DE2908334A1 - Mikrofotografische lichtmesseinrichtung - Google Patents

Mikrofotografische lichtmesseinrichtung

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DE2908334A1 DE19792908334 DE2908334A DE2908334A1 DE 2908334 A1 DE2908334 A1 DE 2908334A1 DE 19792908334 DE19792908334 DE 19792908334 DE 2908334 A DE2908334 A DE 2908334A DE 2908334 A1 DE2908334 A1 DE 2908334A1
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
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    • G03B7/08Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
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Description

  • Mikrofotografische Lichtmeßeinrichtung
  • Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Messung der Objekthelligkeit und damit zur Bestimmung der Belichtungszeit in mikrofotogrefischen Geräten nach Patent ... (Patentanmeldung P 27 17 033.8).
  • In dem Hauptpatent ... (Patentanmeldung P 27 17 033.8) wird eine mikrofotografische Lichtmeßeinrichtung für Aufsatzkameras an Mikroskopen beschrieben, bei denen aus dem Aufnahme strahlengang mittels eines Strahlenteilers ein Teiletrahlenbündel ausgespiegelt wird, welches ein Bild des Objektes in einer Bildebene entwirft, in der eine mit einer Öffnung für Detailmessung versehene Meßfeldblende angeordnet ist, welcher ein einschiebbarer fotoslektrischer Empfänger in Lichtrichtung nachgeordnet ist. Die genannte Einrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Strahlenteiler und der Meßfeldblende ein kardanisch aufgehängter Umlenkspiegel angeordnet ist und daß sowohl Mittel zum Verstellen des Umlenkspiegels als auch Mittel zur Beobachtung des in der Blendenöffnung erscheinenden Objektdetails vorgesehen sind.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Geräte der oben genannten Art so umzugestalten,bzw. zu ergänzten, daß ihre Anwendungsmöglichkeiten bzw. ihre Bedienungsabläufe erweitert bzw. vervollkommnet werden.
  • Die Lösung dieser Aufgabe bei Geräten vr eingang genannten Art gelingt dadurch, daß in Abwandlung des im Hauptpatent ... (Patentanmeldung P 27 17 033.8) Beschriebenen und Beanspruchten das Teilstrahlenbündel über mindestens ein kardanisch aufgehängtes, reflektierendes Mittel zu der Meßfeldblende gespiegelt wird und daß sowohl Mittel zum Verstellen des reflektierenden Mittels als auch Mittel zur Beobachtung der in der Blendenöffnung erscheinenden Objektdetails vorgesehen sind. Dabei kann das reflektierende Mittel ein Strahlenteiler im Aufnahmestrahlengang sein. Des weiteren kann bei mikrofotografischen Lichtmeßeinrichtungen, wie sie durch das Hauptpatent ... (Patentanmeldung P 27 17 033.8) bekannt sind sowie durch die Patentansprüche 1 und 2 der vorliegenden Anmeldung unter Schutz gestellt werden, im Meßstrahlengang vor der Meßfeldblende ein Vario-Objektiv angeordnet sein. Mit Vorteil kann darüber hinaus die Trägerplatte für die Integralmeßblende und für die Detailmeßblende mit einer durchsichtigen Trägerplatte fest verbunden sein, welche Markierungen in der Größe der Detailmeßblende bzw. der Integralmeßblende trägt, welche während des Beobachtungsvorganges in den Meßstrahlengang bringbar sind. Vorzugsweise können eine Lichtquelle, welche die Meßfeldblende während des Beobachtungsvorganges von hinten beleuchtet, sowie zusätzliche reflektierende Mittel vorgesehen sein, die ein Bild der Meßfeldblende im Gesichtsfeld des Okulars entwerfen, wobei das zusätzliche reflektierende Mittel ein Tripelspiegel sein kann, der das seitlich aus dem Prisma austretende Strahlenbündel in sich zurück und sodann über das Prisma zum Gesichtsfeld des Okulars reflektiert.
  • Durch diese vorgeschlagenen technischen Lösungsvarianten läßt sich die in ihrer Grundkonzeption bereits bekannte mikrofotografische Lichtme ßeinrichtung hinsichtlich ihrer Handhabung bedienungsfreundlicher, hinsichtlich ihrer Einsatzbreite universeller sowie hinsichtlich ihrer Leistungsfähigkeit effizienter und meßgenauer gestalten.
  • Die Erfindung ist nachfolgend in den Figuren anhand von schematischen Ausführungsbeispielen erläutert.
  • Es zeigen: Fig. 1 eine perspektivische Darstellung der wesentlichen optischen Bauteile eines Mikroskopes mit der erfindungsgemäßen Einrichtung; Fig. 2 eine Darstellung einer weiteren Ausführungsform mit herkömmlicher Zwischenoptik und modifizierter Meßblendenträgerplatte; Fig, 3 eine dritte Ausführungsform, bei welcher eine rückwärtige Einspiegelung der Meßfeldblende in den Mikroskop-Binotubus erfolgt; und Fig. 4 eine von Fig. 3 abgewandelte AusführuAgsform, bei welcher anstelle des ortsfesten Strahlenteilerwürfels im Aufnahmestrahlengang ein kardanisch gehalterter Strahlenteiler und anstelle des kardanisch gehalterten Umlenkspiegels ein ortsfester Umlenkspiegel vorgesehen sind.
  • In Fig. 1 ist, entlang der (zunächst) senkrecht verlaufenden Achse des mikroskopischen (Abbildungs-) Aufnahme-Strahlengangs ein Objekt 0, sodann ein Objektiv 3 und ein kombiniertes Strahlenteilerprisma S angeordnet, von dem aus das vom Objekt 0 kommende Strahlenbündel teilweise in den schräg abgewinkelten Okularteil 5 umgelenkt und zum andern Teil zu einem ortsfesten Strahlenteilerwürfel 11 weitergeleitet wird, welcher sich in einem nicht mit dargestellten Aufsatztubus befindet.
  • Eines der beiden Teilstrahlenbündel, die den Strahlenteiler 11 verlassen, verläuft entlang der Vertikalachse des Gesamtsystems zur Aufsatzkamera 7, welcher ein Kamera-Verschluß 8 vorgeordnet ist. Das am Strahlenteiler 11 abgezweigte Teilstrahlenbündel beschreibt als Meßstrahlenbündel folgenden Weg: Es passiert zunächst ein Vario-Objektiv 36 und gelangt anschließend auf einen kardanisch aufgehängten Umlenkspiegel 12, der der Einfachheit halber mit einer manuell betätigbaren Handhabe 12a versehen ist, mittels der eine den eingezeichneten kreisbogenförmigen Doppelpfeilen entsprechende räumliche Verkippung des Spiegels durchgeführt werden kann, wobei der Zentralpunkt auf der Spiegeloberfläche seine Absolutlage in jeder Kippstellung dennoch beibehält. Nach Verlassen des Umlenkspiegels 12 gelangt das Meßstrahlenbündel über eine auf einem Blendenhalter 33 angeordnete, ortsfeste und hinsichtlich der Blendengeometrie invarlante Meßfeldblende 33a und eine Öffnung 18 a, die sich in einem Schieber 18 befindet, auf einen Reflexspiegel 15, der auf dem Schieber 18 starr angelenkt ist, und von dort aus zu dem Beobachtungsokular 10.
  • Die der Zwischenbildebene 5a konjugierte Fläche 19, die Ebene des Blendenhalters 33 und die Ebene des Schiebers 18 mit der Öffnung 18a sind, soweit es die endlichen Dicken des Blendenhalters 33 und des Schiebers 18 zulassen, angenähert in einer Ebene angeordnet.
  • Derjenige Teil des Meßstrahlenganges, der zwischen dem Umlenkspiegel 12 und dem Reflexspiegel 15 liegt, ist mit der Bezugsziffer 17 versehen. Die gesamte Meßeinrichtung, die von dem Meßstrahlenbündel durchlaufen wird, erhielt die Bezugsziffer 39. Auf dem Schieber, der der Einfachheit halber mit einer Handhabe 18c zum manuellen Verschieben in Richtung des Doppelpfeils B versehen ist, befindet sich außerdem eine Öffnung 18b, hinter der ein Fotoempfänger 14 angeordnet ist. Die gestrichelt dargestellte, schwach sphärische Fläche 19 stellt die Zwischenbild-"Ebene" des Objektes 0 dar.
  • Sie läßt sich mathematisch als Kugelkalotte beschreiben, wobei der Kugelmittelpunkt mit dem ortsinvarianten Zentralpunkt des Umlenkspiegels 12 zusammenfällt. Die Ebene, in der der Halter 33 für die Meßfeldblende 33a angeordnet ist, stellt - mathematisch beschrieben - die Tangentialebene an die dargestellte Kugelkalotte 19 dar, wobei der Berührungspunkt mit dem Durchstoßpunkt der optischen Achse 17 des Meßstrahlenbündel -Abschnitts durch die Kugelkalotte 19 zusammenfällt.
  • Prinzipiell unterscheidet sich das in der Fig. 1 der vorliegenden Anmeldung Dargestellte von dem in der Fig. 2 des Hauptpatents ... (Patentanmeldung P 27 17 033.8)schematisch Skizzierten darin, daß anstelle eines herkömmlichen Linsensystems zwischen dem Strahlenteiler 11 und dem Umlenkspiegel 12 ein Vario-Objektiv 36 gesetzt wurde. Durch die Verwendung einer Vario-Optik ist bei entsprechender Wahl des Variobereichs ein stufenloser Wechsel zwischen Detailmessung und Integralmessung ohne Einschieben einer Detail- oder Integralmeßblende in den Meßstrahlenbündel-Abschnitt 17 durchführbar. Das bedeutet, daß man mit einer ortsinvarianten Blendenhalterung 33 auskommt, die eine geometrisch invariante Blende 33a enthält.
  • Die Fig. 2 zeigt ein Ausführungsbeispiel, bei dem während der Beobachtung vor einer Detailmessung die Übersicht über das Gesamtobjekt erhalten bleibt.
  • Zu diesem Zweck ist eine Meßfeldblenden-Trägerplatte 43, die eine Detailmeßblende 43a und eine Integralmeßblende 43b enthält, mit einer etwa gleich großen durchsichtigen Trägerplatte 43 d fest verbunden, auf der als Markierungen gestrichelte Kreise 43c bzw. 43e aufgebracht sind, welche der Größe der Detailmeßblende 43a bzw. der Integralmeßblende 43b entsprechen.
  • Obwohl die Meßblenden 43asund/oder 43b hinsichtlich ihrer Blenden-Geometrie die verschiedensten Formen aufweisen können - z.B. als Kreis, Quadrat, Rechteck, Polygon - und darüber hinaus auch größenvariabel ausgestaltet sein können, zeigen im vorliegenden Auführungsbeispiel die Meßblenden 43a und 43b jeweils eine kreisrunde, größeninvariante Form, so daß die gestrichelten Markierungen 43c bzw. 43e und die Formen und Größen der Meßblenden 43a bzw. 43b einander korrespondieren.
  • Natürlich wäre es auch möglich, auf der transparenten Trägerplatte 43d eine Vielzahl von unterschiedlichen geometrischen Markierungen - z.B. konzentrische Kreise, Rechtecke verschiedener Abmessungen, Quadrate unterschiedlicher Kantenlängen, etc. - vorzusehen, wobei dann form- und/oder größenvariable Meßblenden verwendet werden könnten.
  • Mittels einer Handhabe 13c sind die zu einem Schieber verbundenen Trägerplatten 43 und 43d in Richtung des Doppelpfeils A in die jeweils gewünschte Arbeitsposition bringbar. Diese Translationsmöglichkeit wird durch eine entsprechende Schwalbenschwanz-Gleitführungsbahn in einer Führungsleiste 46 angedeutet.
  • Diese gezeigte Ausführungsform stellt selbstverständlich nur eine beispielhafte Lösungsmöglichkeit dar. Der in Fig. 1 dargestellte Schieber 18 ist im Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 2 über einen angewinkelten Verbindungssteg 46a mit der Führungsleiste 46 starr verbunden, wobei in der technischen Ausführung die Höhe des Steges 46a möglichst gering gehalten wird, so daß der Schieber 18 unmittelbar über der kombinierten Trägerplatte 43/43d zu liegen kommt, Dadurch wird bei Verschieben des Schiebers 18 mittels der Handhabe 18 c in der durch den Doppelpfeil B angezeigten Richtung zwangsläufig die kombinierte Trägerplatte 43/43d entsprechend verschoben.
  • Während der Position "Beobachtennist die gekoppelte Schiebervorrichtung 18, 46, 43, 43d so angeordnet, daß die durchsichtige Trägerplatte 43d im Strahlengang 17 steht, wobei der Beobachter die zusätzliche Wahl hat, die Integral- oder die Detailmeßblenden-Strichmarkierung 43e bzw. 43c in Beobachtungsstellung zu fahren. Die Position "Messen" wird in der Weise eingestellt, daß die Schiebevorrichtung 18, 46, 43, 43d in Richtung B derart verschoben wird, daß die Meßfeldblenden-Trägerplatte 43 in einer ihrer Wirkstellungen 43a bzw. 43b im Strahlengang 17 angeordnet ist.
  • Die Fig. 3 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel, bei dem die Übersicht über das Gesamtobjekt erhalten bleibt, wenn die Beobachtung vor einer Detailmessung durchgeführt wird. Und zwar geschieht dies in diesem Beispiel dadurch, daß ein Bild der Blende - im vorliegenden Fall der Detailmeßblende 53a - zurückgespiegelt wird. Zu diesem Zweck wird der Blendenschieber 53 quasi von hinten von einer besonderen Lichtquelle 51 beleuchtet, und zwar über einen unter 45 zwischen der Meßfeldblenden-Trägerplatte 53 und dem Fotoempfänger 54 ein- und ausklappbaren Spiegel 57. Durch diese Beleuchtung wird die Meßblende 53a bzw. 53b über den Umlenkspiegel 12 und den Strahlenteilerwürfel 11 zum Prisma P des Binotubus reflektiert, von dort zu einem Tripelspiegel 56 und von diesem zurück in das Gesichtsfeld 5a des Okularteiles 5. Da in diesem Gesichtsfeld das gesamte Objekt sichtbar ist, wird das jeweils angemessene Detail durch die zusätzliche Beleuchtung besonders hervorgehoben und dadurch kenntlich gemacht. Die Auswahl des gewünschten Details geschieht auch hier durch Kippen des Umlenkspiegels 12.
  • Für die Belichtungsmessuug ist es dann lediglich erforderlich, den Spiegel 57 auszuklappen. Dann kann der vom Strahlenteiler 11 abgezweigte Meßstrahlengang in Verlängerung der durch den optischen Achsenabschnitt 17 vorgegebenen Richtung ungehindert auf den Fotoempfänger 54 fallen und die Dauer der Belichtung in an sich bekannter Weise bestimmen. Während der Belichtung ist es zweckmäßig, die Lichtquelle 51 durch einen Schieber 58 abzudecken, damit von dieser Quelle her kein Falschlichtzum Fotoempfänger 54 gelangt.
  • Wird die Lichtmenge nicht in einer der Zwischenbildebene 5a konjugierten Ebene gemessen, sondern in einer einer Pupille konjugierten Ebene, so müssen zur Erzeugung dieser Pupille der Fläche 19 sowie der Ebene des Blendenhalters 33 und der Ebene des Schiebers 18 entsprechende Optiken, z.B. Linsen, zugeorndet werden. Sie wurden aus Gründen der Vereinfachung jedoch nicht zeichnerisch dargestellt.
  • Schließlich ist in Fig. 4 noch ein weiteres Ausführungsbeispiel gezeigt, bei dem das kardanisch aufgehängte reflektierende Mittel der Strahlenteiler 61 selbst ist, der notwendigerweise im Aufnahmestrahlengang ohnehin angeordnet ist. Dafür ist dann der Umlenkspiegel 62 fest angeordnet.
  • Es wird darauf hingewiesen, daß diese geschilderte Ausführungsform, d.h. die kardanische Aufhängung des Strahlenteilers 61 im Aufnahmestrahlengang, nicht notwendigerweise nur bei einer solchen Ausführungsform anwendbar ist, die im übrigen die Merkmale der Fig. 3 besitzt, sondern auch mit allen anderen bisher beschriebenen Merkmalen kombiniert werden kann. Außerdem könnte dabei bei anderer konstruktiver Gestaltung der Umlenkspiegel 62 ganz entfallen, nämlich dann, wenn die Meßeinrichtung 59 so angeordnet wird, daß das MeDstrahlenbündel ohne Strahlenumlenkung in sie einfällt. Die Handhabung des kardanisch gehalterten Strahlenteilers 61 geschieht beispielsweise mittels der Handhabe 61a; außer dieser rein mechanischen Lösung sind selbstverständlich - in analoger Weise wie zu dem Umlenkspiegel 12, 12a der Fig. 1 bis 3 -auch elektrische, insbesondere mikroprozessorgesteuerte Lösungsvarianten möglich. Der Punkt, um den der Strahlenteiler 61 allseitig gekippt werden kann, fällt aus geometrisch-optischen Gründen mit drn Durchstoßpunkt der vertikalen Achse des Aufnahmestrahlenbündels durch die Fläche des Strahlenteilers 61 zusammen.

Claims (6)

  1. Ansprüche 1. Mikrofotografische Lichtmeßeinrichtung für Aufsatz-½½ kameras an Mikroskopen, bei denen aus den Auftahnestrahlengang mittels eines Strahlontoilers ein Teil.
    strahlenbündel ausgespiegelt wird, das ein Bild des Objektes in einer Bildebene entwirft, in der eine nit einer Öffnung für Detailmessung versehene Meßfeldblende angeordnet ist, welcher ein einschiebbarer fotoelektrischer Empfänger in Lichtrichtung nachgeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß in Abwandlung des in Patent... (Patentanmeldung P 27 17 033.8) Beschriebenen und Beanspruchten das Teil strahlenbündel über mindestens ein kardenisch aufgehängtes reflektierendes Mittel (12:61) zu der Meßfeldblende (33a; 43, 43b; 53a, 53b) gespiegelt wird und daß sowohl Mittel (12a; 61a) nun Verstellen des reflektierenden Mittels (12;61) als auch Mittel (10, 13, 18a) nur Beobachtung der in der Blendenöffnung erscheinenden Objektdetails vorgesehen sind.
  2. 2. Mikrofotografische Lichtmeßeinrichtung nach Anspruch 1, d.g., daß das reflektierende Mittel ein Strahlenteiler (61) in Aufnahmestrahlengang ist (Fig. 4).
  3. 3. Mikrofotografische Lichtmeßeinrichtung für Aufsatz.
    kameras an Mikroskopen, bei denen aus dem Aufnahmestrahlengang mittels eines Strahlenteilers ein Teilstrahlenbündel ausgespiegelt wird, das ein Bild des Objektes in einer Bildebene entwirft, in der eine mit einer Öffnung für Detailmessung versehene Meßfeldblende angeordnet ist, welcher ein einschiebbarer fotoelektrischer Empfänger in Lichtrichtung nachgeordnet ist, wobei zwischen dem Strahlenteiler und der Meßfeldblende ein kardanisch aufgehängter Umlenkspiegel angeordnet ist und sowohl Mittel zum Verstellen des Umlenkspiegels als auch Mittel zur Beobachtung des in der Blendenöffnung erscheinenden ObJektdetails vorgesehen sind nach Patent (Patentanmeldung P 27 17 033.8) sowie den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß im Meßstrahlengang vor der Meßfeldblende (33a) ein Vario-Objektiv (36) angeordnet ist (Fig 1).
  4. 4. Mikrofotografische Lichtmeßeinrichtung nach Patent (Patentanmeldung P 27 17 033.8) sowie mindestens einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Trägerplatte (43) für die Integralmeßblende (43b) und für die Detailmeßblende (43a) mit einer durchsichtigen Trägerplatte (43d) fest verbunden ist, welche Markierungen (43c bzw, 43e) in der Größe der Detailmeßblende (43a) bzw. der Integralmeßblende (43b) trägt, und die während des Beobachtungsvorganges in den Meßstrahlengang bringbar ist (Fig. 2).
  5. 5. Mikrofotografische Lichtmeßeinrichtung nach latent (Patentanmeldung P 27 17 033.8) sowie mindestens einem der Ansprüche 1 bis 41, dadurch gekennzeichnet, daß eine Lichtquelle (51) vorgesehen ist, welche die Meßfeldblende (53a) während des Beobachtungsvorganges von hinten beleuchtet, und daß zusätzliche reflektierende Mittel (56,57) vorgesehen sind, die ein Bild der Meßfeldblende (53a) im Gesichtsfeld (5a) des Okulars (5) entwerfen (Fig. 3 bzw. Fig. 4).
  6. 6. Mikrofotografische Lichtmeßeinrichtung nach Patent (Patentanmeldung P 27 17 033.8) sowie mindestens einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das zusätzliche reflektierende Mittel ein Tripelspiegel (56) ist, der das seitlich aus dem Prisma (P) austretende Strahlenbündel in sich zurück und über das Prisma (P) zum Gesichtsfeld (5a) des Okulars (5) reflektiert (Fig. 3 bzw. Fig. 4).
DE19792908334 1978-04-03 1979-03-03 Mikrofotografische lichtmesseinrichtung Granted DE2908334A1 (de)

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