DE3619886C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur massenspektroskopischen
Analyse eines gewissen begrenzten Bereiches auf der Oberfläche einer
Probe gemäß den Oberbegriff von Patentanspruch 1.
Aus der US 35 64 901 ist eine Einrichtung zur Gasanalyse,
insbesondere isotopischen Analyse von seltenen in Meteori
ten eingeschlossenen Gasen beschrieben, bei der eine klein
ste Materialmenge eines vorbestimmten Bereichs des Meteori
ten in einem Hochvakuum verdampft wird und die in diesem
Bereich entwickelten Gase zu ihrer Bestimmung, ihrer Iden
tität und ihrer Häufigkeit in jedem der vorbestimmten Be
reiche isotopisch analysiert werden. Die Einrichtung umfaßt
eine Vakuumkammer mit einem darin vorgesehenem Objekttisch
für die Probe. Die Kammer und/oder der Objekttisch können
dreidimensional beweglich sein. Eine Laserquelle mit einem
Objektiv ist gegenüber einem transparenten Fenster der Va
kuumkammer zur Bestrahlung der Probe angeordnet, oder es
kann das Objektiv innerhalb der Kammer vorgesehen sein.
Eine Gastrennvorrichtung ist mit der Vakuumkammer mittels
eines Ventils und eines Massenspektrometers verbunden und
mittels entsprechender Ventile mit dem Vakuumsystem gekop
pelt.
Fig. 13 zeigt schematisch den Aufbau eines herkömmlichen
Laser-Mikrosondenmassenspektrometers, der beispielsweise
in der JP-OS 66 245/1983 dargestellt ist. In Fig. 13 sind
ein Unterdruckbehälter 1, eine Probe 2, die im Unterdruck
behälter 1 angeordnet ist, ein Laserstrahl 3, der von
einer Lasereinrichtung 4 ausgegeben wird, eine Fokussie
rungslinse 5 zum Fokussieren des Laserstrahls 3 zu einem
kleinen Fleck, ein Fenster 6, beispielsweise ein Glasfen
ster zum Einführen des Laserstrahls 3 in den Unterdruckbe
hälter, Sekundärteilchen 7 wie beispielsweise Ionen und
neutrale Teilchen (Atome und Moleküle), die durch die
Bestrahlung der Oberfläche der Probe 2 durch den Laserstrahl erzeugt
werden, ein Massenspektrograph 8 zur massenspektrometri
schen Analyse der Ionen und eine die Probe langsam
bewegende oder drehende Einrichtung 9 dargestellt, die die
Probe derart bewegt, daß der zu analysierende Teil mit dem
fokussierten Laserstrahlfleck übereinstimmt.
Die Arbeitsweise eines derartigen herkömmlichen Analysa
tors wird im folgenden beschrieben.
Der von der Lasereinrichtung 4 ausgesandte Laserstrahl 3
geht durch das Fenster 6, das am Unterdruckbehälter 1
angebracht ist und wird in diesen Behälter eingeführt,
wobei der Laserstrahl als kleiner Fleck auf der Oberfläche
der Probe 2 fokussiert wird, die im Unterdruckbehälter
angeordnet ist. Durch diese fokussierte Bestrahlung mit
dem Laserstrahl 3 werden Sekundärteilchen 7 wie beispiels
weise neutrale Teilchen, wie Atome und Moleküle, Elektro
nen und Ionen, d. h. geladene Teilchen von einem sehr
kleinen Bereich auf der Oberfläche der Probe 2 emittiert.
Unter den Sekundärteilchen 7 werden die Ionen als geladene
Teilchen in den Massenspektrographen zur massenspektrome
trischen Analyse eingeführt, wodurch eine Elementaranalyse
und eine Strukturanalyse für den sehr kleinen Bereich der
Probe 2 durchgeführt werden. Da die mittlere freie
Wegstrecke der Ionen in Luft kleiner als 1 µm ist, werden
die Ionen gestreut und verlieren die Ionen ihre elek
trische Ladung durch das Auftreffen auf Gasmoleküle usw.
Um das zu vermeiden, hat die massenspektrometrische
Analyse in dieser herkömmlichen Vorrichtung zur Voraus
setzung, daß sich die Probe 2 unter einem Unterdruck
befindet.
Bei einem herkömmlichen Lasermassenspektrometer mit dem
oben beschriebenen Aufbau erfolgen die Probennahme und die
Ionisation der Probe 2 gleichzeitig über eine einzige
Bestrahlung des Laserstrahls, so daß es notwendig ist, die
Probe 2 im Unterdruckbehälter 1 anzuordnen, in dem sich
der Massenspektrograph befindet, wobei zur Steuerung der
Lage der Probe 2 im Unterdruckbehälter 1 ein spezieller
für Unterdruck geeigneter Manipulator (Goniometerstufe)
als Halteinrichtung 9 verwandt werden muß, was zu hohen
Gerätekosten führt. Darüber hinaus ist die Größe der Probe
2 durch die Größe des Unterdruckbehälters 1 beschränkt und
ist es schwierig oder sogar unmöglich, eine Flüssigkeits
probe oder eine Probe mit einem hohen Dampfdruck zu
analysieren. Es war weiterhin unmöglich, lebende Materia
lien im lebenden Zustand unter Unterdruck zu analysieren.
Weiterhin ist es zum Zeitpunkt des Austausches der Probe
notwendig, den Unterdruck aufzuheben, so daß die Zeit für
den Probenaustausch aufgrund des dann notwendigen Evaku
ierens länger wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Vorrichtung gemäß dem Ober
begriff des Patentansspruchs 1 so zu verbessern, daß sie eine Probe
analysieren kann, die sich außerhalb eines Unterdruckbehälters befindet.
Die Erfindung löst diese Aufgabe durch die im Kennzeichen des Patent
anspruch 1 enthaltenen Merkmale. Demnach wird eine Probe zur massenspektro
metrischen Analyse mit einem Laserstrahl außerhalb des
Unterdruckbehälters bestrahlt, der den Massen
spektrometer enthält. Ein gasförmiger Stoff, der von der
Probe durch diese Bestrahlung ausgegeben wird, wird über
eine am Unterdruckbehälter angebrachte Düse in diesen
eingeführt und zum Massenspektrometer vorbewegt. Während
dieses Vorganges wird er mit einem weiteren Laserstrahl
bestrahlt, so daß die neutralen Teilchen im gasförmigen
Stoff ionisiert werden.
Bei dem erfindungsgemäßen Aufbau werden die neutralen
Teilchen, die durch die Vergasung einer Probe erzeugt
werden, durch eine Einführungskammer in den Unterdruck
behälter eingeführt, wodurch es möglich wird, eine Abnahme
der Höhe des Unterdrucks im Unterdruckbehälter zu vermei
den und eine massenspektrometrische Analyse mit hoher
Genauigkeit durchzuführen.
Bei einem Ausführungsbeispiel der Erfindung kann die
Vorrichtung weiterhin mit einem Verschluß
versehen sein, der die Düse während der Bestrahlung mit
dem Laserstrahl öffnet und die Düse schließt, wenn der
Laserstrahl nicht ausgesandt wird. Durch das Schließen der
Düse während der Zeit fehlender Strahlung ergibt sich der
Vorteil, daß die Abnahme der Höhe des Unterdrucks im
Unterdruckbehälter verringert werden kann.
Bei einem weiteren Ausführungsbeispiel kann die Vorrichtung
weiterhin mit einer Einführungsdüse zum
Einführen des von der Probe abgegebenen Gases, einer
Einführungskammer zum Speichern des eingeführten Gases und
einer Ausgabedüse zum Zuführen des Gases in der Einlei
tungskammer zum Massenspektrographen versehen sein. Die
Einleitungsdüse und die Abgabedüse werden durch den
Verschluß nach Maßgabe einer Analysierungsarbeitsabfolge
jeweils geöffnet und geschlossen.
Der erste Laserstrahl kann auf die Oberfläche der Probe
von einer Lasereinrichtung geworfen werden, die außerhalb
des Unterdruckbehälters vorgesehen ist oder auf die
Probenoberfläche durch eine Düse unter Verwendung eines
geeigneten optischen Systems geworfen werden, das einen
Spiegel oder ein Prisma enthält.
Weitere Ausgestaltungen sind den Patentansprüchen zu entnehmen.
Im folgenden werden anhand der zugehörigen Zeichnung
besonders bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung
näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 in einer schematischen Schnittansicht ein
Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen
Lasermassenspektrometers,
Fig. 2 in einer Schnittansicht die dabei benutzte
Düse,
Fig. 3 in einer Schnittansicht ein weiteres Ausfüh
rungsbeispiel der Düse,
Fig. 4 in einer Seitenansicht den die Düse öffnenden
und schließenden Verschluß,
Fig. 5 eine Vorderansicht des Verschlusses von Fig.
4,
Fig. 6 in einer Schnittansicht den Teil der Vorrich
tung, an dem der erste Laserstrahl über eine
Düse auf eine Probe geworfen wird,
Fig. 7 in einer Schnittansicht ein weiteres Ausfüh
rungsbeispiel des erfindungsgemäßen Lasermas
senspektrometers,
Fig. 8 in einem Zeitdiagramm die Arbeitsweise der
Bauteile der in Fig. 7 dargestellten Vorrich
tung,
Fig. 9 in einer Schnittansicht ein weiteres Ausfüh
rungsbeispiel des erfindungsgemäßen Lasermas
senspektrometers,
Fig. 10 in einer Schnittansicht ein abgewandeltes
Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 11 in einer Schnittansicht ein weiteres abgewan
deltes Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 12a bis d die verschiedenen Stufen des Betriebes der in
Fig. 11 dargestellten Vorrichtung, und
Fig. 13 in einer Schnittansicht einen herkömmlichen
Lasermassenspektrometer.
In Fig. 1 sind ein Unterdruckbehälter 1A, eine Probe 2,
die außerhalb des Unterdruckbehälters 1A angeordnet ist,
ein Laserstrahl 3, der von einer Lasereinrichtung 4
ausgegeben wird, eine Fokussierungslinse 5a zum Fokus
sieren des Laserstrahls 3 zu einem kleinen Fleck, ein
Fenster 6 zum Einführen eines von einer zweiten Laserein
richtung 10 ausgegebenen Laserstrahls 11 in den Unter
druckbehälter 1 und eine Fokussierungslinse 5b zum
Fokussieren des Laserstrahls 11 dargestellt.
Neutrale Teilchen 7A, d. h. Atome und Moleküle, werden
dadurch erzeugt, daß der Laserstrahl 3 auf der Probe 2
fokussiert wird. Eine Düse 12 ist im Unterdruckbehälter 1A
vorgesehen, um die neutralen Teilchen 7A in diesen
Behälter einzuführen.
Ionen 7B werden dadurch erzeugt, daß der Laserstrahl 11
auf den neutralen Teilchen 7A fokussiert wird. Es sind
weiterhin ein bekannter Massenspektrometer 8 und eine
Probenhaltevorrichtung 9 vorgesehen, die die Probe 2 in
Stellung bringt. Als Probe 2 kann ein Feststoff, eine
Flüssigkeit oder irgendein anderer Stoff dienen.
Im folgenden wird die Arbeitsweise dieser Vorrichtung
beschrieben. Der Laserstrahl 3 von der
Lasereinrichtung 4 wird als kleiner Fleck mit einem
Durchmesser von 0,5 bis einigen µm auf der Oberfläche der
außerhalb des Unterdruckbehälters 1A angeordneten Probe 2
durch die Fokussierungslinse 5a fokussiert. Als Folge
dieser Bestrahlung der Probe 2 mit dem Laserstrahl werden
neutrale Teilchen 7A sowie geladene Teilchen wie Elektro
nen und Ionen 7B von der Probe ausgegeben. Da die mittlere
freie Wegstrecke der neutralen Teilchen 7A und der
geladenen Teilchen außerhalb des Unterdruckbehälters 1A
sehr klein ist, treffen diese Teilchen sofort auf
Gasmoleküle, wodurch sie gestreut werden und die geladenen
Teilchen ihre elektrischen Ladungen verlieren, was dazu
führt, daß die neutralen Teilchen 7A vorherrschen. Das
heißt, daß die Probe 2 vergast wird. Die neutralen
Teilchen 7A, d. h. die Atome und Moleküle, werden in den
Unterdruckbehälter 1A über die Düse 12 eingeführt, die im
Behälter 1A vorgesehen ist und durch die fokussierte
Bestrahlung mit dem Laserstrahl 11 von der zweiten
Lasereinrichtung 10 ionisiert. Die Ionen 7B werden einer
massenspektrometrischen Analyse im Massenspektrometer 8
im Unterdruckbehälter 1A unterworfen, wodurch eine Elemen
taranalyse und eine Strukturanalyse der Probe 2 durchge
führt werden. In dieser Weise wird durch die fokussierte
Bestrahlung der Probe 2 mit dem Laserstrahl 3 die Probe in
Atome und Moleküle zerlegt und verdampft, werden die
verdampften neutralen Teilchen in den Unterdruckbehälter
1A durch die Düse 12 eingeführt und danach durch den
Laserstrahl 11 ionisiert, wodurch es möglich ist, die
obige Analyse auszuführen, während sich die Probe 2
außerhalb und nicht innerhalb des Unterdruckbehälters 1A
befindet.
Um in diesem Fall die neutralen Teilchen 7A, die durch die
Bestrahlung mit dem Laserstrahl erzeugt werden, wirksam in
den Unterdruckbehälter 1A einzuführen, ist es notwendig,
den Raumwinkel der Bohrung der Düse 12 relativ zum
fokussierten Laserfleck zu vergrößern. Dazu gibt es (A)
ein Verfahren, bei dem der Abstand zwischen der Probe 2
und der Düse 12 klein gewählt wird und (B) ein Verfahren,
bei dem die Düsenbohrung größer gemacht wird. Bei dem
Verfahren (A) ist es im allgemeinen schwierig, eine
fokussierte Laserstrahlung zu bewirken. Um diese Schwie
rigkeit zu beseitigen, kann eine lichtdurchlässige Platte
12A aus einem für den Laserstrahl durchlässigen Material
verwandt werden, wie es in Fig. 2 dargestellt ist. Um den
Laserstrahl in Form eines kleinen Fleckes zu fokussieren,
ist es darüber hinaus notwendig, daß die Fokussierungs
linse 5a eine kleine Brennweite hat, was unvermeidlich
dazu führt, daß die Fokussierungslinse 5a in der Nähe der
Probe angeordnet werden muß. Diese Schwierigkeiten können
dann überwunden werden, wenn die Düse 12 von der in Fig. 3
dargestellten Fokussierungslinse 12B gebildet wird.
Bei dem Verfahren (B) ist andererseits die an der
Evakuierungspumpe zum Aufrechterhalten der erforderlichen
Höhe des Unterdruckes liegende Last umso größer, je größer
die Bohrung der Düse 12 ist. Wenn in diesem Zusammenhang
die Düse 12 wahlweise nach Maßgabe eines Impulssignals
synchron mit der Bestrahlung durch den Laserstrahl 3 über
eine Verschlußeinrichtung geöffnet und geschlossen wird,
die an der Düse 12 angebracht ist und die obige Analyse
nur während der Öffnung der Düse erfolgt, dann kann die
Last an der Pumpe in starkem Maße verringert werden. Fig.
4 und 5 zeigen ein Beispiel des Aufbaues der Verschlußein
richtung mit einer scheibenartigen Verschlußplatte 15, die
von einem Motor 16 angetrieben wird. Die Verschlußplatte
15 ist mit einem durchgehenden Loch 15A ausgebildet, das
öffnet und eine Verbindung zur Düse 12 auf der Seite des
Unterdruckbehälters 1 schrittweise mit der Drehung der
Verschlußplatte 15 herstellt. Die Verbindung zwischen der
Düse 12 und dem durchgehenden Loch 15A erlaubt das
Einführen der neutralen Teilchen 7A in den Unterdruckbe
hälter 1A. Ein Drehsignal wird einem Verstärker 19 von
einem Sensor 18 entnommen, der die Drehstellung der
Verschlußplatte 15 wahrnimmt, anschließend wird ein
Synchronsignal auf der Grundlage des in dieser Weise
entnommenen Signals erzeugt und es wird die Bestrahlungs
zeit für jeden Laserstrahl 3 und 11 auf das Synchronsignal
abgestimmt.
Im Gegensatz zu dem Verfahren, den Laserstrahl auf die
außerhalb des Unterdruckbehälters 1A angeordnete Probe zu
richten, wie es bei dem obigen Ausführungsbeispiel der
Fall ist, kann ein Verfahren verwandt werden, das in Fig.
6 dargestellt ist und bei dem der Laserstrahl 3 durch ein
Fenster 6A in den Unterdruckbehälter 1A eingeführt und
anschließend auf die außerhalb des Unterdruckbehälters 1A
angeordnete Probe 2 vom Inneren des Behälters über eine
Fokussierungslinse 5c und einen Reflektionsspiegel 20
geworfen wird, die im Unterdruckbehälter 1A angeordnet
sind.
Die erste Lasereinrichtung 4 und die zweite Lasereinrich
tung 10 können in Form einer einzigen Lasereinrichtung
ausgebildet sein, wobei in diesem Fall die gleiche
Funktion und die gleiche Wirkung erzielt werden können,
wie sie oben beschrieben wurden.
In Fig. 7 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel der
erfindungsgemäßen Vorrichtung dargestellt,
der eine andere Art der Verschlußeinrichtung aufweist. In
Fig. 7 sind ein Einführungsbehälter 21 zum Einführen der
neutralen Teilchen, die bei der Probenvergasung erzeugt
werden, eine Probe 2, die außerhalb des Einfüh
rungsbehälters 21 angeordnet ist, ein Laserstrahl 3, der
von einer erster Lasereinrichtung ausgegeben wird, eine
Fokussierungslinse 5a, die den Laserstrahl 3 zu einem
kleinen Fleck fokussiert, ein Fenster 6 zum Einführen
eines Laserstrahls 11 von einer zweiten Lasereinrichtung
in das Innere eines Unterdruckbehälters 24, eine Fokus
sierungslinse 5b zum Fokussieren des Laserstrahls 11,
neutrale Teilchen (Atome und Moleküle) 7A, die durch die
fokussierte Bestrahlung mit dem Laserstrahl 3 erzeugt
werden, eine Einführungsdüse 22 zum Einführen der neutra
len Teilchen 7A in den Einführungsbehälter 21, ein
Einführungsverschluß 23 zum Öffnen und Schließen der
Einführungsdüse 22, ein Unterdruckbehälter 24, eine
Ausgabedüse 25 zum Ausgeben der neutralen Teilchen 7A vom
Einführungsbehälter 21 in den Unterdruckbehälter 24, ein
Ausgabeverschluß 26, der die Ausgabedüse 25 öffnet und
schließt, Ionen (geladene Teilchen) 7B, die dadurch
erzeugt werden, daß der fokussierte Laserstrahl 11 auf die
neutralen Teilchen 7A trifft, und eine Probenhalteeinrich
tung 9 dargestellt, die die Probe 2 in Stellung bringt.
Im folgenden wird die Arbeitsweise des in Fig. dargestell
ten Ausführungsbeispiels der Erfindung beschrieben. Norma
lerweise ist der Einführungsverschluß 23 geschlossen und
ist der Ausgabeverschluß 26 geöffnet, wobei das Innere des
Unterdruckbehälters 24 auf einem hohen Unterdruck gehalten
ist. Zunächst wird der Ausgabeverschluß 26 geschlossen und
wird der Laserstrahl 3 von der ersten Lasereinrichtung 4
auf der Oberfläche der Probe 2 über die Fokussierungslinse
5a fokussiert, woraufhin der Einführungsverschluß 23
geöffnet wird. Die von der Probe 2 ausgegebenen neutralen
Teilchen 7A werden folglich über die Einführungsdüse 22 in
den Einführungsbehälter 21 eingeführt. Unmittelbar danach
wird der Einführungsverschluß 23 geschlossen. Der Ausgabe
verschluß 26 wird anschließend geöffnet, so daß die
neutralen Teilchen 7A im Einführungsbehälter 21 über die
Ausgabedüse 25 in den Unterdruckbehälter 24 eingeführt
werden können. Anschließend werden die neutralen Teilchen
7A durch die fokussierte Bestrahlung mit dem Laserstrahl
11 von der zweiten Lasereinrichtung 10 zu geladenen
Teilchen 7B ionisiert. Die geladenen Teilchen 7B werden im
Massenspektrometer 8, der im Unterdruckbehälter 24
vorgesehen ist, einer massenspektrometrischen Analyse
unterworfen, wodurch eine Elementaranalyse der Probe 2
erfolgt. Die Arbeit der ersten Lasereinrichtung 4, des
Einführungsverschlusses 23, des Ausgabeverschlusses 26 und
der zweiten Lasereinrichtung 10 ist in einem Zeitdiagramm
in Fig. 8 dargestellt.
Gewöhnlich wird ein Unterdruck von mehr als 10-4 Torr für
die massenspektrometrische Analyse von Ionen oder gelade
nen Teilchen benötigt und muß das Innere des Unterdruck
behälters 24 auf einem hohen Unterdruck gehalten werden.
In Fig. 7 wird die Höhe des Unterdrucks im Einführungsbe
hälter 21 und im Unterdruckbehälter 24 beim Öffnen des
Einführungsverschlusses 23 und des Ausgabeverschlusses 26
verringert. In diesem Fall strömt eine große Luftmenge in
den Einführungsbehälter 21, während nur das Gas im
Behälter 21 in den Unterdruckbehälter 24 strömt. Durch
eine starke Verringerung der Kapazität des Einführungsbe
hälters 21 ist es daher möglich, die Abnahme der Höhe des
Unterdrucks im Unterdruckbehälter 24 so gering wie möglich
zu halten.
Im folgenden wird ein weiteres Ausführungsbeispiel der
Erfindung beschrieben. Obwohl bei dem obigen Ausfüh
rungsbeispiel der Laserstrahl 3 von der ersten Laserein
richtung 4 schräg von der Außenseite des Einführungsbehäl
ters 21 auf die Probe 2 gerichtet wurde, kann er auch vom
Inneren des Einführungsbehälters 21 oder des Unter
druckbehälters 24 auf die Probe 2 gerichtet werden, so daß
die Probe 2 näher an der Einführungsdüse 22 angeordnet
werden kann und die neutralen Teilchen 7A wirksam in den
Einführungsbehälter 21 eingeführt werden können. In Fig.
9, die dieses Ausführungsbeispiel zeigt, sind ein Fenster
28 zum Einführen des Laserstrahls 3 in den Einführungsbe
hälter 21 und ein Laserstrahlreflektionsspiegel 27 darge
stellt, der im Einführungsbehälter 21 angeordnet ist, um
den Laserstrahl 3 zur Probe 2 zu reflektieren, wobei der
Spiegel 27 so eingestellt wird, daß der Laserstrahl auf
der Probe 2 fokussiert ist. Der Reflektionsspiegel 27 ist
in der Mitte mit einem Loch 27a ausgebildet, so daß die
neutralen Teilchen 7A, die von der Einführungsdüse 22
kommen und von der Ausgabedüse 25 ausgegeben werden
sollen, gleichmäßig durch das Innere des Behälters 21
hindurchgehen können.
In Fig. 10 ist ein abgewandeltes Ausführungsbeispiel der
Erfindung dargestellt, bei der ein Reflektionsspiegel 27
im Unterdruckbehälter 24 angeordnet ist. Ein Fenster 29
dient dazu, den Laserstrahl 3 in den Unterdruckbehälter 24
einzuführen. Bei dem in Fig. 7 dargestellten Ausführungs
beispiel sind die Einführungsdüse 22 und die Ausgabedüse
25 in einer Linie zueinander ausgerichtet, während bei dem
abgewandelten Ausführungsbeispiel beide Düsen gegeneinan
der versetzt sind, da in der Trennwand des Einführungsbe
hälters 21 ein Fenster ausgebildet ist, um den vom
Reflektionsspiegel 27 reflektierten Laserstrahl durch die
Einführungsdüse 22 auf die Probe 2 zu lenken. Bei diesem
abgewandelten Ausführungsbeispiel ist es daher nicht
notwendig, ein Loch in der Mitte des Spiegels 27
vorzusehen. Wie es sich aus einem Vergleich der Fig. 9 und
10 ergibt, steht bei dem in Fig. 10 dargestellten
Ausführungsbeispiel der Einführungsbehälter 21 nicht von
der Abschlußwand des Unterdruckbehälters 24 vor, so daß
ungeachtet der nahen Anordnung der Probe 2 relativ zur
Einführungsdüse 22 eine Zunahme der Größe der Vorrichtung
vermieden werden kann.
Im folgenden wird anhand der Fig. 11 und 12a bis 12d ein
weiteres abgewandeltes Ausführungsbeispiel der Erfindung
beschrieben. Die Fig. 12b und 12d zeigen Seitenansichten
der Fig. 12a und 12c jeweils. Dieses abgewandelte
Ausführungsbeispiel ist so aufgebaut, daß es die Vergasung
der Probe 2 und die Ionisation der neutralen Teilchen 7A
mit nur einer einzigen Lasereinrichtung bewirkt. In Fig. 11
ist eine Ausgabedüse 25 auf einer axialen Verlängerung der
Einführungsdüse 22 angeordnet und steht ein bewegliches
Prisma 30 in Berührung mit einer Öffnungsfläche der
Ausgabedüse 25, um diese zu schließen. Das bewegliche
Prisma 30 dient nicht nur dazu, den Laserstrahl 3 zu
brechen und auf der Probe 2 zu fokussieren, sondern auch
als Ausgabeverschluß 26, der bei den Ausführungsbeispielen
von Fig. 7 und 10 vorgesehen ist. Ein den Laserstrahl
reflektierender Spiegel 31 dient dazu, den Brennpunkt des
Laserstrahls 3 in der Nähe des Auslasses der Düse 25
einzustellen.
Am Anfang schließen der Einführungsverschluß 23 und das
bewegliche Prisma 30 die Einführungsdüse 22 und die
Ausgabedüse 25 jeweils, wobei jedoch in der in Fig. 12A
und 12B dargestellten Weise der Verschluß 23 auf die
Ausgabe des Laserstrahls 3 öffnet, so daß der Laserstrahl
3 durch die Linse 5a gebündelt und anschließend durch das
bewegliche Prisma 30 gebrochen und auf der Probe 2
fokussiert wird, wodurch die Bestrahlung der Probe 2 durch
den Laserstrahl erfolgt. Die sich daraus ergebenden
neutralen Teilchen werden durch die Einführungsdüse 22 in
den Einführungsbehälter 21 eingeführt, woraufhin der
Einführungsverschluß 23 geschlossen wird. Wie es in den
Fig. 12c und 12d dargestellt ist, bewegt sich anschließend
das bewegliche Prisma 30 von der Ausgabedüse 25 weg, so
daß die neutralen Teilchen im Einführungsbehälter 21 durch
die Ausgabedüse 25 in den Unterdruckbehälter 24 ausgegeben
werden können. Gleichzeitig wird wiederum der Laserstrahl
ausgesandt und zur Ionisierung in der Nähe des Auslasses
der Ausgabedüse 25 über die Linse 5a und den Spiegel 31
fokussiert. Die neutralen Teilchen 7A, die nun geladene
Teilchen 7B werden, werden zum Massenspektrometer 8
geleitet.
Obwohl bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen,
die in den Fig. 7 bis 12 dargestellt sind, das Innere des
Einführungsbehälters am Anfang auf einem hohen Unterdruck
gehalten ist, können weiterhin ein Druckregler und ein
Gasladeventil vorgesehen sein, um das Innere des Behälters
21 vorher mit einem Puffergas vorzuladen, das auch
Trägergas genannt wird. Wenn der Puffergasdruck im
Einführungsbehälter 21 annähernd gleich dem Außenluftdruck
ist, ist der Zutritt von gasförmigen Bestandteilen in der
Luft in den Einführungsbehälter 21 selbst dann nahezu
vernachlässigbar, wenn der Einführungsverschluß 23 für ein
kurzes Zeitintervall beim Einführen der neutralen Teilchen
7A geöffnet wird. Zu diesem Zeitpunkt werden die neutralen
Teilchen 7A, die durch das Bestrahlen der Probe 2 mit dem
Laserstrahl 3 erzeugt werden, wie ein Strahl von der
Oberfläche der Probe 2 ausgestoßen, so daß der Gasdruck
der neutralen Teilchen 7A größer als der Außenluftdruck
und größer als der Puffergasdruck im Einführungsbehälter
21 wird. Die neutralen Teilchen 7A können daher in den
Behälter 21 strömen und dort eingefangen werden, wobei
dort die gleiche Analyse durchgeführt wird, wie sie im
vorhergehenden beschrieben wurde. In diesem Fall kann der
Puffergasanteil als eine Hintergrundrauschquelle bei der
spektrometrischen Analyse wirken, dieses Hintergrund
rauschen kann jedoch leicht dadurch ausgeschaltet werden,
daß als Puffergas ein chemisch stabiles Argongas oder ein
Edelgas oder ein Gas gewählt wird, dessen Massenspektrum
bekannt und leicht vom Massenspektrum der Probe trennbar
ist. Dadurch, daß vorher das Innere des Einführungsbehäl
ters 21 mit dem Puffergas beladen wird, kann weiterhin das
Eindringen von Gasmolekülen aus der Luft merklich verrin
gert werden und kann dieselbe Wirkung, wie bei den obigen
Ausführungsbeispielen erzielt werden.
Wie es oben dargestellt wurde, werden gemäß der Erfindung
die Probenbildung oder Probennahme und die Ionentrennung
für die neutralen Teilchen, die durch die Bestrahlung mit
dem Laserstrahl erzeugt werden, separat innerhalb und
außerhalb des Unterdruckbehälters jeweils durchgeführt. Es
wird daher möglich, eine lasermassenspektrometrische
Analyse für irgendeine Probe durchzuführen, die außerhalb
des Unterdruckbehälters angeordnet ist. Die Verwendung
eines mit hohen Kosten verbundenen Manipulators, wie er
bei der bekannten Vorrichtung vorgesehen ist, ist nicht
mehr notwendig. Es ist lediglich erforderlich, eine Probe
aus verschiedenen Arten von Feststoffen, Flüssigkeiten,
Gasen oder anderen Stoffen und lebenden Materialien
auszuwählen und in einer bestimmten Lage in Luft anzuord
nen, wodurch eine massenspektrometrische Analyse der Ionen
dieser Stoffe leicht und unter geringeren Kosten durchge
führt werden kann.
Claims (16)
1. Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse eines
gewissen begrenzten Bereiches auf der Oberfläche einer
Probe, bestehend aus
einem Unterdruckbehälter (1A), mit einem Massenspek trometer (8);
einer Düse (12) in der Wand des Unterdruckbehälters (1A) zum Hindurchleiten der vergasten Probe durch die Wand des Unterdruckbehälters (1a) zur massenspektrome trischen Analyse durch das Massenspektrometer (8);
einer beweglichen Einrichtung (9) zum Halten der Probe (2) in einer gewünschten Lage;
einer Bestrahlungseinrichtung (4), die einen ersten Laserstrahl (3) auf einen gewünschten Bereich auf der Oberfläche der Probe (2) richtet, um dadurch einen Teil der Probe (2) in diesem Bereich zu vergasen; und einer Fokussiereinrichtung (5a) zum Fokussieren des Laserstrahls auf der Oberfläche der Probe;
dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung (9) zum Halten der Probe (2) in einer gewünschten Lage außer halb des Unterdruckbehälters (1a) angeordnet ist; und
eine zweite Bestrahlungseinrichtung (10), die einen zweiten Laserstrahl (11) auf den Strom der vergasten Probe (2) richtet, der von der Düse (12) zum Massen spektrometer (8) geht.
einem Unterdruckbehälter (1A), mit einem Massenspek trometer (8);
einer Düse (12) in der Wand des Unterdruckbehälters (1A) zum Hindurchleiten der vergasten Probe durch die Wand des Unterdruckbehälters (1a) zur massenspektrome trischen Analyse durch das Massenspektrometer (8);
einer beweglichen Einrichtung (9) zum Halten der Probe (2) in einer gewünschten Lage;
einer Bestrahlungseinrichtung (4), die einen ersten Laserstrahl (3) auf einen gewünschten Bereich auf der Oberfläche der Probe (2) richtet, um dadurch einen Teil der Probe (2) in diesem Bereich zu vergasen; und einer Fokussiereinrichtung (5a) zum Fokussieren des Laserstrahls auf der Oberfläche der Probe;
dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung (9) zum Halten der Probe (2) in einer gewünschten Lage außer halb des Unterdruckbehälters (1a) angeordnet ist; und
eine zweite Bestrahlungseinrichtung (10), die einen zweiten Laserstrahl (11) auf den Strom der vergasten Probe (2) richtet, der von der Düse (12) zum Massen spektrometer (8) geht.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß eine zweite Fokussierungseinrichtung (5b) den
zweiten Laserstrahl (11) auf dem Strom der vergasten
Probe (2) im Unterdruckbehälter (1A) fokussiert.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Laserstrahl (3) von der ersten Bestrahlungs
einrichtung (4) vom Unterdruckbehälter (1A) auf die
Oberfläche der Probe (2) durch die Düse (12) hindurch
gerichtet ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Düse (12) ein Loch umfaßt, das in einer Platte
(12A) vorgesehen ist, die aus einem Material besteht,
das den ersten Laserstrahl (3) hindurchläßt.
5. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Düse (12) ein Loch umfaßt, das in der Mitte
einer Fokussierungslinse (12B) vorgesehen ist, die aus
einem Material besteht, das den ersten Laserstrahl (3)
hindurchläßt.
6. Vorrichtung nach Anspruch 3, bei welcher die Bestrah
lungseinrichtung für den ersten Laserstrahl außerhalb
des Unterdruckbehälters angeordnet ist, dadurch ge
kennzeichnet, daß zum Umlenken des ersten Laserstrahls
(3) auf die Probe (2) im Unterdruckbehälter (1A), des
sen Düse gegenüberliegend ein Reflexionsspiegel ange
ordnet ist, durch dessen Loch die vergaste Probe (2)
zum Massenspektrometer (8) geleitet wird.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, mit ei
ner Verschlußvorrichtung für den Unterdruckbehälter,
dadurch gekennzeichnet, daß die Verschlußeinrichtung
die Düse (12) nur während der Bestrahlung durch den
ersten und zweiten Laserstrahl (3, 11) öffnet.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die Verschlußeinrichtung eine Drehscheibe (15) mit
einem durchgehenden Loch (16) aufweist, das zur Düse
(12) koaxial ausgerichtet ist, wenn sich die Scheibe
(15) zur Bildung des Durchgangs für die vergaste Probe
(2) in einer bestimmten gegebenen Winkelstellung be
findet.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch
einen Sensor (18) für die Drehstellung der Drehscheibe
(15), deren Drehstellung mit der Bestrahlung durch den
ersten und zweiten Laserstrahl (3, 11) nach Maßgabe
eines Ausgangssignals vom Sensor (18) synchron
gesteuert wird.
10. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß zwischen der Probe (2) und dem Un
terdruckbehälter (24) eine Einführungskammer (21) an
geordnet ist, deren Einführdüse (22) an der der Probe
(2) gegenüberliegenden Seite angeordnet und durch ihre
Ausgangsdüse (25) mit dem Innern des Unterdruckbehäl
ters (24) verbunden ist, wobei eine erste
Laserstrahlbestrahlungsvorrichtung in der Einführkam
mer (21) aus einem Spiegel (27) zur Aufnahme des er
sten Laserstrahls (3) von außen und zum Richten des
selben auf die Probe (2) angeordnet ist (Fig. 9).
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
daß die Einführdüse (22) und die Ausgangsdüse (25) der
Einführkammer (21) koaxial zueinander angeordnet sind
und der Spiegel (27) zwischen der Einführdüse (22) und
der Ausgangsdüse (25) mit einem Loch (27a) zum Durch
lassen des Gasstroms von der Einführdüse (22) zur
Ausgangsdüse (25) versehen ist.
12. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß im Unterdruckbehälter (24) eine Ein
führkammer (21) angeordnet ist, die an die Einführdüse
(22) in der Trennwand des Unterdruckbehälters
angeschlossen und mit einer Ausgangsdüse (25)
vergesehen ist (Fig. 7).
13. Vorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Fenster (28) in einer Trennwand der Einführ
kammer (21) zum Richten des ersten Laserstrahls (3)
durch die Einführkammer (21) und deren Ausgangsdüse
(25) auf die Probe (2) vorgesehen ist, wobei die Aus
gangsdüse (25) gegenüber der Achse der Einführdüse
(22) versetzt ist (Fig. 10).
14. Vorrichtung nach den Ansprüchen 10 bis 13, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Einführdüse (22) und die Aus
gangsdüse (25) der Einführkammer (21) jeweils mit ei
nem beweglichen Verschluß (23, 26) versehen sind.
15. Vorrichtung nach den Ansprüchen 12 oder 14, dadurch
gekennzeichnet, daß der bewegliche Verschluß für die
Ausgangsdüse (25) der Einführkammer (21) aus einem
Prisma (30) besteht, das in seiner Schließstellung den
Laserstrahl (3) durch die Ausgangsdüse (25), die
Einführkammer (21) und die Einführdüse (22) auf die
Probe (2) richtet, und daß ein Spiegel (31) für die
Reflexion des von außen kommenden Laserstrahls (3) auf
den von der Ausgangsdüse (25) zum Massenspektrometer
(8) gehenden Gasstrom reflektiert, wenn das Prisma
(30) die Ausgangsdüse (25) geöffnet hat.
16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 und 12 bis 15,
dadurch gekennzeichnet, daß ein Fenster (29) in der
Wandung des Unterdruckbehälters (24) für den Durchlaß
des ersten Laserstrahls (3) von der äußeren Laser
vorrichtung (4) durch die Einführkammer (21) zur Probe
(2) vorgesehen ist.
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Families Citing this family (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5118937A (en) * | 1989-08-22 | 1992-06-02 | Finnigan Mat Gmbh | Process and device for the laser desorption of an analyte molecular ions, especially of biomolecules |
DE4108462C2 (de) * | 1991-03-13 | 1994-10-13 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen von Ionen aus thermisch instabilen, nichtflüchtigen großen Molekülen |
US5300774A (en) * | 1991-04-25 | 1994-04-05 | Applied Biosystems, Inc. | Time-of-flight mass spectrometer with an aperture enabling tradeoff of transmission efficiency and resolution |
DE4200497A1 (de) * | 1992-01-10 | 1993-07-15 | Bayer Ag | Verfahren und vorrichtung zur schnellen identifizierung von kunststoffen mit hilfe der massenspektrometrie |
DE4232509A1 (de) * | 1992-09-29 | 1994-03-31 | Holstein & Kappert Maschf | Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern |
JP2600096B2 (ja) * | 1992-10-06 | 1997-04-16 | 名古屋大学長 | 表面微量欠陥の定量方法 |
US5605798A (en) | 1993-01-07 | 1997-02-25 | Sequenom, Inc. | DNA diagnostic based on mass spectrometry |
GB9324213D0 (en) * | 1993-11-25 | 1994-01-12 | Kore Tech Ltd | Vacuum inlet |
USRE39353E1 (en) * | 1994-07-21 | 2006-10-17 | Applera Corporation | Mass spectrometer system and method for matrix-assisted laser desorption measurements |
US5498545A (en) * | 1994-07-21 | 1996-03-12 | Vestal; Marvin L. | Mass spectrometer system and method for matrix-assisted laser desorption measurements |
US6002127A (en) | 1995-05-19 | 1999-12-14 | Perseptive Biosystems, Inc. | Time-of-flight mass spectrometry analysis of biomolecules |
US5625184A (en) * | 1995-05-19 | 1997-04-29 | Perseptive Biosystems, Inc. | Time-of-flight mass spectrometry analysis of biomolecules |
US5567935A (en) * | 1995-06-02 | 1996-10-22 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Velocity selected laser ablation metal atom source |
DE19633441C1 (de) * | 1996-08-20 | 1998-02-26 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung für die genaue Massenbestimmung in einem Flugzeitmassenspektrometer |
DE19637480C2 (de) * | 1996-09-13 | 2001-02-08 | Thorald Bergmann | Vorrichtung zur massenspektrometrischen Analyse von Oberflächen |
US5777324A (en) | 1996-09-19 | 1998-07-07 | Sequenom, Inc. | Method and apparatus for maldi analysis |
DE19782095T1 (de) * | 1996-11-06 | 2000-03-23 | Sequenom Inc | DNA-Diagnose auf der Basis von Massenspektrometrie |
DK0937096T3 (da) | 1996-11-06 | 2004-06-14 | Sequenom Inc | Fremgangsmåde til massespektrometri-analyse |
US7285422B1 (en) * | 1997-01-23 | 2007-10-23 | Sequenom, Inc. | Systems and methods for preparing and analyzing low volume analyte array elements |
US6849847B1 (en) | 1998-06-12 | 2005-02-01 | Agilent Technologies, Inc. | Ambient pressure matrix-assisted laser desorption ionization (MALDI) apparatus and method of analysis |
GB2340598A (en) * | 1998-08-07 | 2000-02-23 | British Steel Plc | Determining composition of galvanised metal coating |
CA2409166A1 (en) * | 2000-05-31 | 2001-12-06 | Wayne A. Bryden | Pulsed laser sampling for mass spectrometer system |
AU2001268468A1 (en) * | 2000-06-13 | 2001-12-24 | The Trustees Of Boston University | Use of nucleotide analogs in the analysis of oligonucleotide mixtures and in highly multiplexed nucleic acid sequencing |
JP4015946B2 (ja) | 2000-10-30 | 2007-11-28 | シークエノム・インコーポレーテツド | 基板上にサブマイクロリットルの体積を供給する方法及び装置 |
NL1016887C2 (nl) * | 2000-12-15 | 2002-06-18 | Tno | Werkwijze en inrichting voor het detecteren en identificeren van bio-aÙrosoldeeltjes in de lucht. |
DE10112386B4 (de) * | 2001-03-15 | 2007-08-02 | Bruker Daltonik Gmbh | Flugzeitmassenspektrometer mit Multiplex-Betrieb |
US6683300B2 (en) * | 2001-09-17 | 2004-01-27 | Science & Engineering Services, Inc. | Method and apparatus for mass spectrometry analysis of common analyte solutions |
US6680477B2 (en) * | 2002-05-31 | 2004-01-20 | Battelle Memorial Institute | High spatial resolution matrix assisted laser desorption/ionization (MALDI) |
US6683277B1 (en) * | 2002-12-20 | 2004-01-27 | Osram Opto Semiconductors | Laser ablation nozzle assembly |
US6639217B1 (en) * | 2002-12-20 | 2003-10-28 | Agilent Technologies, Inc. | In-line matrix assisted laser desorption/ionization mass spectrometry (MALDI-MS) systems and methods of use |
WO2005060696A2 (en) * | 2003-12-18 | 2005-07-07 | Sionex Corporation | Methods and apparatus for enhanced ion based sample detection using selective pre-separation and amplification |
CA2480549A1 (fr) | 2004-09-15 | 2006-03-15 | Phytronix Technologies Inc. | Source d'ionisation pour spectrometre de masse |
US20090180931A1 (en) | 2007-09-17 | 2009-07-16 | Sequenom, Inc. | Integrated robotic sample transfer device |
CN101750265B (zh) * | 2008-12-17 | 2012-02-01 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种实时测量纳米粒子组成元素比值的飞行时间质谱仪 |
GB201109383D0 (en) * | 2011-06-03 | 2011-07-20 | Micromass Ltd | Aperture gas flow restriction |
CN105190829B (zh) | 2013-04-17 | 2018-04-03 | 富鲁达加拿大公司 | 用于质谱流式细胞术的样品分析 |
US10734213B2 (en) * | 2013-07-31 | 2020-08-04 | Smiths Detection Inc. | Intermittent mass spectrometer inlet |
DE102016113771B4 (de) * | 2016-07-26 | 2019-11-07 | Bundesrepublik Deutschland, Vertreten Durch Den Bundesminister Für Wirtschaft Und Energie, Dieser Vertreten Durch Den Präsidenten Der Bundesanstalt Für Materialforschung Und -Prüfung (Bam) | Analysevorrichtung für gasförmige Proben und Verfahren zum Nachweis von Analyten in einem Gas |
GB2556074A (en) | 2016-11-17 | 2018-05-23 | Micromass Ltd | Axial atmospheric pressure photo-ionization imaging source and inlet device |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB960237A (en) * | 1961-09-04 | 1964-06-10 | Ass Elect Ind | Improvements relating to mass spectrometer ion sources |
FR1580234A (de) * | 1968-05-15 | 1969-09-05 | ||
US3564901A (en) * | 1968-09-25 | 1971-02-23 | George H Megrue | System and technique for gas analysis |
DE2837715A1 (de) * | 1978-08-30 | 1980-03-13 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Verfahren zur analyse organischer substanzen |
DE2842527C3 (de) * | 1978-09-29 | 1981-12-17 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., 3400 Göttingen | Elektrostatische Emissionslinse |
FR2454635A1 (fr) * | 1979-04-18 | 1980-11-14 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de reglage de l'impact sur une cible d'un faisceau de lumiere monochromatique emis par une source laser |
DE3125335A1 (de) * | 1981-06-27 | 1983-01-13 | Alfred Prof. Dr. 4400 Münster Benninghoven | Verfahren zur analyse von gasen und fluessigkeiten |
DE3137568A1 (de) | 1981-09-22 | 1983-05-11 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Verfahren zur analyse von festkoerpern, vorzugsweise metallen |
US4633084A (en) * | 1985-01-16 | 1986-12-30 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | High efficiency direct detection of ions from resonance ionization of sputtered atoms |
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GB2177507A (en) | 1987-01-21 |
GB2177507B (en) | 1989-02-15 |
US4740692A (en) | 1988-04-26 |
GB8614362D0 (en) | 1986-07-16 |
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