DE3614421A1 - Halbleiterverstaerkungssignalgeneratorschaltung - Google Patents
HalbleiterverstaerkungssignalgeneratorschaltungInfo
- Publication number
- DE3614421A1 DE3614421A1 DE19863614421 DE3614421A DE3614421A1 DE 3614421 A1 DE3614421 A1 DE 3614421A1 DE 19863614421 DE19863614421 DE 19863614421 DE 3614421 A DE3614421 A DE 3614421A DE 3614421 A1 DE3614421 A1 DE 3614421A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- mos transistor
- potential
- gate
- bootstrap
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/017—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
- H03K19/01707—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
- H03K19/01714—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by bootstrapping, i.e. by positive feed-back
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Dram (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
Description
36HA21
Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha, Tokyo," Japan
HaLbLeiterverstärkungssignaLgeneratorschaLtung
Die Erfindung betrifft eine ha Lb Leiterintegrierte
SchaLtung und insbesondere eine
VerstärkungssignaLgeneratorschaLtung einer integrierten
SchaLtung der MOS-Art.
Fig. 1 zeigt ein SchaLtbiLd einer herkömmLichen
VerstärkungssignaLgeneratorschaLtung dieser Bauart, in der
die Bezugszeichen 1 und 2 jeweiLs einen
Be Lastungskondensator angeben, dessen Wert C... ist und
einen Verstärkungskondensator, dessen Wert Cp beträgt.
Das SymboL rf. gibt ein SignaL, das verstärkt werden soLL, an und das SymboL β' gibt ein Ve rstärkungssi gna L
an. Fig. 2 zeigt We L lenf ormen der jeweiLigen SignaLe rf^
und p>' , wenn die SchaLtung der Fig. 1 in Betrieb ist.
Wenn die SchaLtung in Betrieb ist, dann beginnt das verstärkte SignaL rf. den Be Lastungskondensator 1 und den
Verstärkungskondensator 2 zu einem Zeitpunkt t,. zu
Laden. Zu einem Zeitpunkt t? erreicht das PotentiaL des
SignaLes p' einen Wert, der der Ursprungsspannung V oder
einem Wert entspricht, der etwas niedriger aLs die Ursprungsspannung V ist. Das VerstärkungssignaL rf^
beginnt zu einem Zeitpunkt t^ anzusteigen und das SignaL
tf. beginnt während des Zeitabschnittes t? bis t,
infoLge der Wirkungen des VerstärkungssignaLs /L und des
Verstärkungskondensators 2 auf einen Wert anzusteigen, der
höher ist aLs die Ursprungsspannung V. Die maximaLe verstärkte Spannung des SignaLs rf. entspricht der
6 Lei chung q
(i ♦ >"·
36U421
Zur Erreichung einer höher verstärkten Spannung sollte die
Kapazität C2 vergrößert werden. Wird die Kapazität C2
vergrößert, dann wird eine größere Energie zum Aufladen des Kondensators verbraucht und die Zeitspanne t, bis
t2 wi rd ver längert.
Das oben Gesagte wird ausführlicher in bezug auf die Fig.
3 .beschrieben, die eine
Verstarkungssign algeneratorschaltung zeigt, die das
verstärkte Signal o. an die Wortleitung 5 der Halbleiterspeichervorrichtung, beispielsweise einer DRAM,
liefert. Ein MOS-Transistor 3, der zwischen der Spannungsquelle V und einem Ende eines
Verstärkungskondensators 2 angeschlossen ist, befindet sich vor einem Zeitpunkt t,. in einem ni cht-kondukt i ven
Zustand und wird durch ein Signal angeschaltet, das an
sein Gate nach der Zeit t.. geleitet wird. Ein
MOS-Transistor 4, der zwischen der Spannungsquelle V und
dem anderen Ende des Kondensators 2 angeschlossen ist, befindet sich zu einem Zeitpunkt t^ in einem nicht
konduktiven Zustand und wird durch ein Signal angeschaltet, das an sein Gate nach der Zeit t_
ge liefert wi rd.
In dieser Schaltung kann die Ladezeit T, die für das verstärkt« Signal p/. benötigt wird, um den maximalen
Wert der Gleichung ^o
{1 + f-c—)v'
nämlich die Zeit von t., bis t, zu erreichen, durch die
Gleichung ausgedrückt werden:
τ =
wobei T1 = t_ - t1 und T_ = t, - t_ ist.
_7_ 36H421
Da nur der MOS-Transistor 3 sich in einem konduktiven
Zustand vor der Zeit t2 befindet, ist
T1 = P1(C1 + C2),
wobei r,. der äquivalente Widerstand des MOS-Transistors
3 im konduktiven Zustand ist.
Da der MOS-Transistor 4 zur Zeit t2 angeschaltet wird,
beträgt T = r Cl " C2
2 C1 + C2
uobei r2 der äquivalente Widerstand des MOS-Transistors
4 im konduktiven Zustand ist.
Wenn die Widerstände r.. und r->
im wesentlichen den gleichen Wert haben und die Kapazität C2 des
Verstärkungskondensators 2 mit der Kapazität C- des
Belastungskondensators 1 übereinstimmt (die die
Streukapazität der Wortleitung 5 sein kann), dann beträgt
T1 ^
T 2 |
wobei t.. = r^ . C1 ist.
In einer typischen Anwendung, wenn die Wortleitung verstärkt wird, beträgt t.. ungefähr 10 bis 20 ns,
dadurch beträgt die erforderliche Ladezeit ungefähr 25 bis 50 ns.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin,
eine VerstärkungssignaLgeneratorschaLtung vorzusehen, die
ein verstärktes SignaL innerhalb einer verkürzten Zeitspanne mit einem niedrigen Energieverbrauch erzeugen
kann.
Halbleiterverstärkungssignal-Generatorschaltung enthält
folgende Bauteile: Eine Verstärkungsschaltung, enthaltend
erste und zweite MOS-Transistoren, einen Kondensator und
eine Ladevorrichtung, eine dynamische Inverterschaltung,
enthaltend dritte und vierte MOS-Transistoren, eine Verstärkungsspannungsgeneratorschaltung, und einen fünften
MOS-Transistor, der eine Quelle hat, die als eine Verstärkungssignalquelle dient.
Entsprechend der vorliegenden Erfindung wird der fünfte
MOS-Transistor durch einen Ladestrom angeschaltet, der von
der Ladevorrichtung zugeführt wird, um sein
Quellenpotential anzuheben. Zum gleichen Zeitpunkt wird
die dynamische Inverterschaltung betätigt, um dadurch eine Bootstrapschaltung zu betätigen, wodurch seine
Ausgangsspannung angehoben wird, durch welche der "ON"-Widerstand des fünften MOS-Transistors verringert
wird. Daraus ergibt sich ein verstärktes Signal, dessen
Potential ungefähr der Ausgangsspannung der Verstärkungspot entialgeneratorschaltung entspricht.
Kurze Beschreibung der Figuren
Es zeigen:
Fig. 2 die WeL lentormen der SignaLe in der Schaltung
der Fig. 1;
Fig. 3 einen SchaLtplan einer bekannten
Verstärkungssignalgeneratorschaltung zur
Zuleitung eines verstärkten Signals an eine
Wortleitung eines Halbleiterspeichers,
beispielsweise einem DRAM;
Zuleitung eines verstärkten Signals an eine
Wortleitung eines Halbleiterspeichers,
beispielsweise einem DRAM;
Fig. 4 ein Schaltbild einer bevorzugten
Ausführungsform einer
Ausführungsform einer
Verstärkungssignalgeneratorschaltung der
vorliegenden Erfindung;
vorliegenden Erfindung;
Fig. 5 Wellenformen der Signale in der Schaltung der Fig. 4;
Fig. 6 ein Schaltbild einer Ladevorrichtung, wie sie
in der Ausführungsform der Fig. 4 verwendet
wird; und
wird; und
Fig. 7 ein Schaltbild einer weiteren Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung.
Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen
In Fig. 4 ist ein Verstärkungssignalgenerator gezeigt, der
folgende Bauteile enthält: Einen Belastungskondensator 1, erste, zweite, dritte, vierte und fünfte MOS-Transistoren
11, 12, 13, 14 und 15, einen Boot strap-Kondensator 16,
eine Ladevorrichtung 17 für den Bootstrap-Kondensator 16
und einen Verstarkungsspannungsgenerator 18, dessen
Ausgangsspannung V größer ist als die Ursprungsspannung
V. Der
eine Ladevorrichtung 17 für den Bootstrap-Kondensator 16
und einen Verstarkungsspannungsgenerator 18, dessen
Ausgangsspannung V größer ist als die Ursprungsspannung
V. Der
•36U421
VerstärkungssignaLgenerator enthält ferner Leitungen 19,
die die Quelle des dritten MOS-Transistors 13, die Senke
des vierten MOS-Transistors 14 und das Gate des zweiten
MOS-Transistors 12 miteinander verbinden. Ferner sind Leitungen 20 vorgesehen, die die Quelle des ersten
MOS-Transistors 11, die Senke des zweiten MOS-Transistors
12 und eine der Elektroden des Boot strap-Kondensators 16
miteinder verbinden. Ferner sind Leitungen 21 vorgesehen, die das Gate des ersten MOS-Transistors 1, das Gate des
fünften MOS-Transistors 15 und die andere Elektrode des Boot strap-Kondensators 16 miteinander verbinden. Die
Senken des ersten und des dritten MOS-Transistors 11 und
13 sind an eine Versorgungsspannung V angeschlossen und
die Quellen des zweiten und des vierten MOS-Transistors 12
und 14 sind geerdet. Der fünfte MOS-Transistor 15 hat eine
Senke, die an die
VerstarkungspotentiaIgeneratorvorrichtung 18 angeschlossen
ist und eine Quelle, die an eine der Elektroden des Belastungskondensators 1 und an das Gate des
MOS-Transistors 14 angeschlossen ist. Ein Vorladungssignal
^n wird an das Gate des MOS-Transistors 13 zugeleitet.
Die ersten und zweiten MOS-Transistoren 11 und 12, der
Boot strap-Kondensator 16 und die Ladungsvorrichtung 17
bilden einen Bootstrap-SchaItkreis I, in dem das Gate des
zweiten MOS-Transistors 12 und der Ausgang der Ladevorrichtung 17 jeweils einem Eingangsknoten und einem
Ausgangsknoten entsprechen. Wenn der Belastungskondensator
1 durch die Ladungsvorrichtung 17 aufgeladen wird, dann
wird eine Spannung, die im wesentlichen mit der Ladespannung V übereinstimmt, an den Ausgangsknoten
angelegt. Wenn eine Spannung, dessen Höhe ausreichend ist,
um den zweiten MOS-Transistor 12 abzuschalten, an das Gate
des zweiten MOS-Transistors 12 angelegt wird, dann wird die Spannung des Ausgangsknotens höher als die
Ausgangsspannung der Ladungsvorrichtung 17.
Die-dritten und vierten HOS-Transistören 13 und 14 bilden
einen dynamischen Inverter II, der als eine
Bootstrap-Kontrot Le wirkt. Im dynamischen Inverter II
dient der dritte MOS-Transistor 13 als ein Ladeelement und das Gate des vierten MOS-Transistors 14 und die Verbindung zwischen dem dritten und vierten MOS-Transistor
entsprechen jeweils einem Eingangs- und Ausgangsknoten. Die dritten und vierten MOS-Transistoren befinden sich
jeweils in konduktiven und in nicht-konduktiven Zuständen während der Vorladungsperiode, um so die Spannung des
Ausgangsknotens zu einem ersten Niveau zu machen, das im wesentLichen mit der Ursprungsspannung V übereinstimmt. Wenn das verstärkte Signal an den Be Lastungskondensator zugeleitet wird, dann wird der fünfte MOS-Transistor 15 eingeschaltet und wenn dessen Eingangsniveau höher als ein vorbestimmter Wert wird, d.h. als der Wert der
Schwellenspannung des vierten MOS-Transistors 14, dann
wird der vierte MOS-Transistor 14 eingeschaltet. Da zu
diesem Zeitpunkt der dritte MOS-Transistor 13 sich in
einem nicht-konduktiven Zustand befindet, wird der
Ausgangsknoten auf ein zweites Niveau eingestellt, d.h. dem Erdungsniveau.
Bootstrap-Kontrot Le wirkt. Im dynamischen Inverter II
dient der dritte MOS-Transistor 13 als ein Ladeelement und das Gate des vierten MOS-Transistors 14 und die Verbindung zwischen dem dritten und vierten MOS-Transistor
entsprechen jeweils einem Eingangs- und Ausgangsknoten. Die dritten und vierten MOS-Transistoren befinden sich
jeweils in konduktiven und in nicht-konduktiven Zuständen während der Vorladungsperiode, um so die Spannung des
Ausgangsknotens zu einem ersten Niveau zu machen, das im wesentLichen mit der Ursprungsspannung V übereinstimmt. Wenn das verstärkte Signal an den Be Lastungskondensator zugeleitet wird, dann wird der fünfte MOS-Transistor 15 eingeschaltet und wenn dessen Eingangsniveau höher als ein vorbestimmter Wert wird, d.h. als der Wert der
Schwellenspannung des vierten MOS-Transistors 14, dann
wird der vierte MOS-Transistor 14 eingeschaltet. Da zu
diesem Zeitpunkt der dritte MOS-Transistor 13 sich in
einem nicht-konduktiven Zustand befindet, wird der
Ausgangsknoten auf ein zweites Niveau eingestellt, d.h. dem Erdungsniveau.
Fig. 5 zeigt Signalwellenformen an wichtigen Punkten in
der Schaltung der Fig. 4, wenn diese in Betrieb ist.
Fig. 6 zeigt ein Beispiel der Ladungsvorrichtung 17 der
Fig. 4, in der das Gate eines MOS-Transistors 22 an die Ursprungsspannung V angschlossen ist. Der MOS-Transistor
22 hat eine Senke, von dem ein Signal / vorgesehen ist und eine Quelle aufweist, die an die in der Fig. 3
gezeigten Leitung 21 angeschlossen ist»
gezeigten Leitung 21 angeschlossen ist»
_12_ 36U421
Fig. 7 zeigt ein Beispiel eines
Verstärkungsspannungsgenerators 18 der Fig. 3, der
folgende Teile enthält: Einen Ringoszillator 23, einen
Ladungspumpenkondensator 24, MOS-Transistoren 25 und 26
und einen Spannungsspeicherkondensator 27. Eine der
Elektroden des Ladungspumpenkondensators 24 ist an den Ausgang des Ringoszillators 23 angeschlossen und die
andere Elektrode ist an die Quelle des Transistors 25 und die Senke und das Gate des Transistors 26 angeschlossen.
Die Senke und das Gate des Transistors 25 sind an die Ladespannung V angeschlossen. Der
Ladungsspeicherkondensator 27 hat eine Elektrode, die an
die Quelle des Transistors 26 angeschlossen ist und die andere Elektrode ist geerdet.
Da die in den Fig. 6 und 7 gezeigten Schaltungen bekannt sind, wird ihre Wirkungsweise nicht beschrieben.
Die Wirkungsweise der Schaltung der Fig. 4 wird in bezug
auf die Fig. 5 beschrieben. In Fig. 5 wird angenommen, daß
die Leitung 19 vor einem Zeitpunkt T1 vorgeladen wurde.
Zum Zeitpunkt T_ wird das Potential der Leitung 21 durch
einen Ladestrom, der von der Ladungsvorrichtung 17
zugeführt wird, angehoben. Dadurch wird der fünfte MOS-Transistor 15 angeschaltet und dadurch steigt das
Potential des Signales fi'. Zum Zeitpunkt T, überschreitet das Potential des Signals pf. die
Schwellenspannung VTU, wodurch der vierte MOS-Transistor
ι ti
14 angeschaltet wird. Dadurch fängt die Leitung 19 an,
entladen zu werden.
_13- 36U421
Zum Zeitpunkt T, wird die Bootstrap-SchaLtung I, die die
MOS-Transistoren Π und 12 enthält/ betätigt. Das heißt,
die ersten und zweiten MOS-Transistoren 11 und 12 werden
jeweils an- bzw. ausgeschaItet, wodurch das Potential der
Leitung 21 veranlaßt wird, auf einen Wert V anzusteigen,
der höher als die Ursprungsspannung V ist, wodurch der ON-Widerstand des MOS-Transistors 15 durch die Wirkung des
Kondensators 16 im wesentlichen gesenkt wird. Wenn das
Potential V der Leitung 21 zum Zeitpunkt T_ den Wert V'>
V + V_u hat, dann stimmt das Potential des
ρ ι Η
Signales /- mit der Ausgangsspannung V des
" P
Verstärkungspotentialgenerators 18 überein und wenn das
Potential V £ V + VTIJ wird, dann erreicht das
P I H
Potential des Signales f/. den Wert V-V-.,,.
Dadurch ist es möglich, ein verstärktes Signal /. zum
Belastungskondensator 1 zuzuführen, das ein Potential
aufweist, das höher als die Ursprungsspannung V ist. Ferner ist es möglich, die Ladezeit TQ (T- - T2 in
Fig. 2), bei der eine maximale Aufladung erreicht wird, wie folgt zu erreichen:
To - <VC1 = *i
Wenn die VerstärkungssignaIgeneratorschaltung verwendet
wird, um das verstärkte Signal /. an die Wortleitung der
Halbleiterspeichervorrichtung, beispielsweise eine DRAM,
zu leiten, wie dies in der Fig. 3 gezeigt ist, dann wird die Ladezeit TQ im wesentlichen mit t.. übereinstimmen,
d.h. die Ladezeit wird 10 - 20 ns betragen, d.h. die Ladezeit ist ungefähr 60% geringer als die Ladezeit im
herkömmlichen Fall, wie dies in bezug auf die Fig. 3
erörtert wurde.
36H421
- ι 4-
Da, wie oben beschrieben wurde, der Ausgang des Ve rstärkungspot ent i a !.generators vergrößert wurde, indem
der Widerstand des fünften Transistors im "ON"-Zustand
infolge der Anlegung des Ausganges der Bootstrap-Schaltung
an das Gate des zuletzt genannten Transistors verringert wurde, kann die Erzeugung des verstärkten Signals
innerhalb einer wesentlich verringerten Zeit und sogar mit einem Minimum an Energieverbrauch erreicht werden.
Claims (1)
- 36U42143 652 v/gü/bnMitsubishi Denki Kabushiki Kaisha, Tokyo, Japan Halbleiterverstärkungssignalgeneratorschaltung Patentansprüche1. HaLbLeiterverstärkungssignaLgeneratorschaLtung/ gekennzei chnet durch: Mittel zur Erzeugung eines Verstärkungspotentials, um an deren Ausgangsknoten eine Ausgangsspannung V vorzusehen, die hoher ist als eine Quellenspannung; einem MOS-Transistor zur Erzeugung eines zu verstärkenden Signals, wobei dieser MOS-Transistor folgende Bauteile aufweist: Eine Gate-Elektrode, eine erste Hauptelektrode, die an die Mittel zur Erzeugung eines Verstärkungspotentials angeschlossen sind, und eine zweite Hauptelektrode, die an einen Belastungskondensator angeschlossen ist; Bootstrap-Kontro I ImitteI, die mindestens einen Eingangsknoten aufweisen, der an die zweite Hauptelektrode des genannten MOS-Transistors angeschlossen ist und mindestens einen Ausgangsknoten aufweisen, dessen Potential zwischen einem ersten Niveau bis zu einem zweiten Niveau variiert, wenn ein Potential der zweiten Hauptelektrode des o.g. MOS-Transistors nicht kleiner als ein vorbestimmtes Ni veau wi rd; undBootstrapmitte I, die einen Eingangsknoten aufweisen, der an den genannten Ausgangsknoten derBoot strap-Kontro LLmitteL angeschlossen ist und ferner einen Ausgangsknoten aufweisen, der an die genannte Gate-ELektrode angeschlossen ist, um an dessen Ausgangsknoten ein Signalpotential zu erzeugen, durch das der MOS-Transistor angeschaltet wird und um das Signalpotential zu verstärken, wenn der Ausgangsknoten der Bootstrap-Kontro IlmitteI das zweite Niveau erreicht.Ha Ibleiterverstärkungssignalgeneratorschaltung nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet, daß die BootstrapmitteI folgende Bauteile enthalten: Mittel zur Erzeugung eines Signalpotentials, um am Ausgangsknoten der Bootstrapmittel das Signalpotential zu erzeugen;einen ersten MOS-Transistor, enthaltend eine Gate-Elektrode, die an den Ausgangsknoten der Bootstrapmittel angeschlossen ist, eine erste Hauptelektrode, die an ein erstes Potential angeschlossen ist, und eine zweite Hauptelektrode; ein zweiter MOS-Transistor, enthaltend eine Gate-Elektrode, die an den Ausgangsknoten der Boot strap-Kontro IlmitteL angeschlossen ist, eine erste Hauptelektrode, die an die zweite Hauptelektrode des ersten MOS-Transistors angeschlossen ist, und eine zweite Hauptelektrode, die an ein zweites Potential angeschlossen ist; und einen Boot strap-Kondensator, der zwischen dem Ausgangsknoten der Boot strapmitte I und der zweiten Hauptelektrode des ersten MOS-Transistors angeschlossen ist.36U4213. HaLb LeiterverstärkungssignaLgeneratorschaLtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bootstrap-KontroLLmitteL foLgende BauteiLe enthaLten Ein BeLastungseLement, das zwischen dem ersten PotentiaL und dem Ausgangsknoten der Boot strap-Kontro LLmitteL angeschLossen ist, und einen dritten MOS-Transistor, enthaLtend eine Gate-ELektrode, die an den Eingangsknoten der Bootstrap-Kontro LLmitteL angeschLossen ist und erste und zweite HaupteLektroden, die zwischen dem Ausgangsknoten der Bootstrap-KontroLLmitteL und dem zweiten PotentiaL angeschLossen sind.4. HaLb LeiterverstärkungssignaLgeneratorschaLtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die BeLastungseLemente einen vierten MOS-Transistor enthaLten, der eine Gate-ELektrode aufweist, die mit einem Vor Ladungssigna L beaufschLagt wird.5. HaLbLeiterverstärkungssignaLgeneratorschaLtung, gekennzeichet durch:eine Bootstrap-SchaLtung, die foLgende BauteiLe enthäLt:einen ersten MOS-Transistor, enthaLtend eine Senke, die an eine EnergiequeLLe angeschLossen ist und ein Gate und eine QueLLe, die miteinander durch einen Kondensator verbunden sind, der eine Kapazität aufweist, die wesentLich größer aLs eine Gate-Kapazität ist,einen zweiten MOS-Transistor, enthaLtend eine Senke, die an die QueLLe des ersten MOS-Transistors angeschLossen ist und eine geerdete CueLLe, und eine Ladevorrichtung zum Laden des Gates des ersten MOS-Transi stors;eine dynamische InverterschaItung, bestehend aus:einem dritten MOS-Transistor, bestehend aus einer Senke, die an die Energiequelle angeschlossen ist und einem Gate, das mit einem Vorladungssignal versorgt wird, und einem vierten MOS-Transistor, der eine Senke aufweist, die an die Quelle des dritten MOS-Transistors und an das Gate des zweiten MOS-Transistors und eine geerdete Quelle angeschlossen ist; undeinem Verstärkungspotentialgenerator und einem fünften MOS-Transistor, bestehend aus einer Senke, an die der Verstä'r kungsausgang des Verstärkungsspannungsgene rator s zugeleitet wird, ein Gate, das an das Gate des ersten MOS-Transistors angeschlossen ist und eine Quelle, die an das Gate des vierten MOS-Transistors angeschlossen ist, wobei die Quelle des fünften MOS-Transistors eine Verstärkungssignalquelle ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60104351A JPS61260717A (ja) | 1985-05-14 | 1985-05-14 | 半導体昇圧信号発生回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3614421A1 true DE3614421A1 (de) | 1986-11-20 |
DE3614421C2 DE3614421C2 (de) | 1991-07-25 |
Family
ID=14378456
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863614421 Granted DE3614421A1 (de) | 1985-05-14 | 1986-04-29 | Halbleiterverstaerkungssignalgeneratorschaltung |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4731552A (de) |
JP (1) | JPS61260717A (de) |
KR (1) | KR900005230B1 (de) |
DE (1) | DE3614421A1 (de) |
GB (1) | GB2175162B (de) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4906056A (en) * | 1987-04-14 | 1990-03-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | High speed booster circuit |
JPH0748310B2 (ja) * | 1987-04-24 | 1995-05-24 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
JP2652694B2 (ja) * | 1988-12-28 | 1997-09-10 | 三菱電機株式会社 | 昇圧回路 |
IT1251097B (it) * | 1991-07-24 | 1995-05-04 | St Microelectronics Srl | Circuito di bootstrap per il pilotaggio di un transistore mos di potenza in configurazione high side driver. |
US5255224A (en) * | 1991-12-18 | 1993-10-19 | International Business Machines Corporation | Boosted drive system for master/local word line memory architecture |
JPH05174591A (ja) * | 1991-12-25 | 1993-07-13 | Sharp Corp | チャージポンプ回路 |
US5412257A (en) * | 1992-10-20 | 1995-05-02 | United Memories, Inc. | High efficiency N-channel charge pump having a primary pump and a non-cascaded secondary pump |
JP2709783B2 (ja) * | 1992-12-17 | 1998-02-04 | 三菱電機株式会社 | 昇圧回路 |
JP3184065B2 (ja) * | 1994-07-25 | 2001-07-09 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 半導体集積回路装置及び電子機器 |
US5672992A (en) * | 1995-04-11 | 1997-09-30 | International Rectifier Corporation | Charge pump circuit for high side switch |
KR100434308B1 (ko) * | 1998-12-29 | 2004-07-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 프리-차지기능을갖는배전압정류기 |
KR100507701B1 (ko) | 2001-12-06 | 2005-08-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 부스트랩 회로 |
US6825699B2 (en) * | 2003-01-31 | 2004-11-30 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Charge pump circuit, passive buffer that employs the charge pump circuit, and pass gate that employs the charge pump circuit |
KR100973137B1 (ko) | 2003-04-29 | 2010-07-29 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 부트스트랩회로 |
US8385498B2 (en) * | 2006-05-31 | 2013-02-26 | Kenet, Inc. | Boosted charge transfer circuit |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3235672C2 (de) * | 1982-01-14 | 1984-05-17 | Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa | Aktiver Hochziehkreis |
US4475178A (en) * | 1980-12-04 | 1984-10-02 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor regeneration/precharge device |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56129570A (en) * | 1980-03-14 | 1981-10-09 | Mitsubishi Electric Corp | Booster circuit |
US4401904A (en) * | 1980-03-24 | 1983-08-30 | Texas Instruments Incorporated | Delay circuit used in semiconductor memory device |
JPS58184821A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-28 | Fujitsu Ltd | 昇圧回路 |
JPS6052112A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-03-25 | Toshiba Corp | 論理回路 |
-
1985
- 1985-05-14 JP JP60104351A patent/JPS61260717A/ja active Granted
-
1986
- 1986-02-25 KR KR1019860001325A patent/KR900005230B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1986-04-08 US US06/849,249 patent/US4731552A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-04-25 GB GB8610110A patent/GB2175162B/en not_active Expired
- 1986-04-29 DE DE19863614421 patent/DE3614421A1/de active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4475178A (en) * | 1980-12-04 | 1984-10-02 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor regeneration/precharge device |
DE3235672C2 (de) * | 1982-01-14 | 1984-05-17 | Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa | Aktiver Hochziehkreis |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
DE-B.: NÜHRMANN, Dieter: Das große Werkbuch Elektronik, 4. Aufl., Franzis, 1984, S. 749-751, 790 |
DE-B.: NÜHRMANN, Dieter: Das große Werkbuch Elektronik, 4. Aufl., Franzis, 1984, S. 749-751, 790 ISBN 3-7729-6544-2 * |
ISBN 3-7729-6544-2 |
US-Z: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol. SC-15, No.5, Okt. 1980, S.831-839 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61260717A (ja) | 1986-11-18 |
DE3614421C2 (de) | 1991-07-25 |
GB8610110D0 (en) | 1986-05-29 |
KR900005230B1 (ko) | 1990-07-21 |
KR860009423A (ko) | 1986-12-22 |
GB2175162A (en) | 1986-11-19 |
JPH0324092B2 (de) | 1991-04-02 |
US4731552A (en) | 1988-03-15 |
GB2175162B (en) | 1989-04-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69027252T2 (de) | Festwertspeichersystem mit Mehrfachwert-Speicherung | |
DE69725078T2 (de) | Ladungspumpenschaltung für ein Halbleiter-Substrat | |
DE69823289T2 (de) | Temperaturunabhängiger Oszillator | |
DE3888220T2 (de) | Datenausgabeschaltung. | |
DE69027705T2 (de) | Spannungserhöhungsschaltung für dynamische Speicher | |
DE3614421A1 (de) | Halbleiterverstaerkungssignalgeneratorschaltung | |
DE3051230C2 (de) | Spannungserhöhungsschaltung | |
DE3742492C2 (de) | ||
DE4305864C2 (de) | Ausgabepufferschaltung | |
DE2247471A1 (de) | Differentialverstaerker-schaltung | |
DE4336907A1 (de) | Substratpotential-Erzeugungsschaltung zum Erzeugen eines Substratpotentials mit einem niedrigen Pegel und Halbleitervorrichtung mit einer solchen Schaltung | |
DE2831522C2 (de) | ||
DE3618572A1 (de) | Halbleiterspeicherelement | |
DE1537176A1 (de) | Logische Schaltungen mit Feldeffekttransistoren | |
DE69532071T2 (de) | Aufwärtswandlerschaltung | |
DE3235672A1 (de) | Aktiver hochziehkreis | |
DE4033950C2 (de) | ||
DE3530092C2 (de) | ||
DE3329096C2 (de) | ||
DE19650149C2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung mit Zwischenpotential-Erzeugungsschaltung | |
DE4323010A1 (de) | Spannungserzeugungsschaltung ohne Schwellenspannungsverlust in der Ausgangsspannung durch einen FET | |
DE4117882A1 (de) | Boosterschaltung fuer einen halbleiterspeicher | |
DE3031197A1 (de) | Antriebsschaltkreis | |
DE3705147C2 (de) | ||
EP0058243B1 (de) | Integrierte digitale Halbleiterschaltung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |