DE60314762T2 - Siebdruckverfahren - Google Patents

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Seiichi Miyahara
Akira Chuo-ku Osaka-shi MAEDA
Masayuki Chuo-ku Osaka-shi MANTANI
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    • H05K2203/1492Periodical treatments, e.g. pulse plating of through-holes

Description

  • Technisches Gebiet:
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Siebdruckverfahren, in dem eine Paste, wie z.B. Lötpaste, auf ein Werkstück gedruckt wird.
  • Stand der Technik:
  • Als Lötverfahren für elektronische Bauteile sind Verfahren mit Lothügeln oder einer Vorabbeschichtung mit Lötmittel bekannt. In diesem Verfahren wird auf eine Elektrode des Werkstücks, wie z.B. eines elektronischen Bauteils oder des Trägermaterials ein Lothügel, d.h. eine hervorstehende Elektrode aus Lötmittel zum Löten, oder eine Beschichtung aus Lötmittel gebildet. Als Verfahren zur Lieferung des Lötmittels sind Siebdruckverfahren in diesem Prozess weit verbreitet. In diesem Verfahren wird Lötpaste auf die Oberseite des Werkstücks durch ein Musterloch, das auf einer Schablonenplatte vorgesehen ist, gedruckt.
  • In der letzten Zeit werden die elektronischen Bauteile immer kleiner und der Abstand der auf dem Erzeugnis gebildeten Elektroden wird ebenfalls immer kleiner und viele Elektroden sind mit einer hohen Dichte angeordnet. Eine Schablonenmaske, die verwendet wird, um Erhebungen auf diesen Elektroden zu bilden, hat eine viel kleinere Schablonendicke als hekömmliche Schablonenplatten, die zum Drucken von Lötmittel auf eine gedruckte Leiterplatte verwendet werden. Wenn jedoch das herkömmliche Siebdruckverfahren unverändert für den Siebdruck mit dünnen Schablonenplatten für Erzeugnisse verwendet wird, bei denen die Elektroden eine hohe Dichte haben, treten die folgenden Probleme auf.
  • Um eine gute Druckqualität des Siebdrucks zu gewährleisten, ist ein sicheres Füllen der Musterlöcher mit Lötpaste und ein gutes Trennvermögen der Lötpaste von den Musterlöchern erforderlich, wobei die Form erhalten bleiben soll, wenn die Schablonenplatte von dem Erzeugnis nach dem Auffüllvorgang getrennt wird. In dem Maße, in dem die Elektroden immer dichter angeordnet werden und die Schablone immer dünner gemacht wird, nehmen die Probleme beim Drucken zu. Insbesondere ist es sehr schwierig, ein gleichförmiges und gutes Plattentrennvermögen über die gesamte Oberfläche des Erzeugnisses sicher zu stellen.
  • Aus der US-Patentschrift 5,623,872 ist ein Verfahren zum Drucken von Lötpaste auf eine gedruckte Leiterplatte bekannt, in dem die Leiterplatte von der Schablonenplatte unter Verwendung von ruckartigen Bewegungen, die aus einer Folge von Geschwindigkeitspulsen bestehen, getrennt wird. Die Geschwindigkeitspulse können entweder von gleicher Amplitude sein oder aus einem ersten Puls mit einer hohen Amplitude bestehen, der von Pulsen mit allmählich zunehmender Geschwindigkeitsamplitude gefolgt wird.
  • Offenbarung der Erfindung:
  • Es ist daher ein Ziel der Erfindung, ein Siebdruckverfahren anzugeben, das ein gutes Plattentrennvermögen sicherstellt.
  • Dies wird durch die Merkmale des unabhängigen Anspruchs erreicht. Bevorzugte Ausführungsformen sind Gegenstand der abhängigen Ansprüche.
  • In Übereinstimmung mit der Erfindung wird zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs, bei dem das Erzeugnis in der Richtung bewegt wird, in der sich das Erzeugnis von der Schablonenplatte trennt, die Bewegungsgeschwindigkeit bis zu einer oberen Grenzgeschwindigkeit beschleunigt und danach bis zu einer unteren Grenzgeschwindigkeit, wie in den vorliegenden Ansprüchen beschrieben, abgebremst, wobei die Viskosität der Paste in dem Musterloch zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs herabgesetzt wird und ein gutes Plattentrennvermögen über den gesamten Bereich des Trägermaterials sichergestellt werden kann.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen:
  • 1 ist eine teilweise Schnittzeichnung einer Siebdruckvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
  • 2 ist eine teilweise Schnittzeichnung der Siebdruckvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
  • 3A bis 3E sind Abbildungen zur Erläuterung eines Siebdruckvorgangs in der Siebdruckvorrichtung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
  • 4A bis 4C sind Diagramme und Abbildungen zur Erläuterung eines Plattentrennungsvorgangs in dem Siebdruckvorgang gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
  • 5A bis 5C sind Diagramme, die Plattentrennungsvorgangsmuster in dem Siebdruckvorgang gemäß einer Ausführungsform der Erfindung zeigen;
  • 6 ist ein Diagramm, das ein Plattentrennungsvorgangsmuster in dem Siebdruckvorgang gemäß einer Ausführungsform der Erfindung zeigt;
  • 7A bis 7E sind Diagramme, die Plattentrennungsvorgangsmuster in dem Siebdruckvorgang gemäß einer Ausführungsform der Erqfindung zeigen;
  • Beste Art und Weise zur Ausführung der Efindung:
  • Als nächstes wird unter Bezugnahme auf die Zeichnungen eine Ausführungsform der Erfindung beschrieben. 1 und 2 sind teilweise Schnittzeichnungen einer Siebdruckvorrichtung in einer Ausführungsform der Erfindung, 3A bis 3E sind Abbildungen, die einen Siebdruckvorgang in der Siebdruckvorrichtung in einer Ausführungsform der Erfindung zeigen, 4A bis 4C sind ein Diagramm und Abbildungen, die einen Plattentrennungsvorgang in dem Siebdruckvorgang in einer Ausführungsform der Erfindung zeigen, und 5A bis 5C, 6, und 7A bis 7E sind Diagramme, die Plattentrennungsmuster in dem Siebdruckvorgang in einer Ausführungsform der Erfindung zeigen.
  • Zunächst wird unter Bezugnahme auf 1 und 2 der Aufbau der Siebdruckvorrichtung beschrieben. In 1 umfasst eine Substratpositionierungseinheit 1 einen Y-Achsentisch 2, in einen X-Achsentisch 3, einen Q-Achsentisch 4 und einen Z-Achsentisch 5, die übereinander gelagert sind. Auf dem Z-Achsentisch 5 ist eine Substrataufnahmeeinheit (6) angeordnet, die die Unterseite eines Substrats 7 aufnimmt, das das zu bedruckende Werkstück ist, und hält das Substrat 7. Das Substrat 7 auf der Substrataufnahmeeinheit 6 ist durch die Klemme 8 festgeklemmt.
  • Wie in 2 gezeigt, enthält der Q-Achsentisch 4 eine Drehplatte 4a, die sich durch einen Schaft 16 um eine vertikale Achse dreht, und der Schaft 16 wird über einen Riemen 17 durch einen Q-Motor 15 angetrieben, so dass sich die Drehplatte 4a um eine vertikale Achse dreht. Der Z-Achsentisch 5 enthält eine Auf- und Ab-Platte 5a, die durch einen Gleitschaft 18 geführt wird, um sich auf und ab zu bewegen, und eine vertikale Vorschubschraube 21 ist in eine Schraubenmutter 22 eingepasst, die auf der Auf- und Ab-Platte 5a befestigt ist. Die Vorschubschraube 21 wird durch einen Schneckenantrieb 20 über einen Z-Motor 19 angetrieben und der Antrieb des Z-Motors 19 bewegt die Auf- und Abplatte 5a auf und ab, wodurch sich das Substrat 7 auf der Substrataufnahmeeinheit 6 auf und ab bewegt.
  • Der Z-Motor 19 wird über eine Z-Achsen-Antriebseinheit 23 angetrieben und die Z-Achsen-Antriebseinheit 23 wird durch einen Steuerabschnitt 24 gesteuert. In einem Plattentrennungsmusterspeicher 25 ist ein Plattentrennungsvorgangsmuster gespeichert, welches später beschrieben wird. In einem Siebdruckvorgang steuert der Steuerabschnitt 24 die Z-Achsenantriebseinheit 23 auf Basis des Plattentrennungsvorgangsmusters, wodurch der Plattentrennungsvorgang der Trennung des Substrats 7 von einer Schablonenplatte 12 mit dem vorbestimmten Vorgangsmuster durchgeführt werden kann.
  • Über der Substratpositionierungseinrichtung 1 ist ein Siebdruckabschnitt 10 vorgesehen. Der Siebdruckabschnitt 10 enthält eine Schablonenplatte 12, die durch einen rahmenförmigen Halter 11 gehalten wird. Auf der Schablonenplatte 12 ist eine Rakeleinheit 13 vorgesehen, die in Y-Richtung durch einen Rakelbewegungstisch (nicht eingezeichnet) bewegt werden kann. Wie in 1 gezeigt, enthält die Rakeleinheit 13 ein Paar von Rakeln 14, die über einen Zylinder 15 auf und ab bewegt werden. Wenn das Substrat 7 mit der Unterseite der Schablonenplatte 12 in Kontakt gebracht wurde, wird der Zylinder 15 angetrieben, wodurch der Rakel 14 abgesenkt wird und sein unteres Ende mit der Oberseite der Schablonenplatte 12 in Kontakt kommt.
  • Als nächstes wird unter Bezugnahme auf die 3A bis 3E der Siebdruckvorgang beschrieben. In dem hier auszuführenden Siebdruck wird Lötpaste auf das Substrat 7 gedruckt, um Lothügel auf dem Substrat 7 zu bilden. Außerdem wird eine dünne Schablonenmaske 12 verwendet, in der die Musterlöcher 12a mit hoher Dichte ausgebildet sind. Das Drucken mit dieser Art von Schablonenplatte ist sehr schwierig und insbeson dere bei dem Plattentrennungsvorgang nach dem Rakelvorgang ist es schwierig, die Platten gleichmäßig über den gesamten Bereich des Substrats zu trennen.
  • Obwohl nämlich die Haftkraft groß ist bei der Plattentrennung, da die Musterlöcher mit hoher Dichte vorgesehen sind, und da die Schablonenplatte selbst dünn und leicht zu biegen ist, kann die Schablonenplatte beim Trennen der Platten leicht nach unten gezogen werden, wenn das Substrat nach unten bewegt wird. Demzufolge wird ein Zeitunterschied beim Trennen der Platten zwischen dem Randbereich des Substrats und seinem mittleren Bereich erzeugt, so dass es schwierig ist, die Parameter für eine gleichförmige Plattentrennung einzustellen. Der in der Ausführungsform gezeigte Siebdruck wird auf einen derartigen, hochgradig schwierigen Siebdruck zur Bildung der Lothügel angewendet, und die Sicherheit eines guten und gleichförmigen Plattentrennvermögens wird durch das folgende Verfahren realisiert.
  • Wie in 3A gezeigt, wird das Substrat 7 auf der Substrataufnahmeeinheit 6 zwischen die Klemmen 8' gelegt und von ihnen festgehalten und der Z-Achsentisch 5 wird angetrieben, um die Substrataufnahmeeinheit 6 anzuheben. Dadurch hebt sich das Substrat 7 und wird mit der Unterseite der Schablonenplatte 12 in Kontakt gebracht (Schablonenauflegeschritt). Dabei wird die Oberseite des Substrats 7 um einen vorbestimmten Betrag H weiter angehoben, um von unten von der normalen Höhenposition der Unterseite der Schablonenplatte 12 zu drücken, so dass der Kontakt zwischen dem Substrat 7 und der Schablonenplatte 12 in einem Zustand unter Druck von unten ist.
  • Wie als nächstes in 3B gezeigt wird, wird der Rakel 14 mit der Schablonenplatte 12 in Kontakt gebracht, und der Rakel 14 wird horizontal bewegt, wobei die Lötpaste 9 auf der Schablonenplatte 12 aufgebracht wird. Durch diesen Rakelvorgang wird, wie in 3C gezeigt wird, die Lötpaste 9 in jedes der Musterlöcher 12a gefüllt (Rakelschritt).
  • Als nächstes wird der Plattentrennungsvorgang ausgeführt. Der Z-Achsentisch 5 wird angetrieben, um die Substrataufnahmeeinheit 6 abzusenken und das Substrat 7 wird von der Unterseite der Schablonenplatte 12 getrennt, wobei die in die Musterlöcher 12 gefüllte Fluidpaste 9 auf dem Substrat 7 kleben bleibt. Dabei wird, wie in 3D gezeigt, die Trennung des Substrats 7 von der Schablonenplatte 12 vom Randbereich des Substrats 7 aus gestartet. Wenn die Trennung des Randbereichs gestartet wurde, wird der mittlere Bereich des Substrats 7 eng an der Schablonenplatte kleben gelassen.
  • Danach wird die Substrataufnahmeeinheit 6 weiter abgesenkt, wodurch, wie in 3E gezeigt, sich die Schablonenplatte 12 von der Oberseite des Substrats 7 im ganzen Bereich des Substrats 7 trennt, und die Plattentrennung schrittweise ausgeführt wird (Plattentrennungsschritt). Damit ist der Siebdruckvorgang des Druckens der Lötpaste 9 auf die Oberseite des Substrats 7 beendet.
  • Unter Bezugnahme auf die 4A bis 4C wird als nächstes ein Vorgangsmuster des Plattentrennungsvorgangs in dem obigen Siebdruckvorgang beschrieben. 4A zeigt ein Geschwindigkeitsmuster des Z-Motors 19 in diesem Plattentrennungsvorgang. Dabei wird der Plattentrennungsvorgang durch eine Beziehung zwischen dem absteigenden Weg S, der den Abstiegsbetrag angibt, wenn die Substrataufnahmeeinheit 6 abgesenkt wird, und der Abstiegsgeschwindigkeit V bestimmt.
  • Das Plattentrennungsvorgangsmuster hat eine Form, in der eine Bewegungsgeschwindigkeit (Abstiegsgeschwindigkeit V), bei der das Substrat 7 in der absteigenden Richtung bewegt wird (in der Richtung, in der das Substrat 7 von der Schablonenplatte 12 getrennt wird), gemäß eines gleichmäßigen Musters wiederholt erhöht und verringert wird. Wie in 4A gezeigt, wird nämlich, während das Substrat 7 allmählich in der Reihenfolge der Wege S1, S2, S3 und S4 vom Start des Abstiegs an abgesenkt wird, ein Beschleunigungs- und Entschleunigungsmuster, bei dem die Abstiegsgeschwindigkeit V auf jeweils eine obere Grenzgeschwindigkeit Vu1, Vu2, Vu3 und Vu4 beschleunigt wird und danach auf eine untere Grenzgeschwindigkeit (Geschwindigkeit Null) abgebremst wird, mehrfach wiederholt.
  • Ein Weg S1 entspricht einem anfänglichen Weg S(I) zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs und die Gesamtheit der Wege S2, S3 und S4 entsprechen einem nachfolgenden Weg S(P)7, der sich durch Subtraktion des anfänglichen Weges S(I) von dem gesamten Abstiegsweg S(T) ergibt. Dabei entspricht der gesamte Abstiegsweg S(T) dem Weg, der erforderlich ist, um die in die Musterlöcher 12a gefüllte Lötpaste 9 vollständig von den Musterlöchern 12a im Plattentrennungsvorgang zu trennen. Das Substrat 7 wird nämlich durch den gesamten Abstiegsweg S(T) abgesenkt, wobei der Plattentrennungsvorgang abgeschlossen wird und danach wird das Substrat 7 schnell auf eine Höhe für den Substrattransport abgesenkt.
  • Dabei ist die obere Grenzgeschwindigkeit Vu1 in der ersten Beschleunigung und Entschleunigung größer eingestellt, als die obere Grenzgeschwindigkeit Vu2, Vu3, Vu4 in den nachfolgenden Beschleunigungen und Entschleunigungen. In diesem Platten trennungsvorgangsmuster ist nämlich die anfängliche obere Grenzgeschwindigkeit (Vu1), die die obere Grenzgeschwindigkeit zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs darstellt, größer eingestellt, als die nachfolgenden oberen Grenzgeschwindigkeiten (Vu2, Vu3, und Vu4), die die oberen Grenzgeschwindigkeiten von der Mitte des Plattentrennungsvorgangs an darstellen. Die nachfolgenden oberen Grenzgeschwindigkeiten Vu2, Vu3 und Vu4 zeigen ein Muster (vgl. die durch eine gestrichelte Linie in der Abbildung dargestellte Kurve), in der der Betrag der Abbremsung mit der Zunahme des absteigenden Weges kleiner wird und sie sind so eingestellt, dass der Reihe nach eine sanftere Beschleunigung ausgeführt wird. Mit anderen Worten, die Beschleunigungs- und Entschleunigungsmuster sind in diesen Plattentrennungsvorgang so eingestellt, dass die nachfolgenden oberen Grenzgeschwindigkeiten allmählich kleiner werden.
  • 4B und 4C zeigen die relative Bewegung zwischen dem Substrat 7 und der Schablonenplatte 12 und eine Bewegung der Lötpaste 9 in dem Musterloch 12a jeweils in dem ersten Weg S(I) und dem nachfolgenden Weg S(P). Im anfänglichen Weg S(I), der in 4B dargestellt ist, wirkt eine hohe Beschleunigung aufgrund der Beschleunigung und Entschleunigung der großen oberen Grenzgeschwindigkeit Vu1. Daher wirken stoßartige Scherkräfte auf die Kontaktfläche zwischen der inneren Oberseite des Musterlochs 12a und der eingefüllten Lötpaste 9, wodurch die Viskosität der Lötpaste 9 in der Nähe der Kontaktfläche stark abnimmt.
  • Da bei diesem anfänglichen Weg S(I) der Kontakt zwischen dem Substrat 7 und der Schablonenplatte 12 von unten während des Rakelns unter Druck steht, bewegt sich die Schablonenplatte 12 annähernd in Übereinstimmung mit dem Abstieg des Substrats 7 und die Oberseite des Substrats 7 hat noch nicht begonnen, sich von der Unterseite der Schablonenplatte 12 zu trennen. Daher wird die Absenkung der Viskosität der Lötpaste 9 im gesamten Bereich des Substrats 7 erreicht. Zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs, bei dem Substrat 7 durch den anfänglichen Weg (S) abgesenkt wird, ist es möglich, das Plattentrennvermögen gleichförmig zu verbessern, wenn sich die Lötpaste 9 von dem Musterloch 12a über den gesamten Druckbereich des Substrats 7 hinweg trennt.
  • In dem nachfolgenden Weg S(P), bei dem das Substrat 7 sich über den Betrag h zum Andrücken von unten, wie in 3A gezeigt, absenkt, beginnt außerdem das Substrat 7 sich von der Schablonenplatte 12 wie in 4B gezeigt, zu trennen. Da sich das Substrat 7 dabei absenkt, während es die Beschleunigung und Abbremsung wiederholt, wir ken die stoßartigen Scherkräfte wiederholt auf die Kontaktfläche zwischen der inneren Oberfläche des Musterlochs 12a und der eingefüllten Lötpaste 9, wodurch die Abnahme der Viskosität der Lötpaste 9 in der Nähe der Kontaktfläche auch in den nachfolgenden Wegen S(P) anhält. Selbst wenn die Erfindung auf ein Substrat mit hoher Druckdichte angewendet wird, kann der Plattentrennungsvorgang ohne Nachteile realisiert werden, so dass ein gutes Druckergebnis erzielt werden kann.
  • 5A bis 5C und 6 zeigt andere Beispiele des Plattentrennungsmusters. 4A bis 5C zeigen drei Musterbeispiele, die sich in der Kombination der oberen Grenzgeschwindigkeiten des Beschleunigungs- und Entschleunigungsmusters in den aufeinanderfolgenden Wegen S(P) unterscheiden. 5A zeigt ein Beispiel, in dem mehrere Beschleunigungs- und Entschleunigungsmuster (vgl. die durch eine gestrichelte Linie dargestellte gerade Linie in der Abbildung) so eingestellt sind, dass die nachfolgenden oberen Grenzgeschwindigkeiten Vu2, Vu3 und Vu4 linear mit der Zunahme des Abstiegswegs abnehmen. 5B zeigt ein Beispiel, in dem mehrere Beschleunigungs- und Entschleunigungsmuster (vgl. die durch eine gestrichelte Linie in der Abbildung dargestellte Kurve) so eingestellt sind, dass der Betrag der Abbremsung der nachfolgenden oberen Grenzgeschwindigkeiten Vu2, Vu3 und Vu4 mit der Zunahme des Abstiegswegs zunehmen. Außerdem kann in dem nachfolgenden Weg S(P), wie in 5C gezeigt, das Substrat 7 mit konstanter Geschwindigkeit V2 abgesenkt werden, die kleiner ist als die anfängliche obere Grenzgeschwindigkeit Vu1.
  • 6 zeigt ein Beispiel, in dem mehrere Beschleunigungs- und Entschleunigungsmuster so eingestellt sind, dass die Beschleunigung und Abbremsung mit der gleichen anfänglichen oberen Grenzgeschwindigkeit Vu1 für eine kurze Zeit in dem anfänglichen Weg S(I) wiederholt werden und danach die nachfolgenden oberen Grenzgeschwindigkeiten Vu2, Vu3 und Vu4 allmählich abnehmen. In diesem Beispiel wirkt eine hohe Beschleunigung wiederholt auf die Lötpaste 9 in dem Musterloch 12a zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs. Daher kann die Viskosität der Lötpaste 9 in der Kontaktfläche mit dem Musterloch 12a stark herabgesetzt werden, so dass sich das Plattentrennungsvermögen stark verbessert.
  • In den 4A bis 6 gezeigten Beschleunigungs- und Entschleunigungsmustern ist die untere Grenzgeschwindigkeit auf Null gesetzt und der Abstiegsvorgang wird vorübergehend gestoppt. Es ist jedoch nicht immer nötig, die untere Grenzgeschwindigkeit auf Null zu setzen. Solange nämlich die Beschleunigungs- und Entschleunigungsbedin gungen so eingestellt sind, dass der Lötpaste 9 in dem Musterloch 12a durch die plötzliche Beschleunigung und Abbremsung, die durch die Beschleunigung der Abstiegsgeschwindigkeit bis zu einer oberen Grenzgeschwindigkeit nach der Abbremsung der Abstiegsgeschwindigkeit erzeugt wird, ein Stoß gegeben wird, kann die untere Grenzgeschwindigkeit auf jeden Wert gesetzt werden.
  • Wie oben beschrieben, wird in dem in der Ausführungsform gezeigten Siebdruckverfahren die Beschleunigung und Abbremsung bei der hohen oberen Grenzgeschwindigkeit zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs ausgeführt, wodurch die stoßartige Beschleunigung auf die Lötpaste 9 in dem Musterloch 12a ausgeübt wird, so dass sich die Viskosität der Lötpaste 9 absenkt.
  • Selbst im Fall einer dünnen Schablonenplatte mit einer hohen Dichte von Musterlöchern, wie sie zum Drucken von Lötpaste zur Bildung von Lothügeln verwendet wird, tritt das Problem des herkömmlichen Siebdrucks nicht auf, bei dem durch die Zeitverzögerung beim teilweisen Ablösen des Substrats von der Schablonenplatte eine Ungleichmäßigkeit der Plattentrennung verursacht wird, so dass es möglich ist, die gleichförmige Qualität des Drucks sicherzustellen.
  • In den in 4A bis 6 dargestellten Beschleunigungs- und Entschleunigungsmustern wird in dem Abbremsvorgang nachdem die Bewegungsgeschwindigkeit zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs auf die obere Grenzgeschwindigkeit angehoben wurde, die Beschleunigung und Abbremsung wiederholt. In einer Ausführungsform, die nicht mit den vorliegenden Ansprüchen übereinstimmt, kann dieser Abbremsvorgang mit den in 7A bis 7E gezeigten Mustern ausgeführt werden. Wie nämlich in den 7A, 7B, 7C, 7D und 7E gezeigt wird, wird in dem Abbremsvorgang, nachdem die Bewegungsgeschwindigkeit auf die obere Grenzgeschwindigkeit zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs erhöht wurde, die Abbremsung kontinuierlich ohne Wiederholung der Beschleunigung und Entschleunigung durchgeführt.
  • Hier entsprechen die in 7A, 7B, 7C, 7D und 7E gezeigten Muster jeweils den Beschleunigungs- und Entschleunigungsmustern, die in 4A, 5A, 5B, 5C und 6 gezeigt sind, und sie sind Muster, in denen die Bewegungsgeschwindigkeit gemäß einer einhüllenden Kurve (vgl. die gestrichelten Linien in 4, 5A und 5B), die die aufeinanderfolgenden oberen Grenzgeschwindigkeiten verbindet, kontinuierlich abgebremst wird. In derartigen Beschleunigungs- und Entschleunigungsmustern wird die stoßartige Beschleunigung auf die Lötpaste in dem Musterloch 12a zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs angewendet, so dass die Viskosität der Lötpaste 9 herabgesetzt wird.
  • Zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs, bei dem das Werkstück in der Richtung bewegt wird, in der sich das Werkstück von der Schablonenplatte trennt, wird in Übereinstimmung mit dieser Erfindung die Bewegungsgeschwindigkeit auf eine obere Grenzgeschwindigkeit beschleunigt und danach auf eine untere Grenzgeschwindigkeit abgebremst, wodurch die Viskosität der Paste in dem Musterloch zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs herabgesetzt wird und ein gutes Plattentrennungsvermögen über den gesamten Bereich des Substrats sichergestellt werden kann. Außerdem wird die obere Grenzgeschwindigkeit zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs, bei dem das Beschleunigungs- und Entschleunigungsmuster, bei dem die Bewegungsgeschwindigkeit mit der das Werkstück in der Richtung bewegt wird, in der das Werkstück sich von der Schablonenplatte trennt, und danach auf die untere Grenzgeschwindigkeit abgebremst wird, mehrfach wiederholt wird, größer eingestellt, als die nachfolgenden oberen Grenzgeschwindigkeiten von der Mitte des Plattentrennungsvorgangs an, wodurch ein besseres Plattentrennungsvermögen sichergestellt werden kann.

Claims (3)

  1. Siebdruckverfahren zum Drucken von Paste auf ein Werkstück (7) durch Musterlöcher (12a), die in der Schablonenplatte (12) ausgeformt sind, mit: einem Schablonenanbringungsschritt, in dem das Werkstück (7) mit der Unterseite der Schablonenplatte (12) in Kontakt gebracht wird; einem Rakelschritt, in dem ein Rakel (14) im Schablonenanbringungszustand auf der Schablonenplatte (12) bewegt wird, um so die Paste (9) in die Musterlöcher zu füllen; einem Plattentrennungsschritt, in dem das Werkstück (7) schrittweise von der Schablonenplatte (12) durch einen Plattentrennungsvorgang getrennt wird, wobei mehrmals ein Beschleunigungs- und Abbremsmuster wiederholt wird, indem eine Bewegungsgeschwindigkeit, mit der das Werkstück (7) in der Richtung bewegt wird, in der das Werkstück (7) von der Schablonenplatte (12) getrennt wird, bis zu einer oberen Grenzgeschwindigkeit (Vu1-Vu4) beschleunigt wird und danach auf eine untere Grenzgeschwindigkeit abgebremst wird; wobei eine anfängliche obere Grenzgeschwindigkeit (Vu1), die die obere Grenzgeschwindigkeit des Plattentrennungsvorgangs darstellt, höher eingestellt wird als nachfolgende obere Grenzgeschwindigkeiten (Vu2-Vu4), die die oberen Grenzgeschwindigkeiten von der Mitte des Plattentrennungsvorgangs an darstellen; dadurch gekennzeichnet, dass eine Mehrzahl der Beschleunigungs- und Abbremsmustern so eingestellt sind, dass die aufeinander folgenden oberen Grenzgeschwindigkeiten (Vu1-Vu4) allmählich verlangsamt werden.
  2. Siebdruckverfahren nach Anspruch 1, wobei zu Beginn des Plattentrennungsvorgangs eine Mehrzahl von Beschleunigungs- und Abbremsmustern so eingestellt sind, dass die Beschleunigung und Abbremsung bei der anfänglichen oberen Grenzgeschwindigkeit (Vu1) wiederholt wird.
  3. Siebdruckverfahren nach Anspruch 1, wobei in dem Plattentrennungsvorgang das Werkstück (7) von der Schablonenmaske (12) dadurch getrennt wird, dass das Werkstück (7) abgesenkt wird.
DE60314762T 2002-08-30 2003-08-15 Siebdruckverfahren Expired - Lifetime DE60314762T2 (de)

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JP2002254315 2002-08-30
PCT/JP2003/010384 WO2004020209A1 (en) 2002-08-30 2003-08-15 Screen printing method

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