DE2459591A1 - Verfahren zum anwachsen einer halbleiterverbindung - Google Patents
Verfahren zum anwachsen einer halbleiterverbindungInfo
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Description
Verfahren, zum Anwachsen einer Halbleiterverbindung
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren . zur Herstellung eines einkristallinen Stabes aus einer
Halbleiterverbindung, bei dem zur Bildung der Verbindung
einer oder mehrere der Bastandteile der Verbindung in der flüssigen Phase mit einem oder mehreren in die Dampfphase
gebrachten flüchtigen Bestandteilen der Verbindung zur Reaktion gebracht werden, wobei die Reaktion in einem
sich in einem Ofen befindenden Schiffchen aus Siliciumoxid stattfindet und danach der einkristalline Stab
durch das Anwachsen eines im Schiffchen angeordneten einkristallinen Keimes durch gerichtete Erstarrung des
geschmolzenen Reaktionsproduktes gebildet wird.
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Es ist bekannt, dass es schwierig ist, bestimmte u.a, in der Halblextertechnik verwendete Verbindungen
durch die üblichen Verfahren zu erhalten, zu reinigen und einkristallin zu machen, weil die Schmelztemperatur und/oder
der Zersetzungsdruck bei der Schmelztemperatur der genannten
Verbindungen sehr hoch sind j dies ist u.a. der Fall bei den meisten III-V-Verbindungen, einschliesslich
ihrer Mischkristalle, z.B. Galliumarsenid (GaAs),
Um diese Verbindungen in einkristalliner Form zu erhalten, wurde eine Synthese aus einem Bestandteil
in flüssiger Phase und einem flüchtigen Bestandteil in der Dampfphase durchgeführt, während danach.die Kristallisation
der Verbindung von einem einkristallinen Keim her
stattfand.
Beim Anwachsen derartiger Verbindungen in Form eines Stabes, insbesondere im Falle von GaA's, wird gewöhnlich
ein Schiffchen aus glasartigem Siliciumoxid oder aus Quarz verwendet, das praktischer und vor allem
viel reiner als ein Graphitschiffchen ist,
: Versuche haben aber ergeben, dass der erhaltene Stab an den Innenwänden des genannten Schiffchens festkleben
kann und dadurch Störungen im Kristallgitter, z,B. Versetzungen, Haarrisse oder sogar eine polykristalline
Struktur, aufweisen kann. Solche Störungen führen zu einer erheblichen Herabsetzung der Herstellungsausbeute
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und sogar manchmal zu dem Wiederschmelzen -des ganzen
Stabes, wonach der ganze Vorgang aufs neue anfängt« .Diese Wiederholungen bedeuten eine grössere Anzahl
Behandlungen, namentlich eine zusätzliche Aetzbehandlung,
und vergrössern dadurch die Gefahr vor Verlusten in bezug
auf die Menge und die Qualität, weil das Eindringen von Verunreinigungen schwer zu vermeiden ist.
Die vorliegende Erfindung bezweckt diesen Nachteilen entgegenzukommen. Sie gründet sich u.a. auf verschiedene
während der verschiedenen Herstellungsschritte gemacht e Erfahrungen·
Durch die Anwendungen des üblichen Syntheseverfahrens
wurde nämlich das Vorhandensein einer Schicht weissen Pulvers auf der Innenoberfläche des Schiffchens
festgestellt, aber lediglich in der Zone, die mit der
flüssigen Galliumarsenidmasse in Berührung ist. In einer
genauen Untersuchung hat man nun die Art dieses Pulvers bestimmen können. Es wurde gefunden, dass-das Pulver
,Krxstobalit war. In gewissen Fällen und meist beim.
Wiederschmelzen von Stäben stellt sich heraus, dass die Kristobalitschicht einen Schirm bildet und das Festkleben
verringert.
Es ist bekannt, dass sich Krxstobalit auf natürliche Weise aus glasartigem Siliciumoxid oder aus
Quarz bilden" kann und dies geschieht umso schneller, je
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höher die Temperatur ist, wobei das Kristobalit oberhalb 1^700C stabil ist. Es ist aber ebenfalls bekannt, dass die
Bildung des Kristobalits durch den Zusatz von Mineralisierungsmitteln,
z.B. Alkaliöxiden, beschleunigt wird.
In der Praxis erfolg das Anwachsen von III—V-Verbindungen
einerseits bei einer Temperatur, die die Temperatur unterschreitet, die für die Stabilität des
Kristobalits erforderlich ist, und andererseits während einer verhältnismässig kurzen Zeitspanne, ¥egen der erforderlichen
Reinheit des anzuwachsenden Materials ist
es ausserdera praktisch unmöglich, Mineralisierungsmittel in den Reaktionsraum einzuführen.
Die obenstehenden Er\\rägungen haben zu der
vorliegenden Erfindung beigetragen. Nach der Erfindung ist ein !^erfahren zur Herstellung eines einkristallinen
Stabes aus einer Halbleiterverbindung, bei dem zur Bildung der Verbindung einer oder mehrere der Bestandteile der
Verbindung in der flüssigen Phase mit einem oder mehreren in die Dampfphase gebrachten flüchtigen Bestandteilen
der Verbindung zur Reaktion gebracht werden, wobei die Reaktion in einem sich in einem Ofen befindenden Schiffchen
aus Siliciumoxid stattfindet und danach der einkristalline Stab durch das Anwachsen eines in dem Schiffchen
angeordneten einkristallinen Keimes durch gerichtete Erstarrung des geschmolzenen Reaktionsproduktes gebildet
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wird, dadurch gekennzeichnet, dass nach der Reaktion der Bestandteile und nach Benetzung des Keimes mit dem
geschmolzenen Reaktionsprodukt das Ganze schnell abgekühlt wird, wodurch das Reaktionsprodukt erstarrt wird
und danach das Reaktionsprodukt aufgeschmolzen wird, um
nachstehend den Einkristall von dem einkristallinen Keim her zu bilden.
Durch ein derartiges Verfahren sind nun einkristalline Stäbe erhalten, di.e nicht an der Eand des
Schiffchens festkleben-, in dem sie gebildet werden, und in denen die bei einem kristallinen Anwachsen am meisten
auftretenden Fehler, wie Versetzungen und Haarrisse, beseitigt oder wenigstens erheblich verringert sind.
Dabei weist der erhaltene Stab eine einkristalline Struktur auf, deren Orientation der Orientation des
Keimes entspricht.
Eine nähere Untersuchung hat es ermöglicht, die auftretenden Erscheinungen, die dieses Ergebnis zur
Folge habten, zu erklären. Es stellt sich heraus, dass durch die Bildung der Schmelze und die anschliessende
schnelle Abkühlung nicht nur die Erstarrung der Verbindung, sondern auch, und zwar an den Stellen, an denen das
erstarrte Material an die ¥and des Schiffchens grenzt, - die Bildung einer Schicht aus Kristobalitkörnern mit
kleinen Abmessungen herbeigeführt werden kann. Möglicherweise wird die Bildung der Kristobalitstruktur durch
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Impfung mit der Struktur der kriätallisierten Verbindung erhalten.
Die Abmessungen dieser Körner nehmen zu beim Aufschmelzen des gebildeten Stabes, wodurch vermieden
wird, dass der danach anwachsende einkristalline Stabteil festklebt, Weiter wurde gefunden, dass die Abmessungen
der Kristobalitkörner beim etwaigen Festkleben des Stabes eine wichtige Rolle spielen; dies bedeutet, dass, je
grosser der Durchmesser der Körner ist, je geringer die Gefahr vor Pestkleben ist. Die bei dem Verfahren nach
der Erfindung gebildeten Kristobalitkörner können angemessen grosse Abmessungen aufweisen, wodurch erklärt wird,
warum der Stab nicht festklebt.
Durch Beseitigung der durch das Festkleben herbeigeführten Fehler ist es möglich, die Ausbeute erheblich
zu vergrössern und somit die Kosten des erhaltenen Materials herabzusetzen. Dadurch, dass das erfindungsgemässe
Verfahren in aufeinanderfolgenden Schritten ohne
zusätzliche zwischenzeitliche Vorgänge, wie das Entfernen aus der angewandten Anlage, durchgeführt werden kann,
wird eine hohe ÖUte des Erzeugnisses, u.a. in bezug auf
die Reinheit, besser gewährleistet.
Insbesondere stellt sich heraus, dass bei der Synthese von III-V~Verbindungen, bei denen Gallium als
Bestandteil der verschiedenen Schmeteezusammensetzungen
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vorlianden ist, der durch, die dabei üblich auftretende
starke Klebkraft herbeigeführte Nachteil der Anwendung von Schiffchen aus Siliciumoxid mit dem Verfahren nach
der Erfindung beseitigt werden kann. Dieser Vorteil ist von besonderer Bedeutung bei der Herstellung eines Stabes
aus Galliumarsenid aus flüssigem Gallium und Arsendampf. Bei einer günstigen Ausführungsform des Verfahrens nach
der Erfindung zur Herstellung des letzteren Stabes wird während der Synthese eine maximale Temperatur zwischen
12.600C und 1270°C angewandt und erfolgt die schnelle Abkühlung, die mit der Erstarrung einhergeht, auf eine
Mindesttemperatur zwischen 12200C und 12300C. Die Dauer
der schnellen Abkühlung kann etwa eine Stunde betragen»
Um die Bildung grosser Kristobalitkörner zu
erleichtern, ist es vorteilhaft, die Innenoberfläche des
Schiffchens, z.B. durch Sandstrahlen und/oder Aetzen, z.B. mit Hilfe von Fluorwasserstoffsäure, aufzurauhen.
Die Erfindung bezieht sich weiterhin auf eine Halbleiteranordnung mit einem einkristallinen Halbleiterkörper
aus einer Ill-V-Verbindung, welcher Halbleiterkörper
aus einem Stab erhalten wird, der durch Anwendung des erfindungsgemässen Verfahrens hergestellt ist.
Mit den nach der Erfindung erhaltenen einkristallinen Stäben aus IXT-V-Verbindungen mit verbesserter Kristallstruktur
können·Halbleiteranordnungen höherer Güte gebildet werden.
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Die Erfindung wird nachstehend beispielsweise an Hand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 schematisch eine Anlage Tür die Synthese
von Galliumarsenid (GaAs),
Fig. 2 die Temperaturverteilung über die Länge
der in Fig. 1 dargestellten Anlage während der Synthese,
Fig. 3 den Temperaturzykltis, dem das Material
in dem verwendeten Schiffchen von der Bildung geschmolzenen
Galliums ab bis zu der Bildung von Galliumarsenid nach einer Ausführungsform des erfindungsgeinässeii Verfahrens unterworfen
ist, · ■
Die Anlage für die Synthese von Galliumarsenid (GaAs) nach Fig. 1 enthält ein verschlossenes rohrf örrniges
Gefäss 1 aus Siliciumoxid» In diesem Gefäss 1 wird mittels eines Schirmes 2 ein Behälter 3 gebildet, in dem der
flüchtige Bestandteil 4, in diesem Falle Arsen, angeordnet wird» Im übrigen Teil 5 des Gefässes 1 wird ein Schiffchen
6 angeordnet, das ebenfalls aus Siliciumoxid besteht und in dem der einkristalline Keim 8 aus Galliumarsenid
angebracht ist.
In der ersten Stufe eines Beispiels des Verfahrens nach der Erfindung, und zwar der Synthese, lässt
man die beiden Bestandteile Arsen und Gallitim miteinander
reagieren, um die Galliumarsenidverbiriduiig GaAs zu erhalten,
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Dazu wird der Teil des Schiffchens 6, in dem das Gallium
angebracht ist, auf eine Temperatur von 126O0C und wird
das Arsen k auf 61O0C gebracht (siehe Fig. 2).
Die Wahl von 61O0C für das Arsen gründet sich
auf die Tatsache, dass bei dieser Temperatur die Dampfspannung des Arsens gleich dem Dampfdruck von Arsen über
geschmolzenem GaAs ist, welcher Dampfdruck etwa 1 Atm,
betragt. Die Wahl von 12600C für das Gallium gründet sich,
auf die Wahl einer TemperatLir oberhalb der Schmelztemperatur
des zu bildenden Galliumarsenids,
Bei dieser Temperatur von 12600C wird die GaAs-Verbindung
in flüssigem und homogenem Zustand erhalten. Das geschmolzene Galliumarsenid bildet mit dem Kristallkeim
8, der in einem Temperaturfeld zwischen 6100C und
12600C liegt, eine Erstarrungsfront bei 12380C, der
S climel zt emperatur von Galliumarsenid.
Wenn der Keim 8 benetzt ist, wird zu der zweiten Stufe übergegangen (Fig. 3). Diese besteht in erster
Linie aus der schnellen Abkühlung des geschmolzenen Galliumarsenids, wobei das Galliumarsenid zu einem Stab
erstarrt. Die Temperatur wird auf 12300C in etwa einer
Stunde herabgesetzt. Durch die schnelle Kühlung ist der Stab polykristallin. Dann wird der Stab, ausserhalb
des Keimes, aufs neue auf eine Temperatur von 12600C,
ebenfalls in etwa einer Stunde, erhitzt, wodurch das
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Statwnaterxal geschmolzen wird. Danach wird aufs neue
kristallisiert, wobei das Galliumarsenid langsam auf
1200°C in. 10 Stunden, vorzugsweise durch gerichtete
Kühlung, zum Anwachsen des Einkristalls von dem Keim
her abgekühlt wird. Nach Beendigung der Kristallisation wird zu einer Abkühlung von etwa 500C pro Stunde übergegangen.
Worm die Temperatur des Ofens auf 6000C herabgesunken
ist, wird der verwendete Ofen ausgeschaltet. Der erhaltene Stab ist einkristallin und als er aus dem
Behälter entfernt wird, stellt sich heraus, dass er nicht an der Wand des Schiffchens 6 festgeklebt ist. Die Innenwand
des Schiffchens ist, wie sich herausstellt, mit einer Schicht von'Kristobalitkörnern verhältnismässig
grosser Abmessungen versehen.
Die Erfindung beschränkt sich selbstverständlich nicht auf das vorliegende Ausführungsbeispiel. Im Rahmen
der Erfindung sind sehr viele Ausführungsformen möglich.
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Claims (1)
- FPHN.7561.- 11 -PATENTANSPRUECHE;1, Verfahren zur Herstellung eines einkristallinenStabes aus einer Halbleiterverbindung, bei dem zur Bildung der Verbindung einer oder mehrere der Bestandteile der Verbindung in der flüssigen Phase mit einem oder mehreren in die Dampfphase gebrachten flüchtigen Bestandteilen der Verbindung zur Reaktion gebracht werden, wobei die Reaktion in einem sich in einem Ofen befindlichen Schiffchen aus Siliciumoxid, erfolgt und danach der einkristalline Stab durch das Anwachsen eines in dem Schiffchen angeordneten einlcristallinen Keimes durch gerichtete Erstarrung des geschmolzenen Reaktxonsprodulctes gebildet wird, dadurch gekennzeichnet, dass nach der Reaktion der Bestandteile und nach Benetzung des Keimes mit dem geschmolzenen Reaktionsprodukt das Ganze schnell abgekühlt wird, wodurch das Reaktionsprodukt erstarrt wird, und danach das Reaktionsprodukt aufgeschmolzen wird, um nachstehend den Einkristall von dem einkristallinen Keim her zu bilden.2« Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine HI-V-Verbindung synthetisiert und in einkristalline Form gebracht wird.3· Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass bei der Synthese der III~V-Verbindung eine galliumhaltige Schmelze verwendet wird.509828/0792FPHN.7561.- 12 -h» Verfahren nach Anspruch 3 ι dadurch gekennzeichnet, dass ein einkristalliner Galliumarsenidstab aus Gallium in der flüssigen Phase und Arsen in der Dampfphase hergestellt wird,5· Verfahren nach Anspruch ht dadurch gekennzeichnet, dass bei der Synthese die maximale Temperatur der galliumenthaltenden Schmelze zwischen 1260 und 12700C gewählt wird, und dass die schnelle Abkühlung auf eine Mindesttemperatur zwischen 1220 ixnd 12300C stattfindet.6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Innenwand des Schiffchens zuvor aufgerauht ist.7. Halbleiteranordnung mit einem einkristallinen Halbleiterkörper aus einer III-V-Verbindung, dadurch gekennzeichnet, dass der Halbleiterkörper aus einem Stab erhalten ist, der durch Anwendung eines Verfahrens nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche hergestellt ist.509828/07924\Leerse We
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR7346938A FR2255949B1 (de) | 1973-12-28 | 1973-12-28 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2459591A1 true DE2459591A1 (de) | 1975-07-10 |
Family
ID=9129935
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19742459591 Pending DE2459591A1 (de) | 1973-12-28 | 1974-12-17 | Verfahren zum anwachsen einer halbleiterverbindung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5099681A (de) |
BE (1) | BE823943A (de) |
DE (1) | DE2459591A1 (de) |
FR (1) | FR2255949B1 (de) |
GB (1) | GB1467860A (de) |
IT (1) | IT1028009B (de) |
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- 1973-12-28 FR FR7346938A patent/FR2255949B1/fr not_active Expired
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