DE602005004092D1 - Gerät zum Messen der Oberflächenrauhigkeit oder der Kontur eines Objektes - Google Patents

Gerät zum Messen der Oberflächenrauhigkeit oder der Kontur eines Objektes

Info

Publication number
DE602005004092D1
DE602005004092D1 DE602005004092T DE602005004092T DE602005004092D1 DE 602005004092 D1 DE602005004092 D1 DE 602005004092D1 DE 602005004092 T DE602005004092 T DE 602005004092T DE 602005004092 T DE602005004092 T DE 602005004092T DE 602005004092 D1 DE602005004092 D1 DE 602005004092D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
contour
measuring
surface roughness
roughness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DE602005004092T
Other languages
English (en)
Other versions
DE602005004092T2 (de
Inventor
Nobuyuki Taniuchi
Kazuhiro Kubota
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Publication of DE602005004092D1 publication Critical patent/DE602005004092D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE602005004092T2 publication Critical patent/DE602005004092T2/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/28Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
DE602005004092T 2004-10-20 2005-09-29 Gerät zum Messen der Oberflächenrauhigkeit oder der Kontur eines Objektes Active DE602005004092T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004305253A JP4570437B2 (ja) 2004-10-20 2004-10-20 表面粗さ/輪郭形状測定装置
JP2004305253 2004-10-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE602005004092D1 true DE602005004092D1 (de) 2008-02-14
DE602005004092T2 DE602005004092T2 (de) 2008-12-18

Family

ID=35427274

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE602005004092T Active DE602005004092T2 (de) 2004-10-20 2005-09-29 Gerät zum Messen der Oberflächenrauhigkeit oder der Kontur eines Objektes

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7328518B2 (de)
EP (1) EP1650527B1 (de)
JP (1) JP4570437B2 (de)
DE (1) DE602005004092T2 (de)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006300823A (ja) * 2005-04-22 2006-11-02 Tokyo Seimitsu Co Ltd 表面粗さ/輪郭形状測定装置
JP4884091B2 (ja) * 2005-11-08 2012-02-22 株式会社ミツトヨ 形状測定機
CN101424507B (zh) * 2007-10-30 2010-12-08 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 平面度测量装置
JP4611403B2 (ja) * 2008-06-03 2011-01-12 パナソニック株式会社 形状測定装置及び形状測定方法
CN101846508B (zh) * 2009-03-24 2012-09-19 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 定位装置
US8196306B2 (en) * 2009-07-09 2012-06-12 General Electric Company Post-weld offset gage
US8701301B2 (en) * 2011-04-19 2014-04-22 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring instrument
US9333604B1 (en) * 2012-07-19 2016-05-10 Western Digital Technologies, Inc. Manually adjustable bracket for use with a fastener mechanism
CN104316019A (zh) * 2014-11-21 2015-01-28 奇瑞汽车股份有限公司 一种粗糙度比较样块校准固定微调装置
CN107525489A (zh) * 2016-11-22 2017-12-29 浙江大学台州研究院 轴的清洗和检测装置
DE102017113709B4 (de) * 2017-06-21 2019-01-24 Carl Mahr Holding Gmbh Messarmaufnahmeeinrichtung eines Messsystems
CN113295127A (zh) * 2020-02-21 2021-08-24 核工业理化工程研究院 圆柱面与其他曲面或平面相交处圆角半径的测量方法和测量装置
JPWO2023276637A1 (de) 2021-06-28 2023-01-05

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3129918A (en) * 1963-03-28 1964-04-21 Bradley Owen Adjustable indicator holder
US3283586A (en) * 1964-06-24 1966-11-08 Gen Precision Inc Accelerometer damping control
US4166323A (en) * 1973-09-14 1979-09-04 Maag Gear-Wheel & Machine Co. Ltd. Gear tester for profile and lead testing
US4377911A (en) * 1981-02-18 1983-03-29 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. Contour measuring instrument
US4765181A (en) 1985-08-08 1988-08-23 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Surface texture measuring instrument
CH667726A5 (fr) * 1986-04-30 1988-10-31 Tesa Sa Dispositif de palpage pour un appareil autonome de mesure de grandeurs lineaires.
DE3740070A1 (de) 1987-11-26 1989-06-08 Zeiss Carl Fa Dreh-schwenk-einrichtung fuer tastkoepfe von koordinatenmessgeraeten
DE3823993A1 (de) 1988-07-15 1990-01-18 Zeiss Carl Fa Verfahren zur koordinatenmessung an werkstuecken
JP2738408B2 (ja) 1992-01-30 1998-04-08 株式会社東京精密 座標測定機
US5621978A (en) * 1993-07-14 1997-04-22 Sarauer; Alan J. Bar for coordinate measuring machine
JPH0716107U (ja) * 1993-08-25 1995-03-17 株式会社東京精密 三次元表面粗さ・輪郭形状測定機
JP2701141B2 (ja) * 1995-05-23 1998-01-21 株式会社ミツトヨ 真円度測定装置
US6032381A (en) 1996-12-02 2000-03-07 Miller; Walter R Dovetail accessory for a dial test indicator
JP3992853B2 (ja) * 1998-09-30 2007-10-17 株式会社ミツトヨ 表面追従型測定機
JP3525432B2 (ja) * 2000-09-29 2004-05-10 株式会社東京精密 粗さ測定方法及び粗さ測定装置
JP2002340503A (ja) * 2001-05-16 2002-11-27 Mitsutoyo Corp 表面性状測定機における被測定物の相対姿勢調整方法
JP4113991B2 (ja) 2003-03-28 2008-07-09 株式会社東京精密 1軸駆動装置を用いた表面形状測定装置
FR2853056B1 (fr) * 2003-03-28 2005-07-15 Snecma Moteurs Dispositif et procede de mesure de profil
US6901677B2 (en) * 2003-05-05 2005-06-07 University Of North Carolina At Charlotte Method and apparatus using a closed loop controlled actuator for surface profilometry
US7036238B2 (en) * 2003-12-22 2006-05-02 Mitutoyo Corporation Width-measuring method and surface texture measuring instrument
US6944965B1 (en) * 2004-10-06 2005-09-20 Abe Watamura Inline indicator holder

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006118911A (ja) 2006-05-11
EP1650527A1 (de) 2006-04-26
EP1650527B1 (de) 2008-01-02
JP4570437B2 (ja) 2010-10-27
US7328518B2 (en) 2008-02-12
DE602005004092T2 (de) 2008-12-18
US20060080852A1 (en) 2006-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE602005004092D1 (de) Gerät zum Messen der Oberflächenrauhigkeit oder der Kontur eines Objektes
DE602005003610D1 (de) Vorrichtung zum Bestimmen der dreidimensionalen Form eines Objekts
DE602005007823D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Form eines Objekts
DE602006011062D1 (de) Vorrichtung zum Messen der Wanddicke von Objekten
DE602004010599D1 (de) Verfahren zum Messen der gewölbten Oberfläche eines Werkstücks
DE50304173D1 (de) Messeinrichtung zum messen der rundheit eines eisenbahnrades
DE602007000426D1 (de) Messvorrichtung und Verfahren zur Oberflächentexturmessung
DE502004002547D1 (de) Vorrichtung zum optischen Vermessen eines Objektes
DE112007003357A5 (de) Verfahren und Sensoranordnung zum Bestimmen der Position und/oder Positionsänderung eines Messobjekts relativ zu einem Sensor
DE502006007907D1 (de) Messvorrichtung zum Messen eines periodischen Analogsignals
DE602005012759D1 (de) Methode und Vorrichtung zum Messen der Reflektivität mittels Röntgenstrahlen
DE602005006860D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Teilentladungen
ITTO20050588A1 (it) Complesso di sonda di un apparecchio di misurazione
DE502006006367D1 (de) Verfahren zum messen einer analytkonzentration in
DE602004027700D1 (de) Messgerät für Oberflächentextur und Breitenmessverfahren
DE10326770B4 (de) Sensorsystem zum Bestimmen der Breite eines Objekts
DE602008000107D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Messen der Übertragungsfunktion eines Lautsprechers mit verbesserter Frequenz-Auflösung
DE112006001423A5 (de) Koordinatenmessgerät sowie Verfahren zum Messen eines Objektes mit einem Koordinatenmessgerät
EP2271949A4 (de) Vorrichtung und verfahren zur erhöhung der genauigkeit von mit einem kapazitätssensor durchgeführten messungen
DE602009000143D1 (de) Verfahren zum Messen der Vorder- und Rückseite eines Objekts
FR2906027B1 (fr) Dispositif de mesure multicapteur pour sonde de jaugeage embarquee
ATE462954T1 (de) Verfahren und vorrichtung zum überprüfen der seitenwandkontur eines behälters
DE50309514D1 (de) Vorrichtung zum Vermessen eines Messobjekts
DE50206010D1 (de) Messvorrichtung zum berührungslosen Erfassen von Schwingungen eines Objektes
DE602004030471D1 (de) Verfahren zur messung der fehlausrichtung eines mehrstufigen walzwerks und messvorrichtung dafür

Legal Events

Date Code Title Description
8381 Inventor (new situation)

Inventor name: KUBOTA, KAZUHIRO, MITAKA-SHI, TOKYO, JP

Inventor name: TANIUCHI, NOBUYUKI, MITAKA-SHI, TOKYO, JP

8320 Willingness to grant licences declared (paragraph 23)
8364 No opposition during term of opposition