DE4413824A1 - Lineare Festkörper-Abbildungseinrichtung - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Festkörper-Abbildungseinrichtung,
und insbesondere auf eine solche Festkörper-Abbildungseinrichtung, die
eine Photodiode mit geringer Breite und großer Länge aufweist und z. B. in
einer Abbildungseinheit eines Faksimilegerätes zum Einsatz kommt.
Im allgemeinen wird in einer Festkörper-Abbildungseinheit eines Faksi
milegeräts, eines Strichcodelasers oder dergleichen, eine lineare und
ladungsgekoppelte Festkörper-Abbildungseinrichtung (CCD) verwendet.
Bei einer Festkörper-Abbildungseinrichtung mit dualen CCD-Kanälen
sind ein linear angeordnetes Photodiodenarray sowie eine horizontale
CCD (HCCD) an beiden Seiten des Photodiodenarrays vorhanden. Durch
eine einzelne Photodiode erzeugte Signalladungen werden periodisch in
jeweils eine der beiden parallelen HCCDs übertragen, um anschließend
seriell zu einem Ausgangsverstärker geschoben zu werden.
Die Fig. 1 zeigt eine Draufsicht einer konventionellen Abbildungseinrich
tung, während die Fig. 2 einen Querschnitt entlang der Linie A-A′ von Fig.
1 zeigt.
Gemäß den Fig. 1 und 2 enthält eine konventionelle lineare Abbildungs
einrichtung ein Substrat 11 vom n-Typ; eine erste p-Typ Wanne 12 in
einem Oberflächenbereich des Substrats 11; eine zweite p-Typ Wanne 13
mit größerer Tiefe als die erste p-Typ Wanne 12 in einem anderen Oberflä
chenbereich des Substrats 11; einen n-Verunreinigungsbereich oder Pho
todiodenbereich 14, der eine rechteckige Form mit geringer Breite und
großer Länge aufweist und in der ersten Wanne 12 liegt, um eine Photo
diode zu bilden, die durch einfallendes Licht erzeugte Ladungen sammelt;
einen p++ Verunreinigungsbereich 17 in der Nähe der Oberfläche des Pho
todiodenbereichs 14 zur Bildung einer Potentialbarriere; einen n-Verun
reinigungsbereich oder HCCD Bereich 15 in der zweiten Wanne 13 zur Bil
dung eines Paares von HCCDs, über die von der Photodiode 14 kommende
Ladungen zu einem nicht dargestellten Ausgangsverstärker übertragen
werden; einen Schiebegate-Kanalbereich 16 in der ersten p-Typ Wanne 12
sowie zwischen den Bereichen für die Photodiode 14 und der HCCD 15; ein
Polygate 19 auf dem Schiebegate-Kanalbereich 16 und dem HCCD Bereich
15; ein Schiebegate 18, das sich mit jedem der Polygates 19 überlappt und
oberhalb des Schiebegate-Kanalbereichs 16 liegt, um Ladungen, die durch
die Photodiode 14 erzeugt worden sind, in die HCCD 15 hineinzuschieben;
sowie einen Kanalstoppbereich 10, durch den mittels einer Barriere die
Zellen gegeneinander isoliert werden.
Sowohl das Schiebegate 18 als auch jedes Polygatearray bestehen im
wesentlichen aus einer Schicht aus dotiertem Polysilicium.
Über den Schiebegate-Kanalbereich 16 werden die vom Photodioden
bereich 14 zum HCCD Bereich 15 übertragenen Ladungen zum Ausgangs
verstärker transportiert, und zwar mittels des Polygates 19, das eine erste
Polygateelektrode 19-1 aufweist, die sich mit dem Schiebegate 18 über
lappt, und eine zweite Polygateelektrode 19-2 aufweist, die sich partiell
mit der ersten Polygateelektrode 19-1 überlappt. Dabei liegen die ersten
und zweiten Gates wechselweise oberhalb des HCCD Bereichs 15.
Eine derart aufgebaute Abbildungseinrichtung läßt sich in einer Sammel
betriebsart und in einer Übertragungsbetriebsart betreiben.
Die Fig. 3a und 3b zeigen die Potentiale in den jeweiligen Bereichen der Ab
bildungseinrichtung gemäß Fig. 2. Dabei bezieht sich Fig. 3a auf die Sam
melbetriebsart, während sich Fig. 3b auf die Übertragungsbetriebsart be
zieht.
Wird die niedrigste Spannung von 0 V an das Schiebegate 18 und das erste
Polygate 19-1 gelegt, und wird darüber hinaus die höchste Spannung von
15 V über einen Rücksetzdrainanschluß RD an die HCCD 15 gelegt, so
weisen die entsprechenden Bereiche der Abbildungseinrichtung die
Potentialverteilung gemäß Fig. 3a auf.
Da in der Sammelbetriebsart eine hohe Potentialbarriere durch den p++
Kanalstoppbereich 10 und den p-Typ Schiebegate-Kanalbereich 16 erhal
ten wird, sammeln sich die in der Photodiode 14 durch einfallendes Licht
erzeugten Ladungen innerhalb dieser Photodiode 14.
Wird dagegen eine hohe Spannung im Bereich von 10 V bis 15 V an das
Schiebegate 18 und das erste Polygate 19-1 gelegt, und liegt außerdem die
höchste Spannung von 15 V nach wie vor über den Rücksetzdrainanschluß
RD an der HCCD 15 an, so weisen die jeweiligen Bereiche der Abbildungs
einrichtung die Potentialverteilung gemäß Fig. 3b auf.
Mit anderen Worten ist jetzt die Potentialbarriere des Schiebegatebereichs
16 während der Übertragungsbetriebsart verringert bzw. herabgesetzt,
wie die Fig. 3b erkennen läßt. Dadurch wird es möglich, daß die in den
jeweiligen Photodioden 14 angesammelten Ladungen über den Schiebe
gate-Kanalbereich 16 zur HCCD 15 gelangen können, und zwar im
Parallelformat.
Die in der HCCD 15 angesammelten Ladungen werden dann im seriellen
Format zum nicht dargestellten Ausgangsverstärker ausgegeben, indem
geeignete Signale an die erste Polygateelektrode 19-1 und die zweite Poly
gateelektrode 19-2 angelegt werden.
Wie bereits unter Bezugnahme auf die Fig. 1 erläutert, sind bei der konven
tionellen Abbildungseinrichtung Photodiodenbereiche 14 vorhanden, die
rechteckförmig ausgebildet sind und eine geringe Breite sowie eine große
Länge aufweisen. Unterhalb des Schiebegates 18 ist darüber hinaus der
Schiebegate-Kanalbereich 16 weniger breit als die zugehörige Photodiode
14, wobei der Schiebegate-Kanalbereich 16 ebenfalls im wesentlichen
rechteckförmig ausgebildet ist.
Die wirksame Kanalbreite ist durch einen Bereich 9 dargestellt, der das
Bezugszeichen "X" (X Bereich) trägt und zwischen dem Bereich der Photo
diode 14 und dem Schiebegate-Kanalbereich 16 zu liegen kommt. Dieser
Bereich 9 dient als Übertragungsbereich für in der Photodiode angesam
melte Ladungen, wenn diese Ladungen von der Photodiode 14 zur HCCD 15
übertragen werden sollen. Die gegenüber der Photodiode 14 reduzierte Ka
nalbreite im Bereich 9 führt zu einer zusätzlichen Potentialbarriere, wo
durch sich der Ladungsübertragungswirkungsgrad verringert.
Der Grund für die Bildung dieser Potentialbarriere liegt darin, daß die Ver
unreinigungskonzentration im p++ Kanalstoppbereich 10 zu einem niedri
geren Potentialpegel im X-Bereich 9 führt, und zwar im Vergleich zu ande
ren Bereichen, die zur Photodiode 14 gehören. Wie die Fig. 3b deutlich er
kennen läßt, existiert dieser X-Bereich 9 zwischen dem Bereich der Photo
diode 14 und dem Schiebegate-Kanalbereich 16, wobei hier gegenüber
dem Potentialpegel im Sammelbereich der Photodiode 14 ein etwas kleine
rer Potentialpegel vorhanden ist. Das elektrische Potential weist hier tat
sächlich ein lokales Minimum auf.
Werden somit in der Übertragungsbetriebsart in der Photodiode 14 ange
sammelte Ladungen von dort zur HCCD 15 übertragen, so behindert diese
Potentialbarriere die vollständige Ladungsübertragung, was zu einem
niedrigeren Spannungssättigungspegel der Abbildungseinrichtung führt.
Darüber hinaus liegt zwischen dem Photodiodenbereich 14 und dem
HCCD Bereich 15 eine relativ große Kanallänge des Schiebegate-Kanal
bereichs 16, was ebenfalls die Ladungsübertragung nachteilig beeinflußt.
Die Fig. 4 zeigt eine Computersimulation einer entsprechenden Potential
verteilung bei der Abbildungseinrichtung nach Fig. 2. In dieser Fig. 4 ist
die genannte Potentialbarriere gut zu erkennen, die innerhalb des X Be
reichs 9 infolge eines elektrischen Potentialpegels vorhanden ist, der lokal
kleiner ist als in anderen Bereichen der Photodiode 14.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die eingangs genannte Festkör
per-Abbildungseinrichtung so weiter zu bilden, daß sie einen höheren La
dungsübertragungswirkungsgrad aufweist.
Die Lösung der gestellten Aufgabe ist im kennzeichnenden Teil des Patent
anspruchs 1 angegeben. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind
den Unteransprüchen zu entnehmen.
Eine lineare Festkörper-Abbildungseinrichtung nach der Erfindung ist ge
kennzeichnet durch:
- - ein Siliciumsubstrat eines ersten Leitungstyps;
- - eine erste Wanne eines zweiten Leitungstyps in einem Oberflächen bereich des Substrats, durch die ein Halbleiterübergang (Sperrschicht) in einer vorbestimmten Tiefe gebildet wird;
- - zwei zweite Wannen vom zweiten Leitungstyp in anderen Oberflä chenbereichen des Substrats, durch die Halbleiterübergänge (Sperr schichten) gebildet werden, die tiefer liegen als der durch die erste Wanne gebildete Halbleiterübergang;
- - eine Mehrzahl von leiterartigen Photodiodenbereichen zur Erzeu gung von Signalladungen, wobei die leiterartigen Photodiodenbereiche in der ersten Wanne zellenartig angeordnet sind, schräg zueinander verlau fende Längsseiten und an ihren einander gegenüberliegenden Stirnseiten unterschiedliche Breiten aufweisen;
- - ein Paar von HCCD Bereichen des ersten Leitungstyps, wobei jeweils einer der HCCD Bereiche in einer der zweiten Wannen liegt, von denen sich jeweils eine an einer der Stirnseiten der Photodiodenbereiche befindet, um die von den Photodiodenbereichen erhaltenen Signalladun gen zu einem Ausgangsverstärker zu übertragen;
- - Schiebegates auf dem Substrat zwischen den Photodiodenberei chen und den HCCD Bereichen zur Übertragung der in den Photodiodenbe reichen angesammelten Signalladungen zu den HCCD Bereichen;
- - eine Mehrzahl von Schiebegate-Kanalbereichen des zweiten Leitungstyps mit hexagonaler Struktur unterhalb der Schiebegates sowie zwischen den Photodiodenbereichen und den HCCD Bereichen;
- - eine Mehrzahl von Potentialbarrieren bildenden Bereichen in der Nähe der oberen Fläche der Photodiodenbereiche;
- - Polygates auf dem Substrat oberhalb der HCCD Bereiche, um die von den Photodiodenbereichen kommenden Signalladungen zum Aus gangsverstärker übertragen zu können;
- - eine Isolationsschicht zwischen den Schiebegates und den Poly gates, um diese gegeneinander zu isolieren; und
- - Kanalstoppbereiche vom zweiten Leitungstyp zur Isolation der Pho todiodenbereiche gegeneinander mit Hilfe von Potentialbarrieren.
Die erfindungsgemäße Festkörper-Abbildungseinrichtung weist einen
gegenüber der bekannten Festkörper-Abbildungseinrichtung erheblich
vergrößerten Ladungsübertragungswirkungsgrad auf, und zwar infolge
der leiterartig ausgebildeten Photodiodenbereiche, die an gegenüberlie
genden Leiterenden eine unterschiedliche Breite aufweisen, und infolge
der Tatsache, daß der HCCD Bereich näher am Photodiodenbereich liegt.
Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die Zeichnung
näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 eine Draufsicht auf eine konventionelle Abbildungs
einrichtung;
Fig. 2 einen Querschnitt entlang der Linie A-A′ von Fig. 1;
Fig. 3a und 3b Maximum-Potentialverteilungen in jeweiligen Berei
chen der Abbildungseinrichtung nach Fig. 2;
Fig. 4 eine Computersimulation zur Darstellung einer
Potentialverteilung in der Abbildungseinrichtung
gemäß Fig. 2;
Fig. 5 eine Draufsicht auf eine lineare Festkörper-Abbil
dungseinrichtung nach einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung;
Fig. 6 einen Querschnitt entlang der Linie B-B′ von Fig. 5;
Fig. 7a und 7b Maximum-Potentialverteilungen in entsprechenden
Bereichen der Abbildungseinrichtung nach Fig. 6;
und
Fig. 8 eine Computersimulation zur Darstellung der Maxi
mum-Potentialverteilung gemäß Fig. 7b.
Die Fig. 5 zeigt eine Draufsicht auf eine lineare Festkörper-Abbildungs
einrichtung nach einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung,
während die Fig. 6 einen Querschnitt entlang der Linie B-B′ von Fig. 5
zeigt.
Gemäß den Fig. 5 und 6 enthält eine lineare Festkörper-Abbildungsein
richtung nach der Erfindung ein n-Typ Substrat 21; eine erste p-Typ Wan
ne 22 in einem Oberflächenbereich des Substrats 21; eine zweite p-Typ
Wanne 23 in einem anderen Oberflächenbereich des Substrats 21, wobei
die zweite p-Typ Wanne 23 einen tiefer liegenden Zonen- bzw. Halbleiter
übergang als die erste p-Typ Wanne 22 aufweist; eine Mehrzahl von n-Pho
todiodenbereichen 24 in der ersten Wanne 22 zur Erzeugung von Signalla
dungen; einen n-HCCD Bereich 25 in der zweiten Wanne 23, wobei ein der
artiger Bereich 25 an jeweils beiden einander gegenüberliegenden Stirn
seiten des Photodiodenbereichs 24 vorhanden ist, um die in den Photodio
den angesammelten Ladungen zu einem nicht dargestellten Ausgangsver
stärker ausgeben zu können; ein Schiebegate 28 auf dem Substrat
zwischen dem Photodiodenbereich 24 und dem HCCD Bereich 25 sowie zur
Übertragung von im Photodiodenbereich 24 angesammelten Ladungen
aus dem Photodiodenbereich 24 zum HCCD Bereich 25; einen Schiebe
gate-Kanalbereich 26 mit hexagonaler Form, der unterhalb des Schiebe
gates 28 und in der ersten Wanne 22 sowie zwischen dem Photodiodenbe
reich 24 und dem HCCD Bereich 25 liegt; einen eine Potentialbarriere bil
denden p++ Bereich 27, der auf der Oberfläche oder in der Nähe der Ober
fläche des Photodiodenbereichs 24 liegt; eine Mehrzahl von Polygates 29
auf dem Substrat, und zwar oberhalb des HCCD Bereichs 25, um sicherzu
stellen, daß die vom Photodiodenbereich 24 übertragenen Ladungen zu
dem nicht dargestellten Ausgangsverstärker ausgegeben werden können;
eine Isolationsschicht 30 oberhalb des Substrats im Bereich zwischen dem
Schiebegate 28 und dem Polygate 29 sowie zwischen diesen und dem Sub
strat, um diese gegeneinander und gegenüber dem Substrat zu isolieren;
und einen Kanalstoppbereich 31 zur Bildung einer Potentialbarriere, um
die Zellen gegeneinander zu isolieren.
Jeder Bereich einer Photodiode 24 ist linear bzw. länglich ausgebildet und
weist die Form einer Leiter auf, die an einem Ende eine geringere Breite als
am anderen Ende besitzt. Dabei sind nebeneinanderliegende Photo
diodenbereiche 24 abwechselnd jeweils um 180° versetzt zueinander posi
tioniert. Mit anderen Worten steht eine Endseite eines Photodioden
bereichs 24 in Kontakt mit einem Schiebegate-Kanalbereich 26, wobei es
sich um eine solche Endseite handelt, die breiter ist als ihre gegenüberlie
gende Endseite. Die beiden anderen verbleibenden Längsseiten erstrecken
sich zueinander geneigt in Longitudinalrichtung.
Es steht also lediglich das breitere Ende des Photodiodenbereichs 24 in
Kontakt mit dem Schiebegate-Kanalbereich 26, wie gut in Fig. 5 zu erken
nen ist.
Der Schiebegate-Kanalbereich 26 unterhalb des Schiebegates 28 sowie
zwischen dem Photodiodenbereich 24 und der ersten Polygateelektrode 29
weist eine hexagonale Form auf, wobei eine Hexagonalseite, die mit dem
Photodiodenbereich 24 in Kontakt steht, dieselbe Breite aufweist wie die
ser Photodiodenbereich 24. Die dieser Hexagonalseite gegenüberliegende
Hexagonalseite steht mit dem HCCD Bereich 25 in Kontakt.
Die jeweiligen HCCD Bereiche 25 sind so angeordnet, daß sie sich an bei
den Endseiten des Photodiodenbereichs 24 befinden. Dabei liegt das
Photodiodenarray im Zentrum. Der HCCD Bereich 25 kann eine rechtecki
ge Form aufweisen, wobei eine seiner Seiten parallel zum Photodiodenar
ray verlaufen kann, wie in den Fig. 1 und 2 skizziert. Alternativ kann der
HCCD Bereich 25 aber auch so ausgebildet sein, daß er einerseits einen
Haupt-HCCD-Bereich 25-1 in der zweiten Wanne 23 aufweist, der sich
parallel zu den Photodioden erstreckt, und darüber hinaus andererseits
noch einen vorspringenden Bereich 25-2 aufweist, der die Form einer sich
verbreiternden Leiter aufweist, und der sich unterhalb des Schiebegates
28 in Longitudinalrichtung zum Schiebegate-Kanalbereich 26 hin er
streckt, wie in den Fig. 5 und 6 zu erkennen ist.
In jedem Fall ist hier nur jeder zweite Photodiodenbereich 24 über seine
breitere Stirnseite und über den hexagonalen Schiebegate-Kanalbereich
26 mit dem HCCD Bereich 25 verbunden. Zwischen den jeweiligen Photo
diodenbereichen 24 liegen Isolationsbereiche.
Jedes Polygate 29 besteht aus einer ersten Polygateelektrode 29-1, die
oberhalb derjenigen Substratoberfläche liegt, in der sich der hervorsprin
gende Bereich 25-2 des HCCD Bereichs 25 befindet, sowie aus einer Poly
gateelektrode 29-2 oberhalb derjenigen Oberfläche des Substrats, in wel
cher sich der Haupt-HCCD-Bereich 25-1 des HCCD Bereichs 25 befindet.
Insgesamt sind mehrere erste und zweite Polygateelektroden 29-1, 29-2
zur Bildung erster und zweiter Gates vorhanden, die der Reihe nach ab
wechselnd nebeneinanderliegend angeordnet sind. Dabei überlappen die
ersten Polygateelektroden 29-1 wenigstens teilweise die zweiten Poly
gateelektroden 29-2, und umgekehrt.
Die Breite des hervorspringenden Bereichs 25-2 des HCCD Bereichs 25 ist
schmaler als die Breite der ersten Polygateelektrode 29-1. Dabei erstreckt
sich der hervorspringende Bereich 25-2 in denjenigen Bereich des Schie
begate-Kanalbereichs 26 hinein, in welchem dessen Breite, gesehen in
Richtung des Bereichs 24, noch zunimmt, nicht jedoch abnimmt. Wie
bereits erwähnt, weist dabei der Schiebegate-Kanalbereich 26 eine in der
Ebene liegende Hexagonalform auf und befindet sich unterhalb des Schiebegates
28.
Die Abbildungseinrichtung nach der Erfindung weist leiterartig ausgebil
dete Photodiodenbereiche auf, wobei die Leiterlängsseiten schräg zuein
ander verlaufen, sowie Schiebegate-Kanalbereiche mit ebener Hexagonal
form unterhalb des Schiebegates. Dies führt zu einer größeren Breite im Y
Bereich als im X Bereich 32, so daß sich Ladungen im Photodiodenbereich
24 verstärkt in der Nähe des Schiebegates 28 sammeln können.
Die Fig. 7a und 7b zeigen Maximum-Potentialverteilungen in der Sammel
betriebsart und der Übertragungsbetriebsart beim Festkörper-Bildwand
ler nach Fig. 6.
Wird die niedrigste Spannung von 0 V an das Schiebegate 28 und das Poly
gate 29 angelegt, und liegt die Höchstspannung von 15 V über einen
Rücksetzdrainanschluß RD an der HCCD 25 an, so ergibt sich beim Bild
wandler nach Fig. 6 die Potentialverteilung gemäß Fig. 7a.
Da eine hohe Potentialbarriere durch den Kanalstoppbereich 31 einerseits
und den Schiebegatebereich 26 andererseits erhalten wird, sammeln sich
durch auf die Photodiode 24 auftreffendes Licht erzeugte Ladungen innerhalb
der Photodiode 24, ohne daß sie zur HCCD 25 gelangen, da die vor
handene Potentialbarriere sie daran hindert.
Wird dagegen eine Spannung im Bereich von 12 V bis 15 V an das Schiebe
gate 28 und das Polygate 29 gelegt, und verbleibt nach wie vor die höchste
Spannung von 15 V an der HCCD 25 über den Rücksetzdrainanschluß RD,
so wird ein PN Übergang in Sperrichtung vorgespannt, der durch den p-
Typ Schiebegate-Kanalbereich 26 und den n-Typ HCCD Bereich 25 gebil
det wird. Dies führt dann zu einem völlig entleerten Zustand des Bereichs
24.
Mit anderen Worten führt die höchste und über den Rücksetzdrainan
schluß RD angelegte Spannung zu dem in Sperrichtung vorgespannten
Zustand und damit zur völligen Entleerung des Ladung sammelnden Pho
todiodenbereichs 24.
Wie anhand der Fig. 7b ebenfalls zu erkennen ist, verbleiben die Ladungen
im tiefen Bereich des HCCD Bereichs gesammelt, der das maximale Poten
tial empfängt, oder an dem die Abschnürspannung (pinch off voltage) an
liegt.
Die in der Sammelbetriebsart bei maximaler Spannung im Photodioden
bereich 24 gespeicherten Ladungen lassen sich in der Übertragungsbe
triebsart bei der maximalen Spannung zum HCCD Bereich 25 übertragen,
wobei die maximale Spannung hier diejenige ist, die am HCCD Bereich an
liegt. Je weiter und höher die Breite bzw. Konzentration dieser Bereiche
sind, je höher ist der Pegel der maximalen Spannung, wenn sowohl der
Photodiodenbereich als auch der HCCD Bereich vom n-Typ sind.
Bei der Erfindung kommt es auf die Anpassung der Breite zwischen dem
Photodiodenbereich 14 und dem Schiebegate-Kanalbereich 26 an. Wie in
Fig. 7b gezeigt, wird in der Übertragungsbetriebsart eine immer steigende
Potentialverteilung erhalten, die im Übergangsbereich zwischen 14 und
26 kein Minimum aufweist, und zwar deswegen, weil die Breite durch die
maximale Spannung im X Bereich der Photodiode weiter bzw. höher ist als
im Y Bereich. Der Pegel der Spannung nimmt darüber hinaus mehr und
mehr zu, und zwar ausgehend vom hervorspringenden Bereich 25-2 in
Richtung zum Haupt-HCCD-Bereich 25-1.
Mit anderen Worten wird bei der erfindungsgemäßen Abbildungseinrich
tung keine Potentialbarriere wie im konventionellen Fall im X Bereich zwi
schen dem Photodiodenbereich 24 und dem Schiebegate-Kanalbereich 26
während der Übertragungsbetriebsart erhalten, sondern es bildet sich
vielmehr bei der Erfindung eine kontinuierlich abgestufte Potentialvertei
lung aus.
Bei der Festkörper-Abbildungseinrichtung nach der Erfindung lassen sich
somit in der Übertragungsbetriebsart sämtliche im Photodiodenbereich
24 angesammelten Ladungen zum HCCD Bereich 25 übertragen.
Die Verhältnisse sind anhand der in Fig. 8 dargestellten Computersimula
tion gut zu erkennen, die die Maximum-Potentialverteilung gemäß 7b
zeigt. Erfolgt die Übertragung von Ladungen aus dem Photodiodenbereich
24 zum Verschiebegate-Kanalbereich 26, so nimmt dabei das Potential
ständig in Richtung zum Verschiebegate-Kanalbereich 26 zu.
Aufgrund dieser Potentialverteilung zwischen Photodiodenbereich und
HCCD Bereich wird eine verbesserte Übertragungscharakteristik der Fest
körper-Abbildungseinrichtung erhalten. Diese verbesserte Übertragungs
charakteristik bleibt auch dann bestehen, wenn Signale mit höherer Takt
frequenz an die ersten und zweiten Polygateelektroden angelegt werden.
Wie bereits eingangs erwähnt, liegt der horizontale ladungsgekoppelte
Bereich 25 (HCCD-Bereich) bei der Erfindung näher am Photodioden
bereich 24 als beim diskutierten Stand der Technik. Bei der Erfindung
erstreckt sich der HCCD Bereich 25 bis unterhalb des Schiebegates 28,
soweit die hervorspringenden Bereiche 25-2 des HCCD Bereichs 25 betrof
fen sind. Diese Bereiche 25-2 laufen dabei praktisch in die hexagonal aus
gebildeten Schiebegate-Kanalbereiche 26 hinein.
Claims (11)
1. Festkörper-Abbildungseinrichtung, gekennzeichnet durch:
- - ein Siliciumsubstrat (21) eines ersten Leitungstyps;
- - eine erste Wanne (22) eines zweiten Leitungstyps in einem Oberflä chenbereich des Substrats (21), durch die ein Halbleiterübergang in einer vorbestimmten Tiefe gebildet wird;
- - zwei zweite Wannen (23) vom zweiten Leitungstyp in anderen Ober flächenbereichen des Substrats (21), durch die Halbleiterübergänge gebil det werden, die tiefer liegen als der durch die erste Wanne (22) gebildete Halbleiterübergang;
- - eine Mehrzahl von leiterartigen Photodiodenbereichen (24) zur Erzeu gung von Signalladungen, wobei die leiterartigen Photodiodenbereiche (24) in der ersten Wanne (22) zellenartig angeordnet sind, schräg zueinan der verlaufende Längsseiten und an ihren einander gegenüberliegenden Stirnseiten unterschiedliche Breiten aufweisen;
- - ein Paar von HCCD Bereichen (25) des ersten Leitungstyps, wobei jeweils einer der HCCD Bereiche (25) in einer der zweiten Wannen (23) liegt, von denen sich jeweils eine an einer der Stirnseiten der Photodioden bereiche (24) befindet, um die von den Photodiodenbereichen (24) erhalte nen Signalladungen zu einem Ausgangsverstärker zu übertragen;
- - Schiebegates (28) auf dem Substrat (21) zwischen den Photodioden bereichen (24) und den HCCD Bereichen (25) zur Übertragung der in den Photodiodenbereichen (24) angesammelten Signalladungen zu den HCCD Bereichen (25);
- - eine Mehrzahl von Schiebegate-Kanalbereichen (26) des zweiten Leitungstyps mit hexagonaler Struktur unterhalb der Schiebegates (28) sowie zwischen den Photodiodenbereichen (24) und den HCCD Bereichen (25);
- - eine Mehrzahl von Potentialbarrieren bildenden Bereichen (27) in der Nähe der oberen Fläche der Photodiodenbereiche (24);
- - Polygates (29) auf dem Substrat (21) oberhalb der HCCD Bereiche (25), um die von den Photodiodenbereichen kommenden Signalladungen zum Ausgangsverstärker übertragen zu können;
- - eine Isolationsschicht (30) zwischen den Schiebegates (28) und den Polygates (29), um diese gegeneinander zu isolieren; und
- - Kanalstoppbereiche (31) vom zweiten Leitungstyp zur Isolation der Photodiodenbereiche gegeneinander mit Hilfe von Potentialbarrieren.
2. Festkörper-Abbildungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die mit einem Schiebegate-Kanalbereich (26) in
Kontakt stehende Stirnseite eines Photodiodenbereichs (24) breiter ist als
die gegenüberliegende Stirnseite dieses Photodiodenbereichs (24).
3. Festkörper-Abbildungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die HCCD Bereiche (25) eine rechteckige Form auf
weisen und sich parallel zum Photodiodenarray erstrecken, also senkrecht
zur Längsrichtung der Photodiodenbereiche (24).
4. Festkörper-Abbildungseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die hexagonalen Schiebegate-Kanalbereiche (26)
mit einer ihrer Seiten in Kontakt mit einem Photodiodenbereich (24) und
mit ihrer gegenüberliegenden Seite benachbart zu einem Polygate (29) lie
gen.
5. Festkörper-Abbildungseinrichtung nach Anspruch 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die mit der Stirnseite eines Photodiodenbereichs
(24) in Kontakt stehende Seite des Schiebegate-Kanalbereichs (26) genau
so breit ist wie diese Stirnseite, und daß die gegenüberliegende Seite des
Schiebegate-Kanalbereichs (26) schmaler ist als das zu ihr benachbarte
Polygate (29).
6. Festkörper-Abbildungseinrichtung nach Anspruch 1 oder einem der
folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß jeder HCCD Bereich (25) ab
wechselnd aus Haupt-HCCD-Bereichen (25-1) mit rechteckiger Form und
hervorspringenden HCCD Bereichen (25-2) besteht.
7. Festkörper-Abbildungseinrichtung nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß sich der Haupt-HCCD-Bereich (25-1) parallel zum
Photodiodenarray erstreckt, also senkrecht zur Längsrichtung der Photo
diodenbereiche (24), und daß sich der hervorspringende HCCD Bereich
(25-2) ausgehend vom Haupt-HCCD-Bereich (25-1) zum Schiebegate-Ka
nalbereich (26) erstreckt.
8. Festkörper-Abbildungseinrichtung nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß der hervorspringende HCCD Bereich (25-2) mit sei
nem freien Ende in einem Gebiet des Schiebegate-Kanalbereichs (26) liegt.
9. Festkörper-Abbildungseinrichtung nach Anspruch 8, dadurch
gekennzeichnet, daß der hervorspringende HCCD Bereich (25-2) mit ei
ner kurzen Seite in der Nähe des Schiebegates (28) und mit einer breiten
Seite benachbart zum Haupt-HCCD-Bereich (25-1) liegt.
10. Festkörper-Abbildungseinrichtung nach Anspruch 8, dadurch
gekennzeichnet, daß sich der hervorspringende HCCD Bereich (25-2) lei
terartig zum freien Ende hin verjüngt.
11. Festkörper-Abbildungseinrichtung nach Anspruch 8, dadurch
gekennzeichnet, daß die Breite des hervorspringenden Bereichs (25-2)
kleiner ist als die Breite des Polygates (29-1).
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