DE2844002C2 - - Google Patents

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DE2844002C2
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DE2844002A
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DE2844002A1 (de
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Gerhard Dr. 8031 Eichenau De Renner
Rainer Dr. 5000 Koeln De Wechsung
Eberhard Dr. 8000 Muenchen De Unsoeld
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GESELLSCHAFT FUER STRAHLEN- UND UMWELTFORSCHUNG MB
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GESELLSCHAFT fur STRAHLEN- und UMWELTFORSCHUNG MBH (GSF) 8000 MUENCHEN DE
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/718Laser microanalysis, i.e. with formation of sample plasma

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  • Pathology (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren der im Oberbegriff des Anspruches genannten Art. Unter dem Be­ griff "Fluide" sollen Gase, Flüssigkeiten oder Mischungen davon verstanden werden.
Zur Analyse von Gasen oder Flüssigkeiten sind eine Viel­ zahl von Verfahren bekannt. Alle diese Verfahren haben jedoch eine begrenzte Empfindlichkeit. Der zur Steigerung der Empfindlichkeit notwendige Aufwand steigt - wie bei vielen Meßverfahren - mit der Empfindlichkeit sehr stark an.
Eine Möglichkeit, Gase zu analysieren, besteht darin, die Gase in einer Elektronenstoßionenquelle zu ionisieren und dann mit Hilfe eines Massenspektrometers, z. B. eines Quadrupol-Massenspektrometers, zu analysieren. Bei diesem Verfahren läßt es sich nicht vermeiden, daß zu unter­ suchende Gase mit den Bauelementen der Ionenquelle in Be­ rührung kommen und sich dort niederschlagen. Das hat nicht nur Nachteile hinsichtlich der Korrosion der Bau­ teile, sondern insbesondere auch in bezug auf Verunrei­ nigungseffekte, die spätere Messungen verfälschen.
Ein Verfahren mit zugehöriger Vorrichtung der vorausge­ setzten Art ist bekannt aus Microscopica Acta, Bd. 73, Heft 1, Seite 2 ff, Seite 7, Seite 8, Seite 11, Seite 13. Bei diesem erfolgt die Analyse einer festen Probe in der Weise, daß sie mit einem Laserlichtimpuls ange­ regt und ionisiert wird. Die dadurch entstandenen Ionen oder Quanten werden dann analysiert. Nachteilig an diesem zwar hochempfindlichen Lasermikroanalysenverfahren ist, daß die Probe in fester Form vorliegen muß. Für die Analyse von Fluiden ist dieses Verfahren deshalb nicht geeignet.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Analyse von Fluiden anzugeben, mit welchem auch Fluide der laserinduzierten Analyse ohne die im Zusammenhang mit der Elektronenstoßionenquelle geschilderten Ver­ unreinigungen zugeführt werden können.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kenn­ zeichnenden Teil des Anspruches aufgeführten Merk­ male gelöst.
Durch Anwendung der Erfindung wird eine extrem hohe Empfindlichkeit erreicht.
Auch die zusätzliche Anwendung der Lichtspektroskopie für die beim Beschuß des Fluidstromes mit Laserlicht entstehenden Quanten ist zweckmäßig. Dazu kann z. B. ein optisches Spektrometer zusätzlich zum Flugzeitmassen­ spektrometer etwa senkrecht zum Laserlicht und etwa senkrecht zum Fluidstrom angeordnet sein.
Nunmehr soll die Erfindung anhand von in den Fig. 1 und 2 schematisch dargestellten Ausführungsbeispielen erläutert werden.
Die Figuren zeigen einen Teil einer Vakuumkammer 1, die einen im wesentlichen rohrförmigen Abschnitt 2 und einen Deckelflansch 3 zum Verschluß der stirnseitigen Öffnung umfaßt. Im Deckelflansch 3 ist ein für Laserlicht transparentes Deckglas 4 vakuumdicht eingelassen. Diesem Deckglas 4 liegt ein Linsensystem 5 von außen auf, mit dessen Hilfe das Laserlicht 6 (gestrichelt dargestellt) innerhalb der Vakuumkammer im Brennpunkt 7 gebündelt wird. Auf die Darstellung der Einrichtung zur Erzeugung der Laserstrahlen wurde verzichtet. Innerhalb der Vakuum­ kammer 1 ist ein Flugzeitrohr 8 eines Flugzeitmassen­ spektrometers angeordnet und zwar derart, daß das Laser­ licht und der dargestellte Abschnitt des Flugzeitrohres 8 eine gemeinsame Achse 9 haben. Zweckmäßig kann dem Flugzeitrohr 8 noch eine Ionenoptik vorgelagert sein, die aber aus Übersichtlichkeitsgründen nicht dargestellt ist.
Beim Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 ist dem düsenförmigen Ende 11 des Zuleitungsrohres 10, das hier durch eine Seitenwand hindurchgeführt ist, die Mündung 12 eines Absaugrohres 13 zugeordnet. Die An­ ordnung ist so gewählt, daß zwischen der Düse 11 und der Mündung 12 der Brennpunkt 7 der Laserstrahlen liegt. Bei dieser Ausführungsform kann ein relativ starker, z. B. wieder gepulster Fluidstrom gewählt werden, ohne daß eine Verschlechterung des Vakuums eintritt, da der Fluidstrom durch das Absaugrohr 13 direkt wieder aus der Vakuumkammer 1 entfernt wird. Die Rohre 10 und 13 sind so angeordnet, daß der zu untersuchende Fluidstrom etwa senkrecht zur Achse 9 des Systems gerichtet ist.
Die Fig. 2 zeigt einen Schnitt durch ein Ausführungs­ beispiel nach der Erfindung, jedoch senkrecht zum Fluid­ strom. Zusätzlich zum Flugzeitrohr 8 für die Massen­ spektroskopie ist schematisch ein optisches System 15 für die Lichtspektroskopie vorgesehen. Das Licht kann - wie dargestellt - durch ein Fenster 16 aus der Vakuumkammer herausgeführt werden und dann einer be­ kannten, nicht dargestellten Registrier- und Meßein­ richtung, z. B. einem Monochromator oder Spiegel-Konden­ sor-System zugeführt werden.

Claims (1)

  1. Verfahren zur Analyse von Fluiden, bei dem in einer Vakuumkammer (1) Laserlicht (6) auf eine Probe im Brennpunkt (7) eines Linsensystems (5) fokussiert wird, wobei Teile der Probe ionisiert werden und der Massenanalyse unter Verwendung eines Flugzeitmassenspektrometers unter­ worfen werden, dadurch gekennzeichnet, daß eine Vakuumkammer (1) verwendet wird, in die ein Zuleitungsrohr (10) eingeführt ist, aus dessem fokusnahen, düsenförmigen Ende (11) der als Probe dienende Fluidstrom in einer solchen Menge in den Brennpunkt (7) des Linsensystems (5) eingeblasen wird, daß keine wesentliche Ver­ schlechterung des Vakuums in der Vakuumkammer eintritt, wobei dem Zuleitungsrohr (10) die Mündung (12) eines Absaugrohres (13) zugeordnet ist und der Brennpunkt (7) zwischen Ende (11) und Mün­ dung (12) liegt, und wobei der Fluidstrom in etwa senkrecht zur ge­ meinsamen Achse (9) des Laserlichts und des Flug­ zeitrohres (8) eingeblasen wird und daß sowohl das Laserlicht (9) als auch der Fluidstrom etwa im gleichen Rhythmus gepulst wird.
DE19782844002 1978-10-09 1978-10-09 Verfahren und vorrichtung zur analyse von fluiden Granted DE2844002A1 (de)

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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4442354A (en) * 1982-01-22 1984-04-10 Atom Sciences, Inc. Sputter initiated resonance ionization spectrometry
DE3517667A1 (de) * 1985-05-15 1986-11-20 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., 3400 Göttingen Laser-massenspektrometer
DE3539263A1 (de) * 1985-11-06 1987-05-14 Hoelter Heinz Verfahren zur feststellung der grenzbereiche zwischen kohle und gestein bei walzenschraemmladern und vortriebsmaschinen zur automatischen steuerung derselben
US4894511A (en) * 1986-08-26 1990-01-16 Physical Sciences, Inc. Source of high flux energetic atoms
US4780608A (en) * 1987-08-24 1988-10-25 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Laser sustained discharge nozzle apparatus for the production of an intense beam of high kinetic energy atomic species
US4855594A (en) * 1988-03-02 1989-08-08 Air Products And Chemicals, Inc. Apparatus and process for improved detection limits in mass spectrometry
DE3842044A1 (de) * 1988-12-14 1990-06-21 Forschungszentrum Juelich Gmbh Flugzeit(massen)spektrometer mit hoher aufloesung und transmission
DE3921845C2 (de) * 1989-07-03 1996-09-12 Olaf Dr Adam Verfahren zur quantitativen Messung dünnschicht-chromatographisch getrennter Proben
US5019705A (en) * 1990-01-03 1991-05-28 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy High brilliance negative ion and neutral beam source
JP2568006B2 (ja) * 1990-08-23 1996-12-25 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション イオン化空気により対象物から電荷を放電させる方法及びそのための装置
DE4232509A1 (de) * 1992-09-29 1994-03-31 Holstein & Kappert Maschf Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern
DE4441972C2 (de) * 1994-11-25 1996-12-05 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis von Probenmolekülen in einem Trägergas
US5808299A (en) * 1996-04-01 1998-09-15 Syagen Technology Real-time multispecies monitoring by photoionization mass spectrometry
GB9616841D0 (en) * 1996-08-10 1996-09-25 Aea Technology Plc The detection of volatile substances
US6211516B1 (en) 1999-02-09 2001-04-03 Syagen Technology Photoionization mass spectrometer
US7109476B2 (en) 1999-02-09 2006-09-19 Syagen Technology Multiple ion sources involving atmospheric pressure photoionization
US6630664B1 (en) 1999-02-09 2003-10-07 Syagen Technology Atmospheric pressure photoionizer for mass spectrometry
US7119342B2 (en) * 1999-02-09 2006-10-10 Syagen Technology Interfaces for a photoionization mass spectrometer
US6326615B1 (en) 1999-08-30 2001-12-04 Syagen Technology Rapid response mass spectrometer system
US6737642B2 (en) 2002-03-18 2004-05-18 Syagen Technology High dynamic range analog-to-digital converter

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3626181A (en) * 1969-02-11 1971-12-07 Franklin Gno Corp Gas detecting apparatus with means to record detection signals in superposition for improved signal-to-noise ratios
US3914655A (en) * 1973-06-28 1975-10-21 Ibm High brightness ion source
DE2458563A1 (de) * 1974-12-11 1976-06-16 Uranit Gmbh Verfahren zur isotopentrennung mittels laser
US4140905A (en) * 1977-05-02 1979-02-20 The Governing Council Of The University Of Toronto Laser-induced mass spectrometry
DE2739828C2 (de) * 1977-09-03 1986-07-03 Gesellschaft für Strahlen- und Umweltforschung mbH, 8000 München Einrichtung zur Analyse von Proben
DE2837715A1 (de) * 1978-08-30 1980-03-13 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Verfahren zur analyse organischer substanzen

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US4365157A (en) 1982-12-21
DE2844002A1 (de) 1980-05-14

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