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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Folie im B-Stadium mit hoher
relativer Dielektrizitätskonstante, ein
Prepreg mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante, Herstellungsverfahren
hierfür
und eine Leiterplatte, bei der ihre kupferplattierte Platte als
Kondensator oder dergleichen verwendet wird. Insbesondere wird eine
Leiterplatte, erhalten durch Erzeugen eines Durchgangslochs mit
einem Kohlendioxidgaslaser, geeigneterweise für eine Halbleiterchip-Montierungseinrichtung,
eine klein dimensionierte, leichte und neue Leiterplatte und als Leiterplatte
mit hoher Dichte und kleiner Größe verwendet.
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Stand der
Technik
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In
den letzten Jahren ist eine mehrschichtige Leiterplatte mit hoher
Dichte für
eine elektrische Ausrüstung
verwendet worden, die eine verminderte Größe, Dicke und Gewicht hat.
Wenn eine Schicht mit einer relativ hohen Dielektrizitätskonstante
als innere oder äußere Schicht
der Leiterplatte vorgesehen wird und die Schicht als Kondensator
verwendet wird, dann kann die Packdichte verbessert werden. Eine
Schicht mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante ist schon als innere
Schicht oder als äußere Schicht
oder als Substrat einer mehrschichtigen Platte durch ein Verfahren,
beschrieben in der JP-A-55-57212, JP-A-61-136281, JP-A-61-167547, JP-A-62-19451
oder JP-B-5-415,
hergestellt worden, bei dem ein anorganisches Pulver mit hoher relativer
Dielektrizitätskonstante,
wie Bariumtitanat, in ein Epoxyharz, ein modifiziertes Polyphenylenoxidharz
oder dergleichen eingearbeitet wird, ein Fasersubstrat, wie ein
Glasgewebe, mit dem resultierenden Gemisch imprägniert wird, das Gemisch getrocknet
wird um Prepregs zu erhalten, eine Vielzahl der Prepregs aufeinander
gestapelt werden, Kupferfolien darauf als äußerste Schichten aufgebracht
werden und der resultierende Satz zur Herstellung eines kupferplattierten
Laminats laminierungsverformt wird, das eine hohe relative Dielektrizitätskonstante
hat. Dieses Glas-Gewebe-Substrat-kupferplattierte Laminat hat eine
hohe Dicke des Glasgewebes von mindestens 40 μm. Wenn daran ein Harz angeheftet
wird, dann wird daher die Dicke 60 μm oder mehr. Es ist unmöglich gewesen,
ein Glas-Gewebe-Substrat-kupferplattiertes Laminat mit einer dünneren Isolierungsschicht
herzustellen. Dazu kommt noch, dass der anorganische Füllstoff
ein hohes spezifisches Gewicht hat, so dass beim Dispergieren des
anorganischen Füllstoffs
in einem Lack dieser sich absetzt. Es konnte daher bislang noch
kein Fall festgestellt werden, bei dem eine große Menge des anorganischen
Füllstoffs
eingearbeitet wird. Weiterhin hat das Glas-Gewebe-Substrat-kupferplattierte
Laminat ein Glas-Gewebe-Substrat, so dass es schwierig ist, ein
Glas-Gewebe-Substrat mit einer Harzzusammensetzung zu imprägnieren,
die den anorganischen Füllstoff
in einer großen
Menge von mindestens 80 Gew.-% enthält. Es ist auch schwierig,
die Harzzusammensetzung in einer großen Menge an die Oberfläche eines
Gewebes anzuheften. Es sind weiterhin Risse der Harzzusammensetzung
und Ungleichmäßigkeiten
aufgefunden worden, und es ist unmöglich gewesen, feine Prepregs
herzustellen. Daher ist es so, dass bei der Herstellung der Prepregs
die Menge des anorganischen Füllstoffs
in der Harzzusammensetzung im Allgemeinen 70 Gew.-% oder weniger beträgt. Eine
Vielzahl der so erhaltenen Prepregs wird aufeinander gestapelt und
Kupferfolien werden als äußerste Schichten
angeordnet. Der resultierende Satz wird zur Herstellung eines kupferplattierten
Laminats mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante laminatverformt.
In den Beispielen jeder der oben genannten Druckschriften werden
nur Glas-Gewebe-Substrat-kupferplattierte
Laminate mit einer relativen Dielektrizitätskonstante von etwa 10 bis
20 erhalten. Daher ist es unmöglich,
einen Kondensator mit großer
Kapazität
zu bilden, und es ist schwierig, das obige kup ferplattierte Laminat
als kupferplattierte Platte mit einer Kondensatorfunktion einzusetzen.
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Andererseits
ist selbst ein kupferplattiertes Laminat, erhalten unter Verwendung
einer Harzzusammensetzung, die ein allgemeines wärmehärtendes Harz und ein anorganisches
Pulver mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante enthält, brüchig und
es hat eine schwache Adhäsionsfestigkeit
gegenüber
der Kupferfolie, wenn der anorganische Füllstoff in großer Menge
eingearbeitet wird. Es ist weiterhin nicht möglich, eine kupferplattierte
Platte mit hoher Hitzebeständigkeit
herzustellen, die eine relative Dielektrizitätskonstante von 50 oder mehr,
noch weniger von 100 oder mehr, hat. Wie in der JP-A-9-12742 gezeigt
wird, hat ein Film mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante,
erhalten durch Vermischen eines wärmehärtenden Harzes mit einem anorganischen
Pulver, das eine relative Dielektrizitätskonstante von mindestens
50 hat, ohne Verwendung eines Glas-Gewebe-Substrats, eine hohe Harzviskosität um das
Gemisch zu einem Film zu verformen. Daher beträgt die obere Grenze des Gehalts
des anorganischen Füllstoffs
etwa 60 Gew.-%. Folglich hat ein erhaltenes kupferplattiertes Laminat,
das den obigen Film umfasst, eine niedrige relative Dielektrizitätskonstante
von etwa 10. Es wird kein kupferplattiertes Laminat erhalten, das
eine relative Dielektrizitätskonstante
von mindestens 50 hat.
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Zusammenfassung
der Erfindung
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Es
ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Folie im B-Stadium
mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante
zur Verfügung
zu stellen, die eine geringe Dicke der Isolierungsschicht von z.B.
50 μm oder weniger
und eine hohe relative Dielektrizitätskonstante von mindestens
50 aufweist, und die in ähnlicher
Weise wie ein allgemeiner Glas-Gewebe-Substrat-wärmehärtender Harzprepreg verarbeitbar
ist. Erfindungsgemäß soll auch
eine Leiterplatte, er halten durch Erzeugen eines Durchführungslochs
und/oder eines Grunddurchgangslochs, in einer kupferplattierten
Platte, umfassend die Folie im B-Stadium, zur Verfügung gestellt
werden.
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Es
ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Leiterplatte
mit hoher Dichte zur Verfügung
zu stellen, die eine kupferplattierte Platte, umfassend die obige
Folie im B-Stadium, die dazu geeignet ist, ein Loch mit einem kleinen
Durchmesser mit einem Kohlendioxidgaslaser herzustellen, einzuschließen.
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Es
ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Prepreg
mit einer hohen relativen Dielektrizitätskonstante zur Verfügung zu
stellen, indem eine Harzzusammensetzung in ausgezeichneter Weise
an einem Substrat selbst dann haftet, wenn die Harzzusammensetzung
ein wärmehärtendes
Harz und mindestens 80 Gew.-% eines anorganischen Füllstoffs,
der eine ausgezeichnete Adhäsionsfestigkeit
an einer Kupferfolie hat, haftet, wenn ein kupferplattiertes Laminat
unter Verwendung des Prepregs hergestellt wird, das eine hohe relative
Dielektrizitätskonstante
von mindestens 10, vorzugsweise mindestens 20, hat und das wie ein allgemeines
Glas-Gewebe-Substratwärmehärtender
Harzprepreg verarbeitbar ist. Es soll auch ein Herstellungsverfahren
hierfür
zur Verfügung
gestellt werden.
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Es
ist schließlich
noch eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Leiterplatte
unter Verwendung eines kupferplattierten Laminats zur Verfügung zu
stellen, das das obige Prepreg mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante
umfasst.
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Erfindungsgemäß wird eine
Folie im B-Stadium mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante,
erhalten durch Aufbringen einer Harzzusammensetzung auf einen Trennmittelfilm oder
eine Kupferfolie, wobei die Harzzusammensetzung durch Einarbeiten
eines isolierenden anorganischen Füllstoffs mit einer relativen
Dielektrizitätskonstante
von mindestens 500 bei Raumtemperatur in eine lösungsmittelfreie Harzkomponente
zu einem Gehalt des isolierenden anorganischen Füllstoffs von 80 bis 99 Gew.-%
erhalten wird; die lösungsmittelfreie
Harzkomponente als eine wesentliche Komponente eine Harzzusammensetzung
enthält,
erhalten durch Einarbeiten von 50 bis 10.000 Gew.-Teilen eines Epoxyharzes
(b), das bei Raumtemperatur flüssig
ist, in 100 Gew.-Teile eines Monomers eines polyfunktionellen Cyanatesters
und/oder eines Präpolymers
eines Cyanatesters (a) und Einarbeiten von 0,005–10 Gew.-Teilen eines wärmehärtenden
Katalysators pro 100 Gew.-Teile der Gesamtmenge (a+b) des Monomers
des Cyanatesters und/oder des Präpolymers
des Cyanatesters und des Epoxyharzes; und der isolierende anorganische
Füllstoff
einen Partikeldurchmesser von 3–50 μm und eine
spezifische BET-Oberfläche von
0,35–0,60
m2/g oder einen durchschnittlichen Partikeldurchmesser
von 4–30 μm und eine
spezifische BET-Oberfläche von
0,30–1,00
m2/g zur Verfügung gestellt.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird auch eine Folie im B-Stadium mit hoher relativer
Dielektrizitätskonstante
entsprechend der obigen zur Verfügung
gestellt, wobei der isolierende anorganische Füllstoff ein Produkt ist, das
mindestens eine Keramik enthält,
die aus der Gruppe, bestehend aus einer Bariumtitanat-enthaltenden
Keramik, einer Bleititanat-enthaltenden Keramik, einer Calciumtitanat-enthaltenden
Keramik, einer Magnesiumtitanat-enthaltenden Keramik, einer Wismuthtitanat-enthaltenden
Keramik, einer Strontiumtitanat-enthaltenden Keramik und einer Bleizirconat-enthaltenden
Keramik ausgewählt
ist, oder die durch Sintern mindestens einer aus der obigen Gruppe
ausgewählten
Keramik und Pulverisieren der gesinterten Keramik erhalten wird.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird auch eine Leiterplatte, erhalten durch Erzeugung
eines Durchführungslochs
und/oder eines Grunddurchgangslochs in eine kupferbeschichtete Platte
mit der obigen Folie im B-Stadium zur Verfügung gestellt.
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Erfindungsgemäß wird auch
eine Leiterplatte zur Verfügung
gestellt, wobei, wenn das Durchgangsloch und/oder das Durchführungsloch
in einer doppelseitig kupferbeschichteten Platte und ihrer Kupferfolien
durch direkte Bestrahlung mit einem Kohlendioxidgaslaser mittels
Pulsoszillation eines Kohlendioxidgaslasers mit einer zur Entfernung
der Kupferfolien ausreichenden Energie erzeugt wird/werden, das
Durchführungsloch und/oder
Grunddurchgangsloch der obigen Leiterplatte durch Durchführen einer
Oxidationsbehandlung unter Bildung eines Metalloxids oder einer
Behandlung mit einer Chemikalie an einer Kupferfolienoberfläche der doppelseitigen
kupferplattierten Platte hergestellt wird, oder wobei als Hilfsmaterial
zur Herstellung des Lochs eine Schicht einer Harzzusammensetzung,
enthaltend 3 bis 97 Vol.-% mindestens eines Pulvers, das aus der Gruppe,
bestehend aus einem Kohlenstoffpulver, einem Metallpulver, einem
Pulver einer Metallverbindung mit einem Schmelzpunkt von mindestens
900°C und
einer Bindungsenergie von mindestens 300 kJ/mol, ausgewählt ist,
enthält,
auf der obigen Kupferfolienoberfläche angeordnet wird und dann
direkt die behandelte Kupferfolienoberfläche oder das Hilfsmaterial
mit einem Kohlendioxidgaslaser bestrahlt wird.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird auch ein Verfahren zur Herstellung eines Prepregs
mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante
zur Verfügung
gestellt, das das Herstellen einer Folie im B-Stadium durch Auftragen
einer Harzzusammensetzung auf einen Trennmittelfilm oder eine Kupferfolie,
wobei die Harzzusammensetzung 80 bis 99 Gew.- % eines Pulvers eines isolierenden anorganischen
Füllstoff
mit einer relativen Dielektrizitätskonstante
von mindestens 500 bei Raumtemperatur enthält, Einbringen eines anorganischen
Substrats oder eines organischen Fasergewebesubstrats zwischen die
Folien im B-Stadium und ihr Zusammenfügen umfasst, wobei die lösungsmittelfreie
Harzzusammensetzung als eine wesentliche Komponente eine Harzzusammensetzung
enthält,
erhalten durch Einbau von 50–10.000
Gew.-Teilen eines Epoxyharzes (b), das bei Raumtemperatur flüssig ist,
in 100 Gew.-Teile eines Monomers eines polyfunktionellen Cyanatesters und/oder
eines Präpolymers
des Cyanatesters (a), und Einbau von 0,005-10 Gew.-Teilen eines
wärmehärtenden
Katalysators pro 100 Gew.-Teile der Gesamtmenge (a+b) des Monomers
des Cyanatesters und/oder des Präpolymers
des Cyanatesters und des Epoxyharzes, enthält; und der isolierende anorganische
Füllstoff
eine Partikeldurchmesserbreite von 3 bis 50 μm und eine spezifische BET-Oberfläche von
0,35–0,60
m2/g oder einen durchschnittlichen Partikeldurchmesser
von 4–30 μm und eine
spezifische BET-Oberfläche
von 0,30–1,00 m2/g besitzt.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird auch ein Prepreg mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante zur
Verfügung
gestellt, wobei das anorganische Substrat ein Glasfaservliesgewebe
mit einer Dicke von 100 μm
oder weniger ist, das mindestens 90 Gew.-% einer flachen Glasfaser
enthält,
deren Querschnitt flach ist und bei der ein Flachheitsverhältnis, dargestellt
durch Länge/Breite
des Querschnitts, 3,1/1 bis 5/1 beträgt, die Querschnittsfläche 90–98% der
Fläche
eines den Glasfaserquerschnitt umschreibenden Rechtecks beträgt und ein
umgewandelter Faserdurchmesser 5–17 μm beträgt.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird auch ein Prepreg mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante zur
Verfügung
gestellt, wobei das obige anorganische Substrat ein Keramik fasersubstrat
mit einer relativen Dielektrizitätskonstante
von mindestens 50 ist.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung wird auch ein Prepreg mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante zur
Verfügung
gestellt, wobei das obige organische Fasergewebesubstrat ein Faservliesgewebe
eines aromatischen Polyesters ist.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung 2 wird auch eine Leiterplatte, erhalten durch Herstellung
eines Durchführungsloch
und/oder eines Grunddurchgangslochs, in eine kupferbeschichtete
Platte, umfassend den obigen Prepreg mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante,
zur Verfügung
gestellt.
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Kurze Beschreibung
der Zeichnungen
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Die 1 zeigt
die Stufen der Herstellung eines Prepregs (2) mit hoher
relativer Dielektrizitätskonstante
gemäß der vorliegenden
Erfindung.
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Die 2 zeigt
eine Stufe der Herstellung eines Durchführungslochs mit einem Kohlendioxidgaslaser (2),
eine Stufe der Entfernung eines Teils der Dicke einer Oberflächen-Kupferfolie
und der Kupferfolienpressnähte
in einem Lochteil durch SUEP (3) und eine Stufe der Kupferplattierung
(4).
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Detaillierte
Beschreibung der Erfindung
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Die
Folie im B-Stadium mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante
gemäß der vorliegenden
Erfindung 1 kann in einer Isolierungsfolie oder einer Folie, an
die eine Kupferfolie angeheftet worden ist, mit einer Dicke von
50 μm oder
weniger gebildet werden. Die so erhaltene Isolierungsfolie oder
die Folie mit der daran angehefteten Kupferfolie kann dazu verwendet
werden, eine Leiterplatte herzustellen. Diese Leiterplatte hat eine hohe
Hitzebeständigkeit
und eine hohe relative Dielektrizitätskonstante. Sie ist in ausgezeichneter
Weise dafür geeignet,
ein Loch mit einem kleinen Durchmesser mit einem Kohlendioxidgaslaser
herzustellen. Sie hat eine ausgezeichnete Adhäsionsfestigkeit gegenüber einer
Kupferfolie und sie hat eine ausgezeichnete Verlässlichkeit. Naturgemäß ist es
auch möglich,
eine Folie mit einer Dicke von mindestens 50 μm herzustellen.
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Die
vorliegende Erfindung 1 stellt eine Folie im B-Stadium mit hoher
relativer Dielektrizitätskonstante zur
Verfügung,
bei der ein isolierender anorganischer Füllstoff mit einer relativen
Dielektrizitätskonstante
von mindestens 500 bei Raumtemperatur in eine lösungsmittelfreie Harzkomponente
so eingearbeitet worden ist, dass der Gehalt an dem isolierenden
anorganischen Füllstoff
80 bis 99 Gew.-% beträgt.
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Unter
der obigen lösungsmittelfreien
Harzkomponente ist eine Harzkomponente zu verstehen, die als wesentliche
Komponente eine Harzzusammensetzung enthält, erhalten durch Einarbeiten
von 50–10.000 Gew.-Teilen
eines Epoxyharzes (b), das bei Raumtemperatur flüssig ist, in 100 Gew.-Teile
eines Monomers eines polyfunktionellen Cyanatesters und/oder eines
Präpolymers
des Cyanatesters (a) und Einarbeiten von 0,005-10 Gew.-Teilen eines
wärmehärtenden
Katalysators pro 100 Gew.-Teile der Gesamtmenge (a+b) des Monomers
des Cyanatesters und/oder des Präpolymers
des Cyanatesters und des Epoxyharzes.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung 1 kann eine Folie im B-Stadium mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante,
die eine relative Dielektrizitätskonstante
von mindestens 50 als gehärtete
Folie hat, und eine an die Folie im B-Stadium angeheftete Kupferfolie
zur Verfügung
gestellt werden. Weiterhin kann die vorliegende Erfindung eine Lei terplatte,
die eine kupferplattierte Platte der Folie im B-Stadium mit hoher
relativer Dielektrizitätskonstante
als Kondensator oder dergleichen verwendet, zur Verfügung stellen.
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Wenn
der anorganische Füllstoff
in einer hohen Menge, insbesondere in einer Menge von 80 Gew.-% oder
mehr eingearbeitet wird, dann tritt ein Defekt, wie eine Verschlechterung
der Kupfer-Folien-Adhäsionsfestigkeit
auf. Gemäß bisherigen
Vorschlägen
ist daher schon eine Folie im B-Stadium
ohne eine daran angeheftete Kupferfolie entwickelt worden, in die
der anorganische Füllstoff
in einer großen
Menge eingearbeitet worden ist. Erfindungsgemäß wird zur Herstellung eines
kupferplattierten Laminats mit einer relativen Dielektrizitätskonstante
von insbesondere mindestens 50 und zur Beibehaltung der Kupferfolien-Adhäsionsfestigkeit
und einer Leiterplatte, die dieses Material umfasst, ein anorganischer
Füllstoff
mit einer relativen Dielektrizitätskonstante
von mindestens 500, vorzugsweise mindestens 1000, bei Raumtemperatur
verwendet und es wird als Harz ein flüssiges Harz, das leicht zu
einer Folie verformt werden kann, und eine polyfunktionelle Cyanatesterverbindung
zur Aufrechterhaltung der charakteristischen Eigenschaften eingesetzt.
Nach der Einarbeitung dieser Komponenten werden diese Komponenten
gleichförmig
vermischt und dispergiert um eine Folie zu bilden, oder das resultierende
Gemisch wird auf eine Oberfläche
einer Kupferfolie bindend aufgetragen um eine kupferplattierte Folie
zu erhalten.
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Die
erfindungsgemäß verwendete
polyfunktionelle Cyanatesterverbindung ist eine Verbindung mit mindestens
zwei Cyanatogruppen pro Molekül.
Spezielle Beispiele hierfür
schließen
1,3- oder 1,4-Dicyanatobenzol, 1,3,5-Tricyanatobenzol, 1,3-, 1,4-,
1,6-, 1,8-, 2,6- oder 2,7-Dicyanatonaphthalin, 1,3,6-Tricyanatonaphthalin,
4,4-Dicyanatobiphenyl, Bis(4-dicyanatophenyl)methan, 2,2-Bis(4-cyanato phenyl)propan, 2,2-Bis(3,5-dibrom-4-cyanatophenyl)propan,
Bis-(4-cyanatophenyl)ether, Bis(4-cyanatophenyl)thioether, Bis(4-cyanatophenyl)sulfon,
Tris(4-cyanatophenyl)phosphit, Tris(4-cyanatophenyl)phosphat sowie
Cyanate, erhalten durch eine Umsetzung zwischen Novolaken und Cyanhalogeniden,
ein.
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Zusätzlich zu
den obigen Verbindungen können
polyfunktionelle Cyanatesterverbindungen, beschrieben in den JP-PSen
Nrn. 41–1928,
43–18468,
44–4791,
45–11712,
46–41112
und 47–26853
und der JP-A-51-63149, eingesetzt werden. Weiterhin kann ein Präpolymer
mit einem Molekulargewicht von 400 bis 6000, das einen Triazinring,
gebildet durch eine Trimerisierung der Cyanatogruppe einer beliebigen
dieser polyfunktionellen Cyanatesterverbindungen, eingesetzt werden.
Das oben genannte Präpolymer
wird dadurch erhalten, dass das oben genannte polyfunktionelle Cyanatestermonomer
in Gegenwart einer Säure,
wie einer Mineralsäure
oder einer Lewis-Säure,
einer Base, wie Natriumalcoholat, oder eines tertiären Amins
oder eines Salzes, wie Natriumcarbonat, als Katalysator polymerisiert
wird. Das Präpolymer
enthält
teilweise nicht-umgesetztes Monomer und es liegt in Form eines Gemisches
eines Monomers oder eines Präpolymers
vor. Das Präpolymer
in der obigen Form wird auch in geeigneter Weise gemäß der vorliegenden
Erfindung eingesetzt. Im Allgemeinen wird es vor dem Gebrauch in
einem organischen Lösungsmittel
aufgelöst,
in dem es löslich
ist.
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Das
Epoxyharz, das bei Raumtemperatur flüssig ist, wird im Allgemeinen
aus bekannten Epoxyharzen ausgewählt.
Spezielle Beispiele hierfür
schließen
Epoxyharze vom Bisphenol A-Typ,
Epoxyharze vom Bisphenol F-Typ, Epoxyharze vom Phenol-Novolak-Typ,
Diglycidyl-modifizierte Polyetherpolyole und epoxidierte Säureanhydride
sowie alicyclische Epoxyharze ein. Diese Harze können entweder allein oder in
Kombination zum Einsatz kommen. Die Menge des Harzes pro 100 Gew.-Teile
eines Monomers eines polyfunktionellen Cyanatesters und/oder Präpolymers
des genannten Cyanatesters beträgt
50 bis 10.000 Gew.-Teile, vorzugsweise 100 bis 500 Gew.-Teile.
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Verschiedene
Additive können
zu den erfindungsgemäßen wärmehärtenden
Harzzusammensetzungen wie erforderlich zugesetzt werden, solange
wie die inhärenten
Eigenschaften der Zusammensetzung nicht verschlechtert werden. Die
obigen Additive schließen
Monomere mit polymerisierbaren Doppelbindungen, wie ungesättigte Polyester,
Präpolymere
davon, flüssige
elastische Kautschuke mit einem niedrigen Molekulargewicht oder
elastische Kautschuke mit einem hohen Molekulargewicht, wie Polybutadien,
epoxidiertes Butadien, maleiertes Butadien, Butadien-Acrylnitril-Copolymere,
Polychloropren, Butadien-Styrol-Copolymer, Polyisopren, Butylkautschuk,
Fluorkautschuk und Naturkautschuk, Polyethylen, Polypropylen, Polybuten,
Poly-4-methylpenten, Polystyrol, AS-Harz, ABS-Harz, MBS-Harz, Styrol-Isopren-Kautschuk, Polyethylen-Propylen-Copolymer,
4-Fluorethylen-6-fluorethylen-Copolymer,
Präpolymere
oder Oligomere mit hohem Molekulargewicht, wie Polycarbonate, Polyphenylenether,
Polysulfone, Polyester und Polyphenylsulfid und Polyurethan ein.
Diese Additive werden in richtiger Art und Weise eingesetzt. Weiterhin
können
verschiedene bekannte Additive, wie anorganische oder organische
Füllstoffe,
Farbstoffe, Pigmente, Verdickungsmittel, Schmiermittel, Antischaumbildungsmittel,
Dispergierungsmittel, Verlaufmittel, Photosensibilisatoren, flammverzögernde Mittel
oder Glanzmittel, Polymerisationsinhibitoren und thixotrope Mittel,
entweder allein oder in Kombination, wie erforderlich, zum Einsatz
kommen. Ein Härtungsmittel
oder ein Katalysator wird wie erforderlich in eine Verbindung mit
einer reaktiven Gruppe eingearbeitet.
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Die
erfindungsgemäß verwendete
wärmehärtende Harzzusammensetzung
wird ihrerseits unter Erhitzen gehärtet. Da jedoch ihre Härtungsgeschwindigkeit
niedrig ist, hat sie eine schlechte Verarbeitbarkeit und schlechte ökonomische
Eigenschaften etc. und es wird ein bekannter hitzehärtender
Katalysator in das wärmehärtende Harz
eingearbeitet. Die Menge des Katalysators pro 100 Gew.-Teile der
Gesamtmenge der polyfunktionellen Cyanatesterkomponente und der
Epoxyharzkomponente beträgt
0,005 bis 10 Gew.-Teile, vorzugsweise 0,01 bis 5 Gew.-Teile.
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Unter
dem erfindungsgemäß verwendeten
isolierenden anorganischen Füllstoff
ist ein pulverförmiger isolierender
anorganischer Füllstoff
zu verstehen, der eine relative Dielektrizitätskonstante von mindestens 500
bei Raumtemperatur, eine Breite des Partikeldurchmessers von vorzugsweise
3 bis 50 μm,
einen mittleren Partikeldurchmesser von vorzugsweise 4 bis 30 μm und eine
spezifische Oberfläche
nach BET von vorzugsweise 0,30 bis 1,00 m2/g,
stärker
bevorzugt von 0,35 bis 0,60 m2/g, hat. Wenn
der mittlere Partikeldurchmesser kleiner ist als die untere Grenze
des obigen Bereichs, dann besteht das Problem, dass die Adhäsionsfestigkeit der
Kupferfolie vermindert wird. Wenn andererseits der Partikeldurchmesser
größer ist
als die obere Grenze des oben genannten Bereichs, dann besteht das
Problem, dass es unmöglich
ist, die dünne
Folie im B-Stadium herzustellen oder dass der anorganische Füllstoff
sich zum Zeitpunkt der Herstellung einer Folie absetzt, so dass
die erhaltene Folie ungleichmäßig ist.
Wenn der anorganische Füllstoff
in einer großen
Menge eingearbeitet wird und insbesondere in einer Menge von 80
Gew.-% oder mehr, dann wird ein Defekt dahingehend bewirkt, dass
die Adhäsionsfestigkeit
der Kupferfolie verringert wird. Daher wird gemäß den herkömmlichen Vorschlägen ein
nicht-kupferplattiertes Laminat entwickelt, in das der anorganische
Füllstoff
in großer
Menge eingearbeitet worden ist. Erfindungsgemäß kann ein kupferplattiertes
Laminat mit einer relativen Dielektrizitätskonstante von insbesondere
mindestens 20, vorzugsweise mindestens 50, hergestellt wer den, wobei
die Adhäsionsfestigkeit
der Kupferfolie beibehalten wird. Es kann auch eine Leiterplatte
zur Verfügung
gestellt werden, die dieses Material aufgrund der Verwendung des
isolierenden anorganischen Füllstoffs
mit den obigen charakteristischen Eigenschaften umfasst.
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Der
erfindungsgemäß verwendete
anorganische Füllstoff
ist besonders bevorzugt eine Keramik, die eine Titansäureverbindung
enthält.
Speziell schließt
er eine Bariumtitanatenthaltende Keramik, eine Strontiumtitanat-enthaltende
Keramik, eine Bleititanat-enthaltende Keramik, eine Magnesiumtitanat-enthaltende
Keramik, eine Calciumtitanatenthaltende Keramik, eine Wismuth-enthaltende
Keramik und eine Bleizirconat-enthaltende Keramik ein. Was die Zusammensetzung
dieser Materialien betrifft, so kann eine beliebige dieser Keramiken
aus jeder Komponente allein gebildet werden oder sie kann aus jeder
Komponente und kleinen Mengen von anderen Additiven gebildet werden,
während
die Kristallstruktur der Hauptkomponente beibehalten wird. Diese
Materialien werden allein oder in Kombination eingesetzt. Es können Materialien,
erhalten durch Sintern irgendeiner der obigen Keramiken oder von
mindestens zwei Keramiken und durch Pulverisieren der gesinterten
Keramik bzw. der gesinterten Keramiken, verwendet werden. Die Menge
des anorganischen Füllstoffs
beträgt
80 bis 99 Gew.-%, vorzugsweise 85 bis 95 Gew.-%, bezogen auf die
Gesamtmenge.
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Die
erfindungsgemäß verwendeten
Komponenten können
durch allgemein bekannte Verfahren gleichförmig miteinander verknetet
werden. So werden z.B. die Komponenten vermischt und das Gemisch
wird mit einem Dreiwalzenapparat bei Raumtemperatur oder unter Hitze
verknetet. Ansonsten können
auch allgemein bekannte Maschinen, wie Kugelmischer, Mischer oder
Homogenisatoren, zum Einsatz kommen. In manchen Fällen wird
ein Lösungsmittel
zugesetzt um die Viskosität auf
eine Viskosität
einzustellen, die für
das Verarbeitungsverfahren geeignet ist.
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Das
verknetete Gemisch wird mit einer Walze unter Druck zu einer Folie
verformt. Ansonsten kann das verknetete Gemisch auch extrudiert
und an eine Oberfläche
einer Kupferfolie gebunden werden, um eine Folie im B-Stadium, die
an eine Kupferfolie angeheftet ist, zu erhalten. Die Dicke der Folie
ist eine vorbestimmte Dicke, und zwar vorzugsweise 50 μm oder weniger.
Es kann weiterhin ein Verfahren angewendet werden, bei dem ein Lösungsmittel
teilweise zu dem verkneteten Gemisch gegeben wird, um eine viskose
Lösung
zu erhalten. Die viskose Lösung
wird auf einen Trennfilm oder eine Kupferspulenoberfläche mittels
eines Rakelbeschichtungsverfahrens oder dergleichen aufgebracht,
um eine Schicht mit einer vorbestimmten Dicke zu bilden. Die Schicht
wird getrocknet um eine Folie zu bilden.
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Die
erfindungsgemäß verwendete
Kupferfolie ist keinen besonderen Begrenzungen unterworfen, jedoch
wird eine elektrolytische Kupferfolie mit einer Dicke von 3 bis
18 μm vorzugsweise
eingesetzt.
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Bei
den erfindungsgemäß angewendeten
Bedingungen für
die Laminatbildung der kupferplattierten Platte beträgt die Temperatur
hierfür
im Allgemeinen 150 bis 250°C.
Der Druck hierfür
beträgt
im Allgemeinen 5 bis 50 kgf/cm2 und die
Zeitspanne hierfür
beträgt
im Allgemeinen 1 bis 5 Stunden. Weiterhin wird die Laminatbildung
vorzugsweise in einem Vakuum durchgeführt.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung 2 wird ein Prepreg mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante
zur Verfügung
gestellt, das dadurch erhalten wird, dass ein anorganisches Substrat
oder ein organisches Fasergewebesubstrat sandwichartig zwischen
die durch die vorliegende Erfindung 1 angegebenen Folien im B-Stadium
mit hoher relativer Di elektrizitätskonstante
gelegt wird und dass diese Komponenten ohne Störung des B-Stadium-Zustandes
miteinander integriert werden.
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Da
das Prepreg mit dem Substrat verstärkt ist, hat das Prepreg eine
höhere
Festigkeit als ein Prepreg, das kein Substrat enthält, so dass
das oben genannte Prepreg eine ausgezeichnete Beständigkeit
gegenüber Dimensionsveränderungen
nach dem Verformen hat. Es ist weiterhin auch möglich, ein Prepreg mit hoher
relativer Dielektrizitätskonstante
zu erhalten, das eine relative Dielektrizitätskonstante von mindestens
20 hat. Ein kupferplattiertes Laminat, erhalten unter Verwendung
des obigen Prepregs, hat eine ausgezeichnete Adhäsion an einer Kupferfolie und
eine hohe Hitzebeständigkeit.
In ausgezeichneter Weise werden Durchgangslöcher mit einem kleinen Durchmesser
in dem kupferplattierten Laminat mit einem Kohlendioxidgaslaser
hergestellt. Eine Leiterplatte, auf die das oben genannte kupferplattierte
Laminat aufgebracht worden ist, hat ausgezeichnete elektrische Isolierungseigenschaften
nach der Absorption von Feuchtigkeit und ausgezeichnete Anti-Migrationseigenschaften.
Es hat auch eine ausgezeichnete Verlässlichkeit bzw. Beständigkeit
im Zusammenhang mit elektrischen Anschlüssen bzw. Verbindungen.
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Die
vorliegende Erfindung 2 stellt ein Verfahren zur Herstellung eines
Prepregs mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante zur Verfügung, bei
dem eine wärmehärtende Harzzusammensetzung,
enthaltend 80 bis 99 Gew.-% eines pulverförmigen isolierenden anorganischen
Füllstoffs,
mit einer relativen Dielektrizitätskonstante
von mindestens 500 bei Raumtemperatur zu Folien im B-Stadium verarbeitet
wird. Ein anorganisches Substrat oder ein organisches Fasergewebesubstrat
wird sandwichartig zwischen die Folien im B-Stadium zwischengelegt.
Darauf werden Trennfilme angeordnet, und zwar einer auf einer Oberfläche und
einer auf der anderen Oberfläche
oder eine Kupferfolie wird auf mindestens einer Oberfläche davon
angeordnet. Diese Materialien werden ohne Verschlechterung des B-Stadium-Zustands miteinander
integriert, wodurch ein Prepreg mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante
erhalten wird. Gemäß der vorliegenden-Erfindung
2 wird auch ein an eine Kupferfolie angeheftetes Prepreg zur Verfügung gestellt.
Naturgemäß können mindestens
zwei Folien im B-Stadium auf einer Oberfläche des Substrats platziert
werden. Jedoch wird in diesem Fall die Dicke des so hergestellten
Prepregs zu hoch. Es wird daher bevorzugt, eine Folie im B-Stadium
auf einer Oberfläche
des Substrats und eine Folie im B-Stadium auf der anderen Oberfläche zu platzieren.
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Als
Verfahren zur Herstellung des Prepregs kann z.B. ein Verfahren zur
Anwendung kommen, bei dem eine Oberfläche einer Folie im B-Stadium
mit einem Trennfilm bedeckt wird. Es werden zwei derartige Folien vorgesehen
und ein Substrat wird sandwichartig zwischen diese zwei Folien im
B-Stadium so dazwischen
gelegt, dass die Oberfläche
der Harzschicht jeder Folie im B-Stadium, wobei die Oberfläche der
Harzschicht der Oberfläche,
an die der Trennfilm angeheftet ist, gegenüber liegt, dem Substrat zugewendet
ist. Diese Materialien werden unter Druck mit einer Walze oder einer
Presse, die vorzugsweise bis zu einer Temperatur erhitzt ist, bei
der der Zustand des B-Stadiums aufrecht erhalten werden kann, miteinander
integriert, um ein Prepreg zu erhalten, das das Substrat enthält (1 (1),
(2)). Obgleich sie keinen speziellen Begrenzungen unterworfen
ist, ist doch die Temperatur hierfür im Allgemeinen 80 bis 150°C und der
Druck hierfür
ist im Allgemeinen 5 bis 20 kgf/cm als linearer Druck. Die Symbole
in der der vorliegenden Beschreibung beigefügten 1 haben
die folgenden Bedeutungen: a: Polyethylenterephthalatfilm, b: Folie
im B-Stadium mit einer hohen relativen Dielektrizitätskonstante
und c: anorganisches Substrat. Mindestens eine Folie des erfindungsgemäßen Prepregs
wird vorgesehen. Eine Kupferfolie, vorzugsweise eine elektrolytische
Kupferfolie wird auf mindestens eine Oberfläche des Prepregs aufgebracht
bzw. darauf platziert und der resultierende Satz wird unter Erhitzen und
unter Drucklaminat verformt um eine kupferplattierte Platte zu erhalten.
Die oben genannte Kupferfolie ist keinen speziellen Begrenzungen
unterworfen, wobei jedoch vorzugsweise eine elektrolytische Kupferfolie
mit einer Dicke von 3 bis 18 μm
zum Einsatz kommt. Bei den Bedingungen für die Laminatbildung der kupferplattierten
Platte, die das erfindungsgemäße Prepreg
enthält,
ist die Temperatur hierfür
im Allgemeinen 150 bis 250°C,
der Druck hierfür
ist im Allgemeinen 5 bis 50 kgf/cm2 und
der Zeitraum hierfür
ist im Allgemeinen 1 bis 5 Stunden. Schließlich wird die Laminatbildung
vorzugsweise im Vakuum durchgeführt.
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Das
Substrat kann aus allgemein bekannten anorganischen Substraten ausgewählt werden.
So wird z.B. ein Glasfasergewebe, ein Glasfaservlies, ein Keramikfasergewebe
und ein Keramikfaservlies eingesetzt. Ein Gewebe bzw. Vlies mit
einer höheren
relativen Dielektrizitätskonstante
wird bevorzugt. Da das Gewebe eine große Dichte hat, hat das Prepreg
eine erhöhte
relative Dielektrizitätskonstante.
Es ist jedoch unmöglich, dass
zur Verminderung der Dicke des Prepregs eine größere Menge einer Harzzusammensetzung,
die den anorganischen Füllstoff
enthält,
an das Gewebe angeheftet wird. Daher wird ein Faservlies bevorzugt.
Naturgemäß kann auch
geeigneterweise ein Gewebe mit verminderter Dichte, das eine Vielzahl
von Zwischenräumen
hat, zum Einsatz kommen.
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Als
Glasfaservlies wird ein Glasfaservlies mit einer Dicke von 100 μm oder weniger,
vorzugsweise 50 μm
oder weniger, eingesetzt, das mindestens 90 Gew.-% Flachglasfasern
enthält,
deren Querschnitt flach ist und deren Flachheitsverhältnis, dargestellt
durch Länge/Breite
des Querschnitts, 3,1/1 bis 5/1 beträgt, deren Querschnittsfläche 90 bis
98% der Fläche
eines den Glasfaserquerschnitt umschreibenden Rechtecks beträgt und deren
umgewandelter Faserdurchmesser 5 bis 17 μm beträgt. Aufgrund der Verwendung
des obigen Glasfaservlieses kann die Dicke des Prepregs verringert
werden. Mehr bevorzugt kann bei Verwendung eines keramischen Fasergewebes
mit einer relativen Dielektrizitätskonstante
von mindestens 50, vorzugsweise mindestens 500, als das obige anorganische
Substrat die relative Dielektrizitätskonstante des Prepregs weiter
gesteigert werden. Der „umgewandelte
Faserdurchmesser" bedeutet
einen Durchmesser, berechnet als Kreis mit der Querschnittsfläche einer
Faser.
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Gemäß der vorliegenden
Erfindung 2 wird auch ein Prepreg zur Verfügung gestellt, erhalten durch
Vorsehen eines organischen Fasergewebes als Substrat, Bildung einer
Schicht einer wärmehärtenden
Harzzusammensetzung, enthaltend ein wärmehärtendes Harz, und 80 bis 99
Gew.-% eines isolierenden anorganischen Füllstoffs mit einer relativen
Dielektrizitätskonstante
von mindestens 500 bei Raumtemperatur auf einer Oberfläche eines
thermoplastischen Harzfilms, Platzierung der resultierenden thermoplastischen
Harzfilme auf beiden Oberflächen
des organischen Fasergewebes, einer auf einer Oberfläche und
einer auf der anderen Oberfläche,
so dass die Harzschichtoberfläche
jedes thermoplastischen Harzfilms der Seite des organischen Fasergewebes
zugewandt sein kann, schmelzende Harzschichten unter Hitze und unter
Druck um die Harzschichten an das mittlere organische Fasergewebe
zu binden. Weiterhin stellt die vorliegende Erfindung eine Leiterplatte
zur Verfügung,
wobei eine aus dem Prepreg hergestellte kupferplattierte Platte
verwendet worden ist. Die obige Leiterplatte hat eine ausgezeichnete
Adhäsionsfestigkeit
gegenüber
der Kupferfolie und sie hat eine hohe mechanische Festigkeit, eine
hohe Hitzebeständigkeit
und eine hohe relative Dielektrizitätskonstante. Weiterhin kann
ein Durchgangsloch mit kleinem Durchmesser in ausgezeichneter Weise
in der obigen Leiterplatte mit einem Kohlendioxidlaser hergestellt
werden und die obige Leiterplatte hat eine ausgezeichnete Verlässlichkeit
bezüglich
elektrischen Anschlüssen.
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Das
organische Fasergewebesubstrat ist keinen besonderen Begrenzungen
unterworfen. Jedoch werden vorzugsweise Faservliese bzw. nicht-gewebte
Flächengebilde
und Gewebe- bzw.
gewebte Flächengebilde
von Flüssigkristallpolyesterfasern,
Polybenzazolfasern und vollständig
aromatischen Polyamidfasern eingesetzt. Insbesondere wird ein Faservlies
aus einem Flüssigkristallpolyester,
vorzugsweise im Hinblick auf die Bildung eines Durchgangslochs mit
einem mechanischen Bohrer oder einem Kohlendioxidgaslaser verwendet. Wenn
ein Faservliesgewebe verwendet wird, dann können ein Faservlies bzw. ein
nicht-gewebtes Flächengebilde,
erhalten durch Anheften eines Bindemittels an Fasern zur Verbindung
der Fasern miteinander oder nichtgewebte Fasern, beschrieben in
der JP-A-11-255908, wobei Fasern mit niedrigem Polymerisationsgrad
mit Fasern mit hohem Polymerisationsgrad vermischt werden, wobei
die Fasern mit niedrigem Polymerisationsgrad unter Erhitzen bei
einer Temperatur von etwa 300°C
geschmolzen werden und die geschmolzenen Fasern mit niedrigem Polymerisationsgrad
anstelle des Bindemittels eingesetzt werden, verwendet werden. Bei
Verwendung des Bindemittels ist die Menge des Bindemittels keinen
besonderen Beschränkungen
unterworfen. Jedoch wird das Bindemittel vorzugsweise in einer Menge
von 3 bis 8 Gew.-% angeheftet um die Festigkeit des Faservlieses
bzw. des nicht-gewebten Flächengebildes
aufrecht zu erhalten.
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Das
Verfahren zur Herstellung des Prepregs durch Bildung einer Harzschicht
auf der Oberfläche
des organischen Substrats ist wie folgt. Ein isolierender anorganischer
Füllstoff
wird zu einer Harzzusammensetzung gegeben und ein Lösungsmittel
wird hierzu wie erforderlich hinzugefügt um einen Lack zu erhalten.
Der Lack wird auf eine Oberfläche eines
Trennfilms aufgebracht und der Lack wird getrocknet um eine Folie
im B-Stadium zu erhalten. Die Folien im B-Stadium werden auf beide Oberflächen des
organischen Substrats aufgebracht und zwar eine auf eine Oberfläche und
die andere auf die andere Oberfläche,
so dass die Oberfläche der
Harzschicht jeder Folie im B-Stadium dem Substrat zugewendet sein
kann. Diese Materialien werden laminiert und unter Erhitzen mit
einer Druckwalze oder dergleichen miteinander integriert um ein
Prepreg im B-Stadium zu erhalten.
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Eine
Kupferfolie, vorzugsweise eine elektrolytische Kupferfolie, wird
auf mindestens einer Oberfläche des
so erhaltenen Prepregs platziert und der resultierende Satz wird
unter Hitze und unter Druck laminatverformt um ein kupferplattiertes
Laminat zu erhalten. Die obige Kupferfolie ist keinen besonderen
Begrenzungen unterworfen. Jedoch haben, wenn das kupferplattierte
Laminat eine doppelseitige kupferplattierte Platte ist, die Kupferfolien
vorzugsweise eine Dicke von 3 bis 18 μm. wenn das kupferplattierte
Laminat als innere Platte verwendet wird, dann wird vorzugsweise
eine elektrolytische Kupferfolie mit einer Dicke von 9 bis 35 μm verwendet.
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Ein
Durchgangsloch kann in der erfindungsgemäßen Folie im B-Stadium oder
dem kupferplattierten Laminat, erhalten durch Verwendung der Folie
im B-Stadium, mit einem mechanischen Bohrer hergestellt werden.
Da jedoch der anorganische Füllstoff
in so großer
Menge enthalten ist, dass sich der Bohrer in erheblicher Weise verschleißt, wird
es bevorzugt, das Durchgangsloch mit einem Laser zu erzeugen. Im
Hinblick auf die Verarbeitungsgeschwindigkeit ist es bevorzugt,
einen Kohlendioxidgaslaser einzusetzen. Das Verfahren zur Erzeugung
eines Durchgangslochs mit einem Kohlendioxidgaslaser ist keinen
speziellen Begrenzungen unterworfen. Jedoch wird ein Hilfsmaterial
auf dem kupferplattierten Laminat platziert und das Hilfsmaterial
wird direkt mit einem Kohlendioxidgaslaser mit hoher Energie bestrahlt,
wodurch ein Durchführungsloch
und/oder ein Grunddurchgangsloch leicht gebildet werden kann. wenn
das Durchführungsloch
und/oder das Grunddurchgangsloch hergestellt wird, dann bleiben
um das Durchführungsloch
herum Kupferfolien-Pressnähte
zurück.
Die Kupferfolien-Pressnähte
können
durch eine mechanische Polierung entfernt werden, wobei es jedoch
unmöglich
ist, die Kupferfolien-Pressnähte vollständig zu
entfernen. Im Falle von dicken Kupferfolien mit einer Dicke von
9 bis 12 μm
wird ein Verfahren bevorzugt, bei dem die Oberflächen-Kupferfolien in Richtung der
Dicke mit einer Chemikalie angeätzt
werden, bis jede der Kupferfolien eine restliche Dicke von 2 bis
7 μm hat,
wobei gleichzeitig die um das Durchgangsloch herum vorhandenen Kupferfolien-Pressnähte angeätzt und entfernt
werden. Danach wird eine Kupferplattierung durchgeführt und
Schaltkreise werden auf den Front- und Rückseitenoberflächen des
kupferplattierten Laminats gebildet um eine Leiterplatte zu erhalten.
Zur Herstellung eines mehrschichtigen Laminats wird eine mehrschichtige
kupferplattierte Platte, erhalten durch Oberflächenbehandlung mindestens einer
Oberfläche
der obigen Leiterplatte mit Kupfer, durch Platzierung eines Prepregs
und einer Kupferfolie darauf und Laminatbildung des resultierenden
Satzes vorgesehen und ein Durchgangsloch, das durch die mehrschichtige
kupferplattierte Platte von der Frontoberfläche zu der Rückseitenoberfläche so hindurch
dringt, dass vorzugsweise am Schluss die inneren und äußeren Kupferfolien
miteinander verbunden werden, und/oder ein Grunddurchgangsloch werden/wird
hergestellt. Die Frontoberfläche
und die Rückseitenoberfläche der
Kupferfolien werden zum Teil angeätzt und mit einer Chemikalie
entfernt, gefolgt von einer Durchgangslochplattierung, einer Grunddurchgangslochplattierung
und einer Bildung von Schaltkreisen auf der Vorder- und Rückoberfläche sowie
eine gegebenenfalls erfolgende Bedeckung mit einem Plattierungsrestist
und ei ner Plattierung mit einem Edelmetall um eine Leiterplatte
zu erhalten.
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Ein
Durchgangsloch kann durch allgemeine Verfahren zur Herstellung von
Durchgangslöchern
unter Verwendung eines Excimerlasers, eines YAG-Lasers, eines Kohlendioxidgaslasers
oder eines mechanischen Bohrers erzeugt werden. Im Hinblick auf
die Bearbeitbarkeit, die Geschwindigkeit der Erzeugung der Durchgangslöcher und
die Verlässlichkeit
der Durchgangslöcher
wird jedoch die Verwendung eines Kohlendioxidgaslasers bevorzugt.
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Ein
Durchführungsloch
und/oder ein Grunddurchgangsloch mit einem Durchmesser von 25 bis
180 μm werden
im Allgemeinen mit einem Laser erzeugt. Ein Durchgangsloch mit einem
Durchmesser im Bereich von mindestens 25 μm bis weniger als 80 μm wird vorzugsweise
mit einem Excimer-Laser oder einem YAG-Laser erzeugt. Zur Erzeugung
eines Durchgangslochs mit einem Durchmesser von mindestens 80 μm bis 180 μm oder weniger
wird die Oberfläche
einer Kupferfolie behandelt um eine Schicht aus einem Metalloxid
zu bilden, oder es erfolgt eine Behandlung mit einer Chemikalie
oder eine Beschichtung mit einer Beschichtungsmasse, enthaltend
3 bis 97 Vol.-% von mindestens einem Pulver aus der Gruppe Kohlepulver,
Metallpulver oder Metallverbindungspulver mit einem Schmelzpunkt
von mindestens 900°C
und einer Bindungsenergie von mindestens 300 kJ/mol. Es kann auch
eine Folie, erhalten durch Auftragen der Beschichtungszusammensetzung
auf einen thermoplastischen Film gebildet werden oder sie kann auf
die Oberfläche
der Kupferfolie so aufgebracht werden, dass eine Gesamtdicke von
vorzugsweise 30 bis 200 μm
erhalten wird. Dann wird die Oberfläche der resultierenden Kupferfolie
direkt mit einem Kohlendioxidgaslaser mit einer Ausgangsenergie
von 20 bis 60 mJ bestrahlt um ein Grunddurchgangsloch für ein Durchgangsloch
zu bilden. Nach der Erzeugung des Durchgangslochs können die
Oberflächen
der Kupferfolie mechanisch poliert werden um Pressnähte zu entfernen. Zur
vollständigen
Entfernung der Pressnähte
werden jedoch die beiden Oberflächen
der Kupferfolie zweidimensional angeätzt um einen Teil jeder Kupferfolie
in Richtung der Dicke zu entfernen, wodurch auch Pressnähte der
Kupferfolien, die in den Durchgangslochbereichen vorhanden sind,
angeätzt
und entfernt werden. In diesem Fall wird weiterhin die Dicke jeder
Oberflächen-Kupferfolie vermindert.
Bei der folgenden Bildung eines Stromkreises von engen Linien auf
den Front- und Rückkupferfolien,
erhalten durch eine Metallplattierung, treten daher keine Defekte,
wie Kurzschlüsse
und Brüche
des Leiterbildes, auf. Es kann eine Leiterplatte mit hoher Dichte
erzeugt werden. Wenn die Dicke der Frontoberflächen- und Rückoberflächen-Kupferfolien durch Ätzen verringert
wird, dann wird vorzugsweise eine Harzschicht, die an die Kupferfolienoberfläche der
Innenschicht angeheftet ist, und die im Inneren eines Durchgangslochs
freigelegt ist, vorzugsweise mindestens in einer gasförmigen Phase
behandelt und dann durch Ätzen
entfernt werden. Mindestens 50 Vol.-% der Innenseite eines Durchgangslochs
können
mit einer Kupferplattierung gefüllt
werden.
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Wenn
die Anfangsdicke der Kupferfolie gering ist oder 3 bis 7 μm beträgt, dann
werden Hilfsmaterialien an die Frontoberflächen- und Rückoberflächen-Kupferfolien angeheftet
und die obere Oberfläche
wird direkt mit einem Kohlendioxidgaslaser bestrahlt um ein Durchführungsloch
und/oder ein Grunddurchgangsloch zu erzeugen. Dann werden die Hilfsmaterialien
so wie sie sind zurückbehalten
und die Pressnähte
der Kupferfolie der Oberflächenschichten
und der inneren Schichten werden aufgelöst und durch Aufblasen einer Ätzlösung oder
durch Saugen der Ätzlösung durch
das Durchgangsloch hindurch entfernt. Dann werden die Schichten des
Hilfsmaterials auf den Oberflächen
entfernt und eine Entschmierungsbehandlung wird wie erforderlich durchgeführt und
Kupfer wird durch Plattierung angeheftet. Die Verarbeitungsgeschwindigkeit
bei der Erzeugung eines Durchgangslochs mit einem Kohlendioxidgaslaser
ist im Vergleich zu der Verarbeitungsgeschwindigkeit mit einem Bohrer
bemerkenswert hoch, so dass die vorliegende Erfindung eine ausgezeichnete
Produktivität
hat und auch ausgezeichnete ökonomische
Eigenschaften hat. Wenn ein Durchführungsloch mit einem Durchmesser
von 180 μm
oder mehr erzeugt wird, dann wird dieses Durchgangsloch unter Verwendung eines
Excimer-Lasers, eines YAG-Lasers oder eines mechanischen Bohrers
erzeugt. Vorzugsweise wird das Loch mit einem mechanischen Bohrer
erzeugt.
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Die
Metallverbindung mit einem Schmelzpunkt von mindestens 900°C und einer
Bindungsenergie von mindestens 300 kJ/mol, die in dem erfindungsgemäßen Hilfsmaterial
verwendet wird, kann aus allgemein bekannten Metallverbindungen
ausgewählt
werden. Spezielle Beispiele hierfür schließen Oxide ein. Die Oxide schließen Titanoxide,
wie Titanoxid, Magnesiumoxide, wie Magnesiumoxid, Oxide von Eisen,
wie Eisenoxid, Oxide von Nickel, wie Nickeloxid, Mangandioxid, Oxide
von Zink, wie Zinkoxid, Siliciumdioxid, Aluminiumoxid, Oxide der
Metalle der seltenden Erden, Oxide von Kobalt, wie Kobaltoxid, Oxide
von Zinn, wie Zinnoxid, und Oxide von Wolfram, wie Wolframoxid,
ein. Weiterhin können
Materialien, die keine Oxide sind, verwendet werden. Diese Materialien,
die keine Oxide sind, schließen
im Allgemeinen nicht-oxidische Stoffe, wie Siliciumcarbid, Wolframcarbid,
Bornitrid, Siliciumnitrid, Titannitrid, Aluminiumnitrid, Bariumsulfat
und Sulfide der Metalle der seltenen Erden ein. Weiterhin können verschiedene
Gläser,
die Gemische dieser pulverförmigen
Metalloxide sind, gleichfalls verwendet werden.
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Die
pulverförmigen
Kohlematerialien und die pulverförmigen
Metallmaterialien schließen
pulverförmige
Materialien von einfachen Substanzen von Silber, Aluminium, Wismuth,
Kobalt, Kupfer, Eisen, Magnesium, Mangan, Molybdän, Nickel, Palladium, Antimon,
Silicium, Zinn, Titan, Vanadium, Wolf ram und Zink, oder metallische
Pulver von Legierungen dieser Stoffe ein. Diese werden entweder
allein oder in Kombination eingesetzt. Der Teilchendurchmesser dieser
Materialien ist keinen besonderen Begrenzungen unterworfen, beträgt aber
doch vorzugsweise 1 μm
oder weniger.
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Bei
der Bestrahlung mit einem Kohlendioxidgaslaser werden die Moleküle dissoziiert
oder geschmolzen um zerstreut zu werden. Es werden daher solche
bevorzugt, die keinen nachteiligen Effekt auf einen Halbleiterchip
oder auf die Adhäsionseigenschaften
einer Lochwand haben, wenn sie an der Lochwand haften, und dergleichen.
Ein Pulver, das Na-, K- oder Cl-Ionen enthält, wird nicht bevorzugt, da
es insbesondere einen nachteiligen Effekt auf die Zuverlässigkeit
eines Halbleiters hat. Die Menge des obigen Pulvers beträgt 3 bis 97
Vol.-%, vorzugsweise 5 bis 95 Vol.-%. Vorzugsweise wird das obige
Pulver in ein wasserlösliches
Harz eingearbeitet und homogen dispergiert.
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Das
wasserlösliche
Harz in dem Hilfsmaterial ist keinen speziellen Begrenzungen unterworfen,
während
es aus solchen Materialien ausgewählt wird, die beim Verkneten,
beim Aufbringen auf die Oberfläche
der Kupferfolie und beim Trocknen oder beim Verformen zu einer Folie
nicht abblättern.
So wird es z.B. aus allgemein bekannten Harzen, wie Polyvinylalkohol,
Polyester, Polyether und Stärke,
ausgewählt.
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Das
Verfahren der Herstellung der Zusammensetzung, die eine pulverförmige Metallverbindung,
Kohlepulver oder ein Metallpulver und ein Harz enthält, ist
nicht kritisch. Das oben genannte Verfahren schließt allgemein
bekannte Verfahren ein, wie beispielsweise ein Verfahren der Verknetung
von Materialien, ohne irgendein Lösungsmittel bei hoher Temperatur
mit einer Knetvorrichtung und der Extrudierung des verkneteten Gemisches
in Form einer Folie, um diese an die Oberfläche eines thermoplastischen
Films zu binden, sowie ein Verfahren der Auflösung eines wasserlöslichen
Harzes in Wasser, der Zugabe des oben genannten Pulvers, des homogenen
Vermischens damit unter Rühren,
des Aufbringens des Gemisches als eine Beschichtungsmasse auf die
Oberfläche
eines thermoplastischen Films und ihr Trocknen unter Bildung eines Überzugs. Die
Dicke der Folie oder des Überzugs
ist keinen speziellen Begrenzungen unterworfen, während die
Folie oder der Überzug
eine gesamte Dicke von 30 bis 200 μm hat.
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Es
ist weiterhin auch möglich,
die Oberfläche
einer Kupferfolie so zu behandeln, dass ein Metalloxid gebildet
wird, und dann in ähnlicher
Weise Durchgangslöcher
zu erzeugen. Die obige Behandlung ist keinen speziellen Begrenzungen
unterworfen und sie schließt
z.B. eine Oxidationsbehandlung zur Bildung von schwarzem Kupferoxid
und eine MM-Behandlung (vertrieben von der Firma Mac Dermid) ein.
Weiterhin wird vorzugsweise als eine Behandlung mit einer Chemikalie,
z.B. eine CZ-Behandlung (vertrieben von der Firma Meck K.K.), verwendet.
Im Hinblick auf die Form der Durchgangslöcher wird es jedoch bevorzugt,
das oben genannte Hilfsmaterial einzusetzen.
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Es
wird bevorzugt, eine Unterstützungsfolie,
gebildet durch Anheftung eines wasserlöslichen Harzes an eine Metallplatte,
auf die Rückoberfläche der
kupferplattierten Platte aufzubringen, so dass der Tisch eines Kohlendioxidgaslasers
nicht beschädigt
wird, wenn das Durchführungsloch
erzeugt wird.
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Das
Hilfsmaterial wird auf die Oberfläche der Kupferfolie aufgebracht,
um einen Überzug
zu bilden, oder das Hilfsmaterial wird auf einen thermoplastischen
Film aufgebracht, um eine Folie zu bilden. Wenn die Folie aus dem
Hilfsmaterial und die Unterstützungsfolie
auf die Oberflächen
der Kupferfolie unter Erhitzen und unter Druck auf laminiert werden,
dann wird die aufgebrachte Harzschicht der Hilfs materialfolie an
eine der Oberflächen-Kupferfolien
angeheftet. Die aufgebrachte Harzschicht der Unterstützungsfolie
wird gleichfalls an die andere Oberflächen-Kupferfolie angeheftet
und die Hilfsmaterialfolie und die Unterstützungsfolie werden auf die
Kupferfolien-Oberflächen
mit einer Walze durch Aufschmelzen der Harzschichten bei einer Temperatur von
im Allgemeinen 40°C
bis 150°C,
vorzugsweise 60°C
bis 120°C,
bei einem linearen Druck von im Allgemeinen 0,5 bis 20 kg, vorzugsweise
1 bis 10 kg, auf laminiert, um die Harzschichten eng an die Oberflächen-Kupferfolien
zu binden. Die auszuwählende
Temperatur variiert entsprechend dem Schmelzpunkt des ausgewählten wasserlöslichen
Harzes und sie variiert auch entsprechend eines ausgewählten linearen
Drucks und einer Laminierungsgeschwindigkeit. Im Allgemeinen wird
die Laminierung bei einer Temperatur durchgeführt, die um 5 bis 20°C höher ist
als der Schmelzpunkt des wasserlöslichen
Harzes.
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Wenn
ein Durchgangsloch mit einem Durchmesser von 80 bis 180 μm mit einem
Kohlendioxidgaslaser durch Bestrahlung mit einer Ausgangsenergie
von vorzugsweise 20 bis 60 mJ, erzeugt wird, dann treten um das
Durchgangsloch herum Pressnähte
auf. Das Auftreten der Pressnähte
ist kein spezielles Problem, wenn das Durchgangsloch in einem doppelseitigen
kupferplattierten Laminat erzeugt wird, an das dünne Kupferfolien plattiert
worden sind. In diesem Fall kann ein Verfahren angewendet werden,
bei dem ein auf der Oberfläche der
Kupferfolie zurückbleibendes
Harz durch eine Behandlung in der Gasphase oder eine Behandlung
in der flüssigen
Phase entfernt wird, wobei die Innenseite des Durchgangslochs so
wie sie ist mit Kupfer plattiert wird um mindestens 50 Vol.-% der
Innenseite des Durchgangslochs mit einer Kupferplattierung zu füllen. Zur
gleichen Zeit werden auch die Oberflächen mit Kupfer plattiert,
so dass sie eine Dicke der Kupferfolie von 18 μm oder weniger haben. Jedoch
wird ein Verfahren bevorzugt, bei dem eine Ätzlösung auf einen Teil des Durchgangslochs
aufgeblasen wird oder bei dem die Ätzlösung durch den Teil des Durchgangslochs
hindurchgesaugt wird, um die in dem Durchgangslochteil vorhandenen
Pressnähte
der Kupferfolie zu entfernen und gleichzeitig die Oberflächen-Kupferfolien
so anzuätzen,
dass sie jeweils eine Dicke von 2 bis 7 μm, vorzugsweise 3 bis 5 μm, haben,
worauf eine Kupferplattierung durchgeführt wird. In diesem Fall ist
ein Ätzen
mit einer Chemikalie mehr bevorzugt als eine mechanische Polierung
im Hinblick auf die Entfernung der Pressnähte auf dem Durchgangslochteil
und die Verhinderung von Dimensionsveränderungen, die durch das Polieren
bewirkt werden.
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Erfindungsgemäß ist das
Verfahren zur Entfernung der Kupferpressnähte, die auf dem Durchgangslochteil
vorliegen, durch Ätzen
keinen speziellen Begrenzungen unterworfen und es schließt Verfahren
der Auflösung
und Entfernung einer Metalloberfläche mit einer Chemikalie (als
SUEP-Verfahren bezeichnet) ein, die z.B. in JP-A-02-22887, JP-A-02-22896,
JP-A-02-25089, JP-A-02-25090, JP-A-02-59337, JP-A-02-60189, JP-A-02-166789,
JP-A-03-25995, JP-A-03-60183, JP-A-03-94491, JP-A-04-199592 und JP-A-04-263488
beschrieben werden. Das Ätzen
wird im Allgemeinen mit einer Geschwindigkeit von 0,02 bis 1,0 μm/Sekunde durchgeführt.
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Ein
Kohlendioxidgaslaser verwendet im Allgemeinen eine Wellenlänge von
9,3 bis 10,6 μm
im Infrarot-Wellenlängenbereich.
Eine Kupferfolie wird bei seinem Ausstoß von vorzugsweise 20 bis 60
mJ bearbeitet, um ein Durchgangsloch zu erzeugen. Ein Excimer-Laser
verwendet im Allgemeinen eine Wellenlänge von 248 bis 308 nm und
ein YAG-Laser verwendet im Allgemeinen eine Wellenlänge von
351 bis 355 nm, wobei aber die Wellenlängen dieser Laser nicht auf
die oben genannten Wellenlängen
beschränkt
sind. Die Verarbeitungsgeschwindigkeit mit dem Kohlendioxidgaslaser
ist bemerkenswert hoch, so dass die Verwendung eines Kohlendioxidgaslasers
ausgezeichnete ökonomische
Eigenschaften hat.
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Bei
der Erzeugung des Durchführungslochs
kann ein Verfahren angewendet werden, bei dem die Bestrahlung mit
einer Energie, ausgewählt
aus 20 bis 60 mJ, vom Beginn bis zum Ende, oder ein Verfahren, bei dem
die Energie bei der Bildung eines Durchgangslochs geändert wird
um ein Durchgangsloch zu erzeugen. Wenn die Oberflächen-Kupferfolie
entfernt wird, dann ist es effizient, eine höhere Energie auszuwählen, da
die Anzahl der zu bestrahlenden „Shots" vermindert werden kann. Wenn eine Mittelharzschicht
bearbeitet wird, dann ist nicht notwendigerweise ein hoher Output
erforderlich. Der Output kann in geeigneter Weise, je nach dem Substrat
und dem Harz, ausgewählt
werden. So kann z.B. ein Output von 10 bis 35 mJ ausgewählt werden.
Naturgemäß kann ein
hoher Output am Ende der Bearbeitung ausgewählt werden. Die Bedingungen
der Erzeugung der Durchgangslöcher
können
variiert werden, je nachdem ob eine Kupferfolie als innere Schicht im
Inneren des Durchgangslochs vorhanden ist oder nicht.
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Bei
einer Mehrzahl von Fällen
bleibt eine Harzschicht mit einer Dicke von etwa 1 μm auf der
Kupferfolie als eine Innenschicht im Inneren eines Durchgangslochs,
das mit einem Kohlendioxidgaslaser erzeugt worden ist, zurück. Wenn
ein Durchgangsloch mit einem mechanischen Bohrer erzeugt wird, dann
bleiben in manchen Fällen
Schlieren zurück.
wenn die oben genannte Harzschicht entfernt wird, wird daher weiterhin
die Zuverlässigkeit
der elektrischen Verbindung zwischen einer Kupferplattierung und
dem Kupfer der äußeren und
der inneren Schichten verbessert. Die Harzschicht kann durch eine
allgemein bekannte Behandlung, wie eine Behandlung zur Entfernung
von Schlieren, entfernt werden. wenn eine Lösung jedoch in die Innenseite
eines Durchgangslochs mit kleinem Durchmesser hineinreicht, dann
treten Reste der Harzschicht, die auf der Oberfläche der Kupferfolie der inneren
Schicht zurückbleiben,
auf, was zu einem Versagen der elektrischen Verbindung an die Kupfer plattierung
in einigen Fällen
führt.
Daher wird mehr bevorzugt, zuerst die Innenseite eines Durchgangslochs
in einer gasförmigen
Phase zu behandeln, um die zurückgebliebene
Harzschicht vollständig zu
entfernen und dann wird die Innenseite des Durchgangslochs nass
behandelt und zwar vorzugsweise in Kombination mit der Anwendung
einer Ultrabeschallung. Die Behandlung in der gasförmigen Phase
kann aus allgemein bekannten Verfahren, wie einer Plasmabehandlung
und einer Behandlung mit Nieder-Ultraviolettlicht, ausgewählt werden.
Die Plasmabehandlung wendet ein Niedertemperaturplasma, hergestellt
durch teilweise Anregung und Ionisierung von Molekülen mit
einer Hochfrequenzenergiequelle, an. Bei der Plasmabehandlung wird
allgemein eine Hochgeschwindigkeitsbehandlung unter Verwendung von
Ionenstoß oder
eine mäßige Behandlung
mit radikalischen Substanzen angewendet. Als Verarbeitungsgas wird
ein reaktives Gas oder ein inertes Gas verwendet. Als reaktives
Gas wird hauptsächlich
Sauerstoff eingesetzt und eine Oberfläche wird chemisch behandelt.
Als inertes Gas wird hauptsächlich
Argongas verwendet. Eine physikalische Oberflächenbehandlung wird mit Argongas
oder dergleichen durchgeführt.
Die physikalische Behandlung säubert
die Oberfläche
durch Innenstoß.
Das Nieder-Ultraviolettlicht ist ein Ultraviolettlicht im Bereich
von kurzen Wellenlängen.
Die Harzschicht wird zersetzt und durch Bestrahlung mit Ultraviolettlicht
im Bereich von kurzen Wellenlängen
mit einem Peak bei 184,9 nm oder 253,7 nm entfernt. Dann wird die
Harzoberfläche
in den meisten Fällen
hydrophob. Daher wird es insbesondere im Falle eines Durchgangslochs
mit kleinem Durchmesser bevorzugt, eine Nassbehandlung in Kombination
mit der Verwendung einer Ultrabeschallung durchzuführen und
dann die Kupferplattierung durchzuführen. Die Nassbehandlung ist
keinen speziellen Begrenzungen unterworfen und sie schließt eine
Behandlung mit einer wässrigen
Kaliumpermanganatlösung
oder einer wässrigen
Lösung
für das
sanftes Ätzen
ein.
-
Effekt der
Erfindung
-
Erfindungsgemäß wird eine
Folie im B-Stadium mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante
zur Verfügung
gestellt, erhalten durch gleichförmiges
Einarbeiten eines isolierenden anorganischen Füllstoffs mit einer relativen
Dielektrizitätskonstante
von mindestens 500 bei Raumtemperatur in eine lösungsmittelfreie Komponente,
so dass ein Gehalt an dem isolierenden organischen Füllstoff
von 80 bis 99 Gew.-%, vorzugsweise 85 bis 95 Gew.-%, erhalten wird.
Die lösungsmittelfreie
Komponente ist vorzugsweise eine lösungsmittelfreie Harzkomponente,
die als wesentliche Komponente eine Harzzusammensetzung, erhalten
durch Einarbeitung von 50 bis 10.000 Gew.-Teilen eines Epoxyharzes
(b), das bei Raumtemperatur flüssig
ist, in 100 Teile (a) eines Monomers eines polyfunktionellen Cyanatesters
und/oder eines Präpolymers
des genannten Cyanatesters und durch Zugabe von 0,005 bis 10 Gew.-Teilen
eines hitzehärtenden
Katalysators pro 100 Teile der Komponenten (a + b) erhalten worden
ist. Die oben genannte Folie im B-Stadium mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante
wird dazu eingesetzt, ein kupferplattiertes Laminat herzustellen.
Eine Leiterplatte, auf die das kupferplattierte Laminat aufgebracht
worden ist, hat ausgezeichnete Eigenschaften hinsichtlich der Hitzebeständigkeit,
der Adhäsionseigenschaften
gegenüber
der Kupferfolie und elektrische Isolierungseigenschaften nach der
Absorption von Feuchtigkeit. Weiterhin hat die oben genannte Leiterplatte
eine relative Dielektrizitätskonstante
von mindestens 50 und sie ist als Kondensator einsetzbar. Weiterhin
ist es aufgrund der Verwendung des Hilfsmaterials auf dem kupferplattierten
Laminat möglich,
direkt ein Durchgangsloch mit einem kleinen Durchmesser durch Bestrahlung
mit einem Kohlendioxidgaslaser mit hoher Energie zu erzeugen. Auf
diese Weise wird eine Leiterplatte mit hoher Dichte erhalten.
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Wenn
ein anorganisches Substrat oder ein organisches Fasergewebesubstrat
zwischen den oben genannten Folien im B-Stadium angeordnet wird und diese Materialien
integriert werden, um ein Prepreg mit hoher relativer Dielektrizitätskonstante
herzustellen, kann ein Prepreg erhalten werden, in dem eine Harzzusammensetzung,
enthaltend eine große
Menge eines anorganischen Füllstoffs,
an das Substrat angeheftet ist. Weiterhin wird ein Material, erhalten
durch Vorsehen der obigen lösungsmittelfreien
Harzkomponente als wärmehärtendes
Harz und Einarbeitung eines isolierenden anorganischen Füllstoffs
mit einer relativen Dielektrizitätskonstante
von mindestens 500 bei Raumtemperatur und einer spezifischen Oberfläche von
0,30 bis 1,00 m2/g in die lösungsmittelfreie
Harzkomponente so weiter verarbeitet, dass ein kupferplattiertes
Laminat erhalten wird. Eine Leiterplatte, auf die das oben genannte
kupferplattierte Laminat aufgebracht worden ist, hat ausgezeichnete
Eigenschaften hinsichtlich der Hitzebeständigkeit, der Adhäsionseigenschaften
an einer Kupferfolie und der elektrischen Isolierungseigenschaften
nach der Absorption von Feuchtigkeit. Weiterhin hat die oben genannte
Leiterplatte eine relative Dielektrizitätskonstante von mindestens
20 und sie ist als Kondensator einsetzbar. Weiterhin wird es aufgrund
der Verwendung des Hilfsmaterials auf dem kupferplattierten Laminat möglich gemacht,
direkt ein Durchführungsloch
und/oder ein Grunddurchgangsloch mit kleinem Durchmesser durch Bestrahlung
mit einem Kohlendioxidgaslaser mit hoher Energie zu erzeugen. Dann
werden Pressnähte der
Kupferfolie, die um die Durchgangslöcher herum vorhanden sind,
mit einer Chemikalie entfernt und gleichzeitig werden die Oberflächen-Kupferfolien
in Richtung der Dicke bis zu einem gewissen Ausmaß entfernt,
wodurch eine Leiterplatte mit hoher Dichte erhalten wird.
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Beispiele
-
Die
vorliegende Erfindung wird nunmehr nachstehend anhand der Beispiele
und Vergleichsbeispiele spezielle erläutert, wobei, wenn nichts anderes
angegeben wird, „Teil" für „Gew.-Teil" steht.
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Beispiele 1 bis 6
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1000
Teile 2,2-Bis(4-cyanatophenyl)propan-Monomer (Komponente A-1) wurden
bei 150°C
aufgeschmolzen und man ließ unter
Rühren
4 h umsetzen, wodurch ein Präpolymer
(Komponente A-2) mit einem mittleren Molekulargewicht von 1900 erhalten
wurde. Ein Epoxyharz vom Bisphenol A-Typ (Warenbezeichnung: Epikote
828, vertrieben von der Firma Yuka-Shell Epoxy K.K., Komponente B-1), ein
Epoxyharz vom Bisphenol F-Typ (Warenbezeichnung: EXA830LVP, der
Firma Dainippon Ink and Chemicals, Inc., Komponente B-2) und/oder
ein Epoxyharz vom Novolak-Typ (Warenbezeichnung: DEN431, vertrieben
von der Firma Dow Chemical, Komponente B-3) als Epoxyharze im flüssigen Zustand
bei Raumtemperatur wurden zugegeben. Eisenacetylacetonat (Komponente
C-1) und 2-Ethyl-4-methylimidazol (Komponente C-2) als hitzehärtende Katalysatoren
und ein Epoxysilan-Haftvermittler (Warenbezeichnung: A-187, vertrieben
von der Firma Nihon Yunika K.K., Komponente D-1) als Additiv wurden
zu dem resultierenden Gemisch gegeben, wodurch ein Lack erhalten
wurde. Als ein anorganischer Füllstoff
wurden eine Bariumtitanat-enthaltende Keramik (relative Dielektrizitätskonstante
bei 1MHz bei Raumtemperatur- 2010, spezifische Oberfläche nach
BET: 0,41 m2/g, Komponente E-1), eine Wismuthtitanat-enthaltende
Keramik (relative Dielektrizitätskonstante
bei Raumtemperatur: 733, spezifische Oberfläche nach BET: 0,52 m2/g, Komponente E-2) oder eine Bariumtitanat-Calciumstannat-enthaltende
Keramik (relative Dielektrizitätskonstante
bei Raumtemperatur: 5020, spezifische Oberfläche nach BET: 0,45 m2/g, eine pulverisierte gesinterte Substanz,
Komponente E-3) zu dem Lack gegeben. Die obigen Komponenten wurden
in den Mengen eingearbeitet, wie sie in Tabelle 1 und Tabelle 2
gezeigt sind. Das Gemisch wurde mittels eines Mischers 10 Minuten
lang gleichförmig
verknetet. Das verknetete Gemisch wurde auf eine Oberfläche einer
elektrolytischen Kupferfolie mit einer Dicke von 12 μm extrudiert,
um eine Schicht mit einer Dicke von 50 μm zu bilden, wodurch eine Folie
hergestellt wurde. Ansonsten wurde eine kleine Menge von Methylethylketon
zu dem verkneteten Gemisch gegeben und das resultierende Gemisch
wurde auf die Oberfläche
einer elektrolytischen Kupferfolie aufgebracht und das darauf aufgebrachte
Gemisch wurde getrocknet, um das Lösungsmittel zu entfernen, und
eine Kupferfolie mit einem daran angehefteten Harz zu bilden. Eine
elektrolytische Kupferfolie mit einer Dicke von 12 μm wurde auf
die Harzschicht der obigen Folie oder auf die Kupferfolie mit dem
daran angehefteten Harz aufgebracht und der resultierende Satz wurde
bei 200°C bei
20 kgf/cm2 unter einem Vakuum von 30 mmHg
oder weniger 2 Stunden lang laminatverformt, wodurch eine doppelseitig
kupferplattierte Platte erhalten wurde.
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Gesondert
davon wurden 800 Teile pulverförmiges
schwarzes Kupferoxid (mittlerer Teilchendurchmesser 0,8 μm) als Metalloxidpulver
zu einem Lack von pulverförmigem
Polyvinylalkohol in Wasser gegeben. Diese Materialien wurden homogen
miteinander vermischt. Das resultierende Gemisch wurde auf eine
Oberfläche
eines Polyethylenterephthalatfilms mit einer Dicke von 50 μm aufgetragen,
um eine Schicht mit einer Dicke von 30 μm zu bilden. Die Schicht wurde
bei 110°C
30 Minuten lang getrocknet, wodurch ein Hilfsmaterial F mit einem
Gehalt an pulverförmiger
Metallverbindung von 45 Vol.-% erhalten wurde. Das Hilfsmaterial
F wurde auf die obige doppelseitig kupferplattierte Platte so aufgebracht,
dass die Oberfläche
der Harzschicht der Seite der Kupferfolie zugewandt war. Das Hilfsmaterial
F wurde auf die Oberfläche
der Kupferfolie bei 100°C laminiert.
Dann wurde die Oberfläche
des Hilfsmaterials direkt mit 4 „Shots" eines Kohlendioxidgaslasers mit einem
Output von 30 mJ bestrahlt, um 44 Durchführungslöcher mit einem Durchmesser
von 100 μm
für Durchgangslöcher in
einer mittleren quadratischen Fläche
mit einer Größe von 6
mm × 6
mm in einer quadratischen Fläche
mit einer Größe von 20
mm × 20
mm in jedem der 70 Blöcke
herzustellen. Die Oberflächen-Kupferfolien wurden
geätzt,
bis die Kupferfolien eine Dicke von jeweils 3 μm hatten. Die Pressnähte um die
Durchgangslöcher
herum wurden durch eine SUEP-Behandlung gleichfalls aufgelöst und entfernt.
Es wurde eine Kupferplattierung durchgeführt um eine Plattierungsschicht
von 13 μm
zu bilden. 95 vol.-% der Innenseite jedes Durchgangslochs wurden
mit der Kupferplattierung gefüllt.
Schaltkreise (Linie/Abstand = 50/50 μm), Stege für Kügelchen des Lötmittels
und dergleichen wurden auf beiden Oberflächen der Platte durch herkömmliche
Methoden gebildet. Andere Teile als mindestens ein Halbleiterchip-Montierungsteil,
Anschlussflächenteil
und Anschlussflächenteile
für Lötmittelkügelchen
wurden mit einem Plattierungsresist beschichtet und es wurde eine
Plattierung mit Nickel und eine Plattierung mit Gold durchgeführt, um
eine bedruckte Leiterplatte zu erhalten. In Tabellen 3 und 4 sind
die Ergebnisse der Bewertungen zusammengestellt.
-
Vergleichsbeispiele 1
bis 3
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2000
Teile eines Epoxyharzes (Warenbezeichnung: Epikote 5045, vertrieben
von der Firma Yuka-Shell Epoxy K.K.), das bei Raumtemperatur fest
war, 70 Teile Dicyandiamid und 2 Teile 2-Ethylimidazol wurden in einem
Mischlösungsmittel
aus Methylethylketon und Dimethylformamid aufgelöst. Diese Materialien wurden gerührt und
gleichförmig
ineinander dispergiert, wodurch ein Lack G erhalten wurde (dieser
Feststoff wurde als Komponente A-3 bezeichnet). Zu dem Lack G wurde
Bariumtitanat (Teilchendurchmesser 0,5 bis 5 μm, spezifische Oberfläche nach
BET 0,89 m2/g, relative Dielektrizitätskonstante
2010, Komponente E-4) in den in Tabellen 1 und 2 gezeigten Mengen
gegeben. Das Gemisch wurde gleichförmig verknetet und ein Glasgewebe mit
einer Dicke von 50 μm
und einem Gewicht von 48 g/m2 wurde mit
dem obigen verkneteten Gemisch imprägniert. Das Gemisch wurde getrocknet,
wodurch ein Prepreg im B-Stadium mit einem Glasgehalt von 35 Gew.-%
erhalten wurde. Das getrocknete Harz hatte keine Flexibilität, so dass
das Harz beim Biegen abblätterte.
Elektrolytische Kupferfolien mit einer Dicke von 12 μm wurden
auf beide Oberflächen
aufgelegt, und zwar eine auf eine Oberfläche und die andere auf die
andere Oberfläche
und der resultierende Satz wurde bei 190°C und 20 kgf/cm2 unter
einem Vakuum von 30 mmHg oder weniger über einen Zeitraum von 2 Stunden
laminatverformt, wodurch ein doppelseitiges kupferplattiertes Laminat
erhalten wurde. Durchführungslöcher mit
einem Durchmesser von jeweils 200 μm wurden in dem doppelseitig
kupferplattierten Laminat mit einem mechanischen Bohrer erzeugt.
Kupfer wurde allgemein aufplattiert, um eine Schicht mit einer Dicke
von 10 μm
auf jeder Oberfläche
ohne die SUEP-Behandlung
zu bilden. Das resultierende doppelseitig kupferplattierte Laminat
wurde verarbeitet, um eine Leiterplatte herzustellen. In Tabelle
5 sind die Ergebnisse der Bewertung zusammengestellt.
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Vergleichsbeispiel 4
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Ein
Titandioxidpulver (relative Dielektrizitätskonstante 30, spezifische
Oberfläche
nach BET 1,26 m2/g, Komponente E-5) wurde
zu dem gleichen Lack G wie in Vergleichsbeispiel 1 so zugegeben,
dass einen Gehalt an pulverförmigem
Titandioxid von 90 Gew.-% erhalten wurde. Diese Materialien wurden
in genügender
Weise in einem Mischer miteinander vermischt und das resultierende
Gemisch wurde auf eine Kupferfolie aufgebracht, um einen Überzug mit
einer Dicke von 40 um zu bilden. Der Überzug wurde getrocknet, wodurch
eine Kupferfolie im B-Stadium, an die ein Harz angeheftet war, erhalten
wurde. Eine elektrolytische Kupferfolie mit einer Dicke von 12 μm wurde auf
die Oberfläche
der Harzschicht der Kupferfolie im B-Stadium mit dem angehefteten
Harz aufgelegt und der resultierende Satz wurde bei den gleichen
Pressbedingungen wie in Vergleichsbeispiel 1 laminatverformt. Jedoch
war der Fluss des Harzes schlecht und es wurden Hohlräume festgestellt.
In Tabelle 5 sind die Bewertungsergebnisse zusammengestellt.
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Messmethoden
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- 1) Hohlräume
nach der Laminatbildung und Dicke der Isolierungsschicht
Eine
Kupferfolie nach der Laminatbildung wurde durch Ätzen entfernt und der Gehalt
an Hohlräumen
wurde durch visuelle Beobachtung bestimmt. Eine Kupferfolie wurde
durch Ätzen
entfernt und die Dicke der Isolierungsschicht wurde mit einem Mikrometer
gemessen.
- 2) Adhäsionsfestigkeit
der Kupferfolie
Diese wurde gemäß der JIS-Norm C6481 gemessen.
- 3) Hitzebeständigkeit
gegenüber
dem Lötmittel
nach einer PCT-Behandlung (Druck-Koch-Einrichtung; 121°C·203 kPa,
2 Stunden)
Die PCT-Behandlung wurde durchgeführt und
dann wurde nach dem 30 Sekunden langen Eintauchen in ein Lötmittel
mit einer Temperatur von 260°C
die Anzahl der Defekte bestimmt.
- 4) Bruch des Schaltkreis-Leiterbilds und Kurzschluss
In
den Beispielen und Vergleichsbeispielen wurden kammartige Leiterbilder
mit Linie/Abstand = 50/50 μm hergestellt
und dann wurden 200 Leiterbilder nach dem Ätzen mit einem Vergrößerungsglas
beobachtet. Der Zählwert
zeigt die Gesamtanzahl der Leiterbilder mit einem Schaltkreis-Leiterbildbruch und
einem Kurzschluss.
- 5) Glasübergangstemperatur
Gemessen
durch eine DMA-Methode
- 6) Hitzezyklustest der Durchgangslöcher
Ein Steg mit einem
Durchmesser von 250 μm
wurde in jedem Durchgangsloch gebildet und 900 Durchgangslöcher wurden
alternierend von einer Oberfläche
zu der anderen Oberflä che
verbunden. Ein Hitzezyklus bestand in einem 30 Sekunden langen Eintauchen
in das Lötmittel
von 260°C
und einem 5 Minuten langen Stehenlassen bei Raumtemperatur. Es wurden
150 Zyklen wiederholt. Die Tabellen 4 und 5 zeigen den maximalen
wert der Veränderungsverhältnisse
der Widerstandswerte. Die Innenwandoberfläche jedes Durchgangslochs wurde
gefüllt
und mit einem Resist so bedeckt, dass das Lötmittel sich nicht an die Innenwandoberfläche anheften
konnte. Die Messung erfolgte bei diesem Zustand.
- 7) Wert des Isolierungswiderstands nach der Behandlung in der
Druck-Koch-Vorrichtung
Es wurde ein kammförmiges Leiterbild zwischen
den Anschlüssen
(Linie/Abstand = 50/50 μm)
gebildet. Die verwendeten Prepregs wurden darauf platziert und der
resultierende Satz wurde laminatverformt. Das resultierende Laminat
wurde bei 121°C
bei 203 kPa über
einen vorbestimmten Zeitraum behandelt und dann 2 Stunden lang bei
25°C, 60%
rel. Feuchtigkt., behandelt. Es wurden 500 VDC angelegt und 60 Sekunden nach
dem Anlegen wurde der Isolierungswiderstand zwischen den Anschlüssen gemessen.
- 8) Anti-Migrations-Eigenschaften
50 VDC wurden an den gleichen
Probekörper
wie oben unter 7) bei 85°C
und 85% rel. Feuchtigkt. über einen
vorbestimmten Zeitraum angelegt. Der Isolierungswiderstand zwischen
den Anschlüssen
wurde gemessen.
- 9) Relative Dielektrizitätskonstante
Die
Messung wurde mit einem LCR-Messgerät durchgeführt und die resultierende Dielektrizitätskonstante wurde
errechnet.
-
Beispiele 7 bis 14
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1000
Teile 2,2-Bis(4-cyanatophenyl)propan-Monomer (Komponente A-1) wurden
bei 150°C
aufgeschmolzen und man ließ unter
Rühren
4 Stunden lang umsetzen, um ein Präpolymer (Komponente A-2) mit einem
durchschnittlichen Molekulargewicht von 1900 zu ergeben. Ein Epoxyharz
vom Bisphenol A-Typ
(Warenbezeichnung: Epikote 828, vertrieben von der Firma Yuka-Shell
Epoxy K.K., Komponente B-1), ein Epoxyharz vom Bisphenol F-Typ (Warenbezeichnung:
EXA830LVP, vertrieben von der Firma Dainippon Ink and Chemicals,
Inc., Komponente B-2), ein Epoxyharz vom Novolak-Typ (Warenbezeichnung:
DEN431, vertrieben von der Firma Dow Chemical, Komponente B-3) und
ein Epoxyharz vom Cresol-Novolak-Typ
(Warenbezeichnung: ESCN-220F, vertrieben von der Firma Sumitomo
Chemical Co., Ltd., Komponente B-4), als Epoxyharze im flüssigen Zustand
bei Raumtemperatur, Eisenacetylacetonat (Komponente C-1) und/oder
2-Ethyl-4-methylimidazol
(Komponente C-2) als hitzehärtende
Katalysatoren und ein Epoxysilan-Haftvermittler (Warenbezeichnung:
A-187, vertrieben von der Firma Nihon Yunika K.K., Komponente D-1)
und Dicyandiamid (Komponente E-1) als Additive wurden in den in
Tabelle 6 angegebenen Mengen hinzugegeben um einen Lack zu erhalten. Als
isolierender anorganischer Füllstoff
wurden eine Bariumtitanat-enthaltende Keramik (relative Dielektrizitätskonstante
bei 1 MHz und Raumtemperatur: 2010, spezifische Oberfläche nach
BET: 0,41 m2/g, Komponente F-1), eine wismuthtitanat-enthaltende
Keramik (relative Dielektrizitätskonstante
bei Raumtemperatur: 733, spezifische Oberfläche nach BET 0,52 m2/g, Komponente F-2), eine Bariumtitanat-Calciumstannatenthaltende Keramik
(relative Dielektrizitätskonstante
bei Raumtemperatur: 5020, spezifische Oberfläche nach BET: 0,45 m2/g, Komponente F-3) oder eine Bleititanatenthaltende
Keramik (relative Dielektrizitätskonstante
bei Raumtemperatur: 1700, spezifische Oberfläche nach BET 0,80 m2/g, Komponente F-4) wurden in den in Tabelle
6 angegebe nen Mengen hinzugegeben. Das Gemisch wurde gleichförmig 10
Minuten lang mit einem Mischer verknetet. Als das verknetete Gemisch
eine hohe Viskosität
hatte, wurde eine kleine Menge von Methylethylketon zu dem verkneteten
Gemisch hinzugegeben, um ihre Viskosität auf die richtige Viskosität für die Auftragung
und für
die Herstellung eines Lacks einzustellen.
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Der
Lack wurde auf eine Oberfläche
eines Polyethylenterephthalatfilms mit einer Dicke von 50 μm aufgebracht,
um eine Schicht mit einer Dicke von 25 bis 40 μm zu bilden. Die Schicht wurde
erhitzt und getrocknet, wodurch Folien im B-Stadium erhalten wurden.
Fasern von Flachglas E mit einer Dicke von 40 μm und einem Flachheitsverhältnis von
4/1, einem Flächenverhältnis von
92%, einem berechneten Faserdurchmesser von 10 μm und einer Länge von
13 mm wurden in einer Lösung,
in der Polyethylenoxid dispergiert war, dispergiert, um ein Glasfaservlies
herzustellen, in dem die Masse pro Flächeneinheit des Vlieses 15
g/m2 betrug. 4 Gew.-%, bezogen auf das Faservlies,
eine Klebstofflösung,
enthaltend eine Epoxyharzemulsion und einen Silanhaftvermittler,
wurden auf das Faservlies aufgetragen und die Klebstofflösung wurde
bei 150°C
getrocknet, wodurch ein Faservlies G erhalten wurde. Das Faservlies
G, ein allgemeines Glasgewebe H mit einer Dicke von 40 μm und einem
Gewicht von 35 g/m2 und mit einem kreisförmigen Faserquerschnitt
oder ein keramisches Faservlies I mit einer relativen Dielektrizitätskonstante
von 1800, einer Dicke von 45 μm
und einem Gewicht von 37 g/m2 wurden zwischen
zwei auf die obige Weise erhaltenen Folien im B-Stadium angeordnet. Trennfilme
wurden auf beide der äußersten
Oberflächen
des auf die obige Weise erhaltenen Satzes aufgebracht und diese
Materialien wurden bei 100°C
und einem linearen Druck von 4 kgf/cm miteinander laminiert, um
ein Prepreg herzustellen (1(2)).
Eine elektrolytische Kupferfolie bzw. Kupferfolien mit 12 μm Dicke wurde
bzw. wurden auf beiden Oberflächen
oder einer Oberfläche
der Folie des Prepregs platziert und der resultierende Satz wurde
bei 200°C
und 20 kgf / cm2 im Vakuum bei 30 mmHg oder
weniger 2 Stunden lang laminatverformt, wodurch ein doppelseitig
kupferplattiertes Laminat erhalten wurde. Die Tabelle 7 zeigt die
Eigenschaften der verwendeten anorganischen Füllstoffe und dergleichen.
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Gesondert
davon wurden 800 Teile pulverförmiges
schwarzes Kupferoxid (mittlerer Teilchendurchmesser 0,8 μm) als Metalloxidpulver
zu einem Lack von pulverförmigem
Polyvinylalkohol in Wasser gegeben und diese Materialien wurden
homogen miteinander vermischt. Das resultierende Gemisch wurde auf
eine Oberfläche
eines Polyethylenterephthalatfilms mit einer Dicke von 50 μm aufgetragen
um eine Schicht mit einer Dicke von 30 μm zu bilden. Die Schicht wurde
30 Minuten lang bei 110°C
getrocknet, wodurch ein Hilfsmaterial mit einem Gehalt an pulverförmiger Metallverbindung
von 45 Vol.-% erhalten wurde. Weiterhin wurde der oben genannte
Lack auf eine Oberfläche
einer Aluminiumfolie mit einer Dicke von 50 μm aufgetragen, um eine Schicht
mit einer Dicke von 20 μm
zu bilden. Die Schicht wurde erhitzt und getrocknet, wodurch eine
Unterstützungsfolie
erhalten wurde. Die Unterstützungsfolie
wurde nach unten gelegt und darauf wurde das doppelseitig kupferplattierte
Laminat platziert. Das oben genannte Hilfsmaterial wurde darauf
so platziert, dass die Harzschicht der Seite der Kupferfolie zugewendet
war. Diese Materialien wurden miteinander bei 100°C laminiert
(2(1)). Dann wurde die Oberfläche der
Hilfsfolie direkt mit 4 „Shots" eines Kohlendioxidgaslasers
bei einem Output von 30 mJ bestrahlt um 144 Durchführungslöcher mit
einem Durchmesser von 100 μm
in einem quadratischen Bereich mit den Abmessungen 20 mm × 20 mm
in jedem der 70 Blöcke
zu erzeugen (2(2)). Die Oberflächen-Kupferfolien
wurden geätzt,
bis die Kupferfolien eine Dicke von jeweils 3 μm hatten. Pressnähte um die
Durchgangslöcher
herum wurden ebenfalls aufgelöst
und durch eine SUEP-Behandlung entfernt (2(3)).
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Es
wurde eine Kupferplattierung durchgeführt, um eine Plattierungsschicht
mit 15 μm
zu bilden (2(4)). Schaltkreise
(Linie/Abstand = 50/50 μm),
Stege für
Lötmittelkügelchen
und dergleichen wurden auf beiden Oberflächen des resultierenden Laminats
durch herkömmliche
Verfahren gebildet. Andere Teile als mindestens ein Halbleiterchip-Montierungsteil,
Teile von Anschlussflächen
und Teile von Lötmittelkügelchen-Anschlussflächen wurden
mit einem Plattierungsresist beschichtet und es wurde eine Nickelplattierung und
Goldplattierung durchgeführt,
um eine bedruckte Leiterplatte zu erhalten. Die Tabellen 8 und 9
zeigen die Ergebnisse der Bewertungen. In 2 haben
die Symbole die folgenden Bedeutungen: d: Kupferfolie; e: Auftreten
von Pressnähten
der Kupferfolie bei der Erzeugung eines Durchführungslochs mit einem Kohlendioxidgaslaser;
f: Oberflächen-Kupferfolien
mit verringerter Dicke durch SUEP; g: ein Durchführungslochteil, behandelt mit
SUEP; h: ein Durchführungslochteil,
plattiert mit Kupfer, i: ein Hilfsmaterial für die Erzeugung von Durchführungslöchern; und
j: eine Unterstützungsfolie.
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In
den Beispielen 7 bis 14 und in den Vergleichsbeispielen 5 bis 7
haben die Symbole der Komponenten und die Symbole des Substrats
die gleichen Bedeutungen.
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Vergleichsbeispiel 5
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2000
Teile eines Epoxyharzes (Warenbezeichnung: Epikote 5045, vertrieben
von der Firma Yuka-Shell Epoxy K.K.), 70 Teile Dicyandiamid und
2 Teile 2-Ethylimidazol wurden in einem Mischlösungsmittel von Methylethylketon
und Dimethylformamid aufgelöst
und diese Materialien wurden miteinander verrührt und gleichförmig dispergiert,
wodurch ein Lack erhalten wurde (dieser Feststoff wird als Komponente
B-5 bezeichnet). Zu dem Lack wurde eine Titansäureenthaltende Keramik (mittlerer
Teilchendurchmesser 1,3 μm,
spezifische Oberfläche
nach BET 1,26 m2/g, relative Di elektrizitätskonstante
107, Komponente F-5) in einer in Tabelle 6 gezeigten Menge gegeben.
Das Gemisch wurde gleichförmig
miteinander verknetet. Ein Glasfasergewebe mit einer Dicke von 50 μm und einer
Dicke von 48 g/m2 wurde mit dem obigen verkneteten
Gemisch imprägniert und
das Gemisch wurde getrocknet, um ein Prepreg im B-Stadium zu erhalten.
Die angeheftete Harzschicht, die den anorganischen Füllstoff
enthielt, wies einige Risse auf. Sie hatte keine Flexibilität, so dass
beim Biegen das Harz abblätterte.
Unter sorgfältiger
Handhabung des obigen Prepregs im B-Stadium wurden elektrolytische
Kupferfolien mit einer Dicke von 12 μm auf beide Oberflächen des
Prepregs im B-Stadium aufgebracht, und zwar eines auf eine Oberfläche und
eines auf die andere Oberfläche.
Dann wurde der resultierende Satz bei 190°C und 20 kgf/cm2 unter
einem Vakuum von 30 mmHg oder weniger 2 Stunden lang laminatverformt, wodurch
ein doppelseitig kupferplattiertes Laminat erhalten wurde.
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Durchführungslöcher mit
einem Durchmesser von jeweils 150 um wurden in dem doppelseitig
kupferplattierten Laminat mit einem mechanischen Bohrer erzeugt.
Kupfer wurde allgemein so aufplattiert, dass eine Schicht mit einer
Dicke von 15 μm
auf jeder Oberfläche
ohne eine SUEP-Behandlung gebildet wurde. Das resultierende doppelseitig
kupferplattierte Laminat wurde verarbeitet um eine Leiterplatte
herzustellen. In Tabellen 8 und 9 sind die Ergebnisse der Bewertungen
zusammengestellt.
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Vergleichsbeispiele 6
und 7
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Ein
Titandioxid-enthaltendes Schelllackpulver (spezifische Oberfläche nach
BET 1,35 m2/g), relative Dielektrizitätskonstante
25, Komponente F-6) wurde zu dem gleichen Lack wie in Vergleichsbeispiel
5 gegeben. Diese Materialien wurden in genügender Weise mit einem Rührer miteinander
verrührt
und gemischt und ein Glasfasergewebe wurde mit dem resultierenden
Gemisch imprägniert.
Das Gemisch wurde getrocknet, wodurch ein Prepreg erhalten wurde.
Eine Folie des Prepregs wurde vorgesehen. Es wurden elektrolytische
Kupferfolien mit einer Dicke von 12 μm auf beide Oberflächen des
Prepregs aufgebracht und der resultierende Satz wurde wie in Vergleichsbeispiel
1 laminatverformt, wodurch ein kupferplattiertes Laminat erhalten
wurde. Löcher
wurden in ähnlicher
Weise in dem kupferplattierten Laminat mit einem mechanischen Bohrer
erzeugt. Es wurde eine Leiterplatte ohne Durchführung der SUEP-Behandlung erhalten.
In den Tabellen 8 und 9 sind die Ergebnisse der Bewertungen zusammengestellt.
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Tabelle
6 Zusammensetzung
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Tabelle
7 Zusammensetzung
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Beispiele 15 bis 19
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Die
gleichen Komponenten wie in den Beispielen 7 bis 14 verwendet, wurden
in den in Tabelle 10 gezeigten Mengen miteinander vermischt. Das
Gemisch wurde jeweils 10 Minuten lang gleichförmig mit einem Mischgerät verknetet.
Als das verknetete Gemisch eine hohe Viskosität hatte, wurde Methylethylketon
in einer kleinen Menge zu dem verkneteten Gemisch hinzugegeben um
die richtige Viskosität
für die
Auftragung einzustellen und um einen Lack zu erhalten. Die Symbole
der Komponenten haben die gleichen Bedeutungen wie diejenigen in
den Beispielen 7 bis 14. Der Lack wurde kontinuierlich auf eine
Oberfläche
eines Polyethylenterephthalat(PET-)films mit einer Dicke von 50 μm aufgetragen,
um eine Schicht mit einer Dicke von 40 μm zu bilden. Die Schicht wurde
getrocknet, wodurch Folien aus dem Harz im B-Stadium mit einem Harzfluss
von 1 bis 20 mm bei 170°C
bei 20 kgf/cm2 über einen Zeitraum von 5 Minuten
erhalten wurden.
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Kristallpolyesterfasern
mit einem Faserdurchmesser von 13 μm und einer Länge von
16 mm wurden in einer Lösung,
in der Polyethylenoxid dispergiert worden war, dispergiert, um ein
Faservlies herzustellen, in der die Masse pro Flächeneinheit des Vlieses 30
g/m2 betrug. 6 Gew.-%, bezogen auf das Faservlies
einer Klebstofflösung,
enthaltend eine Epoxyharzemulsion und einen Silanhaftvermittler,
wurden auf das Faservlies aufgetragen und die Klebstofflösung wurde
bei 150°C
getrocknet, wodurch ein Faservlies erhalten wurde. Zwei auf die
obige Art und Weise erhaltenen Folien aus dem Harz im B-Stadium
wurden auf beide Oberflächen
des Faservlieses so aufgebracht, dass die Oberfläche des BET-Films jeder Folie
aus dem Harz im B-Stadium nach außen gerichtet war. Diese Materialien
wurden mit einer Walze kontinuierlich bei 100°C unter 5 kgf/cm integriert,
um sie zu laminieren und um einen Prepreg im B-Stadium zu erhalten.
Das Prepreg im B-Stadium wurde so zugeschnitten, dass es eine Größe von 530 × 530 mm
hatte. Die PET-Filme der geschnittenen Prepregs im B-Stadium mit
der obigen Größe waren
abgeblättert.
Drei Folien der resultierenden Prepregs im B-Stadium wurden aufeinander
gestapelt. Allgemeine elektrolytische Kupferfolien (JTC-LP, vertrieben
von der Firma Japan Energy) mit einer Dicke von 12 μm wurden
auf beide Oberflächen
der aufeinander gestapelten Folien im B-Stadium aufgebracht und
der resultierende Satz wurde bei 200°C bei 30 kgf/cm2 unter
Vakuum von 30 mmHg oder weniger über
einen Zeitraum von 2 Stunden laminatverformt, wodurch ein doppelseitig
kupferplattiertes Laminat erhalten wurde.
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Dann
wurde das gleiche Hilfsmaterial und die gleiche Unterstützungsfolie
wie in den Beispielen 7 bis 14 verwendet vorgesehen. Das Hilfsmaterial
wurde auf die obere Oberfläche
des doppelseitig kupferplattierten Laminats aufgebracht und die
Unterstützungsfolie
wurde an der unteren Oberfläche
des doppelseitig kupferplattierten Laminats in der gleichen Weise
wie in den Beispielen 7 bis 14 angeordnet, so dass die Harzschichten
des Hilfsmaterials bzw. die Unterstützungsfolie den Seiten der
Kupferfolie zugewandt waren. Diese Materialien wurden bei 100°C unter 5
kgf/cm laminiert. Die Oberfläche
der Hilfsfolie wurde direkt mit 4 „Shots" eines Kohlendioxidgaslasers bei einem
Output von 30 mJ bestrahlt um 144 Durchführungslöcher mit einem Durchmesser
von 100 μm
in einem quadratischen Bereich mit den Abmessungen 20 mm × 20 mm
in jedem von 70 Blöcken
zu erzeugen, wobei insgesamt 10080 Durchgangslöcher erzeugt wurden. Die Oberflächen-Kupferfolien
wurden geätzt,
bis die Kupferfolien eine Dicke von jeweils 3 μm hatten, und zur gleichen Zeit
wurden Pressnähte
um die Durchgangslöcher
herum durch eine SUEP-Behandlung gleichfalls aufgelöst und entfernt.
Es wurde eine Kupferplattierung durchgeführt um eine Plattierungsschicht
mit 15 μm
zu bilden. Schaltkreise (Linie/Abstand = 50/50 μm), Stege für Lötmittelkügelchen und dergleichen wurden
an beiden Oberflächen der Platte
durch herkömmliche
Verfahren gebildet. Andere Teile als mindestens ein Halbleiterchip-Montierungsteil, Anschlussflächenteile
und Anschlussflächenteile
für die
Lötmittelkügelchen
wurden mit einem Plattierungsresist beschichtet. Es wurde eine Plattierung
mit Nickel und eine Plattierung mit Gold durchgeführt um eine
Leiterplatte zu erhalten. In der Tabelle 11 sind die Ergebnisse
der Bewertung zusammengestellt.
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Vergleichsbeispiel 8
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2000
Teile eines Epoxyharzes (Warenbezeichnung: Epikote 5045, vertrieben
von der Firma Yuka-Shell Epoxy K.K.), 70 Teile Dicyandiamid und
2 Teile 2-Ethylimidazol wurden in einem Mischlösungsmittel aus Methylethylketon
und Dimethylformamid aufgelöst
und diese Materialien wurden gleichförmig miteinander dispergiert,
wodurch ein Lack erhalten wurde (diese feste Harzkomponente wurde
als Komponente B-5 bezeichnet). Zu dem Lack wurde eine Wismuthtitanat-enthaltende
Keramik (Teilchendurchmesser 0,5 bis 5 μm, mittlerer Teilchendurchmesser
1,3 μm,
spezifische Oberfläche
nach BET 1,29 m2/g, relative Dielektrizitätskonstante 730,
Komponente F-5) in einer in Tabelle 10 angegebenen Menge gegeben.
Das Gemisch wurde gleichförmig miteinander
verknetet. Ein Glasfasergewebe mit einer Dicke von 50 μm wurde mit
dem obigen verkneteten Gemisch imprägniert und das Gemisch wurde
getrocknet, wodurch ein Prepreg im B-Stadium erhalten wurde. Da in diesem
Fall die Menge des Harzes groß war,
wurden auf den Oberflächen
des Glasfasergewebes Ungleichmäßigkeiten
und Risse festgestellt. Ein Teil, bei dem die Aufbringung des Harzes
gut war, wurde ausgewählt und
elektrolytische Kupferfolien mit einer Dicke von 12 μm wurden
auf beide Oberflächen
dieses Teils aufgebracht. Der resultierende Satz wurde bei 190°C bis 30
kgf/cm2 unter einem Vakuum von 30 mmHg oder
weniger 2 Stunden lang laminatverformt, wodurch ein doppelseitig
kupferplattiertes Laminat erhalten wurde.
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Durchführungslöcher mit
einem Durchmesser von jeweils 200 μm wurden in dem doppelseitig
kupferplattierten Laminat mit einem mechanischen Bohrer erzeugt.
Kupfer wurde in allgemeiner Weise unter Bildung einer Schicht mit
einer Dicke von 15 μm
auf jeder Oberfläche
ohne eine SUEP-Behandlung
aufplattiert. Das resultierende doppelseitig kupferplattierte Laminat
wurde weiter verarbeitet, um eine Leiterplatte herzustellen. Tabelle
11 zeigt die Ergebnisse der Bewertungen.
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Vergleichsbeispiel 9
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Ein
Titandioxid-enthaltendes Schelllackpulver (spezifische Oberfläche nach
BET 1,26 m2/g, relative Dielektrizitätskonstante
25, Komponente F-6) wurde zu dem gleichen Lack wie in Vergleichsbeispiel
8 verwendet gegeben, und diese Materialien wurden mit einem Rührer in
genügender
Weise verrührt
und miteinander vermischt, so dass ein Lack mit einem Gehalt an
Titandioxid-enthaltendem Schelllackpulver von 90 Gew.-% erhalten
wurde. Ein Glasfasergewebe wurde mit dem Lack imprägniert und
der Lack wurde getrocknet, wodurch ein Prepreg erhalten wurde. Da
in diesem Fall die Menge des Harzes ebenfalls groß war, wurden
auf den Oberflächen
des Glasfasergewebes Ungleichmäßigkeiten
und Risse festgestellt. Es wurden Teile ausgewählt, bei denen die Auftragung
des Harzes gut war. Vier Folien der ausgewählten Prepregteile wurden aufeinander
gestapelt und elektrolytische Kupferfolien mit einer Dicke von 12
um wurden auf beide Oberflächen der
aufgestapelten Prepregs aufgebracht. Der resultierende Satz wurde
in der gleichen Weise wie in Vergleichsbeispiel 1 laminatverformt,
wodurch ein kupferplattiertes Laminat erhalten wurde. Durchgangslöcher wurden
in der gleichen Weise in dem kupferplattierten Laminat mit einem
mechanischen Bohrer erzeugt, wodurch eine Leiterplatte erhalten
wurde. Die Tabelle 11 zeigt die Ergebnisse der Bewertungen.
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Vergleichsbeispiel 10
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Der
gleiche Lack wie in Vergleichsbeispiel 9 verwendet, wurde kontinuierlich
auf eine Kupferfolie mit einer Dicke von 12 μm aufgetragen und getrocknet,
wodurch eine Kupferfolie mit einem daran angehefteten Harz im B-Stadium
mit einer Dicke von 60 μm
erhalten wurde. Zwei Folien der obigen Kupferfolien wurden so angeordnet,
dass die Harzschichten der zwei Folien einander zugewandt waren
und der resultierende Satz wurde bei 190°C bei 30 kgf/cm2 in
einem Vakuum von 30 mmHg oder weniger 2 Stunden lang laminatverformt, wodurch
eine doppelseitig kupferplattierte Platte erhalten wurde. Durchführungslöcher mit
einem Durchmesser von jeweils 200 μm wurden in der doppelseitig
kupferplattierten Platte mit einem mechanischen Bohrer erzeugt.
Kupfer wurde in allgemeiner Weise aufplattiert um eine Schicht mit
einer Dicke von 15 μm
auf jeder Oberfläche
ohne eine SUEP-Behandlung zu bilden. Die resultierende doppelseitig
kupferplattierte Platte wurde weiter verarbeitet um eine Leiterplatte
herzustellen. In Tabelle 11 sind die Ergebnisse der Bewertungen
zusammengestellt.
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Tabelle
10 Zusammensetzung
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Messmethode
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- 1) Biegefestigkeit
Gemessen bei den Bedingungen
eines Abstands zwischen den Trägern
von 20 mm und einer Breite von 20 mm.