DE4214923A1 - Masken-rom-einrichtung und verfahren zu deren herstellung - Google Patents
Masken-rom-einrichtung und verfahren zu deren herstellungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich allgemein auf eine
Masken-ROM-Einrichtung, im besonderen auf einen hochintegrier
ten Aufbau eines NAND-Masken-ROM (Nur-Lese-Speichers), sowie
auf ein Verfahren zu Herstellung einer solchen Masken-ROM-Ein
richtung.
Fig. 17 ist die Darstellung eines Ersatzschaltbildes des Spei
cherzellarrays eines herkömmlichen NAND-Masken-ROM unter
Verwendung eines n-Kanal-Transistors, und Fig. 11 ist eine
Draufsicht, die den Aufbau des Speicherzellarrays nach Fig. 17
darstellt. Wie diese Figuren zeigen, sind auf der Hauptoberflä
che eines Siliziumsubstrates parallel zueinander und sich in
Spaltenrichtung erstreckend ein erster MOS-Transistor-Zug
(a-Zug) und ein zweiter MOS-Transistor-Zug (b-Zug), die jeweils
aus einer Mehrzahl von in Reihe geschalteten MOS-Transistoren
gebildet sind, gebildet. Diese beiden Transistor-Züge (a-Zug
und b-Zug) sind voneinander durch eine LOCOS (durch lokale Oxi
dation von Silizium hergestellte)-Isolierschicht 4 getrennt und
isoliert. Die Gateelektroden (3S0, 3S1) und Wortleitungen (30
bis 37) der MOS-Transistoren sind so gebildet, daß sie sich pa
rallel zueinander in Zeilenrichtung auf der Hauptoberfläche des
Siliziumsubstrates erstrecken.
Fig. 12 gibt eine Querschnittsdarstellung des Aufbaues längs
der Linie X-X in Fig. 11. Die auf der Hauptoberfläche des Si
liziumsubstrates 6 gebildete Mehrzahl von MOS-Transistoren ist
in Reihe geschaltet, wobei die Transistoren die Störstellen
gebiete miteinander teilen. Der MOS-Transistor-Zug aus einer
Mehrzahl von MOS-Transistoren enthält einen Transistor vom An
reicherungs(enhancement)-Typ und einen Transistor vom Verar
mungs(depletion)-Typ. Im Falle des Verarmungs-Transistors ist
ein beliebiger Transistor in Abhängigkeit von den darin zu
speichernden Daten als vom Verarmungs-Typ ausgebildet. Genauer
gesagt, werden im NAND-Masken-ROM ROM-Speicherwerte "1"/"0" als
"Vorhandensein/Abwesenheit" einer Verarmungs-Implantation im
MOS-Transistor gespeichert. Der Betrieb eines herkömmlichen
NAND-Masken-ROM wird unter Bezugnahme auf die Fig. 17, 11
und 12 beschrieben.
In Fig. 17 sind die Transistoren, deren Kanalgebiete schräg
schraffiert sind (z. B. 5S0a, 5S1b, 51a......) Transistoren vom
Verarmungs-Typ, und die anderen Transistoren sind vom Anreiche
rungs-Typ. Die Gateelektroden 3S0 und 3S1 sind Auswahl-Gates
zur Auswahl des a-Zuges oder des b-Zuges von MOS-Transistoren.
Im Betrieb wird, wenn ein Wert von der Bitleitung 53a des
WL3-a-Zuges ausgelesen wird, das Auswahlgatter 3S0 ausgeschal
tet, 3S1 eingeschaltet, die Wortleitung WL3(33) des ausgele
senen Bits wird ausgeschaltet, und die anderen Wortleitungen
WL0 bis WL2 und WL4 bis WL7 werden eingeschaltet. In diesem Zu
stand fließt kein Strom durch die b-Zug-Seite, da der Transi
stor 5S0b im ausgeschalteten Zustand ist. Da die nicht-ausge
wählten Wortleitungen (WL0 bis WL2, WL4 bis WL7) alle mit dem
Strom des EIN-Zustandes versorgt werden, kann durch die Bits
(50a bis 52a, 54a bis 57a), die diesen nicht-ausgewählten Wort
leitungen entsprechen, unabhängig davon, ob die Bits vom An
reicherungs- oder Verarmungs-Typ sind, ein Strom fließen. Ob
durch den a-Zug ein Strom fließt oder nicht, wird auf der
Grundlage dessen bestimmt, ob ein Strom durch das Bit 53a ent
sprechend der Wortleitung WL3, das in diesem Zustand ausge
wählt ist, fließen kann. Es sei angenommen, daß das ausgewählte
Auslesebit 53a ein Transistor vom Verarmungs-Typ sei. Daher
fließt, wenn durch das Auslesebit 53a ein Strom fließt, ein
Strom durch die a-Zug-Seite, und dann fließt der Strom durch
die Leitung 2. Der Wert des ausgelesenen Bits 53a wird durch
Nachweis des Stromes durch die Bitleitung 2 als "1" bestimmt.
Umgekehrt wird, wenn das Auswahlgatter 350 eingeschaltet, 351
ausgeschaltet und die Wortleitung WL3 ausgewählt ist, der
Stromfluß unterbrochen, da das Auslesebit 53b durch einen Ver
armungs-Transistor gebildet ist. Damit fließt kein Strom durch
den b-Zug, und der Wert des Auslesebits 53b wird als "0" er
mittelt.
Im folgenden wird eine Beschreibung des Aufbaues des MOS-Tran
sistors gegeben, der jedes der Bits bildet. Fig. 13 ist eine
Querschnittsdarstellung, die den Aufbau von in Reihe geschal
teten MOS-Transistoren zeigt. MOS-Transistor-Züge, die Bits
bilden, enthalten einen MOS-Transistor 10a vom Verarmungs-Typ
und einen MOS-Transistor 10b vom Anreicherungs-Typ. Die Tran
sistoren haben beide denselben Grundaufbau. Genauer gesagt,
enthalten beide Transistoren ein Paar von n⁺-Source-/Drain-Ge
bieten 13, 13, eine Gateisolierschicht 12 und eine Gate
elektrode 11. Der Verarmungs-MOS-Transistor 10a hat mindestens
in seinem Kanalgebiet eine Verarmungs-Implantationsschicht 15.
Die Verarmungs-Implantationsschicht 14 erlaubt einen Stromfluß
durch das Source-/Drain-Gebiet auch dann, wenn an die Gateelek
trode keine Spannung angelegt ist. Genauer gesagt, ist seine
Schwellspannung negativ. Umgekehrt beginnt im Falle des An
reicherungs-MOS-Transistors 10b ein Strom durch die Source-/Drain-Ge
biete 13, 13 zu fließen, wenn die Gateelektrode 11 mit
einer positiven Gate-Spannung versorgt ist.
Im folgenden wird eine Beschreibung eines Verfahrens zur Her
stellung des in Reihe geschalteten MOS-Transistor-Zuges nach
Fig. 13 gegeben. Die Fig. 14 bis 16 sind Querschnittsdar
stellungen, die den Aufbau des in Fig. 13 gezeigten MOS-Tran
sistor-Zuges zur Darstellung der Verfahrensschritte in ihrer
Reihenfolge zeigen.
Wie Fig. 14 zeigt, wird in einer vorgeschriebenen Lage auf der
Hauptoberfläche des Siliziumsubstrates 6 mittels des LOCOS-Ver
fahrens eine LOCOS-Isolierschicht (nicht gezeigt) gebildet.
Dann werden in die Oberfläche des Siliziumsubstrates 6 zum Ein
stellen der Schwellspannung des Transistors Verunreinigungs
ionen 26 implantiert.
Wie in Fig. 15 gezeigt, wird in einer vorbestimmten Lage in
einem Transistorbildungsgebiet auf dem Siliziumsubstrat eine
Maskenschicht 27 ausgebildet. Unter Verwendung der Masken
schicht werden Verunreinigungsionen 28 wie Phosphor oder Arsen
(im Falle des n-Kanal-Typs) in das Gebiet des Siliziumsubstra
tes 6 implantiert, in dem ein Transistor vom Verarmungs-Typ ge
bildet werden soll. Auf diese Weise wird die Verarmungs-Implan
tationsschicht 14 gebildet.
Wie in Fig. 16 gezeigt, wird nach Entfernung der Maskenschicht
27 auf der Oberfläche des Siliziumsubstrates 6 beispielsweise
durch ein Hochtemperatur-Oxidationsverfahren eine Gateisolier
schicht 12 gebildet. Weiter wird auf der Oberfläche der Gate
isolierschicht 12 eine leitende Schicht, etwa aus polykristal
linem Silizium, oder ein Zweischicht-Film aus einem Metallsili
zid mit hohem Schmelzpunkt und polykristallinem Silizium ge
bildet und in eine vorbestimmte Form gemustert. Auf diese Weise
wird eine Mehrzahl von Gateelektroden gebildet. Dann werden un
ter Verwendung der Gateelektroden als Masken n-Verunreinigungs
ionen 29 implantiert, wodurch Source und Drain 13 der MOS-Tran
sistoren gebildet werden. Durch die bezeichneten Schritte wird
ein Reihenschaltungs-Aufbau von MOS-Transistoren vom Anreiche
rungs- und Verarmungs-Typ gebildet.
Nachfolgend werden Zwischenschichtisolierfilme, Bitleitungen
und Source-Leitungen gebildet.
Auf dem Gebiet der Halbleitereinrichtungen besteht unvermeid
lich ein Druck zur Erhöhung der Integrationsdichte zur Vergrös
serung der verfügbaren Speicherkapazitäten. Die Aufbauten der
einen Speicher bildenden Einrichtungen sollten zur Erreichung
höherer Integrationsdichten verkleinert werden. Im Falle des
Speicherzellarrays eines herkömmlichen NAND-Masken-ROM, wie er
oben beschrieben ist, sollte die Größe der in Reihe geschalte
ten MOS-Transistoren zum Zwecke der Verringerung der Größe des
gesamten Aufbaues verringert werden. Der Verringerung der Größe
eines MOS-Transistors steht jedoch das folgende Problem
entgegen:
- 1) Wie Fig. 13 zeigt, ist im Falle eines Transistors vom An reicherungs-Typ - was die Gatelänge der Gateelektrode 11 be trifft - eine Länge nötig, die zur Gewährleistung der Durch bruchsspannung des Source-Drain-Gebietes ausreicht, die den Stromfluß vom Source- zum Drain-Gebiet abschnürren kann. Ge nauer gesagt, es ist erforderlich, einen solchen Abstand zwi schen Source und Drain sicherzustellen, daß das Auftreten von Durchbruchserscheinungen im Source-Drain-Gebiet verhindert werden kann.
- 2) Der Abstand der Gateelektroden 11, 11 benachbarter MOS-Transistoren ist durch die Auflösung einer Belichtungseinrich tung bzw. die Leistungsfähigkeit einer Ätzvorrichtung im Prozeß der Strukturbildung begrenzt.
Angesichts der genannten Begrenzungen ist im Speichersellarray
des herkömmlichen Masken-ROM nach Fig. 13 sowohl die Gatelänge
als auch der Abstand der Gateelektroden 11, 11 etwa 0,8 µm.
Wie oben beschrieben, stehen beim herkömmlichen Masken-ROM mit
einem Speicherzellarray, in dem MOS-Transistoren in Reihen
schaltung auf der Hauptoberfläche eines Halbleitersubstrates
angeordnet sind, die durch die MOS-Transistorcharakteristiken
bedingten Begrenzungen ebenso wie Eigenheiten des Herstellungs
verfahrens einer weiteren Verringerung der Strukturabmessungen
im Wege.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Einrich
tung und ein Verfahren anzugeben, mit denen eine Erhöhung der
Integrationsdichte eines Masken-ROM, insbesondere eines
NAND-Masken-ROM, erreicht werden können. Insbesondere ist es Aufgabe
der Erfindung, eine Einrichtung und ein Verfahren anzugeben,
mit denen die Integrationsdichte eines Speicherzellarrays aus
einer Mehrzahl von in einer Masken-ROM-Einrichtung in Reihe ge
schalteten MOS-Transistoren erhöht werden kann.
Eine Masken-ROM-Einrichtung entsprechend einem Aspekt der vor
liegenden Erfindung weist eine Mehrzahl von Vertiefungen bzw.
Ausnehmungen auf, die sich parallel zueinander in der Haupt
oberfläche eines Halbleitersubstrates erstreckend gebildet
sind. In der Richtung, die die Richtung der gebildeten Vertie
fungen kreuzt, ist ein erster MOS-Transistor-Zug, in dem eine
Mehrzahl von MOS-Transistoren in Reihe geschaltet ist, und ein
zweiter MOS-Transistor-Zug, der parallel zum ersten MOS-Tran
sistor-Zug gebildet ist und aus einer Mehrzahl von in Reihe ge
schalteten MOS-Transistoren besteht, mit einem zwischen dem
ersten und dem zweiten MOS-Transistor-Zug gebildeten Isola
tions- und Trenngebiet gebildet. Das Isolations- und Trennge
biet isoliert und trennt die MOS-Transistoren im ersten
MOS-Transistor-Zug die MOS-Transistoren im zweiten MOS-Transistor-Zug
voneinander. Die Halbleitereinrichtung enthält weiter die
Sources/Drains von MOS-Transistoren an einem Ende des ersten
MOS-Transistor-Zuges, mit den Sources/Drains der MOS-Transi
storen am einen Ende des zweiten MOS-Transistor-Zuges verbun
dene Bitleitungen, die Sources/Drains der MOS-Transistoren am
anderen Ende des ersten MOS-Transistor-Zuges und mit den
Sources/Drains der MOS-Transistoren am anderen Ende des zweiten
MOS-Transistor-Zuges verbundene Source-Leitungen. Die im ersten
und im zweiten MOS-Transistor-Zug enthaltenen MOS-Transistoren
enthalten jeweils ein Paar von Sources/Drains, die auf dem
Boden der Vertiefung und auf der Hauptoberfläche des Substrates
in Ausrichtung mit der Vertiefung gebildet sind, ein auf der
inneren Oberfläche der Vertiefung gebildetes und zwischen einem
Paar von Sources/Drains gelegenes Kanalgebiet und eine auf der
inneren Oberfläche der Vertiefung mit einer Isolierschicht da
zwischen gebildete Gateelektrode.
Beim Masken-ROM kann der Abstand eines Paares von Sources/Drains
in der Richtung längs der Hauptoberfläche des Substrates
durch Verwendung der Seitenwände der in der Substratoberfläche
gebildeten Vertiefung als Kanalgebiet des MOS-Transistors ver
ringert werden. Die Gatelänge einer Gateelektrode kann in Ab
hängigkeit von der Tiefe der Ausnehmung bzw. Vertiefung belie
big gewählt werden. Die Größe des Aufbaues eines MOS-Transi
stors in einer Ebene kann daher ohne Verringerung der Gate
länge oder Kanallänge des MOS-Transistors verringert werden.
Weiter erlaubt eine Ionenimplantation in einer relativ zur Sei
tenwand der Vertiefung geneigten bzw. schrägen Richtung die
Bildung eines Verarmungsgebietes auf der Seitenwand der Vertie
fung. Dies ermöglicht die Herstellung des Speicherzellarrays
eines Masken-ROM unter Einschluß von MOS-Transistoren des An
reicherungs-Typs und des Verarmungs-Typs.
Eine Masken-ROM-Einrichtung entsprechend einem anderen Aspekt
der Erfindung enthält erste und zweite MOS-Transistoren, die
auf den Seitenwänden der Vertiefung gebildet sind, und ein Ver
fahren zur Herstellung einer solchen Masken-ROM-Einrichtung
weist die folgenden Schritte auf: Eine Vertiefung wird auf der
Hauptoberfläche eines Halbleitersubstrates eines ersten Lei
tungstyps gebildet. Eine Isolierschicht wird auf der Hauptober
fläche des Halbleitersubstrates und auf der Innenoberfläche der
Vertiefung gebildet. Eine leitende Schicht wird auf der Ober
fläche der Isolierschicht gebildet. Die leitende Schicht und
die Isolierschicht werden anisotrop geätzt, um eine Gateiso
lierschicht und eine Gateelektrodenschicht jeweils in Kontakt
mit der Seitenwand der Vertiefung zu bilden. Dann werden Verun
reinigungsionen vom zweiten Leitungstyp in die Hauptoberfläche
des Halbleitersubstrates und den Boden der Vertiefung unter
Verwendung der Gateelektrodenschicht als Maske implantiert.
Weitere Merkmale und Zweckmäßigkeiten der Erfindung ergeben
sich aus der Erläuterung eines Ausführungsbeispieles anhand der
Figuren.
Von den Figuren zeigen:
Fig. 1 die Draufsicht eines Aufbaues eines Speicherzell
arrays in einem NAND-Masken-ROM gemäß einer Aus
führungsform der Erfindung,
Fig. 2 eine Querschnittsdarstellung des Aufbaues des
Speicherzellarrays längs der Linie Y-Y in
Fig. 1,
Fig. 3 eine perspektivische Querschnittsdarstellung des
in Fig. 2 gezeigten Speicherzellarrays,
Fig. 4 bis 9 Querschnittsdarstellungen, die aufeinanderfolgend
in der Reihenfolge der Herstellungsschritte den
Aufbau des in Fig. 2 gezeigten Speicherzell
arrays darstellen,
Fig. 10 eine Querschnittsdarstellung eines Aufbaues in
einer Abwandlung des Herstellungsverfahrens für
das in Fig. 2 gezeigte Speicherzellarray,
Fig. 11 die Draufsicht eines Aufbaues eines Speicherzell
arrays in einem herkömmlichen NAND-Masken-ROM,
Fig. 12 die Querschnittsdarstellung eines Aufbaues des
Speicherzellarrays nach Fig. 11 längs der Linie
X-X,
Fig. 13 eine teilweise vergrößerte Darstellung der in
Fig. 12 gezeigten, in Reihe geschalteten
MOS-Transistoren,
Fig. 14 bis 16 Querschnittsdarstellungen, die den Aufbau des in
Fig. 13 gezeigten Speicherzellarrays in der Rei
henfolge der Herstellungsschritte zeigen, und
Fig. 17 die Darstellung eines Ersatzschaltbildes eines
Speicherzellarrays in einem NAND-Masken-ROM.
Wie die Fig. 1 und 7 zeigen, ist in Spaltenrichtung auf der
Hauptoberfläche eines Siliziumsubstrates eine Mehrzahl von zu
einander parallelen Vertiefungen bzw. Ausnehmungen 5 gebildet.
Parallel zueinander und die Richtung, in der sich die Vertie
fungen 5 erstrecken, schneidend, sind Trennschichten 4 zur Ele
menttrennung gebildet. Eine LOCOS-Trennschicht 4 ist auf der
Hauptoberfläche des Siliziumsubstrates und längs der inneren
Oberfläche der Vertiefung 5 gebildet. Im Gebiet zwischen den
LOCOS-Trennschichten 4, 4, die benachbart zueinander sind, ist
ein Zug aus 10 MOS-Transistoren gebildet, die miteinander in
Reihe geschaltet sind (a-Zug), oder ein Zug von 10 MOS-Tran
sistoren, die miteinander in Reihe geschaltet sind (b-Zug). So
wohl der a- als auch der b-Transistor-Zug sind aus zwei Aus
wahltransistoren und 8 Bit-Speichertransistoren gebildet. Diese
MOS-Transistoren weisen Gateelektroden (3S0 bis 3S1, 30 bis 37)
auf, die sich längs der Seitenwände der Vertiefungen 5 erstrec
ken. Die Gateelektroden erstrecken sich längs der Seitenwände
der Vertiefungen 5 und über die LOCOS-Trennschichten 4 und bil
den Auswahlgates oder Wortleitungen (WL0 bis WL7). Eine Bit
leitung 2 ist mit den Störstellengebieten der an einem Ende je
des der Züge gebildeten MOS-Transistoren über einen Bitlei
tungskontakt 2a verbunden. Mit den Störstellengebieten der
MOS-Transistoren, die an den anderen Enden liegen, ist über einen
Source-Leitungskontakt 1a eine Sourceleitung 1 verbunden.
Wie Fig. 2 zeigt, enthält jeder der Auswahltransistoren oder
Speichertransistoren ein Paar von Sources/Drains 13a, 13b, eine
Gateisolierschicht 12 und eine Gateelektrode 11. Eine der Sour
ces/Drains 13a, 13b ist auf der Hauptoberfläche des Silizium
substrates 6 gebildet, mit anderen Worten, auf der Stufenfläche
zwischen zwei Vertiefungen 5, 5, und die andere Source/Drain
ist auf dem Boden der Vertiefung 5 gebildet. Der Gateisolier
film 12 ist mit einer Dicke von 150 bis 200 A längs der Seiten
wand und des Bodens der Vertiefung 5 gebildet. Die Gateelektro
de 11 ist auf der Oberfläche der Gateisolierschicht 12 gebil
det, und ihre Dicke beträgt etwa 0,3 µm in der Nähe des Bodens
der Vertiefung 5. Die Breite der auf dem Boden der Vertiefung 5
gebildeten Source/Drain 13a ist etwa 0,2 µm. Eine Verarmungs
schicht 14 ist mit Bezug auf einen bestimmten MOS-Transistor im
Kanalgebiet zwischen einem Paar von Sources/Drains 13a, 13b
längs der Seitenwand und des Bodens der Vertiefung 5 in Abhän
gigkeit von den zu speichernden Daten gebildet. Von den Spei
chertransistoren ist der die Verarmungsschicht 14 aufweisende
Transistor im Verarmungs-Typ gebildet, und die anderen sind im
Anreicherungs-Typ gebildet.
Wie in Fig. 3 gezeigt, sind die Sources und Drains 13a und 13b
benachbarter MOS-Transistoren 10a und 10b durch eine LOCOS-Trenn
schicht 4 voneinander isoliert und getrennt. Die Gateelek
trode 11 ist so gebildet, daß sie sich längs der Seitenwand der
Vertiefung erstreckt.
Auf diese Weise kann durch Verwendung der in der Hauptoberflä
che des Substrates gebildeten Vertiefung 5 für das Kanalgebiet
des Transistors das Gebiet zur Bildung eines in Reihe geschal
teten MOS-Transistors in der Ebene verringert werden. Bei
spielsweise ist, wenn die Breite der Vertiefung 0,5 µm beträgt,
der Abstand benachbarter Vertiefungen 5, 5 0,8 µm, und die
Länge eines MOS-Transistors 10b in der Ebene ist 0,8 µm. Diese
Länge entspricht etwa der Hälfte derjenigen eines herkömmli
chen MOS-Transistors 10a nach Fig. 13. Darüber hinaus hängt
das der Gatelänge entsprechende Gebiet des Transistors von der
Tiefe der Seitenwand der Vertiefung 5 ab. Je tiefer die Ver
tiefung 5 demnach ist, umso größer wird damit die (physische)
Gatelänge.
Nachfolgend wird eine Beschreibung eines Herstellungsverfahrens
des Speicherzellarrays des Masken-ROM nach Fig. 2 gegeben.
Wie in Fig. 4 gezeigt, wird mit einem vorbestimmten Abstand in
der Hauptoberfläche eines p-Siliziumsubstrates 6 mittels aniso
tropen Ätzens eine Mehrzahl von Vertiefungen 5 parallel zuein
ander gebildet. Eine LOCOS-Trennschicht (nicht gezeigt) zur
Elementtrennung wird in der die Vertiefungen 5 schneidenden
Richtung durch selektive Oxidation gebildet. Verunreinigungs
ionen 20 wie Bor werden in die Oberfläche des Siliziumsubstra
tes 6 implantiert, um die Schwellspannung der Transistoren ein
zustellen. Unter Neigung des Siliziumsubstrates 6 bezüglich der
Richtung, in der die Implantation der Verunreinigungsionen 20
erfolgt, werden die Ionen unter Drehung des Substrates implan
tiert, was auch als Verfahren der schrägen Rotationsionenim
plantation bezeichnet wird.
Wie in Fig. 5 gezeigt, werden in dem ROM Daten eingeschrieben.
Ein Wert wird in den ROM durch Bilden einer Verarmungsschicht
14 im Kanalgebiet des MOS-Transistors, welche einem Wert ent
spricht, geschrieben. Genauer gesagt werden, nachdem das Ge
biet, in dem keine Verarmungsschicht auszubilden ist, mit einem
Resist 21 bedeckt wurde, Verunreinigungsionen 22 - etwa Phos
phor - in die Hauptoberfläche des Siliziumsubstrates in einer
dazu geneigten Richtung mit einer Dosis von 1013/cm2 implan
tiert. Wenn die Verarmungsschicht 14 mit einer Konzentration
von 1017 bis 1018/cm3 in der Seitenwand und einem Teil des Bo
dens der Vertiefung 5 gebildet werden, werden Verunreinigungs
ionen 22 mittels des schrägen Ionenimplantationsverfahrens nach
Bildung einer Resistmaske 23 implantiert.
Wie in Fig. 6 gezeigt, wird auf der Seitenwand der Vertiefung
5 gegenüber der Verarmungsschicht 14, die durch den Schritt
nach Fig. 5 gebildet wurde, eine weitere Verarmungsschicht 14
gebildet, indem Verunreinigungsionen 22 nach Bildung der
Resistmaske 23 durch das Verfahren der schrägen Ionenimplanta
tion implantiert werden. Wie in Fig. 7 gezeigt, wird nach dem
Entfernen des Resists 23 auf der Oberfläche des Siliziumsub
strates 6 beispielsweise durch ein thermisches Oxidationsver
fahren eine Siliziumoxidschicht 12 gebildet. Eine polykristal
line Siliziumschicht 12a mit einer Dicke im Bereich von 0,3 bis
0,4 µm wird auf der Oberfläche der Siliziumoxidschicht 12 bei
spielsweise durch CVD (Chemische Gasphasenabscheidung)
gebildet.
Wie in Fig. 8 gezeigt, wird die polykristalline Silizium
schicht 12a durch reaktives Ionenätzen o. ä. anisotrop geätzt.
Die Polysiliziumschicht bleibt im Ergebnis dessen nur in dem
jenigen Gebiet, das in Kontakt mit der Seitenwand der Vertie
fung 5 steht, erhalten und bildet die Gateelektroden 11.
Wie in Fig. 9 gezeigt, werden unter Nutzung der Gateelektrode
11 als Maske n-Verunreinigungsionen 25 - etwa Arsen (As) - in
die Oberfläche des Siliziumsubstrates 6 implantiert. Ein Paar
Sources/Drains 13a, 13b vom n-Typ werden in der Hauptoberfläche
des Siliziumsubstrates 6 und auf dem Boden der Vertiefung 5 ge
bildet.
Dann wird auf der gesamten Oberfläche des Substrates ein Zwi
schenschichtisolierfilm ausgebildet, und Kontaktlöcher zum Her
stellen von Verbindungen werden in vorbestimmten Positionen ge
bildet. Über diese Kontaktlöcher werden Verbindungsschichten
gebildet.
Nachfolgend wird die Beschreibung einer Abwandlung des oben
beschriebenen Herstellungsverfahrens gegeben. Fig. 10 ist eine
Darstellung, die einen eine Abwandlung des Verarmung-Implanta
tionsschrittes nach den Fig. 5 und 6 darstellenden Herstel
lungsschritt zeigt. Wenn beispielsweise auf beiden Seitenwänden
der einander benachbarten Vertiefungen 5, 5 ein MOS-Transistor
vom Verarmungs-Typ gebildet wird, können Verunreinigungsionen
22 simultan in beide Oberflächen der Vertiefungen 5, 5 mittels
des Verfahrens der schrägen Rotationsionenimplantation nach
Bedeckung der anderen Gebiete mit einem Resist 24 implantiert
werden.
Bei den oben beschriebenen Ausführungsformen wird zur besseren
Veranschaulichung eine Verarmungsschicht 14 gebildet, bevor die
Gateisolierschicht 12 gebildet wird. Die Verarmungsschicht 14
kann jedoch unter Anwendung eines hochenergetischen (mit einer
Implantationsenergie von 200 keV oder mehr durchgeführten)
Ionenimplantationsverfahrens nach Bildung der Gateisolier
schicht 12 und der Gateelektrode 11 in der Oberfläche des Sili
ziumsubstrates gebildet werden.
Weiterhin wurde bei den beschriebenen Ausführungsformen der
Fall beschrieben, daß die Auswahltransistoren oder Speicher
transistoren des Speicherzellarrays innerhalb der Vertiefungen
5 gebildet sind. Es ist jedoch festzuhalten, daß MOS-Transi
storen in den peripheren Schaltungen des Speicherzellarrays
nicht auf der Seitenwand der Vertiefung gebildet werden
brauchen, dies aber möglich ist.
Wie oben beschrieben, sind im Speicherzellarray eines
NAND-Masken-ROM entsprechend der Erfindung in Reihe geschaltete
MOS-Transistoren auf den Seitenwänden von Vertiefungen gebildet,
und zwei sich parallel zueinander erstreckende, jeweils in
Reihe geschaltete Transistor-Züge sind voneinander isoliert und
getrennt, wodurch die in der Ebene belegte Fläche des Substra
tes ohne Verletzung der einschränkenden Bedingungen, die der
Anordnung bezüglich der Gatelänge eines MOS-Transistors aufer
legt sind, verringert ist. Ein Speicherzellarray in einem Mas
ken-ROM unter Verwendung von MOS-Transistor-Zügen mit erhöhter
Integrationsdichte kann unter Verwendung des Verfahrens
hergestellt werden, bei dem eine Verarmungs-Ionenimplantation
in relativ zu auf der Seitenwand der Vertiefung gebildeten
MOS-Transistoren schräger Richtung ausgeführt wird.
Claims (7)
1. Masken-ROM-Einrichtung mit
einem Halbleitersubstrat (6) mit einer Hauptoberfläche,
einer Mehrzahl von in der Hauptoberfläche des Halbleitersub strates sich parallel zueinander erstreckend gebildeten Vertie fungen (5),
einem ersten MOS-Transistor-Zug (a), in dem eine Mehrzahl von in Reihe geschalteten MOS-Transistoren in einer Richtung ange ordnet ist, die die Richtung schneidet, in der sich die Vertie fungen erstrecken,
einem zweiten MOS-Transistor-Zug (b), der parallel zum ersten MOS-Transistor-Zug angeordnet ist und eine Mehrzahl von in Reihe geschalteten MOS-Transistoren enthält,
einem Trenn- und Isoliergebiet (4), das zwischen dem ersten MOS-Transistor-Zug (a) und dem zweiten MOS-Transistor-Zug (b) gebildet ist und zur Isolation und Trennung der MOS-Transisto ren des ersten MOS-Transistor-Zuges und der MOS-Transistoren des zweiten MOS-Transistor-Zuges voneinander dient,
einer mit den Sources/Drains (13; 13a, 13b) der MOS-Transi storen am einen Ende des ersten MOS-Transistor-Zuges und den Sources/Drains (13; 13a, 13b) der MOS-Transistoren an einem Ende des zweiten MOS-Transistor-Zuges verbundenen Bitleitung (2) und
einer mit dem Sources/Drains (13; 13a, 13b) der MOS-Transisto ren am anderen Ende des ersten MOS-Transistor-Zuges und den Sources/Drains (13; 13a, 13b) der MOS-Transistoren am anderen Ende des zweiten MOS-Transistor- Zuges verbundenen Sourcelei tung (1),
wobei die im ersten MOS-Transistor-Zug und im zweiten MOS-Transistor-Zug enthaltenen MOS-Transistoren (10a, 10b) ein Paar von Sources und Drains (13a, 13b), die auf dem Boden der Vertiefung (5) und auf der Hauptoberfläche des Halbleiter substrates (6) in Ausrichtung mit der Vertiefung (5) gebildet sind, und
ein in der inneren Oberfläche der Vertiefung (5) zwischen dem Paar von Source und Drain (13a, 13b) gebildetes Kanalgebiet und eine auf der inneren Oberfläche der Vertiefung mit einer Isolierschicht (12) dazwischen gebildete Gateelektrode (11) aufweisen.
einem Halbleitersubstrat (6) mit einer Hauptoberfläche,
einer Mehrzahl von in der Hauptoberfläche des Halbleitersub strates sich parallel zueinander erstreckend gebildeten Vertie fungen (5),
einem ersten MOS-Transistor-Zug (a), in dem eine Mehrzahl von in Reihe geschalteten MOS-Transistoren in einer Richtung ange ordnet ist, die die Richtung schneidet, in der sich die Vertie fungen erstrecken,
einem zweiten MOS-Transistor-Zug (b), der parallel zum ersten MOS-Transistor-Zug angeordnet ist und eine Mehrzahl von in Reihe geschalteten MOS-Transistoren enthält,
einem Trenn- und Isoliergebiet (4), das zwischen dem ersten MOS-Transistor-Zug (a) und dem zweiten MOS-Transistor-Zug (b) gebildet ist und zur Isolation und Trennung der MOS-Transisto ren des ersten MOS-Transistor-Zuges und der MOS-Transistoren des zweiten MOS-Transistor-Zuges voneinander dient,
einer mit den Sources/Drains (13; 13a, 13b) der MOS-Transi storen am einen Ende des ersten MOS-Transistor-Zuges und den Sources/Drains (13; 13a, 13b) der MOS-Transistoren an einem Ende des zweiten MOS-Transistor-Zuges verbundenen Bitleitung (2) und
einer mit dem Sources/Drains (13; 13a, 13b) der MOS-Transisto ren am anderen Ende des ersten MOS-Transistor-Zuges und den Sources/Drains (13; 13a, 13b) der MOS-Transistoren am anderen Ende des zweiten MOS-Transistor- Zuges verbundenen Sourcelei tung (1),
wobei die im ersten MOS-Transistor-Zug und im zweiten MOS-Transistor-Zug enthaltenen MOS-Transistoren (10a, 10b) ein Paar von Sources und Drains (13a, 13b), die auf dem Boden der Vertiefung (5) und auf der Hauptoberfläche des Halbleiter substrates (6) in Ausrichtung mit der Vertiefung (5) gebildet sind, und
ein in der inneren Oberfläche der Vertiefung (5) zwischen dem Paar von Source und Drain (13a, 13b) gebildetes Kanalgebiet und eine auf der inneren Oberfläche der Vertiefung mit einer Isolierschicht (12) dazwischen gebildete Gateelektrode (11) aufweisen.
2. Masken-ROM-Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß das Isolations- und Trenngebiet einer auf der Haupt
oberfläche des Halbleitersubstrates (6) und auf der Oberfläche
der Vertiefung (5) derart gebildete Oxidschicht (4) aufweist,
daß die ersten, im ersten MOS-Transistor-Zug enthaltenen
MOS-Transistoren (10a) und die zweiten, im zweiten MOS-Transistor-Zug
enthaltenen MOS-Transistoren (10b) voneinander getrennt
sind.
3. Masken-ROM-Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß ein erster MOS-Transistor (10a), der in je
weils einem der ersten und zweiten MOS-Transistor-Züge enthal
ten ist,
ein Paar von Source und Drain (13a, 13b), das auf dem Boden einer ersten Vertiefung (5) und auf der Oberfläche des Halblei tersubstrates in einer Lage zwischen der ersten Vertiefung und einer zweiten, sich parallel zur ersten Vertiefung erstrecken den Vertiefung (5) gebildet ist,
ein auf der Seitenwand der ersten Vertiefung zwischen dem Paar von Source und Drain gebildetes Kanalgebiet und
eine auf der Seitenwand der ersten Vertiefung mit einer Iso lierschicht (12) dazwischen gebildete Gateelektrode (11) auf weist und
ein zweiter MOS-Transistor (10b), der zum ersten MOS-Transistor benachbart ist,
ein Paar von Source und Drain (13a, 13b), das auf dem Boden der zweiten Vertiefung und auf der Hauptoberfläche des Halbleiter substrates in einer Lage zwischen der ersten Vertiefung und der zweiten Vertiefung gebildet ist,
ein auf der Seitenwand der zweiten Vertiefung in einer Lage zwischen dem Paar von Source und Drain gebildetes Kanalgebiet und
ein auf der Seitenwand der zweiten Vertiefung (5) mit einer Isolierschicht (12) dazwischen gebildete Gateelektrode (11) aufweist und daß
Source/Drain (13b) des ersten MOS-Transistors und Source/Drain (13b) des zweiten MOS-Transistors beide auf der Hauptoberfläche des Halbleitersubstrates mit einem miteinander gemeinsamen Ge biet gebildet sind.
ein Paar von Source und Drain (13a, 13b), das auf dem Boden einer ersten Vertiefung (5) und auf der Oberfläche des Halblei tersubstrates in einer Lage zwischen der ersten Vertiefung und einer zweiten, sich parallel zur ersten Vertiefung erstrecken den Vertiefung (5) gebildet ist,
ein auf der Seitenwand der ersten Vertiefung zwischen dem Paar von Source und Drain gebildetes Kanalgebiet und
eine auf der Seitenwand der ersten Vertiefung mit einer Iso lierschicht (12) dazwischen gebildete Gateelektrode (11) auf weist und
ein zweiter MOS-Transistor (10b), der zum ersten MOS-Transistor benachbart ist,
ein Paar von Source und Drain (13a, 13b), das auf dem Boden der zweiten Vertiefung und auf der Hauptoberfläche des Halbleiter substrates in einer Lage zwischen der ersten Vertiefung und der zweiten Vertiefung gebildet ist,
ein auf der Seitenwand der zweiten Vertiefung in einer Lage zwischen dem Paar von Source und Drain gebildetes Kanalgebiet und
ein auf der Seitenwand der zweiten Vertiefung (5) mit einer Isolierschicht (12) dazwischen gebildete Gateelektrode (11) aufweist und daß
Source/Drain (13b) des ersten MOS-Transistors und Source/Drain (13b) des zweiten MOS-Transistors beide auf der Hauptoberfläche des Halbleitersubstrates mit einem miteinander gemeinsamen Ge biet gebildet sind.
4. Masken-ROM-Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß der MOS-Transistor ein Störstellen
gebiet (14) des gleichen Leitungstyps wie Source/Drain (13a,
13b) aufweist, das im Kanalgebiet gebildet und mit dem Paar von
Source und Drain verbunden ist.
5. Verfahren zur Herstellung einer ROM-Einrichtung mit ersten
und zweiten, auf der Seitenwand einer Vertiefung gebildeten
MOS-Transistoren, mit den Schritten:
Bilden einer Vertiefung (5) in der Hauptoberfläche eines Halb leitersubstrates (6) eines ersten Leitungstyps,
Bilden einer Isolierschicht (12) auf der Hauptoberfläche des Halbleitersubstrates (6) und auf der inneren Oberfläche der Vertiefung (5),
Bilden einer leitenden Schicht (12a) auf der Oberfläche der Isolierschicht (12),
Bilden einer Gateisolierschicht (12) und einer Gateelektroden schicht (11) in Kontakt mit der Seitenwand der Vertiefung (5) durch anisotropes Ätzen der leitenden Schicht (12a) und der Isolierschicht (12) und
Implantieren von Verunreinigungsionen (25) eines zweiten Lei tungstyps in die Hauptoberfläche des Halbleitersubstrates (6) und den Boden der Vertiefung (5) unter Verwendung der Gate elektrodenschicht (11) als Maske.
Bilden einer Vertiefung (5) in der Hauptoberfläche eines Halb leitersubstrates (6) eines ersten Leitungstyps,
Bilden einer Isolierschicht (12) auf der Hauptoberfläche des Halbleitersubstrates (6) und auf der inneren Oberfläche der Vertiefung (5),
Bilden einer leitenden Schicht (12a) auf der Oberfläche der Isolierschicht (12),
Bilden einer Gateisolierschicht (12) und einer Gateelektroden schicht (11) in Kontakt mit der Seitenwand der Vertiefung (5) durch anisotropes Ätzen der leitenden Schicht (12a) und der Isolierschicht (12) und
Implantieren von Verunreinigungsionen (25) eines zweiten Lei tungstyps in die Hauptoberfläche des Halbleitersubstrates (6) und den Boden der Vertiefung (5) unter Verwendung der Gate elektrodenschicht (11) als Maske.
6. Verfahren nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch den Schritt
des Bildens eines Störstellengebietes (14) des ersten Leitungs
typs auf der Seitenwand und einem Teil des Bodens der Vertie
fung (5) durch Implantieren von Verunreinigungsionen (22) des
ersten Leitungstyps in einer relativ zur Hauptoberfläche des
Halbleitersubstrates geneigten Richtung nach dem Schritt des
Bildens der Vertiefung.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der
Ionenimplantationsschritt mittels eines Verfahrens der schrägen
Rotationionenimplantation ausgeführt wird.
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---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family Applications (1)
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DE (1) | DE4214923C2 (de) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996010266A1 (de) * | 1994-09-28 | 1996-04-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Festwert-speicherzellenanordnung und verfahren zu deren herstellung |
DE19510042A1 (de) * | 1995-03-20 | 1996-09-26 | Siemens Ag | Festwert-Speicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
WO1996033513A1 (de) * | 1995-04-21 | 1996-10-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Festwertspeicherzellenanordnung und verfahren zu deren herstellung |
EP0788165A2 (de) | 1996-02-02 | 1997-08-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Speicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
WO1997034323A1 (de) * | 1996-03-12 | 1997-09-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Speicherzellenanordnung mit vertikalen mos-transistoren und deren herstellungsverfahren |
DE19617646A1 (de) * | 1996-05-02 | 1997-11-13 | Siemens Ag | Speicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
DE19640235A1 (de) * | 1996-09-30 | 1998-04-09 | Siemens Ag | Halbleiter-Festwertspeicher und Verfahren zu seiner Herstellung |
WO1998027586A1 (de) * | 1996-12-19 | 1998-06-25 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur herstellung einer speicherzellenanordnung |
WO1999016126A1 (de) * | 1997-09-25 | 1999-04-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur herstellung einer grabenhalbleiterstruktur mit mos-transistoren |
WO1999044204A2 (de) * | 1998-02-25 | 1999-09-02 | Infineon Technologies Ag | Speicherzellenanordnung und entsprechendes herstellungsverfahren |
DE19630050B4 (de) * | 1996-07-25 | 2005-03-10 | Infineon Technologies Ag | Herstellverfahren für eine Lackmaske auf einem Substrat mit einem Graben |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2891093B2 (ja) * | 1994-02-17 | 1999-05-17 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路の製造方法 |
US5453637A (en) * | 1994-05-18 | 1995-09-26 | United Microelectronics Corp. | Read-only memory cell configuration with steep trenches |
GB2298739B (en) * | 1995-03-07 | 1999-02-17 | Hyundai Electronics Ind | Method of making a mask ROM |
DE19549486C2 (de) * | 1995-11-28 | 2001-07-05 | Siemens Ag | Festwert-Speicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
DE19545903C2 (de) * | 1995-12-08 | 1997-09-18 | Siemens Ag | Festwertspeicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
US5652162A (en) * | 1996-06-13 | 1997-07-29 | Taiwan Semiconductor Manufacturing, Company Ltd. | Method for fabricating flat ROM devices using memory array cells with concave channels |
US5751040A (en) * | 1996-09-16 | 1998-05-12 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. | Self-aligned source/drain mask ROM memory cell using trench etched channel |
KR100399291B1 (ko) * | 1997-01-27 | 2004-01-24 | 가부시키가이샤 아드반스트 디스프레이 | 반도체 박막트랜지스터, 그 제조방법, 반도체 박막트랜지스터어레이 기판 및 해당 반도체 박막트랜지스터어레이 기판을 사용한 액정표시장치 |
US5920100A (en) * | 1997-04-15 | 1999-07-06 | United Microelectronics Corp. | Multi-stage ROM structure |
DE19742397C2 (de) * | 1997-09-25 | 2000-07-06 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterstruktur mit einer Mehrzahl von Gräben |
TW513805B (en) * | 2001-12-28 | 2002-12-11 | Macronix Int Co Ltd | Vertical read only memory and the process thereof |
JP2004335918A (ja) * | 2003-05-12 | 2004-11-25 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置およびその製造方法 |
KR100729923B1 (ko) * | 2005-03-31 | 2007-06-18 | 주식회사 하이닉스반도체 | 스텝 sti 프로파일을 이용한 낸드 플래쉬 메모리 소자의트랜지스터 형성방법 |
JP5701477B2 (ja) * | 2008-09-18 | 2015-04-15 | マイクロンメモリジャパン株式会社 | 電界効果トランジスタ、メモリセル、および電界効果トランジスタの製造方法 |
KR20100098147A (ko) * | 2009-02-27 | 2010-09-06 | 삼성전자주식회사 | 한 쌍의 채널이 게이트 양 측면에서 수직으로 형성되는 트렌치형 셀 구조와, 상기 채널을 셸로우 이온주입으로 코딩하는 마스크롬 셀 제조방법 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4630237A (en) * | 1984-07-28 | 1986-12-16 | Nippon Telegraph & Telephone | Read-only memory and method of manufacturing the same |
JPH02106966A (ja) * | 1988-10-17 | 1990-04-19 | Seiko Epson Corp | 半導体記憶装置 |
JPH02106965A (ja) * | 1988-10-17 | 1990-04-19 | Seiko Epson Corp | 半導体記憶装置 |
JPH02246155A (ja) * | 1989-03-18 | 1990-10-01 | Seiko Epson Corp | 半導体装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56157056A (en) * | 1980-05-09 | 1981-12-04 | Fujitsu Ltd | Manufacture of read-only memory |
JPH0744274B2 (ja) * | 1986-12-08 | 1995-05-15 | 株式会社東芝 | 半導体装置及びその製造方法 |
-
1991
- 1991-05-31 JP JP3128066A patent/JPH04354159A/ja not_active Withdrawn
-
1992
- 1992-04-23 US US07/872,858 patent/US5300804A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-05-06 DE DE4214923A patent/DE4214923C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-05-18 KR KR1019920008328A patent/KR960011181B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4630237A (en) * | 1984-07-28 | 1986-12-16 | Nippon Telegraph & Telephone | Read-only memory and method of manufacturing the same |
JPH02106966A (ja) * | 1988-10-17 | 1990-04-19 | Seiko Epson Corp | 半導体記憶装置 |
JPH02106965A (ja) * | 1988-10-17 | 1990-04-19 | Seiko Epson Corp | 半導体記憶装置 |
JPH02246155A (ja) * | 1989-03-18 | 1990-10-01 | Seiko Epson Corp | 半導体装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
MOMODOMI, M., et al.: A 4-Mb NAND EEPROM with Tight Programmed V¶t¶ Distribution, in US-Z.: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. 26, No. 4, April 1991, S. 492-495 * |
Cited By (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5973373A (en) * | 1994-09-28 | 1999-10-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Read-only-memory cell arrangement using vertical MOS transistors and gate dielectrics of different thicknesses and method for its production |
DE4434725C1 (de) * | 1994-09-28 | 1996-05-30 | Siemens Ag | Festwert-Speicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
WO1996010266A1 (de) * | 1994-09-28 | 1996-04-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Festwert-speicherzellenanordnung und verfahren zu deren herstellung |
DE19510042A1 (de) * | 1995-03-20 | 1996-09-26 | Siemens Ag | Festwert-Speicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
WO1996033513A1 (de) * | 1995-04-21 | 1996-10-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Festwertspeicherzellenanordnung und verfahren zu deren herstellung |
US5920778A (en) * | 1995-04-21 | 1999-07-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Read-only memory cell arrangement and method for its production |
EP0788165A2 (de) | 1996-02-02 | 1997-08-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Speicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
DE19603810C1 (de) * | 1996-02-02 | 1997-08-28 | Siemens Ag | Speicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
EP0788165A3 (de) * | 1996-02-02 | 1997-12-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Speicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
US5821591A (en) * | 1996-02-02 | 1998-10-13 | Siemens Aktiengesellschaft | High density read only memory cell configuration and method for its production |
US6180458B1 (en) | 1996-02-02 | 2001-01-30 | Infineon Technologies Ag | Method of producing a memory cell configuration |
WO1997034323A1 (de) * | 1996-03-12 | 1997-09-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Speicherzellenanordnung mit vertikalen mos-transistoren und deren herstellungsverfahren |
US6180979B1 (en) | 1996-03-12 | 2001-01-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Memory cell arrangement with vertical MOS transistors and the production process thereof |
DE19609678C2 (de) * | 1996-03-12 | 2003-04-17 | Infineon Technologies Ag | Speicherzellenanordnung mit streifenförmigen, parallel verlaufenden Gräben und vertikalen MOS-Transistoren und Verfahren zu deren Herstellung |
DE19617646A1 (de) * | 1996-05-02 | 1997-11-13 | Siemens Ag | Speicherzellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung |
US6265748B1 (en) | 1996-05-02 | 2001-07-24 | Siemens Aktiengesellschaft | Storage cell arrangement in which vertical MOS transistors have at least three different threshold voltages depending on stored data, and method of producing said arrangement |
US6475866B2 (en) | 1996-05-02 | 2002-11-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for production of a memory cell arrangement |
DE19617646C2 (de) * | 1996-05-02 | 1998-07-09 | Siemens Ag | Speicherzellenanordnung und ein Verfahren zu deren Herstellung |
DE19630050B4 (de) * | 1996-07-25 | 2005-03-10 | Infineon Technologies Ag | Herstellverfahren für eine Lackmaske auf einem Substrat mit einem Graben |
DE19640235A1 (de) * | 1996-09-30 | 1998-04-09 | Siemens Ag | Halbleiter-Festwertspeicher und Verfahren zu seiner Herstellung |
US6429494B1 (en) | 1996-09-30 | 2002-08-06 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor read-only memory and method of manufacturing the same |
DE19640235C2 (de) * | 1996-09-30 | 2001-10-25 | Infineon Technologies Ag | Halbleiter-Festwertspeicher mit in Grabenseitenwänden vertikal verlaufenden Transistoren und Verfahren zu seiner Herstellung |
WO1998015001A1 (de) * | 1996-09-30 | 1998-04-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Halbleiter-festwertspeicher und verfahren zu seiner herstellung |
WO1998027586A1 (de) * | 1996-12-19 | 1998-06-25 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur herstellung einer speicherzellenanordnung |
US6153475A (en) * | 1996-12-19 | 2000-11-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for the manufacturing a memory cell configuration |
DE19742403A1 (de) * | 1997-09-25 | 1999-04-08 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterstruktur |
WO1999016126A1 (de) * | 1997-09-25 | 1999-04-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur herstellung einer grabenhalbleiterstruktur mit mos-transistoren |
US6472696B1 (en) | 1998-02-25 | 2002-10-29 | Infineon Technologies Ag | Memory cell configuration and corresponding production process |
WO1999044204A3 (de) * | 1998-02-25 | 1999-10-14 | Siemens Ag | Speicherzellenanordnung und entsprechendes herstellungsverfahren |
WO1999044204A2 (de) * | 1998-02-25 | 1999-09-02 | Infineon Technologies Ag | Speicherzellenanordnung und entsprechendes herstellungsverfahren |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4214923C2 (de) | 1994-09-01 |
KR920022510A (ko) | 1992-12-19 |
JPH04354159A (ja) | 1992-12-08 |
KR960011181B1 (ko) | 1996-08-21 |
US5300804A (en) | 1994-04-05 |
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EP1179849A2 (de) | Speicherzelle und Herstellungsverfahren | |
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