. 18 überlappt jede Waferführungsrampe 13a die Führungsrampe 13a, die sich in der gleichen Spalte zwischen benachbarten elastischnachgiebigen Preßstreifen 6 befindet. Wie in Fig. 18 dargestellt, bildet jede Kombination von überlappenden Rampen 13a und 13b eine Nut 11 aus, die durch die Rampenflächen der Rampen, in denen jeweils die oberen Kantender Wafers W geführt und in den Nuten 11 angebracht werden, bestimmt.
  • Als nächstes wird eine weitere Ausführungsform eines Waferkorbs gemäß der Erfindung mit einer anderen neuartigen Preßeinrichtung beschrieben. Der allgemeine Aufbau des aus einem äußeren Kasten 201 und aus einem inneren Kasten 202 bestehenden Waferkorbs ist der gleiche wie der in den vorhergehenden Ausführungsformen.
  • Der Aufbau der Waferpreßeinrichtung 203 gemäß der Erfindung wird im Detail in bezug auf Fig. 20 bis 25 beschrieben. übrigens ist Fig. 20 ein vertikaler Querschnitt der Waferpreßeinrichtung 203, Fig. 21 eine Seitenansicht der gleichen Einrichtung 203, wenn in Richtung des Pfeils A aus Fig. 20 betrachtet, Fig. 22 eine Unteransicht der gleichen Einrichtung 203, wenn in Richtung des Pfeils B aus Fig. 20 betrachtet, Fig. 23 eine vergrößerte Ansicht des Bereichs C aus Fig. 22, Fig. 24 eine Ansicht des Bereichs C, in Richtung der Pfeile D aus Fig. 23 betrachtet, und Fig. 25 ein Querschnitt entlang der Linie E-E aus Fig. 23.
  • Die Waferpreßeinrichtung 203 dieser Ausführungsform wird ebenfalls aus einem thermoplastischen Elastomer (Polyester) mit einem hohen Reibungskoeffizienten in Form eines Blockgußstücks hergestellt. Die Waferpreßeinrichtung 203 umfaßt einen rechteckigen Rahmen 205, von dem aus sich zwei Reihen elastischnachgiebiger Preßstreifen 206 nach unten erstrecken, wobei die Preßstreifen 206 im allgemeinen auffolgende Art und Weise gekrümmt sind (vgl. Fig. 20): der oberste Bereich ist horizontal und auf einer gleichen Ebene wie der Rahmen 205, ein zweiter Bereich beginnt an dem inneren Ende des obersten Bereichs und erstreckt sich in einer Richtung, die einen Winkel von ungefähr 50º mit dem obersten Bereich bildet, nach unten, ein dritter Bereich beginnt an dem unteren Ende des zweiten Bereichs und erstreckt sich in einer Richtung, die einen Winkel von ungefähr 80º mit dem zweiten Bereich bildet, nach unten, und der unterste kurze Bereich erstreckt sich horizontal und von dem unteren Ende des dritten Bereichs nach innen. Wenn sie wie in Fig. 20 dargestellt betrachtet werden, sehen sie deshalb aus wie zwei Ungleichheitszeichen, die sich nach innen und zuemanderhin öffnen. Die beiden Reihen der elastischnachgiebigen Preßstreifen 206 sind in einer Reihe parallel zueinander (senkrecht zu dem Blatt aus Fig. 20) angeordnet und in den gleichen engen Abständen wie die Rippen 202b (Fig. 26). Parallel dazu und in der Mittezwischen den zwei Reihen der elastischnachgiebigen Preßstreifen 206 des Rahmens 205 ist eine Reihe von flachen Orientierungspreßstreifen 207 in den gleichen Abständen wie die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen 206 angeordnet.
  • Wie im Detail in Fig. 23 bis 25 dargestellt ist, wird der unterste kurze Bereich (das ist der freie Endbereich, an dem ein Wafer W berührt wird) jedes elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 206 entweder mit einer Vielzahl von nach unten zeigenden Waferführungsrampen 208a, 208b oder nach unten zeigenden Waferführungsrampen 209a, 209b ausgestattet. Wie im besonderen in Fig. 23 gezeigt wird, ist jeder Preßstreifen 206A mit drei Führungsrampen 208a auf einer Seite und drei Führungsrampen 208b auf der anderen Seite ausgestattet, und jeder Preßstreifen 206B auf der einen Seite neben jedem Streifen 206A ist mit vier Führungsrampen 209a auf einer Seite und vier Führungsrampen 209b auf der anderen Seite ausgestattet, und jeder Preßstreifen 206c auf der anderen Seite neben jedem Streifen 206A ist analog mit vier Führungsrampen 209a und vier Führungsrampen 209b ausgestattet. Die Führungsrampen sollen die Waferkante so führen, daß diese korrekt von den jeweiligen Preßstreifen erfaßt wird. Wie in Fig. 23 gezeigt, ist jede Führungsrampe 208a eines elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 206A zwischen Führungsrampen 209b eines benachbarten elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 206B angeordnet; auf der anderen Seite ist jede Führungsrampe 208b des elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 206A zwischen Führungsrampen 209a des anderen benachbarten elastischnachgiebigen Preßstreifens 206C angeordnet. Bei Betrachtung in Richtung der Pfeile E-E aus Fig. 23, das heißt wie in Fig. 25 dargestellt, überlappt jede Führungsrampe 208a die Führungsrampen 209b, die sich in dem gleichen Spalt zwischen Preßstreifen 206 wie die Rampe 208a befinden, und jede Führungsrampe 208b überlappt die Führungsrampen 209a, die sich in der gleichen Spalte zwischen Preßstreifen 206 wie die Führungsrampe 208b befinden.
  • Wie in Fig. 25 dargestellt, bildet jedes Paar Führungsrampen, wie 208a-208b und 209a-209b, eine Nut 212 aus, die durch die Rampenflächen der Rampen (obere Flächen, wenn in Fig. 25 betrachtet), die zum Führen und Aufnehmen der Waferkanten abgeschrägt sind, bestimmt werden.
  • Wie in Fig. 26 gezeigt, wird der innere Kasten 202, der eine Vielzahl von in einer Reihe in senkrechter Richtung zu dem Blat aus Fig. 26 angeordneten Wafers W enthält, in den Hauptkörper 201A des äußeren Kastens 201 eingeführt; dann wird der obere Deckel 201B, wie in Fig. 27 dargestellt, an dem Hauptkörper 201A angebracht, worauf die Waferpreßeinrichtung 203 unter dem oberen Deckel 201B die oberen Kanten der Wafers W berührt und von den oberen Kanten der Wafers W so herabgepreßt wird, daß sich die Wafers elastischnachgiebig nach unten neigen, und wenn der Waferkorb einen physikalischen Stoß erhält, werden die Wafers W davon abgehalten, aus den Nuten 2028 zu springen. Die oberen Kanten der Wafers W werden jeweils in den zwischen den Führungsrampen 208a, 208b (oder zwischen den Führungsrampen 209a, 209b) gebildeten Nuten 212 geführt und untergebracht, und somit werden die Wafers W so getragen, daß sie vertikal stehen. Die Führungsrampen 208a überlappen die Rampen 209b bei Betrachtung wie in Fig. 25, und analog überlappen die Führungsrampen 208b die Rampen 209a, so daß die Wafers W nicht dazu geneigt sind, in die Spalten zwischen den Preßstreifen 206 zu rutschen. Wenn deshalb der obere Deckel 201B an dem ußeren Kasten 201A angebracht wird, werden die Wafers W alle von den Rampen geführt und in den entsprechenden Nuten 212 festgehalten; zum Beispiel bewegt sich die obere Kante eines durch eine gepunktete und gestrichelte Linie in Fig. 25 dargestellten Wafers W entlang der abgeschrägten inneren Flächen der Rampen 208a in die durch den Pfeil dargestelle Richtung, bis der Wafer W automatisch am Boden der Nut 212, wie dies in durchgezogener Linie dargestellt ist, anlangt.
  • Somit werden alle in dem inneren Kasten 202 gelagerten Wafers W elastisch-nachgiebig durch die Waferpreßeinrichtung 203 so herabgepreßt, daß wenn der Waferkorb während des Transports einen Stoß erhält und ein Wafer W vibriert und auf- und abspringt, die Bewegung des Wafers W abgeschwächt und gemäßigt wird, d die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen 206 der Waferpreßeinrichtung 203 einer Krünmmungs- und Dehnungsbewegung zwischen dem Rahmen 205 der Waferpreßeinrichtung 203 und dem Wafer W unterliegen und somit die Vibration absorbieren. Infolgedessen kommt es kaum zum Reiben zwischen jedem elastischnachgiebigen Preßstreifen 206 und der Waferkante; somit erzeugen die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen 206 keine Partikel, die andernfalls die Wafers W verunreinigen würden.
  • Die Führungsrampen 208a, 208b, 209a oder 209b werden an dem untersten kurzen Bereich jedes Preßstreifens 206 gebildet, und sie werden an dem freien Ende des Preßstreifens 206 aufgenommen, so daß die oberen Kanten des in dem Waferkorb gelagerten Wafers W von den Preßstreifen 206 fast alle gleichzeitig angepreßt werden; auch aus diesem Grund werden die Wafers W davor bewahrt, in die Spalten zwischen den Preßstreifen 206 einzutreten.
  • Wie in Fig. 27 gezeigt, ist jedes Paar der flachen Orientierungspreßstreifen 207 in der Waferpreßeinrichtung 203 so gebaut, daß sie mit den Orientierungsabflachungen Wa jedes Wafers W zusammenwirken, um somit ein Drehen des Wafers W in die Umfangsrichtung zu verhindern. Infolgedessen kommt es kaum zum Rutschen der Waferkante an dem inneren Kasten 202; die Wafers sind somit vor einer Verunreinigung durch die Partikel, die andernfalls durch das Rutschen erzeugt werden könnten, sicher. übrigens wird, wie in Fig. 26 und Fig. 27 dargestellt, jeder Wafer W in den inneren Kasten 202 so eingeführt, daß seine orientierungsabflachungskante Wa nach oben zeigt.
  • Als nächstes wird eine letzte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung in bezug auf Fig. 28 und Fig. 29 beschrieben. Fig. 28 ist eine Unteransicht eines Bereichs der Waferpreßvorrichtung dieser von unten betrachteten Ausführungsform; Fig. 29 ist ein Querschnitt entlang der Linie F-F aus Fig. 28.
  • In dieser Ausführungsform wird die untere Fläche des freien Endbereichs jedes Preßstreifens 306 entweder mit den Waferführungsrampen 310a, 310b oder den Waferführungsrampen 311a, 311b, die alle, wie in Fig. 28 gesehen werden kann, wie Sägezähne geformt sind, ausgestattet. Jede Führungsrampe 310a eines elastischnachgiebigen Preßstreifens 306A wird zwischen den Führungsrampen 311b eines benachbarten elastischnachgiebigen Preßstreifens 3068 angeordnet; auf der anderen Seite wird jede Führungsrampe 310b des elastisch-nachgiebigen Preßstreifens 306A zwischen den Führungsrampen 311a des anderen benachbarten elastischnachgiebigen Preßstreifens 306C angeordnet. Bei Betrachtung in Richtung der Pfeile F-F aus Fig. 28, das heißt so wie in Fig. 29 dargestellt, überlappt jede Führungsrampe 310a die Führungsrampen 311b, die in der gleichen Spalte zwischen den Preßstreifen 306 wie die Rampe 310a angeordnet sind, und jede Führungsrampe 310b überlappt die Führungsrampen 311a, die in der gleichen Spalte zwischen den Preßstreifen 306 wie die Führungsrampe 310b angeordnet sind.
  • Wie in Fig. 29 gezeigt, bildet jedes Paar Führungsrampen, wie 310a-310b und 311a-311b, eine Nut 312 aus, die durch die Rampenflächen der Rampen, die zum zweckmäßigen Führen und Aufnehmen der Waferkanten abgeschrägt sind, bestimmt wird.
  • Somit überlappen auch in dieser Ausführungsform jeweils die benachbarten Führungsrampen, um die Spalten zwischen den Preßstreifen 306 zu blockieren, so daß die Wafers W nicht geneigt sind, in die Spalten zwischen den Preßstreifen 306 zu rutschen. Somit werden alle Wafers W von den Rampen geführt und in den entsprechenden Nuten 312 aufgenommen. Deshalb sind die Wafers davor sicher, versehentlich zwischen den Preßstreifen 306 gehalten zu werden und verunreinigende Partikel zu erzeugen.

Claims (7)

1. Waferkorb, bestehend aus einem oberen Deckel (1B, 201B), der mit einer abnehmbaren waferpreßeinrichtung (3, 203) an der hinteren Fläche des oberen Deckels (1B, 201B) versehen ist, wobei die waferpreßeinrichtung (3, 203) zwei Reihen von elastisch-nachgiebigen Preßstreifen (6, 206, 306) aufweist, die aus einem thermoplastischen Elastomer bestehen und nach unten von einer tragenden Struktur verlaufen, um die in dem Waferkorb aufzunehmenden Wafers (W) nach unten zu pressen, wobei diese elastisch-nachgiebigen Preßstreifen (6, 206, 306) ein erstes Ende haben, das an der tragenden Struktur befestigt ist, und ein zweites freies Ende, das mit den Wafers (w) im Eingriff ist, wobei jeder dieser Preßstreifen eine erste Krümmung aufweist, die darin neben dem freien Ende ausgebildet ist, um einen untersten, mit einem Wafer zusammenwirkenden Bereich zu definieren, wobei diese Krümmung ihren Krümmungswinkel in Abhängigkeit von äußeren Stößen vorübergehend verändern kann;
dadurch gekennzeichnet, daß
die tragende Struktur einen rechteckigen Rahmen (5, 205) aufweist und die Preßstreifen (6, 206, 306) einen hohen Reibungskoeffizienten haben; und daß
die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen (6, 206, 306) jeweils einen obersten Bereich aufweisen, der von dem ersten Ende verläuft, einen zweiten Bereich, der nach unten von dem Ende des ersten Bereichs fern von dem ersten Ende unter einem ersten Winkel dazu verläuft, und einen dritten Bereich, der nach unten von dem Ende des zweiten Bereichs fern von dem obersten Bereich unter einem zweiten Winkel dazu verläuft, wobei der dritte Bereich an der ersten Krümmung endet, eine zweite Krümmung zwischen dem obersten Bereich und diesem zweiten Bereich ausgebildet ist, und eine dritte Krümmung zwischen dem ersten Bereich und dem dritten Bereich ausgebildet ist, wobei die zweiten und dritten Krümmungen in zueinander entgegengesetzten Richtungen ausgebildet sind.
2. Waferkorb nach Anspruch 1, bei welchem die elastischnachgiebigen Freßstreifen (6, 206, 306) aus einem Polyesterharz bestehen.
3. Waferkorb nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, bei welchem die elastisch-nachgiebigen Preßstreifen (6, 206, 306) jeweils mit Führungsrampen (8, 9, 10, 12, 13, 208, 209, 310, 311) an jeder Seite ihrer freien Endbereiche in einer solchen Art und Weise versehen sind, daß die Führungsrampen (8, 9, 10, 12, 13, 208, 209, 310, 311) derselben Preßstreifen (6, 206, 306) Nuten (11, 212, 312) ausbilden, in welche hinein die Waferkanten durch die Führungsrampen (8, 9, 10, 12, 13, 208, 209, 310, 311) geführt werden sowie in solcher Art und Weise, daß bei einer Ansicht in der Längsrichtung des freien Endbereichs der Preßstreifen (6, 206, 306) die Führungsrampen (8, 9, 10, 12, 13, 208, 209, 310, 311) eines Streifens (6, 206, 306) die Führungsrampen (8, 9, 10, 12, 13, 208, 209, 310, 311) der benachbarten Preßstreifen (6, 206, 306) überlappen ohne eine Berührung der Führungsrampen (8, 9, 10, 12, 13, 208, 209, 310, 311) dieser benachbarten Preßsteifen (6, 206, 306), sodaß die Führungsrampen (8, 9, 10, 12, 13, 208, 209, 310, 311) einen Eintritt der Waferkanten in die Spalte zwischen den Preßstreifen (6, 206, 306) verhindern.
4. Waferkorb nach Anspruch 3, bei welchem die Führungsrampen (310, 311) Sägezähnen ähnlich sind, die bei einer Ansicht von unten mit benachbarten Zähnen kämmen.
5. Waferkorb nach Anspruch 3, bei welchem die Führungsrampen (8, 9, 10, 12, 13, 208, 109) Kammzähnen ähnlich sind, die bei einer Ansicht von unten mit benachbarten Zähnen kämmen.
6. Waferkorb nach Anspruch 3, bei welchem die elastischnachgiebigen Preßstreifen (6, 206, 306) jeweils mit einer Vielzahl von eng angeordneten Führungsrampen (8, 9, 10, 12, 13, 208, 209, 310, 311) versehen sind, von denen wenigstens eine Führungsrampe an einer Seite jedes Preßstreifens angeordnet ist und wenigstens zwei Führungsrampen an dessen anderer Seite angeordnet sind.
7. Waferkorb nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei welchem die waferpreßeinrichtung (3, 203) weiterhin eine flache Orientierungspreßeinrichtung (7, 207) aufweist, die in der Richtung langgestreckt ist, in welcher die Wafers W angeordnet sind, und die für ein Zusammenwirken mit der Orientierungsabflachung (Wa) jedes Wafers (W) angepaßt ist.
DE69219535T 1991-08-30 1992-09-01 Behälter für Halbleiter-Wafer Expired - Fee Related DE69219535T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24525391A JPH0563065A (ja) 1991-08-30 1991-08-30 ウエーハ収納容器のウエーハ押え
JP24525291A JPH0563064A (ja) 1991-08-30 1991-08-30 ウエーハ収納容器のウエーハ押え

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69219535D1 DE69219535D1 (de) 1997-06-12
DE69219535T2 true DE69219535T2 (de) 1997-11-13

Family

ID=26537128

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69219535T Expired - Fee Related DE69219535T2 (de) 1991-08-30 1992-09-01 Behälter für Halbleiter-Wafer

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5228568A (de)
EP (1) EP0530054B1 (de)
DE (1) DE69219535T2 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10151320A1 (de) * 2001-10-17 2003-05-15 Infineon Technologies Ag Scheibenträger

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2946450B2 (ja) * 1993-04-27 1999-09-06 コマツ電子金属株式会社 半導体ウェーハ包装容器
US5472086A (en) * 1994-03-11 1995-12-05 Holliday; James E. Enclosed sealable purgible semiconductor wafer holder
US5423422A (en) * 1994-03-14 1995-06-13 Empak, Inc. Flat panel display container
US5586658A (en) * 1995-06-06 1996-12-24 Fluoroware, Inc. Wafer cushions for wafer shipper
US5816410A (en) * 1994-07-15 1998-10-06 Fluoroware, Inc. Wafer cushions for wafer shipper
USD387903S (en) * 1995-10-13 1997-12-23 Empak, Inc. Shipping container
USD378873S (en) * 1995-10-13 1997-04-22 Empak, Inc. 300 mm microenvironment pod with door on side
USD383898S (en) * 1995-10-13 1997-09-23 Empak, Inc. Combination shipping and transport cassette
EP0857150B1 (de) 1995-10-13 2002-03-27 Empak, Inc. 300 mm behälter mit mikroumgebung und seitentür und erdungsleitung
USH1762H (en) * 1995-10-26 1998-12-01 Kaempf; Ulrich Wafer restraining system
US5657879A (en) * 1996-02-05 1997-08-19 Seh America, Inc. Combination wafer carrier and storage device
US6286688B1 (en) * 1996-04-03 2001-09-11 Scp Global Technologies, Inc. Compliant silicon wafer handling system
US5775508A (en) * 1997-01-06 1998-07-07 Empak, Inc. Disk package for rotating memory disks
JP3324731B2 (ja) * 1997-03-24 2002-09-17 株式会社ハイモールド 記憶ディスク収納ケース
US6474474B2 (en) * 1998-02-06 2002-11-05 Sumitomo Metal Industries, Ltd. Sheet support container
JP3280305B2 (ja) * 1998-04-13 2002-05-13 信越半導体株式会社 精密基板輸送容器
US5992638A (en) * 1998-11-11 1999-11-30 Empak, Inc. Advanced wafer shipper
KR100487541B1 (ko) * 2002-09-06 2005-05-03 삼성전자주식회사 반도체기판의 세정/건조 공정에 사용되는 웨이퍼 가이드들
JP4174557B2 (ja) * 2002-10-17 2008-11-05 ゴールド工業株式会社 ウエハ等精密基板収容容器
TWI337160B (en) * 2003-10-09 2011-02-11 Entegris Inc Shipper with tooth design for improved loading
WO2007146936A2 (en) * 2006-06-13 2007-12-21 Entegris, Inc. Reusable resilient cushion for wafer container
EP2081223A4 (de) * 2006-11-07 2011-09-07 Shinetsu Polymer Co Substratbehälter
JP2008294274A (ja) * 2007-05-25 2008-12-04 Nec Electronics Corp ウェハ移送容器、その緩衝支持部材
EP2207199B1 (de) * 2007-11-09 2016-11-30 Shin-Etsu Polymer Co. Ltd. Haltevorrichtung und behälter für substrataufbewahrung
KR101554375B1 (ko) * 2008-04-25 2015-09-18 신에츠 폴리머 가부시키가이샤 리테이너, 및 리테이너를 구비한 기판 수납 용기
TWI337162B (en) * 2008-07-31 2011-02-11 Gudeng Prec Industral Co Ltd A wafer container with constraints
TWI384577B (zh) * 2008-07-31 2013-02-01 Gudeng Prec Industral Co Ltd 門上凹陷區域兩旁配置有晶圓限制件模組之前開式晶圓盒
US7971722B2 (en) * 2008-08-08 2011-07-05 Gudeng Precision Industral Co, Ltd Wafer container with restrainer
TWI400766B (zh) * 2008-08-27 2013-07-01 Gudeng Prec Industral Co Ltd 具一體成形晶圓限制件模組之前開式晶圓盒
CN101673696B (zh) * 2008-09-12 2011-09-28 家登精密工业股份有限公司 门上配置有晶片限制件的前开式晶片盒
TWI343353B (en) * 2008-11-04 2011-06-11 Gudeng Prec Industral Co Ltd A wafer container having the snap-fitting constraint module
KR20130054246A (ko) 2010-03-11 2013-05-24 인티그리스, 인코포레이티드 얇은 웨이퍼 운송장치
WO2012054627A2 (en) * 2010-10-19 2012-04-26 Entegris, Inc. Front opening wafer container with wafer cushion
CN102700849B (zh) * 2012-03-30 2014-05-28 深圳市华星光电技术有限公司 一种玻璃基板卡匣
SG11201406449YA (en) 2012-04-09 2014-11-27 Entegris Inc Wafer shipper
WO2013166515A1 (en) 2012-05-04 2013-11-07 Entegris, Inc. Wafer container with door mounted shipping cushions
TWM453240U (zh) * 2013-01-10 2013-05-11 Gudeng Prec Ind Co Ltd 具有保護套的限制件
CN103474383A (zh) * 2013-09-06 2013-12-25 济南科盛电子有限公司 一种硅片盒
US9304690B2 (en) 2014-05-07 2016-04-05 HGST Netherlands B.V. System and method for peer-to-peer PCIe storage transfers
JP6430195B2 (ja) * 2014-09-29 2018-11-28 株式会社Screenホールディングス 基板収納容器
CN107210251B (zh) * 2014-12-18 2020-11-03 恩特格里斯公司 具有冲击状态保护的晶片容器
US11309200B2 (en) * 2017-02-27 2022-04-19 Miraial Co., Ltd. Substrate storage container
TWI641071B (zh) * 2018-01-08 2018-11-11 家登精密工業股份有限公司 容器門板抵持結構
JP7313975B2 (ja) * 2019-08-27 2023-07-25 信越ポリマー株式会社 基板収納容器

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4043451A (en) * 1976-03-18 1977-08-23 Fluoroware, Inc. Shipping container for silicone semiconductor wafers
US4061228A (en) * 1976-12-20 1977-12-06 Fluoroware, Inc. Shipping container for substrates
US4450960A (en) * 1982-08-30 1984-05-29 Empak Inc. Package
IT1181778B (it) * 1985-05-07 1987-09-30 Dynamit Nobel Silicon Spa Contenitore per l'immagazzinamento ed il trasporto di dischetti (fette) di silicio
US4721207A (en) * 1986-04-28 1988-01-26 Tensho Electric Industrial Co., Ltd. Hard disk container
US4817799A (en) * 1986-10-06 1989-04-04 Empak, Inc. Disk package
US5025926A (en) * 1987-07-07 1991-06-25 Empak, Inc. Package
US4793488A (en) * 1987-07-07 1988-12-27 Empak, Inc. Package for semiconductor wafers
US4817795A (en) * 1988-03-04 1989-04-04 Fluoroware, Inc. Robotic accessible wafer shipper assembly
EP0343762A3 (de) * 1988-05-24 1991-05-08 Empak Inc. Verpackung für Halbleiterscheiben
US5046615A (en) * 1989-04-03 1991-09-10 Fluoroware, Inc. Disk shipper

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10151320A1 (de) * 2001-10-17 2003-05-15 Infineon Technologies Ag Scheibenträger
DE10151320B4 (de) * 2001-10-17 2006-02-09 Infineon Technologies Ag Scheibenträger

Also Published As

Publication number Publication date
US5228568A (en) 1993-07-20
EP0530054B1 (de) 1997-05-07
EP0530054A1 (de) 1993-03-03
DE69219535D1 (de) 1997-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69219535T2 (de) Behälter für Halbleiter-Wafer
DE69228377T2 (de) Behälter mit Aufhängevorrichtung für Halbleiterplättchen
EP0194481B1 (de) Behälter zur Aufbewahrung und Beförderung von Siliciumscheiben
DE3429243A1 (de) Verpackung
DE2723347A1 (de) Transportbehaelter fuer traegerplatten
DE69810033T2 (de) Versandbehälter
WO1992002950A1 (de) Anordnung zum lagern, transportieren und einschleusen von substraten
DE1603964A1 (de) Nagelpatrone fuer die Verwendung in einem mit einer Nagelmaschine verbundenen Nagelmagazin
DE69329077T2 (de) Förderer
DE19537193A1 (de) Waferträger mit Polsterungsvorrichtung
DE4204819C2 (de) Träger für Packen von Halbleiter-Bauelementen
DE69300566T2 (de) Verpackung.
DE3640203A1 (de) Behaelterverbindungseinrichtung
DE1921405A1 (de) Vorrichtung zum Handhaben eines Diastapels
DE20119994U1 (de) CD-Aufbewahrungstrommel
EP0583859A1 (de) Gerät zum Entnehmen eines Artikels aus einem Tablar eines Regallagers
DE69528202T2 (de) 300mm versandbehälter
DE2452509A1 (de) Foerderer
EP0236514B1 (de) Transport- und Lagerkasten aus Kunststoff
EP0174455A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Lagern, Transportieren und Umschlagen von Produktionsgütern
DE7436808U (de) Tray fuer mehrere Behaelter
EP0471308B1 (de) Flaschenkasten aus Kunststoff
DE2755573C2 (de) Grundrahmen, insbesondere für Plansichter
EP0606073B1 (de) Flaschenkasten
DE2039513C (de) Abdichtung, insbesondere für Mähdrescher

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee