DE2540053C2 - Verfahren zum Dotieren von III/V-Halbleiterkörpern - Google Patents

Verfahren zum Dotieren von III/V-Halbleiterkörpern

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Norbert Herouville St. Clair Sirot
Robert Ste. Honorine du Faye Thevenon
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Koninklijke Philips NV
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Philips Gloeilampenfabrieken NV
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5742008Y2 (enExample) * 1976-10-08 1982-09-16
FR2409791A1 (fr) * 1977-11-25 1979-06-22 Silicium Semiconducteur Ssc Appareils de dopage par diffusion de tranches semi-conductrices
FR2479278A1 (fr) * 1980-03-26 1981-10-02 Loic Henry Procede de diffusion d'impuretes dans un semiconducteur et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procede
JPS60236471A (ja) * 1984-05-10 1985-11-25 新光電気工業株式会社 気密ガラス端子
JP2662318B2 (ja) * 1991-03-13 1997-10-08 株式会社日立製作所 半導体基体への不純物の拡散方法
WO2023121228A1 (ko) * 2021-12-20 2023-06-29 주식회사 에이치피에스피 웨이퍼의 박막에 대한 탄소 도핑 방법
CN114855261B (zh) * 2022-03-21 2025-01-24 西北工业大学 一种基于水平梯度凝固法生长化合物半导体单晶的气相掺杂方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2178751B1 (enExample) * 1972-04-05 1974-10-18 Radiotechnique Compelec

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