DE3541038A1 - Direktgekoppelte halbleiterlogikschaltung - Google Patents
Direktgekoppelte halbleiterlogikschaltungInfo
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Description
TER MEER · MÜLLER ■ STEINMEISTKR '
-6-
Direktgekoppelte Halbleiterlogikschaltung
BESCHREIBUNG
Die Erfindung betrifft eine direktgekoppelte Halbleiterlogikschaltung
gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs
Sie bezieht sich damit auf einen Halbleiterschaltkreis, der aus einer direktgekoppelten FET-Logikschaltung (DCFL)
mit einem Sperrschicht-Feldeffekttransistor (J-FET) als Schalter bzw. Torschaltung besteht.
Eine DCFL benötigt zur Bildung einer Torschaltung nur
eine geringe Anzahl von Elementen und ist daher für umfangreiche Logikschaltungen geeignet.
Figur 1 zeigt das Beispiel einer konventionellen DCFL-Schaltung. In dieser DCFL-Schaltung sind zwei Inverter Il
und 21 direkt gekoppelt. Die Inverter Il und 21 bestehen aus J-FETs 12 und 22 mit GaAs-Halbleitern und Widerständen
13 und 23. Bei dieser Anordnung ist der Widerstand des gesperrten J-FETs 12 normalerweise erheblich höher als
der des Widerstandes 13, so daß der Hight(H)-Pegel der Ausgangsspannung des J-FETs 12, d.h. die Eingangsspannung
des J-FETs 22, praktisch den gleichen Betrag wie die Spannung VDD der (nicht gezeigten) Stromversorgung annimmt.
Wenn ein ringförmig angeordneter Oszillator aus einer oben beschriebenen DCFL aufgebaut, und eine Laufzeitverzögerung
(Tpd) pro Schaltstufe gemessen wird, so wächst -fpd proportional zur Spannung VDD entsprechend der
durchgezogenen Kurve in Figur 2. Wenn dagegen Schottky-Sperrschicht-Feldeffekttransistoren
anstatt der J-FETs 12 3Q und 22 eingesetzt werden, dann bleibt 2*pd konstant, auch
a t *
TER MEER · MÜLLER
—7 —
wenn die Spannung VDD wächst, wie die gestrichelte Linie
in Figur 2 zeigt.
Man nimmt an, daß dies durch einen Trägerspeichereffekt
eines Kanals verursacht wird, oder daß das Substrat des J-FETs 22 angereichert wird, sobald die H-Pegel-Eingangsspannung
des J-FETs 22 höher wird, als die Durchlaßspannung (Vf = 1,0V) an einem pn-übergang. In einem
konventionellen Beispiel, wie es oben erwähnt wurde, wird sowohl Tpd als auch der Stromverbrauch höher, wenn eine
höhere Spannung VDD als 1,5 V angelegt wird, was nachteilig ist.
Aus diesem Grund muß die Spannung VDD zwischen z.B. 1^0
und 1,4 V liegen, d.h. die Einhaltung der Spannung VDD wird kritisch. Zusätzlich steigt in manchen J-FETs, je nach
Substratbeschaffenheit, die Spannung VDD im Bereich von 1,2 V stark an. Für diesen Fall wird die Anforderung an
die Spannung VDD wesentlich strenger. Mit anderen Worten besteht infolge des schwierigen Schaltungsentwurfs nur
ein geringer Spielraum hinsichtlich zulässiger Schwankungen der Spannung VDD.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Halbleiterschaltung
der eingangs genannten Art so weiterzubilden, daß trotz einfachen Aufbaus die Laufzeitverzögerung bei
Änderung der Spannung der Stromversorgung nicht anwächst und deswegen die Schwankungsbreite der von der Stromversorgung
gelieferten Spannung groß sein kann.
Die Lösung der gestellten Aufgabe ist im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegeben. Vorteilhafte Ausgestaltungen
der Erfindung sind den Unteransprüchen zu entnehmen.
Die direktgekoppelte Halbleiterlogikschaltung nach der Erfindung besitzt mehrere Schaltstufen, die mit Sperr-
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTeR
_—
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schicht-Feldeffekttransistoren bestückt sind. Der Sperrschicht-Feldeffekttransistor
einer Schaltstufe ist direkt mit dem Sperrschicht-Feldeffekttransistor der nächstfolgenden
Schaltstufe verbunden.
5
5
Es ist eine Diode als Spannungs-Klemmelement vorgesehen,
das die Ausgangsspannung einer Stufe, die zugleich die Eingangsspannung des Sperrschicht-Feldeffekttransistors
der nachfolgenden Stufe darstellt, so festhält, daß sie unterhalb der Durchlaß- bzw. Durchbruchsspannung des pn-Übergangs
der nachfolgenden Stufe bleibt.
In einer Halbleiterschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung wird die Ausgangsspannung des J-FETs einer ersten Schaltstufe,
die zugleich die Eingangsspannung des J-FETs einer zweiten Schaltstufe ist, auf eine Spannung unterhalb der
Durchbruchsspannung eines pn-übergangs begrenzt, so daß ein Trägerspeichereffekt am J-FET der nachfolgenden Schaltstufe
nicht auffällig in Erscheinung tritt, wenn die Spannung der Stromversorgung schwankt.
Die Zeichnung stellt Ausführungsbeispiele der Erfindung dar. Es zeigen:
Fig. 1 einen Schaltungsaufbau einer konventionellen
Halbleiterschaltung,
Fig. 2 ein Diagramm der Laufzeitverzögerung der
Fig. 2 ein Diagramm der Laufzeitverzögerung der
konventionellen Halbleiterschaltung in Abhängigkeit der Spannung VDD, und
Fig. 3 und 4 Schaltungsaufbauten entsprechend einer
ersten und einer zweiten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Anmeldung.
Die Halbleiterschaltungen entsprechend der ersten und zweiten Ausführungsform der vorliegenden Anmeldung zur
Anwendung bei zweistufigen Invertern werden anhand der Figuren 3 und 4 näher beschrieben.
ORIGINAL MZFZ27ED
TER MEER · MÜLLER · STEINM&STER* -
1^—"~ 54 T -
— Q —
Figur 3 zeigt die erste Ausführungsform der Halbleiterschaltung. Diese Schaltung kann praktisch genauso aufgebaut
sein wie die konventionelle Schaltung nach Figur 1, außer daß die Basisanschlüsse der J-FETs 12 und 22 in Figur 3
mit einer festen (nicht dargestellten) Stromquelle über Schottky-Potentialdioden (SBD) 14 und 24 verbunden sind.
Wenn auch das Schottky-Potential etwas von der Art des Substrates abhängig ist, beträgt die Durchbruchsspannung
Vf der SBDs 14 und 24 allgemein etwa 0,6 V. Wird eine
höhere Spannung als 0,6 V in Durchlaßrichtung angelegt, fließt ein Strom durch die SBDs 14 und 24.
Bemißt man die Spannung VGG einer Stromversorgungsquelle auf etwa 1,4 V, so bleibt eine Eingangsspannung zum
J-FET 22 von etwa 1,0 V erhalten, wenn nur die SBD 24 einen ausreichenden Strom übernimmt. Wenn also mit anderen Worten
die Betriebsspannung VDD angewachsen ist und die Ausgangsspannung des J-FETs 12 1,0 V übersteigt, fließt der
Strom durch die Diode SBD 24, so daß die Ausgangsspannung
vom J-FET 12 als auch die Eingangsspannung vom J-FET 22 auf etwa 1,0 V konstant gehalten werden.
Es wird also erreicht, daß die Eingangsspannung des J-FETs 22 bei steigender Spannung VDD infolge der Spannung Vf des
pn-übergangs heruntergeregelt wird. Der Trägerspeichereffekt am J-FET 22 tritt nicht mehr merklich in Erscheinung
und die Laufzeitverzögerung *2*pd des Inverters
21 wird nicht erhöht.
Beim ersten Ausführungsbeispiel wird also der Gate-Anschluß
des J-FETs 12 mit der stabilisierten Stromversorgung über
die SBD 14 verbunden. Immer wenn die Eingangsspannung des
J-FETs 12 1,0 V übersteigt, wird soviel Strom durch die 3c SBD 14 fließen, daß die Eingangsspannung auf etwa 1,0 V
geregelt wird. Als Folge davon tritt der Trägerspeicher- ..--«.-.■·*
effekt im J-FET 12 nicht mehr merklich in Erscheinun§jf*föU^~ '""*"
TER MEER · MÜLLER · STEINM1EISTgR , v
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so daß einem Anwachsen von «£pd des Inverters Il vorgebeugt
wird.
Figur 4 zeigt eine zweite Ausführungsform der Schaltung nach der vorliegenden Anmeldung. Diese Schaltung ist genauso
aufgebaut wie die Schaltung nach Figur 3, außer daß in Figur 4 keine stabilisierte Stromversorgungsquelle vorgesehen
ist, und daß die SBDs 14 und 24 jeweils zwischen den Drain- und Gate-Anschlüssen der J-FETs 12 und 22
ig liegen. Der LOW(L)-Pegel einer Eingangsspannung am J-FET
12 beträgtr 0,2V und Vf der SBDs 14 und 24 0,7 V.
Wenn gemäß dieser zweiten Schaltung die Spannung VDD anwächst und die Ausgangsspannung des J-FETs 12 0,9 V übersteigt,
so fließt ein Strom in SBD 14, so. daß die Ausgangsspannung am J-FET 12 bzw. die Eingangsspannung am J-FET
22 auf 0,9 V geregelt wird. Der Trägerspeichereffekt tritt nicht mehr nennenswert am J-FET 22 in Erscheinung,
so daß die Laufzeitverzögerung 7pd des Inverters 21
nicht anwächst.
In der zweiten Ausführungsform liegt die Diode SBD 24 zwischen Drain- und Gate-Anschluß des J-FETs 22. Es fließt
daher, wenn die Ausgangsspannung am J-FET 22 0,9 V übersteigt, ein Strom in SBD 24, um die Ausgangsspannung
auf etwa 0,9 V zu halten.
Die Schaltung nach dem zweiten Ausführungsbeispiel benötigt keine stabilisierende Stromversorgung und begnügt
sich mit einem wesentlich einfacheren Schaltungskonzept. Die Spannung Vf der SBDs 14 und 24 bestimmt direkt die
Logikamplitude, d.h. die Differenz zwischen dem H-Pegel und dem L-Pegel. Um die Logikamplitude zu erhöhen, sollte
man die Spannung Vf der SBDs 14 und 24 größer machen als 5 die, die oben beim ersten Ausführungsbeispiel beschrieben
wurde.
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— -—-——
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Wenn man die positive Spannung Vf der SBDs 14 und 24 erhöht,
kann der Η-Pegel des J-FETs 12 so eingestellt werden, daß er etwa der Spannung Vf des pn-Übergangs entspricht,
indem man den L-Pegel des J-FETs 12 erniedrigt und gleichzeitig
die Spannung VDD erhöht. Es können also ohneErhöhung von "ipd die Arbeitspunkte festgelegt werden.
Der Η-Pegel am Ausgang des J-FETs 12 bzw. die Eingangsspannung des J-FETs 22 wird im ersten und im zweiten Ausführungsbeispiel
geregelt. Immer wird der L-Pegel vom Verhältnis des Widerstandes 13 zu dem Widerstand des J-FETs
12 bestimmt. Daher kann der L-Pegel unabhängig vom H-Pegel festgelegt werden.
Im ersten und im zweiten Ausführungsbeispiel werden die SBDs 24 und 14 als Elemente zum Stabilisieren der Ausgangsspannung
des J-FETs 12 und for schnelle Operationen der J-FETs 12 und 22 verwendet, wobei GaAs eingesetzt wird.
Es können deshalb auch Flächendioden oder ähnliche Dioden an Stelle der SBDs 24 und 14 verwendet werden, wenn
schnelle Operationen nicht erforderlich sind.
Die Widerstände 13 und 23 als passive Elemente werden im ersten und im zweiten Ausführungsbeispiel als Lastelemente
für die Inverter 11 und 21 verwendet. Es können stattdessen auch aktive Elemente wie FETs usw. verwendet
werden.
Erstes und zweites Ausführungsbeispiel der vorliegenden Anmeldung beziehen sich 'auf zweistufige Inverter. Die
Erfindung kann außer auf Inverter auch auf andere Torschaltungen angewendet werden.
Wie oben gezeigt wurde, tritt bei der Halbleiterschaltung nach der vorliegenden Anmeldung der Trägerspeichereffekt
bei einem J-FET einer nachfolgenden Schaltstufe nicht mehr nennenswert in Erscheinung, wenn die Spannung der Stromver-
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—
-12-
sorgung schwankt.
Da auch die Laufzeitverzögerung bei Änderung der Spannung
der Stromquelle nicht anwächst, kann die Spannung der Stromquelle groß, in weiten Grenzen schwanken, was zu einem
einfacheren Schaltungsaufbau führt.
- Leerseite -
Claims (9)
1. Halbleiterschaltung mit mehreren Schaltstufen, die jeweils einen Sperrschicht-Feldeffekttransistor aufweisen, die
direkt miteinander gekoppelt sind, gekennzeichnet durch eine Klemmschaltung
zur Klemmung einer als Eingangsspannung eines Sperrschicht-Feldeffekttransistors (22) einer nachfolgenden
Schaltstufe (21) dienenden Ausgangsspannung eines Sperrschicht-Feldeffekttransistors
(12) einer vorhergehenden Schaltstufe (11) auf einen Wert unterhalb der Durchlaßspannung
eines pn-Übergangs der nachfolgenden Schaltstufe (21) .
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2. Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Klemmschaltung eine zwischen einem GATE-Anschluß des nachfolgenden
Sperrschicht-Feldeffekttransistors (22) und einer spannungsstabilen Stromversorgungsquelle liegende Diode (24)
enthält.
3. Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Klemmschaltung eine zwischen einem DRAIN-Anschluß und einem
GATE-Anschluß des nachfolgenden Sperrschicht-Feldeffekttransistors
(22) liegende Diode (24) enthält.
4. Halbleiterschaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß jede Schaltstufe einen Inverter enthält.
5. Halbleiterschaltung,
dadurch gekennzeichnet, daß
- ein erster Sperrschicht-Feldeffekttransistor (J-FET) (12)
mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand (13) mit einer ersten Spannugnsquelle (VDD) sowie
mit dem gegenüberliegenden Ende des Kanals mit einer Referenzspannungsquelle verbunden ist,
- ein zweiter J-FET (22) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand (23) mit derselben ersten
Spannungsquelle (VDD) sowie mit dem gegenüberliegenden ■
Ende seines Kanals mit derselben Referenzspannungsquelle verbunden ist, wobei ein Ausgangssignal über dem Lastwiderstand
(23) des zweiten J-FETs (22) abgenommen wird,
- das GATE des zweiten J-FETs (22) direkt mit der Verbindungsleitung
zwischen dem Lastwiderstand (13) und dem ersten J-FET (12) verbunden ist,
- das GATE des ersten J-FETs (12) den Eingang der Schaltung darstellt, und daß
- je eine Schottky-Potentialdiode (14 und 24) mit ihrer Anode mit dem GATE des ersten (12) bzw. des zweiten (22)
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTER
_ «—^ _ : 3541 Ü3ö
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J-FETs und mit ihrer Kathode mit einer zweiten Spannungsquelle (VGG) verbunden ist, deren Potential höher als das
Referenzpotential der Referenzspannungsquelle ist.
6. Halbleiterschaltung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Durchlaßspannung der Schottky-Potentialdiode in Durchlaßrichtung etwa 0,6 Volt und die Spannung der zweiten Spannungsquelle etwa 0,4 Volt gegenüber dem Referenzpotential beträgt.
dadurch gekennzeichnet, daß die Durchlaßspannung der Schottky-Potentialdiode in Durchlaßrichtung etwa 0,6 Volt und die Spannung der zweiten Spannungsquelle etwa 0,4 Volt gegenüber dem Referenzpotential beträgt.
7. Halbleiterschaltung,
dadurch gekennzeichnet, daß
- ein erster Sperrschicht-Feldeffekttransistor (J-FET) (12)
mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand
(13) mit einer ersten Spannungsquelle (VDD) und mit dem
gegenüberliegenden Ende des Kanals mit einer Referenzspannungsquelle
verbunden ist,
- ein zweiter J-FET (22) mit dem einen Ende seines Kanals
über einen Lastwiderstand (23) mit derselben ersten Spannungsquelle (VDD) und mit dem gegenüberliegenden Ende
des Kanals mit derselben Referenzspannungsquelle verbunden ist, wobei ein Ausgangssignal über dem Lastwiderstand (23)
des zweiten J-FET (22) abgenommen wird,
- das GATE des zweiten J-FETs direkt mit der Verbindungsleitung zwischen dem Lastwiderstand (13) und dem ersten
J-FET (12) verbunden ist,
- das GATE des ersten J-FETs (12) den Eingang der Schaltung darstellt, und daß
- je eine Schottky-Potentialdiode (14 und 24) mit ihrer Kathode mit dem GATE des ersten (12) bzw. zweiten (22)
J-FETs und mit ihrer Anode mit dem anderen Ende des Kanals des jeweiligen J-FETs verbunden ist.
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8. Halbleiterschaltung,
dadurch gekennzeichnet, daß
- ein erster Sperrschicht-Feldeffekttransistor (J-FET) (12)
mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand
(13) mit einer ersten Spannungsquelle (VDD) und mit dem
gegenüberliegenden Ende des Kanals mit einer Referenzspannungs—
quelle verbunden ist,
- ein zweiter J-FET (22) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand (23) mit derselben ersten
Spannungsquelle (VDD) und mit dem gegenüberliegenden Ende seines Kanals mit derselben Referenzspannungsquelle verbunden
ist, wobei ein Ausgangssignal über dem Lastwiderstand (23) des zweiten J-FET abgenommen wird,
- das GATE des zweiten J-FETs direkt mit der Verbindungsleitung zwischen dem Lastwiderstand (13) und dem ersten
J-FET (12) verbunden ist,
- das GATE des ersten J-FETs (12) den Eingang der Schaltung darstellt, und daß
- je eine Diode (14 und 24) mit ihrer Anode mit dem GATE des ersten (12) bzw. zweiten (22) J-FETs und ihre Kathode
mit einer zweiten Spannungsquelle verbunden ist, um dadurch die Eingangsspannung zwischen dem GATE und dem gegenüberliegenden
Ende des Kanals des zweiten J-FETs (22) auf etwa 1 Volt zu stabilisieren.
9. Halbleiterschaltung,
dadurch gekennzeichnet, daß
- ein erster Sperrschicht-Feldeffekttransistor (J-FET) (12)
mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand (13) mit einer ersten Spannungsquelle und mit dem
gegenüberliegenden Ende seines Kanals mit einer Referenzspannungsquelle
verbunden ist,
- ein zweiter J-FET (2 2) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand mit der ersten Spannungsquelle
(VDD) und mit dem gegenüberliegenden Ende seines Kanals mit der Referenzspannungsquelle verbunden ist, wobei ein
Ausgangssignal über dem Lastwiderstand des zweiten J-FETs
TER MEER · MÜLLER · STEINM£ISTPR Γ
—-— 1
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abgenommen wird,
- das GATE des zweiten J-FETs direkt mit der Verbindungsleitung zwischen dem Lastwiderstand (13) und dem ersten
J-FET (12) verbunden ist,
- das GATE des ersten J-FETs den Eingang der Schaltung
darstellt, und daß
darstellt, und daß
-je eine Diode (14 und 24) mit ihrer Kathode mit dem GATE des ersten (12) bzw. zweiten (22) J-FETs und ihre Anode
mit dem gegenüberliegenden Ende des jeweiligen Kanals verbunden ist, um dadurch die Eingangsspannung zwischen dem
GATE und dem gegenüberliegenden Ende des zweiten J-FETs (22) auf ungefähr 0,9 Volt zu stabilisieren.
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Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4798972A (en) * | 1987-03-03 | 1989-01-17 | Digital Equipment Corporation | Apparatus and method for capacitor coupled complementary buffering |
DE3835119A1 (de) * | 1988-10-14 | 1990-04-19 | Siemens Ag | Leistungsverstaerkerschaltung fuer integrierte digitalschaltungen |
US4987318A (en) * | 1989-09-18 | 1991-01-22 | International Business Machines Corporation | High level clamp driver for wire-or buses |
US5008565A (en) * | 1990-01-23 | 1991-04-16 | Triquint Semiconductor, Inc. | High-impedance FET circuit |
JPH089738B2 (ja) * | 1991-04-05 | 1996-01-31 | 川崎製鉄株式会社 | バックリング発生予測装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3325873A1 (de) * | 1983-07-18 | 1985-01-31 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Logik-schaltungsanordnung |
DE3441306A1 (de) * | 1984-11-12 | 1986-05-15 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Logikschaltung fuer die invertierte exklusiv-oder-funktion in galliumarsenid-technik |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3157795A (en) * | 1964-11-17 | Figure | ||
US3742250A (en) * | 1971-04-07 | 1973-06-26 | Signetics Corp | Active region logic circuit |
JPS52146274A (en) * | 1976-05-31 | 1977-12-05 | Toshiba Corp | Output circuit |
GB1572797A (en) * | 1977-01-05 | 1980-08-06 | Texas Instruments Ltd | High speed high density logic |
JPS5447471A (en) * | 1977-09-21 | 1979-04-14 | Hitachi Ltd | Electronic circuit |
JPS5762632A (en) * | 1980-10-02 | 1982-04-15 | Nec Corp | Logical circuit using gate junction type field effect transistor |
US4423339A (en) * | 1981-02-23 | 1983-12-27 | Motorola, Inc. | Majority logic gate |
DE3276988D1 (en) * | 1981-09-30 | 1987-09-17 | Toshiba Kk | Logic circuit operable by a single power voltage |
JPS58114528A (ja) * | 1981-12-26 | 1983-07-07 | Toshiba Corp | GaAs論理集積回路 |
JPS59231921A (ja) * | 1983-06-15 | 1984-12-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電界効果トランジスタを用いた論理回路 |
-
1984
- 1984-11-21 JP JP59246842A patent/JPS61125224A/ja active Pending
-
1985
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1987
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE3325873A1 (de) * | 1983-07-18 | 1985-01-31 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Logik-schaltungsanordnung |
DE3441306A1 (de) * | 1984-11-12 | 1986-05-15 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Logikschaltung fuer die invertierte exklusiv-oder-funktion in galliumarsenid-technik |
Also Published As
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NL8503124A (nl) | 1986-06-16 |
NL193599C (nl) | 2000-03-02 |
US4752701A (en) | 1988-06-21 |
GB2167916B (en) | 1988-07-13 |
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FR2573591B1 (fr) | 1992-06-05 |
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GB8527128D0 (en) | 1985-12-11 |
FR2573591A1 (fr) | 1986-05-23 |
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GB2167916A (en) | 1986-06-04 |
KR940002771B1 (ko) | 1994-04-02 |
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