DE3880615T2 - Elektronischer CMOS-Festwertspeicher mit statischer Wirkung. - Google Patents

Elektronischer CMOS-Festwertspeicher mit statischer Wirkung.

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    • G11C17/08Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements
    • G11C17/10Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM
    • G11C17/12Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards using semiconductor devices, e.g. bipolar elements in which contents are determined during manufacturing by a predetermined arrangement of coupling elements, e.g. mask-programmable ROM using field-effect devices

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  • Read Only Memory (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft einen elektronischen Nur- Lese-Festkörperspeicher (ROM), insbesondere vom CMOS-Typ mit statischem Betrieb, das heißt ohne die Notwendigkeit eines Zeittaktes.
  • Wie es bekannt ist, sind statische Nur-Lesespeicher in CMOS- Technologie im wesentlichen aus einer gewissen Anzahl metallischer Pfade und polykristalliner Siliziumpfade gebildet, die in der Form von sich kreuzenden Zeilen und Spalten angeordnet sind, wobei die Spalten mit entsprechenden Hochziehelementen verbunden sind, die in der Praxis Transistoren sind, die stets zwischen den Spalten und einer Speisespannung leiten, und wobei die Zeilen zu einem Dekodierkreis führen, der von einer geforderten Adresse getrieben eine einzelne Zeile auf eine hohe Spannung anhebt. An jeder Kreuzung können die Zeilen und Spalten isoliert werden, oder die Spalte kann mit dem Drain eines Transistors (Niederzieh- Transistor) verbunden werden, dessen Source mit Masse verbunden ist und dessen Gate von der Zeile betrieben wird. Deshalb entspricht das Vorhandensein des Niederzieh-Transistors einer logischen "1", während sein Fehlen einer "0" entspricht.
  • Dieselbe Struktur als Nur-Lesespeicher wird bei programmierbaren, logischen Anordnungen oder PLA's gefunden, die sich von den wahren Nur-Lesespeichern durch die Tatsache unterscheiden, daß in diesem Fall alle möglichen Kombinationen des Eingangs zu dem Dekodierer nicht dekodiert werden. Zum Zwecke der Erfindung wird der Ausdruck "Nur-Leserspeicher" verwendet, um auf Nur-Lesespeicher und auf programmierbare, logische Anordnungen bzw. logische Reihen bezug zu nehmen.
  • Während des Lesens einer gegebenen Adresse eines Nur-Lesespeichers dieser Art werden die Hochzieh- und Niederzieh- Zellen aktiviert und ein statischer Strom fließt somit von der Speisespannung in Richtung zur Masse. Die Lesegeschwindigkeit ist deshalb begrenzt und der Stromverbrauch ist hoch, da jede Zelle Strom von der Speisespannung zieht.
  • Um diese Nachteile geringer Geschwindigkeit und hohen Verbrauchs von statischen Nur-Lesespeichern zu überwinden, ist es bekannt, dynamische Nur-Lesespeicher vorzusehen, in denen die Stufen Φ&sub1; und Φ&sub2; des Taktes verwendet werden, um abwechselnd die Hochzieh-Zellen und die Niederzieh-Zellen zu aktivieren, damit niemals ein statischer Strom vorliegt. Die während des ersten Schrittes gespeicherte Ladung liefert den Strom für den Betrieb der Niederzieh-Zellen an den Spalten.
  • Wenn jedoch der Speicher mit geringer Geschwindigkeit, (das heißt, wenn die Taktfrequenz niedrig ist) betrieben wird, ist es notwendig, eine verriegelung an dem Ausgang vorzusehen, um statisch den Status der Spalten während des zweiten Schrittes zu speichern, da der streustrom parasitäre Kondensatoren der Spalte entladen kann.
  • Ein dynamischer Speicher ist schneller als ein statischer Speicher und besitzt einen geringeren Verbrauch, weist aber den Nachteil auf, daß er zwei Taktstufen Φ&sub1; und Φ&sub2; benötigt, die mit der Synchronizität des Systems verbunden sind, und daß er zusätzlich eine Verriegelung an seinem Ausgang benötigt.
  • Die Zielsetzung der vorliegenden Erfindung ist deshalb, einen Nur-Lesespeicher (oder eine programmierbare logische Anordnung PLA) bereitzustellen, die den niederen Verbrauch des dynamischen speichers aufweist und weder Takte noch Ausgangsverriegelungen benötigt.
  • Dieses Ziel wird zusammen mit anderen Zielsetzungen und vorteilen, wie es aus der folgenden Beschreibung offensichtlich wird, durch die Erfindung erreicht mit einem Nur- Lesespeicher in CMOS-Technologie, umfassend eine Mehrzahl von einzeln aktivierbaren Zeilen und eine Mehrzahl von Hauptspalten, die die genannten Zeilen kreuzen und an jeder Kreuzung entsprechend einer logischen "0" mit einer Niederzieh-Zelle verbunden sind, die durch die gekreuzte Zeilenleitung gesteuert wird, wobei jede Hauptspalte über einen entsprechenden Hochzieh-Transistor zu der Speisespannung leitet, dadurch gekennzeichnete daß eine Hilfsspalte mit jeder Hauptspalte verbunden ist und auch mit der Speisespannung über einen entsprechenden Hochzieh-Transistor verbunden ist, und an jeder Kreuzung entsprechend einer logischen "1" mit einer Niederzieh-Zelle verbunden ist, die durch die überkreuzte Zeilenleitung gesteuert wird, und daß die Gates der Hochzieh-Transistoren der Hauptspalten mit den Hilfsspalten verbunden sind und die Gates der Hochzieh Transistoren der Hilfsspalten mit den Hauptspalten verbunden sind.
  • Eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung wird nun in der Form eines nicht einschränkenden Beispiels unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, in denen:
  • Fig. 1 ein Teilschaltkreisdiagramm eines CMOS-Nur- Lesespeichers vom statischen Typ gemäß dem stand der Technik ist;
  • Fig. 2 ein Teilschaltkreisdiagramm eines CMOS-Nur- Lesepeichers vom dynamischen Typ gemäß dem stand der Technik ist;
  • Fig. 3 ein Teilschaltkreisdiagramm eines CMOS-Nur- Lesespeichers vom statischen Typ gemäß der Erfindung ist.
  • In Fig. 1 kreuzen zwei Spalten C&sub1; und C&sub2; eines Nur-Lesespeichers in CMOS-Technologie vom statischen Typ eine generische Zeile Rn. Der vollständige Speicher umfaßt entsprechend viele Zeilen und Spalten, die aus Gründen der Einfachheit nicht dargestellt sind. Jede Spalte führt zu dem Drain eines entsprechenden PMOS-Transistors P&sub1; und P&sub2;, deren jeweilige Source mit der positiven Speisespannung Vcc verbunden ist und deren jeweiliges Gate mit Masse verbunden ist. Deshalb wirken P&sub1; und P&sub2;, wie es vorhergehend in der Einleitung erwähnt worden ist, als Hochzieh-Zellen, die die Spalten C&sub1; und C&sub2; hochhalten. Die Zeile Rn wird von dem Ausgang eines Dekoders DEC getrieben, der in an und für sich bekannter Weise ansteigt, wenn eine vorbestimmte Adresse an seinem Eingang angelegt wird. An der Kreuzung zwischen Rn und C&sub1; ist die Source eines NMOS-Transistors N&sub1; mit C&sub1; verbunden, seine Drain ist mit Masse verbunden und sein Gate ist mit Rn verbunden. Keine Zelle ist an der Kreuzung zwischen Rn und C&sub2; verbunden. Deshalb wird, wenn Rn aktiv ist, die Spalte C&sub1; auf Masse gezogen, wodurch eine logische "0" erzuegt wird, während die Spalte C&sub2; hoch bleibt, um eine logische "1" zu liefern. Auf diese Weise wird der gesamte Speicher programmiert.
  • Wie erwähnt wurde, nimmt diese Art Speicher einen statischen Strom Vcc mit hohem Leistungsverbrauch und geringer Betriebsgeschwindigkeit auf.
  • Fig. 2 ist ähnlich der Fig. 1, bezieht sich aber auf einen Nur-Lesespeicher vom dynamischen Typ wiederum nach dem stand der Technik. Die Transistoren P&sub1; und P&sub2; werden durch ein Signal Φ&sub1; aktiviert, das mit dem Takt des Systems verbunden ist, während die Nur-Lesezelle N&sub1; über einen weiteren NMOS- Transistor NX&sub1; mit Masse verbunden ist, der von einem Signal Φ&sub2; mit entgegengesetzter Phase in bezug auf Φ&sub1; gesteuert wird. Auf diese Weise werden, wie es erwähnt wurde, die Spalten C&sub1; und C&sub2; nur angehoben, wenn sie gegenüber Massen isoliert sind, und werden somit voraufgeladen, während das Lesen der Spalte Rn auftritt, wenn die Spalten von Vcc isoliert sind, wobei die gespeicherte Ladung verwendet wird. Deshalb gibt es keinen statischen Strom, der Leistungsverbrauch ist niedrig und die Arbeitsgeschwindigkeit ist hoch. Jedoch sind die Signale Φ&sub1; und Φ&sub2; erforderlich und es ist ferner im allgemeinen notwendig, eine verriegelung an dem Ausgang der Spalten für ein sicheres Auslesen trotz der Ableitung der Ladung aus den Spalten vorzusehen.
  • Fig. 3 ist ähnlich den Fig. 1 und 2, bezieht sich aber auf einen Nur-Lesespeicher in CMOS-Technologie gemäß der Erfindung. Diese Ausführung umfaßt auch Zeilen Rn und Spalten C&sub1; und C&sub2;, von denen jede zu einem Hochzieh-Transistor P&sub1; und P&sub2; führt. Eine zweite Hilfsspalte CX&sub1; und CX&sub2; ist auf der Seite einer jeden Spalte angeordnet und auf einer Seite mit dem Gate von P&sub1; und P&sub2; und auf der anderen Seite mit Vcc über entsprechende PMOS-Transistoren PX&sub1; und PX&sub2; verbunden, deren Gates jeweils mit C&sub1; und C&sub2; verbunden sind.
  • Die Kreuzungen zwischen der (generischen) Zeile Rn und den entsprechenden Paaren von Spalten C&sub1;-CX&sub1; und C&sub2;-CX&sub2;, das heißt den einzelnen Zellen, weisen alle entsprechende NMOS- Niederzieh-Transistoren N&sub1; und N&sub2; auf, deren Gates von der Zeile Rn getrieben wird und deren Drains mit Masse verbunden sind. Die Drains von N&sub1; und N&sub2; sind jeweils mit der Hauptspalte C&sub1; verbunden, um eine logische "0" zu erzeugen und mit der Hilfsspalte CX&sub2;, um eine logische "1" zu erzeugen.
  • Der Speicher arbeitet, wie es im folgenden erklärt wird. Wenn die Zeile Rn aktiviert wird, sind alle NMOS-Transistoren aktiviert. C&sub1; nimmt die Masse-Spannung an, wodurch der Hochzieh-Transistor PX&sub1; aktiviert und CX&sub1; auf Vcc angehoben wird. Der Transistor P&sub1; wird somit "Aus"-geschaltet, und der Ausgang der Spalte C&sub1; ist statisch niedrig, da sein Niederzieh- Transistor N&sub1; aktiviert ist.
  • Zur gleichen Zeit wird auch CX&sub2; auf die Masse-Spannung gebracht und aktiviert somit den Hochzieh-Transistor P&sub2; der Spalte C&sub2;, der PX&sub2; "Aus"-schaltet. Die Spalte C&sub2; bleibt somit statisch aufgrund von P&sub2; hoch.
  • Der Schaltkreis nimmt Strom nur während des Schaltens auf, das heißt während die Zeile von aktiv zu inaktiv oder umgekehrt übergeht, wenn die NMOS-Niederzieh-Zellen einen Pfad in Richtung zu Masse von den Hochzieh-Transistoren erzeugen, die zu diesem Zeitpunkt aktiv sind. Wenn die Haupt- und Hilfsspalten C und CX ihren Endzustand erreicht haben, gibt es weiter keinen statischen Strom, da ein einzelner PMOS- oder NMOS-Transistor für jede Spalte aktiv ist, jedoch niemals beide. Da jede Spalte entweder mit Vcc oder Masse durch einen aktiven Transistor verbunden ist, gibt es keine Schwierigkeit mit der Streuung.
  • Der Verbrauch ist nahezu null, ähnlich dem Verbrauch des dynamischen Speichers, mit dem Vorteil, daß der Takt und die Verriegelung ausgeschlossen sind. Die hinzugefügte Hilfsspalte ist eine vernachlässigbare Last verglichen mit den genannten Vorteilen.
  • Die Arbeitsgeschwindigkeit und Einfachheit der Konstruktion sind ähnlich denjenigen des statischen Speichers. Ferner hängt die Programmierung des Speichers nur von einer Metallverbindung von der Drain der Niederzieh-Zelle zu der einen oder anderen der zwei Spalten, der Haupt- und Hilfsspalte, ab. Eine erneute Programmierung ist deshalb einfacher als bei der herkömmlichen Lösung, da sie einen einfachen Metallkontakt und keinen aktiven Halbleiterbereich einschließt.
  • Eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung wurde beschrieben, aber es ist zu verstehen, daß sie gleichwertige Abwandlungen und Abänderungen für den Durchschnittsfachmann entsprechend der gegebenen Lehre aufweisen kann, ohne dadurch den Bereich des erfindungsgemäßen Grundgedankens zu verlassen.

Claims (3)

1. Nur-Lesespeicher in CMOS-Technologie, umfassend eine Mehrzahl von einzeln aktivierbaren Zeilen (Rn) und eine Mehrzahl von Hauptspalten (C&sub1;, C&sub2;), die die genannten Zeilen kreuzen und an jeder Kreuzung entsprechend einer logischen "0" mit einer Niederzieh-Zelle (N&sub1;) verbunden sind, die durch die gekreuzte Zeilenleitung gesteuert wird, wobei jede Hauptspalte über einen entsprechenden Hochzieh-Transistor (P&sub1;, P&sub2;) zu der Speisespannung leitet, dadurch gekennzeichneti daß eine Hilfsspalte (CX&sub1;, CX&sub2;) mit jeder Hauptspalte verbunden ist und auch mit der Speisespannung über einen entsprechenden Hochzieh Transistor (PX&sub1;, PX&sub2;) verbunden ist, und an jeder Kreuzung entsprechend einer logischen "1" mit einer Niederzieh-Zelle (N&sub2;) verbunden ist, die durch die überkreuzte Zeilenleitung gesteuert wird, und daß die Gates der Hochzieh-Transistoren der Hauptspalten mit den Hilfsspalten verbunden sind und die Gates der Hochzieh- Transistoren der Hilfsspalten mit den Hauptspalten verbunden sind.
2. Nur-Lesespeicher in CMOS-Technologie gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnete daß die genannte Speisespannung positiv und die genannten Hochzieh-Transistoren Transistoren vom PMOS-Typ sind.
3. Nur-Lesespeicher in CMOS-Technologie gemäß Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die genannten Niederzieh- Zellen für die Hauptspalten und für die Hilfsspalten vom NMSO-Typ sind.
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