DE3041223A1 - Photopolymerisierbares gemisch und seine verwendung - Google Patents
Photopolymerisierbares gemisch und seine verwendungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft Photoresistmassen zur Verwendung
für die Herstellung von Isolierplatten für gedruckte Schaltungen, lithographischen Druckformen, Reliefbildern
und für verschiedene andere Anwendungen in der graphisehen Technik. Die Erfindung ist insbesondere auf Photoresistmassen
gerichtet, die verbesserte Hafteigenschaften sowohl an mit Lösungsmitteln als auch mit Wasser
entwickelbaren Filmen aufweisen, so daß sie dem chemischen Angriff und anderen Arten von schädigenden Einflüssen
während des Ätzens, Galvanisierens oder anderer Verarbeitung in beliebiger bekannter Weise widerstehen.
Ein weitgehend angewandtes Verfahren für die Herstellung von Photoresists besteht aus den folgenden Arbeitsgängen:
1) Ein photopolymerisierbares Gemisch wird auf ein Verbundmaterial
aus einer Kupferfolie, die auf eine Phenolharz- oder Epoxyharzplatte durch Heißfixieren
aufgebracht worden ist, laminiert.
2) Das Laminat wird dann bildmäßig mit aktinischem Licht durch ein Transparent, das mit einem Prüfbild in
Berührung ist, belichtet.
3) Nach der Belichtung werden die unbelichteten, biegsamen und nachgiebigen Teile des polymerisierbaren Gemisches
entfernt oder mit einem geeigneten Lösungsmittel ausgewaschen, wodurch die darunter liegende Kupferschicht
freigelegt wird.
4) Die freigelegte Kupferschicht wird während einer solchen langen Zeit weggeätzt, daß die gewünschte Ätztiefe
im Laminat gebildet wird. Als Alternative wird die gemusterte Metalloberfläche mit einem Metall, z.B.
Kupfer, Nickel, Zinn, Chrom, Silber oder Gold plattiert,
das in den Bereichen, die durch das polymerisierte
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Resist nicht geschützt sind/ abgeschieden wird. Wenn
eine genügende Menge des Metalls abgeschieden worden ist, wird-das Laminat einer Behandlung unterworfen,
durch die die Resistmaske vom Laminat abgestreift werden kann, wodurch ein Teil erhalten wird, das eine
geätzte oder' plattierte Gestalt aufweist, die dem Bild der Schablone oder des Negativs entspricht, durch
das der Film zu Beginn belichtet wurde.
Es ist besonders wichtig, daß die Photoresistmassen, die verwendet werden, um bestimmte Bereiche des zu galvanisierenden
oder zu ätzenden Laminats zu schützen, chemisch inert und gegen aggressive Ätz- oder "Plattierlösungen
beständig sind, um plattierte oder geätzte Bildelemente zu erhalten, die scharflinig gezeichnet sind und ein
minimales Maß von Unterschneidung d.3x an die maskierten
Kanten angrenzenden Oberfläche aufweisen. Es ist ebenso wichtig, daß die Resistmassen gute Haftfestigkeit am
Kupferlaminat insbesondere während des . Plattier- oder ÄtzVorgangs aufweisen, um das Eindringen von Ätzmittel
oder plattierlösung zwischen Resist und Trägerplatte
zu verhindern und etwaiges Ätzen, Drucken oder Plattieren des Bereichs oder des Teils unterhalb des Resists,
das ihn abdeckt, zu vermeiden. Eine weitere Voraussetzung, die ein gutes Photoresistmaterial erfüllen muß, besteht
darin, daß es nach dem Plattier- oder Ätzvorgang
leicht von der Oberfläche abgestreift werden kann.
Umfangreiche Forschungsarbeiten sind der Entwicklung von chemisch inerten Photoresistmassen, die die vorstehend
beschriebenen Eigenschaften aufweisen, gewidmet worden, jedoch mit wenig Erfolg, denn die meisten zur Zeit verfügbaren
Produkte erfüllen nicht die Voraussetzungen hinsichtlich der Beständigkeit gegen gewisse Arten von Plattier- '
und Ätzbädern. In den meisten Fällen beeinträchtigen die verwendeten aggressiven Ätz- und Plattierlösungen das
Photoresist ernsthaft in einem solchen Maße, daß die
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gesamte Resistschicht oder Teile davon sich loslösen oder in anderer Weise zerstört werden, oder beim Plattierprozeß
löst sich das elektrolytisch oder stromlos abgeschiedene Metall von der Laminatoberfläche und wird hinweggewaschen.
Das gewünschte gedruckte Bild oder Muster wird hierbei narbig, verkratzt, verfärbt oder mit Lichthöfen
versehen. Die meisten bekannten Verfahren erfordern die Verwendung einer Persulfat-Ätzung nach dem Ätzen oder
stromlosen Plattieren zur Entfernung der Photoresistmaske. Durch diese Behandlung wird nicht nur der Photoresistfilm
entfernt, sondern auch ein Teil des abgeschiedenen Kupfers gelöst. Der Verlust von Kupfer muß daher
ausreichend berücksichtigt werden, so daß die gewünschte Tiefe der Kupferplattxerung erhalten wird. Ferner hat
diese Behandlung mit Persulfat Vernarbung und Verunstaltung der Metalloberfläche zur Folge, so daß sie für
Isolierplatten von gedruckten Schaltungen oder lithographische Druckplatten u.dgl. unbrauchbar wird.
Die bekannten photopolymerisierbaren Gemische enthalten häufig geringe Mengen eines Farbstoffs, der zwei Zwecken
dient: 1) Der Farbstoff verleiht dem Gemisch eine Farbe, die im Resistbild erhalten bleibt und in dieser Weise
die Sichtbarkeit und Prüfung auf Fehler des Bildes auf der Druckplatte vor dem Plattier- oder Ätzvorgang erleichtert.
2) In vielen Fällen steigert die Anwesenheit des Farbstoffs meßbar die Lichtempfindlichkeit des Gemisches.
Bekannte Gemische, die mit gewissen substituierten Imidazolen
und einigen Benzotriazolen formuliert sind, verbessern etwas die Binde- und Hafteigenschaften von Photoresists,
jedoch weisen diese Verbindungen auch gewisse Nachteile auf. Es wird eine gewisse Ablösung und Blasenbildung
des Laminats beobachtet, wenn es keiner Persulfatbehandlung unterworfen wird. Die trockenen, unbelichteten
Photoresistfilme weisen eine verhältnismäßig geringe Gebrauchsdauer oder Lagerfähigkeit unter Umgebungsbedin-
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gungen auf. Das gewählte Lösungsmittel ist ebenfalls
insofern entscheidend wichtig, als bei gewissen Lösungsmitteln jedes in den Film eingeschlossene Lösungsmittel
Witterungsprobleme in den trockenen, unbelichteten Photoresistfilmen verursacht.
In der letzten. Zeit sind jedoch einige neue Benzotriazolderivate,
die hohe Löslichkeit in einem weiten Bereich von funktioneilen Fluiden aufweisen, synthetisiert worden.
Diese Verbindungen bieten auf Grund ihrer leichten Löslichkeit in einem weiten Bereich von Lösungsmitteln
ungeheure Vorteile als Haftverbesserer sowohl in mit Wasser als auch mit Lösungsmitteln entwickelbaren Photoresistfilmen.
Sie vermeiden ferner die Notwendigkeit einer Persulfatätze zur Entfernung des Photoresists, also einen
Vorgang, der abgeschiedenes Kupfer zerstört.
Gegenstand der Erfindung sind demgemäß verbesserte Photoresistmassen, die einen Haftverbesserer oder Adhäsionsbeschleuniger
enthalten, der außerdem die Photoresistmassen stabilisiert. Der bevorzugte Adhäsionsverbesserer
weist die folgenden erwünschten Eigenschaften auf: 1) Er läßt sich von der Metalloberfläche
während der Entwicklungsstufe leicht entfernen. 2) Er hat einen genügend hohen, über etwa 200 C liegenden Siedepunkt.
3) Er ist unter Umgebungsbedingungen in der Schicht während einer Zeit von einem Jahr oder länger
stabil. 4) Er ist bei erhöhten Temperaturen (33 bis 35°C) wenigstens 4 bis 8 Wochen beständig. 5) Er verursacht
keine meßbare Störung der Photopolymerisationsreaktion. 6) Er stört nicht den Plattierungsvorgang oder wird nicht
in das Plattierungsbad ausgelaugt. 7) Er ermöglicht die
Reinigung der Metalloberfläche mit Wasser oder einer schwach sauren oder basischen Lösung ohne die Notwendigkeit
einer Ätzung mit Persulfat,
Es gibt eine große Zahl von Veröffentlichungen und
erteilten Patenten, die sich mit diesem sehr ergiebigen
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Forschungsgebiet befassen. Nur die wichtigsten Veröffentlichungen seien hier genannt. Die US-PS 3 645 772
beschreibt ein Verfahren zur Verbesserung der Bindung eines Photoresists an Kupfer, wobei die zu plattierende
Kupferoberfläche zunächst mit stickstoffhaltigen organischen
Verbindungen, meistens substituierten Imidazolen, behandelt und dann später mit dem photopolymerisierbaren
Resist, das eine geringe Menge einiger heteroxyclischer Verbindungen, insbesondere substituierter Imidazole,
Benzotriazole und Benzothiazole, enthält, beschichtet wird. Diese bekannten Benzotriazole und Benzothiazole
haben auf Grund ihrer geringen Löslichkeit nur einen begrenzten Nutzen. Die GB-PSen 1 466 556 und 1 472 527
beschreiben die Synthese und Verwendungen einiger neuer Benzotriazolderivate.
Gegenstand der Erfindung sind verbesserte Gemische und Verfahren für die Herstellung von Photoresistfilmen, die
äußerst beständig gegen chemischen Angriff während der Plattierungs- und Ätzvorgänge sind. Die Gemische gemäß
der Erfindung enthalten ein photopolymerisierbares Monomeres, das in einer Lösung dispergiert ist, die
außerdem geringe Mengen eines Photoinitiators, eines Weichmachers oder eines polymeren Bindemittels, ein N-substituiertes
Benzotriazol als Adhäsionsbeschleuniger und gegebenenfalls einen Farbstoff mit Kontrastfarbe
enthält. Der Zusatzstoff gemäß der Erfindung verbessert nicht nur die Bindung oder Haftfestigkeit des Photoresists
an Kupfer, sondern ergibt auch bessere porenfreie Isolierplatten für gedruckte Schaltungen und andere
Reliefplatten für die verschiedensten Anwendungen in der
graphischen Technik. Die erfindungsgemäßen Gemische mit dem Adhäsionsbeschleuniger machen es möglich, das metallbelegte
Laminat in Wasser oder verhältnismäßig schwachen sauren oder basischen Lösungen zu reinigen, ohne daß die
übliche Ätzung mit Persulfat notwendig ist. Der Adhäsionsverbesserer stabilisiert ferner eine in den Photoresist-
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massen etwa verwendete Farbe.
Durch die Erfindung werden verbesserte Photoresistmassen
verfügbar, die im Vergleich zu den bekannten Massen überlegene Binde- und Hafteigenschaften sowie
überlegene Stabilität aufweisen. Die Haftverbesserer oder Adhäsionsbeschleuniger gemäß der Erfindung sind
N-substituierte o-aromatische Di- und Triazole, die in den verschiedensten wäßrigen und nicht-wäßrigen Lösungsmitteln
äußerst leicht löslich sind. Durch Verwendung dieser Verbindungen werden die Gemische gemäß der Erfindung
für die Verwendung mit sowohl mit Lösungsmitteln als auch mit Wasser entwickelbaren Filmen brauchbar. Die
bereits genannten besonderen Vorteile werden bei den Gemischen gemäß der Erfindung beobachtet.
Die Gemische gemäß der Erfindung enthalten zum größten Teil etwa 10 bis 50, vorzugsweise 15 bis 30 Gew.-% eines
oder mehrerer additionsphotopolymerisierbarer Monomerer, etwa 35 bis 80, vorzugsweise 40 bis 80 Gew.-% eines
polymeren Bindemittels, etwa 0,001 bis 10, vorzugsweise 0,01 bis 1,0 Gew.-% eines freie Radikale bildenden Photopolymerisationsinitiators,
etwa 0,001 bis 2, vorzugsweise 0,1 bis 2,0 Gew.-% eines geeigneten Farbstoffs mit
Kontrastfarbe, etwa 0,01 bis 5 Gew.-% einer heterocyclischen Haftverbesserer- oder Adhäsionspromoter-Stabilisator-Verbindung·
in einem organischen oder wäßrigen Lösungsmittel formuliert, wobei der Gesamtfeststoffgehalt etwa
10 bis 50, vorzugsweise 10 bis 30 Gew.-% beträgt. Auch andere Zusatzstoffe, z.B. Antioxidantien, Weichmacher,
Füllstoffe, Rostinhibitoren u.dgl. können wahlweise zugemischt werden.
Die additionsphotopolymerisierbaren Monomeren, die im Rahmen der Erfindung Anwendung finden, sind nicht-gasförmig,
können 1 bis 4f gewöhnlich 1 bis 3 und vorzugsweise
2 bis 3 Zentren äthylenischer NichtSättigung enthalten und müssen zur Homopolymerisation oder vernetzten Copoly-
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merisation fähig sein. Zu den geeigneten Verbindungen
gehören Alkylen- oder Polyalkylenglykoldiacrylate.
Besonders gut geeignet sind Verbindungen, die Vinylidengruppen enthalten, die mit Ester- oder Amidbindungen
konjugiert sind. Repräsentative Beispiele sind Äthylendiacrylat, Diäthylenglykoldiacrylat, Glycerindiacrylat,
Glycerintriacrylat, 1,3-Propandioldimethacrylat, 1,2,4-Butantrioltrimethacrylat,
1,4-Benzoldioldimethacrylat,
1,4-Cyclohexandioldiacrylat, Pentaerythrittri- und -tetramethacrylat,
Pentaerythrittri- und -tetraacrylat, 1,3-Propandioldiacrylat,
1,5-Pentandioldimethacrylat, die
Bisacrylate und Methacrylate von Polyäthylenglykolen mit Molekulargewichten von 100 bis 1500; ungesättigte Amide,
insbesondere solche der oc-Methylencarbonsäuren und ganz
besonders solche von α,ω-Diaminen und durch Sauerstoff
unterbrochenen o-Diaminen, u.B. Methylenbisacrylamid, Methylen-bis-methacrylamid, 1,6-Hexamethylenbisacrylamid,
Diäthylentriamin-tris-methacrylamid, Bis(methacrylamidopropoxy)äthan,
ß-Methacrylamidäthylmethacrylat und
N/ (ß-Hydroxyäthyloxy) äthyl/ acryl amid.
Besonders bevorzugt als AeryIy!verbindungen werden
Triäthylenglykoldiacrylat, Tetraäthylenglykoldiacrylat,
Pentraerythrittriacrylat, Trimethylolpropantriacrylat
und Pentaery.thr.ictetraacrylat.
Die in den Gemischen gemäß der Erfindung verwendeten Photoinitiatoren sind durch aktinisches Licht aktivierbar
und unterhalb von etwa 185°C thermisch inaktiv. Beispiele sind substituierte oder unsubstituierte mehrkernige Chinone,
z.B. 9,1O-Anthrachinon, 1-Chloranthrachinon, 2-Chloranthrachinon,
2-Methylanthrachinon, 2-Äthylanthrachinon,
2-t-Butylanthrachinon, Octamethylanthrachinon, 1,4-Naphthachinon,
9,10-Phenanthrachinon, 1,2-Benzanthrachinon,
2,3-Benzanthrachinon, 2-Methyl-1,4-naphthachinon, 2,3-Dichlornaphthachinon,
1,4-Dimethylanthrachinon, 2,3-Dimethylanthrachinon,
2-Phenylanthrachinon, 2,3-Diphenyl-
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anthrachinon, S-Chlor^-methylanthrachinon, Retenchinon,
7,8,9,1O-Tetrahydronaphthacenchinon, 1,2,3,4-Tetrahydrobenz(a)anthracen-7
,12-dion, vicinale Ketaldonylverbindungen,
z.B. Diacetyl und Benzyl, α-Ketaldonylalkohole,
z.B. Benzoin und Pivaloin, Acyloinäther, z.B. Benzoinmethyl- und -äthyläther, α-Kohlenwasserstoffsubstxtuierte
aromatische Acyloine, α-Methylbenzoin, α-Allylbenzoin und
a-Phenylbenzoin.
Beispiele spezieller Benzoinäther sind Benzoinmethyläther,
Benzoinäthyläther, Benzoinphenyläther, Methylbenzoin und
Äthylbenzoin.
Gewisse aromatische Ketone, z.B. Benzophenon und 4,4'-Bis-(dialkylamino)benzophenone,
sind ebenfalls geeignet. Beispiele spezieller Ketone sind Benzophenon, 4,4'-Bis-(dimethylamino)benzophenon,
4,4'-Bis(diäthylamino)-benzophenon,
4-Hydroxy-4'-diäthylaminobenzophenon, 4-Hydroxy-4'-dimethylaminobenzophenon, 4-Acryloxy-4'-dimethylaminobenzophenon
und 4-methoxy-4'-dimethylaminobenzophenon und Chlorthioxanthon.
Als vorgebildete polymere Bindemittelverbindungen eignen sich Polystyrol, Polycarbonate, Polyurethane, Polyformaldehyd,
Polyvinylacetal (einschließlich Polyvinylbutyral) , Polyvinylchlorid und Vinylchloridcopolymerisate,
Polyäther (einschließlich Polyäthylenoxid, Polypropylenoxid,
Polytetrahydrofuran), Polyacrylate (einschließlich
Polymethylmethacrylat, Polyäthylmethacrylat, Polymethylacrylat
und Polyäthylacrylat), Polyvinylester (einschließlich Polyvinylacetat und Polyvinylacetat/acrylat), Celluloseester
(einschließlich Celluloseacetat und Celluloseacetobutyrat), Celluloseäther (einschließlich Methylcellulose
und ÄthyIcellulose), modifizierte Polyolefine (einschließlich Äthylen-Vinylacetat-Copolymerisate),
Polyvinylidenchlorid (einschließlich der Copolymerisate von Vinylidenchlorid mit Acrylnitril, Methylmethacrylat
und Vinylacetat), Polyamide (einschließlich Polycapro-
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lacton, Polycaprolactam und Polyhexamethylenadipamid)
und Polyester (einschließlich Polyäthylenglykolterephthalat und Polyhexaraethylensuccinat).
Inhibitoren der thermischen Polymerisation können in den bevorzugten Gemischen ebenfalls vorhanden sein. Hierzu
gehören p-Methoxyphenol, Hydrochinon und alkyl- und arylsubstituierte
Hydrochinone und Chinone, t-Butylcatechin, Pyrogallol, Kupferresinat, ß-Naphthol, 2,6-Di-t-butyl-pkresol,
2,2'-Methylen-bis-(4-äthyl-6-t-butylphenol),
p-Tolylchinon, Chloranil, Arylphosphite und Arylalkylphosphite.
Ein fluoreszierender, sichtbarer Kontrast- oder Leukofarbstoff
kann den Gemischen gemäß der Erfindung ebenfalls als Indik^ccr zugemischt werden, der die Entfernung
aller anbelichteter Teile des Harzes sicherstellt und die Prüfung der mit dem Bild versehenen Oberfläche auf etwaige
Mängel und Fehler erleichtert. Der gewählte Farbstoff muß jedoch inert gegenüber den anderen Bestandteilen des
Photoresistgemisches sein und darf den Photopolymerisationsprozeß nicht stören. Beispiele solcher Farbstoffe
sind Brilliant Green Dye (C-1-42040), Victoria Blue, substituierte Naphthalimidfarbstoffe, z.B. Calcofluor
Yellow HEB, Rhodamine und Azosole. Beispiele repräsentativer Leukofarbstoffe sind Kristallviolett, Malachitgrün,
Basischblau, Pararosanilin, Rosanilin, Patentblau A oder V. Diese Farbstoffe werden in der US-Patentanmeldung
015 980 (26.2.1979) der Anmelderin ausführlich behandelt.
Die N-substituierten Benzotriazole gemäß der Erfindung mit verbesserten Hafteigenschaften haben die allgemeine·
Formel
R3
in der R1 die Struktur
in der R1 die Struktur
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hat, worin R, unsubstituiertes oder mit Alkylresten mit
1 bis 12 C-Atomen, vorzugsweise 1 bis 6 C-Atomen, insbesondere 1 bis 4 C-Atomen oder mit Aralky!resten mit
7 bis 9 C-Atomen, vorzugsweise mit Alkylbenzolresten, insbesondere α,α-Dimethylbenzylresten einfach oder zweifach
substituiertes Benzol oder Naphthalin ist; R„ für
einen Rest der Formel R70/jAlkylen)oj -(alkylen)-, worin
/ χ
R7 Wasserstoff oder ein Alkylrest mit 1 bis 20 C-Atomen,
"Alkylen" ein geradkettiger oder verzweigter Alkylenrest mit 2 oder 3 C-Atomen und χ 0, 1,2, 3 oder 4 ist,
für einen Alkenylrest mit 2 bis 20 C-Atomen oder einen Cyanalkylrest mit 2 bis 5 C-Atomen steht und R-. die gleiche
Bedeutung wie R- hat oder Wasserstoff, ein Alkylrest
mit 1 bis 20 C-Atomen, ein Arylrest mit 6 bis 10 C-Atomen, ein Cycloalkylrest mit 5 bis 12 C-Atomen, ein Aralkylrest
mit 7 bis 9 C-Atomen, ein heterocyclischer Rest oder ein Rest der Formel
III
ist, worin R. die bereits genannte Bedeutung hat.
Die Verbindungen der Formel I sind Mannich-Basen, wobei
Verbindungen, in denen der Rest R^ ein Benzolrest ist,
bevorzugt werden. Ferner stellt vorzugsweise der Substituent am N-Atom der Verbindung der Formel I eine hydrophile
Funktion dar. Besonders bevorzugt werden Verbindungen, in denen wenigstens einer der Reste R2 und R^,
vorzugsweise beide, ein Rest der Formel R_O/TAlkylen)θ7 (alkylen)-
ist, worin R-, vorzugsweise Wasserstoff ist
und χ vorzugsweise den Wert 0 hat.
Wenn R2 und/oder R3 ein Alkenylrest sind, enthält dieser
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Rest vor2ugsweise 3 bis 20 C-Atome. Beispiele sind die
Allyl-, Butenyl-, Octenyl-, Decenyl-, Dodecenyl-,
Tetradecenyl- und Octadecenyl-(Oleyl)-Reste.
Wenn R2 und/oder R3 ein Rest der Formel RyO/lAlkylen)θ/ (alkylen)
ist, werden Reste dieser Formel bevorzugt, in denen R^ Wasserstoff oder ein Alkylrest mit 1 bis
18 C-Atomen, insbesondere 1 bis 8 C-Atomen ist. Als Beispiele
seien genannt: Hydroxyäthylen, Methoxyäthylen, n-Butoxyäthylen, Methoxyäthylen-oxyäthylen, n-Butoxyäthylenoxyäthylen,
n-Octyldecoxypropylen-oxy-1:2-propylen.
Als Cyanalkylsubstituenten R- und/oder R3 werden Cyanmethyl-
und Cyanäthylreste bevorzugt.
Wenn R2 die eine oder andere der vorstehenden Bedeutungen
hat, kann R3 weitere Bedeutungen haben und für Wasserstoff,
Alkyl, Aryl, Cycloalkyl, Aralkyl oder substituiertes Alkyl, z.B. OH, SH, NR3 oder NH2, einen heterocyclischen
Rest oder einen Rest der Formel II, in der R. die vorstehend genannte bevorzugte Bedeutung hat, stehen.
Wenn R3 ein Alkylrest ist, enthält dieser vorzugsweise
1 bis 12 C-Atome. Wenn R3 ein Arylrest ist, ist er vorzugsweise
ein Benzol- oder Naphthalinrest. Bevorzugt als Cycloalkylrest R3 wird ein Cyclohexylrest und als Aralkylrest
R3 ein Benzylrest. Die bevorzugten heterocyclischen Reste R3 sind Piperidin- und Morpholinreste.
Besonders bevorzugt für die Zwecke der Erfindung werden jedoch Verbindungen der Formel I, in der R. unsubstituiertes
oder mit Methyl- oder Dimethylbenzylresten einfach oder zweifach substituiertes Benzol ist und worin R2 und
R3 gleich oder verschieden sind und jeweils für einen
Ry0/TAlkylen)07 (alkylen)-rest stehen oder R2 ein solcher
Rest und R3 Wasserstoff oder ein C1-C«-Alkylrest ist und
χ vorzugsweise für 0 steht.
Als spezielle Beispiele von Verbindungen gemäß der Erfindung seien genannt:
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041223
1-Diäthanolaminomethylbenzotriazol 1-Diisopropanolaminomethylbenzotriazol
N,N-Bis(1'-benzotriazolylmethyl·)-äthanolamin
U,N-Bis(1'-benzotriazolylmethyl)-isopropanolamin
N,N-Bis(1'-benzotriazolylmethyl)-äthoxyäthoxypropylamin
N,N-Bis(1'-benzotriazolylmethyl)-palmitoylamin
N,N-Bis(1'-benzotriazolylmethyl)-allylamin
Diese Verbindungen werden nach dem in der GB-PS 1 466 beschriebenen Verfahren hergestellt. Sie sind in den verschiedensten
Lösungsmitteln einschließlich wäßriger Lösungsmittel sehr leicht löslich. In den Photoresistmassen
gemäß der Erfindung sind sie in einer Menge im Bereich von 0,01 bis 5 Gew.-%, vorzugsweise 0,1 bis
2 Gew.-% vorhanden. Etwaiges unsubstituiertes Benzotriazol, das zufällig vorhanden ist, beeinträchtigt nicht die
Binde- und Hafteigenschaften der Gemische gemäß der Erfindung.
Es ist zu bemerken, daß der Substituent am Benzol- oder Naphthalinring die Binde- und Haltbarkeitseigenschaften
dieser Verbindungen als Haftverbesserer oder Adhäsionspromotoren nicht wesentlich verbessert, daß aber die
aufgeführten Substituenten insbesondere an den N-1- und
N-2-Stellungen den Verbindungen eine überraschend hohe Adhäsionsverbesserung und überraschend hohe Stabilisierungseigenschaften
verleihen. Durch Halogen- oder Methylsubstituenten an der N-2-Stellung werden diese Klassen
von Verbindungen jedoch als Haftverbesserer und Adhäsionsbeschleuniger unbrauchbar. Zwar wurde die Bindung und
Haftung zwischen den Benzotriazolen und der Metalloberfläche als möglicher Wirkungsmechanismus dieser Verbindungen
vermutet, jedoch ist keine chemische Grundlage erkennbar, die die Wirkung der verschiedenen substituierten
Benzotriazole als Haftverbesserer und Adhäsionsbeschleuniger begründen könnte.
Die Photoresistmassen werden normalerweise in einem geeig-
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neten Lösungsmittel, das wäßrig oder nicht-wäßrig sein kann, gewöhnlich in einem organischen Lösungsmittel,
z.B. in einem Keton mit 3 bis 6 C-Atomen, das allein oder in Kombination mit Alkanolen mit 1 bis 3 C-Atomen
ο.dgl. verwendet wird,.so formuliert, daß der Feststoffgehalt
im allgemeinen zwischen etwa 5 und 80 Gew.-%, vorzugsweise zwischen etwa 25 und 60 Gew.-% liegt.
Die erfindungsgemäßen Photoresistmassen können als Laminat auf einem Metall- oder Metallegierungsblech z.B. aus
Kupfer, Nickel, Chrom, Silber oder Gold, vorzugsweise Kupfer, normalerweise als Laminat mit einer oberen Kupferschicht,
die mit der ungehärteten Photoresistmasse in Berührung ist, geliefert werden. Eine Schutz- oder Deckfolie
für die Photoresistschicht kann ebenfalls vorgesehen werden, wobei ein mehrschichtiges Laminat aus der
Schutzfolie, d^r ungehärteten Photoresistschicht und der
Kupferschicht erhalten wird. Die Photoresistschicht hat im trockenen Zustand im allgemeinen eine Dicke von etwa
6,4 bis 127 um, gewöhnlich 19 bis 102 tun. Die Schutzfolie hat im allgemeinen eine Dicke von etwa 13 bis
127 um und kann aus einem inerten Additions- oder Kondensationspolymerisat,
z.B. einem Polyolefin mit 2 bis 4 C-Atomen, z.B. Polypropylen, Polyäthylenterephthalat
o.dgl. bestehen.
Zum Gebrauch wird die trockene photopolymerisierbare Folie mit aktinischer Strahlung belichtet. Die Belichtung
kann durch ein Rasterbild oder eine Transparentvorlage, z.B. eine Negativ- oder Positivvorlage, eine Schablone
oder eine Maske erfolgen. Die Belichtung kann auch durch ein Halbtonbild, das ein Negativ oder Positiv sein kann,
erfolgen. Die Schicht kann durch Kontakt- oder Projektionsbelichtung mit oder ohne Deckfolie über der photopolymerisierbaren
Schicht belichtet werden. Diese Arbeitsweisen sind dem Fachmann wohlbekannt. Die Photoresistmassen
werden im allgemeinen in Verbindung mit UV-Licht verwendet, wobei die Strahlungsquelle eine wirksame Menge
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dieser Strahlung abgeben muß. Punktstrahler oder Breitstrahler sind von gleicher Wirksamkeit. Zu diesen Lichtquellen
gehören Kohlelichtbögen, Quecksilberbogenlampen, Fluoreszenzlampen mit UV-Strahlung emittierenden Leuchtstoffen,
Argonglühlampen, Elektronenblitzlampen und
photographische Flutlampen. Hiervon sind die Quecksilberdampflampen, insbesondere die UV-Lampen, am geeignetsten.
Nach der Belichtung können die trockenen folienförmigen
Photoresistmassen in beliebiger bekannter Weise entwickelt werden, z.B. durch Besprühen mit Strahlen des
Entwicklers, durch Eintauchen und Behandeln mit rotierenden Bürsten oder durch Wischen mit einem organischen
Lösungsmittel, einem wäßrigen Lösungsmittel oder deren Gemischen, die die unbelichteten Teile des Resistfilms
wegzuwaschen vermögen, bis die gewünschten Bilder erscheinen. Als Lösungsmittel eignen sich beispielsweise
Cellosolveacetat, Äthylacetat, Methyläthy!keton, Aceton,
1,1,1-Trichloräthan, Tetrachloräthylen, Alkanole mit 1
bis 4 C-Atomen, Butylcellosolve, Chlorbenzol und Dimethylformamid
oder Wasser oder eine leicht alkalische Lösung, die geringe Mengen organischer Zusatzstoffe enthalten
kann.
Da die photopolymerisierbaren Massen gemäß der Erfindung als Schichten auf kupferbelegten Platten aus Harz, Glasfaserkunststoff
oder Polymerisaten verwendet werden, wird die Grundschicht aus Kupfer nach der vorherigen
Belichtung freigelegt. Die Platte wird dann als Kathode in einer Verkupferungslösung geschaltet und bei einer
Kathodenstromdichte von etwa 1,6 bis 3,8 A/dm2 bei 1,5 V
etwa 30 bis 45 Minuten der Elektrolyse unterworfen. Das Resist wird dann abgestreift, nachdem ein in Eisen(III)-chlorid
unlösliches Metall über das freigelegte Kupfer plattiert worden ist. Die ungeschützten Bereiche werden
weggeätzt oder -gewaschen, wobei gute gedruckte Schaltungen , Flachdruckformen, Reliefbilder und ähnliche
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Produkte für die graphische Technik erhalten werden,
Diese Verfahren werden vorteilhaft für die Herstellung von dicken (über 51 um) gedruckten Schaltungen verwendet.
Die Anwesenheit der heterocyclischen haftungsverbessernden Verbindungen in diesen Massen macht das Einbrennen
durch Nachbelichtung überflüssig und verhindert das Abheben des Films vom Metallaminat, wie der Klebstreifentest
zeigt, der darin besteht, daß ein Haftklebestreifen auf jede Platte aufgebracht und dann abgezogen wird. Die
Menge des am Klebstreifen haftenbleibenden Resists ist proportional der Verschlechterung und Schädigung des
Resists im Plattierbad oder Galvanisierbad. Für die Prüfung der Hafteigenschaften der Photoresistmassen sind
zur Zeit ausgeklügeltere Prüfmethoden verfügbar.
Die Erfindung wird durch die folgenden Beispiele weiter erläutert.
Ein photopolymerisierbares Gemisch der folgenden Zusammensetzung wurde hergestellt:
1-Diäthanolamin-methyl-benzotriazol 0,120 g
Methylmethacrylatpolymerxsat (inhärente
Viskosität 0,60 in Methyläthylketon bei 300C) 4,2 g
Methylmethacrylat/Äthylacrylat-
Copolymerisat (inhärente Viskosität 0,23
in Methyläthylketon bei 30°C) 1,56 g
Niedrigmolekularer Chlorkautschuk der Handelsbezeichnung "Parlon S-5" 3,60 g
Benzophenon 0,850 g
4,4'-Bis(dimethylamino)benzophenon 0,030 g
Trimethylolpropantriacrylat 2,700 g
Tetraäthylenglykoldiacrylat 2,700 g
4-Methyl-2,6-di-t-butylphenol 0,002 g
Dioctylphthalat 0,100 g 4,4',4"-Methyliden-tris-(N,N-dimethylanilin) 0,100 g
Brilliant Green-Farbstoff (CI. 42040) 0,002 g
Methyläthylketon 23,00 g
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Die Lösung enthält etwa 40% Peststoffe und wird auf eine
23,4 um dicke, biaxial orientierte und heißfixierte Polyäthylenterephthalatfolie aufgeräkelt. Die Schicht
wurde über Nacht an der Luft getrocknet, wobei ein sehr hellgrüner Film einer Dicke von 33 um im trockenen
Zustand erhalten wurde. Ein Stück einer kupferbelegten glasfaserverstärkten Epoxyharzplatte wird mit einer
Waschvorrichtung "Somaca Modell SCS-12G" gewaschen und getrocknet. Auf den Kupferbelag wird das photopolymerisierbare
Gemisch unter Verwendung eines üblichen Photoresist-Laminators bei 115°C mit einer Geschwindigkeit
von 1,2 bis 1,5 m/Minute laminiert. Das erhaltene Verbundmaterial aus Polyesterfolie, photopolymerisierbarem
Gemisch und Kupfer hat eine leicht grüne Farbe mit genügendem Kontrast unter Gelblicht, um etwaiges blankes
Kupfer zu entdecken. Das Laminat wird 10 Sekunden durch eine Transparentvorlage mit einer UV-Belichtungslampe
"Colight" DMVL-A von 1200 W belichtet. Die Platte, die ein starkes blaues aufgedrucktes Bild zeigte, wurde
10 Minuten liegen gelassen. Sie wurde in einer Entwicklermaschine "DuPont "C"", die 1,1,1-Trichloräthan als
Entwickler enthielt, entwickelt. Die Temperatur wurde bei 18 bis 200C gehalten, während der Spritzdruck auf
1,4 bar bei einer Durchlaufgeschwindigkeit von 1,8 bis 2,1 m/Minute eingestellt wurde. Die Platte wurde unmittelbar
1,5 Minuten in ein Tauchreinigungsbad getaucht, das
eine 50%ige wäßrige Lösung eines neutralen Detergens der Handelsbezeichnung "Neutra Clean-68" bei Raumtemperatur
enthielt. Sie wurde dann in einem Überlauftank abgesprüht und 1 Minute in 20%ige Ammoniumpersulfatlösung,
getaucht. Nach dem Spülen mit Frischwasser für 1 Minute wurde die Platte 1 Minute in ein Bad aus 15%iger Schwefelsäure
getaucht und erneut 1 Minute in Frischwasser gespült. Die Platte wurde in einen Behälter mit Kupferpyrophosphat
von 52°C mit einem pH-Wert von 8,3 gelegt
ο
und 45 Minuten bei 2,7 A/dm galvanisiert. Nach dem
und 45 Minuten bei 2,7 A/dm galvanisiert. Nach dem
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Galvanisieren wurde die Platte untersucht, wobei keine Lichthofbildung, Farbänderung oder Unterschneidung h^w.
Unterplattierung festgestellt wurde. Auch ließ sich das Resist beim Standard-Klebstreifentest und beim Klebstreifentest
mit dem Haftklebestreifen "Scotch Brand No. 600" nicht von der Platte abheben. Im Vergleich
hierzu zeigte eine mit der gleichen Zusammensetzung laminierte Platte, bei der jedoch kein 1-Diäthanolaminmethylbenzotriazol
verwendet wurde, starke Schwärzungshofbildung um die galvanisierten Bereiche. Sie war verfärbt
und entsprach nicht den Anforderungen des Standard-Klebstreifentests unter Verwendung des Klebstreifens
"Scotch Brand 600". Eine weitere Gruppe von Platten wurde in der vorstehend beschriebenen Weise behandelt,
jedoch nach dem Galvanisieren mit Kupferpyrophosphat unmittelbar mit Frischwasser gespült und 1 Min. in 15%ige
Fluorborsäure getaucht. Die Platten wurden dann 30 Minuten in einem Blei/Zinn-Galvanisierbad bei einer Strom-
2
dichte von 1,4 A/dm bei Umgebungstemperatur galvanisiert.
dichte von 1,4 A/dm bei Umgebungstemperatur galvanisiert.
Wie vorher trat bei dem Gemisch, das das 1-Diäthanolaminmethylbenzotriazol
enthielt, keine Farbänderung, Schwärzungshofbildung oder Unterplattierung auf. Die
Vergleichsprobe, bei der kein Benzotriazol verwendet wurde, zeigte starkes Abheben des Resists und starke'
Unterschneidung bzw. Unterplattierung, insbesondere in
den Bereichen, die Schwärzungshofbildung zeigten. Das Resist wurde abgestreift, und das Kupfer in den ungeschützten
Bereichen wurde weggeätzt, wobei eine gute gedruckte Schaltung oder eine Flachdruckform oder sonstige
Arten von Reliefbildplatten oder -zylindern erhalten wurden.
Ein photopolymerisierbares Gemisch der in Beispiel 1 genannten Zusammensetzung wurde hergestellt, wobei jedoch
0,006 g Benzotriazol an Stelle von 1-Diäthanolamin-methylbenzotriazol
verwendet wurden. Dies ist die maximale
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Benzotriazolmenge, die zusätzlich als Verunreinigung
in der Lösung des substituierten Benzotriazols vorhanden sein darf. Nach dem Belichten, Entwickeln und Galvanisieren
wie in Beispiel 1 zeigte die Platte starke Verfärbung, Schwärzungshofbildung und Unterschneidung bzw.
ünterplattierung. Dies ist ein Anzeichen dafür, daß eine Benzotriazolmenge, die selbst als Verunreinigung im
1-Diäthanolamin-methyl-benzotriazol vorhanden ist, keine
zusätzliche Wirkung auf die haftungsfördernden Eigenschäften
von 1-Diäthanolamin-methyl-benzotriazol hat.
Acrylcopolymerisat (enthaltend 56% Äthylacrylat, 37% Methacrylat und 7% Acrylsäure; inhärente
Viskosität 0,458 in Methyläthy!keton bei 3O°C 12,63 g
Styrol-Maleinsäureanhydrid-Copolymerisat, teilweise verestert; Säurezahl 270,
Molekulargewicht 1700 12,63 g
Triäthylenglykolkimethacrylat 6,67 g
1-Diäthanolamin-methyl-benzotriazol 0,30 g
Benzophenon 1,30 g
4,4'-Bis(dimethylamine)benzophenon . 0,067 g
Brilliant Green-Farbstoff (CI. 42040) 0,0027 g
4,4',4"-Methylidentris-(N,N-dimethylanilin) 0,39 g
1,2,3,4,5-Pentabrom-6-chlorcyclohexan 0,63 g
Methyläthylketon 100,00 g
Die Lösung wurde in einer solchen Menge aufgetragen, daß die Schicht im trockenen Zustand eine Dicke von 38 um
hatte. Ein Stück einer kupferbelegten glasfaserverstärkten Epoxyharzplatte wurde gereinigt und dann mit dem beschriebenen
photopolymerxsxerbaren Gemisch laminiert. Das mehrschichtige Material wurde 10 Sekunden mit der 1200 W-UV-Lampe
"Colight DMVL-A" durch eine Transparentvorlage belichtet. Das Bild wurde in einer Entwicklungsmaschine
"DEA Americana 2401" mit einer 76 cm-Sprühkammer entwickelt. Der vollkommen wäßrige Entwickler enthielt
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0,75 Gew.-% Natriumcarbonatmonohydrat bei 80 bis 85°C.
Unter Anwendung eines Sprühdrucks von 1,4 bar und einer Durchlaufgeschwindigkeit von 1,07 m/Minute wurde die
Platte durch den Entwickler geführt. Nach Reinigung auf die in Beispiel 1 beschriebene Weise wurde die Platte
2 45 Minuten in saurem Kupfersulfat bei 2,7 A/dm und
Umgebungstemperatur galvanisiert. Die Platte wurde erneut gespült und in 15%ige Fluorborsäure getaucht und
dann 30 Minuten in einem Blei/Zinn-Galvanisierbad bei einer Stromdichte von 1,6 A/dpa. bei Umgebungstemperaturen
galvanisiert. Die fertige Platte zeigte keine Verfärbung, Schwärzungsringbildung oder Unterschneidung bzw.
Unterplattierung.
Ein photopolymerisierbares Gemisch wurde aus folgenden Bestandteilen hergestellt:
Methylmethacrylatpolymerisat (inhärente
Viskosität 0,60 in Methyläthylketon bei 300C) 4,2 g
Methylmethacrylat/Äthylacrylat-Copolymerisat
(inhärente Viskosität 0,23 in Methyläthylketon bei 30°C)
Niedrigmolekularer Chlorkautschuk (Parlon S-5)
Benzophenon
4,4'-Bis(dimethylamine)benzophenon
4,4'-Bis(dimethylamine)benzophenon
Trimethylolpropantriacrylat
Tetraäthylenglykokdiacrylat
4-Methyl-2,6-di-t-butylphenol
Dioctylphthalat
4,4' ,4"-Methyliden-tris- (ii,N-dimethylanilin)
(Leukofarbstoff)
Brilliant Green-Farbstoff (CI. 42040) Methyläthylketon
Zusatzstoff (eine der nachstehend genannten Verbindungen): 0,240 g
1,56 | g | g |
3,60 | g | g |
0,850 | g | |
0,030 | g | |
2,700 | g | |
2,700 | g | |
0,002 | g | |
0,100 | g | |
0,100 | g | |
0,002 | ||
23,00 |
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A. Benzotriazol
B. 1-Diäthanolamin-methy1-benzotriazol
C. 1-Dipropylamin-methyl-benzotriazol
D. 1-Äthyl-1-äthanolamIn-methy1-benzotriazol
E. Produkt der Reaktion zwischen 2 Mol Benzotriazol, 2 Mol Formalin und 1 Mol Cyclohexylamin
C6H11N(CH2C6H4N3)2
F. Produkt der Reaktion von 2 Mol Benzotriazol, 2 Mol Formalin und 1 Mol 3-(Di-n-butylamino)propylamin
(0-H-N^CH0J0N(CH0).,N(CH0CH0CH0CH.,)„
G. Produkt der Reaktion zwischen 4 Mol Benzotriazol und Formalin mit 1 Mol 1,6-Hexandiamin
(W3CH2) 2N (CH2 >
6N (C6H4N3CH2) 2
Nach Belichtung und Entwicklung auf die in Beispiel 1 beschriebene Weise wurden die Platten in ein Reinigungsmittel
aus einem 50%igen wäßrigen neutralen Tensid der Handelsbezeichnung "Neutra-Clean 68" bei Umgebungstemperatur
gelegt, mit Wasser gespült, 1 Minute in 15%ige Schwefelsäurelösung getaucht und dann auf die in
Beispiel 1 beschriebene Weise galvanisiert.
Das aufgalvanisierte Kupfer wurde dann auf Haftfestigkeit
geprüft, indem versucht wurde, es abzuschaben.
A Cu wurde abgelöst
B Cu konnte nicht entfernt werden
C dto.
D
E
F "
E
F "
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_ 25 _
Beispiel 5
Tabelle 1
30A1223
Verbindung | R-CH^N(CH0CH0OH)0 | Wasserlöslieh |
1. | R-CH2N(CH3)(C2H4OH) | ja |
2. | R-CH2N(C2H5)(C2H4OH) | ja |
3. | R-CH2N(C2H5)2 | teilweise |
4. | P-CH2N(CH2CH2CH3)2 | nein |
5. | (R-CH2)2Ν(CH2)3Ν(CH2CH2CH2CH3)2 | nein |
6. | (R-CH2)2Ν(CH2)6Ν(CH2-R) 2 | nein |
7. | (R-CHt)0N(CcH11) | nein |
3- | nein |
R = Benzotriazol entweder an der N-1- oder N-2-Stellung
substituiert.
Neun in Lösungsmitteln verarbeitbare Gemische gemäß Beispiel 1 wurden hergestellt. Den Gemischen wurden
äquimolare Mengen der vorstehend genannten Materialien einschließlich Benzotriazol zugesetzt. In der gleichen
Weise wurden mit wäßrigen Lösungsmitteln entwickelbare Gemische gemäß Beispiel 3 hergestellt. Jedes Gemisch
wurde auflaminiert, belichtet und entwickelt. Dann
wurde je eine Probe jedes Gemisches mit Ammoniumpersulfat
behandelt, während diese Maßnahme beim Vergleichsversuch weggelassen wurde. Alle Platten wurden in saurer Lösung
kupferplattiert und auf Loslösung (schlechte Haftfestigkeit des niedergeschlagenen Kupfers) geprüft. Alle
geprüften Verbindungen zeigten gute Hafteigenschaften mit Ausnahme von Benzotriazol, wenn keine Behandlung mit
Persulfat vorgenommen wurde.
Ein photopolymerisierbares Gemisch der in Beispiel 3 genannten Zusammensetzung wurde hergestellt mit dem
Unterschied, daß die folgenden Verbindungen in anderen Mengen verwendet wurden:
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a) 1-Diäthanolamin-methyl-benzotriazol
b) 1-Dipropylamin-methyl-benzotriazol
c) Benzotriazol
Die Beschichtungslösungen a-1, b-1 und c-1 enthielten
0,02 Gew.-% der Verbindungen,und die Lösungen a-2, b-2
und c-2 enthielten 0,16 Gew.-% der Verbindungen. Die Beschichtungslösung d enthielt keine der Verbindungen
Die sieben Lösungen wurden 8 Stunden unter hellem Gelblicht gerührt und dann in einer Dicke (bezogen
auf trockenen Zustand) von 38 um auf 23,4 um. dicke
Polyäthylenterephthalatfolie aufgetragen und dann mit 25,4 um dicker Polyäthylenfolie laminiert. Diese Folien
wurden dann 4 Tage unter Standard-Gelblichtbedingungen gehalten. Die Ergebnisse der Untersuchung der Wirkung
der Zusatzstoffe auf die Farbstabilität der Lösungen und Schichten sind nachstehend genannt.
Farbe der Beschichtungslösung
1 hellblaugrün
1 "
1 leicht gedunkelt
dunkle Lösung
Farbe der Schicht Tag 1 Tag 2 Tag 4
hellblaugrün | leicht gedunkelt |
Il | nicht |
Il | leicht " |
Il | nicht |
leicht gedunkeIt |
wurde dunkelblau |
dto. | dto. |
dunkelte zu a-1 |
wurde sehr dunkel |
Diese Zunahme der Hintergrunddichte hatte keinen Einfluß auf die Photopolymerisationsreaktion, wie die Daten
der Entwicklungsgeschwindigkeit zeigten.
Ein'e Beschichtungsmasse wurde aus den folgenden Bestandteilen hergestellt:
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Epoxidiertes Sojabohnenöl "Actomer X-80" 3O7OO g
(Hersteller Union Carbide)
Trimethylolpropantriacrylat 20,00 g
Pentaerythrittriaerylat 10,00 g
Vinylacetat 20,00 g
Benzophenon 12,00 g
4,4'-Bis(dimethylamino)benzophenon 1,0 g
1,2,3,4,S-Pentabrom-e-chlorcyclohexan 1,5 g
Leukokristallviolett 1,0 g
Dieser Lösung wurden im Teil a) 0,465 g 1-Diäthanolaminmethyl-benzotriazol,
im Teil b) 0,465 g Benzotriazol zugesetzt, während der Teil c) keinen Zusatz erhielt.
Die Lösung wurde auf ein Stück kupferbelegter Platte mit einer auf 254 pn eingestellten Rakel aufgetragen.
Die klebrigen Schichten wurden 60 Sekunden mit einer starken UV-Lampe (DMVL-A, 1200 W-Lampe) belichtet. Der
Standard-Klebstreifentest ergab bei der Schicht "a" die beste Haftfestigkeit, gefolgt von "b" und dann von "c".
Die durch Farbänderung beobachtete Stabilität der Lösung lag in der gleichen Reihenfolge.
Die vorstehenden Ergebnisse zeigen, daß in allen Fällen durch Behandlung mit Ammoniumpersulfatlösung ein etwa
zurückbleibender Haftverbesserer von der Kupferoberfläche entfernt wird. Im Falle des Lösungsmittelfilms kann die
Behandlung mit Persulfat unterbleiben, wenn ein oleophiles Benzotriazolderivat verwendet wird. Ebenso ist es
bei Verwendung eines mit wäßrigen Lösungsmitteln entwikkelbaren Films möglich, mit hydrophilen Benzotriazolderivaten
das Persulfatbad wegzulassen. Dies ist von besonderem Vorteil, wenn mit einer dünnen, stromlos
abgeschiedenen Kupferauflage gearbeitet wird. Unter den meisten Umständen muß bei stromloser Plattierung überschüssiges
Kupfer abgeschieden werden, damit die Platten in Persulfat ohne Entfernung des gesamten stromlos abgeschiedenen
Kupfers gereinigt werden können, bevor die
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Platte der Galvanisierung zugeführt wird.
Bei allen in den in den vorstehenden Beispielen beschriebenen Versuchen wurden stabile und dauerhafte
gedruckte Schaltungen oder Flachdruckformen oder Reliefs' bildplatten oder Druckzylinder erhalten. Die Photoresistgemische
zeigten sämtliche genannten Eigenschaften, d.h.
1) der Haftverbesserer oder Adhäsionspromoter konnte
während des Entwicklungsvorgangs leicht entfernt werden, wenn er
a) im Falle des mit Lösungsmitteln entwickelbaren Films oleophil war und
b) im Falle des mit wäßrigen Lösungsmitteln entwickelbaren
Films hydrophil war, und
2) er hatte einen genügend hohen, über 20O0C liegenden
Siedepunkt.
3) Der aufgetragene Film war während einer Zeit von
ungefähr einem Jahr bei Umgebungsbedingungen stabil.
4) Die aufgebrachte Schicht war bei erhöhter Temperatur (33 bis 34°C) wenigestens 4 bis 8 Wochen stabil.
5) Der Haftverbesserer störte nicht die Photopolymerisationsreaktion,
und
6) er störte nicht die Plattierung bzw. Galvanisierung und verursachte keine Auslaugung in das Plattierbzw.
Galvanisierbad.
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Claims (1)
- VON KREISLER SCHONWALu EISHOLD HUtS VON KREISLER KELLER SELTING WERNER-PATENTANWÄLTE Dr.-Ing. von Kreisler t 1973Dr.-Ing. K. Schönwald, KölnDr.-Ing. K. W. Eishold, Bad SodenDr. J. F. Fues, KölnDipl.-Chem. Alek von Kreisler, KölnDipl.-Chem. Carola Keller, KölnDipl.-Ing. G. Selting, KölnDr. H.-K. Werner, KölnAvK/AxDEICHMANNHAUS AM HAUPTBAHNHOFD-5000 KÖLN 1 31.10.1980Hercules Incorporated,Market Street, Wilmington, Delaware 19899 (U.S.A.).Patentansprücheλ) Photopolymerisierbares Gemisch für die Verwendung in Photoresists, enthaltend eine nicht-gasförmige photopolymerisierbare Verbindung, die 1 bis 4 Zentren äthy lenischer NichtSättigung enthält und zur photoinitiierten Additionspolymerisation fähig ist, ein thermoplastisches polymeres Bindemittel, einen durch aktinische Strahlung aktivierbaren Additionspolymerisationsinitiator und einen Haft- oder Adhäsionsverbesserer, dadurch gekennzeichnet, daß es als Haft- und Adhäsionsverbesserer eine Verbindung der FormelN(Th-CH2N
N—1N R3enthält, in der R4 ein unsubstituierter oder mit Alkylresten mit 1 bis 12 C-Atomen oder Aralky!resten mit 7 bis 9 C-Atomen einfach oder zweifach substituierter Benzol- oder Naphthalinrest ist, R2 für einen Rest der Formel R-O/TAlkylen) 6J -(alkylen), worin R7 Wasserstoff oder ein Alkylrest mit 1 bis 20 C-Atomen, "Alkylen"Telefon: (0221) 131041 · TeIx^KTOB/ &ραά- Telegramm: Oompatenf Köln— O _ein geradkettiger oder verzweigter Alkylenrest mit oder 3 C-Atomen und χ O, 1, 2, 3 oder 4 ist, für einen Alkenylrest mit 2 bis 20 C-Atomen oder einen Cyanalkylrest mit 2 bis 5 C-Atomen steht und R3 die gleiche Bedeutung wie R2 hat oder Wasserstoff, ein Alkylrest mit 1 bis 20 C-Atomen, ein Arylrest mit 6 bis 10 C-Atomen, ein Cycloalkylrest mit 5 bis 12 C-Atomen, ein Aralkylrest mit 7 bis 9 C-Atomen, ein heterocyclischer Rest oder ein Rest der Formelist, worin R4 die bereits genannte Bedeutung hat.2. Photopolymerisierbares Gemisch nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß R. ein Benzolrest ist.3. Photopolymerisierbares Gemisch nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß R3 oder R„ im Haft- oder Adhäsionsverbesserer ein Rest der FormelR7o/TAlkylen) Oy^-alkylenist, in der R^ und χ die in Anspruch 1 genannten Bedeutungen haben.4. Photopolymerisierbares Gemisch nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß R~ für H und x.für 0 steht.5. Photopolymerisierbares Gemisch nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß R4 im Haft- und Adhäsionsverbesserer ein unsubstituierter Benzolrest oder ein mit einem Methyl- oder Dimethylbenzolrest substituierter Benzolrest und R2 ein RyO-Alkylenrest ist, worin R7 Wasserstoff oder ein Alkylrest mit 1 bis 4 C-Atomen ist- und R3 die gleiche Bedeutung wie R2 hat, ein Wasserstoff atom oder ein C|-C4-Alkylrest ist.-6. Photopolymerisierbares Gemisch nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß es als Haft- und Adhäsionsverbesserer eine der folgenden Verbindungen enthält: 1-Diäthanolaminomethylbenzotriazol, 1-Diisopropanolaminomethylbenzotriazol, N,N-Bis(1'-Benzotriazolylmethyl)-äthanolamin, N,N-Bis(1'-Benzotriazolylmethyl)-isopropanolamin, N,N-Bis(1'-benzotriazolylmethyl)-äthoxyäthoxypropylamin,N,N-Bis(1'-benzotriazolylmethyl)palmitoylamin und N,N-Bis(1'-benzotriazolylmethyl)-allylamin.,7. Photopolymerisierbares Gemisch nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es außerdem wenigstens einen fargebenden Farbstoff aus der aus Brilliant Green, Victoria Blue und substituierten Napthalamidfarbstoffen bestehenden Gruppe enthält.3. Photopolymerisierbares Gemisch nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß es außerdem wenigstens einen Leukofarbsto:ff aus der aus Leukokristallviolett, Leukomalachitgrün, Leuko-Basischblau, Leuko-Pararosanilin, Leuko-Rosanilin, Leuko-Patentblau A und Leuko-Patentblau V bestehenden Gruppe enthält.9. Photopolymerisierbares Gemisch nach Anspruch 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die nicht-gasförmige photopolymerisierbare Verbindung, die 1 bis 4 Zentren von äthylenischer NichtSättigung enthält, etwa 15 bis 30 Gew.-% des Gemisches, der Additionspolymerisationsinitiator etwa 0,01 bis 1,0 Gew.-% des Gemisches, das thermoplastische polymere Bindemittel 40 bis 80 Gew.-% des Gemisches und der Haft- und Adhäsionsverbesserer etwa 0,01 bis 5 Gew.-% des Gemisches ausmacht.130020/08S710. Photopolymerisierbares Gemisch nach Anspruch 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß es in Form, einer etwa 10 bis 30 Gew.-% Feststoffe enthaltenden Lösung in einem Lösungsmittel vorliegt.11. Verwendung des photopolymerisierbaren Gemisches nach Anspruch 1 bis 10 in einem Photoresistmaterial, das ausa) einem festen Träger in Form einer auf eine Platte aus einem Epoxyharz oder Glasfaserkunststoff oder Polyesterharz laminierten Folie aus einem Metall oder einer Metallegierung undb) einem auf den Träger (a) laminierten photopolymerisierbaren Gemisch nach Anspruch 1 bis 10 besteht.12. Verwendung des photopolymerisierbaren Gemisches nach Anspruch 1 bis 10 für die Herstellung von gedruckten Schaltungen, wobei mana) das auf einen festen Träger laminierte und mit einer Deckfolie geschützte photopolymerisierbare Gemisch durch eine Transparentvorlage mit aktinischem Licht belichtet und hierbei ein unlösliches Polymerbild in den belichteten Bereichen der photopolymerisierbaren Schicht erzeugt,b) die Deckfolie vom Laminat abstreift,c) die unbelichteten Teile der photopolymerisierbaren Schicht mit einem Lösungsmittel für die Schicht herauswäscht,d) auf dem Material ein Metall in genügender Menge abscheidet unde) das Laminat einer Behandlung unterwirft, durch die die Resistmaske vom Laminat abgestreift wird.130020/08B7
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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DE3041223A1 true DE3041223A1 (de) | 1981-05-14 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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