FR2528266A1 - Dispositif de correction automatique de rayons x - Google Patents
Dispositif de correction automatique de rayons x Download PDFInfo
- Publication number
- FR2528266A1 FR2528266A1 FR8308504A FR8308504A FR2528266A1 FR 2528266 A1 FR2528266 A1 FR 2528266A1 FR 8308504 A FR8308504 A FR 8308504A FR 8308504 A FR8308504 A FR 8308504A FR 2528266 A1 FR2528266 A1 FR 2528266A1
- Authority
- FR
- France
- Prior art keywords
- rays
- ray
- shutter
- correction
- designates
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
L'INVENTION CONCERNE LES DISPOSITIFS A RAYONS X. UN DISPOSITIF DE CORRECTION AUTOMATIQUE DE RAYONS X COMPREND NOTAMMENT UN TUBE A RAYONS X 21, UNE PLAQUE DE REFERENCE DE CORRECTION 22, UN DETECTEUR DE RAYONS X 24, UN PREMIER PASSAGE DE GUIDAGE 26 QUI GUIDE DES RAYONS X DU TUBE VERS LA PLAQUE DE REFERENCE, UN SECOND PASSAGE DE GUIDAGE 23 QUI GUIDE DES RAYONS X DE FLUORESCENCE DE LA PLAQUE DE REFERENCE VERS LE DETECTEUR 24, UN TROISIEME PASSAGE DE GUIDAGE 27 QUI GUIDE DES RAYONS X DU TUBE VERS UN ECHANTILLON 28, UN OBTURATEUR 29 ET UN CAPTEUR DE POSITION 30 POUR L'OBTURATEUR. APPLICATION AUX DISPOSITIFS DE CONTROLE DE MATIERES.
Description
La présente invention concerne un dispositif à rayons X comportant des
moyens de correction pour corriger une irrégularité de l'intensité et de l'amplitude de rayons X,
et en particulier pour corriger une irrégularité de lintensi-
té et de l'amplitude des rayons X pendant qu'un obturateur est fermé. Dans un dispositif de type classique représenté sur la figure 1, la référence 1 désigne un tube à rayons X, la référence 2 désigne un détecteur de rayons X, la référence 3 désigne une partie ouverte du détecteur de rayons X,2, la référence 4 désigne un passage de guidage pour le détecteur de rayons X, 2, la référence 5 désigne un obturateur, la référence 6 désigne un échantillon de matière, la référence 7
désigne un discriminateur d'amplitude, la référence 8 dési-
gne un temporisateur de cadrage et la référence 9 désigne des moyens de correction automatique de rayons X Des rayons X provenant du tube à rayons X, 1, sont guidés directement vers le détecteur de rayons X, 2, par le passage de guidage 4, grâce à quoi on corrige des valeurs d'intensité et d'amplitude des rayons X en détectant les rayons X qui proviennent du tube à rayons X, 1 Cependant, des rayons X de correction
sont appliqués au détecteur de rayons X, 2, lorsque le fonc-
tionnement se poursuit pendant l'ouverture de l'obturateur , ce qui fait qu'un spectre de rayons X est superposé à un
spectre de l'échantillon.
L'invention vise à éliminer la difficulté et le défaut précités, et le but de l'invention est de procurer des
moyens pour guider des rayons X de fluorescence, de correc-
tion, vers un détecteur de rayons X uniquement pendant une
durée de non fonctionnement, c'est-à-dire lorsqu'un obtura-
teur est fermé.
L'invention sera mieux comprise à la lecture de la
description qui va suivre d'un mode de réalisation et en se
référant aux dessins annexés sur lesquels:
La figure 1 montre la structure classique d'un dis-
positif automatique de correction de rayons X,
La figure 2 est une coupe d'un dispositif automati-
que de correction de rayons X qui correspond à l'in-
vention. La figure 3 est une représentation correspondant à une rotation de 900 de la figure 2, et La figure 4 est un schéma synoptique du dispositif
de l'invention.
Sur les figures 2 et 3, la référence 21 désigne un
tube à rayons X, la référence 22 désigne une plaque de réfé-
rence de correction, la référence 23 désigne un second passa-
ge de guidage destiné à guider des rayons X de fluorescence de la plaque de référence de correction 23 vers le détecteur de rayons X,24, la référence 25 désigne une partie ouverte
du détecteur de rayons X, 24, la référence 26 désigne un pre-
mier passage de guidage destiné à guider des rayons X prove-
nant du tube à rayons X, 21, vers la plaque de référence de correction 22, la référence 27 désigne un troisième passage de guidage destiné à guider des rayons X provenant du tube à rayons X, 21, vers un échantillon de matière 28, la référence 29 désigne un obturateur et la référence 30 désigne un
capteur de position pour l'obturateur 29.
Dans ce mode de réalisation de l'invention, des rayons X provenant du tube à rayons X sont projetés vers la
plaque de référence de correction 22 en passant par le passa-
ge de guidage 26, pendant que l'obturateur 29 est fermé, la
plaque de référence de correction 22 est déplacée en compa-
gnie de l'obturateur 29 vers une autre position qui est éloi-
gnée de l'axe des rayons X, puis le troisième passage de gui-
dage 27 est déplacé et positionné sur l'échantillon de matiè-
re 28, dans la position dans laquelle se trouve la plaque de
référence de correction dans la description faite ci-dessus,
lorsque l'obturateur 29 est fermé, grâce à quoi l'échantil-
lon de matière 28 est irradié par des rayons X. La position de l'obturateur 29 est détectée par un
capteur de position, et ce dispositif à rayons X n'est main-
tenu dans un mode de correction que pendant que l'obturateur 29 est fermé Sur la figure 4, la référence 31 désigne un
discriminateur d'amplitude, la référence 32 désigne un tempo-
risateur de cadrage et la référence 33 désigne des moyens de
correction automatiques.
Des rayons X qui sont détectés par le détecteur de
rayons X, 24, sont appliqués sous la forme d'un signal élec-
trique au discriminateur d'amplitude 31, et le signal de sor-
tie du discriminateur d'amplitude 31 est compté par le tem-
porisateur de cadrage et est appliqué aux moyens de correc-
tion automatiques 33, grâce à quoi une correction automatique
des rayons X est effectuée.
Conformément à l'invention, des rayons X de correc-
tion ne sont appliqués à un détecteur de rayons X que pen-
dant qu'un obturateur est fermé, grâce à quoi les rayons X de correction n'affectent pas une opération de mesure d'un
échantillon de matière, et il est possible de corriger auto-
matiquement l'intensité des rayons X et leur valeur d'ampli-
tude.
Il va de soi que de nombreuses modifications peuvent être apportées au dispositif décrit et représenté,
sans sortir du cadre de l'invention.
Claims (1)
- REVENDICATIONDispositif de correction automatique de rayons X, caractérisé en ce qu'il comprend, en combinaison: un tube à rayons X; un collimateur qui collimate un faisceau de rayons X provenant du tube à rayons X; un obturateur qui commande ce faisceau de rayons X; un détecteur de rayons X qui détecte des rayons X de fluorescence; un discriminateur d'amplitude; un temporisateur de cadrage; une plaque deréférence de correction qui peut être placée dans l'-obtura-teur, contre le tube à rayons X, pour corriger automatique-ment une irrégularité de l'intensité et de l'amplitude des rayons X lorsque l'obturateur est fermé; un premier passage de guidage dans l'obturateur, qui rayonne les rayons X vers la plaque de correction; et un second passage de guidage qui est relié au premier passage de guidage pour guider des rayons X de fluorescence depuis la plaque de référence de correction vers le détecteur de rayons X, et qui est placédans l'obturateur.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8282382U JPS58184655U (ja) | 1982-06-03 | 1982-06-03 | Ｘ線自動較正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2528266A1 true FR2528266A1 (fr) | 1983-12-09 |
| FR2528266B1 FR2528266B1 (fr) | 1988-07-08 |
Family
ID=13785118
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR8308504A Expired FR2528266B1 (fr) | 1982-06-03 | 1983-05-24 | Dispositif de correction automatique de rayons x |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58184655U (fr) |
| DE (1) | DE3319984A1 (fr) |
| FR (1) | FR2528266B1 (fr) |
| GB (1) | GB2121168B (fr) |
| HK (1) | HK73390A (fr) |
| NL (1) | NL8301987A (fr) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2210161B (en) * | 1987-09-23 | 1992-03-25 | Helmut Fischer Gmbh & Co | Apparatus for stabilization for x-ray fluorescence layer thickness measuring instruments and process therefor |
| JPH0744967Y2 (ja) * | 1988-11-17 | 1995-10-11 | セイコー電子工業株式会社 | 蛍光ｘ線膜厚計 |
| FR2721789A1 (fr) * | 1994-06-24 | 1995-12-29 | Ge Medical Syst Sa | Appareil d'irradiation comprenant des moyens de mesure de l'exposition. |
| EP0781992B1 (fr) * | 1995-12-21 | 2006-06-07 | Horiba, Ltd. | Appareil d'analyse de fluorescence à rayons X |
| JP5839284B2 (ja) * | 2012-05-01 | 2016-01-06 | アースニクス株式会社 | γ線反射型計測装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1285885A (en) * | 1968-11-07 | 1972-08-16 | Atomic Energy Authority Uk | Improvements in or relating to nephelometers |
| US4134012A (en) * | 1977-10-17 | 1979-01-09 | Bausch & Lomb, Inc. | X-ray analytical system |
| AU528079B2 (en) * | 1979-02-09 | 1983-04-14 | Martin Marietta Corp. | Element analysis unit |
| JPS5758300U (fr) * | 1980-09-22 | 1982-04-06 |
-
1982
- 1982-06-03 JP JP8282382U patent/JPS58184655U/ja active Granted
-
1983
- 1983-05-24 FR FR8308504A patent/FR2528266B1/fr not_active Expired
- 1983-06-01 DE DE19833319984 patent/DE3319984A1/de not_active Withdrawn
- 1983-06-02 GB GB8315135A patent/GB2121168B/en not_active Expired
- 1983-06-03 NL NL8301987A patent/NL8301987A/nl not_active Application Discontinuation
-
1990
- 1990-09-13 HK HK73390A patent/HK73390A/xx unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3319984A1 (de) | 1983-12-08 |
| JPS58184655U (ja) | 1983-12-08 |
| HK73390A (en) | 1990-09-21 |
| JPH0328400Y2 (fr) | 1991-06-18 |
| FR2528266B1 (fr) | 1988-07-08 |
| GB8315135D0 (en) | 1983-07-06 |
| NL8301987A (nl) | 1984-01-02 |
| GB2121168B (en) | 1986-02-19 |
| GB2121168A (en) | 1983-12-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0157688B1 (fr) | Installation de radiologie à filtre compensateur | |
| EP0685201B1 (fr) | Appareil de radiodiagnostic comportant un scintillateur avec un capteur à transfert de charge | |
| EP0165850B1 (fr) | Procédé de contrôle de la position du foyer d'un tube raduogène, et dispositif de contrôle mettant en oeuvre ce procédé | |
| EP0760476A3 (fr) | Procédé de détermination quantitative d'une ou plusieurs caractéristiques d'une substance | |
| FR2528266A1 (fr) | Dispositif de correction automatique de rayons x | |
| US5684599A (en) | Wafer notch dimension measuring apparatus | |
| CH617512A5 (fr) | ||
| EP0959353A3 (fr) | Calibrateur pour appareil de mesure non-destructive de la transmission optique | |
| FR2477826A1 (fr) | Appareil de radiodiagnostic comportant des moyens pour former un signal de transparence | |
| EP0227861A1 (fr) | Procédé de mesure d'une grandeur physique fournissant des données numériques à partir de dispositifs de mesure de valeurs analogiques et appareil de mesure appliquant ce procédé | |
| WO2018150135A1 (fr) | Procédé d'étalonnage d'un spectromètre gamma et dispositif permettant un tel étalonnage | |
| FR2594288A1 (fr) | Procede pour photographier un objet au moyen d'un appareil panoramique a rayons x muni d'un dispositif d'exposition automatique | |
| FR2797961A1 (fr) | Dispositif et procede de mesure d'intensite lumineuse a l'aide d'un photomultiplicateur comportant une source de calibrage | |
| FR2503351A1 (fr) | Dispositif de mesure d'epaisseur de couche mince par un rayonnement x de fluorescence | |
| FR2533794A1 (fr) | Dispositif de correction automatique de rayons x | |
| FR3099832A1 (fr) | Collimateur tournant pour un système de détection de rayons X | |
| JPS58103646A (ja) | 放射測定の較正のための方法および装置 | |
| FR2824922A1 (fr) | Correction de distorsion d'un intensificateur d'image | |
| JPH06273330A (ja) | 濁度測定装置 | |
| EP0008264A1 (fr) | Procédé de centrage automatique d'un objet à examiner dans un tomodensitomètre à faisceau en éventail, et tomodensitomètre adapté à ce procédé | |
| JPS56168532A (en) | Automatic calibration device for light scattering fine grain meter | |
| JPH0443222B2 (fr) | ||
| US3187168A (en) | Integrator | |
| JP2001027601A (ja) | 赤外線ガス分析計 | |
| JPS647320Y2 (fr) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| ST | Notification of lapse |