DE4219927A1 - Anordnung von spannungsquelle- und erdungsleitungen einer halbleiterspeichereinrichtung - Google Patents
Anordnung von spannungsquelle- und erdungsleitungen einer halbleiterspeichereinrichtungInfo
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019910010194A KR930001392A (ko) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | 반도체 메모리 장치의 전원 접지선 배선방법 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4219927A1 true DE4219927A1 (de) | 1992-12-24 |
Family
ID=19316015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE4219927A Ceased DE4219927A1 (de) | 1991-06-19 | 1992-06-17 | Anordnung von spannungsquelle- und erdungsleitungen einer halbleiterspeichereinrichtung |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0719851B2 (cg-RX-API-DMAC10.html) |
| KR (1) | KR930001392A (cg-RX-API-DMAC10.html) |
| DE (1) | DE4219927A1 (cg-RX-API-DMAC10.html) |
| FR (1) | FR2678109B1 (cg-RX-API-DMAC10.html) |
| GB (1) | GB2256968A (cg-RX-API-DMAC10.html) |
| IT (1) | IT1258990B (cg-RX-API-DMAC10.html) |
| TW (1) | TW245835B (cg-RX-API-DMAC10.html) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100249166B1 (ko) * | 1997-03-07 | 2000-03-15 | 김영환 | 이에스디(esd) 보호회로 및 그 제조방법 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5780828A (en) * | 1980-11-07 | 1982-05-20 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit device |
| JPS5922357A (ja) * | 1982-07-28 | 1984-02-04 | Toshiba Corp | Cmos形半導体集積回路 |
| JPH0693497B2 (ja) * | 1986-07-30 | 1994-11-16 | 日本電気株式会社 | 相補型mis集積回路 |
| GB2199695B (en) * | 1987-01-06 | 1990-07-25 | Samsung Semiconductor Inc | Dynamic random access memory with selective well biasing |
| DE3855356T2 (de) * | 1987-03-18 | 1997-01-30 | Nippon Electric Co | Vorrichtung mit complementäre integrierte Schaltung mit Mitteln zur Verhinderung einer parasitären Auslösung |
-
1991
- 1991-06-19 KR KR1019910010194A patent/KR930001392A/ko not_active Abandoned
-
1992
- 1992-06-02 TW TW081104313A patent/TW245835B/zh active
- 1992-06-12 IT ITMI921460A patent/IT1258990B/it active IP Right Grant
- 1992-06-17 GB GB9212830A patent/GB2256968A/en not_active Withdrawn
- 1992-06-17 DE DE4219927A patent/DE4219927A1/de not_active Ceased
- 1992-06-17 FR FR9207335A patent/FR2678109B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1992-06-19 JP JP4161159A patent/JPH0719851B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| IBM Technical Disclosure Bulletin, Vol. 33, No. 12, Mai 1991, S. 439-441 * |
| JP 2-126652 A. In: PATENTS ABSTRACTS OF JAPAN, E-959, Vol. 14, No. 359, 3.8.90 * |
| JP 59-163 837 A. In: PATENTS ABSTRACTS OF JAPAN, E-291, Vol. 9/No. 15, 22.1.85 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR930001392A (ko) | 1993-01-16 |
| IT1258990B (it) | 1996-03-11 |
| ITMI921460A1 (it) | 1993-12-12 |
| GB2256968A (en) | 1992-12-23 |
| JPH06112435A (ja) | 1994-04-22 |
| FR2678109B1 (fr) | 1994-01-21 |
| FR2678109A1 (fr) | 1992-12-24 |
| GB9212830D0 (en) | 1992-07-29 |
| TW245835B (cg-RX-API-DMAC10.html) | 1995-04-21 |
| ITMI921460A0 (it) | 1992-06-12 |
| JPH0719851B2 (ja) | 1995-03-06 |
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| 8131 | Rejection |