DE3541038A1 - Direktgekoppelte halbleiterlogikschaltung - Google Patents

Direktgekoppelte halbleiterlogikschaltung

Info

Publication number
DE3541038A1
DE3541038A1 DE19853541038 DE3541038A DE3541038A1 DE 3541038 A1 DE3541038 A1 DE 3541038A1 DE 19853541038 DE19853541038 DE 19853541038 DE 3541038 A DE3541038 A DE 3541038A DE 3541038 A1 DE3541038 A1 DE 3541038A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
fet
voltage source
gate
channel
load resistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19853541038
Other languages
English (en)
Other versions
DE3541038C2 (de
Inventor
Katsuaki Tokio/Tokyo Gonoi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Publication of DE3541038A1 publication Critical patent/DE3541038A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3541038C2 publication Critical patent/DE3541038C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/01Modifications for accelerating switching
    • H03K19/017Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
    • H03K19/01707Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
    • H03K19/09403Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using junction field-effect transistors
    • H03K19/09407Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using junction field-effect transistors of the same canal type

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Power Conversion In General (AREA)

Description

TER MEER · MÜLLER ■ STEINMEISTKR '
-6-
Direktgekoppelte Halbleiterlogikschaltung
BESCHREIBUNG
Die Erfindung betrifft eine direktgekoppelte Halbleiterlogikschaltung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs
Sie bezieht sich damit auf einen Halbleiterschaltkreis, der aus einer direktgekoppelten FET-Logikschaltung (DCFL) mit einem Sperrschicht-Feldeffekttransistor (J-FET) als Schalter bzw. Torschaltung besteht.
Eine DCFL benötigt zur Bildung einer Torschaltung nur eine geringe Anzahl von Elementen und ist daher für umfangreiche Logikschaltungen geeignet.
Figur 1 zeigt das Beispiel einer konventionellen DCFL-Schaltung. In dieser DCFL-Schaltung sind zwei Inverter Il und 21 direkt gekoppelt. Die Inverter Il und 21 bestehen aus J-FETs 12 und 22 mit GaAs-Halbleitern und Widerständen 13 und 23. Bei dieser Anordnung ist der Widerstand des gesperrten J-FETs 12 normalerweise erheblich höher als der des Widerstandes 13, so daß der Hight(H)-Pegel der Ausgangsspannung des J-FETs 12, d.h. die Eingangsspannung des J-FETs 22, praktisch den gleichen Betrag wie die Spannung VDD der (nicht gezeigten) Stromversorgung annimmt.
Wenn ein ringförmig angeordneter Oszillator aus einer oben beschriebenen DCFL aufgebaut, und eine Laufzeitverzögerung (Tpd) pro Schaltstufe gemessen wird, so wächst -fpd proportional zur Spannung VDD entsprechend der durchgezogenen Kurve in Figur 2. Wenn dagegen Schottky-Sperrschicht-Feldeffekttransistoren anstatt der J-FETs 12 3Q und 22 eingesetzt werden, dann bleibt 2*pd konstant, auch
a t *
TER MEER · MÜLLER
—7 —
wenn die Spannung VDD wächst, wie die gestrichelte Linie in Figur 2 zeigt.
Man nimmt an, daß dies durch einen Trägerspeichereffekt eines Kanals verursacht wird, oder daß das Substrat des J-FETs 22 angereichert wird, sobald die H-Pegel-Eingangsspannung des J-FETs 22 höher wird, als die Durchlaßspannung (Vf = 1,0V) an einem pn-übergang. In einem konventionellen Beispiel, wie es oben erwähnt wurde, wird sowohl Tpd als auch der Stromverbrauch höher, wenn eine höhere Spannung VDD als 1,5 V angelegt wird, was nachteilig ist.
Aus diesem Grund muß die Spannung VDD zwischen z.B. 1^0 und 1,4 V liegen, d.h. die Einhaltung der Spannung VDD wird kritisch. Zusätzlich steigt in manchen J-FETs, je nach Substratbeschaffenheit, die Spannung VDD im Bereich von 1,2 V stark an. Für diesen Fall wird die Anforderung an die Spannung VDD wesentlich strenger. Mit anderen Worten besteht infolge des schwierigen Schaltungsentwurfs nur ein geringer Spielraum hinsichtlich zulässiger Schwankungen der Spannung VDD.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Halbleiterschaltung der eingangs genannten Art so weiterzubilden, daß trotz einfachen Aufbaus die Laufzeitverzögerung bei Änderung der Spannung der Stromversorgung nicht anwächst und deswegen die Schwankungsbreite der von der Stromversorgung gelieferten Spannung groß sein kann.
Die Lösung der gestellten Aufgabe ist im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 angegeben. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind den Unteransprüchen zu entnehmen.
Die direktgekoppelte Halbleiterlogikschaltung nach der Erfindung besitzt mehrere Schaltstufen, die mit Sperr-
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTeR
_—
-8-
schicht-Feldeffekttransistoren bestückt sind. Der Sperrschicht-Feldeffekttransistor einer Schaltstufe ist direkt mit dem Sperrschicht-Feldeffekttransistor der nächstfolgenden Schaltstufe verbunden.
5
Es ist eine Diode als Spannungs-Klemmelement vorgesehen, das die Ausgangsspannung einer Stufe, die zugleich die Eingangsspannung des Sperrschicht-Feldeffekttransistors der nachfolgenden Stufe darstellt, so festhält, daß sie unterhalb der Durchlaß- bzw. Durchbruchsspannung des pn-Übergangs der nachfolgenden Stufe bleibt.
In einer Halbleiterschaltung gemäß der vorliegenden Erfindung wird die Ausgangsspannung des J-FETs einer ersten Schaltstufe, die zugleich die Eingangsspannung des J-FETs einer zweiten Schaltstufe ist, auf eine Spannung unterhalb der Durchbruchsspannung eines pn-übergangs begrenzt, so daß ein Trägerspeichereffekt am J-FET der nachfolgenden Schaltstufe nicht auffällig in Erscheinung tritt, wenn die Spannung der Stromversorgung schwankt.
Die Zeichnung stellt Ausführungsbeispiele der Erfindung dar. Es zeigen:
Fig. 1 einen Schaltungsaufbau einer konventionellen
Halbleiterschaltung,
Fig. 2 ein Diagramm der Laufzeitverzögerung der
konventionellen Halbleiterschaltung in Abhängigkeit der Spannung VDD, und Fig. 3 und 4 Schaltungsaufbauten entsprechend einer
ersten und einer zweiten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Anmeldung.
Die Halbleiterschaltungen entsprechend der ersten und zweiten Ausführungsform der vorliegenden Anmeldung zur Anwendung bei zweistufigen Invertern werden anhand der Figuren 3 und 4 näher beschrieben.
ORIGINAL MZFZ27ED
TER MEER · MÜLLER · STEINM&STER* -
1^—"~ 54 T -
— Q —
Figur 3 zeigt die erste Ausführungsform der Halbleiterschaltung. Diese Schaltung kann praktisch genauso aufgebaut sein wie die konventionelle Schaltung nach Figur 1, außer daß die Basisanschlüsse der J-FETs 12 und 22 in Figur 3 mit einer festen (nicht dargestellten) Stromquelle über Schottky-Potentialdioden (SBD) 14 und 24 verbunden sind.
Wenn auch das Schottky-Potential etwas von der Art des Substrates abhängig ist, beträgt die Durchbruchsspannung Vf der SBDs 14 und 24 allgemein etwa 0,6 V. Wird eine höhere Spannung als 0,6 V in Durchlaßrichtung angelegt, fließt ein Strom durch die SBDs 14 und 24.
Bemißt man die Spannung VGG einer Stromversorgungsquelle auf etwa 1,4 V, so bleibt eine Eingangsspannung zum J-FET 22 von etwa 1,0 V erhalten, wenn nur die SBD 24 einen ausreichenden Strom übernimmt. Wenn also mit anderen Worten die Betriebsspannung VDD angewachsen ist und die Ausgangsspannung des J-FETs 12 1,0 V übersteigt, fließt der Strom durch die Diode SBD 24, so daß die Ausgangsspannung vom J-FET 12 als auch die Eingangsspannung vom J-FET 22 auf etwa 1,0 V konstant gehalten werden.
Es wird also erreicht, daß die Eingangsspannung des J-FETs 22 bei steigender Spannung VDD infolge der Spannung Vf des pn-übergangs heruntergeregelt wird. Der Trägerspeichereffekt am J-FET 22 tritt nicht mehr merklich in Erscheinung und die Laufzeitverzögerung *2*pd des Inverters 21 wird nicht erhöht.
Beim ersten Ausführungsbeispiel wird also der Gate-Anschluß
des J-FETs 12 mit der stabilisierten Stromversorgung über die SBD 14 verbunden. Immer wenn die Eingangsspannung des J-FETs 12 1,0 V übersteigt, wird soviel Strom durch die 3c SBD 14 fließen, daß die Eingangsspannung auf etwa 1,0 V geregelt wird. Als Folge davon tritt der Trägerspeicher- ..--«.-.■·* effekt im J-FET 12 nicht mehr merklich in Erscheinun§jf*föU^~ '""*"
TER MEER · MÜLLER · STEINM1EISTgR , v
-10-
so daß einem Anwachsen von «£pd des Inverters Il vorgebeugt wird.
Figur 4 zeigt eine zweite Ausführungsform der Schaltung nach der vorliegenden Anmeldung. Diese Schaltung ist genauso aufgebaut wie die Schaltung nach Figur 3, außer daß in Figur 4 keine stabilisierte Stromversorgungsquelle vorgesehen ist, und daß die SBDs 14 und 24 jeweils zwischen den Drain- und Gate-Anschlüssen der J-FETs 12 und 22 ig liegen. Der LOW(L)-Pegel einer Eingangsspannung am J-FET 12 beträgtr 0,2V und Vf der SBDs 14 und 24 0,7 V.
Wenn gemäß dieser zweiten Schaltung die Spannung VDD anwächst und die Ausgangsspannung des J-FETs 12 0,9 V übersteigt, so fließt ein Strom in SBD 14, so. daß die Ausgangsspannung am J-FET 12 bzw. die Eingangsspannung am J-FET 22 auf 0,9 V geregelt wird. Der Trägerspeichereffekt tritt nicht mehr nennenswert am J-FET 22 in Erscheinung, so daß die Laufzeitverzögerung 7pd des Inverters 21 nicht anwächst.
In der zweiten Ausführungsform liegt die Diode SBD 24 zwischen Drain- und Gate-Anschluß des J-FETs 22. Es fließt daher, wenn die Ausgangsspannung am J-FET 22 0,9 V übersteigt, ein Strom in SBD 24, um die Ausgangsspannung auf etwa 0,9 V zu halten.
Die Schaltung nach dem zweiten Ausführungsbeispiel benötigt keine stabilisierende Stromversorgung und begnügt sich mit einem wesentlich einfacheren Schaltungskonzept. Die Spannung Vf der SBDs 14 und 24 bestimmt direkt die Logikamplitude, d.h. die Differenz zwischen dem H-Pegel und dem L-Pegel. Um die Logikamplitude zu erhöhen, sollte man die Spannung Vf der SBDs 14 und 24 größer machen als 5 die, die oben beim ersten Ausführungsbeispiel beschrieben wurde.
TER MEER · MÜLLER · STEINMSSfgR"
-—-——
-11-
Wenn man die positive Spannung Vf der SBDs 14 und 24 erhöht, kann der Η-Pegel des J-FETs 12 so eingestellt werden, daß er etwa der Spannung Vf des pn-Übergangs entspricht, indem man den L-Pegel des J-FETs 12 erniedrigt und gleichzeitig die Spannung VDD erhöht. Es können also ohneErhöhung von "ipd die Arbeitspunkte festgelegt werden.
Der Η-Pegel am Ausgang des J-FETs 12 bzw. die Eingangsspannung des J-FETs 22 wird im ersten und im zweiten Ausführungsbeispiel geregelt. Immer wird der L-Pegel vom Verhältnis des Widerstandes 13 zu dem Widerstand des J-FETs 12 bestimmt. Daher kann der L-Pegel unabhängig vom H-Pegel festgelegt werden.
Im ersten und im zweiten Ausführungsbeispiel werden die SBDs 24 und 14 als Elemente zum Stabilisieren der Ausgangsspannung des J-FETs 12 und for schnelle Operationen der J-FETs 12 und 22 verwendet, wobei GaAs eingesetzt wird. Es können deshalb auch Flächendioden oder ähnliche Dioden an Stelle der SBDs 24 und 14 verwendet werden, wenn schnelle Operationen nicht erforderlich sind.
Die Widerstände 13 und 23 als passive Elemente werden im ersten und im zweiten Ausführungsbeispiel als Lastelemente für die Inverter 11 und 21 verwendet. Es können stattdessen auch aktive Elemente wie FETs usw. verwendet werden.
Erstes und zweites Ausführungsbeispiel der vorliegenden Anmeldung beziehen sich 'auf zweistufige Inverter. Die Erfindung kann außer auf Inverter auch auf andere Torschaltungen angewendet werden.
Wie oben gezeigt wurde, tritt bei der Halbleiterschaltung nach der vorliegenden Anmeldung der Trägerspeichereffekt bei einem J-FET einer nachfolgenden Schaltstufe nicht mehr nennenswert in Erscheinung, wenn die Spannung der Stromver-
TER MEER · MÜLLER · STEINMEIST ER
-12-
sorgung schwankt.
Da auch die Laufzeitverzögerung bei Änderung der Spannung der Stromquelle nicht anwächst, kann die Spannung der Stromquelle groß, in weiten Grenzen schwanken, was zu einem einfacheren Schaltungsaufbau führt.
- Leerseite -

Claims (9)

TER MEER-MÜLLER-STEINMEISTER PATENTANWÄLTE - EUROPEAN PATENT ATTORNEYS Dipl.-Chem. Dr. N. ter Meer Dipl. Ing. H. Steinmeister Dipl. Ing F. E. Müller Artur-Ladebeck-Strasse 51 Mauerkircherstrasse 45 D-8000 MÜNCHEN 80 D-4800 BIELEFELD 1 S85P348DE00 Mü/Ur/Dr.B/b 19. November 1985 SONY CORPORATION 7-35 Kitashinagawa 6-chome, Shinagawa-ku, Tokyo, Japan Direktgekoppelte Halbleiterlogikschaltung Priorität: 21. November 1984, Japan, Ser.No. 246842/84 (P) PATENTANSPRÜCHE
1. Halbleiterschaltung mit mehreren Schaltstufen, die jeweils einen Sperrschicht-Feldeffekttransistor aufweisen, die direkt miteinander gekoppelt sind, gekennzeichnet durch eine Klemmschaltung zur Klemmung einer als Eingangsspannung eines Sperrschicht-Feldeffekttransistors (22) einer nachfolgenden Schaltstufe (21) dienenden Ausgangsspannung eines Sperrschicht-Feldeffekttransistors (12) einer vorhergehenden Schaltstufe (11) auf einen Wert unterhalb der Durchlaßspannung eines pn-Übergangs der nachfolgenden Schaltstufe (21) .
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTciR
-2-
2. Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Klemmschaltung eine zwischen einem GATE-Anschluß des nachfolgenden Sperrschicht-Feldeffekttransistors (22) und einer spannungsstabilen Stromversorgungsquelle liegende Diode (24) enthält.
3. Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Klemmschaltung eine zwischen einem DRAIN-Anschluß und einem GATE-Anschluß des nachfolgenden Sperrschicht-Feldeffekttransistors (22) liegende Diode (24) enthält.
4. Halbleiterschaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß jede Schaltstufe einen Inverter enthält.
5. Halbleiterschaltung,
dadurch gekennzeichnet, daß
- ein erster Sperrschicht-Feldeffekttransistor (J-FET) (12) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand (13) mit einer ersten Spannugnsquelle (VDD) sowie mit dem gegenüberliegenden Ende des Kanals mit einer Referenzspannungsquelle verbunden ist,
- ein zweiter J-FET (22) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand (23) mit derselben ersten Spannungsquelle (VDD) sowie mit dem gegenüberliegenden ■ Ende seines Kanals mit derselben Referenzspannungsquelle verbunden ist, wobei ein Ausgangssignal über dem Lastwiderstand (23) des zweiten J-FETs (22) abgenommen wird,
- das GATE des zweiten J-FETs (22) direkt mit der Verbindungsleitung zwischen dem Lastwiderstand (13) und dem ersten J-FET (12) verbunden ist,
- das GATE des ersten J-FETs (12) den Eingang der Schaltung darstellt, und daß
- je eine Schottky-Potentialdiode (14 und 24) mit ihrer Anode mit dem GATE des ersten (12) bzw. des zweiten (22)
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTER
_ «—^ _ : 3541 Ü3ö
-3-
J-FETs und mit ihrer Kathode mit einer zweiten Spannungsquelle (VGG) verbunden ist, deren Potential höher als das Referenzpotential der Referenzspannungsquelle ist.
6. Halbleiterschaltung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die Durchlaßspannung der Schottky-Potentialdiode in Durchlaßrichtung etwa 0,6 Volt und die Spannung der zweiten Spannungsquelle etwa 0,4 Volt gegenüber dem Referenzpotential beträgt.
7. Halbleiterschaltung,
dadurch gekennzeichnet, daß
- ein erster Sperrschicht-Feldeffekttransistor (J-FET) (12) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand
(13) mit einer ersten Spannungsquelle (VDD) und mit dem gegenüberliegenden Ende des Kanals mit einer Referenzspannungsquelle verbunden ist,
- ein zweiter J-FET (22) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand (23) mit derselben ersten Spannungsquelle (VDD) und mit dem gegenüberliegenden Ende des Kanals mit derselben Referenzspannungsquelle verbunden ist, wobei ein Ausgangssignal über dem Lastwiderstand (23)
des zweiten J-FET (22) abgenommen wird,
- das GATE des zweiten J-FETs direkt mit der Verbindungsleitung zwischen dem Lastwiderstand (13) und dem ersten J-FET (12) verbunden ist,
- das GATE des ersten J-FETs (12) den Eingang der Schaltung darstellt, und daß
- je eine Schottky-Potentialdiode (14 und 24) mit ihrer Kathode mit dem GATE des ersten (12) bzw. zweiten (22) J-FETs und mit ihrer Anode mit dem anderen Ende des Kanals des jeweiligen J-FETs verbunden ist.
TER MEER ■ MÜLLER · STEINMEISTER ·
-4-
8. Halbleiterschaltung,
dadurch gekennzeichnet, daß
- ein erster Sperrschicht-Feldeffekttransistor (J-FET) (12) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand
(13) mit einer ersten Spannungsquelle (VDD) und mit dem gegenüberliegenden Ende des Kanals mit einer Referenzspannungs— quelle verbunden ist,
- ein zweiter J-FET (22) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand (23) mit derselben ersten Spannungsquelle (VDD) und mit dem gegenüberliegenden Ende seines Kanals mit derselben Referenzspannungsquelle verbunden ist, wobei ein Ausgangssignal über dem Lastwiderstand (23) des zweiten J-FET abgenommen wird,
- das GATE des zweiten J-FETs direkt mit der Verbindungsleitung zwischen dem Lastwiderstand (13) und dem ersten J-FET (12) verbunden ist,
- das GATE des ersten J-FETs (12) den Eingang der Schaltung darstellt, und daß
- je eine Diode (14 und 24) mit ihrer Anode mit dem GATE des ersten (12) bzw. zweiten (22) J-FETs und ihre Kathode mit einer zweiten Spannungsquelle verbunden ist, um dadurch die Eingangsspannung zwischen dem GATE und dem gegenüberliegenden Ende des Kanals des zweiten J-FETs (22) auf etwa 1 Volt zu stabilisieren.
9. Halbleiterschaltung,
dadurch gekennzeichnet, daß
- ein erster Sperrschicht-Feldeffekttransistor (J-FET) (12) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand (13) mit einer ersten Spannungsquelle und mit dem gegenüberliegenden Ende seines Kanals mit einer Referenzspannungsquelle verbunden ist,
- ein zweiter J-FET (2 2) mit dem einen Ende seines Kanals über einen Lastwiderstand mit der ersten Spannungsquelle (VDD) und mit dem gegenüberliegenden Ende seines Kanals mit der Referenzspannungsquelle verbunden ist, wobei ein Ausgangssignal über dem Lastwiderstand des zweiten J-FETs
TER MEER · MÜLLER · STEINM£ISTPR Γ
-— 1
-5-
abgenommen wird,
- das GATE des zweiten J-FETs direkt mit der Verbindungsleitung zwischen dem Lastwiderstand (13) und dem ersten J-FET (12) verbunden ist,
- das GATE des ersten J-FETs den Eingang der Schaltung
darstellt, und daß
-je eine Diode (14 und 24) mit ihrer Kathode mit dem GATE des ersten (12) bzw. zweiten (22) J-FETs und ihre Anode mit dem gegenüberliegenden Ende des jeweiligen Kanals verbunden ist, um dadurch die Eingangsspannung zwischen dem GATE und dem gegenüberliegenden Ende des zweiten J-FETs (22) auf ungefähr 0,9 Volt zu stabilisieren.
DE3541038A 1984-11-21 1985-11-19 Direktgekoppelte Halbleiterlogikschaltung Expired - Fee Related DE3541038C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59246842A JPS61125224A (ja) 1984-11-21 1984-11-21 半導体回路装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3541038A1 true DE3541038A1 (de) 1986-06-05
DE3541038C2 DE3541038C2 (de) 1993-12-09

Family

ID=17154512

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3541038A Expired - Fee Related DE3541038C2 (de) 1984-11-21 1985-11-19 Direktgekoppelte Halbleiterlogikschaltung

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4752701A (de)
JP (1) JPS61125224A (de)
KR (1) KR940002771B1 (de)
CN (1) CN1004912B (de)
CA (1) CA1267701A (de)
DE (1) DE3541038C2 (de)
FR (1) FR2573591B1 (de)
GB (1) GB2167916B (de)
NL (1) NL193599C (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4798972A (en) * 1987-03-03 1989-01-17 Digital Equipment Corporation Apparatus and method for capacitor coupled complementary buffering
DE3835119A1 (de) * 1988-10-14 1990-04-19 Siemens Ag Leistungsverstaerkerschaltung fuer integrierte digitalschaltungen
US4987318A (en) * 1989-09-18 1991-01-22 International Business Machines Corporation High level clamp driver for wire-or buses
US5008565A (en) * 1990-01-23 1991-04-16 Triquint Semiconductor, Inc. High-impedance FET circuit
JPH089738B2 (ja) * 1991-04-05 1996-01-31 川崎製鉄株式会社 バックリング発生予測装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3325873A1 (de) * 1983-07-18 1985-01-31 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Logik-schaltungsanordnung
DE3441306A1 (de) * 1984-11-12 1986-05-15 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Logikschaltung fuer die invertierte exklusiv-oder-funktion in galliumarsenid-technik

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3157795A (en) * 1964-11-17 Figure
US3742250A (en) * 1971-04-07 1973-06-26 Signetics Corp Active region logic circuit
JPS52146274A (en) * 1976-05-31 1977-12-05 Toshiba Corp Output circuit
GB1572797A (en) * 1977-01-05 1980-08-06 Texas Instruments Ltd High speed high density logic
JPS5447471A (en) * 1977-09-21 1979-04-14 Hitachi Ltd Electronic circuit
JPS5762632A (en) * 1980-10-02 1982-04-15 Nec Corp Logical circuit using gate junction type field effect transistor
US4423339A (en) * 1981-02-23 1983-12-27 Motorola, Inc. Majority logic gate
DE3276988D1 (en) * 1981-09-30 1987-09-17 Toshiba Kk Logic circuit operable by a single power voltage
JPS58114528A (ja) * 1981-12-26 1983-07-07 Toshiba Corp GaAs論理集積回路
JPS59231921A (ja) * 1983-06-15 1984-12-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電界効果トランジスタを用いた論理回路

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3325873A1 (de) * 1983-07-18 1985-01-31 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Logik-schaltungsanordnung
DE3441306A1 (de) * 1984-11-12 1986-05-15 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Logikschaltung fuer die invertierte exklusiv-oder-funktion in galliumarsenid-technik

Also Published As

Publication number Publication date
KR870001672A (ko) 1987-03-17
NL8503124A (nl) 1986-06-16
NL193599C (nl) 2000-03-02
US4752701A (en) 1988-06-21
GB2167916B (en) 1988-07-13
NL193599B (nl) 1999-11-01
CN85108261A (zh) 1986-05-10
DE3541038C2 (de) 1993-12-09
FR2573591B1 (fr) 1992-06-05
JPS61125224A (ja) 1986-06-12
CN1004912B (zh) 1989-07-26
GB8527128D0 (en) 1985-12-11
FR2573591A1 (fr) 1986-05-23
CA1267701A (en) 1990-04-10
GB2167916A (en) 1986-06-04
KR940002771B1 (ko) 1994-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2509530C2 (de) Halbleiteranordnung für die Grundbausteine eines hochintegrierbaren logischen Halbleiterschaltungskonzepts basierend auf Mehrfachkollektor-Umkehrtransistoren
DE19946154A1 (de) Spannungsgesteuerter Niedervolt-Oszillator mit geringer Schwankungsbreite
DE3009447A1 (de) Integrierter cmos-halbleiterbaustein
DE2555297A1 (de) Digitalschaltung mit feldeffekttransistoren
DE2751881A1 (de) Monolithische digitale halbleiterschaltung mit mehreren bipolartransistoren
DE2745290A1 (de) Integriertes speicherfeld
DE2154904A1 (de) Bezugsspannungsquelle
DE3838962C2 (de)
DE2929921A1 (de) Halbleiterbauteil mit einem dreiplattigen kondensator
DE2809966C2 (de) Feldeffekttransistorschaltung mit verbesserten Betriebseigenschaften
DE2828325A1 (de) Emittergekoppelte logikstufe
DE2934641A1 (de) Schaltungsanordnung zur steuerung der sperrvorspannung von halbleiterbauelementen
DE2416534A1 (de) Komplementaer-symmetrische verstoerkerschaltung
DE2136061A1 (de) Stromverstarkerschaltung
DE3541038C2 (de) Direktgekoppelte Halbleiterlogikschaltung
DE2925008A1 (de) Integrierte strom-treiberschaltung
DE2852200C2 (de)
EP0057351A2 (de) Schaltung zum Angleichen der Signalverzögerungszeiten von miteinander verbundenen Halbleiterschaltungen
EP0040816B1 (de) Zweirichtungsthyristor
DE1537185A1 (de) Amplitudenfilter
DE2657293A1 (de) Transistorschaltung
DE3206060A1 (de) Halbleiteranordnung
DE2753882C2 (de) Digitale integrierte Schaltung
DE3501985C2 (de)
DE3637818C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8328 Change in the person/name/address of the agent

Free format text: PATENTANWAELTE MUELLER & HOFFMANN, 81667 MUENCHEN

8339 Ceased/non-payment of the annual fee