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Gebiet der Erfindung
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Diese
Erfindung betrifft Verfahren zur Herstellung von elektromagnetischen
Störbeeinflussungs-Abschirmungen
(„electromagnetic
interference"; EMI;
zu deutsch EMV")
und die dadurch hergestellten EMV-Abschirmungen.
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Hintergrund der Erfindung
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Wie
hierin verwendet soll der Begriff EMI bzw. EMV dahin gehend verstanden
werden, dass er sich allgemein sowohl auf elektromagnetische Störbeeinflussungsemissionen
als auch Hochfrequenzstörungsemissionen
(radio frequency interference; RFI) bezieht, und der Begriff elektromagnetisch
soll dahin gehend verstanden werden, dass er sich allgemein auf
elektromagnetische und Hochfrequenzen bezieht.
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Während des
Normalbetriebs erzeugt ein elektronisches Gerät unerwünschte elektromagnetische Energie,
die den Betrieb eines in der Nähe
angeordneten elektronischen Gerätes
aufgrund von EMI-Übertragung mittels
Strahlung und Konduktion beeinflussen kann. Die elektromagnetische
Energie kann einen großen
Bereich von Wellenlängen
und Frequenzen aufweisen. Um die mit elektromagnetischer Störbeeinflussung
verbundenen Probleme zu minimieren, können die Quellen von unerwünschter
elektromagnetischer Energie abgeschirmt und elektrisch geerdet werden.
Die Abschirmung ist dazu bestimmt, sowohl den Eintritt als auch
den Austritt von elektromagnetischer Energie bezüglich eines Gehäuses oder
einer anderen Einfassung zu verhindern, in denen das elektronische
Gerät angeordnet
ist. Da derartige Einfassungen oft Lüftungsöffnungen und -zwischenräume oder
-nähte
zwischen angrenzenden Zugangsplatten und um Türen herum umfassen, ist eine effektive
Abschirmung schwierig zu erreichen, da die Zwischenräume in der
Einfassung die Übertragung
von elektromagnetischer Störbeeinflussung
durch sie hindurch ermöglichen.
Des Weiteren können
in dem Falle von elektrisch leitenden Metalleinfassungen die Zwischenräume den
gewünschten
Faraday-Effekt negativ beeinflussen, in dem sie Unterbrechungen
bei der Leitfähigkeit
der Einfassung bilden, die die Wirksamkeit des Erdleitungspfades
durch die Einfassung gefährden.
Darüber
hinaus kann durch die Bildung eines elektrischen Leitfähigkeitspotentials
an den Zwischenräumen,
das sich erheblich von dem der Einfassung im Allgemeinen unterscheidet,
die Zwischenräume
als Schlitzstrahler wirken, wodurch sich ergibt, dass die Einfassung
selbst zu einer sekundären
EMV-Quelle wird.
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Spezielle
EMV-Dichtungen wurden zur Verwendung bei der Abschirmung von kleinen
Zwischenräumen
in elektronischen Gehäusen
entwickelt. Diese umfassen, sind jedoch nicht beschränkt auf
Metallfederfinger, Drahtgeflechte, leitfähige Textildichtungen (fabric-overfoam)
und leitfähige
Elastomere. Um elektromagnetische Störbeeinflussung wirksam abzuschirmen,
sollte die Dichtung geeignet sein, elektromagnetische Störbeeinflussung
zu absorbieren oder zu reflektieren sowie eine kontinuierliche elektrisch
leitende Strecke über den
Zwischenraum hinweg herzustellen, indem die Dichtung angeordnet
ist.
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Ein
besonders herausforderndes Abschirmthema bei elektronischen Gehäusen betrifft
die Lüftungsöffnung.
In vielen Gehäusen
sind die Öffnungen
wesentlich größer als
die Zwischenräume
entlang der Fugen/Spalten und E-/A-Anschlüsse sind mit Absicht in den
Gehäusen
angeordnet, um das Abführen
von Wärme zu
ermöglichen.
Ohne EMV-Abschirmung
stellen Öffnungen
große
EMV-Undichtigkeitspunkte dar. Ein gemeinsamer Ansatz, um diese Bereiche
abzuschirmen, ist es, Lüftungselemente
zu verwenden, die auch als "vent panels" bekannt sind. Herkömmliche
Lüftungselemente
bestehen aus einem metallischen Wabenmaterial, dass mechanisch in
einen steifen Metallrahmen eingebaut ist. Diese Anordnung wird anschließend mit
irgendeiner Art von EMV-Dichtung, die entlang der Einfassung-/Lüftungselement-Schnittstelle
installiert ist, an der Einfassung befestigt. Die Lüftungselemente
können
im Herstellungszustand verwendet werden oder sie können beschichtet
werden. Preisgünstige
Lüftungselemente,
die in üblicher
Weise aus Aluminiumwaben hergestellt sind, bieten geringere Werte
an Abschirmwirksamkeit und sind von der Struktur her nicht robust.
Bei Anwendungen, die ein sehr robustes Lüftungselement erfordern, das
auch sehr hohe Abschirmwirksamkeitswerte bietet, wird häufig eine
Stahl- oder Blechwabe verwendet. Diese Produkte sind jedoch wesentlich
teuerer.
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Eine
Schlüsseleigenschaft
jedes Lüftungselements
ist die Leichtigkeit, mit der Luft durch die Wabe fließen kann,
da die Kühlleistungsfähigkeit
direkt mit dem Volumen an Luftdurchfluss pro Zeiteinheit in Verbindung steht.
Weiterhin wird bei herkömmlichen
Lüftungselementen
der elektrische Kontakt durch mechanisches Anheften des Metallrahmens
gegen das Wabenmaterial hergestellt, so dass der Metallrahmen eine
Einbuchtung des Wabenmaterials entlang der Kante des Rahmens hervorruft.
Dies gewährleistet
einen guten elektrischen Kontakt, solange der Rahmen nicht an einer
starken Biegung oder einem starken Drehmoment ausgesetzt ist.
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Gehäuse bzw.
Einfassungen für
elektronisches Gerät
verwenden Luftdurchsatz, um Wärme
aus den Gehäusen
abzuführen.
Wabenartige Filter können
in einer Öffnung
an dem Gehäuse
installiert werden, um als Lüftungselemente
zu dienen. Zusätzlich
sorgen wabenartige Filter für
eine SMV-Abschirmung. Beispiele von im Handel erhältlichen
wabenartigen Filtern sind bezeichnet mit „Commercial Honeycomb Ventilation
Panels" und „BE 11
ALUHONYCOMB FILTERS" Lüftungselemente,
hergestellt von der Firma Laird Technologies, Inc. (früher bekannt
als Instrument Specialties Co. und Advanced Performance Materials).
Ein weiteres Beispiel von kommerziell erhältlichen Wabenfiltern ist mit
RF CORE Wabenkernen bezeichnet, hergestellt von der Firma R & F Products, mit
Sitz in San Marcos, CA. Andere ähnliche
kommerziell erhältliche
Lüftungselemente werden
von der Firma Tecknit mit Sitz in Cranford, NJ und Chomerics mit
Sitz in Woburn, MA, hergestellt.
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Wie
in 1 dargestellt umfassen kommerziell erhältliche
Lüftungselemente 10 in
typischer Weise ein wabenartiges Substrat 12 und einen
Rahmen 14. Das wabenartige Substrat 12 ist in
typischer Weise aus sehr dünnen
Streifen aus gewelltem Aluminium hergestellt. In den meisten Fällen werden
eine Klebung, Punktschweißungen
oder andere Befestigungsverfahren verwendet, um das wabenartige
Substrat 12 zusammen zu halten. Zwischen den Aluminiumschichten
sind oft Durchstechungen ausgebildet, um die elektrische Leitfähigkeit
zu verbessern. Das elektrisch leitfähige Aluminiumwabensubstrat 12 kann
optional mit einer leitfähigen Schicht
bedeckt sein, um die elektrische Leitfähigkeit über das wabenartige Substrat 12 hinweg
zu verbessern. Einige Beispiele von leitfähigen Schichten sind eine Aluminium-chromatisierte
Schicht oder eine verzinkte Schicht. Diese Beschichtungen können auch
hinzugefügt
werden, um die Widerstandsfähigkeit
gegen Korrosion zu verbessern.
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Wie
in dem Teilquerschnitt in 2 dargestellt
ist der Rahmen 14 an das wabenartige Substrat angeheftet.
Der Rahmen 14 umfasst feste Klemmfinger 16, um
das wabenartige Substrat zu greifen. Der Rahmen 14 und
das wabenartige Substrat 12 sind in elektrischer Verbindung
miteinander, so dass von dem wabenartigen Substrat 12 erfasste
SMV-Emissionen von dem wabenartigen Substrat 12 auf den
Rahmen 14 und letztlich auf das elektronische Gehäuse übertragen
werden können.
Die Gestalt dieser Klemmfinger 16 ergibt einen Leitungskontakt
zwischen dem Rahmen 14 und dem wabenartigen Substrat 12.
Dieses Merkmal kann das Lüftungselement 10 anfällig für lokale
EMV-Streuverluste machen, wenn ein Verdrehen und Erschüttern des
Lüftungselements 10 den
Kontaktbereich verschlechtert. Darüber hinaus schränkt der
Bedarf nach Klemmfingern 16 in dem Metallprofil ein, wie schmal
der Rahmen 14 hergestellt werden kann, typischer Weise
nicht weniger als 0,25 Zoll breit.
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Wie
in 3 dargestellt ist das Lüftungselement 10 in
einer Öffnung 18 installiert,
die in einem Gehäuse 20 für elektronisches
Gerät ausgebildet
ist. Eine SMV-Dichtung 22 ist an dem Lüftungselement 10 um
dessen Umfang herum befestigt, um EMV-Verluststrecken zwischen dem
Gehäuse 20 und
dem Lüftungselement 10 abzudichten.
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Das
Lüftungselement 10 erlaubt
den Luftdurchsatz durch das wabenartige Substrat 12, um
zu belüften und
das elektronische Gerät
innerhalb des Gehäuses 20 zu
kühlen.
Da elektronische Anwendungen immer höhere Taktraten erreichen und
da elektronische Bauteile enger in das Gehäuse 20 gepackt werden,
erhöht
sich die innerhalb des Gehäuses 20 erzeugte
Wärme,
was einen größeren Luftdurchsatz
erforderlich macht. Der Luftdurchsatz durch das Lüftungselement 10 ist
jedoch durch das Vorhandensein des Rahmens 14 begrenzt. Je
nach Gestalt des Lüftungselementes 10 kann
das Vorhandensein des Rahmens 14 den Luftdurchsatz durch die Öffnung 18 um
etwa 5 % bis 15 % oder mehr reduzieren. Herkömmliche Rahmen mit dem Merkmal
der Klemmfinger schränken
wegen der Anforderungen der minimalen Breite des Rahmenmaterials
die Möglichkeit in
großem
Maße ein,
den Luftdurchsatz durch das Lüftungselement
zu erhöhen.
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Ein
weiteres Problem mit kommerziell erhältlichen Lüftungselementen 10 ist,
dass sie in typischer Weise aus Aluminium hergestellt sind, das
nicht sehr nachgiebig und deshalb Beschädigungen ausgesetzt ist. Der Mangel
an Nachgiebigkeit resultiert in einer plastischen Verformung der
wabenartigen Filter aufgrund von Stoßeinwirkungen, die während des
Zusammenbaus und der Verwendung im Einsatz auftreten können. Um nach
einer Beschädigung
einen korrekten Luftdurchsatz zu gewährleisten, müssen die
Zellen der Wabe nachgearbeitet werden. Der Nacharbeitungsprozess
ist zeitaufwendig, weil er erforderlich macht, dass die verformten
Aluminiumstreifen verbogen werden, um die Zellen zu öffnen. Sogar
mit Nacharbeit existiert in typischer Weise eine Verschlechterung
des Flusses durch das Lüftungselement 10.
Darüber
hinaus führt
die Nacharbeit oft zu einer ästhetisch
unerwünschten
Optik. Es besteht ein Bedarf nach einem wabenartigen Filter mit
verbesserter Luftdurchsatzfähigkeit
und verbesserter Haltbarkeit.
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WO-97/32459-A
(D1), die als nächstkommender
Stand der Technik betrachtet wird, beschreibt eine Lüftungselement
einschließlich
einer Wabenplatte aus Kunststoff, die eine darauf angeordnete leitfähige Beschichtung
aufweist.
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Zusammenfassung der Erfindung
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Es
ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine verbesserte Haltbarkeit
und einen verbesserten Luftdurchsatz durch EMV-Abschirmungswabenfilter
bereitzustellen und gleichzeitig für eine gewisse Nachgiebigkeit
zu sorgen und Platz einzusparen. Diese Aufgabe wird durch den Gegenstand
mit den Merkmalen des neuen Anspruchs 1 gelöst.
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In
einem Aspekt betrifft die Erfindung ein Lüftungselement, das geeignet
ist, gegen elektromagnetische Störbeeinflussung
abzuschirmen, wobei das Lüftungselement
eine dielektrische Platte aufweist, die eine durch eine erste Seite
und eine zweite Seite definierte Dicke besitzt. Die dielektrische
Platte definiert eine Vielzahl von Öffnungen. Das Lüftungselement
umfasst ebenfalls eine erste elektrisch leitfähige Schicht, die auf die dielektrische
Platte aufgebracht ist. Die resultierende elektrisch leitfähig beschichtete
oder metallisierte dielektrische Platte dämpft eine Übertragung von elektromagnetischer
Energie von einer ersten Seite der Platte auf eine zweite Seite
der Platte. Das Lüftungselement
umfasst ebenfalls eine leitfähige
Umrandung, die sich im Wesentlichen um den Umfang herum erstreckt,
wobei die leitfähige
Umrandung geeignet ist, das Lüftungselement
in elektrische Verbindung mit dem Gehäuse anzuordnen, indem das Lüftungselement
eingebaut ist. In einigen Ausführungsformen
sichert die leitfähige
Umrandung auch das Lüftungselement
auf mechanische Art und Weise innerhalb einer Öffnung in dem Gehäuse. Z.
B. kann die leitfähige
Umrandung nachgiebige Federfinger, Vertiefungen und Kombinationen
davon umfassen, die entlang eines Bandes bereitgestellt werden,
das sich um den Umfang herum erstreckt. Die nachgiebigen Federfinger
und Vertiefungen drücken
gegen eine gegenüberliegende
passende Oberfläche
des Gehäuses
bei der Einrichtung, wodurch sie für einen elektrischen Kontakt
sorgen.
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In
einer Ausführungsform
ist die dielektrische Platte aus einem Polymer wie z. B. Acrylnitril-Butadien-Styrol-Copolymerisat
(ABS), Polycarbonaten, Polysulfonen, Polyamiden und Polypropylenen
gebildet. In einer weiteren Ausführungsform
umfasst die dielektrische Platte eine Vielzahl von Röhren oder
anderen Formen, die zusammen koextrudiert sind. In noch einer weiteren
Ausführungsform
ist die dielektrische Platte durch Spritzguss hergestellt.
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In
einer Ausführungsform
umfasst die elektrisch leitfähige
Schicht eine erste Schicht, die aus der Gruppe ausgewählt ist,
die Kupfer, Nickel, Zinn, Aluminium, Silber, Gold, Graphit, Blei,
Palladium, Kadmium, Zink und deren Kombinationen umfasst. In einer
weiteren Ausführungsform
umfasst die elektrisch leitfähige
Schicht eine zweite elektrisch leitfähige Schicht, die aus demselben
oder einem anderen leitfähigen
Material bestehen kann, wobei die zweite elektrisch leitfähige Schicht
in elektrischer Verbindung mit der ersten elektrisch leitfähigen Schicht
steht.
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In
einer Ausführungsform
ist die Vielzahl von Öffnungen
als zweidimensionales Array von ähnlichen Öffnungen
konfiguriert, wobei jede Öffnung
eine Querschnittsform wie z. B. einen Kreis, ein Sechseck und ein Rechteck
usw. aufweist.
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Es
ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren
zur Herstellung eines Lüftungselements
bereitzustellen, das einen verbesserten Luftdurchsatz durch EMV-Abschirmungswabenfilter
bietet.
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Diese
Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 18 gelöst.
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Demgemäß betrifft
die Erfindung ein Verfahren zur Herstellung eines Lüftungselements,
das geeignet ist, gegen elektromagnetische Störbeeinflussung abzuschirmen.
Das in geeigneter Weise angepasste Lüftungselement wird durch Bereitstellen
einer dielektrischen Platte, die eine Dicke aufweist, die durch
eine erste Seite und eine zweite Seite definiert ist, und durch
Definieren eines Arrays von Öffnungen
hergestellt. Eine erste elektrisch leitfähige Schicht wird auf die dielektrische
Platte aufgebracht.
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Das
Verfahren umfasst des Weiteren das Formen des beschichteten Lüftungselements
und die Bereitstellung einer Umrandungsbehandlung, so dass sich
eine elektrisch leitfähige
Umrandung bildet, die sich im Wesentlichen um den Umfang herum erstreckt
und den Rand des Lüftungselements
definiert, mittels nach außen
hervorstehender Abschnitte gebildet wird, und so dass die leitfähige Umrandung
geeignet ist, das Lüftungselement
innerhalb einer durch das Gehäuse
definierten Öffnung
mechanisch zu befestigen.
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In
einer Ausführungsform
wird eine erste elektrisch leitfähige
Schicht unter Verwendung von einem oder mehreren der Verfahren stromloses Überziehen,
Hochfrequenzaufdampfen, Gleichstrombedampfen oder Abscheidung aus
der Dampfphase aufgebracht. In einigen Ausführungsformen wird eine zweite
elektrisch leitfähige
Schicht unter Verwendung dessel ben oder eines unterschiedlichen
Plattierungsverfahrens aufgebracht.
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In
einer Ausführungsform
wird die dielektrische Platte durch das zusammen Befestigen einer
Vielzahl von dielektrischen Röhren
bereitgestellt. In einer weiteren Ausführungsform wird die dielektrische
Platte durch gemeinsames Koextrudieren einer Anzahl von Röhren bereitgestellt.
In einer weiteren Ausführungsform
wird die dielektrische Platte durch Spritzgießen bereitgestellt. Und in
noch einer weiteren Ausführungsform
wird die dielektrische Platte durch spanabhebende Bearbeitung bereitgestellt.
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In
einer Ausführungsform
ist die mit einer elektrisch leitfähigen Schicht beschichtete
dielektrische Platte verjüngt,
um eine passgenaue mechanische Passung bereitzustellen, die ebenfalls
einen guten elektrischen Kontakt aufweist. In einer weiteren Ausführungsform
ist die dielektrische Platte wahlweise entlang ihrer Ränder eingeschnitten,
um eine "Federfinger"-Wirkung bereitzustellen,
die zusammen mit den ganzen Zellen entlang ihres Umfangs eine passgenaue
Einpassung durch Zusammendrücken
durch Zellen und/oder von Abschnitten der Zellen entlang ihres Umfangs
bereitstellen. In einer weiteren Ausführungsform wird ein elektrisch
leitfähiger Streifen
mit zusammendrückbaren
Fingern und/oder Vertiefungen auf den Umfang des metallisierten
dielektrischen Lüftungselements
aufgebracht, so dass die zusammendrückbaren Finger und/oder Vertiefungen
einen Kontakt mit einer gegenüberliegenden
Oberfläche
bilden, z. B. einem Gehäuse,
wodurch eine feste mechanische Passverbindung und ein guter elektrischer
Kontakt hergestellt wird.
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Es
ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren
zur Verwendung dielektrischen Lüftungselements
bereitzustellen, das einen verbesserten Luftdurchsatz durch EMV-Abschirmungswabenfilter bietet.
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Diese
Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 26 gelöst.
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Demgemäß weist
ein Verfahren zur Verwendung eines dielektrischen Lüftungselementes,
das geeignet ist, gegen elektromagnetische Störbeeinflussung auf EMI abzuschirmen,
das Einfügen
eines dielektrischen Lüftungselements
in eine durch ein Gehäuse
definierte Öffnung,
wobei das Lüftungselement
eine dielektrische Platte aufweist, die eine durch eine erste Seite
und eine zweite Seite definierte Dicke aufweist, und die eine Vielzahl
von Öffnungen
definiert, die sich von der ersten zur zweiten Seite erstrecken
und die einen Umfang definieren, der im Wesentlichen senkrecht zu
den ersten und zweiten Seiten ist, wobei eine erste elektrisch leitfähige Schicht
auf die dielektrische Platte aufgebracht ist, und wobei die dielektrische
Platte in elektrischer Verbindung mit dem Gehäuse steht, wobei nach außen hervorstehende
Abschnitte eine leitfähige
Umrandung bilden, die sich im Wesentlichen um den Umfang herum erstreckt
und die eine Umrandung des Lüftungselements
definiert, auf. Es weist ebenfalls das mechanische Befestigen des
Lüftungselementes
an dem Gehäuse unter
Verwendung der leitfähigen
Umrandung auf.
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Kurze Beschreibung der Figuren
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Die
obigen und weiteren Vorteile dieser Erfindung können durch Bezugnahme auf die
nachfolgende Beschreibung in Verbindung mit den beigefügten Figuren
besser verstanden werden, in denen:
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1 eine
schematische Abbildung eines herkömmlichen Aluminium-Luftfilters
ist;
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2 eine
schematische Darstellung eines Teilquerschnitts eines Aluminiumwaben-Substrats und eines
Rahmens für
den herkömmlichen
Aluminium-Luftfilter ist;
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3 eine
schematische Darstellung des herkömmlichen Aluminium-Luftfilters
ist, der in einer Öffnung
in einem Gehäuse
für elektronische
Geräte
eingebaut ist;
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4 eine
schematische Abbildung ist, die eine perspektivische Ansicht eines
Querschnitts eines metallisierten dielektrischen Wabenfilters darstellt;
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5 ein
Flussdiagram ist, das eine Ausführungsform
eines Prozesses zur Bereitstellung bestimmter Ausführungsformen
der Erfindung ist;
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6A eine
schematische Abbildung eines weiteren metallisierten dielektrischen
Wabenfilters ist;
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6B eine
Explosionsansicht einer Zelle aus dem metallisierten dielektrischen
Wabenfilter in 6A ist;
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7A eine
schematische Abbildung eines metallisierten dielektrischen Wabenfilters
ist, der horizontal in einer Öffnung
in einem Gehäuse
für elektronische
Geräte
ein gebaut ist;
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7B eine
Querschnittansicht des metallisierten dielektrischen Wabenfilters
ist, der horizontal in einer Öffnung
in einem Gehäuse
für elektronische
Geräte
eingebaut ist, genommen entlang des Schnittes 7B-7B aus 7A;
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7C eine
schematische Abbildung eines metallisierten dielektrischen Wabenfilters
ist, abgewinkelt in Dickerichtung, der vertikal in einer Öffnung in
einem Gehäuse
für elektronische
Geräte
eingebaut ist;
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7D eine
Querschnittansicht des metallisierten dielektrischen Wabenfilters
ist, abgewinkelt in Dickerichtung, der vertikal in einer Öffnung in
einem Gehäuse
für elektronische
Geräte
eingebaut ist, genommen entlang des Schnittes 7D-7D aus 7C;
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7E eine
Querschnittansicht einer alternativen Ausführungsform des metallisierten
dielektrischen Wabenfilters ist, der eine Fugenumrandung entlang
seines Umfangs aufweist, der vertikal in einer Öffnung in einem Gehäuse für elektronische
Geräte
eingebaut ist, genommen entlang des Schnittes 7D-7D aus 7C;
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7F ist
eine schematische Abbildung von metallisierten dielektrischen Wabenfiltern,
abgewinkelt in Dickerichtung, die vertikal eingebaut sind und eines
weiteren Filters, der horizontal in einer Einfassung für elektronische
Geräte
eingebaut ist;
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7G eine
schematische Abbildung einer sich verjüngenden metallisierten dielektrischen
Wabenfilters ist, der horizontal in einer Öffnung in einem Gehäuse für elektronische
Geräte
eingebaut ist;
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7H eine
Querschnittansicht des sich verjüngenden
metallisierten dielektrischen Wabenfilters ist, der horizontal in
einer Öffnung
in einem Gehäuse
für elektronische
Geräte
eingebaut ist, genommen entlang des Schnittes 7H-7H aus 7G;
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7I eine
schematische Abbildung eines sich verjüngenden metallisierten Wabenfilters
ist, der horizontal in einer Öffnung
in einem Gehäuse
für elektronische
Geräte
eingebaut ist;
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8A eine
schematische Abbildung ist, die eine Draufsicht eines Bandrahmens
veranschaulicht, der ein metallisiertes dielektrisches Wabenlüftungselement
umgibt, in dem der Bandrahmen horizontale Federfinger aufweist;
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8B eine
schematische Darstellung ist, die eine Vorderansicht des Bandrahmens
veranschaulicht, in der der Bandrahmen horizontale Federfinger aufweist;
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8C eine
schematische Darstellung ist, die eine Seitenansicht des Bandrahmens
veranschaulicht, in der der Bandrahmen horizontale Federfinger aufweist;
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8D eine
schematische Darstellung ist, die eine Vorderansicht eines alternativen
Bandrahmens darstellt, in der der Bandrahmen vertikale Federfinger
aufweist;
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8E eine
schematische Darstellung ist, die eine Seitenansicht des alternativen
Rahmens ist, in der der Bandrahmen vertikale Federfinger aufweist;
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8F eine
schematische Darstellung ist, die eine Draufsicht eines Bandrahmens
ist, der ein metallisiertes dielektrisches Wabenlüftungselement
umgibt, in dem der Bandrahmen längliche
Vertiefungen aufweist;
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8G eine
schematische Darstellung ist, die eine Vorderansicht des Bandrahmens
ist, in der der Bandrahmen längliche
Vertiefungen aufweist;
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8H eine
schematische Darstellung ist, die eine Seitenansicht des Bandrahmens
veranschaulicht, in der der Bandrahmen längliche Vertiefungen aufweist;
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8I eine
schematische Darstellung ist, die eine Draufsicht eines alternativen
Bandrahmens veranschaulicht, der ein metallisiertes dielektrisches
Wabenlüftungselement
umgibt, in dem der Bandrahmen kreisförmige Vertiefungen aufweist;
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8J eine
schematische Darstellung ist, die eine Vorderansicht des alternativen
Bandrahmens veranschaulicht, in der der Bandrahmen kreisförmige Vertiefungen
aufweist;
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8K eine
schematische Darstellung ist, die eine Draufsicht eines metallisierten
dielektrischen Wabenlüftungselements
veranschaulicht, das von einem Rahmen mit dünnem Profil umgeben ist, in
dem der Rahmen kleine horizontale Randnasen und Federfinger aufweist;
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8L eine
schematische Darstellung ist, die eine Vorderansicht des Rahmens
mit dünnem
Profil veranschaulicht, in der der Rahmen kleine horizontale Randnasen
und Federfinger aufweist;
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8M eine
schematische Darstellung ist, die eine Seitenansicht des Rahmens
mit dünnem
Profil veranschaulicht, in der der Rahmen kleine horizontale Randnasen
und Federfinger aufweist;
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9 eine
schematische Darstellung ist, die eine Seitenansicht einer Ausführungsform
eines metallisierten dielektrischen Wabenlüftungselements veranschaulicht,
das von einer komprimierbaren Elastomer-EMV-Dichtung umgeben ist;
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10 ein
Diagramm von EMV-Abschirmtestergebnissen für metallisierte dielektrische
Wabenfilter gemäß bestimmter
Ausführungsformen
der Erfindung ist; und
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11 ein
Diagramm von Luftdurchsatztestergebnissen für metallisierte dielektrische
Wabenfilter gemäß bestimmter
Ausführungsformen
der Erfindung ist.
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Ausführliche Beschreibung der Erfindung
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung können
die Wabenfilter, die für
Luftdurchsatz und EMV-Abschirmung
verwendet werden, durch die Verwendung eines metallisieren dielektrischen
Wabensubstrats und eines rahmenlosen Filterdesigns einen verbesserten
Luftdurchsatz und eine verbesserte Haltbarkeit aufweisen. Das metallisierte
dielektrische Wabensubstrat, das bei einem reduzierten Rahmendesign
verwendet wird, kann auch verwendet werden, um sogar noch eine größere Haltbarkeit
zusammen mit einem verbesserten Luftdurchsatz zu bieten.
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4 zeigt
in perspektivischer Ansicht einen Querschnitt einer Ausführungsform
eines metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50. Der
metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 um fasst ein
dielektrisches wabenartiges Substrat 52 und eine elektrisch
leitfähige
Schicht 54. Wie hierin verwendet bezieht sich der Begriff Wabe
auf ein zweidimensionales Array von Öffnungen mit beliebigem Querschnitt.
Der Öffnungsquerschnitt kann
eine beliebige Form wie z. B. sechseckig, kreisförmig, elliptisch, quadratisch,
rechteckig, dreieckig, parallelogrammförmig oder anders oder eine
Kombination daraus sein. Das dielektrische Wabensubstrat 52 ist ausgewählt, um
verglichen mit herkömmlichen
Aluminiumwabenfiltern eine signifikant verbesserte Nachgiebigkeit
zu bieten. Aufgrund der verbesserten Nachgiebigkeit ist es viel
weniger wahrscheinlich, dass das dielektrische Wabensubstrat 52 permanent
unter Last- oder Stoßbedingungen
verformt wird, die während
der Montage und des normalen Betriebs auftreten können. In
dem durch die Verwendung des dielektrischen Wabensubstrat 52 die
Möglichkeit
der Verformung minimiert wird, wird ein Großteil der Nacharbeit vermieden,
die erforderlich ist, um beschädigte
Aluminiumwabenfilter zu reparieren, um einen korrekten Luftdurchsatz
durch den Filter aufrecht zu erhalten.
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Das
dielektrische Wabensubstrat 52 kann aus einem beliebigen
dielektrischen Material hergestellt sein, z. B. Kunststoff. Z. B.
sind einige Materialien, die für
das dielektrische Wabensubstrat 52 verwendet werden können Acrylnitril-Butadien-Styrol-Copolymerisat
(ABS), Polycarbonat, Polysulfon, Polyamid, Polypropylen, Polyethylen
und Polyvinylchlorid (PVC). Darüber
hinaus können
andere dielektrische Materialien wie Z. B. Glasfaser und Papierprodukte
wie z. B. Aramid (z. B. Kevlar®)-Folien und Aramidfaserpapier
verwendet werden. Dielektrische Wabensubstrate sind kommerziell
erhältlich.
Z. B. Kevlar®-Wabenkerne
(z. B. Ultracor Teil Nr. PN UKF-85-1/4-1.5), Carbon-Wabenkerne (z.
B. Ultracor Teil Nr. UCF-145-3/8-0.8)
sind kommerziell von der Firma Ultracor Inc. mit Sitz in Livermore,
CA, erhältlich,
Aramidfaser-Wabenkerne (z. B. Hexcel Teil Nr. PN HRH-10), Glasfaserwabenkerne
(z. B. Hexcel Teil Nr. HRP) sind kommerziell von der Firma Hexcel
Corp. mit Sitz in Danbury, CT erhältlich, und Polypropylen-Wabenkerne
(z. B. Plascoreteil Nr. PP30-5) sind kommerziell von der Firma Plascore
Inc. mit Sitz in Zeeland, Michigan erhältlich.
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Das
dielektrische Wabensubstrat 52 kann Zellen 53 aufweisen,
die von der Größe her so
bemessen sind, dass sie einer bestimmten Anwendung entsprechen.
Das Substrat 52 kann beschrieben werden, dass es eine Gesamtlänge L und
eine Gesamtbreite W aufweist. Die Abmessungen L und W werden in
typischer Weise durch eine bestimmte Anwendung bestimmt, die im
Allgemeinen mit den Abmessungen einer abzuschirmenden Öffnung übereinstimmen.
Jede der Zellen 53 kann beschrieben werden, dass sie einen
Querschnittsdurchmesser d und eine Dicke t aufweist. Die Abmessungen
(d, t) für
eine Zelle 53 werden im Allgemeinen ausgewählt, um
einen vorbestimmten Wert an elektromagnetischer Störbeeinflussungsleistung
zu bieten, der oft als Abschirmeffektivität bezeichnet wird. Jede Zelle
stellt im Wesentlichen einen Wellenleiter dar, der im Allgemeinen
eine elektromagnetische Störbeeinflussung
(EMI) mit Wellenlängen
(λEMI), die geringer sind als eine Cutoff-Wellenlänge λc (höhere Frequenzen)
durchlässt,
während
er eine elektromagnetische Störbeeinflussung mit
Wellenlängen
größer als λc (d.
h. niedrigere Frequenzen) reflektiert.
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Eine
allgemeine Beziehung, die in Gleichung 1 vorgestellt ist, kann für die Näherung der
Abschirmeffektivität
hinsichtlich der oben angegebenen geometrischen Parameter für eine einzelne
Zelle, gemessen in Dezibel (dB), angegeben werden. Eine geometrieabhängige Konstante
K beträgt
ungefähr
32 für
kreisförmige Zellen
und 27 für
rechteckige Zellen.
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Typischer
Weise kann der Zelldurchmesser d von etwa 1,52 mm (0,06 Zoll) bis
etwa 25,4 mm (1,0 Zoll) reichen, während die Zelldicke t von etwa
3,18 mm (0,125 Zoll) bis 38,1 mm (1,5 Zoll) reicht mit allgemeinen Tiefen
von 6,35 mm (0,25 Zoll) bis 25,4 mm (1,0 Zoll).
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Die
Dichte des dielektrischen Wabensubstrats 52 kann von etwa
32 kg/m3 (2 lb/ft3)
bis ungefähr
320 kg/m3 (20 lb/ft3)
reichen. Durch Auswahl eines dielektrischen Wabensubstrats 52 mit
geringer Dichte kann die Flexibilität des dielektrischen Wabensubstrats
erhöht
werden, wodurch im Allgemeinen die Federkraft in dem Wabensubstrat 52 verringert
wird. Typische Wanddicken reichen von 0,0508 mm (0,002 Zoll) bis
1,27 mm (0,05 Zoll), sind jedoch nicht auf diesen Bereich beschränkt. Für Anwendungen,
bei denen ein robusteres dielektrisches Wabensubstrat 52 erforderlich
ist, kann ein dielektrisches Wabensubstrat 52 mit höherer Dichte oder
eine andere Wabengeometrie gewählt
werden.
-
Um
ein erfindungsgemäßes Lüftungselement
herzustellen, wird in einer Ausführungsform
unter Bezugnahme nun auf 5 ein dielektrisches Lüftungselement
wie z. B. das oben beschriebene Wabensubstrat 52 bereitgestellt
(Schritt 60). Das Wabensubstrat 52 kann durch
Extrusion oder durch Guss (z. B. Spritzguss) als ein integrales
Element bereitgestellt werden. Derartige Gusstechniken sind für Polymersubstrate
gut geeignet. Alternativ kann das Wabensubstrat 52 durch
Kleben oder durch Befestigen einer Vielzahl von gewählten Streifen
zusammen in sonstiger Weise hergestellt werden. Solche Klebetechniken
sind für
Substrate gut geeignet, die aus Fasermaterialien wie z. B. Papier
sowie aus Polymersubstraten gebildet sind. Alternativ kann eine
Mehrzahl von Röhren
in einem planaren Array zusammen befestigt werden, wobei jede Röhre eine
der Zellen 53 bildet, derart dass eine Längsachse
jeder der Röhren
im Allgemeinen parallel zu den Achsen seiner benachbarten Röhren ist.
Das Befestigen kann unter Verwendung einer chemischen Verbindung
wie z. B. eines Klebers, einer Thermoschweißung oder durch eine mechanische
Verbindung wie z. B. eine Heftung erzielt werden. Das Wabensubstrat 52 kann
ebenfalls durch andere Verfahren hergestellt werden wie z. B. durch spanabhebende
Verformung einer Platte des Substratmaterials, z. B. durch Bohren
der Zellen 53 unter Verwendung eines Bohrers, oder durch
Schneiden jeder Zelle unter Verwendung eines Gewindeschneiders bzw. einer
Stanze.
-
Als
nächstes
kann das dielektrische Wabensubstrat 52 zu einer beliebigen
Konfiguration geformt werden (Schritt 62). Z. B. kann ein
planares dielektrisches Substrat 52 in einer beliebigen
gewünschten
planaren Form wie z. B. einem Quadrat, einem Rechteck, einem Kreis
usw. konfiguriert werden, die vorbestimmte Abmessungen aufweist,
um einer zugedachten Öffnung
zu entsprechen. Eine derartige Gesamtformung kann während des
Herstellungsschrittes des Substrats 52 durchgeführt werden.
Z. B. durch wahlweises Verändern der
Gestalt einer Form oder eines Extruders. Die Formgebung kann ebenfalls
nach dem Herstellungsprozess durchgeführt werden. Beispielsweise
kann das Substrat 52 unter Verwendung eines Messers, einer
Säge, einer
Schere, eines Lasers oder einer Stanze geschnitten werden. Darüber hinaus
eignen sich bestimmte dielektrische Substrate wie Z. B. Polymere
für eine
Vielzahl von Herstellungstechniken. Z. B. kann ein dielektrisches
Wabensubstrat 52 derart spanabhebend maschinell hergestellt
werden, so dass ein oder mehrere seiner Ränder entlang seinem Umfang
eine Phase oder eine Nut aufweisen. Noch weiter kann das dielektrische
Substrat 52 so geformt sein, dass es eine konvexe oder
konkave Oberfläche
oder eine Einbuchtung über
einem Abschnitt einer oder beider seiner planaren Oberflächen umfasst.
Eine derartige planare Oberflächenverformung
kann erwünscht
sein, um eine mechanische Einpassung zu erzielen.
-
Um
eine EMV-Abschirmung bereitzustellen, wird eine elektrisch leitfähige Schicht 54 auf
das dielektrische Wabensubstrat 52 aufgebracht, woraus
sich der metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 ergibt.
In einem Verfahren wird eine erste elektrisch leitfähige Schicht
auf das dielektrische Wabensubstrat aufgebracht (Schritt 64).
Die erste dielektrisch leitfähige
Schicht kann unter Verwendung einer Vielzahl von dem Fachmann bekannten
Techniken aufgebracht werden, wie z. B. stromloses Überziehen
oder Abscheidung aus der Dampfphase. Siehe Z. B. US-Patent mit Nr.
5,275,861 an Vaughn und US-Patent mit der Nr. 5,489,489 an Swirbel
et al. Nach der Lehre von Vaughn kann z. B. ein Leiter wie z. B.
Kupfer unter Verwendung eines stromlosen Bades aufgebracht werden.
-
Das
Verfahren des stromlosen Bades ist insbesondere für eine Klasse
von Polymeren gut geeignet, die als plattierbare Kunststoff bekannt
sind. Diese Klasse der Kunststoffe umfasst Acrylnitril-Butadien-Styrol-Copolymerisat
(ABS), und Polycarbonate, zusammen mit anderen polymeren Bestandteilen
wie Z. B. Polysulfonen, Polyamide, Polypropylenen, Polyethylenen
und Polyvinylclorid (PVC). Im Allgemeinen sollte das dielektrische
Wabensubstrat vorbehandelt werden, um jegliche Verunreinigungen
(z. B. Dreck und Öl)
zu entfernen. Je nach Art des Materials kann das Substrat 52 noch
weiter behandelt werden, um seine Anhaftungseigenschaften mit der
ersten elektrisch leitfähigen
Schicht zu verbessern. Z. B. kann die Oberfläche durch mechanische Mittel
abgeschliffen werden (z. B. Schmirgeln oder Sandstrahlen) oder durch
chemische Mittel (z. B. durch Verwendung eines Lösungsmittels zum Weichmachen
oder einer Säure
zum Ätzen).
Eine chemische Vorbehandlung kann ebenfalls hinzugefügt werden,
um die Chemie der Oberfläche
zu verändern,
was seine Eigenschaft weiter verbessert, sich mit der ersten Schicht
chemisch zu verbinden.
-
Andere
Verfahren des Aufbringens der ersten elektrisch leitfähigen Schicht
des Aufbringen einer elektrisch leitfähigen Farbe wie z. B. eines
Lacks oder Schellacks, der mit einem bestimmten Leiter wie z. B.
Kupfer, Silber oder Bronze imprägniert
ist. Noch weitere Verfahren des Aufbringens der ersten elektrisch
leitfähigen Schicht
umfassen Abscheidung aus der Dampfphase wie z. B. Evaporation, einen
nicht thermischen Aufdampfungsprozess (z. B. Metallaufdampfen) und
Gasphasenabscheidung. Aufdampfungstechniken umfassen Hochfrequenz-(RF)
Dioden-, Gleichstrom-(DC) Dioden, Trioden- und Magneton-Aufdampfen.
Abscheidung aus der Dampfphase umfasst Techniken wie Vakuumbedampfen,
reaktive Evaporation und Gasverdampfung.
-
Je
nach gewünschter
Dicke und/oder Bedeckung kann der Schritt des Aufbringens der ersten
elektrisch leitfähigen
Schicht optional wiederholt werden (Schritt 66), so dass
eine oder mehrere zusätzliche
elektrisch leitfähige
Schichten, die im Wesentlichen aus demselben Leiter gebildet sind,
auf das vorbehandelte Substrat 52 aufgebracht werden, wodurch
die Dicke der Schicht erhöht
wird. Bei der Wiederholung des Aufbringens der elektrisch leitfähigen Schicht
kann im Allgemeinen dasselbe Plattierungsverfahren verwendet werden;
es kann jedoch auch ein anderes Verfahren verwendet werden.
-
Im
Allgemeinen kann ein beliebiges Material für die elektrisch leitfähige Schicht 54 verwendet
werden. Einige Beispielmetalle, die für die elektrisch leitfähige Schicht 54 verwendet
werden können,
sind Kupfer, Nickel, Zinn, Aluminium, Silber, Graphit, Bronze, Gold,
Blei, Palladium, Kadmium, Zink und Kombinationen oder Legierungen
daraus wie z. B. Blei-Zinn- und
Gold-Palladium. Die elektrisch leitfähige Schicht 54 kann
ebenfalls direkt als ein elektrisch leitfähiger Verbund aufgemacht werden.
Z. B. kann das Substrat 52 mit einem einzigen stromlosen
Bad mit sowohl Kupfer als auch Nickel behandelt werden. Die resultierende
elektrisch leitfähige Schicht 54 ist
ein Verbund aus sowohl Kupfer als auch Nickel.
-
Optional
kann mehr als eine Art an elektrisch leitfähiger Schicht auf das Wabensubstrat 52 aufgebracht werden
(Schritt 68). Z. B. können,
nachdem die erste elektrisch leitfähige Schicht 54 aufgebracht
worden ist, eine oder mehrere zusätzliche elektrisch leitfähige Schichten
desselben oder eines unterschiedlichen Materials aufgebracht werden,
indem stromloses Überziehen,
elektrolytische Galvanisierung, Abscheidung aus der Dampfphase oder
andere dem Fachmann bekannte Verfahren verwendet werden (Schritt 70).
Elektrolytische Galvanisierung wäre
im Allgemeinen zum Aufbringen von nachfolgenden elektrisch leitfähigen Schichten
verfügbar,
da die erste elektrisch leitfähige
Schicht für
die erforderliche Oberflächenleitfähigkeit
sorgen würde.
-
In
einer Ausführungsform
wird eine zweite elektrisch leitfähige Schicht aus Nickel auf
eine erste leitfähige
Schicht aus Kupfer aufgebracht, wobei das Kupfer für eine relativ
hohe elektrische Leitfähigkeit
und das Nickel für
eine korrosionsbeständige
obere Beschichtung sorgt. Wie bei der ersten elektrisch leitfähigen Schicht 54 und
auch aus ähnlichen
Gründen
kann die zweite Art der leitfähigen
Beschichtung optional erneut angewendet werden, bis eine gewünschte Dicke
erreicht ist.
-
Zusätzliche
Beschichtungen oder Behandlungen von noch anderen Arten an elektrisch
leitfähigen oder
sogar nicht leitfähigen
Materialien können
optional auf den metallisierten dielektrischen Wabenfilter 50 aufgebracht
werden (Schritt 72). Z. B. kann eine Behandlung mit einem
Flammschutzmittel, einem Antischimmelmittel oder einem Korrosionsschutzmittel
auf den metallisierten dielektrischen Wabenfilter aufgebracht werden.
Diese Beschichtungen können
wahlweise aufgebracht werden, indem sie entweder die gesamte Oberfläche oder
einen beliebigen Abschnitt davon bedecken. Z. B. kann der metallisierte
dielektrische Wabenfilter 50 vollständig in einem Flammschutzmittel
eingetaucht werden, oder wahlweise mit einem Korrosionsschutzmittel behandelt
werden, indem eine Maskierungstechnik verwendet wird, derart, dass
ein Umfang des Filters 50 unbehandelt bleibt, wodurch eine
Qualitätsverschlechterung
des erreichbaren elektrischen Kontaktes vermieden wird.
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Des
Weiteren kann der metallisierte, behandelte Filter 50 erneut
wie erforderlich durch eine der vorher offenbarten Techniken geformt
werden (Schritt 74). Ebenfalls kann eine Kantenbehandlung
optional auf den Umfang oder die Einbauoberfläche des Filters 50 angewendet
werden (Schritt 76). Spezielle Kantenbehandlungen umfassen
kommerziell erhältliche
EMV-Dichtungen einschließlich
metallisierter Federfinger, elektrisch leitfähiger Textildichtungen, elektrisch
leitfähiger
Elastomere, Drahtgeflechte, leitender Schaum und mit elektrisch
leitfähigen
Textilien beschichtete Elastomere.
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6A zeigt
eine weitere Ausführungsform
des metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50. In dieser Ausführungsform
ist das dielektrische Wabensubstrat 52' durch eine Vielzahl von Röhren 55 gebildet,
die zusammen koextrudiert werden können. In einer weiteren Ausführungsform
kann die Vielzahl von Röhren 55 zusammengeklebt
sein. Diese Art des Aufbaus könnte
auch durch Spritzguss oder einen ähnlichen Kunststoffherstellungsprozess
erzeugt werden. Das dielektrische Wabensubstrat 52' wird anschließend wie
zuvor beschrieben metallisiert.
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6B ist
eine Explosionsansicht einer Zelle 53' aus 6A, die
die elektrisch leitfähige
Schicht 54 auf dem dielektrischen Wabensubstrat 52' der Zelle 53' zeigt. Wiederum
kann die elektrisch leitfähige
Schicht 54 durch eine der zuvor beschriebenen Techniken
aufgebracht werden.
-
Um
für einen
verbesserten Luftdurchsatz zu sorgen, Kosten zu reduzieren und die
Herstellung zu vereinfachen, weist das metallisierte dielektrische
Substrat 50 unter erneuter Bezugnahme auf 4 keinen
Rahmen auf, so dass ein größerer Prozentsatz
des Oberflächenbereichs
des metallisierten dielektrischen Substrats 50 den Luftdurchfluss
durch die Öffnung 18 in
dem Gehäuse 20 aufnehmen
kann. Der metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 kann
einfach passgenau für
die Größe der Öffnung 18 in
dem Gehäuse 20 geschnitten werden.
Alternativ kann das dielektrische Wabensubstrat 52 vor
dem Hinzufügen
der elektrisch leitfähigen Schicht 54 auf
Größe geschnitten
werden. Das Schneiden des metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50 durch
die Zellen 53 ergibt teilweise offenseitige Wabenzellen 86,
die teils durch Zellwände
begrenzt sind, die nachgiebige Federfinger 88 ausbilden.
Die nachgiebigen Federfinger 88 verformen sich elastisch,
wenn der Filter 50 eingebaut wird, so dass sowohl ein elektrischer
Kontakt mit dem Gehäuse 20 gewährleistet
ist und der metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 fest
an Ort und Stelle gehalten wird. Damit bilden die Federfinger 88 eine
leitfähige
Umrandung, die sich im Wesentlichen um den Umfang des Filters 50 herum
zum Anordnen des Filters 50 in elektrischer Verbindung
mit dem Gehäuse 20 erstreckt.
-
Die
zylindrischen Röhren 55,
die die Zellen 53 des metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50 bilden, in 6A gezeigt,
können
auch sehr biegsam ausgebildet sein, so dass sie sich elastisch verformen,
wenn der metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 eingebaut
wird, und dadurch den elektrischen Kontakt mit dem Gehäuse gewährleisten.
Der elektrische Kontakt wird mit den nachgiebigen Federfingern 88' gewährleistet,
die durch Schneiden der Zellen 53' auf dem Umfang des metallisierten
Wabenfilters 50 gebildet werden. Darüber hinaus werden durch Vermeidung
des herkömmlichen
Rahmens die mit der Herstellung des Filters verbundenen Kosten reduziert.
-
Die
Zelle 53 können
entlang ihres Durchmessers geschnitten werden, wodurch sie einen
annähernd halbkreisförmigen Zellabschnitt
wie dargestellt hinterlassen. Alternativ können die Zellen 53 geschnitten
werden, in dem sie entweder eine größere oder geringere Menge der
Zellwand hinterlassen, um eine Feder zu bilden.
-
7A zeigt,
wie der metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 in einem
Kanal 91 eingebaut wäre,
der sich in einem Elektronikschrank in einer horizontalen Einbaukonfiguration
befindet. Ein Türelement
oder Schlusskappe 92 fasst den metallisierten dielektrischen
Wabenfilter 50 in dem Kanal 91 ein. In dieser
Konfiguration sind alle Befestigungsoberflächen des Schrankes und des
Lüftungselements
orthogonal. Der metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 kann
von der Größe her so
bemessen sein, dass die nachgiebigen Fingerfedern 88 sich
elastisch verformen und genau in den Kanal 91 passen, um
eine exakte Passung und einen guten elektrischen Kontakt zu gewährleisten.
Durch Verwendung des Kanals 91, der integral in dem Gehäuse 20 ausgebildet
ist, wird der Bedarf nach einer getrennten EMV-Dichtung zwischen dem Filter 50 und
dem Gehäuse 20 vermieden. 7B ist
eine Quer schnittsansicht des metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50,
der horizontal in der Öffnung
in einem Gehäuse
für elektronisches
Gerät eingebaut
ist, genommen entlang des Schnittes 7B-7B aus 7A.
-
In
noch weiteren Ausführungsformen,
die in den 7C-7I dargestellt
sind, kann die Öffnung 18 entweder
vertikal verjüngt
(mit unterschiedlichen Oberflächenbereichen
verglichen von oben nach unten), oder horizontal verjüngt sein
(mit unterschiedlichen Breitenabmessungen, verglichen bei Vorder-
und Hinterkante). In einer vertikalen Konfiguration, dargestellt
in 7C, weist der rahmenlose metallisierte dielektrische
Wabenfilter 50 eine Verjüngung entlang seiner Dicke
auf, die ähnlich
zu der Verjüngung
in der Schrankwand wäre. Der
metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 würde in die
sich verjüngende
Schranköffnung
(alternativ kann der Schrank nicht spitz zulaufende oder gerade
Kanten aufweisen) in einem Winkel von etwa 90° bezüglich der Öffnungsebene eingesetzt werden,
bis ein enger Druckpass-Sitz (ähnlich
einem Korken) erreicht ist. Anschläge können optional und/oder unterhalb
des Lüftungselements
angeordnet sein, um es während
der Verwendung an Ort und Stelle zu halten. 7D veranschaulicht
eine Querschnittsansicht des metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50,
angewinkelt in Dickerichtung, der vertikal in einer Öffnung in
einem Gehäuse
für elektronische
Geräte
installiert ist, genommen entlang des Schnittes 7D-7D aus 7C. 7E veranschaulicht
eine alternative Ausführungsform,
bei der der Umfang des Filters 50' so geformt ist, dass er einen
Nutrand 94 bereitstellt, um eine geeignete Gegenoberfläche 91' aufzunehmen.
Wiederum können
Anschläge
optional oberhalb des Lüftungselements
angeordnet sein, um es während
des Gebrauchs an Ort und Stelle zu halten. 7F zeigt
den metallisierten dielektrischen Wabenfilter 50 mit einer
Verjüngung
oder einer Nut entlang seiner Dicke, eingebaut auf der oberen Oberfläche 20A und
einer Wand 20B eines elektronischen Gerätgehäuses 20.
-
7G zeigt
die horizontale Konfiguration, wo der rahmenlose metallisierte dielektrische
Wabenfilter 50 eine Verjüngung entlang seiner Länge aufweist,
der ähnlich
einer Verjüngung
in einem Schrankkanal 91 ist, der zum Aufnehmen eines abgeschrägten Filters 50 geeignet
ist. Wie dargestellt weist der Filter 50 eine erste Breite
W1 entlang einer Vorderkante und eine unterschiedliche
zweite Breite W2 entlang einer Hinterkante
auf. Der metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 wird
in den Schrankkanal 91 an dem Ort des Filters und entlang der
Kanalachse eingefügt,
bis der metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 passgenau
mit beiden Seitenwänden 93' und der Hinterwand 93'' ist. Eine Schlusskappe oder ein
Türelement 92 kann über den
metallisierten dielektrischen Wabenfilter 50 geklemmt oder
in sonstiger Weise befestigt sein, um die Schlussseite abzudichten. 7H veranschaulicht
eine Querschnittansicht des abgeschrägten metallisierten dielektrischen
Wabenfilters 50, der horizontal in einer Öffnung in
einem Gehäuse
für elektronische
Geräte
eingebaut ist, genommen entlang des Schnittes 7H-7H aus 7E. 7I veranschaulicht
einen metallisierten dielektrischen Wabenfilter 50 mit
einer Verjüngung
entlang seiner Länge,
der in einem elektronischen Gerätegehäuse 20 eingebaut ist.
-
In
anderen Ausführungsformen,
dargestellt in den 8A-8M wird
ein Bandrahmen oder Rahmen mit dünnem
Profil 96', 96'', 96''', 96'''', allgemein
bezeichnet mit 96, zu dem metallisierten dielektrischen Wabenfilter 50 hinzugefügt. In der
Bandrahmenkonfiguration, dargestellt in den 8A-8M,
wird ein flacher Metallstreifen 98', 98'', 98''', 98'''', allgemein
mit 98 bezeichnet, mit zahlreichen Federfingern 100', 100'', im Allgemeinen mit 100 bezeichnet
(8A-8E) oder mit Vertiefungen 101', 101'', im Allgemeinen mit 101 bezeichnet
(8F-8J)
entlang seiner Länge
eng um den Umfang des metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50 auf
seiner Seite umwinkelt, wodurch sich ein Band 96', 96'', 96''', 96'''', allgemein
mit 96 bezeichnet, ausbildet. Das Band 96 drückt auf
seiner nach innen gerichteten, flachen Seite den metallisierten
dielektrischen Wabenfilter 50 entlang dessen Dicke zusammen,
um einen guten elektrischen Kontakt zu erzeugen, wohin gegen die
Federfinger 100 bzw. Vertiefungen 101 auf der
entgegengesetzten, nach außen
gerichteten Seite des Bandes 96 einen guten elektrischen
Kontakt mit dem Gehäuse
bzw. Schrank herstellen (indem sie allgemein einen Widerstandswert
unterhalb eines gewissen vorbestimmten wünschenswerten Grenzwerts erzielen).
Die Merkmale des Bandes 96 sind in geeigneter Weise je
nach dem orientiert, ob der metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 vertikal
(8D und 8E) oder
horizontal (8B und 8C) bezüglich einer Gehäuseöffnung eingefügt ist.
Der Nutzen dieses Bandrahmens 96 ist, dass er die Luftdurchsatzfläche des metallisierten
dielektrischen Wabenfilters 50 praktisch unblockiert lässt, während er
die Flexibilität
des Lüftungselements
erhöht.
-
8B ist
eine schematische Darstellung, die eine Vorderansicht auf einer
Seite des Bandrahmens 96 aus 8A veranschaulicht,
wobei der Bandrahmen horizontale Federfinger 100' aufweist. 8C ist
eine schematische Darstellung, die eine Seitenansicht einer Seite
des Bandrahmens 96' aus 8A zeigt.
In ähnlicher
Weise ist 8D eine schematische Darstellung,
die eine Vorderansicht eines Bandrahmens 96' (nicht mit dem metallisierten
dielektrischen Wabenfilter 50 dargestellt) veranschaulicht,
wobei der Bandrahmen vertikale Federfinger 100'' aufweist, z. B. befestigt an einem
Band 98 an einem Ende und für einen vertikalen Einbau ausgerichtet. 8E ist
eine schematische Darstellung, die eine Seitenansicht des Bandrahmens 96'' aus 8D zeigt.
-
8G ist
eine schematische Darstellung, die eine Vorderansicht des Bandrahmens 96'' aus 8F zeigt,
wobei der Bandrahmen 96''' längliche leitfähige Vorsprünge oder
Vertiefungen 101' aufweist,
die sich vom Umfang nach außen
erstrecken. 8H ist eine schematische Darstellung,
die eine Seitenansicht des Bandrahmens 96' aus 8H veranschaulicht,
in dem der Bandrahmen 96''' längliche Vertiefungen 101' aufweist. In ähnlicher
Weise ist 8I eine schematische Darstellung,
die eine Vorderansicht eines Bandrahmens 96'''' (nicht mit dem metallisierten
dielektrischen Wabenfilter 50 dargestellt) veranschaulicht,
wobei der Bandrahmen 96'''' kreisförmige Vertiefungen 101'' aufweist, die z. B. innerhalb
eines Bandes 98'''' ausgebildet
sind. 8H ist eine schematische Darstellung,
die eine Seitenansicht des Bandrahmens 96'''' aus 8I veranschaulicht.
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In
noch einer weiteren Ausführungsform
verwendet in einer Dünnrahmenkonfiguration,
dargestellt in 8K, das Band 99 einen
Bandrahmen 96 und enthält
schmale Elemente oder Nasen 102, die sich um den metallisierten
dielektrischen Wabenfilter 50 auf dessen oberer und/oder
unterer Oberfläche
in einer geringen Menge wickeln, so dass sie weniger als 6,35 mm
(0,25 Zoll) belegen. Darüber
hinaus können
die Nasen 102 in wesentlichen Bereichen weggeschnitten
werden, so dass sie sich lediglich um Abschnitte des metallisierten dielektrischen
Wabenfilters 50 an dessen oberer und/oder unterer Oberfläche herumwickeln.
Diese Ausführungsform
sorgt für
zusätzliche
Stützung
des metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50 und reduziert
die Luftdurchlassoberfläche
lediglich um einen kleinen Betrag.
-
8L ist
eine schematische Darstellung, die eine Vorderansicht einer Seite
des Bandrahmens 96 aus 8K zeigt,
wobei der Bandrahmen Nasen 102 aufweist, die derart zum
Biegen ausgestaltet sind, dass die Nasen, wenn sie um 90° bezüglich beider
Oberflächen
des Filters 50 nach innen gebogen werden, den Bandrahmen 96 an
dem Filter 50 sichern. 8M ist
eine schematische Darstellung, die eine Seitenansicht einer Seite
des Bandrahmens 96 aus 8L darstellt.
-
In
noch weiteren Ausführungsformen
kann der Bandrahmen 96 aus einem beliebigen elektrisch
leitfähigen
Material konstruiert sein, das einen maximalen Durchlass durch den
dielektrischen Wabenfilter 50 aufrecht erhält, jedoch
auch zusätzlich
zu der Tatsache, dass es elektrisch leitfähig ist, auch dabei hilft,
Abweichungen bei Abmessungstoleranzen während des Einsetzens des dielektrischen
Wabenfilters 50 in das Gehäuse 20 aufzunehmen.
Abmessungstoleranzen zwischen dem dielektrischen Wabenfilter 50 und
dem Gehäuse 20 können z.
B. durch die Verwendung von leitfähigem Schaum, von elektrisch
leitfähigem
Textilstoff, oder von elektrisch leitfähigen Textildichtungen für das Bandmaterial
angepasst werden. Diese Bandmaterialien erzeugen einen guten elektrischen
Kontakt genauso wie ein Metallband, diese Bandmaterialien weisen
jedoch anders als ein Metallband eine wesentlich niedrigere Kompressionskraft
auf und sind nachgiebiger, was ihnen ermöglicht, einfach Toleranzveränderungen
zwischen dem metallisierten dielektrischen Wabenfilter 50 und dem
Gehäuse 20 auszugleichen.
Elektrisch leitfähige
Textildichtungen und leitende Schäume können von Laird Technologies,
Inc. mit Sitz in Delaware Water Gap, PA erworben werden.
-
In
einer Ausführungsform,
dargestellt in 9, können der leitfähige Schaum
oder die elektrisch leitfähigen
Textildichtungen 104 zur Verwendung als ein Band 98 geschlitzt
oder in Streifen hergestellt sein, die näherungsweise so breit oder
breiter als die Dicke des metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50 sind.
Die Streifen dieser Bandmaterialien 104 können dann
auf den Umfang des metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50 unter
Verwendung einer Klebebefestigungsmethode aufgebracht werden, wie
z. B. druckempfindlicher Klebstoff oder Leim 106, um ein
vollständiges
Band um den Umfang des metallisierten dielektrischen Wabenfilters 50 herum
zu bilden. Die Dicken dieser Bandmaterialien können von ungefähr 0,5 mm
bis zu 10 mm variieren oder je nach Bedarf, um die Zwischenräume zwischen
dem metallisierten dielektrischen Wabenfilter 50 und dem
Gehäuse 20 zu
füllen.
Diese Bandmaterialien 104 weisen die Vorteile auf, elektrisch
leitfähig
zu sein, flexibel und komprimierbar, was sie als EMV-Dichtung zwischen
dem metallisierten dielektrischen Wabenfilter 50 und dem
Gehäuse 20 verwendbar
macht. Dies ermöglicht,
dass die elektrische Störbeeinflussungsstrahlung,
die durch elektrische Ströme
induziert ist, einfach von dem metallisierten dielektrischen Wabenfilter 50 über das
Bandmaterial zu dem Gehäuse 20 und
schließlich
auf Erde abfließt.
Das komprimierbare Schaummaterial füllt die Zwischenräume und
hält einen
guten Presssitz zwischen dem metallisierten dielektrischen Wabenfilter 50 und
dem Gehäuse 20 aufrecht,
und dichtet gleichzeitig beliebige Oberflächenunterbrechungen, Nähte und
Zwischenräume
ab, die als EMV-Undichtigkeitspunkte wirken könnten.
-
Wie
vom Fachmann leicht verstanden werden wird, können viele unterschiedliche
Konfigurationen verwendet werden, die den metallisierten dielektrischen
Wabenfilter 50 in dem Ge häuse 20 enthalten.
-
Der
metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 sorgt für einen
verbesserten Luftdurchsatz, und erfüllt gleichzeitig strenge Entflammbarkeitsstandards.
Ein derartiger Entflammbarkeitsstandard ist der UL94 Vertical Flame
Test, im Detail beschrieben in Underwriter Laboratories Standard 94 mit
dem Titel „Tests
for Fammability of Plastic Materials for Parts in Device and Appliances", 5. Ausgabe, 1996.
Die erfindungsgemäßen metallisierten
dielektrischen Lüftungselemente 50 sind
in der Lage, eine V0-Entflammungsbewertung sowie V1- und V2-Vertikalbewertungen
zu erreichen, die in dem Standard beschrieben sind.
-
Die
EMV-Abschirmeffektivität
und Luftdurchsatztestdaten für
einen metallisierten dielektrischen Wabenfilter gemäß bestimmter
Ausführungsformen
der Erfindung sind in den 10 bzw. 11 dargestellt.
Der für
die Abschirmeffektivität
getestete Filter ist aus einem Polycarbonat-Polymer mit einer Nickel-über-Kupfer-Beschichtung
hergestellt. Die Testplatte ist etwa 12,7 mm (0,5 Zoll) dick mit
einer Zellgröße von etwa
3,18 mm (0,125 Zoll) und einer Dichte von etwa 64,1 kg/m3 (4 lb/ft3). Die
Nickelschicht ist etwa 0,127-0,254 m3 (5-10 Zoll3) dick und wurde durch stromloses Überziehen
aufgebracht. Die Kupferschicht ist etwa 0,508-1,27 m3 (20-50
Zoll3) dick und wurde durch stromloses Überziehen
aufgebracht. 10 zeigt, dass in der rahmenlosen Konfiguration
der metallisierte dielektrische Wabenfilter einen Bereich von etwa
80-90 dB an Abschirmeffektivität
bis zu 1 GHz bereitstellt. In der gerahmten Konfiguration bietet
der mit Nickel über
Kupfer metallisierte dielektrische Wabenfilter 50 einen
Bereich von etwa 40-60 dB an Abschirmeffektivität bis zu 1 GHz. 10 stellt
auch die Testergebnisse für
herkömmliche
Aluminiumwabenlüftungselemente
mit unterschiedlichen Ausführungen
dar (unbeschichtet und verchromt). Die Aluminium-Lüftungselemente
ohne Beschichtung und mit verchromter Ausführung bieten lediglich 30-40 dB an Abschirmeffektivität bis zu
1 GHz.
-
Die
für die
Luftdurchsatzeffektivität
getesteten Filter sind der standardmäßige Aluminiumwabenfilter und
zwei unterschiedliche Polycarbonat-Polymer-Waben mit einer Beschichtung
von Nickel über
Kupfer gemäß der Erfindung.
Die Testplatten waren etwa 12,7 mm (0,5 Zoll) dick mit einer Zellgröße von etwa
3,18 mm (0,125 Zoll). Eine der dielektrischen Wabenplatten hatte
eine Dichte von etwa 64,1 kg/m3 (4 lb/ft3) und die andere dielektrische Wabenplatte
hatte eine Dichte von etwa 160 kg/m3 (10
lb/ft3). 11 zeigt,
dass es im Wesentlichen keinen Unterschied bei den Luftdurchsatzeigenschaften
zwischen der Standardaluminiumwabe derselben Dicke und Zellgröße und der
64,1 oder 160 kg/m3 Dichte der metallisierten
dielektrischen Wabe gibt. Sämtliche
Luftdurchsatztests wurden auf der Wabe ohne das Vorhandensein eines
Rahmens durchgeführt,
so dass die Ergebnisse die Luftdurchsatzleistung der Wabenmaterialien
darstellen.
-
Demgemäß können die
erfindungsgemäß hergestellten
Lüftungselemente
eine signifikant verbesserte Abschirmeffektivität bei denselben Luftdurchsatzeigenschaften
wie herkömmliche
metallene Lüftungselemente
bieten.
-
Änderungen,
Modifikationen und andere Implementierungen dessen, was hierin beschrieben
wurde, werden dem einschlägigen
Fachmann begegnen, ohne vom Umfang der Erfindung wie beansprucht
abzuweichen. Die verschiedenen dargestellten Merkmale und Konfigurationen
und deren Äquivalente
können
in verschiedenen Kombinationen und Permutationen verwendet werden.
Demgemäß soll die
Erfindung nicht durch die vorstehenden veranschaulichenden Beschreibungen,
sondern stattdessen durch die nachfolgenden Ansprüche definiert
sein.