DE602005004092T2 - Gerät zum Messen der Oberflächenrauhigkeit oder der Kontur eines Objektes - Google Patents

Gerät zum Messen der Oberflächenrauhigkeit oder der Kontur eines Objektes Download PDF

Info

Publication number
DE602005004092T2
DE602005004092T2 DE602005004092T DE602005004092T DE602005004092T2 DE 602005004092 T2 DE602005004092 T2 DE 602005004092T2 DE 602005004092 T DE602005004092 T DE 602005004092T DE 602005004092 T DE602005004092 T DE 602005004092T DE 602005004092 T2 DE602005004092 T2 DE 602005004092T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
drive unit
probe
connecting element
workpiece
attachment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE602005004092T
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
DE602005004092D1 (de
Inventor
Nobuyuki Mitaka-shi Taniuchi
Kazuhiro Mitaka-shi Kubota
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Publication of DE602005004092D1 publication Critical patent/DE602005004092D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE602005004092T2 publication Critical patent/DE602005004092T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/28Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
DE602005004092T 2004-10-20 2005-09-29 Gerät zum Messen der Oberflächenrauhigkeit oder der Kontur eines Objektes Expired - Lifetime DE602005004092T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004305253A JP4570437B2 (ja) 2004-10-20 2004-10-20 表面粗さ/輪郭形状測定装置
JP2004305253 2004-10-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE602005004092D1 DE602005004092D1 (de) 2008-02-14
DE602005004092T2 true DE602005004092T2 (de) 2008-12-18

Family

ID=35427274

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE602005004092T Expired - Lifetime DE602005004092T2 (de) 2004-10-20 2005-09-29 Gerät zum Messen der Oberflächenrauhigkeit oder der Kontur eines Objektes

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7328518B2 (enExample)
EP (1) EP1650527B1 (enExample)
JP (1) JP4570437B2 (enExample)
DE (1) DE602005004092T2 (enExample)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006300823A (ja) * 2005-04-22 2006-11-02 Tokyo Seimitsu Co Ltd 表面粗さ/輪郭形状測定装置
JP4884091B2 (ja) * 2005-11-08 2012-02-22 株式会社ミツトヨ 形状測定機
CN101424507B (zh) * 2007-10-30 2010-12-08 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 平面度测量装置
JP4611403B2 (ja) * 2008-06-03 2011-01-12 パナソニック株式会社 形状測定装置及び形状測定方法
CN101846508B (zh) * 2009-03-24 2012-09-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 定位装置
US8196306B2 (en) * 2009-07-09 2012-06-12 General Electric Company Post-weld offset gage
US8701301B2 (en) * 2011-04-19 2014-04-22 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring instrument
US9333604B1 (en) * 2012-07-19 2016-05-10 Western Digital Technologies, Inc. Manually adjustable bracket for use with a fastener mechanism
CN104316019A (zh) * 2014-11-21 2015-01-28 奇瑞汽车股份有限公司 一种粗糙度比较样块校准固定微调装置
CN107525489A (zh) * 2016-11-22 2017-12-29 浙江大学台州研究院 轴的清洗和检测装置
DE102017113709B4 (de) * 2017-06-21 2019-01-24 Carl Mahr Holding Gmbh Messarmaufnahmeeinrichtung eines Messsystems
CN113295127B (zh) * 2020-02-21 2024-06-14 核工业理化工程研究院 圆柱面与其他曲面或平面相交处圆角半径的测量方法和测量装置
JP7786461B2 (ja) 2021-06-28 2025-12-16 コニカミノルタ株式会社 測定器、表面評価指標の演算方法及びプログラム
CN115613428A (zh) * 2022-10-13 2023-01-17 朱思静 一种道路检测装置及检测工艺

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3129918A (en) * 1963-03-28 1964-04-21 Bradley Owen Adjustable indicator holder
US3283586A (en) * 1964-06-24 1966-11-08 Gen Precision Inc Accelerometer damping control
US4166323A (en) * 1973-09-14 1979-09-04 Maag Gear-Wheel & Machine Co. Ltd. Gear tester for profile and lead testing
US4377911A (en) * 1981-02-18 1983-03-29 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. Contour measuring instrument
US4765181A (en) 1985-08-08 1988-08-23 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Surface texture measuring instrument
CH667726A5 (fr) * 1986-04-30 1988-10-31 Tesa Sa Dispositif de palpage pour un appareil autonome de mesure de grandeurs lineaires.
DE3740070A1 (de) 1987-11-26 1989-06-08 Zeiss Carl Fa Dreh-schwenk-einrichtung fuer tastkoepfe von koordinatenmessgeraeten
DE3823993A1 (de) 1988-07-15 1990-01-18 Zeiss Carl Fa Verfahren zur koordinatenmessung an werkstuecken
JP2738408B2 (ja) 1992-01-30 1998-04-08 株式会社東京精密 座標測定機
US5621978A (en) * 1993-07-14 1997-04-22 Sarauer; Alan J. Bar for coordinate measuring machine
JPH0716107U (ja) * 1993-08-25 1995-03-17 株式会社東京精密 三次元表面粗さ・輪郭形状測定機
JP2701141B2 (ja) * 1995-05-23 1998-01-21 株式会社ミツトヨ 真円度測定装置
US6032381A (en) 1996-12-02 2000-03-07 Miller; Walter R Dovetail accessory for a dial test indicator
JP3992853B2 (ja) * 1998-09-30 2007-10-17 株式会社ミツトヨ 表面追従型測定機
JP3525432B2 (ja) * 2000-09-29 2004-05-10 株式会社東京精密 粗さ測定方法及び粗さ測定装置
JP2002340503A (ja) * 2001-05-16 2002-11-27 Mitsutoyo Corp 表面性状測定機における被測定物の相対姿勢調整方法
FR2853056B1 (fr) * 2003-03-28 2005-07-15 Snecma Moteurs Dispositif et procede de mesure de profil
JP4113991B2 (ja) 2003-03-28 2008-07-09 株式会社東京精密 1軸駆動装置を用いた表面形状測定装置
US6901677B2 (en) * 2003-05-05 2005-06-07 University Of North Carolina At Charlotte Method and apparatus using a closed loop controlled actuator for surface profilometry
US7036238B2 (en) * 2003-12-22 2006-05-02 Mitutoyo Corporation Width-measuring method and surface texture measuring instrument
US6944965B1 (en) * 2004-10-06 2005-09-20 Abe Watamura Inline indicator holder

Also Published As

Publication number Publication date
US7328518B2 (en) 2008-02-12
EP1650527A1 (en) 2006-04-26
US20060080852A1 (en) 2006-04-20
JP2006118911A (ja) 2006-05-11
JP4570437B2 (ja) 2010-10-27
EP1650527B1 (en) 2008-01-02
DE602005004092D1 (de) 2008-02-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69106222T2 (de) Vorrichtung zur kontinuierlichen Fehlermessung von Werkstückformen und Messverfahren zur Anwendung der Vorrichtung.
DE69617194T2 (de) Kalibrierungssystem für koordinatenmessmaschine
EP3049758B1 (de) Reduzierung von fehlern einer drehvorrichtung, die bei der bestimmung von koordinaten eines werkstücks oder bei der bearbeitung eines werkstücks verwendet wird
DE3785645T2 (de) Pruefung der einstellung eines werkzeugs.
DE2934347C2 (de) Verfahren und Prüfgerät zum Prüfen des Zahnflankenprofils von Zahnrädern großen Durchmessers
DE602005004092T2 (de) Gerät zum Messen der Oberflächenrauhigkeit oder der Kontur eines Objektes
DE3784047T2 (de) Kalibrierungsverfahren für ein Koordinatenmessgerät und ähnliche Geräte.
EP2844953B1 (de) Verfahren zur bestimmung der achse eines drehtisches bei einem koordinatenmessgerät
DE2535347C2 (de) Verfahren zum Messen von zylindrisch gestalteten Flächen
EP0317967A2 (de) Dreh-Schwenk-Einrichtung für Tastköpfe von Koordinatenmessgeräten
DE102017008570A1 (de) Werkzeugmaschine und Verfahren zum Glätten eines Werkstücks
WO2016015775A1 (de) Tastkopf für ein koordinatenmessgeraet
DE102016226073A1 (de) Vorrichtung zum einsatz in einer numerisch gesteuerten werkzeugmaschine zur verwendung in einem verfahren zum vermessen der numerisch gesteuerten werkzeugmaschine
EP2679962B1 (de) Positionsmesseinrichtung
DE10239694A1 (de) Verfahren zur Kalibrierung eines Fräsers
DE69616925T2 (de) Manuelle 3D-Koordinatenmessmaschine
EP3314203B1 (de) Adapterelement zur montage einer drehvorrichtung im messraum eines koordinatenmessgeräts
DE3781674T2 (de) Positionsbestimmungsverfahren innerhalb des messraumes eines koordinatenmessgeraetes und dergleichen und system dafuer.
DE202013102045U1 (de) Oberflächenmikrostrukturmessgerät mit variablem Meßsystem
DE19809589B4 (de) Verfahren zur Kalibrierung eines Tasters eines Koordinatenmeßgerätes
DE3640287A1 (de) Verfahren zur erzeugung eines gemeinsamen koordinatensystems bei mehrarmigen koordinatenmessgeraeten
DE1911908C3 (de) Einrichtung zum meßbaren Verschieben eines Objektes
DE60032635T2 (de) Verfahren und vorrichtung zum testen von werkzeugmaschinen
DE102020114673B3 (de) Sphärischer Parallelmanipulator, Schwenkeinrichtung und Messgerät
DE102017003641A1 (de) Verfahren zur Messung von Koordinaten oder Eigenschaften einer Werkstückoberfläche

Legal Events

Date Code Title Description
8381 Inventor (new situation)

Inventor name: KUBOTA, KAZUHIRO, MITAKA-SHI, TOKYO, JP

Inventor name: TANIUCHI, NOBUYUKI, MITAKA-SHI, TOKYO, JP

8320 Willingness to grant licences declared (paragraph 23)
8364 No opposition during term of opposition