DE3319984A1 - Automatische korrektureinrichtung fuer ein roentgenstrahl-fluoreszenz-analysegeraet - Google Patents

Automatische korrektureinrichtung fuer ein roentgenstrahl-fluoreszenz-analysegeraet

Info

Publication number
DE3319984A1
DE3319984A1 DE19833319984 DE3319984A DE3319984A1 DE 3319984 A1 DE3319984 A1 DE 3319984A1 DE 19833319984 DE19833319984 DE 19833319984 DE 3319984 A DE3319984 A DE 3319984A DE 3319984 A1 DE3319984 A1 DE 3319984A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
ray
ray radiation
shutter
guide channel
automatic correction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19833319984
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Toshiyuki Tokyo Koga
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Daini Seikosha Co Ltd Tokyo
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daini Seikosha Co Ltd Tokyo, Seiko Instruments Inc filed Critical Daini Seikosha Co Ltd Tokyo
Publication of DE3319984A1 publication Critical patent/DE3319984A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076—X-ray fluorescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
DE19833319984 1982-06-03 1983-06-01 Automatische korrektureinrichtung fuer ein roentgenstrahl-fluoreszenz-analysegeraet Withdrawn DE3319984A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8282382U JPS58184655U (ja) 1982-06-03 1982-06-03 Ｘ線自動較正装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3319984A1 true DE3319984A1 (de) 1983-12-08

Family

ID=13785118

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19833319984 Withdrawn DE3319984A1 (de) 1982-06-03 1983-06-01 Automatische korrektureinrichtung fuer ein roentgenstrahl-fluoreszenz-analysegeraet

Country Status (6)

Country Link
JP (1) JPS58184655U (enrdf_load_stackoverflow)
DE (1) DE3319984A1 (enrdf_load_stackoverflow)
FR (1) FR2528266B1 (enrdf_load_stackoverflow)
GB (1) GB2121168B (enrdf_load_stackoverflow)
HK (1) HK73390A (enrdf_load_stackoverflow)
NL (1) NL8301987A (enrdf_load_stackoverflow)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3731973A1 (de) * 1987-09-23 1989-04-13 Helmut Fischer Gmbh & Co Vorrichtung zur stabilisierung fuer roentgenfluoreszenzschichtdicken-messgeraete und verfahren hierzu
JPH0744967Y2 (ja) * 1988-11-17 1995-10-11 セイコー電子工業株式会社 蛍光ｘ線膜厚計
FR2721789A1 (fr) * 1994-06-24 1995-12-29 Ge Medical Syst Sa Appareil d'irradiation comprenant des moyens de mesure de l'exposition.
EP0781992B1 (en) * 1995-12-21 2006-06-07 Horiba, Ltd. Fluorescence X-ray analyzer
JP5839284B2 (ja) * 2012-05-01 2016-01-06 アースニクス株式会社 γ線反射型計測装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2844704A1 (de) * 1977-10-17 1979-04-26 Bausch & Lomb Verfahren und vorrichtung fuer eine roentgenanalyse von materialproben
EP0014580A1 (en) * 1979-02-09 1980-08-20 Martin Marietta Corporation Element analysis unit
DE3137186A1 (de) * 1980-09-22 1982-05-06 Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo Roentgenfluoreszenz-messeinrichtung

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1285885A (en) * 1968-11-07 1972-08-16 Atomic Energy Authority Uk Improvements in or relating to nephelometers

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2844704A1 (de) * 1977-10-17 1979-04-26 Bausch & Lomb Verfahren und vorrichtung fuer eine roentgenanalyse von materialproben
EP0014580A1 (en) * 1979-02-09 1980-08-20 Martin Marietta Corporation Element analysis unit
DE3137186A1 (de) * 1980-09-22 1982-05-06 Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo Roentgenfluoreszenz-messeinrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
FR2528266A1 (fr) 1983-12-09
JPH0328400Y2 (enrdf_load_stackoverflow) 1991-06-18
NL8301987A (nl) 1984-01-02
FR2528266B1 (fr) 1988-07-08
GB2121168B (en) 1986-02-19
GB2121168A (en) 1983-12-14
HK73390A (en) 1990-09-21
JPS58184655U (ja) 1983-12-08
GB8315135D0 (en) 1983-07-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69323532T2 (de) Leser von optischen Informationen
DE2436110B2 (de) Vorrichtung zur Feststellung von Herstellungsfehlern in einer bewegten Materialbahn
DE1810188A1 (de) Verfahren zur Abstandsbestimmung auf optischem Wege
DE2333326B2 (de) Einrichtung zum Messen der Dicke eines auf einer Unterlage abgelagerten dünnen Films
DE2640359A1 (de) Geraet zur opazitaetspruefung von prueflingen, insbesondere durch roentgenstrahlen
DE3311954A1 (de) Zweistrahliges spektralfotometer
DE2848743A1 (de) Verfahren zur feststellung einer schwaechungslinie in einer ampulle
DE1189756B (de) Absorptions-Vergleichsvorrichtung, insbesondere Gasanalysator
DE3133698A1 (de) Verfahren und einrichtung zur feststellung der anfangslage eines vergroesserungsrahmens und eines objektivs
DE3319984A1 (de) Automatische korrektureinrichtung fuer ein roentgenstrahl-fluoreszenz-analysegeraet
DE3937715A1 (de) Mit roentgenstrahlfluoreszenz arbeitendes duennschicht-dickenmessgeraet
DE2717064A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur probennahme und messung einer eigenschaft von fliessendem granulat
EP1605828A1 (de) Röntgengerät
DE2747591C2 (de) Vorrichtung zur Kennzeichnung von Röntgenfilmen
DE1245174B (de) Vorrichtung zur Roentgenstrahlen-fluoreszenzanalyse eines Werkstoffes
DE1280580B (de) Verfahren zur Bestimmung des relativen Brechnungsindex von lichtdurchlaessigen Stoffen in bezug auf ein Medium mit bekanntem Brechungsindex
DE3211956C2 (de) Strahlungsdetektoranordnung
DE1598420B2 (de) Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der menge an freiem ungeloestem wasser in einer fluessigkeit
EP0418587B1 (de) Gerät zur Messung der Strahlendosis eines Fluoreszenzglasdosimeters
DE2426794A1 (de) Einrichtung zur strahlungsfeststellung und verfahren zur feststellung des vorhandenseins eines interessierenden elementes in einer probe
DE2556677A1 (de) Verfahren zur diskriminierung gegenueber den einfluessen von artefakten bei optischen untersuchungen unter ausnutzung von streuung und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
DE3212845A1 (de) Roentgenfluoreszenz-messeinrichtung
DE102009060020A1 (de) Kassette für eine Speicherfolie, Speicherfolie zur Verwendung mit einer solchen, Gerät zum Auslesen einer Speicherfolie, Untersuchungsgerät mit einer derartigen Kassette und Verfahren zum Aufnehmen von panographischen Bildern
DE2364081C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Klassifizieren von Reifen
DE2412658C3 (de) Vorrichtung zur Untersuchung eines Körpers mittels den Körper durchdringender Strahlen

Legal Events

Date Code Title Description
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: SEIKO INSTRUMENTS AND ELECTRONICS LTD., TOKIO, JP

8110 Request for examination paragraph 44
8120 Willingness to grant licences paragraph 23
8130 Withdrawal